JP2001151205A - 機械診断方法と装置 - Google Patents

機械診断方法と装置

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JP2001151205A JP2000296706A JP2000296706A JP2001151205A JP 2001151205 A JP2001151205 A JP 2001151205A JP 2000296706 A JP2000296706 A JP 2000296706A JP 2000296706 A JP2000296706 A JP 2000296706A JP 2001151205 A JP2001151205 A JP 2001151205A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】機械診断方法と装置 【解決手段】シガレットまたはシガレットパケットのよ
うな製品を製造する機械を診断する方法と装置。製品は
欠陥を検査され、欠陥製品を指示する信号が発生され
る。この発明は、診断を改良することを目的とする。こ
の発明の方法は、欠陥指示信号が、欠陥製品に起こり得
る周期性について評価され、起こり得る周期が決定され
る。この発明の装置は、適切に構成された制御デバイス
を有する。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、シガレットおよ
び／またはシガレットパケットのような製品を製造する
機械、特に、シガレット包装機を診断するための方法と
装置に関する。
【０００２】そのような方法においては、製品がその欠
陥について検査をされ、欠陥製品を指示する信号が発生
される。そのような装置は、対応して製品に欠陥がある
かどうかを検査して、欠陥製品を指示する信号を発生す
る欠陥探知手段を有する。
【０００３】
【従来の技術】前記のタイプの機械は、概して複雑な設
計を有する。多数の色々なサブアセンブリーとツールと
がシガレットおよび／または完成したシガレットパケッ
ト等の製品を、これらを包装することを含めて、製造す
るために協働する。個々のサブアセンブリーまたはツー
ルにおいては、製造対象である成品を損傷する外乱が発
生する可能性がある。不変の製品の品質を保証するため
に、製品は、製造の末端部において、または、発生する
可能性のある欠陥に関して製品の処理工程において検査
される。もし欠陥が発見された場合には、この事実が対
応する信号によって指示され、該当する製品が処理工程
から取り除かれる。
【０００４】欠陥製品の原因となる欠陥サブアセンブリ
ーまたは欠陥ツールに配置するために広範囲のセンサー
を色々なサブアセンブリーまたはツールにおいて用いる
ことが慣わしとなっている。しかしながら、実際問題と
してあらゆるサブアセンブリーまたは各ツールをモニタ
ーすることは不可能である。したがって、欠陥が発生し
てしまってから機械を診断することは、しばしば非常に
困難であり、多数のサブアセンブリーとツールを分解し
て検査を行うことが必要である。これは高いコストを招
くので不利である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、したがっ
て、機械の診断を改良するという問題に立脚する。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この問題を解決するため
に、この発明の方法は、欠陥指示信号が、起こり得る周
期、特に、欠陥製品が発生する１または複数の周期につ
いて評価され、起こり得る欠陥製品の発生周期が決定さ
れる点に特徴を有する。この発明の装置は、欠陥指示信
号の周期を決定し、特定することができるように構成さ
れる制御装置に特徴を有する。
【０００７】下記の用語は、この発明およびその好まし
い具体例に関連して以下の通りに使用される。用語「製
品」とは、終始一貫、包装工程を含む製造工程における
中間の製品と初期の製品、特に、シガレット製造機およ
び／または包装機の区域にある完成または半完成のシガ
レットパケットまたはシガレットと解する。用語「周
期」とは、欠陥指示信号のすべての周期的特徴と解すべ
きである。欠陥指示信号は、特に、１または複数の周期
を示すことができる。用語「サイクル」とは、すべての
規則的な移動、特に、一時的な停止を含む連続した移動
と解すべきである。用語「サブアセンブリー」とは、す
べてのツールユニット、特に、折り曲げ、移送、移送、
または乾燥タレットのようないわゆる諸タレット、ポケ
ットチェーン或いはマガジンおよび通路グループと解さ
れる。用語「ツール」は、サブアセンブリーを構成する
個別の要素、例えば、ポケットチェーンまたはタレット
の個々のポケットおよび通路グループの通路と解すべき
である。
【０００８】この発明は、上記のように命名されたタイ
プの機械においては、多数のサブアセンブリーが周期的
に作動しており、このために、特定の数のツールを有す
る。もしも、サブアセンブリーの個々のツールが間違っ
て作動する場合は、個別に製造された製品も、少なくと
も高い確度で、特定して言えば、このサブアセンブリー
のツールの数に等しい周期で発生する欠陥を備える。機
械の個々のサブアセンブリーは特徴的なツール数を有す
るので、欠陥製品はこの数に等しい周期で発生する。し
たがって、欠陥サブアセンブリーまたは欠陥ツールを有
するサブアセンブリーは、この特徴的な周期を援用して
探知されることができる。
【０００９】しかしながら、欠陥製品はまた、幾つかの
異なる周期で発生する。これは、機械の１つの欠陥が異
なる周期を有する幾つかのサブアセンブリーを損傷する
とき、それらの何かが、２つのサブアセンブリーの遷移
区域における欠陥と関連する場合である。
【００１０】もしも、例えば、１つのサブアセンブリー
２４は、それらの１つに欠陥を有する複数のツールを有
しており、この場合、各機械サイクルを備える１つのツ
ールによって作業が進む。その結果は、検査される製品
に、機械２４の周期で欠陥が発生することになる。しか
しながら、他のサブアセンブリーの場合は、複数のツー
ルが機械のサイクルで作業が進む。幾つかの機械サイク
ルが終わった後にだけ１つのツールが１つの位置だけ作
業を進めることも同様に可能である。しかしながら、ど
ちらの場合も、そのようなサイクリックに作動するサブ
アセンブリーの場合の結果は、１または複数の特徴的周
期であり、したがって、もしも欠陥指示信号が対応する
周期で起きれば、１または複数のサブアセンブリーが存
在すると結論を下すことが可能である。更には、特に機
械のサイクルにおいて欠陥探知手段と、例えば最上部の
ツールの基準位置の間の間隔が知られているときは、該
当ツールを位置決めすることも可能である。
【００１１】もしも、欠陥製品が発生した時点で、特定
の周期性を決定することができないならば、および／ま
たは、欠陥が各製品または機械のサイクルについて同じ
確率で発生するならば、この発明は、１つの欠陥によっ
てすべてのツールが影響を蒙るものと仮定する。
【００１２】発明のこれ以上の立ち入った細部は従属請
求項と図示の模範具体例を援用して以下に続く。
【００１３】
【発明の実施の形態】図１は、ソフトカートンタイプの
パックのシガレットパケット１１を製造するための機械
１０を示す。シガレット１１は、シガレットマガジン１
３の区域において機械に移送される。シガレットマガジ
ン１３は、シガレット１２を貯蔵する機能を有し、シガ
レットパケット１１の内容にしたがってシガレットグル
ープ１４を分配する。この目的で、シガレットマガジン
１３は通路グループ１５と連結される下部区域にマガジ
ン通路を有する。シガレットグループ１４は、各通路グ
ループ１５からポケットチェーン１７のポケット１６内
に、詳しくは、下部コンベヤーストランド１８の区域に
押し出される。ポケットチェーン１７は、シガレットグ
ループ１４を折り曲げタレット１９に移送する。シガレ
ットグループ１４は、上部コンベヤーストランド２０の
区域において、ポケットチェーン１７のポケット１６か
ら外に押し出される。
【００１４】シガレットマガジン１３は４つの通路グル
ープ１５を有する。したがって、ポケットチェーン１７
内に配置される各第４番目のシガレットグループ１４
は、同じ通路グループ１５からポケットチェーン１７に
進入する。もしも、例えば、通路グループ１５が、例え
ば、横断方向シガレット１２が通路グループ１５の１ま
たは複数の通路を閉塞しているという理由で、適正に作
動しないならば、ポケットチェーン１７内の各第４番目
のシガレットグループは、欠陥製品に形成されるであろ
う。そのような欠陥はしたがって、４つの製品すなわち
シガレットパケット１１の周期を備える製造過程におい
て繰り返される。
【００１５】ポケットチェーン１７は、例えば、７２の
ツール、詳しく言えばポケット１６をゆうするが、図１
にはそれらの一部だけが示される。もしも、例えば、ポ
ケットチェーン１７の一つのポケット１６に欠陥、例え
ば、磨耗があれば、欠陥製品は、７２という周期で製造
される。しかしながら、この周期を持つ製品‐シガレッ
トパケット１１‐が構造的に欠陥製品である確率は少な
くとも増大する。
【００１６】ポケットチェーン１７は２つの異なるサイ
クルで作動する。第１に、ポケットチェーン１７は、機
械のサイクルに対応したサイクルで、特に連続して、上
部コンベヤーストランド２０の区域に押し上げられる。
この場合は、ポケットチェーン１７はそれぞれが機械の
サイクルで一つのポケットずつ移動される。下部コンベ
ヤーストランド１８の区域においては、これとは対照的
に、ポケットチェーン１７がもっと緩やかなサイクル
で、特に、一時的な停止を含むサイクルで前方へと移動
される。このサイクルは、通路グループ１５の数に対応
する要素によって減少する。４つのシガレットグループ
１４は、この緩やかなサイクルの１サイクルごとに、下
部コンベヤーストランド１８の４つのポケット１６内に
同時に押し込まれる。これは、ポケットチェーンがこれ
を案内する２つの転向ローラー２１（左側の一つだけが
示されている）によって、この緩やかなサイクルに対応
する特定の基本的サイクルで水平に移動されるという事
実によって達成される。
【００１７】欠陥ツールすなわち機械部材のタイプに応
じて、ポケットチェーン１７の特別なサイクルパターン
は、欠陥パケット１１が発生する特定の周期に導くの
で、この機構上の欠陥もまた、欠陥製品を指示する信号
の発生を異なる周期に導く結果となる。このことは、ポ
ケット１６の数が通路グループ１５の倍数ではない場合
に特に当て嵌まる。欠陥サブアセンブリーすなわち欠陥
ツールに関する情報が広範であればあるほど、欠陥製品
指示信号には、それだけ多くの周期が含まれる。
【００１８】折り曲げたレット１９は、その外周に沿っ
て、パケット１１またはカートンの内外包装材用の紙ま
たは錫箔製のブランクを保持する多数の部材を備える。
内側ブランクを供給する部材２２、折り曲げユニット２
３、パックカートンが形成される外側ブランクの供給部
材２４、および、パックカートンを閉じるための別の折
り曲げユニット２５が例示として図示される。折り曲げ
タレット１９の中心に設けられる回転トランスミッター
２６は、折り曲げ作業中のシガレットグループ１４を保
持するための折り曲げタレット１９の位置、すなわち、
１つ、複数またはすべての保持部材２７の位置を決定す
る機能を備える。この回転トランスミッターは、図２に
示す制御ユニット２７ａに接続される。折り曲げユニッ
ト１９は、例えば、２４個のツール、具体的には保持部
材２７を有する。ツールの数、具体的にはポケットチェ
ーン１７のポケット１６の数は、したがって、ツールの
数、具体的には、折り曲げタレット１９の保持部材２７
の数の整数倍である。
【００１９】シガレットグループ１４が、折り曲げタレ
ット１９からトラバースした後、これらは、移動タレッ
ト２８によって乾燥タレット２９に移送される。移動タ
レット２８は、８つのツール、具体的には、大体完成し
たシガレットパケット１１を保持する保持部材３０を備
える。移動タレット２８のツールの総数は、再び、その
整数倍が折り曲げタレット１９のツールの数に等しいよ
うに選択される。
【００２０】乾燥タレット２９においては、シガレット
パケットが、図の面内において前後に並んで配置された
幾つかの面内において乾燥され、収入印紙装置３１によ
って収入印紙３２が備えられる。完成されたパケット１
１は、２つの転向ローラー３３を介して案内されるベル
トコンベヤー３４によって、スターホイール３５を経て
送り出し手段３６に移動する。欠陥パケットは、取り出
しユニット３７によって取り出される。この取り出しユ
ニットは、６つのツール、具体的にはグリッパー３９を
具備する取り出しホイール３８を有する。これとは対照
的に、乾燥タレット２９は、２４のツール、具体的に
は、保持部材４０を有する。乾燥タレットのツールの総
数は、したがって、再度、移動タレット２８と取り出し
ホイール３８の整数倍である。完成したパケットは、欠
陥探知手段を援用して、送り出し手段３６の区域におい
て検査される。制御ユニット２７ａに接続されたモニタ
ーカメラ４１がこの目的を担う。
【００２１】しかしながら、モニターカメラ４１に代え
て、或いは、それに加えて、他の光学的、機械的、電気
的および／または共振センサー（resonance sensor）
を用いることも可能である。製造しようとする製品のタ
イプに応じて、超音波センサーのようなアコースティッ
クセンサーも考慮される。モニターカメラ４１、或いは
場合によっては、その他のセンサーが、欠陥製品‐パケ
ット１１‐を決定し、この製品が排出部材４２によって
排出され、それによって、製造工程から取り除かれる。
しかしながら、ごく僅かな欠陥しか存在しない場合は、
モニターカメラ４１が、パケットを製造工程に存置させ
て、欠陥指示信号を発生するだけにとどめるように、欠
陥パケットを評価することを可能にすることもできる。
【００２２】製品、特にパックを製造する近代的な機械
の複雑性は、図示のシガレット用包装機から明瞭にわか
るであろう。この場合は、各サブアセンブリー（マガジ
ン１３、ポケットチェーン１７、折り曲げタレット１
９、移動タレット２８、乾燥タレット２９、取り出しユ
ニット３７）は、機械的な負荷が原因となって磨耗を生
じる多数のツールを有する。起こり得る欠陥は、先ず、
モニターカメラ４１によってのみ探知される。しかしな
がら、この発明は、サブアセンブリーに対応するツール
を配置することを可能にする。この場合は、１つのサブ
アセンブリー内のツールの数が、他のサブアセンブリー
のツールの整数倍である。その結果、起こり得る欠陥発
生周期は、いずれの場合においても小さい、または最小
の周期の整数倍である。しかしながら、この発明は、個
々のサブアセンブリーのツールの数がサブアセンブリー
の数の整数倍ではない機械についても適用される。ツー
ルの数がそのように選択される場合は、欠陥指示信号
は、幾つかの周期からなる周期を持つことができる。
【００２３】図２は、乾燥タレット２９の区域における
図１の機械の細部を示す。この乾燥タレット２９もま
た、回転トランスミッター４３を有しており、更には、
機械のすべてのサブアセンブリーが位置のトランスミッ
ターを備える。この回転トランスミッター４３は、他の
位置トランスミッターと同様に、制御ユニット２７ａに
接続される。
【００２４】モニターカメラ４１は、欠陥のない製品、
具体的にはパケット１１については、矩形の信号４４す
なわち高レベルの信号を発生する。もしも、パケット１
１が失われたり、欠陥製品であるならば、モニターカメ
ラ４１は、そのような矩形の信号信号４４を発生せず、
パケットが失われるか欠陥製品であることを指示する低
レベルの障害信号４５を発生する。
【００２５】制御ユニット２７ａは、矩形信号と障害信
号とから形成されるいわゆる欠陥指示信号４６を検査す
る。制御ユニットは、この場合、欠陥指示信号、特に、
障害信号が特定の周期で得られるかどうか、つまり障害
信号が特別なリズムで発生するかどうかを検査する。起
こり得る周期性についてのこの検査は、周期性ブロック
４７において行われる。周期性ブロック４７は、この欠
陥信号が、４、２４、７２の周期および／または、もし
適切であるならば、サブアセンブリーにあるツールの数
に対応する別の周期を決定する。
【００２６】有利なことには、異なるサブアセンブリー
のツールの数は異なるので、決定された周期は、サブア
センブリー、具体的には、マガジン１３の通路グルー
プ、折り曲げおよび／または乾燥タレット２９またはポ
ケットチェーン１７に欠陥を指定するために利用するこ
とができる。図２の具体例においては、欠陥は乾燥タレ
ット２９に指定された。
【００２７】これに伴って、欠陥ツールの計算が、計算
ブロック４８において行われる。この場合は、回転トラ
ンスミッター４３の位置５０、および、回転トランスミ
ッター４３の基準位置４９とモニターカメラ４１の間に
前もって特定されたオフセット５１が検査される。この
オフセットは図２の例では合計１４サイクルになる。欠
陥ツール‐保持部材４０‐が、今や位置トランスミッタ
ー４３とオフセット５１によって決定される位置５０の
差から決定することができる。したがって、図２におけ
るこのことから、カメラ４１によって瞬間的にモニター
される製品が、特定の数１１を持つ保持部材４０の援用
の下に処理される。したがって計算ブロック４８は、検
査を受けつつある現行製品について決定される１つのサ
ブアセンブリー内のツールに関する情報を提供する。
【００２８】回転トランスミッター４３によって決定さ
れる位置５０は、計算ブロック４８における左側区域に
図示される。モニターカメラ４１と基準位置４９の間の
オフセット５１は、そこから差し引かれる。その結果
は、瞬間的に検査されるパケットについて責任を有する
ツールのツール位置５２である。
【００２９】各ツールについて、欠陥曲線５３が描かれ
る。乾燥タレット２９の第１の４つのツールについての
欠陥曲線５３は、図２に示される。それぞれの瞬間的な
欠陥曲線５３は、最後のＭサイクルにおける欠陥総数の
平均値を示す。経過サイクルの数Ｍは、機械１０と検査
されるサブアセンブリーの関数である。この数値Ｍは、
しかしながら、サブアセンブリー内におけるツールの総
数の整数倍であることが好ましい。
【００３０】ヒストグラムブロック５４においては、サ
ブアセンブリー内の各ツールについて、最終のＭサイク
ル内の瞬間的な欠陥発生頻度が特定される場合のヒスト
グラム５５が決定される。この欠陥発生頻度は、相対的
な、または、絶対的な欠陥発生頻度として特定される。
【００３１】このヒストグラム５５は、したがって、個
々のサブアセンブリーをより詳細に検査するという目
的、および、図３、図４に示すフローチャートを援用し
てより詳細に説明されるように、欠陥サブアセンブリー
を表示するという目的に有効である。
【００３２】図３は、このフローチャートの一部を示
す。診断方法は、スタートブロック５６で開始される。
それは、スタート製造ブロック５７で製造を開始する。
分岐ブロック５８は、欠陥発生指示信号４６を検査し
て、パケットが正常（in‐orderIO）であるか、不正常
（not in order NIO）であるかどうかを指示する。
この目的で、分岐ブロック５８は、検査ブロック６０か
らの入力情報の細部を受け取る。検査ブロック６０は、
満足なパケットであるか、不満足なパケットであるかと
いう観点欠陥指示信号の評価を実行する。分岐ブロック
５８もまた、欠陥が周期的シーケンスで発生するかどう
かを決定する。この目的のために、色々な方法を用いる
ことが可能である。特別な考慮が、欠陥指示信号４６の
フーリエ分析に払われる。このフーリエ分析は、発生す
る好ましい欠陥頻度に関する情報を提供する。しかしな
がら、過誤による指示信号４６の自動修正も可能であ
る。原則的には、信号の周期性に関する情報を提供する
あらゆる方法が適する。
【００３３】欠陥指示信号４６における欠陥が、周期の
シーケンスに現れないならば、方法のシーケンスは、分
岐６１を経て分岐ブロック５８の入力側に戻る。しかし
ながら、欠陥が、周期シーケンスに現れるならば、分岐
ブロック５８は、方法シーケンスを選択ブロック６２に
向け、この選択ブロック６２は、欠陥が反復して発生す
る周期を決定し、この周期に対応するサブアセンブリー
を選択、すなわち、決定する。この目的で、どの場合に
も、異なるパラメーターを伴う方法を連続させる分岐６
３が設定される。周期４のサブアセンブリーは、図３の
例から選択される。
【００３４】ツールの位置を決めるブロック６７におい
ては、選択されたサブアセンブリーの位置トランスミッ
ター６４が、サブアセンブリーのツールのツール位置を
検査する。それは、入力情報６６として計算ブロック６
７に供給される。計算ブロック６７は、付随的にツール
数を計算し、前記ブロックは、ツールの位置とオフセッ
ト数の合計からツールを特定するように機能し、前記オ
フセット数は、モニターカメラと位置トランスミッター
６４の基準位置との間の間隔に対応する。
【００３５】別の計算ブロック６８において、個々のツ
ールについて欠陥曲線が描かれる。この場合は、製造バ
ッチ数量ｎが、ツールブロック６８用の入力情報６９と
して、検査ブロック７０において検査される。その結果
は、図２に関連して既に説明したように、ツールの数N
に対応する欠陥曲線５３の数であり、各欠陥曲線５３
は、経過したＭサイクル中の欠陥頻度を示す。１つの欠
陥ブロック７１は、具体的には図４に示すヒストグラム
ブロック５４内のヒストグラム５５を描くために欠陥曲
線５３を利用する。関連する図３と図４の間のインター
フェースは、で示す。N個のツール中における（相対
的）欠陥頻度は、図４のヒストグラム５５においてＰ
１、Ｐ２、Ｐ３、Ｐ４、Ｐ５、Ｐ６、…Ｐｎによって指
示される。大きな製造バッチ数量に付いては、相対的な
欠陥頻度は、それぞれのツールの欠陥発生確率を示す傾
向にある。
【００３６】ヒストグラム５５においても、選択アセン
ブリーのすべてのツールの欠陥頻度の平均値Ｐが特定さ
れ、これもまた同様に、製造バッチ数量についてのサブ
アセンブリーのすべてのツールの欠陥発生確率の平均値
を示す傾向がある。サブアセンブリー内で許容され得る
最大の欠陥頻度すなわち欠陥発生確率についての１つの
限界値Ｌ１も示される。この限界値は、サブアセンブリ
ーに特定の数値であり、すなわち、各サブアセンブリー
に毎に異なる数値である。欠陥頻度すなわち欠陥発生確
率の平均値Ｐに付加される最大の許容差分値Ｌ２も同様
に示され、前記は、１つのツールの欠陥頻度すなわち欠
陥発生確率の上限の数値を特定する。１つのサブアセン
ブリーのすべてのツールの平均欠陥頻度Ｐは、これらの
ツールの平均値が各場合とも経過サイクルＭについて計
算されるので、連続的に変化する。別の分岐ブロック７
２が、サブアセンブリーにおいて許容できる最大欠陥頻
度Ｌ１がサブアセンブリーのすべてのツールの欠陥頻度
の平均値Ｐよりも大きいかどうかが検査される。この質
問がもし、「NO」で答えられれば、シーケンスは分岐７
３を介して機械停止信号を発生する機械停止ブロック７
４に分岐する。分岐７３は、検査されたサブアセンブリ
ーの特定のツールが欠陥頻度において有意の増加を示す
ことはないので、検査されたサブアセンブリーに先行す
るサブアセンブリーにおける欠陥を指示する。というよ
りはむしろ、分岐７３に到達すると、検査されたサブア
センブリーの幾つかまたはすべてのツールが欠陥発生頻
度Ｐ１‐Ｐｎの増加によって等しく影響を受ける。この
ことから、欠陥は、現在検査をされているサブアセンブ
リーに原因するのではなく、製造工程中の先行するサブ
アセンブリーに原因することが帰納される。
【００３７】分岐ブロック７２の質問がもしも、「ye
s」で答えられるならば、方法のシーケンスは、分岐７
６を介して別の分岐ブロック７７に向かう。この分岐ブ
ロック７７は、最大限の許容可能な差分値Ｌ２がツール
ＰＸにおける欠陥頻度とサブアセンブリーのすべてのツ
ールの欠陥頻度の平均値Ｐとの間の差よりも大きいかど
うかについての質問を持ちかける。個の質問に対する答
えが「no」ならば、方法のシーケンスは同様に、分岐７
８を介して機械停止ブロック７４に移動するので、機械
停止信号が発生する。この分岐７８は、検査をされたサ
ブアセンブリーの特定のツールＸの欠陥を指示する。特
定すれば、分岐７８に到達するとき、ツールＸの欠陥頻
度は、欠陥頻度の平均値Ｐと最大の許容差分値Ｌ２との
合計よりも大きい。
【００３８】もしも、分岐ブロック７７における質問が
「yes」で答えられるならば、方法は、図３に示される
ように、分岐７９を介して分岐ブロック５８へと戻る。
【００３９】機械停止ブロック７４に機械停止信号が発
生した後、出力ブロック８０の一つの出力が、作業員に
欠陥源、具体的にはツール数とサブアセンブリーとを知
らせる。検査ブロック８１は、サーチランを開始するた
めに、出力ブロック８０の出力に対する反作用をなす作
業員の入力を待つ。このサーチランは、機械サーチラン
ブロック８２によって実行される。機械は、それによっ
て、欠陥ツールがメンテナンス位置に配置され、したが
って、メンテナンスおよび／または修理手段に自由にア
クセスすることができるような位置に移る。
【００４０】達成された欠陥取り除きを指示する作業員
の入力は、別の検査ブロック８３を介して検査される。
この場合、機械停止信号によってセットされたマーク欠
陥取り除きブロック８４においてリセットされ、かくし
て、指示された欠陥は再び取り除かれる。製造目的が達
成されたかどうかという質問は、欠陥取り除きブロック
８４に続く分岐ブロック８４において持ちかけられる。
この質問が、「yes」で答えられるならば、この方法は
終了し、エンドブロック８７を有する分岐８６を介し
て、最終の状態に移行される。この質問が「no」で答え
られるならば、方法シーケンスは、分岐８８を介して分
岐ブロック８８に移動する。これは図３に示されてお
り、そこに連続する。
【００４１】図２に示される制御ユニット２７ａは、特
に、ブロックを実行するように働くとともに、図２〜４
に図示され説明されるように機能する。そして、機能を
実現するために適当な手段、特に、マイクロプロセッサ
ーとメモリーを提供する。
【００４２】この発明がシガレット包装機に有利に応用
することができ、したがって、包装機に関連する模範具
体例に記述されることは事実である。しかしながら、こ
の発明は、最も多様なタイプの製品を製造し、もし妥当
ならばこれらを製造工程で包装する他の機械の場合にも
使用することができる。この発明が依拠するツールとサ
ブアセンブリーにおける特定の欠陥が製造される製品の
欠陥に特定の周期を発生する原因をなすという所見は、
製品を製造するすべての機械に不可欠に応用することが
できる。この発明のお陰で、個々の欠陥サブアセンブリ
ーおよび／または個々のツールを診断し位置付けること
が、個々のツールに複数のセンサーを必要とすることな
く、モニターカメラのような少数の欠陥探知手段で高度
の信頼性で可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】シガレット包装機の細部の概略的側面図。
【図２】図１の包装機の乾燥タレットの区域の細部と、
欠陥指示信号の処理を描いたブロックダイアグラムとを
示す。
【図３】この発明の方法精緻性を描いたフローチャート
の第１の部分を示す。
【図４】図３に関連するフローチャートの第２の部分を
示す。
【符号の説明】
１０…機械，１１…製品，１２…シガレットパケット，
１３…シガレットマガジン，１５…通路グループ，１６
…ポケット，１７…ポケットチェーン，１９…折り曲げ
タレット，２７…保持部材，２７ａ…制御ユニット，２
８…移動タレット，２９…乾燥タレット，３０…保持部
材，３５…スターホイール，３８…取り出しホイール，
３９…グリッパー，４０…保持部材，４１…モニターカ
メラ，４２…排出部材，４３…回転トランスミッター，
４６…欠陥指示信号，４８…計算ブロック，５１…オフ
セット，５２…ツール位置，５３…欠陥曲線，５５…ヒ
ストグラム，５６…スタートブロック，５８…分岐ブロ
ック，６４…位置トランスミッター，６６…入力情報，
６７…計算ブロック，８０…出力ブロック，８１…検査
ブロック，ＰＸ…ツール，Ｐ…欠陥頻度の平均値，Ｌ１
…最大限の許容可能な欠陥頻度，Ｌ２…最大限の許容可
能な差分値，Ｍ…サイクルの固定数。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 トーマス・ヘフカー ドイツ連邦共和国、27299 ラングベーデ ル、パシュケベルクシュトラーセ 24 (72)発明者 ハルトムート・オルプリヒ ドイツ連邦共和国、27283 フェルデン、 シュプレーベーク ２

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 欠陥指示信号（４６）が、起こりうる周
    期性、特に、欠陥製品（１１，１２）の１または２以上
    の周期について評価され、起こりうる周期性が決定され
    る点に特徴を有し、製品(１１)が欠陥を検査され、欠陥
    製品を指示する信号(４６)が発生する、 シガレット(１２)および／またはシガレットパケット
    (１１)のような製品を製造する機械(１０)、特に、シガ
    レット包装機の診断方法。
  2. 【請求項２】 サブアセンブリー（１３，１７，１９，
    ２８，２９，３５，３８）が、周期性を援用して選択さ
    れ、各サブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２
    ９，３５，３８）は、特徴的な周期性が指定される点に
    特徴を有する請求項１記載の方法。
  3. 【請求項３】 サブアセンブリー（１３，１７，１９，
    ２８，２９，３５，３８）および／またはサブアセンブ
    リー（１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）内
    の、特に、選択されたサブアセンブリー内の１ツール
    （１５，１６，２７，３０，３９，４０）が検査され、 欠陥ツール（１５，１６，２７，３０，３９，４０）
    が、検査をされた位置（５２）、および、現在検査をさ
    れている製品（１１，１２）と選択されたサブアセンブ
    リー（１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）の
    間の、特に、機械サイクルにおける間隔を特定する１つ
    のオフセット（５１）を援用して、決定される点に特徴
    を有する請求項１または２記載の方法。
  4. 【請求項４】 それぞれのツール（１５，１６，２７，
    ３０，３９，４０）および／またはサブアセンブリー
    （１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）につい
    て、欠陥頻度（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，…，ＰＸ，…，Ｐ
    Ｎ）が決定されるか、または、サイクルの固定数（Ｍ）
    の期間中に、欠陥製品（１１，１２）を、製造された製
    品の関数として指示する欠陥曲線（５３）が、描かれ、
    そして、 欠陥頻度（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，…，ＰＸ，…，ＰＮ）ま
    たはサブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２
    ９，３５，３８）のツール（１５，１６，２７，３０，
    ３９，４０）の評価された欠陥発生確率を特定する少な
    くとも１つのヒストグラム（５５）が描かれる点に特徴
    を有する請求項１〜３のいずれか１記載の方法。
  5. 【請求項５】 最大限の許容可能な欠陥頻度（Ｌ１）ま
    たはサブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２
    ９，３５，３８）内において評価された欠陥発生確率
    が、現時点の欠陥頻度の平均値（Ｐ）またはこのサブア
    センブリーのツールの欠陥発生確率よりも大きくなく、
    そして、作業員に、製造工程中の先行サブアセンブリー
    （１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）中に機
    械の欠陥が存在することを知らせる表示信号が発生され
    るか、および／または、最大限の許容可能な差分値（Ｌ
    ２）が、欠陥頻度（Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，…，ＰＸ，…，
    ＰＮ）またはツール（１５，１６，２７，３０，３９，
    ４０）と、欠陥頻度の平均値（Ｐ）またはこのツールに
    属するサブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２
    ９，３５，３８）のツール（１５，１６，２７，３０，
    ３９，４０）の欠陥発生確率との間の差よりも大きくな
    く、作業員に、このサブアセンブリーのこのツールに欠
    陥があることを知らせる表示信号（８０）が発生される
    とき、機械停止信号が発生され、 特に、最大限の許容可能な欠陥頻度（Ｌ１）または欠陥
    発生確率が、欠陥頻度の平均値（Ｐ）またはこのサブア
    センブリーのツールの欠陥発生確率よりも大きく、機械
    停止信号が、特に、入力デバイス（８１）を付勢するこ
    とによって発生された後に、欠陥を備えるとして探知さ
    れたツール（１５，１６，２７，３０，３９，４０）の
    位置において、または、そのようなサブアセンブリー
    （１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）がメン
    テナンス位置に来るように、機械（１０）が停止され
    る、点に特徴を有する請求項１〜４のいずれか１記載の
    方法。
  6. 【請求項６】 制御ユニット（２７ａ）が、欠陥指示信
    号（４６）の周期性を決定し、特定することが可能なよ
    うに構成される点に特徴を有し、製品(１１，１２)が欠
    陥を有するかどうかを検査し、欠陥製品(１１，１２)を
    指示する信号(４６)を発生する欠陥探知手段(４１)を用
    いる、 シガレット(１２)および／またはシガレットパケット
    (１１)のような製品を製造する機械(１０)、特に、シガ
    レット包装機の診断装置。
  7. 【請求項７】 決定された周期性を援用してサブアセン
    ブリー（１３，１７，１９，２８，２９，３５，３８）
    を選択し、 サブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２９，３
    ５，３８）内におけるツール（１５，１６，２７，３
    ０，３９，４０）の位置を決定するために、サブアセン
    ブリー（１３，１７，１９，２８，２９，３５，３
    ８）、特に、回転トランスミッターに指定された位置ト
    ランスミッター（４３，６４）を選択し、 決定された位置（５２）を援用して欠陥ツール（１５，
    １６，２７，３０，３９，４０）を特定することが可能
    なツール特定手段（４８，６７）を選択し、 間隔、特に、機械サイクル内の欠陥探知手段（４１）と
    検査された製品（１１，１２）の間の間隔を特定する１
    つのオフセット（５１）を選択し、 機械停止信号を発生する手段を選択し、 欠陥サブアセンブリー（１３，１７，１９，２８，２
    ９，３５，３８）および／または欠陥ツール（１５，１
    ６，２７，３０，３９，４０）を指示する手段を選択
    し、 機械をメンテナンスを実行することが可能な位置に移動
    するために、機械サーチランを開始するための入力デバ
    イス（８１）を選択する選択デバイス（４７，６２）を
    有する点に特徴を有する請求項６記載の装置。
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