JPH01131472A - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
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- JPH01131472A JPH01131472A JP29016287A JP29016287A JPH01131472A JP H01131472 A JPH01131472 A JP H01131472A JP 29016287 A JP29016287 A JP 29016287A JP 29016287 A JP29016287 A JP 29016287A JP H01131472 A JPH01131472 A JP H01131472A
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発゛明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、回路基板に各程電子部品を実装して組み立て
られた電子回路基板を被検査体とし、この実装電子回路
基板を機能検査する回路基板検査装置に関する。
られた電子回路基板を被検査体とし、この実装電子回路
基板を機能検査する回路基板検査装置に関する。
(従来の技術)
この種の回路基板検査装置では、回路基板とテスターと
の間に、テストフィクチャーと呼ばれる部材を配置し、
回路基板のパタ〒ン面とテスターの出力端子とを接続す
ることでミ前記回路基板の機能テストを実行するように
なっている。
の間に、テストフィクチャーと呼ばれる部材を配置し、
回路基板のパタ〒ン面とテスターの出力端子とを接続す
ることでミ前記回路基板の機能テストを実行するように
なっている。
ここで、従来のテストフィクチャーは、基板の種類が変
更となる度に、テストフィクチャー全体を交換する必要
があり、回路基板毎に固有のテストフィクチャーを作成
せざるを得なかった。
更となる度に、テストフィクチャー全体を交換する必要
があり、回路基板毎に固有のテストフィクチャーを作成
せざるを得なかった。
また、第5図に示すように、テストフィクチャーを回路
基板側に配置されるプローブベース100と、テスター
側に配置されるコネクターベース101と、このプロー
ブベース100とコネクターベース101とを接続する
ための接続交換ベース102とで構成し、プローブベー
ス100は基板の種類に拘らず共通化することも考えら
れる。
基板側に配置されるプローブベース100と、テスター
側に配置されるコネクターベース101と、このプロー
ブベース100とコネクターベース101とを接続する
ための接続交換ベース102とで構成し、プローブベー
ス100は基板の種類に拘らず共通化することも考えら
れる。
しかし、この場合、前記接続交換ベース102とコネク
ターベース101との接続にあたり、補助コネクターベ
ース103を使用し、かつ、この配線を同図のように引
き回して行う他なかっな。
ターベース101との接続にあたり、補助コネクターベ
ース103を使用し、かつ、この配線を同図のように引
き回して行う他なかっな。
(発明が解決しようとする問題点)
上述したように、テストフィクチャーを回路基板毎に用
意して、基板の種類が変わる度に交換するのでは、コス
トも高くなり、がっ、近年の多品杜少量生産の場合に交
換作業が極めて煩雑である等の問題がある。
意して、基板の種類が変わる度に交換するのでは、コス
トも高くなり、がっ、近年の多品杜少量生産の場合に交
換作業が極めて煩雑である等の問題がある。
また、第5図に示すテストフィクチャーにあっては、一
部部品の共通化が図れても、接続交換ベース102とコ
ネクターベース101.補助コネクターベース103と
の接続が手作業による配線であり、作業者の負担の軽減
にはならない。
部部品の共通化が図れても、接続交換ベース102とコ
ネクターベース101.補助コネクターベース103と
の接続が手作業による配線であり、作業者の負担の軽減
にはならない。
さらに、大きな問題として、第5図に示すものにあって
は、テスターからプローブベース100のプローブ先端
までの信号系の導電距離が、1゜Ocm程度と長くなり
、テスターからの信号が回路基板に正確に伝わらないと
いうことが多く、正確な検査を実行することが困難とな
っていた。
は、テスターからプローブベース100のプローブ先端
までの信号系の導電距離が、1゜Ocm程度と長くなり
、テスターからの信号が回路基板に正確に伝わらないと
いうことが多く、正確な検査を実行することが困難とな
っていた。
そこで、本発明の目的とするところは、上述した従来の
問題点を解決し、回路基板の種類が変わっても、一部の
部品の交換のみで容易に対処することができ、しかも、
回路基板とテスターとを最短距離で接続することにより
、正確な検査を実行することができる回路基板検査装置
を提供することにある。
問題点を解決し、回路基板の種類が変わっても、一部の
部品の交換のみで容易に対処することができ、しかも、
回路基板とテスターとを最短距離で接続することにより
、正確な検査を実行することができる回路基板検査装置
を提供することにある。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は、回路基板をテストフィクチャー上に載置固定
し、このテストフィクチャーによって回路基板とテスタ
ーとを接続することで、回路基板の機能検査を行う回路
基板検査装置において、回路基板のパターン面と対向し
て配置され、所定ピッチでマトリクス状の各位置に第1
のプローブピンを配列支持したプローブベースと、テス
ターの各出力端子に接触可能に第2のプローブピンを配
列支持したコネクターベースと、前記プローブベースと
コネクターベースとの間に配置され、検査対象の種類に
応じて前記第1のプローブピンを前記回路基板と接触さ
せ、かつ、前記第1.第2のプローブピンを電気的に接
続させる接続ピンを配列支持した接続変換ベースとを有
する構成としている。
し、このテストフィクチャーによって回路基板とテスタ
ーとを接続することで、回路基板の機能検査を行う回路
基板検査装置において、回路基板のパターン面と対向し
て配置され、所定ピッチでマトリクス状の各位置に第1
のプローブピンを配列支持したプローブベースと、テス
ターの各出力端子に接触可能に第2のプローブピンを配
列支持したコネクターベースと、前記プローブベースと
コネクターベースとの間に配置され、検査対象の種類に
応じて前記第1のプローブピンを前記回路基板と接触さ
せ、かつ、前記第1.第2のプローブピンを電気的に接
続させる接続ピンを配列支持した接続変換ベースとを有
する構成としている。
(作用)
本発明では、回路基板の種類に応じて接続変換ベースを
用意しておき、被検査対象に応じた前記接続変換ベース
を、前記プローブベースとコネクターベースとの間に配
置する。
用意しておき、被検査対象に応じた前記接続変換ベース
を、前記プローブベースとコネクターベースとの間に配
置する。
ここで、接続変換ベースには、被検査対象となる回路基
板の種類に応じて接続ピンが配列支持されていて、この
接続ピンによって、プローブベースの第1のプローブピ
ンと、コネクターベースの第2まプローブピンとを接続
することができ、前記第1のプローブピンを回路基板に
、第2のプローブピンをテスターに接触させることで、
回路基板とテスターとを容易に接続することができる。
板の種類に応じて接続ピンが配列支持されていて、この
接続ピンによって、プローブベースの第1のプローブピ
ンと、コネクターベースの第2まプローブピンとを接続
することができ、前記第1のプローブピンを回路基板に
、第2のプローブピンをテスターに接触させることで、
回路基板とテスターとを容易に接続することができる。
この際、回路基板の種類が変更される場合には、接続変
換ベースのみを交換するのみで足り、交換作業及び費用
が大幅に軽減される。
換ベースのみを交換するのみで足り、交換作業及び費用
が大幅に軽減される。
しかも、テスターと回路基板とは、第1のプローブピン
、接続ピン及び第2のプローブピンの接触によって確保
できるので、テスターと回路基板とを最短距離で接続す
ることができ、常時的確な検査を実行することができる
。
、接続ピン及び第2のプローブピンの接触によって確保
できるので、テスターと回路基板とを最短距離で接続す
ることができ、常時的確な検査を実行することができる
。
(実施例)
以下、本発明を適用した一実施例について、図面を参照
して具体的に説明する。
して具体的に説明する。
まず、実施例装置の全体の概要について、第3図を参照
して説明する。
して説明する。
本実施例装置を大別すれば、被検査体である電子部品を
実装した回路基板1と、この回路基板1の機能検査を実
行するためのテスター10と、前記回路基板1を載置固
定し、かつ、この回路基板1のパターン面と接続される
各種ピンを介して、前記テスタ10と回路基板1とを接
続するテストフィクチャー 前記テスター10は、前記テストフィクチャー20を昇
降可能に支持するりフタ−11と、前記テストフィクチ
ャー20の後述する支持ベース21を位置決め案内する
案内部材の一例であるロケーティングピン12と、前記
支持ベース21を真空吸引するためのバキュームポート
13と、前記テストフィクチャー20と対向する面上に
、テスター10の出力端子であるスプリング付きコンタ
クトプローブ14とを有して構成されている。
実装した回路基板1と、この回路基板1の機能検査を実
行するためのテスター10と、前記回路基板1を載置固
定し、かつ、この回路基板1のパターン面と接続される
各種ピンを介して、前記テスタ10と回路基板1とを接
続するテストフィクチャー 前記テスター10は、前記テストフィクチャー20を昇
降可能に支持するりフタ−11と、前記テストフィクチ
ャー20の後述する支持ベース21を位置決め案内する
案内部材の一例であるロケーティングピン12と、前記
支持ベース21を真空吸引するためのバキュームポート
13と、前記テストフィクチャー20と対向する面上に
、テスター10の出力端子であるスプリング付きコンタ
クトプローブ14とを有して構成されている。
次に、本実施例装置の特徴的構成である前記テストフィ
クチャー20について、第1図、第2図を参照して説明
する。
クチャー20について、第1図、第2図を参照して説明
する。
前記テストフィクチャー20は、プローブベース30.
接続変換ベース(以下、CTBと略記する)40及びコ
ネクターベース50を有し、この各ベース30,40.
50に後述する各種接続ピンを配置して、前記回路基板
・1とテスター10との接続を行うようになっている。
接続変換ベース(以下、CTBと略記する)40及びコ
ネクターベース50を有し、この各ベース30,40.
50に後述する各種接続ピンを配置して、前記回路基板
・1とテスター10との接続を行うようになっている。
尚、本実施例の場合、前記プローブベース30及びコネ
クターベース50は、前記回路基板1の種類に拘らず共
通に使用することができるものであり、回路基板1の種
類が変わった場合には、前記CTB40のみを基板1に
固有なものに変更すればよいようになつている。
クターベース50は、前記回路基板1の種類に拘らず共
通に使用することができるものであり、回路基板1の種
類が変わった場合には、前記CTB40のみを基板1に
固有なものに変更すればよいようになつている。
まず、各ベース30.40.50の取り付は構造につい
て説明すると、第1図に示すように前記テストフィクチ
ャー20の基台となる支持ベース21が設けられ、この
支持ベース21に前記コネクターベース50が固定され
ている。また、前記支持ベース21には支柱22が垂直
に支持固定されており、この支柱22をガイドとして前
記プローブベース30とCTB40とが上下動可能に支
持されている。
て説明すると、第1図に示すように前記テストフィクチ
ャー20の基台となる支持ベース21が設けられ、この
支持ベース21に前記コネクターベース50が固定され
ている。また、前記支持ベース21には支柱22が垂直
に支持固定されており、この支柱22をガイドとして前
記プローブベース30とCTB40とが上下動可能に支
持されている。
前記CTB40は、各種回路基板1の桂類に応じて容易
に交換できるように、下記のようにして支持されている
。すなわち、前記支柱22に沿って移動自在であって、
対向する面に溝23aを具備した移動案内部材23を有
し、この移動案内部材23の前記溝23aには、コ字状
断面の移動レール24を配置している。そして、前記C
TB40は、前記移動レール24に沿って、第2図の表
面より裏面に向かう方向に移動自在に支持されている。
に交換できるように、下記のようにして支持されている
。すなわち、前記支柱22に沿って移動自在であって、
対向する面に溝23aを具備した移動案内部材23を有
し、この移動案内部材23の前記溝23aには、コ字状
断面の移動レール24を配置している。そして、前記C
TB40は、前記移動レール24に沿って、第2図の表
面より裏面に向かう方向に移動自在に支持されている。
また、前記支持ベース21に対して前記プローブベース
30.コネクターベース50を移動させるために、第1
8第2のエアーシリンダー25゜26が設けられている
。
30.コネクターベース50を移動させるために、第1
8第2のエアーシリンダー25゜26が設けられている
。
そして、前記移動案内部材23に固定された前記第1の
エアーシリンダー25によって、前記プローブベース3
0に近づく方向に移動案内部材23すなわちCTB40
を移動可能とし、前記支持ベース21に固定された第2
のエアーシリンダー26によって、前記プローブベース
30を支持ベース21側に移動可能としている。
エアーシリンダー25によって、前記プローブベース3
0に近づく方向に移動案内部材23すなわちCTB40
を移動可能とし、前記支持ベース21に固定された第2
のエアーシリンダー26によって、前記プローブベース
30を支持ベース21側に移動可能としている。
次に、前記プローブベース30について説明する。
前記プローブベース30は、前記回路基板1の部品実装
面とは反対側のパターン面と接触する第1のプローブピ
ン31を支持するベースである。
面とは反対側のパターン面と接触する第1のプローブピ
ン31を支持するベースである。
本実施例では、前記第1のプローブピン31を縦。
横共に例えば1/]0inchのピッチで、総数約2万
本をマトリクス状の各点に配列支持している。
本をマトリクス状の各点に配列支持している。
このように、本実施例においてマトリクス状の各位置に
細分して第1のプローブピン31を配置している理由は
、このプローブベース30を各種回路基板1に共通に使
用できるようにするためである。
細分して第1のプローブピン31を配置している理由は
、このプローブベース30を各種回路基板1に共通に使
用できるようにするためである。
すなわち、電子部品の最少端子ピッチである17101
nchで縦横に第1のプローブピン31を配置すること
で、回路基板1のパータンの相違に拘らず、このいずれ
かの第1のプローブピン31を必要に応じて前記回路基
板lのパターン面に接触させることができ、プローブベ
ース30の変更を要せずに各種回路基板1の検査に使用
することが可能となる。
nchで縦横に第1のプローブピン31を配置すること
で、回路基板1のパータンの相違に拘らず、このいずれ
かの第1のプローブピン31を必要に応じて前記回路基
板lのパターン面に接触させることができ、プローブベ
ース30の変更を要せずに各種回路基板1の検査に使用
することが可能となる。
前記第1のプローブピン31は、第2図に詳図するよう
に、その両端に電気的に導通ずる接続片32を有し、中
間部より上側にストッパー33を備えている。そして、
前記接続片32は、同図の矢印方向である軸方向の両端
側に突出付勢されるように、ダブルスプリングプローブ
ピンjR造となっている。
に、その両端に電気的に導通ずる接続片32を有し、中
間部より上側にストッパー33を備えている。そして、
前記接続片32は、同図の矢印方向である軸方向の両端
側に突出付勢されるように、ダブルスプリングプローブ
ピンjR造となっている。
この第1のプローブピン31は、前記プローブベース3
0に形成した挿入穴30aに挿入され、かつ、前記スト
ッパー33が前記挿入穴30aの上端に当接することで
、その自重によって所定位置に支持されるようになって
いる。
0に形成した挿入穴30aに挿入され、かつ、前記スト
ッパー33が前記挿入穴30aの上端に当接することで
、その自重によって所定位置に支持されるようになって
いる。
また、前記プローブベース30の上面には、前記各第1
のプローブピン31の配列位置に対応してガイド穴35
aを有するピンガイドプレート35がプレートガイド3
6によって取り付は案内され、かつ、圧縮コイルスプリ
ング37によって常時上方に付勢されている。そして、
前記ガイド穴35aに挿通されることにより、前記第1
のプローブピン31を回路基板1のパターン面に正確に
接触できるように構成している。さらに、前記ピンガイ
ドプレート35上には、回路基板1用のガイドピン38
が垂直に立設され、前記基板1をピンガイドプレート3
5上で正確に位置決めできるようになっている。
のプローブピン31の配列位置に対応してガイド穴35
aを有するピンガイドプレート35がプレートガイド3
6によって取り付は案内され、かつ、圧縮コイルスプリ
ング37によって常時上方に付勢されている。そして、
前記ガイド穴35aに挿通されることにより、前記第1
のプローブピン31を回路基板1のパターン面に正確に
接触できるように構成している。さらに、前記ピンガイ
ドプレート35上には、回路基板1用のガイドピン38
が垂直に立設され、前記基板1をピンガイドプレート3
5上で正確に位置決めできるようになっている。
次に、前記コネクターベース5oについて説明する。
このコネクターベース50は、前記テスター10のスプ
リング付きコンタクトプローブ14と接触し、かつ、前
記CTB40の各種ピンと接触して、コネクターとして
の機能を有するベースであり、このベース50には、前
記テスター10のスプリング付きコンタクトプローブ1
4と対向する各位置に、第2のプローブピン51が支持
されている。尚、この第2のプローブピン51は、その
上端の接続片52がスプリングによって常時上方に付勢
されている。また、図示していないが、このコネクター
ベース50には、前記テスター10のロケーティングピ
ン12に挿通される被案内部材であるガイド穴が形成さ
れ、前記テスター側との正確な位置決めが成されるよう
になっている。
リング付きコンタクトプローブ14と接触し、かつ、前
記CTB40の各種ピンと接触して、コネクターとして
の機能を有するベースであり、このベース50には、前
記テスター10のスプリング付きコンタクトプローブ1
4と対向する各位置に、第2のプローブピン51が支持
されている。尚、この第2のプローブピン51は、その
上端の接続片52がスプリングによって常時上方に付勢
されている。また、図示していないが、このコネクター
ベース50には、前記テスター10のロケーティングピ
ン12に挿通される被案内部材であるガイド穴が形成さ
れ、前記テスター側との正確な位置決めが成されるよう
になっている。
尚、このコネクターベース50は、後述するように、テ
スター10側に真空吸引されるので、テスター10側へ
の空気の流入を防止する構造となっている。
スター10側に真空吸引されるので、テスター10側へ
の空気の流入を防止する構造となっている。
次に、実動作状態における第2図を使用して、前記CT
B40の構成について説明する。
B40の構成について説明する。
このC’T’B40には、前記プローブベース30とコ
ネクターベース50とを、各種基板1に共通に使用する
ため、4種類の接続ピンを各種回路基板1のパターンに
応じて配列支持するようになっている。
ネクターベース50とを、各種基板1に共通に使用する
ため、4種類の接続ピンを各種回路基板1のパターンに
応じて配列支持するようになっている。
この4種類の接続ピンについて第2図を参照して説明す
ると、リフターピン41とは、前記プローブベース30
側の第1のプローブピン31と接触してこれを上方に突
き上げる寸法であり、がっ、下方のコネクターベース5
0側の第2のプローブピン51とは接触しない寸法に形
成されている。
ると、リフターピン41とは、前記プローブベース30
側の第1のプローブピン31と接触してこれを上方に突
き上げる寸法であり、がっ、下方のコネクターベース5
0側の第2のプローブピン51とは接触しない寸法に形
成されている。
コネクターピン42とは、前記プローブベース30側の
第1のプローブピン31とは接触しない寸法であり、か
つ、下方のコネクターベース50側の第2のプローブピ
ン51とは接触してこれを下方に押し下げる寸法に形成
されている。
第1のプローブピン31とは接触しない寸法であり、か
つ、下方のコネクターベース50側の第2のプローブピ
ン51とは接触してこれを下方に押し下げる寸法に形成
されている。
尚、前記リフターピン41とコネクターピン42とは、
接続電線43によって電気的に接続されるようになって
いる。従って、前記リフターピン41とコネクターピン
42とを使用することで、上下に対向関係のない第1.
第2のプローブピン31.51を接続可能となっている
。
接続電線43によって電気的に接続されるようになって
いる。従って、前記リフターピン41とコネクターピン
42とを使用することで、上下に対向関係のない第1.
第2のプローブピン31.51を接続可能となっている
。
スルーピン44とは、上下の第1.第2のプローブピン
31.51を共に突き上げ、押し下げる寸法となってい
て、上下に対向関係にある第1゜第2のプローブピン3
1.51の接続を行うようになっている。
31.51を共に突き上げ、押し下げる寸法となってい
て、上下に対向関係にある第1゜第2のプローブピン3
1.51の接続を行うようになっている。
交換アダプターピン45とは、寸法的には前記スルーピ
ン44と同様に、上下の第1のプローブピン31.51
を突き上げ、押し下げる寸法であるが、その上端には上
面に導電層46aを形成した絶縁キャップ46が装着さ
れている。この結果、前記第1のプローブピン31と導
電146aとは導通するが、交換アダプターピン45と
前記第1のプローブピン31とは絶縁されるようになっ
ている。
ン44と同様に、上下の第1のプローブピン31.51
を突き上げ、押し下げる寸法であるが、その上端には上
面に導電層46aを形成した絶縁キャップ46が装着さ
れている。この結果、前記第1のプローブピン31と導
電146aとは導通するが、交換アダプターピン45と
前記第1のプローブピン31とは絶縁されるようになっ
ている。
この交換アダプターピン45は、2本を一対として使用
され、一方の交換アダプターピン45の中間部に巻回し
た交換配線47の端部を、他方の交換アダプターピン4
5の前記絶縁キャップ46上の前記導電層46aに接続
して使用するようになっている。
され、一方の交換アダプターピン45の中間部に巻回し
た交換配線47の端部を、他方の交換アダプターピン4
5の前記絶縁キャップ46上の前記導電層46aに接続
して使用するようになっている。
この結果、回路基板1のパターンに接触する2本の第1
のプローブピン31.31を、前記一対の交換アダプタ
ーピン45を使用することにより、上下関係に無い逆の
第2のプローブピン51にそれぞれ接続できるようにな
っている。
のプローブピン31.31を、前記一対の交換アダプタ
ーピン45を使用することにより、上下関係に無い逆の
第2のプローブピン51にそれぞれ接続できるようにな
っている。
次に、上記検査装置の作用について説明する。
まず、この検査装置に被検査体としての回路基板1をセ
ットし、セットされた回路基板1に固有の前記CTB4
0を選択し、これを前記移動案内部材23の移動レール
24に挿入して装着する。
ットし、セットされた回路基板1に固有の前記CTB4
0を選択し、これを前記移動案内部材23の移動レール
24に挿入して装着する。
そして、このCTB40を前記移動レール24に沿って
移動させ、前記回路基板1がセットされるピンガイドプ
レート35に対向する下方に配置する。
移動させ、前記回路基板1がセットされるピンガイドプ
レート35に対向する下方に配置する。
次に、第1のエアーシリンダー25を駆動し、前記CT
B40を保持する移動案内部材23を上方に移動させる
。この後、前記第2のエアーシリンダー26を駆動し、
前記プローブベース3o及びCTB40を一体的に下降
移動させる。
B40を保持する移動案内部材23を上方に移動させる
。この後、前記第2のエアーシリンダー26を駆動し、
前記プローブベース3o及びCTB40を一体的に下降
移動させる。
このような移動によって、第2図に示すような各稚ピン
の接続状態を確保することができる。
の接続状態を確保することができる。
ここで、前記回路基板1と接触するプローブベース30
上の第1のプローブピン31とは、リフターピン41に
突き上げられたもの、スルーピン44に突き上げられた
もの、交換アダプターピン45に突き上げられたものの
3種類である。他の第1のプローブピン31は、前記ピ
ンガイドプレート35よりも突出されることがないので
、回路基板1との接続が行われない。
上の第1のプローブピン31とは、リフターピン41に
突き上げられたもの、スルーピン44に突き上げられた
もの、交換アダプターピン45に突き上げられたものの
3種類である。他の第1のプローブピン31は、前記ピ
ンガイドプレート35よりも突出されることがないので
、回路基板1との接続が行われない。
ここで、本実施例では、前記第1のプローブピン31を
、電子部品の最少端子ピッチでマトリクス状の各位置に
備え、セットされる回路基板1に固有の前記CTB40
の上述したピン41,44゜45によって、接続が必要
な第1のプローブピン31のみを突き上げて使用してい
る。
、電子部品の最少端子ピッチでマトリクス状の各位置に
備え、セットされる回路基板1に固有の前記CTB40
の上述したピン41,44゜45によって、接続が必要
な第1のプローブピン31のみを突き上げて使用してい
る。
この結果、多種類の回路基板1をこの検査装置で使用す
る場合であっても、回路基板1に応じたCTB40を予
め作成しておき、基板1に応じてこのCTB40のみを
交換するだけで、他に何等の変更を要せずに検査装置を
兼用することができ、従来のように、回路基板1に合わ
せて多数の部品の変更を要し、また多数の部材を使用す
るものに比べれば、汎用性が大幅に向上し、検査者の負
担を格段に軽減することができる。
る場合であっても、回路基板1に応じたCTB40を予
め作成しておき、基板1に応じてこのCTB40のみを
交換するだけで、他に何等の変更を要せずに検査装置を
兼用することができ、従来のように、回路基板1に合わ
せて多数の部品の変更を要し、また多数の部材を使用す
るものに比べれば、汎用性が大幅に向上し、検査者の負
担を格段に軽減することができる。
また、このようにプローブベース30及びコネクターベ
ース50を、回路基板1の種類に拘らず兼用する場合、
プローブベース30の第1のプローブピン31を、これ
と上下関係にあるコネクターベース50上の第2のプロ
ーブピン51に単純に接続することが、前記テスター1
0の検査機能との関係で制限されることがある。
ース50を、回路基板1の種類に拘らず兼用する場合、
プローブベース30の第1のプローブピン31を、これ
と上下関係にあるコネクターベース50上の第2のプロ
ーブピン51に単純に接続することが、前記テスター1
0の検査機能との関係で制限されることがある。
そこで、゛本実施例では前記CTB40に4種類のピン
41,42.44.45を各種回路基板1に応じて配置
し、接続される第1.第2のプローブピン31.51の
関係を変更可能としている。
41,42.44.45を各種回路基板1に応じて配置
し、接続される第1.第2のプローブピン31.51の
関係を変更可能としている。
以上のように、テストフィクチャー20における接続状
態の設定終了後、前記テスター10のバキュームポート
13によって真空吸引し、前記テストフィクチャー20
の基台である支持ベース21をテスター10側に吸引し
、前記コネクターベース50に支持されている第2のプ
ローブピン51の下端を、前記テスター10のスプリン
グ付きコンタクトプローブ14に接触させる。
態の設定終了後、前記テスター10のバキュームポート
13によって真空吸引し、前記テストフィクチャー20
の基台である支持ベース21をテスター10側に吸引し
、前記コネクターベース50に支持されている第2のプ
ローブピン51の下端を、前記テスター10のスプリン
グ付きコンタクトプローブ14に接触させる。
ここで、前記テスター10によって、前記回路基板1に
通電を行い、所定の機能検査を実行することができる。
通電を行い、所定の機能検査を実行することができる。
尚、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本
発明の要旨の範囲内で社々の変形実施が可能である。
発明の要旨の範囲内で社々の変形実施が可能である。
例えば、上記実施例装置に下記の各部材を付加し、検査
の確実性と作業性の向上とを確保するようにしてもよい
9 すなわち、第4図に示すように、この検査装置の制御を
司どるCPU60に下記の各部材を接続している。
の確実性と作業性の向上とを確保するようにしてもよい
9 すなわち、第4図に示すように、この検査装置の制御を
司どるCPU60に下記の各部材を接続している。
まず、第1のセンサー61は、前記第1のエアーシリン
ダー25によって接続される10−ブベース30とCT
B40とのの接続状態を検出するものであり、このセン
サー61としては、例えば第1のプローブピン31とリ
フターピン41とを使用し、この両ピン31.41の接
触抵抗が所定値以[になったことを検出するように構成
することができる。
ダー25によって接続される10−ブベース30とCT
B40とのの接続状態を検出するものであり、このセン
サー61としては、例えば第1のプローブピン31とリ
フターピン41とを使用し、この両ピン31.41の接
触抵抗が所定値以[になったことを検出するように構成
することができる。
第2のセンサー62は、前記第2のエアーシリンダー2
6によって接続される3つのベース30゜40.50の
接続状態を検出するものである。
6によって接続される3つのベース30゜40.50の
接続状態を検出するものである。
この第2のセンサー62としては、前記第1のセンサー
61と同様に、各ベース30,40.50に支持されて
いるピンのうち、例えば第1.第2のプローブピン31
.51とスルーピン44とを使用することができ、この
間の接触抵抗が所定値以下となったことを検出するよう
に構成できる。
61と同様に、各ベース30,40.50に支持されて
いるピンのうち、例えば第1.第2のプローブピン31
.51とスルーピン44とを使用することができ、この
間の接触抵抗が所定値以下となったことを検出するよう
に構成できる。
尚、上記第1.第2のセンサー61.62としては、上
述したようにベースに支持されたピンを利用するものに
限らず、光センサー等地の種々のセンサーを使用するこ
とができる。
述したようにベースに支持されたピンを利用するものに
限らず、光センサー等地の種々のセンサーを使用するこ
とができる。
駆動モータ63は、前記CTB40を移動レール24に
沿って自動搬送するものであり、例えば操作キー64で
の入力に基づき駆動されるものである。また、第4図に
示す第1.第2のエアーシリンダー25.26は、第1
図に示したものと同一機能を有するものである。
沿って自動搬送するものであり、例えば操作キー64で
の入力に基づき駆動されるものである。また、第4図に
示す第1.第2のエアーシリンダー25.26は、第1
図に示したものと同一機能を有するものである。
ここで、検査を行うに際して、前記CTB40を移動レ
ール24にセットし、前記操作キー64を操作すると、
駆動モータ63がCPU60によって駆動され、前記C
TB40を基板1と対向する位置まで自動搬送すること
になる。
ール24にセットし、前記操作キー64を操作すると、
駆動モータ63がCPU60によって駆動され、前記C
TB40を基板1と対向する位置まで自動搬送すること
になる。
次に、前記第1のエアーシリンダー25がCPU60に
よって駆動され、前記C’T’ B 40をプローブベ
ース30側に移動させることになる。
よって駆動され、前記C’T’ B 40をプローブベ
ース30側に移動させることになる。
そして、前記第1のセンサー61によって、上記両ベー
ス30.40のピンの接続状態が確認された後に、CP
U60は第2のエアーシリンダー26を駆動し、プロー
ブベース30及びCTB40を前記コネクターベース5
0側に移動することになる。
ス30.40のピンの接続状態が確認された後に、CP
U60は第2のエアーシリンダー26を駆動し、プロー
ブベース30及びCTB40を前記コネクターベース5
0側に移動することになる。
そして、その後、前記第2のセンサー62によって、各
ベース30,40.50のピンの接続状態が確認された
後に、以降の工程に移行することになる。
ベース30,40.50のピンの接続状態が確認された
後に、以降の工程に移行することになる。
このように、各ベースの移動後に、センサーによって接
続状態を確認しているので、接続不良の下での検査を排
除することができ、常時確実な検査を実行することが可
能となる。また、CTB40を自動搬送することで、検
査のための負担が大幅に軽減される。
続状態を確認しているので、接続不良の下での検査を排
除することができ、常時確実な検査を実行することが可
能となる。また、CTB40を自動搬送することで、検
査のための負担が大幅に軽減される。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によればプローブベースと
コネクターベースは、検査対象なる回路基板の種類が変
わった場合にも共通に使用でき、この場合には各種基板
について予め作成された接続変換ベースのみを交換すれ
ばよいので、従来よりも汎用性が大幅に向上し、検査費
用の低減を図ることができる。
コネクターベースは、検査対象なる回路基板の種類が変
わった場合にも共通に使用でき、この場合には各種基板
について予め作成された接続変換ベースのみを交換すれ
ばよいので、従来よりも汎用性が大幅に向上し、検査費
用の低減を図ることができる。
しかも、3稚のベースに支持されたピンの接続によって
、回路基板とテスターとを接続しているので、最短距離
での接続が可能となり、特に高周波において検査信号が
改善され、的確な検査を実行することができる。
、回路基板とテスターとを接続しているので、最短距離
での接続が可能となり、特に高周波において検査信号が
改善され、的確な検査を実行することができる。
第1図は本発明の一実施例である回路基板多機能検査装
置におけるテストフィクチャーの概略断面図、 第2図は第1図の検査装置におけるテストフィクチャー
での各種ピンの接続状態を、実動作状態において寸法的
に示す概略説明図、 第3図は第1図のテストフィクチャーを用いた回路基板
検査装置の全体構成を示す概略斜視図、第4図は第1図
の実施例装置に適用される制御系のブロック図、 第5図は従来の検査装置におけるテストフィクチャーの
構造を示す概略説明図である。 1・・・回路基板、10・・・テスター、20・・・テ
ストフィクチャー、 21・・・支持ベース、 25・・・第1のエアーシリンダー、 26・・・第2のエアーシリンダー、 30・・・プローブベース、 31・・・第1のプローブピン、 40・・・接続変換ベース、41・・・リフターピン、
42・・・コネクターピン、44・・・スルーピン、4
5・・・交換アダプターピン、 50・・・コネクターベース、 51・・・第2のプローブピン、 61.62・・・センサー。 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第4図 第5図
置におけるテストフィクチャーの概略断面図、 第2図は第1図の検査装置におけるテストフィクチャー
での各種ピンの接続状態を、実動作状態において寸法的
に示す概略説明図、 第3図は第1図のテストフィクチャーを用いた回路基板
検査装置の全体構成を示す概略斜視図、第4図は第1図
の実施例装置に適用される制御系のブロック図、 第5図は従来の検査装置におけるテストフィクチャーの
構造を示す概略説明図である。 1・・・回路基板、10・・・テスター、20・・・テ
ストフィクチャー、 21・・・支持ベース、 25・・・第1のエアーシリンダー、 26・・・第2のエアーシリンダー、 30・・・プローブベース、 31・・・第1のプローブピン、 40・・・接続変換ベース、41・・・リフターピン、
42・・・コネクターピン、44・・・スルーピン、4
5・・・交換アダプターピン、 50・・・コネクターベース、 51・・・第2のプローブピン、 61.62・・・センサー。 代理人 弁理士 井 上 −(他1名)第4図 第5図
Claims (8)
- (1)回路基板をテストフィクチャー上に載置固定し、
このテストフィクチャーによつて回路基板とテスターと
を接続することで、回路基板の機能検査を行う回路基板
検査装置において、 回路基板のパターン面と対向して配置され、所定ピッチ
でマトリクス状の各位置に第1のプローブピンを配列支
持したプローブベースと、 テスターの各出力端子に接触可能に第2のプローブピン
を配列支持したコネクターベースと、前記プローブベー
スとコネクターベースとの間に配置され、検査対象の種
類に応じて前記第1のプローブピンを前記回路基板と接
触させ、かつ、前記第1,第2のプローブピンを電気的
に接続させる接続ピンを配列支持した接続変換ベースと
を有することを特徴とする回路基板検査装置。 - (2)各ベースは、対向間距離を可変とするように相対
的にスライド自在に支持され、このスライド移動によっ
て、前記接続ピンにより第1のプローブピンを押し上げ
て回路基板と接触させ、かつ、前記接続ピンと第2のプ
ローブピンとを接触させて、回路基板とテスターとを接
続するものである特許請求の範囲第1項記載の回路基板
検査装置。 - (3)接続変換ベースに支持される前記接続ピンとして
、 前記第1のプローブピンを押し上げて回路基板と接触さ
せ、かつ、前記第2のプローブピンとは接触しないリフ
ターピンと、 前記第1のプローブピンを押し上げずかつこのピンと接
触せず、第2のプローブピンに接触するコネクターピン
と、 前記第1のプローブピンを押し上げ、かつ、第2のプロ
ーブピンに接触するスルーピンと、前記第1のプローブ
ピンを絶縁キャップを介して押し上げ、かつ、前記第2
のプローブピンと接触する一対の交換アダプターピンと
を有し、前記リフターピンとコネクターピンとの中間部
を電気的に接続し、かつ、一対の前記交換アダプターピ
ンの一方の中間部と、他方の交換アダプターピンによっ
て押し上げられる第1のプローブピンとを、前記絶縁キ
ャップ上に取り付けられた導電体を利用して相互に電気
的に接続して構成した特許請求の範囲第2項記載の回路
基板検査装置。 - (4)各ベースは、支持ベースに支持され、この支持ベ
ースをテスター側に移動させて、前記第2のプローブピ
ンとテスターの出力端子とを接続する特許請求の範囲第
2項又は第3項記載の回路基板検査装置。 - (5)支持ベースは、テスター側に配置された案内部材
と係合する被案内部材を有し、前記支持ベースの移動を
案内するように構成した特許請求の範囲第4項記載の回
路基板検査装置。 - (6)接続変換ベースは、前記プローブベース及びコネ
クターベースに対してスライド移動可能な移動部材に支
持され、かつ、この移動部材に対して、前記回路基板に
対向する位置としない位置とにスライド移動自在に支持
されたものである特許請求の範囲第2項記載の回路基板
検査装置。 - (7)プローブベースに対して接続変換ベースをスライ
ド移動する第1のエアーシリンダーと、支持ベースに固
定されたコネクターベースに対して前記プローブベース
をスライド移動させる第2のエアーシリンダーと、 プローブベースの第1のプローブピンと接続変換ベース
の接続ピンとが接触したことを検知するセンサーとを有
し、 このセンサーで接触が検知された後に、前記第2のエア
ーシリンダーを駆動するように構成した特許請求の範囲
第5項記載の回路基板検査装置。 - (8)接続ピンによって第1,第2のプローブピンが接
続されたことを検知するセンサーを設けた特許請求の範
囲第7項記載の回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290162A JPH0814610B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62290162A JPH0814610B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01131472A true JPH01131472A (ja) | 1989-05-24 |
JPH0814610B2 JPH0814610B2 (ja) | 1996-02-14 |
Family
ID=17752562
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62290162A Expired - Lifetime JPH0814610B2 (ja) | 1987-11-17 | 1987-11-17 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0814610B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002319798A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Nec Corp | 電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法 |
KR100431621B1 (ko) * | 2002-05-13 | 2004-05-20 | 배일순 | 브이에프디 피치 유니트 교체형 취부대 |
CN116338412A (zh) * | 2023-05-26 | 2023-06-27 | 深圳市国王科技有限公司 | 一种可控硅的测试方法及装置 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59168164U (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-10 | 沖電気工業株式会社 | 試験用フイクスチヤの接触部 |
-
1987
- 1987-11-17 JP JP62290162A patent/JPH0814610B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59168164U (ja) * | 1983-04-26 | 1984-11-10 | 沖電気工業株式会社 | 試験用フイクスチヤの接触部 |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002319798A (ja) * | 2001-04-23 | 2002-10-31 | Nec Corp | 電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法 |
JP4626084B2 (ja) * | 2001-04-23 | 2011-02-02 | 日本電気株式会社 | 電子部品リード切断装置および切断刃摩耗検出方法 |
KR100431621B1 (ko) * | 2002-05-13 | 2004-05-20 | 배일순 | 브이에프디 피치 유니트 교체형 취부대 |
CN116338412A (zh) * | 2023-05-26 | 2023-06-27 | 深圳市国王科技有限公司 | 一种可控硅的测试方法及装置 |
CN116338412B (zh) * | 2023-05-26 | 2023-08-01 | 深圳市国王科技有限公司 | 一种可控硅的测试方法及装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0814610B2 (ja) | 1996-02-14 |
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