JP2001351563A - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置Info
- Publication number
- JP2001351563A JP2001351563A JP2000170595A JP2000170595A JP2001351563A JP 2001351563 A JP2001351563 A JP 2001351563A JP 2000170595 A JP2000170595 A JP 2000170595A JP 2000170595 A JP2000170595 A JP 2000170595A JP 2001351563 A JP2001351563 A JP 2001351563A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electrode
- ion
- optical axis
- ion lens
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/067—Ion lenses, apertures, skimmers
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/063—Multipole ion guides, e.g. quadrupoles, hexapoles
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/02—Details
- H01J49/06—Electron- or ion-optical arrangements
- H01J49/062—Ion guides
- H01J49/065—Ion guides having stacked electrodes, e.g. ring stack, plate stack
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
Abstract
立て及び製造・使用時の調整を容易にする。 【解決手段】 仮想ロッド電極を構成する各電極素板3
1a〜34dを、少なくともイオン光軸x側の縁部にお
いて所定の必要とされる形状にするとともに、絶縁体か
ら成る絶縁体ホルダ35により該イオン光軸xから離れ
た部分において各電極素板31a〜34dを保持し、そ
れらの位置を固定することにより仮想ロッド多重極イオ
ンレンズをユニット化する。また、仮想ロッド多重極イ
オンレンズユニット30とは別に、その各電極素板31
a〜34dに所定の電圧を印加するためのターミナルユ
ニットを設ける。仮想ロッド多重極イオンレンズユニッ
ト30内においては、同一電位が印加される電極素板同
士を不動のショート線36a、36bにより接続する。
Description
フ質量分析装置(LC/MS)等に用いられる質量分析
装置に関する。
てくるイオンを収束し、場合によっては加速して後段の
質量分析器に送り込むイオンレンズという部品がある。
これについては従来より種々の形状のものが提案されて
いるが、最近では多重極ロッド型のイオンレンズが広く
用いられている。このイオンレンズは図4(a)に示す
ように(この例ではロッドの数は4本だが、6、8本な
ど偶数であればよい)、隣接する電極(例えば符号81
と82が付された電極)に、同一の直流電圧にそれぞれ
位相が反転した高周波電圧を重畳した電圧を印加する。
長軸(イオン光軸と呼ぶ)xの延伸方向に導入されたイ
オンは、この高周波電場により所定の周期で振動しなが
ら進む。このため、イオンの収束効果が高く、より多く
のイオンを後段へ送ることができる。
は良好であるものの、内部の空間でイオン光軸x方向に
電圧勾配が無いため、イオンの加速が行われない。この
ため、比較的高い圧力の下でこのイオンレンズを使用し
ようとすると、イオンが残留ガス分子との衝突によって
運動エネルギが奪われ、レンズを通過するイオンが少な
いという問題があった。
良さを生かしつつ、イオンを加速することもできるイオ
ンレンズとして、図4(b)に示すような仮想ロッド電
極を用いるイオンレンズを提案した(特願平11-19685
6)。これは、各ロッド電極を、イオン光軸xの方向に
互いに分離された複数の電極素板83で構成したもので
ある。1つの仮想ロッド電極84を構成する複数の電極
素板83には、共通の高周波電圧(RF)とイオン光軸
延伸方向に階段状に相違する直流電圧(DC)とが重畳
された電圧が印加される。隣接する仮想ロッド電極84
同士では、印加電圧中の高周波成分の位相が反転され、
一方、同一平面内に含まれる電極素板83には、同一の
直流電圧成分が与えられる。
のイオンレンズに導入されると、高周波電圧によって形
成される電界によりイオンは振動しながら進み、後方焦
点位置に収束する。また、イオン光軸方向の所定の直流
電位勾配によってイオンには運動エネルギが付与され加
速される。そのため、飛行途中で残留ガス分子などに衝
突しても収束軌道を大きく外れることなく進む。従っ
て、例えば後段へ連通する通過孔を有するスキマーを後
方焦点位置近傍に設置しておくと、該通過孔を介して後
段へ多くのイオンを送ることができる。なお同出願で
は、図4(c)に示すように、イオンが進むに従って電
極素板85をイオン光軸xに近づける構成も開示してい
る。
るイオンレンズは上記のように優れた特性を持つもの
の、1本のロッド電極が複数の電極素板に分離している
ことから必然的に部品点数が増加し、組み立て及び調整
(製造時及び使用の際)の困難性が増加するという問題
をはらんでいる。
成されたものであり、その目的とするところは、製造時
の組み立て及び製造・使用時の調整を容易にした仮想ロ
ッド多重極イオンレンズを備えた質量分析装置を提供す
ることにある。
に成された本発明では、各ロッド電極が、イオン光軸方
向に互いに分離された複数の電極素板で構成される仮想
ロッド電極から成る仮想ロッド多重極イオンレンズを用
いた質量分析装置において、仮想ロッド電極を構成する
各電極素板を、少なくともイオン光軸側の縁部において
所定の形状にするとともに、絶縁体から成る保持ユニッ
トにより該イオン光軸から離れた部分において各電極素
板を保持し、それらの位置を固定することにより仮想ロ
ッド多重極イオンレンズをユニット化したことを特徴と
する。
ットとは別に、その各電極素板に所定の電圧を印加する
ためのターミナルユニットを設けることが望ましい。こ
の場合、仮想ロッド多重極イオンレンズユニット内にお
いては、同一電位が印加される電極素板同士を不動のシ
ョート線により接続する。そして、それによりグループ
化された電極素板の中の少なくとも1個に、ソケットプ
ラグペアの一方(すなわち、ソケット又はプラグ)を電
気的に接続する。これを各グループについて行う。一
方、ターミナルユニット内では、それらに各々対応する
位置に、ソケットプラグペアの他方を固定する。
傍を進むため、その動きを制御するにはイオン光軸の近
傍における電界を適切に設定すればよい。このために
は、電極素板はイオン光軸側の縁部において所定の形状
であれば十分である。この「所定の形状」とは、理論的
に定まる形状、あるいは、それに近似した加工容易な形
状であって実際上使用可能(誤差が許容範囲内に収ま
る)であるような形状のことを指す。具体的には、双曲
線形状或いは円弧形状等である。
離れた部分)においては、その他の条件等に応じて都合
の良い形状にすることができる。本発明に係る質量分析
装置では、その部分において各電極素板を絶縁体から成
る保持ユニットで保持し、それらの位置を固定する。従
って、製造時及び使用時の調整の際に確実な位置固定が
可能となる。また、全ての電極素板を含む全体が1つの
ユニットとなるため、取り扱いに便である。なお、絶縁
体から成る保持ユニットは適宜分割されていてもよく、
最終的に全体として1つのユニットに固定されればよ
い。
隣接するロッドには逆の位相の高周波電圧が印加され
る。従って、ロッドの数が4本であれ6本、8本であ
れ、印加すべき高周波電圧の種類は2つでよい。すなわ
ち、1本の仮想ロッドを構成する複数の電極素板に印加
される直流電圧は異なるものの、イオン光軸に垂直な1
枚の平面内に存在する複数(偶数)の電極素板に印加さ
れる電圧(高周波電圧+直流電圧の複合電圧)は2種類
しかない。そこで、本発明に係る質量分析装置の仮想ロ
ッド多重極イオンレンズユニットでは、同一の電圧(複
合電圧)が印加される電極素板同士をユニット内でショ
ート線(導電線)により接続しておく。これにより、こ
のユニットに接続すべき線の数を大きく減らすことがで
きる。これにより、製造時或いは再組み立て時の結線ミ
スが防止され、接触不良等による不具合の発生の可能性
を低減する。
は、ショート線の位置がユニット全体に対して固定され
ており、ユニット全体を多少動かした場合でも、ショー
ト線はユニット全体に対して動かないことを意味する。
設けられた電圧印加ユニットで生成されるが、生成する
電圧を安定したものにするため、電圧印加ユニットとイ
オンレンズとは共振回路を構成するように調整される。
液体クロマトグラフ質量分析装置等では、使用によりイ
オンレンズは徐々に試料により汚染されるため、適宜清
掃を行う必要がある。その際、ユニットを取り外したり
取り付けたりする時やその間にユニットの電極素板等を
清掃する時にショート線の位置が変わると、浮遊容量が
変化し、再度面倒な電圧調整を行わねばならない。本発
明のようにショート線を不動にすることにより、このよ
うな不都合を防止することができる。
ッド多重極イオンレンズユニットを一体化したことに対
応するものである。すなわち、このターミナルユニット
を仮想ロッド多重極イオンレンズユニットに取り付ける
ことにより、レンズユニットの各電極素板への電気的接
続をワンアクションで一挙に行うことができる。これに
より、上記同様、製造時や再組み立て時の作業が容易化
されるとともに、浮遊容量の変動を排除して、電圧の調
整が容易となる。
析装置を説明する。分析装置全体の構成は図1に示す通
りであり、この装置には、イオン化室11、質量分析検
出室14、及び、それらの間にそれぞれ隔壁で隔てられ
た第1中間室12及び第2中間室13が設けられてい
る。イオン化室11には、液体クロマトグラフ装置のカ
ラムの出口端に接続されたノズル15が配設される。質
量分析検出室14には四重極フィルタ16及びイオン検
出器17が設けられ、それらの中間にある第1及び第2
中間室12,13にはそれぞれ第1イオンレンズ18及
び第2イオンレンズ19が設けられている。イオン化室
11と第1中間室12との間は細径の脱溶媒パイプ20
を介して、第1中間室12と第2中間室13との間は極
小径の通過孔(オリフィス)を有するスキマー21を介
してのみ連通している。
に供給される試料液の気化分子によりほぼ大気圧になっ
ている一方、質量分析検出室14内は質量分析のために
ターボ分子ポンプ(TMP)27により約10−3〜1
0−4Paの高真空状態まで真空排気される。このように
真空度の差の大きいイオン化室11と質量分析検出室1
4との間に、イオンを通すための穴を設けなければなら
ないことから、両者11、14の間に第1及び第2中間
室12,13を設け、徐々に真空度を上げるようにして
いるのである。なお、第1中間室12内はロータリポン
プ(RP)25により約102Paまで、第2中間室13
内はターボ分子ポンプ(TMP)26により約10−1
〜10−2Paまで真空排気される。
に噴霧(エレクトロスプレイ)され、液滴中の溶媒が蒸
発する過程で試料分子はイオン化される。未だイオン化
していない液滴とイオンを含む霧はイオン化室11と第
1中間室12との圧力差により脱溶媒パイプ20中に引
き込まれ、脱溶媒パイプ20を通過する過程で更にイオ
ン化が進む。第1中間室12内には第1イオンレンズ1
8が設けられており、その電界により脱溶媒パイプ20
を介してのイオンの引き込みを助けるとともに、イオン
をスキマー21のオリフィス近傍に収束させる。この第
1イオンレンズ18において仮想ロッド多重極イオンレ
ンズが用いられている。
間室13に導入されたイオンは、第2イオンレンズ19
により収束及び加速された後、質量分析検出室14へと
送られる。第2イオンレンズ19には通常の(ソリッ
ド)ロッド型多重極イオンレンズが用いられている。
(質量m/電荷z)を有するイオンのみが四重極フィル
タ16中央の長手方向の空間を通り抜け、イオン検出器
17に到達して検出される。
及び図3に示す。第1イオンレンズ18は、仮想ロッド
多重極レンズユニット30(図2)と、それを構成する
各電極素板にそれぞれ電圧を印加するためのターミナル
ユニット50(図3)とに分かれているが、両者はワン
アクションで結合して一体化される。
0は4極・4段式のものである。すなわち、イオン光軸
xの方向に1列に並ぶ4枚の電極素板31a〜31dが
1本の仮想ロッド(図には記載しないが、これを仮想的
に31とする)を構成し、この仮想ロッドが4本(3
1、32、33、34)、イオン光軸xの回りに90度
対称に配置されて4極を構成している。また、イオン光
軸xに垂直な平面内に、イオン光軸xとの交点を中心に
90度対称に配置される4枚の電極素板31d、32
d、33d、34d(図2(b))が1段と数えられ、
これがイオン光軸xの方向に4面(a、b、c、d)並
んで4段を構成している。従って、本仮想ロッド多重極
レンズユニット30には16枚の電極素板31a〜34
dが含まれる。
から成り、それらはテフロン樹脂(「テフロン」はデュ
ポン社の商標)等の絶縁体から成るホルダ35に固定さ
れている。各電極素板31a〜34dは図2(b)に示
すようにやや長い形状をしており、一端が円弧状となっ
ている。各電極素板31a〜34dは、この円弧状の部
分がイオン光軸x側となるようにホルダ35に固定され
る。また、ユニット30全体はネジ40等により固定さ
れる。
ト30では、図4(c)に示すように、イオンがイオン
光軸xに沿って進むに従い、電極素板31a〜31dが
イオン光軸xに近づくように構成されている。それに対
応して、電極素板31a〜31dの上記一端(イオン光
軸x側の端部)の円弧の曲率半径も徐々に小さくなるよ
うに、そして、電極素板31a〜31dの幅もそれに応
じて小さくなるように設定されている。なお、図2
(b)では一番手前側の電極素板31d〜34dのみを
描き、奥の方の電極素板31a〜33dの図示を省略し
て図面を簡略化している。
置きのロッド電極には同一の電圧が印加されるため、本
実施例のイオンレンズユニット30では図2(b)に示
すように、同一の電圧が印加される電極素板(31d、
33d)(32d、34d)の間にはショート線36
a、36bが渡される。ショート線36a、36bは金
属薄板にから成り、各電極素板31d〜34dの他端
(イオン光軸x側でない方の端部)に固定されている。
従って、ユニット30全体に対しても固定されており、
メンテナンス等によりユニット30が取り扱われても、
ショート線36a、36bの位置がユニット30に対し
て変化しないようになっている。これにより、浮遊容量
の変化が防止され、電源の面倒な再調整が不要となる。
仮想ロッド多重極レンズユニット30に対応するもの
で、図2(a)の左側から取り付けられる。このターミ
ナルユニット50には8本のリードピン51が固定され
ている。上述の通り、多重極レンズユニット30の各段
の4枚の電極素板は2つのグループに分けられ、それぞ
れのグループには同一の電圧が印加されるから、多重極
レンズユニット30には合計8種の電圧を供給する必要
がある。ターミナルユニット50の8本のリードピン5
1はそれらに対応するものであり、多重極レンズユニッ
ト30には、それらのリードピン51に対応した孔37
が8本設けられている(図2(a))。8本のリードピ
ン51は、2本の同じ長さのもの4種から構成される。
同じ長さの2本は多重極レンズユニット30の同一段の
2グループの電極素板に対応し、4種の異なる長さは多
重極レンズユニット30の4段に対応する。
ようなソケット41が設けられ、各リードピン51の先
端から突出して露出する金属線52を受容する。ソケッ
ト41は、上記の同一電圧が印加される電極素板のグル
ープを代表する電極素板の張り出し部38(図2
(b))に電気的に接続される。また、ターミナルユニ
ット50には、外部に設けられた電圧供給源からの電圧
を8本のリードピン51に伝達するコネクタ53が固定
されている。従って、電圧供給源からの所定の電圧(R
F+DC)は、コネクタ53、リードピン51、ソケッ
ト41、張り出し部38、代表電極素板、ショート線3
6a、36bを通じて16枚の電極素板31a〜34d
の全てに印加される。
ド多重極レンズユニット30とを結合する際の位置あわ
せを容易にするため、双方に係合突起59と凹部39を
設けている。
ユニットとターミナルユニットがそれぞれユニット化さ
れているため、両者をワンアクションで取り付けるだけ
で、結線ミスもなく、また、浮遊容量の変化も生じさせ
ずに、レンズユニットの各電極素板にそれぞれ正確な電
圧を印加することができる。
質量分析装置の概略構成図。
第1中間室で用いられる第1イオンレンズの、レンズユ
ニット部分の側面図(a)及び正面図(b)。
部分の側面図(a)、正面図(b)及びソケット部の拡
大断面図(c)。
仮想ロッド多重極イオンレンズ(b)及び変形仮想ロッ
ド多重極イオンレンズ(c)の概略構成図。
Claims (2)
- 【請求項1】 各ロッド電極が、イオン光軸方向に互い
に分離された複数の電極素板で構成される仮想ロッド電
極から成る仮想ロッド多重極イオンレンズを用いた質量
分析装置において、 仮想ロッド電極を構成する各電極素板を、少なくともイ
オン光軸側の縁部において所定の形状にするとともに、
絶縁体から成る保持ユニットにより該イオン光軸から離
れた部分において各電極素板を保持し、それらの位置を
固定することにより仮想ロッド多重極イオンレンズをユ
ニット化したことを特徴とする質量分析装置。 - 【請求項2】 仮想ロッド多重極イオンレンズユニット
内において、同一電位が印加される電極素板同士を不動
のショート線により接続し、それによりグループ化され
た電極素板の中の少なくとも1個に電気的に接続された
ソケットプラグペアの一方を仮想ロッド多重極イオンレ
ンズユニットに設けるとともに、該ソケットプラグペア
の他方を各々対応する位置に固定したターミナルユニッ
トを備えることを特徴とする請求項1記載の質量分析装
置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000170595A JP4581184B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 質量分析装置 |
US09/865,690 US6576898B2 (en) | 2000-06-07 | 2001-05-29 | Mass spectrometer with multipole rod type ion lens |
GB0113312A GB2366072B (en) | 2000-06-07 | 2001-06-01 | Mass spectrometer with multipole rod type ion lens |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000170595A JP4581184B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001351563A true JP2001351563A (ja) | 2001-12-21 |
JP4581184B2 JP4581184B2 (ja) | 2010-11-17 |
Family
ID=18673287
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000170595A Expired - Lifetime JP4581184B2 (ja) | 2000-06-07 | 2000-06-07 | 質量分析装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6576898B2 (ja) |
JP (1) | JP4581184B2 (ja) |
GB (1) | GB2366072B (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095702A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-04-12 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
WO2008117333A1 (ja) | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
WO2008129751A1 (ja) | 2007-04-17 | 2008-10-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
JP2010118308A (ja) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Shimadzu Corp | イオンガイド及びそれを備えた質量分析装置 |
JP4816792B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2011-11-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2011161788A1 (ja) | 2010-06-24 | 2011-12-29 | 株式会社島津製作所 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
US8658969B2 (en) | 2008-03-05 | 2014-02-25 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
US8822915B2 (en) | 2010-06-24 | 2014-09-02 | Shimadzu Corporation | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004014177A (ja) * | 2002-06-04 | 2004-01-15 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
WO2004017358A1 (en) * | 2002-08-19 | 2004-02-26 | Mds Inc. , D.B.A. Mds Sciex | Quadrupole mass spectrometer with spatial dispersion |
US6730904B1 (en) * | 2003-04-30 | 2004-05-04 | Varian, Inc. | Asymmetric-field ion guiding devices |
JP4162138B2 (ja) * | 2003-10-27 | 2008-10-08 | 株式会社リガク | 昇温脱離ガス分析装置 |
JP2007287365A (ja) * | 2006-04-13 | 2007-11-01 | Jeol Ltd | 多極子レンズ及び多極子レンズの製造方法 |
DE102010001349B9 (de) * | 2010-01-28 | 2014-08-28 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Vorrichtung zum Fokussieren sowie zum Speichern von Ionen |
CA2867928A1 (en) | 2012-03-23 | 2013-09-26 | Micromass Uk Limited | Ion guide construction method |
GB201608476D0 (en) | 2016-05-13 | 2016-06-29 | Micromass Ltd | Ion guide |
JP6354874B1 (ja) * | 2017-01-31 | 2018-07-11 | 住友大阪セメント株式会社 | 光変調器 |
JP7047936B2 (ja) * | 2018-11-29 | 2022-04-05 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
CN111755315B (zh) * | 2020-07-07 | 2023-02-24 | 湘潭大学 | 一种提高离子迁移谱灵敏度和分辨率的装置及其方法 |
Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59194338A (ja) * | 1983-04-19 | 1984-11-05 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 四重極分析管 |
JPS60140356U (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-17 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
JPS6241664U (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-12 | ||
JPS63155547A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-28 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 四重極質量分析計の分析管 |
JPH01134844A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Hitachi Ltd | 多重極レンズ |
JPH03100353U (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-21 | ||
JPH0455753U (ja) * | 1990-09-20 | 1992-05-13 | ||
JPH0877960A (ja) * | 1994-09-07 | 1996-03-22 | Hitachi Ltd | イオン打込み装置 |
JPH1097838A (ja) * | 1996-07-30 | 1998-04-14 | Yokogawa Analytical Syst Kk | 誘導結合プラズマ質量分析装置 |
JPH10172507A (ja) * | 1996-12-13 | 1998-06-26 | Shimadzu Corp | 四重極質量分析装置 |
JPH11513838A (ja) * | 1995-10-11 | 1999-11-24 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | 小型四重極質量分析計アレイ |
JP2000149865A (ja) * | 1998-09-02 | 2000-05-30 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2001101992A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
JP2001332210A (ja) * | 2000-05-25 | 2001-11-30 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3522340A1 (de) | 1985-06-22 | 1987-01-02 | Finnigan Mat Gmbh | Linsenanordnung zur fokussierung von elektrisch geladenen teilchen und massenspektrometer mit einer derartigen linsenanordnung |
GB9001283D0 (en) | 1990-01-19 | 1990-03-21 | Associated Asphalt Co Ltd | Apparatus for applying preformed ribs of a thermoplastics material to a line marking on a road surface |
GB2341270A (en) * | 1998-09-02 | 2000-03-08 | Shimadzu Corp | Mass spectrometer having ion lens composed of plurality of virtual rods comprising plurality of electrodes |
US6239429B1 (en) * | 1998-10-26 | 2001-05-29 | Mks Instruments, Inc. | Quadrupole mass spectrometer assembly |
-
2000
- 2000-06-07 JP JP2000170595A patent/JP4581184B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-05-29 US US09/865,690 patent/US6576898B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-06-01 GB GB0113312A patent/GB2366072B/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59194338A (ja) * | 1983-04-19 | 1984-11-05 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 四重極分析管 |
JPS60140356U (ja) * | 1984-02-28 | 1985-09-17 | 日本電子株式会社 | 質量分析装置 |
JPS6241664U (ja) * | 1985-08-30 | 1987-03-12 | ||
JPS63155547A (ja) * | 1986-12-18 | 1988-06-28 | Seiko Instr & Electronics Ltd | 四重極質量分析計の分析管 |
JPH01134844A (ja) * | 1987-11-20 | 1989-05-26 | Hitachi Ltd | 多重極レンズ |
JPH03100353U (ja) * | 1990-01-30 | 1991-10-21 | ||
JPH0455753U (ja) * | 1990-09-20 | 1992-05-13 | ||
JPH0877960A (ja) * | 1994-09-07 | 1996-03-22 | Hitachi Ltd | イオン打込み装置 |
JPH11513838A (ja) * | 1995-10-11 | 1999-11-24 | カリフォルニア インスティチュート オブ テクノロジー | 小型四重極質量分析計アレイ |
JPH1097838A (ja) * | 1996-07-30 | 1998-04-14 | Yokogawa Analytical Syst Kk | 誘導結合プラズマ質量分析装置 |
JPH10172507A (ja) * | 1996-12-13 | 1998-06-26 | Shimadzu Corp | 四重極質量分析装置 |
JP2000149865A (ja) * | 1998-09-02 | 2000-05-30 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
JP2001101992A (ja) * | 1999-09-30 | 2001-04-13 | Shimadzu Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
JP2001332210A (ja) * | 2000-05-25 | 2001-11-30 | Shimadzu Corp | 質量分析装置 |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007095702A (ja) * | 1995-08-11 | 2007-04-12 | Mds Health Group Ltd | 軸電界を有する分析計 |
JP4511505B2 (ja) * | 1995-08-11 | 2010-07-28 | エムディーエス アナリティカル テクノロジーズ | 軸電界を有する分析計 |
JPWO2008117333A1 (ja) * | 2007-03-23 | 2010-07-08 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
WO2008117333A1 (ja) | 2007-03-23 | 2008-10-02 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
US8207491B2 (en) | 2007-03-23 | 2012-06-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
US20100116979A1 (en) * | 2007-04-17 | 2010-05-13 | Shimadazu Corporation | Mass spectrometer |
JP4816792B2 (ja) * | 2007-04-17 | 2011-11-16 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
US8134123B2 (en) | 2007-04-17 | 2012-03-13 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
WO2008129751A1 (ja) | 2007-04-17 | 2008-10-30 | Shimadzu Corporation | 質量分析装置 |
US8658969B2 (en) | 2008-03-05 | 2014-02-25 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometer |
JP2010118308A (ja) * | 2008-11-14 | 2010-05-27 | Shimadzu Corp | イオンガイド及びそれを備えた質量分析装置 |
WO2011161788A1 (ja) | 2010-06-24 | 2011-12-29 | 株式会社島津製作所 | 大気圧イオン化質量分析装置 |
US8637810B2 (en) | 2010-06-24 | 2014-01-28 | Shimadzu Corporation | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer |
US8822915B2 (en) | 2010-06-24 | 2014-09-02 | Shimadzu Corporation | Atmospheric pressure ionization mass spectrometer |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2366072A (en) | 2002-02-27 |
US20010054688A1 (en) | 2001-12-27 |
US6576898B2 (en) | 2003-06-10 |
GB2366072B (en) | 2004-09-29 |
JP4581184B2 (ja) | 2010-11-17 |
GB0113312D0 (en) | 2001-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4581184B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US7067802B1 (en) | Generation of combination of RF and axial DC electric fields in an RF-only multipole | |
US6717139B2 (en) | Ion lens for a mass spectrometer | |
US9618488B2 (en) | Interfacing capillary electrophoresis to a mass spectrometer via an impactor spray ionization source | |
JP3791479B2 (ja) | イオンガイド | |
US7915580B2 (en) | Electro-dynamic or electro-static lens coupled to a stacked ring ion guide | |
EP2372748B1 (en) | Microengineered multipole rod assembly | |
JP4883174B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US7491932B2 (en) | Multipole ion guide having longitudinally rounded electrodes | |
JP2010512631A (ja) | 同軸飛行時間型質量分析装置 | |
US20090236518A1 (en) | Mass spectrometer | |
JP2006501603A (ja) | 質量分析器デバイス及び質量分析器の製造方法 | |
US7126115B2 (en) | Method and apparatus for a nanoelectrosprayer for use in mass spectrometry | |
JP2953344B2 (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | |
JP4415490B2 (ja) | 液体クロマトグラフ質量分析装置 | |
US6525314B1 (en) | Compact high-performance mass spectrometer | |
JP2002015699A (ja) | イオンガイドおよびこれを用いた質量分析装置 | |
US20150041642A1 (en) | Mass spectrograph apparatus and method of driving ion guide | |
US7880140B2 (en) | Multipole mass filter having improved mass resolution | |
JP3596375B2 (ja) | 大気圧イオン化質量分析装置 | |
JP5265095B2 (ja) | 微細加工したナノスプレー電極システム | |
JP2010113944A (ja) | 質量分析装置及びイオン輸送光学系の組立方法 | |
JP3489539B2 (ja) | 質量分析装置 | |
JPH08329884A (ja) | Ms/ms型四重極質量分析装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061005 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090210 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090409 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20100330 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100614 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20100707 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100803 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100816 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4581184 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130910 Year of fee payment: 3 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |