JP2001226324A - 有機反射防止膜用重合体及びその製造方法 - Google Patents

有機反射防止膜用重合体及びその製造方法

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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 193nmArF及び248nmKrF光を
用いる超微細パターン形成工程において、下部膜層の反
射を防止でき、定在波を除去し得る有機乱反射防止重合
体及びその合成方法を提供する。 【解決手段】 反射防止膜に使用される化合物自体が1
93nm及び248nmの波長の光を吸収できるように
吸光度の高い発色団を含有させ、また、有機反射防止膜
の成形性、気密性、溶解性の付与のため、コーティング
後のハードベイク時に、樹脂内のアルコール基と感能基
間で架橋反応が起こるメカニズムを導入した。このた
め、本発明の反射防止膜樹脂は、ハイドロカーボン系の
全ての溶媒に対して溶解性が優秀であり、かつハードベ
イク後にはどんな溶媒にも溶解されない耐溶解性を有す
る。尚、重合用モノマーは下記構造式の9−アントラシ
ルアクリラートである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体素子製造工程
のうち、248nmKrF及び193nmArFレーザ
ーを用いるリソグラフィー用フォトレジストを使用する
超微細パターン形成工程において、下部膜層の反射を防
止し、光及びフォトレジスト自体の厚さ変化による定在
波の除去ができる反射防止用有機物質に関する。より詳
しくは、64M、256M、1G、4GDRAMの超微
細パターン形成の際に使用できる有機乱反射防止重合体
及びその製造方法に関する。また、本発明はこのような
有機乱反射防止重合体を含有する乱反射防止組成物、こ
れを用いた反射防止膜及びその製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】半導体製造工程の超微細パターン形成工
程においては、ウェーハ上の下部膜層の光学的性質及び
感光膜厚さの変動による定在波(standing wave)、反
射ノッチング(reflective notching)と下部膜からの
回折光及び反射光によるCD(Critical Dimension)の
変動が不可避に起こる。したがって、露光源として使用
する光の波長帯での光吸収が良好な有機物質を使用し
た、下部膜層での反射を防ぐための膜層の導入が提案さ
れた。この膜が反射防止膜(ARC;anti-reflectivecoat
ing)である。
【0003】反射防止膜は、使用される物質の種類によ
って、無機系反射防止膜と有機系反射防止膜とに区分さ
れる。また、反射防止メカニズムによって吸収系反射防
止膜と干渉系反射防止膜とに分けられる。波長365n
mのI線(I-line)を用いる微細パターン形成工程では
主として無機系反射防止膜が使用され、吸収系としては
TiN及び非晶形カーボン(Amorphous C)が、干渉系
としては主にSiONが使用されている。
【0004】KrF光を用いる超微細パターン形成工程
では、主として無機系であるSiONが使用されてきた
が、最近では、反射防止膜に有機系化合物も使用される
ようになってきた。現在までに得られた知見からする
と、既存のKrF用の有機反射防止膜には次のような基
本条件が備えられていることが望ましい。
【0005】(1)工程1の適用時、フォトレジストが
溶媒により溶解されて剥がれる現象があってはならな
い。このためには、成形膜が架橋構造をなし得るように
設計されなければならず、この際に、副産物として化学
物質が発生してはならない。
【0006】(2)反射防止膜からの酸又はアミンなど
の化学物質の出入があってはならない。仮に、反射防止
膜から酸が移行(migration)すると、パターンの下部
にアンダーカッティング(undercutting)が発生し、ア
ミンなどの塩基が移行しながらフッティング(footin
g)現象を誘発する傾向があるためである。
【0007】(3)反射防止膜は上部の感光膜に比べて
相対的に速いエッチング速度を有する必要がある。エッ
チング時、感光膜をマスクとして円滑なエッチング工程
を行うためである。
【0008】(4)したがって、反射防止膜はできるだ
け薄い厚さで十分に反射防止膜としての機能を発揮でき
なければならない。
【0009】一方、ArF光を使用する超微細パターン
形成工程においては、満足できる反射防止膜が開発され
ていないのが実状である。無機系反射防止膜の場合に
は、光源である193nmでの干渉現象を制御できる物
質が未だ発表されておらず、最近、有機系反射防止膜を
使用しようとする努力が続いている。
【0010】したがって、全ての感光膜においては、露
光時に発生する定在波と反射を防止し、下部層からの後
面回折及び反射光の影響を除去するため、特定波長に対
する吸収度が高い有機乱反射防止物質の使用が必須であ
り、このような物質の開発が急を要する課題となってい
る。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】したがって、本発明の
目的は、半導体素子の製造工程中、193nmArF及
び248nmKrF光を用いる超微細パターン形成工程
において、反射防止膜として使用し得る新規の有機化合
物質を提供することにある。
【0012】本発明の他の目的は、乱反射を防止し得る
有機化合物質を製造する方法を提供することにある。
【0013】本発明の更に他の目的は、このような乱反
射防止用化合物を含有する乱反射防止組成物及びその製
造方法を提供することにある。
【0014】本発明の更に他の目的は、このような乱反
射防止組成物を使用して形成された乱反射防止膜及びそ
の形成方法を提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】本発明においては、重合
体自体が193nm及び248nmの波長の光を吸収す
るように、吸光度の高い発色団を含有させた。また、有
機反射防止膜に成形性、気密性、耐溶解性を付与するた
め、コーティング後のハードベイク(hard bake)時に
架橋反応が起こるように、樹脂内のアルコール基と感能
基間で架橋させるメカニズムを導入した。特に、本発明
に使用されたモノマーはかなり安価で、経済的利点と大
量生産に適するように設計されていて、簡単な反応だけ
で重合ができるように考案されている。本発明の反射防
止膜樹脂は、ハイドロカーボン系の全ての溶媒に対して
溶解性が優秀であり、しかもハードベイク後にはどんな
溶媒にも溶解されない耐溶解性を有している。したがっ
て、感光膜の塗布時、何らの問題も発生しないだけでな
く、パターン形成時、アンダーカッティング及びフッテ
ィングが発生せず、特にアクリラート系の高分子から形
成されていることにより、エッチング時、感光膜に比べ
て優れたエッチング速度を有するので、エッチング選択
比が向上された。
【0016】本発明の目的を達成するため、本発明の有
機反射防止膜として用いられる樹脂の基本式は下記化学
式(1)、(2)及び(3)のようである。
【0017】
【化9】
【化10】
【化11】 前記化学式(1)ないし(3)において、Ra、Rb、R
cはそれぞれ水素又は−CH3を、x、y、zは0.01
〜0.99モル分率を、nは1〜5の整数をそれぞれ示
す。
【0018】本発明による前記化学式(1)の重合体は
9−アントラシルアクリラート系単量体とヒドロキシア
ルキルアクリラート系単量体を開始剤とともに溶媒中で
重合反応させることで製造することができ、この際に、
各単量体は0.01〜0.99モル分率比を有する。
【0019】また、前記化学式(2)の重合体は9−ア
ントラシルアクリラート系単量体、ヒドロキシアルキル
アクリラート系単量体及びメチルメタアクリラートを開
始剤とともに溶媒中で重合反応させて製造することがで
き、この際に、各単量体は0.01〜0.09モル分率
比を有する。
【0020】また、前記化学式(3)の重合体はアクロ
レインを開始剤とともに有機溶媒中で重合反応させた
後、これをメタノールに溶解させ、エチルエーテルに再
沈殿させて製造することができる。
【0021】本発明による前記化学式(1)、(2)及
び(3)の重合体を製造するために使用し得る開始剤と
しては一般的なラジカル開始剤を使用することができ、
好ましくは、2,2−アゾビスイソブチロニトリル(A
IBN)、アセチルパーオキサイド、ラウリルパーオキ
サイド、t−ブチルパーオキサイドからなるグループよ
り選択されたものを使用することができる。
【0022】本発明による前記化学式(1)、(2)及
び(3)の重合体を製造するために使用される溶媒とし
ては一般的な有機溶媒を使用することができ、好ましく
は、テトラヒドロフラン、トルエン、ベンゼン、メチル
エチルケトン又はジオキサンからなるグループより選択
されたものを使用することができる。
【0023】本発明による前記化学式(1)、(2)及
び(3)の重合体の製造方法において、反応温度50〜
90℃で重合反応を行うのが好ましい。
【0024】本発明による前記化学式(1)又は(2)
の重合体を製造するために使用される9−アントラシル
アクリラート系単量体は9−アントラセンアルコールを
アクリロイルクロライド系化合物と溶媒中で反応させて
製造することができる。
【0025】本発明による前記化学式(1)又は(2)
の重合体を製造するために使用されるヒドロキシアルキ
ルアクリラート系単量体及びメチルメタアクリラート系
単量体は商業的に求めるか又は直接製造して使用でき
る。
【0026】また、本発明は、前記化学式(1)ないし
(3)の構造を有する重合体のいずれか一つを含むか、
又は前記化学式(1)又は(2)の構造を有する重合体
の一つと前記化学式(3)の重合体とを混合して成った
反射防止膜組成物を提供する。
【0027】また、本発明は、前記化学式(1)ないし
(3)の構造を有する重合体の一つ、又は前記化学式
(1)又は(2)の構造を有する重合体の一つと前記化
学式(3)の重合体とを混合した樹脂を基本とし、これ
に、アントラセン、9−アントラセンメタノール、9−
アントラセンカルボニトリル、9−アントラセンカルボ
ン酸、ジトラノ−ル、1,2,10−アントラセントリ
オール、アントラフラボン酸、9−アントラルアルデヒ
ドオキシム、9−アントラルアルデヒド、2−アミノ−
7−メチル−5−オキソ−5H−[1]ベンゾピラノ
[2,3−b]ピリジン−3−カルボニトリル、1−ア
ミノアントラキノン、アントラキノン−2−カルボン
酸、1,5−ジヒドロキシアントラキノン、アントロ
ン、9−アントリルトリフルオロメチルケトン、下記化
学式(4)の9−アルキルアントラセン誘導体、下記化
学式(5)のカルボキシルアントラセン誘導体、下記化
学式(6)の1−カルボキシルアントラセン誘導体から
なるグループから選択された1種又は2種以上の添加剤
からなることを特徴とする反射防止膜組成物を提供す
る。
【0028】
【化12】
【化13】
【化14】 前記式において、R1、R2、R3はそれぞれ独立して水
素、ヒドロキシ、ヒドロキシメチル又はC1〜C5の置
換されているか又は置換されていない直鎖あるいは側鎖
アルキル又はアルコキシアルキルである。
【0029】本発明による反射防止膜組成物は、前記化
学式(1)又は(2)の重合体と前記化学式(3)の重
合体を有機溶媒に溶解させた後、これを単独で、又はこ
れに前記アントラセン誘導体からなるグループより選択
された化合物を0.1〜30重量%添加して製造する。
【0030】このときに使用できる有機溶媒としては、
通常の有機溶媒を使用することができ、好ましくは、エ
チル3−エトキシプロピオネート、メチル3−メトキシ
プロピオネート、シクロヘキサノン、プロピレングリコ
ールメチルエーテルアセテートからなるグループより選
択されるものを使用することができ、また、その量は反
射防止膜樹脂重合体の200〜5000重量%を使用す
るのが好ましい。
【0031】本発明は、前記化学式(1)ないし(3)
の重合体の単独で、又はこれらの混合物と前記アントラ
セン誘導体からなるグループより選択された1種又は2
種以上の化合物を含有する組成物からなる反射防止膜を
提供する。
【0032】このような反射防止膜は、前記反射防止膜
組成物をフィルタリングした後、ウェーハに塗布し、ハ
ードベイクして反射防止膜樹脂を架橋させることで製造
され、これを用いて半導体素子が生産される。このよう
な架橋構造は、感光膜を塗布するとき、有機反射防止膜
としての光学的に安定した露光条件を形成し得るように
する。
【0033】本発明により形成された反射防止膜は24
8nmKrF、193nmArF及び157nmF2レ
ーザーを使用する超微細パターン形成工程の有機反射防
止膜として優秀な性能があるものと確認された。また、
ArF、KrF光の他に、露光光源として、157nm
E−ビーム、EUV(extremely ultraviolet)、イオ
ンビームなどを使用する場合にも優秀な乱反射防止効果
を奏するものと確認された。
【0034】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施例に
基づいて本発明をより具体的に説明する。しかし、下記
の実施例は本発明の権利範囲を限定するものではなく、
ただ例示のために提示するものである。
【0035】(実施例1)ポリ[9−アントラシルアク
リラート−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)]2
元共重合体の合成9−アントラシルアクリラートの合成 9−アントラセンメタノール0.5モルとピリジン0.
5モルをテトラヒドロフランに溶解させた後、アクリロ
イルクロライド0.5モルを加えて反応させた。反応溶
液を濾過した後、再度エチルアセテートで抽出して、蒸
留水で数回洗浄し、減圧蒸留器で乾燥させることで、下
記化学式(7)の構造を有する9−アントラシルアクリ
ラートを収得した。この際の収率は85%であった。
【0036】
【化15】 ポリ[9−アントラシルアクリラート−(2−ヒドロキ
シエチルアクリラート)]2元共重合体の合成 9−アントラシルアクリラート単量体0.5モル、2−
ヒドロキシエチルアクリラート0.5モルを500ml
の円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意したテ
トラヒドロフラン(THF)300gを加え、完全に混
合した後、2,2′−アゾビスイソブチロニトリル(A
IBN)を0.1〜3g加え、その後窒素雰囲気の60
℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させた。反応完了
後、この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキサン溶
媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させることで、本発明
による重合体である下記化学式(8)の構造を有するポ
リ[9−アントラシルアクリラート−(2−ヒドロキシ
エチルアクリラート)]樹脂を得た。この際の収率は8
2%であった。
【0037】
【化16】 (実施例2)ポリ[9−アントラシルアクリラート−
(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)]2元共重合
体の合成 実施例1で合成した9−アントラシルアクリラート単量
体0.5モル、3−ヒドロキシプロピルアクリラート
0.5モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌し
ながら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)3
00gを加え、完全に混合した後、2,2′−アゾビス
イソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え、
その後窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時
間反応させた。反応完了後、この溶液をエチルエーテル
又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾
燥させることで、本発明による重合体である下記化学式
(9)の構造を有するポリ[9−アントラシルアクリラ
ート−(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)]樹脂
を得た。この際の収率は83%であった。
【0038】
【化17】 (実施例3)ポリ[9−アントラシルアクリラート−
(4−ヒドロキシブチルアクリラート)]共重合体の合
成 実施例1で合成した9−アントラシルアクリラート単量
体0.5モル、4−ヒドロキシブチルアクリラート0.
5モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しなが
ら、予め用意したテトラヒドロフラン(THF)300
gを加え、完全に混合した後、2,2′−アゾビスイソ
ブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え、その
後窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反
応させる。反応完了後、この溶液をエチルエーテル又は
ノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥さ
せることで、本発明による重合体である下記化学式(1
0)の構造を有するポリ[9−アントラシルアクリラー
ト−(4−ヒドロキシブチルアクリラート)]樹脂を得
た。この際の収率は80%であった。
【0039】
【化18】 (実施例4)ポリ[9−アントラシルメタアクリラート
(2−ヒドロキシエチルアクリラート)]2元共重合体
の合成9−アントラシルメタアクリラートの合成 9−アントラセンメタノール0.5モルとピリジン0.
5モルをテトラヒドロフランに溶解させた後、メタクリ
ロイルクロライド0.5モルを加えて反応させた。反応
溶液を濾過した後、再度エチルアセテートで抽出して、
蒸留水で数回洗浄し、減圧蒸留器で乾燥させることで、
下記化学式(11)で表示される9−アントラシルメタ
アクリラートを収得した。この際の収率は83%であっ
た。
【0040】
【化19】 ポリ[9−アントラシルメタアクリラート(2−ヒドロ
キシエチルアクリラート)]2元共重合体の合成 9−アントラシルメタアクリラート単量体0.5モル、
2−ヒドロキシエチルアクリラート0.5モルを500
mlの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意し
たテトラヒドロフラン(THF)300gを加え、完全
に混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素雰囲気の
60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させた。反応
完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキサ
ン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させることで、本
発明による重合体である下記化学式(12)の構造を有
するポリ[9−アントラシルメタアクリラート(2−ヒ
ドロキシエチルアクリラート)]樹脂を得た。この際の
収率は79%であった。
【0041】
【化20】 (実施例5)ポリ[9−アントラシルメタアクリラート
(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)]2元共重合
体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラシルメタアクリラ
ート単量体0.5モル、3−ヒドロキシプロピルアクリ
ラート0.5モルを500mlの円形フラスコに入れ、
撹拌しながら、予め用意したテトラヒドロフラン(TH
F)300gを加え、完全に混合した後、2,2′−ア
ゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g
加え、その後窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜
20時間反応させた。反応完了後、この溶液をエチルエ
ーテル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾
過し乾燥させることで、本発明による重合体である下記
化学式(13)の構造を有するポリ[9−アントラシル
メタアクリラート(3−ヒドロキシプロピルアクリラー
ト)]樹脂を得た。この際の収率は85%であった。
【0042】
【化21】 (実施例6)ポリ[9−アントラシルメタアクリラート
(4−ヒドロキシブチルアクリラート)]2元共重合体
の合成 前記実施例4で合成した9−アントラシルメタアクリラ
ート単量体0.5モル、4−ヒドロキシブチルアクリラ
ート0.5モルを500mlの円形フラスコに入れ、撹
拌しながら、予め用意したテトラヒドロフラン(TH
F)300gを加え、完全に混合した後、2,2′−ア
ゾビスイソブチロニトリル(AIBN)を0.1〜3g
加え、その後窒素雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜
20時間反応させた。反応完了後、この溶液をエチルエ
ーテル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾
過し乾燥させることで、本発明による重合体である下記
化学式(14)の構造を有するポリ[9−アントラシル
メタアクリラート(4−ヒドロキシブチルアクリラー
ト)]樹脂を得た。この際の収率は82%であった。
【0043】
【化22】 (実施例7)ポリ[9−アントラシルアクリラート−
(2−ヒドロキシエチルアクリラート)−メチルメタア
クリラート]3元共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラシルアクリラート単量
体0.3モル、2−ヒドロキシエチルアクリラート0.
5モル、メチルメタアクリラート0.2モルを500m
lの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意した
テトラヒドロフラン(THF)300gを加え、完全に
混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素雰囲気の
60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させた。反応
完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキサ
ン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させることで、本
発明による重合体である下記化学式(15)の構造を有
するポリ[9−アントラシルアクリラート−(2−ヒド
ロキシエチルアクリラート)−メチルメタアクリラー
ト]樹脂を得た。この際の収率は81%であった。
【0044】
【化23】 (実施例8)ポリ[9−アントラシルアクリラート−
(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)−メチルメタ
アクリラート]3元共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラシルアクリラート単量
体0.3モル、3−ヒドロキシプロピルアクリラート
0.5モル、メチルメタアクリラート0.2モルを50
0mlの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意
したテトラヒドロフラン(THF)300gを加え、完
全に混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロニトリ
ル(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素雰囲気
の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させた。反
応完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキ
サン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させることで、
本発明による重合体である下記化学式(16)の構造を
有するポリ[9−アントラシルアクリラート−(3−ヒ
ドロキシプロピルアクリラート)−メチルメタアクリラ
ート]樹脂を得た。この際の収率は82%であった。
【0045】
【化24】 (実施例9)ポリ[9−アントラシルアクリラート−
(4−ヒドロキシブチルアクリラート)−メチルメタア
クリラート]3元共重合体の合成 実施例1で合成した9−アントラシルアクリラート単量
体0.3モル、4−ヒドロキシブチルアクリラート0.
5モル、メチルメタアクリラート0.2モルを500m
lの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め用意した
テトラヒドロフラン(THF)300gを加え、完全に
混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロニトリル
(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素雰囲気の
60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させた。反応
完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマルヘキサ
ン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させることで、本
発明による重合体である下記化学式(17)の構造を有
するポリ[9−アントラシルアクリラート−(4−ヒド
ロキシブチルアクリラート)−メチルメタアクリラー
ト]樹脂を得た。この際の収率は80%であった。
【0046】
【化25】 (実施例10)ポリ[9−アントラシルメタアクリラー
ト(2−ヒドロキシエチルアクリラート)−メチルメタ
アクリラート]3元共重合体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラシルメタアクリラ
ート単量体0.3モル、2−ヒドロキシエチルアクリラ
ート0.5モル、メチルメタアクリラート0.2モルを
500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め
用意したテトラヒドロフラン(THF)300gを加
え、完全に混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロ
ニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素
雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させ
た。反応完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマ
ルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による重合体である下記化学式(18)の
構造を有するポリ[9−アントラシルメタアクリラート
−(2−ヒドロキシエチルアクリラート)−メチルメタ
クリラート]樹脂を得た。この際の収率は82%であっ
た。
【0047】
【化26】 (実施例11)ポリ[9−アントラシルメタアクリラー
ト(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)−メチルメ
タアクリラート]3元共重合体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラシルメタアクリラ
ート単量体0.3モル、3−ヒドロキシプロピルアクリ
ラート0.5モル、メチルメタアクリラート0.2モル
を500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予
め用意したテトラヒドロフラン(THF)300gを加
え、完全に混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロ
ニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素
雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させ
た。反応完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマ
ルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による重合体である下記化学式(19)の
構造を有するポリ[9−アントラシルメタアクリラート
(3−ヒドロキシプロピルアクリラート)−メチルメタ
クリラート]樹脂を得た。この際の収率は81%であっ
た。
【0048】
【化27】 (実施例12)ポリ[9−アントラシルメタアクリラー
ト(4−ヒドロキシブチルアクリラート)−メチルメタ
アクリラート]3元共重合体の合成 前記実施例4で合成した9−アントラシルメタアクリラ
ート単量体0.3モル、4−ヒドロキシブチルアクリラ
ート0.5モル、メチルメタアクリラート0.2モルを
500mlの円形フラスコに入れ、撹拌しながら、予め
用意したテトラヒドロフラン(THF)300gを加
え、完全に混合した後、2,2′−アゾビスイソブチロ
ニトリル(AIBN)を0.1〜3g加え、その後窒素
雰囲気の60℃〜75℃の温度で5〜20時間反応させ
た。反応完了後、この溶液をエチルエーテル又はノルマ
ルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し乾燥させるこ
とで、本発明による重合体である下記化学式(20)の
構造を有するポリ[9−アントラシルメタアクリラート
(4−ヒドロキシブチルアクリラート)−メチルメタア
クリラート]樹脂を得た。この際の収率は80%であっ
た。
【0049】
【化28】 (実施例13)ポリアクロレイン重合体の合成 アクロレイン0.5モルを500mlの円形フラスコに
入れ、撹拌しながら、予め用意したテトラヒドロフラン
50gを加え、完全に混合した後、2,2′−アゾビス
イソブチロ二トリル(AIBN)を0.1〜3.0g加
え、その後窒素雰囲気の60〜75℃の温度で5〜20
時間反応させた。反応完了後、この溶液をエチルエーテ
ル又はノルマルヘキサン溶媒に沈殿させ、その後濾過し
乾燥させることで、ポリアクロレイン樹脂を得た。この
際の収率は86%であった。
【0050】こうして合成されたポリアクロレイン10
gをメタノールに溶かした後、80℃で24時間反応さ
せた後、エチルエーテルに再沈殿させることで、下記化
学式(21)の構造を有する純粋なポリ(アクロレイン
メチルアセタル)11.7gを得た。この際の収率は9
0%であった。
【0051】
【化29】 (実施例14)反射防止膜の製造 前記実施例1ないし12で製造した本発明による化学式
(1)又は(2)の構造を有する重合体と実施例13に
よる化学式(21)のような構造を有する重合体を混合
してプロピレングリコールメチルエーテルアセテート
(PGMEA)に溶かした後、この溶液に前記アントラ
セン誘導体からなる化合物のグループより選択されたも
のを添加剤として0.1〜30重量%添加して完全に溶
かしてからフィルタリングした溶液をウェーハに塗布
し、100〜300℃で10〜1000秒間ハードベイ
クを行った。この後、感光膜を塗布し、微細パターン形
成工程を行った。
【0052】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る製造
方法により製造される反射防止膜は発色団を樹脂自体に
含有しており、反射膜として有するべき十分な吸光度を
満足させる。
【0053】特に、本発明における重合体は、架橋反応
の効率性及び貯蔵安定性が向上された。さらに、本発明
の反射防止膜樹脂は、ヒドロカーボン系の全溶媒対して
溶解性に優れ、ハードベイク後にはどんな溶媒にも溶解
されない耐溶解性を有するので、感光膜の塗布時、何ら
の問題も発生しないだけでなく、パターン形成時、アン
ダーカッティング及びフッティングが発生せず、特にア
クリラート系の高分子から形成されているので、エッチ
ング時、感光膜に比べて優れたエッチング速度を有する
ことで、エッチング選択比が向上する効果がある。
【0054】したがって、本発明による重合体を、半導
体製造工程の超微細パターン形成工程における反射防止
膜として使用することにより、248nmKrF、19
3nmArFレーザーを用いるリソグラフィー工程にお
ける下部膜層の反射を防止するだけでなく、光及びフォ
トレジスト自体の厚さ変化による定在波を除去すること
で、64M、256M、1G、4G、16G DRAM
の安定した超微細パターンを形成でき、製品の収率を増
大することができる。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G03F 7/004 506 G03F 7/004 506 7/11 503 7/11 503 H01L 21/027 H01L 21/30 574 (72)発明者 スン エウン ホン 大韓民国 ギュンギ ド セオナム シ ブンダン グ イマエ ドン 124 ハン シン アパートメント 205−601 (72)発明者 キ ホ バイク 大韓民国 ギュンギ ド イチェオン シ ジェウンポ ドン デエウ アパートメ ント 203−402

Claims (41)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 下記構造を有する9−アントラシルアク
    リラート。 【化1】
  2. 【請求項2】 9−アントラセンメタノールとピリジン
    をテトラヒドロフランに溶解させた後、アクリロイルク
    ロライドを加えて製造することを特徴とする請求項1記
    載の9−アントラシルアクリラートの製造方法。
  3. 【請求項3】 下記構造を有する9−アントラシルメタ
    アクリラート。 【化2】
  4. 【請求項4】 9−アントラセンメタノールとピリジン
    をテトラヒドロフランに溶解させた後、メタクリロイル
    クロライドを加えて製造することを特徴とする請求項3
    記載の9−アントラシルメタアクリラートの製造方法。
  5. 【請求項5】 下記構造を有する有機反射防止膜用化合
    物。 【化3】 ここで、Ra、Rbは水素又は−CH3、x、yは0.0
    1〜0.99モル分率、nは1〜5の整数をそれぞれ示
    す。
  6. 【請求項6】 Ra、Rbはそれぞれ水素、nは2、x、
    yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項5記
    載のポリ[9−アントラシルアクリラート−(2−ヒド
    ロキシエチルアクリラート)]。
  7. 【請求項7】 Ra、Rbはそれぞれ水素、nは3、x、
    yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項5記
    載のポリ[9−アントラシルアクリラート−(3−ヒド
    ロキシプロピルアクリラート)]。
  8. 【請求項8】 Ra、Rbはそれぞれ水素、nは4、x、
    yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項5記
    載のポリ[9−アントラシルアクリラート−(4−ヒド
    ロキシブチルアクリラート)]。
  9. 【請求項9】 Raはメチル、Rbは水素、nは2、x、
    yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項5記
    載のポリ[9−アントラシルメタアクリラート−(2−
    ヒドロキシエチルアクリラート)]。
  10. 【請求項10】 Raはメチル、Rbは水素、nは3、
    x、yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項
    5記載のポリ[9−アントラシルメタアクリラート−
    (3−ヒドロキシプロピルアクリラート)]。
  11. 【請求項11】 Raはメチル、Rbは水素、nは4、
    x、yはそれぞれ0.5であることを特徴とする請求項
    5記載のポリ[9−アントラシルメタアクリラート−
    (4−ヒドロキシブチルアクリラート)]。
  12. 【請求項12】 9−アントラシルアクリラート系単量
    体、ヒドロキシアルキルアクリラート系単量体を溶媒中
    に溶解させた後、開始剤を入れて重合反応させることを
    特徴とする請求項5から請求項11のいずれか1項記載
    の化合物の製造方法。
  13. 【請求項13】 前記開始剤は、2,2−アゾビスイソ
    ブチロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイ
    ド、ラウリルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイ
    ドからなるグループより選択されたものを使用すること
    を特徴とする請求項12記載の方法。
  14. 【請求項14】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
    ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン又はジオキサン
    からなるグループより選択されるものを使用することを
    特徴とする請求項12記載の方法。
  15. 【請求項15】 前記重合反応は50〜90℃の温度で
    遂行されることを特徴とする請求項12記載の方法。
  16. 【請求項16】 下記構造を有する有機反射防止膜用化
    合物。 【化4】 ここで、Ra、Rb、Rcはそれぞれ水素又は−CH3を、
    x、y、zは0.01〜0.99モル分率を、nは1〜
    5の整数をそれぞれ示す。
  17. 【請求項17】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基であり、nは2、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルアクリラート−(2−ヒドロキシエ
    チルアクリラート)−メチルメタアクリラート]。
  18. 【請求項18】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基であり、nは3、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルアクリラート−(3−ヒドロキシプ
    ロピルアクリラート)−メチルメタアクリラート]。
  19. 【請求項19】 Ra、Rcはそれぞれ水素、Rbはメチ
    ル基であり、nは4、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルアクリラート−(4−ヒドロキシブ
    チルアクリラート)−メチルメタアクリラート]。
  20. 【請求項20】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    水素であり、nは2、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルメタアクリラート−(2−ヒドロキ
    シエチルアクリラート)−メチルメタアクリラート]。
  21. 【請求項21】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    水素であり、nは3、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルメタアクリラート−(3−ヒドロキ
    シプロピルアクリラート)−メチルメタアクリラー
    ト]。
  22. 【請求項22】 Ra、Rbはそれぞれメチル基、Rc
    水素であり、nは4、x:y:zは0.3:0.2:
    0.5であることを特徴とする請求項16記載のポリ
    [9−アントラシルメタアクリラート−(4−ヒドロキ
    シブチルアクリラート)−メチルメタアクリラート]。
  23. 【請求項23】 9−アントラシルアクリラート系単量
    体、ヒドロキシアルキルアクリラート系単量体及びアル
    キルアクリラート系単量体を溶媒中に溶解させた後、開
    始剤を入れ重合反応させることを特徴とする請求項16
    から請求項22のいずれか1項記載の化合物の製造方
    法。
  24. 【請求項24】 前記開始剤は、2,2−アゾビスイソ
    ブチロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイ
    ド、ラウリルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイ
    ドからなるグループより選択されたものを使用すること
    を特徴とする請求項23記載の方法。
  25. 【請求項25】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
    ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン又はジオキサン
    からなるグループより選択されるものを使用することを
    特徴とする請求項23記載の方法。
  26. 【請求項26】 前記重合反応は50〜90℃の温度で
    遂行することを特徴とする請求項23記載の方法。
  27. 【請求項27】 下記構造を有するポリ[アクロレイン
    メチルアセタル]。 【化5】
  28. 【請求項28】 アクロレインの溶媒中に開始剤を入れ
    重合反応させた後、これをメタノールに溶解させてから
    エチルエーテルに沈殿させることを特徴とする請求項2
    7記載のポリアクロレインメチルアセタルの製造方法。
  29. 【請求項29】 前記溶媒は、テトラヒドロフラン、ト
    ルエン、ベンゼン、メチルエチルケトン又はジオキサン
    からなるグループより選択されたものを使用することを
    特徴とする請求項28記載の方法。
  30. 【請求項30】 前記開始剤は、2,2−アゾビスイソ
    ブチロニトリル(AIBN)、アセチルパーオキサイ
    ド、ラウリルパーオキサイド、t−ブチルパーオキサイ
    ドからなるグループより選択されたものを使用すること
    を特徴とする請求項28記載の方法。
  31. 【請求項31】 前記重合反応は50〜90℃の温度で
    遂行することを特徴とする請求項28記載の方法。
  32. 【請求項32】 請求項5から請求項11及び請求項1
    6から請求項22のいずれか1項記載の化合物を含んで
    なることを特徴とする半導体素子の製造工程に使用され
    る反射防止膜用組成物。
  33. 【請求項33】 前記反射防止膜用組成物に、付加的に
    アントラセン、9−アントラセンメタノール、9−アン
    トラセンカルボニトリル、9−アントラセンカルボン
    酸、ジトラノ−ル、1,2,10−アントラセントリオ
    ール、アントラフラボン酸、9−アントラルアルデヒド
    オキシム、9−アントラルアルデヒド、2−アミノ−7
    −メチル−5−オキソ−5H−[1]ベンゾピラノ
    [2,3−b]ピリジン−3−カルボニトリル、1−ア
    ミノアントラキノン、アントラキノン−2−カルボン
    酸、1,5−ジヒドロキシアントラキノン、アントロ
    ン、9−アントリルトリフルオロメチルケトン、下記化
    学式(a)である9−アルキルアントラセン誘導体、下
    記化学式(b)である9−カルボキシルアントラセン誘
    導体、下記化学式(c)である1−カルボキシルアント
    ラセン誘導体からなるアントラセン誘導体グループより
    選択された1種又は2種以上の添加剤が更に含まれてな
    ることを特徴とする請求項32記載の半導体素子の製造
    工程に使用される反射防止膜用組成物。 【化6】 【化7】 【化8】 ここで、R1、R2、R3はそれぞれ水素、ヒドロキシ、
    ヒドロキシメチル又はC1〜C5の置換されているか又
    は置換されていない直鎖あるいは側鎖アルキル又はアル
    コキシアルキルである。
  34. 【請求項34】 請求項5から請求項11及び請求項1
    6から請求項22のいずれか1項記載の化合物の1種と
    請求項27記載の構造を有する化合物をともに含んでな
    ることを特徴とする半導体素子の製造工程に使用される
    反射防止膜用組成物。
  35. 【請求項35】 前記反射防止膜用組成物に、付加的に
    アントラセン、9−アントラセンメタノール、9−アン
    トラセンカルボニトリル、9−アントラセンカルボン
    酸、ジトラノ−ル、1,2,10−アントラセントリオ
    ール、アントラフラボン酸、9−アントラルアルデヒド
    オキシム、9−アントラルアルデヒド、2−アミノ−7
    −メチル−5−オキソ−5H−[1]ベンゾピラノ
    [2,3−b]ピリジン−3−カルボニトリル、1−ア
    ミノアントラキノン、アントラキノン−2−カルボン
    酸、1,5−ジヒドロキシアントラキノン、アントロ
    ン、9−アントリルトリフルオロメチルケトン、請求項
    33記載の化学式(a)である9−アルキルアントラセ
    ン誘導体、化学式(b)であるカルボキシルアントラセ
    ン誘導体、化学式(c)である1−カルボキシルアント
    ラセン誘導体からなるアントラセン誘導体グループより
    選択された1種又は2種以上の添加剤が更に含まれてな
    ることを特徴とする請求項34記載の半導体素子の製造
    工程に使用される反射防止膜用組成物。
  36. 【請求項36】 請求項5から請求項11及び請求項1
    6から請求項22のいずれか1項記載の化合物を有機溶
    媒に溶解させた後、この溶液を濾過してウェーハに塗布
    し、ハードベイクを行うことを特徴とする半導体製造工
    程に使用される反射防止膜の製造方法。
  37. 【請求項37】 請求項5から請求項11及び請求項1
    6から請求項22のいずれか1項記載の化合物に請求項
    27記載の化合物を混合し有機溶媒に溶解させた後、こ
    れを濾過してウェーハに塗布し、ハードベイクを行うこ
    とからなることを特徴とする半導体製造工程に使用され
    る反射防止膜の製造方法。
  38. 【請求項38】 前記化合物を有機溶媒に溶解させた
    後、その結果物に、添加剤として、アントラセン、9−
    アントラセンメタノール、9−アントラセンカルボニト
    リル、9−アントラセンカルボン酸、ジトラノ−ル、
    1,2,10−アントラセントリオール、アントラフラ
    ボン酸、9−アントラルアルデヒドオキシム、9−アン
    トラルアルデヒド、2−アミノ−7−メチル−5−オキ
    ソ−5H−[1]ベンゾピラノ[2,3−b]ピリジン
    −3−カルボニトリル、1−アミノアントラキノン、ア
    ントラキノン−2−カルボン酸、1,5−ジヒドロキシ
    アントラキノン、アントロン、9−アントリルトリフル
    オロメチルケトン、請求項33記載の化学式(a)であ
    る9−アルキルアントラセン誘導体、化学式(b)であ
    る9−カルボキシルアントラセン誘導体、化学式(c)
    である1−カルボキシルアントラセン誘導体からなるア
    ントラセン誘導体グループより選択された1種又は2種
    以上の添加剤を添加する段階を更に含むことを特徴とす
    る請求項36又は請求項37に記載の方法。
  39. 【請求項39】 前記有機溶媒は、エチル3−エトキシ
    プロピオネート、メチル3−メトキシプロピオネート、
    シクロヘキサノン、プロピレングリコールメチルエーテ
    ルアセテートからなるグループより選択されるものを使
    用することを特徴とする請求項36又は請求項38に記
    載の方法。
  40. 【請求項40】 前記ハードベイクは100〜300℃
    の温度で遂行することを特徴とする請求項36又は請求
    項38に記載の方法。
  41. 【請求項41】 請求項32から請求項35のいずれか
    1項記載の反射防止膜用組成物のいずれか一つを含む反
    射防止膜を含んでなることを特徴とする半導体素子。
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003084431A (ja) * 2001-09-13 2003-03-19 Nissan Chem Ind Ltd 反射防止膜の表面エネルギーの調整方法
EP1560260A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-03 Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. T-gate formation
JP2005526988A (ja) * 2002-01-09 2005-09-08 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 ファーストミニマム底面反射防止膜組成物を使用して像を形成する方法
WO2007086343A1 (ja) * 2006-01-25 2007-08-02 Toagosei Co., Ltd. (メタ)アクリレートの洗浄方法および製造方法
JP2009067971A (ja) * 2007-09-18 2009-04-02 Kawasaki Kasei Chem Ltd ラジカル重合性組成物、その重合方法及びその重合物
US7838606B2 (en) 2003-10-30 2010-11-23 Maruzen Petrochemical Co., Ltd Production process of copolymer for semiconductor lithography
US7960494B2 (en) 2006-12-06 2011-06-14 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Copolymer for semiconductor lithography and process for producing the same
US8030419B2 (en) 2006-12-22 2011-10-04 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Process for producing polymer for semiconductor lithography
JP2012193378A (ja) * 2012-07-04 2012-10-11 Kawasaki Kasei Chem Ltd ラジカル重合性組成物の重合方法及びその重合物
JP2012224690A (ja) * 2011-04-16 2012-11-15 Kawasaki Kasei Chem Ltd 10−ヒドロキシ−1,2,3,4−テトラヒドロ−1,4−メタノアントラセン−9−イル−(メタ)アクリレート化合物、その製造法及びその重合物。
US8377625B2 (en) 2008-10-30 2013-02-19 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Method for producing a copolymer solution with a uniform concentration for semiconductor lithography
JP2013156647A (ja) * 2006-10-18 2013-08-15 Az Electronic Materials Usa Corp 反射防止コーティング組成物

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030059970A (ko) * 2002-01-04 2003-07-12 주식회사 몰커스 패턴 무너짐 현상을 극복하기 위한 유기 난반사 방지막조성물 및 이를 이용한 패턴 형성방법
US7265431B2 (en) * 2002-05-17 2007-09-04 Intel Corporation Imageable bottom anti-reflective coating for high resolution lithography
KR100832247B1 (ko) * 2002-11-27 2008-05-28 주식회사 동진쎄미켐 유기 난반사 방지막 조성물 및 이를 이용한 패턴 형성방법
WO2008080201A1 (en) * 2007-01-05 2008-07-10 Francisco Mathieu Copolymer of methyl methacrylate and anthracenyl methacrylate
KR101111647B1 (ko) * 2009-08-27 2012-02-14 영창케미칼 주식회사 반도체 패턴 형성을 위한 i-선용 네가티브형 포토레지스트 조성물
JP7377848B2 (ja) 2020-12-31 2023-11-10 ローム アンド ハース エレクトロニック マテリアルズ エルエルシー フォトレジスト組成物及びパターン形成方法
CN117210138B (zh) * 2023-10-10 2024-04-19 广东光固新材料有限公司 一种可重复使用的丙烯酸酯胶粘剂

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3000862A (en) * 1958-01-13 1961-09-19 Du Pont Polymethacrolein derivatives
US3449272A (en) * 1961-09-29 1969-06-10 Ppg Industries Inc Thermosetting composition containing an acetalized polymer and a polyol
DE3100077A1 (de) 1981-01-03 1982-08-05 Hoechst Ag, 6000 Frankfurt Lichtempfindliches gemisch, das einen naphthochinondiazidsulfonsaeureester enthaelt, und verfahren zur herstellung des naphthochinondiazidsulfonsaeureesters
US4507405A (en) 1982-06-17 1985-03-26 The Coca-Cola Company Synthetic articles having a cork-like appearance
US4822718A (en) 1982-09-30 1989-04-18 Brewer Science, Inc. Light absorbing coating
US5674648A (en) 1984-08-06 1997-10-07 Brewer Science, Inc. Anti-reflective coating
PH23983A (en) 1986-12-23 1990-02-09 Biopolymers Ltd Biostatic and biocidal composition
JP2740837B2 (ja) 1987-01-30 1998-04-15 コニカ株式会社 多色転写画像形成方法
US5229229A (en) * 1990-04-27 1993-07-20 Tosoh Corporation Pellicle having reflection-preventing function
US5412041A (en) * 1994-07-11 1995-05-02 Rohm And Haas Company Method for forming (meth)acrolein-containing polymers
US5525457A (en) 1994-12-09 1996-06-11 Japan Synthetic Rubber Co., Ltd. Reflection preventing film and process for forming resist pattern using the same
DE19500386A1 (de) * 1995-01-09 1996-07-11 Degussa Verfahren zur Herstellung von seitenständige Aldehydgruppen tragenden Copolymeren
US5886102A (en) 1996-06-11 1999-03-23 Shipley Company, L.L.C. Antireflective coating compositions
TW406215B (en) 1996-08-07 2000-09-21 Fuji Photo Film Co Ltd Composition for anti-reflective coating material in lithographic process, and process for forming resist pattern
US7147983B1 (en) 1996-10-07 2006-12-12 Shipley Company, L.L.C. Dyed photoresists and methods and articles of manufacture comprising same
US5939236A (en) 1997-02-07 1999-08-17 Shipley Company, L.L.C. Antireflective coating compositions comprising photoacid generators
US6190839B1 (en) 1998-01-15 2001-02-20 Shipley Company, L.L.C. High conformality antireflective coating compositions
TW457403B (en) * 1998-07-03 2001-10-01 Clariant Int Ltd Composition for forming a radiation absorbing coating containing blocked isocyanate compound and anti-reflective coating formed therefrom
KR100465864B1 (ko) * 1999-03-15 2005-01-24 주식회사 하이닉스반도체 유기 난반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100395904B1 (ko) * 1999-04-23 2003-08-27 주식회사 하이닉스반도체 유기 반사방지 중합체 및 그의 제조방법
KR100359862B1 (ko) * 1999-12-23 2002-11-09 주식회사 하이닉스반도체 난반사 방지막용 중합체와 그 제조방법

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003084431A (ja) * 2001-09-13 2003-03-19 Nissan Chem Ind Ltd 反射防止膜の表面エネルギーの調整方法
JP2005526988A (ja) * 2002-01-09 2005-09-08 Azエレクトロニックマテリアルズ株式会社 ファーストミニマム底面反射防止膜組成物を使用して像を形成する方法
US7838606B2 (en) 2003-10-30 2010-11-23 Maruzen Petrochemical Co., Ltd Production process of copolymer for semiconductor lithography
EP1560260A1 (en) * 2004-01-29 2005-08-03 Rohm and Haas Electronic Materials, L.L.C. T-gate formation
JP2005236281A (ja) * 2004-01-29 2005-09-02 Rohm & Haas Electronic Materials Llc T−ゲート形成
US7413942B2 (en) 2004-01-29 2008-08-19 Rohm And Haas Electronic Materials Llc T-gate formation
WO2007086343A1 (ja) * 2006-01-25 2007-08-02 Toagosei Co., Ltd. (メタ)アクリレートの洗浄方法および製造方法
JP2013156647A (ja) * 2006-10-18 2013-08-15 Az Electronic Materials Usa Corp 反射防止コーティング組成物
US7960494B2 (en) 2006-12-06 2011-06-14 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Copolymer for semiconductor lithography and process for producing the same
US8030419B2 (en) 2006-12-22 2011-10-04 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Process for producing polymer for semiconductor lithography
JP2009067971A (ja) * 2007-09-18 2009-04-02 Kawasaki Kasei Chem Ltd ラジカル重合性組成物、その重合方法及びその重合物
US8377625B2 (en) 2008-10-30 2013-02-19 Maruzen Petrochemical Co., Ltd. Method for producing a copolymer solution with a uniform concentration for semiconductor lithography
JP2012224690A (ja) * 2011-04-16 2012-11-15 Kawasaki Kasei Chem Ltd 10−ヒドロキシ−1,2,3,4−テトラヒドロ−1,4−メタノアントラセン−9−イル−(メタ)アクリレート化合物、その製造法及びその重合物。
JP2012193378A (ja) * 2012-07-04 2012-10-11 Kawasaki Kasei Chem Ltd ラジカル重合性組成物の重合方法及びその重合物

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