EP2084609A2 - Procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif - Google Patents

Procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif

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Publication number
EP2084609A2
EP2084609A2 EP07803972A EP07803972A EP2084609A2 EP 2084609 A2 EP2084609 A2 EP 2084609A2 EP 07803972 A EP07803972 A EP 07803972A EP 07803972 A EP07803972 A EP 07803972A EP 2084609 A2 EP2084609 A2 EP 2084609A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
result
counter
test
elementary
value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP07803972A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Joseph Regnard De Lagny
Abdelmalik Belaid
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renault SAS
Original Assignee
Renault SAS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renault SAS filed Critical Renault SAS
Publication of EP2084609A2 publication Critical patent/EP2084609A2/fr
Withdrawn legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26—Functional testing
    • G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits

Definitions

  • the invention relates to a method for validating a diagnosis of the operation of a device, in which a succession of elementary diagnoses is performed to determine the normal or abnormal operation of the device.
  • the invention finds an advantageous application in the field of the automobile, and more particularly in the field of diagnosing embedded control devices of complex mechanical or electrical systems in a motor vehicle. But the invention can more generally be used in the field of functional diagnosis of any more or less complex system for which a diagnosis is valid only when particular conditions are met.
  • Control devices include many mechanical or electrical devices more or less complex that are controlled by appropriate control devices, commonly called embedded computers, such as the control device of the engine injection system, the control device of an automatic or robotic gearbox, etc.
  • a control device incorporates diagnostic means that are suitable for rapidly detecting a failure of the device under test (control device itself or the device electrical or functional controlled by the control device).
  • failure here means either a malfunction, likely to lead to an immediate or eventual abnormal operation of the device under test, or a failure characterized by abnormal operation of the device under test.
  • the failure may be continuous or intermittent.
  • the diagnostic means may be activities punctually, for example at the request of a repairer to verify the operation of the device under test after a repair.
  • the diagnostic means can also be permanently active, for example to continuously monitor the device under test and alert when abnormal operation is detected.
  • the diagnostic means implement the following method.
  • Basic tests are performed at predefined times or in predefined situations (set of parameters of the monitored device with a predefined value), for a predefined time or a predefined number of times.
  • the result of each elementary test indicates either a basic defect or normal operation of the monitored device.
  • a failure is confirmed when a basic fault has been detected a preset time or number of times.
  • a fault code corresponding to the fault, and other quantities related to the operation of the device under test are then stored in a fault memory of the diagnostic means.
  • This stored information is subsequently used by a repairer to identify the failure and the conditions under which the failure has occurred. confirmed. After an appropriate repair based on the fault diagnosed, the fault memory is reset.
  • the disadvantage of this method is that it does not make it possible to guarantee that the diagnosis of the device under test has been carried out completely, in particular in the case of an intermittent fault.
  • the invention proposes a solution to this problem by proposing a new method for validating a diagnostic of a device under test.
  • the invention relates to a method for validating an operating diagnostic of a device under test, during which a succession of elementary tests of the device under test is performed, each elementary test producing a positive or negative result indicating normal operation. or abnormal device under test
  • the update of the occurrence counter can consist of:
  • the update of the result counter can consist of:
  • the elementary diagnoses are performed for example whenever a set of parameters of the device takes a predefined value, or at predefined time intervals.
  • the invention also relates to a diagnostic device, for diagnosing the operation of a device under test, the diagnostic device comprising means for performing a succession of elementary tests of operation of the device under test, each elementary test producing a positive result or negative indicating normal or abnormal operation of the device under test.
  • the diagnostic device is characterized in that it also comprises: A counter of occurrences [CRT], to count occurrences of identical results of successive elementary tests,
  • FCRT results counter
  • a diagnostic validation means for producing an alert signal when the occurrence counter reaches a first maximum value (CTRmax) or when the achievement counter reaches a second maximum value (FCTRmax).
  • FIGS. 1a to 1c schematize the operation of an embodiment of the method of the invention
  • FIGS. 2a to 2e show schematically the operation of another embodiment of the method of
  • the device under test is a device for controlling the injection system of an engine of a motor vehicle.
  • the method of the invention is applicable more generally to any device under test which it is desired to detect a possible failure (malfunction or failure).
  • the method according to the invention is a method for validating a diagnostic operation of the device under test.
  • the method according to the invention ensures that the result of an operational diagnosis is reliable, whether it is positive or negative, that is to say, especially in the case of a positive result, that the positive result is reproducible at least a predefined number of times.
  • the validation process comprises, as the previous diagnostic methods, the realization of a succession of elementary tests.
  • each elementary test the operation of the device under test is tested, and it is determined whether the device has normal or abnormal operation. For this, during each elementary test, for example, values of a first set of parameters of the device are measured and compared with corresponding expected values.
  • the result of an elementary test is a Boolean result that takes either a negative value, meaning an abnormal operation or a positive value, meaning normal operation.
  • the elementary tests are performed at predefined instants or in predefined situations.
  • an elementary test is performed at predefined instants T1, T2, T3.
  • an elementary test is performed in predefined situations, whenever a second set of parameters of the device under test takes a set of predefined values. For example, in the case of testing a temperature sensor of a fuel injection device in an engine, an elementary test is performed each time the following conditions are met: engine speed above a predefined threshold, coolant temperature above a predefined threshold and average estimated torque greater than a predefined threshold.
  • the second set of parameters (the value of which is used to detect the moment when an elementary test must be performed) may be different from the first set of parameters (the value of which serves to determine the result of an elementary test).
  • an update of a counter of identical occurrences and an update of a result counter are carried out, as a function of the result of the elementary test.
  • the value of the occurrence counter is representative of the number of successive tests giving an identical result.
  • the value of the result counter is a function of the total number of tests giving a result indicating abnormal operation (negative result) and the total number of tests giving a result indicating normal operation (positive result) of the device under test.
  • the occurrence counter is updated.
  • the occurrence counter is incremented if the result of the current test case is identical to the result of a previous test case.
  • the occurrence counter is initialized to an initial value if the result of the current test case is different from the result of the previous test case.
  • the CTR value of the The occurrence counter thus gives an indication of the number of elementary tests successively carried out and giving a stable (identical) result, which may be negative, as the case may be, meaning an abnormal or positive operation, meaning normal operation.
  • the result counter is updated.
  • the result counter is incremented if the result of the elementary test is in the first logical state (in the example, negative), and the result counter is decremented if the result of the elementary test is in the second logical state (in the positive example).
  • the FCTR value of the result counter thus gives an image of the number of occurrences of a negative test result relative to the number of occurrences of a positive test result: if the value of the result counter is significant, means that many elementary tests carried out led to an incrementation of the counter (corresponding to a test result signifying an abnormal operation of the device under surveillance). Conversely, if the FCTR value of the result counter is small, it means that a small number of elementary tests carried out led to an incrementation of the counter, the other tests carried out having led to a decrementation.
  • the method according to the invention also comprises a diagnostic validation step, during which a diagnosis is validated if the result counter reaches a maximum value or if the occurrence counter reaches a maximum value.
  • the result counter reaches its maximum value FCTRmax, it means that a fault has been detected at less FCmax of times, ie at least FCmax elementary tests were performed and gave a negative result. In such a case, it is considered that the diagnosis is valid (completely completed) and that its result is negative (abnormal functioning), even if the result of the diagnosis is not stable.
  • the occurrence counter reaches its maximum value CTRmax, it means that at least Cmax successive elementary tests gave the same result. In this case, we consider that the diagnosis is validated because it is stable.
  • the diagnostic result is negative if the value of the result counter is lower than its maximum value FCmax, or positive otherwise.
  • the validation step may comprise the production of a validation signal VAL, indicating that a diagnosis is validated (its result being positive or negative). A user of the device is thus informed that a valid diagnosis has been made.
  • the diagnostic result can be viewed in the fault memory, or it can be displayed automatically in the user's view.
  • the device under test is a control device for the engine injection system of a vehicle
  • the result counter can be incremented to a first increment value and can be decremented by a decrement value.
  • the occurrence counter may be incremented according to a second increment value.
  • the choice of the first increment value, the second increment value, the decrement value, and the values CTRmax, Cmax, FCTRmax, HRmax depends on the choices of the criteria to be verified for the validation of a test, and technological choices for the realization of meters.
  • the first increment value is chosen equal to CTRMax / Cmax.
  • the second increment value is chosen equal to FCTR Max / HR max.
  • the second increment value may be different from the first increment value.
  • the decrement value may be chosen as desired, smaller, equal to or greater than the second increment value, depending on how much importance is given to a positive test result in relation to a test result. negative result.
  • the ratio between the second increment value and the decrement value thus makes it possible to weight the importance of a positive result compared to a negative result. For example, one can decide that a negative result is twice as important as a positive result, and must be compensated with two positive results to be "resorbed".
  • FIGS. 1a to 1d show a situation where the first increment value, the second increment value and the decrement value are identical, equal to 1 in a numerical example.
  • Figure la shows the operation of the device under test.
  • the device is put into operation, and stopped at the instant TC.
  • the device does not work properly (negative signal, equal to 1).
  • the device operates normally (positive signal, equal to 0).
  • the device does not operate normally (negative signal, equal to 1).
  • the method according to the invention operates in the following manner.
  • the method is activated, when powering on, the device is started under test.
  • T2 Tl + ⁇ T
  • a second elementary test is performed, the result of which is negative.
  • T3 T2 + ⁇ T
  • a third elementary test is performed, the result of which is negative.
  • FIGS. 2a to 2d show by way of example a situation where the first increment value and the second increment value are equal to 1, the decrement value is equal to 1/2.
  • Figure 2a shows the operation of the device under test.
  • the device is put into operation, and stopped at the instant TC.
  • the device does not work properly (negative signal, equal to 1).
  • the device operates normally (positive signal, equal to 0).
  • the method according to the invention operates in the following manner.
  • the method is activated, when powering on, the device is started under test.
  • CTR 4, Figure 2b
  • FCTR 1, Figure 2c
  • CTR Cmax
  • the enable signal is activated ( Figure 2d). Since the occurrence counter has reached its maximum value, the diagnosis is considered valid because the test results are stable. In this example, the diagnostic result is positive because the value of the result counter is less than its maximum value. . Normal operation of the device under test is thus confirmed. The process ends when the device under test is stopped. It is reset when the device under test (CT instant) is switched on.
  • the invention also relates to a diagnostic device, for diagnosing the operation of a device under test.
  • the diagnostic device may for example be integrated in the device under test, or be appended to the device under test.
  • the diagnostic device comprises means for performing a succession of elementary tests of operation of the device under test, each elementary test producing a positive or negative result indicating a normal or abnormal operation of the device under test.
  • the diagnostic device according to the invention also comprises:
  • a counter of occurrences CRT to count occurrences of identical results of successive elementary tests
  • a diagnostic validation means for producing an alert signal when the occurrence counter reaches a first maximum value CTRmax or when the achievement counter reaches a second maximum value FCTRmax.

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Abstract

L'invention concerne un procédé et un dispositif associé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif sous test, au cours duquel on réalise une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test. Le procédé selon l'invention comprend également les étapes suivantes : après chaque réalisation d'un test élémentaire, mise à jour d'un compteur d'occurrences (CRT), et mise à jour d'un compteur de résultats (FCRT), en fonction du résultat du test élémentaire validation du diagnostic lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale (CTRmax) ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale (FCTRmax). Application à la surveillance du fonctionnement électrique ou fonctionnel de systèmes plus ou moins complexes embarqués dans un véhicule automobile.

Description

PROCEDE DE VALI DATI ON D' UN Dl AGNOSTI C DE FONCTI ONNMENT
D' UN DISPOSITF
L'invention concerne un procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif, au cours duquel on réalise une succession de diagnostics élémentaires pour déterminer le fonctionnement normal ou anormal du dispositif.
L'invention trouve une application avantageuse dans le domaine de l'automobile, et plus particulièrement dans le domaine du diagnostic de dispositifs embarqués de commande de systèmes mécaniques ou électriques complexes dans un véhicule automobile. Mais l'invention peut plus généralement être utilisée dans le domaine du diagnostic fonctionnel de tout système plus ou moins complexe pour lequel un diagnostic n'est valide que lorsque des conditions particulières sont remplies.
Les véhicules actuels comprennent de nombreux dispositifs mécaniques ou électriques plus ou moins complexes qui sont commandés par des dispositifs de commande appropriés, communément appelés calculateurs embarqués, comme par exemple le dispositif de commande du système d'injection du moteur, le dispositif de commande d'une boîte de vitesse automatique ou robotisée, etc.
Pour garantir la sécurité des usagers d'une part, et pour faciliter la remise en état rapide en cas de défaillance par un réparateur d'autre part, un dispositif de commande intègre des moyens de diagnostic, appropriés pour détecter rapidement une défaillance du dispositif sous test (dispositif de commande lui-même ou le dispositif électrique ou fonctionnel commandé par le dispositif de commande) .
Par défaillance, on entend ici soit un défaut de fonctionnement, susceptible d'entraîner immédiatement ou à terme un fonctionnement anormal du dispositif sous test, soit une panne caractérisée par un fonctionnement anormal du dispositif sous test. La défaillance peut être continue ou intermittente.
Les moyens de diagnostic peuvent être activités ponctuellement, par exemple à la demande d'un réparateur pour vérifier le fonctionnement du dispositif sous test après une réparation. Les moyens de diagnostics également peuvent être actifs en permanence, par exemple pour surveiller en continu le dispositif sous test et alerter lorsqu'un fonctionnement anormal est détecté.
Les moyens de diagnostic mettent en oeuvre le procédé suivant. Des tests élémentaires sont réalisés à des instants prédéfinis ou dans des situations prédéfinies (ensemble de paramètres du dispositif sous surveillance ayant une valeur prédéfinie), pendant un temps prédéfini ou un nombre de fois prédéfini. Le résultat de chaque test élémentaire indique soit un défaut élémentaire soit un fonctionnement normal du dispositif sous surveillance.
Une défaillance est confirmée lorsqu'un défaut élémentaire a été détecté un temps ou un nombre de fois prédéfinis. Un code défaut correspondant à la défaillance, et d'autres grandeurs liées au fonctionnement du dispositif sous test sont alors mémorisés dans une mémoire de défauts des moyens de diagnostic.
Ces informations mémorisées sont utilisées ultérieurement par un réparateur pour identifier la défaillance et les conditions dans lesquelles la défaillance a été confirmée. Après une réparation appropriée en fonction de la défaillance diagnostiquée, la mémoire de défaut est réinitialisée.
Enfin, un essai de fonctionnement et un diagnostic du dispositif sous test, puis une nouvelle lecture de la mémoire de défaut permettent de confirmer la bonne réparation du dispositif en s 'assurant que le défaut traité n'a pas réapparu. Pour cela, on réalise des tests élémentaires un temps ou un nombre de fois prédéfinis puis on vérifie le contenu de la mémoire de défaut pour vérifier que le défaut n'a pas réapparu.
L'inconvénient de ce procédé est qu'il ne permet pas de garantir que le diagnostic du dispositif sous test a été réalisé complètement, notamment dans le cas d'un défaut intermittent .
L'invention propose une solution à ce problème, en proposant un nouveau procédé de validation d'un diagnostic d'un dispositif sous test.
Ainsi L'invention concerne un procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif sous test, au cours duquel on réalise une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test
Le procédé selon l'invention est caractérisé en ce qu'il comprend également les étapes suivantes :
• après chaque réalisation d'un test élémentaire, mise à jour d'un compteur d'occurrences (CRT), et mise à jour d'un compteur de résultats (FCRT), en fonction du résultat du test élémentaire • validation du diagnostic lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale (CTRmax) ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale (FCTRmax) .
La mise à jour du compteur d'occurrences peut consister à:
• incrémenter le compteur d'occurrences, si le résultat du test élémentaire est identique au résultat d'un test élémentaire précédent, ou • initialiser le compteur d'occurrences, si le résultat du test élémentaire est dans un deuxième état logique.
La mise à jour du compteur de résultat peut consister à :
• incrémenter le compteur de résultats, si le résultat du test élémentaire est dans un premier état logique ou • décrémenter le compteur de résultats, si le résultat du test élémentaire est dans un deuxième état logique.
Les diagnostics élémentaires sont réalisés par exemple à chaque fois qu'un ensemble de paramètres du dispositif prend une valeur prédéfinie, ou bien à des intervalles de temps prédéfinis.
L'invention concerne également un dispositif de diagnostic, pour diagnostiquer le fonctionnement d'un dispositif sous test, le dispositif de diagnostic comprenant des moyens pour réaliser une succession de tests élémentaires de fonctionnement du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test.
Le dispositif de diagnostic est caractérisé en ce qu'il comprend également : • un compteur d'occurrences [CRT) , pour compter des occurrences de résultats identiques de tests élémentaires successifs,
• un compteur de résultats (FCRT) , pour compter les résultats positifs ou négatifs des tests élémentaires successifs
• un moyen de validation de diagnostic, pour produire un signal d'alerte lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale (CTRmax; ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale (FCTRmax) .
L'invention sera mieux comprise et d'autres caractéristiques et avantages de l'invention apparaîtront dans description qui suit d'un procédé de validation de diagnostic selon l'invention. La description est faite en relation avec les figures annexées parmi lesquelles :
• les figures la à le schématisent le fonctionnement d'un mode de réalisation du procédé de l'invention, et • les figures 2a à 2e schématisent le fonctionnement d'un autre mode de réalisation du procédé de
1 ' invention .
Dans l'exemple décrit ci-dessous, on suppose que le dispositif sous test est un dispositif de commande du système d'injection d'un moteur d'un véhicule automobile. Le procédé de l'invention est applicable plus généralement à tout dispositif sous test dont on souhaite détecter une éventuelle défaillance (défaut de fonctionnement ou panne) .
Le procédé selon l'invention est un procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement du dispositif sous test. Le procédé selon l'invention garantit que le résultat d'un diagnostic de fonctionnement est fiable, qu'il soit positif ou négatif, c'est-à-dire, notamment dans le cas d'un résultat positif, que le résultat positif est reproductible au moins un nombre prédéfini de fois .
Le procédé de validation comprend, comme les procédés de diagnostic antérieurs, la réalisation d'une succession de tests élémentaires.
Au cours de chaque test élémentaire, on teste le fonctionnement du dispositif sous test, et on détermine si le dispositif a un fonctionnement normal ou anormal. Pour cela, au cours de chaque test élémentaire, on mesure par exemple des valeurs d'un premier ensemble de paramètres du dispositif et on les compare à des valeurs correspondantes attendues. Le résultat d'un test élémentaire est un résultat booléen qui prend soit une valeur négative, signifiant un fonctionnement anormal soit une valeur positive, signifiant un fonctionnement normal .
Les tests élémentaires sont réalisés à des instants prédéfinis ou dans des situations prédéfinies.
Dans un mode de réalisation, un test élémentaire est réalisé à des instants prédéfinis Tl, T2, T3, L'intervalle de temps entre deux tests élémentaires peut être constant (par exemple, un test élémentaire est réalisé toutes les 50 milliseconde) ou bien variable (par exemple, un test élémentaire est réalisé à Tl = lms, T2 = 5ms, T3 = 10 ms, T4 = 20ms, etc.).
Dans un autre mode de réalisation, un test élémentaire est réalisé dans des situations prédéfinies, chaque fois qu'un deuxième ensemble de paramètres du dispositif sous test prend un ensemble de valeurs prédéfinies. Par exemple, dans le cas du test d'un capteur de température d'un dispositif d'injection de carburant dans un moteur, on réalise un test élémentaire chaque fois que les conditions suivantes sont réunies : régime moteur supérieur à un seuil prédéfini, température d'un liquide de refroidissement supérieure à un seuil prédéfini et couple estimé moyen supérieur à un seuil prédéfini.
A noter que le deuxième ensemble de paramètres (dont la valeur sert à détecter 1 ' instant où un test élémentaire doit être réalisé) peut être différent du premier ensemble de paramètres (dont la valeur sert à déterminer le résultat d'un test élémentaire).
Selon l'invention, après chaque réalisation d'un test élémentaire, on réalise une mise à jour d'un compteur d'occurrences identiques et une mise à jour d'un compteur de résultats, en fonction du résultat du test élémentaire .
La valeur du compteur d'occurrences est représentative du nombre de tests successifs donnant un résultat identique. La valeur du compteur de résultats est fonction du nombre total de tests donnant un résultat signifiant un fonctionnement anormal (résultat négatif) et du nombre total de tests donnant un résultat signifiant un fonctionnement normal (résultat positif) du dispositif sous test.
Après chaque test élémentaire, le compteur d'occurrences est mis à jour. Le compteur d'occurrences est incrémenté si le résultat du test élémentaire en cours est identique au résultat d'un test élémentaire précédent. Le compteur d'occurrences est initialisé à une valeur initiale si le résultat du test élémentaire en cours est différent du résultat du test élémentaire précédent. La valeur CTR du compteur d'occurrences donne ainsi une indication du nombre de tests élémentaires réalisés successivement et donnant un résultat stable (identique), qui peut selon le cas être négatif, signifiant un fonctionnement anormal ou positif, signifiant un fonctionnement normal.
Egalement, après chaque test élémentaire, le compteur de résultats est mis à jour. Le compteur de résultats est incrémenté si le résultat du test élémentaire est dans le premier état logique (dans l'exemple, négatif), et le compteur de résultats est décrémenté si le résultat du test élémentaire est dans le deuxième état logique (dans l'exemple positif) . La valeur FCTR du compteur de résultat donne ainsi une image du nombre d'occurrences d'un résultat de test négatif par rapport au nombre d'occurrences d'un résultat de test positif : si la valeur FCRT du compteur de résultats est importante, cela signifie que de nombreux tests élémentaires réalisés ont conduit à une incrémentation du compteur (correspondant à un résultat de test signifiant un fonctionnement anormal du dispositif sous surveillance) . Inversement, si la valeur FCTR du compteur de résultats est petite, cela signifie qu'un petit nombre de tests élémentaires réalisés ont conduit à une incrémentation du compteur, les autres tests réalisés ayant conduit à une décrémentation.
Le procédé selon l'invention comprend également une étape de validation de diagnostic, au cours de laquelle un diagnostic est validé si le compteur de résultats atteint une valeur maximale ou si le compteur d'occurrences atteint une valeur maximale.
Si le compteur de résultats atteint sa valeur maximale FCTRmax, cela signifie qu'un défaut a été détecté au moins FCmax de fois, c'est-à-dire que au moins FCmax tests élémentaires ont été réalisés et ont donné un résultat négatif. Dans un tel cas, on considère que le diagnostic est valide (complètement réalisé) et que son résultat est négatif (fonctionnement anormal), même si le résultat du diagnostic n'est pas stable.
Si le compteur d'occurrences atteint sa valeur maximale CTRmax, cela signifie que au moins Cmax tests élémentaires successifs ont donné un même résultat. Dans ce cas, on considère que le diagnostic est validé car il est stable. Le résultat du diagnostic est négatif si la valeur du compteur de résultat est inférieure à sa valeur maximale FCmax, ou positif sinon.
L'étape de validation selon l'invention permet de valider un diagnostic, c'est-à-dire de garantir que le résultat du diagnostic est stable, au moins si ce résultat est positif, et y compris dans le cas où des défauts élémentaires (= résultats négatifs de tests élémentaires) intermittents sont présents.
L'étape de validation peut comprendre la production d'un signal de validation VAL, indiquant qu'un diagnostic est validé (son résultat étant positif ou négatif). Un utilisateur du dispositif est ainsi informé qu'un diagnostic valide a été réalisé. Le résultat du diagnostic peut être consulté dans la mémoire de défaut, ou bien être affiché automatiquement à la vue de l'utilisateur. Dans l'exemple choisi où le dispositif sous test est un dispositif de commande du système d'injection du moteur d'un véhicule, on peut par exemple prévoir sur le tableau de bord du véhicule un affichage sur écran ou un bouton lumineux pour afficher le signal VAL. Le compteur de résultat peut être incrémenté selon une première valeur d'incrément et peut être décrémenté selon une valeur de décrément. Le compteur d'occurrences peut être incrémenté selon une deuxième valeur d'incrément.
Le choix de la première valeur d'incrément, de la deuxième valeur d'incrément, de la valeur de décrément, et des valeurs CTRmax, Cmax, FCTRmax, FCmax dépend des choix des critères à vérifier pour la validation d'un test, et de choix technologiques pour la réalisation des compteurs.
Les critères de validation d'un test imposent les valeurs des paramètres CMax et FCmax.
On considère qu'un diagnostic est valide s'il est stable, c'est-à-dire si au moins Cmax tests élémentaires successifs donne le même résultat. Selon le dispositif sous test, on pourra choisir par exemple Cmax de l'ordre de 5 à 1000. On considère qu'un diagnostic est également valide si FCmax tests élémentaires, successifs ou non, donnent un résultat négatif. On considère en effet dans ce cas que le grand nombre de résultats négatifs doit être considéré comme un diagnostic négatif nécessitant une intervention, même si le diagnostic n'est pas stable. Selon le dispositif sous test, on pourra choisir par exemple FCmax de l'ordre de 5 à 1000.
Les choix technologiques pour la réalisation des compteurs imposent les valeurs des paramètres CTRmax et FCTRmax.
Dans un premier mode de réalisation, les valeurs CTRmax et FCTRmax sont les valeurs maximales susceptibles d'être produites par le compteur d'occurrences et le compteur de résultats. Par exemple, si les compteurs sont des compteurs de 16 bits, CTRMax et FCTRmax sont égales à 216 = 65536. Dans un deuxième mode de réalisation, on choisit des valeurs CTRMax et FCTRmax égales respectivement à Cmax et FCmax . On utilise dans ce cas en sortie du compteur d'occurrences un comparateur approprié pour comparer la valeur du compteur d'occurrences avec la valeur CTRMax et en sortie du compteur de résultat un comparateur approprié pour comparer la valeur du compteur de résultat avec la valeur FCTRMax.
Pour incrémenter le compteur d'occurrences, la première valeur d'incrément est choisie égale à CTRMax / Cmax. Ainsi, si Cmax tests élémentaires successifs produisent un même résultat, le compteur d'occurrence atteint sa valeur maximale CTRMax.
Pour incrémenter le compteur de résultat, la deuxième valeur d ' incrémentest choisie égale à FCTRMax / FCmax.
La deuxième valeur d'incrément peut être différente de la première valeur d'incrément.
Pour décrémenter le compteur de résultat, la valeur de décrément peut être choisie au choix, inférieure, égale ou supérieure à la deuxième valeur d'incrément, selon l'importance que l'on donne à un résultat de test élémentaire positif par rapport à un résultat négatif. Le rapport entre la deuxième valeur d'incrément et la valeur de décrément permet ainsi de pondérer l'importance d'un résultat positif par rapport à un résultat négatif. Par exemple, on peut décider qu'un résultat négatif est deux fois plus important qu'un résultat positif, et doit être compenser par deux résultats positifs pour être "résorbé". Les figures la à Id présentent une situation où la première valeur d'incrément, la deuxième valeur d'incrément et la valeur de décrément sont identiques, égales à 1 dans un exemple numérique. Les tests élémentaires sont réalisés à des instants réguliers, dans un exemple toutes les ΔT = 50 ms . Les valeurs maximales des compteurs sont FCmax = Cmax = 4 (ce nombre max, purement arbitraire ici, est choisi volontairement petit pour des raisons évidentes de simplification) .
La figure la montre le fonctionnement du dispositif sous test. A l'instant Tl, le dispositif est mis en fonctionnement, et il arrêté à l'instant TC. Entre les instants Tl et TA, on considère que le dispositif ne fonctionne pas correctement (signal négatif, égal à 1). Entre les instants TA et TB, on considère que le dispositif fonctionne normalement (signal positif, égal à 0). Entre les instants TB et TC, le dispositif ne fonctionne pas normalement (signal négatif, égal à 1) .
Dans cet exemple pratique, le procédé selon l'invention fonctionnement de la manière suivante.
A l'instant Tl, le procédé est activé, lors de la mise sous tension, du démarrage du dispositif sous test. Un premier test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif (= 1 sur la figure la, signifiant un défaut). Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 1, figure Ib) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 1, figure Ic) .
A l'instant T2 = Tl + ΔT, un deuxième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 2, figure Ib) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 2, figure Ic) . A l'instant T3 = T2 + ΔT, un troisième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 3, figure Ib) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 3, figure Ic) .
A l'instant T4 = T3 + ΔT, compris entre TA et TB, un quatrième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est positif (fonctionnement normal du dispositif sous test). Le résultat (positif) étant différent du résultat (négatif) du test précédent Le compteur d'occurrences est initialisé à un (CTR = 1, figure Ib). Le résultat étant positif, le compteur de résultat est décrémenté (FCTR = 2, figure Ic) .
A l'instant T5 = T4 + ΔT, supérieur à TB, un cinquième test est réalisé dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences CTR est incrémenté (CTR = 2, figure Ib) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 3, figure Ic) .
A l'instant T6 = T5 + ΔT, un sixième test est réalisé dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences CTR est incrémenté (CTR = 3, figure Ib) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 4, figure Ic) et atteint sa valeur maximale (FCTR = FCTRmax. Le signal de validation est activé (figure Id) . Le compteur de résultats ayant atteint sa valeur maximale, on considère que le diagnostic est valide, le résultat du diagnostic étant négatif (fonctionnement anormal du dispositif sous test confirmé) .
Le procédé se termine à l'arrêt du dispositif sous test. II est réinitialisé lors d'une mise sous tension ultérieure du dispositif sous test (instant TC). Les figures 2a à 2d présentent à titre d'exemple une situation où la première valeur d'incrément et la deuxième valeur d'incrément sont identiques égales à 1, la valeur de décrément est égale à 1/2. Les tests élémentaires sont réalisés à des instants réguliers Tl, T2, T3, ..., dans un exemple toutes les ΔT = 50 ms . Les valeurs maximales des compteurs sont FCmax = Cmax = 4.
La figure 2a montre le fonctionnement du dispositif sous test. A l'instant Tl, le dispositif est mis en fonctionnement, et il arrêté à l'instant TC. Entre les instants Tl et TA, on considère que le dispositif ne fonctionne pas correctement (signal négatif, égal à 1). Entre les instants TA et TB, on considère que le dispositif fonctionne normalement (signal positif, égal à 0) .
Dans cet exemple pratique, le procédé selon l'invention fonctionnement de la manière suivante.
A l'instant Tl, le procédé est activé, lors de la mise sous tension, du démarrage du dispositif sous test. Un premier test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif (= 1 sur la figure 2a, signifiant un défaut). Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 1, figure 2b) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 1, figure 2c) .
A l'instant T2 = Tl + ΔT, un deuxième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 2, figure 2b) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 2, figure 2c) .
A l'instant T3 = T2 + ΔT, un troisième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est négatif. Le compteur d'occurrences est incrémenté (CTR = 3, figure 2b) et le compteur de résultat est incrémenté (FCTR = 3, figure 2c) .
A l'instant T4 = T3 + ΔT, supérieur à TA, un quatrième test élémentaire est réalisé, dont le résultat est positif (fonctionnement normal du dispositif sous test).
Le résultat (positif) étant différent du résultat
(négatif) du test précédent Le compteur d'occurrences est initialisé à un (CTR = 1, figure 2b). Le résultat étant positif, le compteur de résultat est décrémenté (FCTR = 2, 5, figure 2c) .
A l'instant T5 = T4 + ΔT, un cinquième test est réalisé dont le résultat est positif. Le compteur d'occurrences CTR est incrémenté (CTR = 2, figure 2b) et le compteur de résultat est décrémenté (FCTR = 2, figure 2c).
A l'instant T6 = T5 + ΔT, un sixième test est réalisé dont le résultat est positif. Le compteur d'occurrences CTR est incrémenté (CTR = 3, figure 2b) et le compteur de résultat est décrémenté (FCTR = 1,5, figure 2c)
A l'instant T7 = T6 + ΔT, un septième test est réalisé dont le résultat est positif. Le compteur d'occurrences
CTR est incrémenté (CTR = 4, figure 2b) et le compteur de résultat est décrémenté (FCTR = 1, figure 2c). Le compteur d'occurrences ayant atteint sa valeur maximale
(CTR = Cmax) , le signal de validation est activé (figure 2d) . Le compteur d'occurrences ayant atteint sa valeur maximale, on considère que le diagnostic est valide car les résultats des test élémentaires sont stables/ Le résultat du diagnostic est dans cet exemple positif, car la valeur du compteur de résultat est inférieure à sa valeur maximale. Le fonctionnement normal du dispositif sous test est ainsi confirmé. Le procédé se termine à l'arrêt du dispositif sous test. Il est réinitialisé lors d'une mise sous tension ultérieure du dispositif sous test (instant TC).
L'invention concerne également un dispositif de diagnostic, pour diagnostiquer le fonctionnement d'un dispositif sous test. Le dispositif de diagnostic peut être par exemple intégré dans le dispositif sous test, ou bien être annexé au dispositif sous test.
Le dispositif de diagnostic comprend des moyens pour réaliser une succession de tests élémentaires de fonctionnement du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test.
Le dispositif de diagnostic selon l'invention comprend également :
• un compteur d'occurrences CRT, pour compter des occurrences de résultats identiques de tests élémentaires successifs,
• un compteur de résultats FCRT, pour compter les résultats positifs ou négatifs des tests élémentaires successifs
• un moyen de validation de diagnostic, pour produire un signal d'alerte lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale CTRmax ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale FCTRmax.

Claims

REVENDICATIONS
1. Procédé de validation d'un diagnostic de fonctionnement d'un dispositif sous test, au cours duquel on réalise une succession de tests élémentaires du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes :
• après chaque réalisation d'un test élémentaire, mise à jour d'un compteur d'occurrences (CRT), et mise à jour d'un compteur de résultats (FCRT), en fonction du résultat du test élémentaire
• validation du diagnostic lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale (CTRmax) ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale (FCTRmax) .
2. Procédé selon la revendication 1, dans lequel la mise à jour du compteur d'occurrences consiste à :
• incrémenter le compteur d'occurrences, si le résultat du test élémentaire est identique au résultat d'un test élémentaire précédent, ou
• initialiser le compteur d'occurrences, si le résultat du test élémentaire est dans un deuxième état logique.
3. Procédé selon la revendication 1 ou 2, dans lequel la mise à jour du compteur de résultat consiste à :
• incrémenter le compteur de résultats, si le résultat du test élémentaire est dans un premier état logique ou
• décrémenter le compteur de résultats, si le résultat du test élémentaire est dans un deuxième état logique.
4. Procédé selon la revendication 3, dans lequel : • à chaque incrémentation, une valeur du compteur de résultats est augmentée d'une valeur d'incrément prédéfinie, et
• à chaque décrémentation, la valeur du compteur de résultats est diminuée d'une valeur de décrément prédéfinie.
5. Procédé selon la revendication 4, dans lequel la valeur de décrément est inférieure ou égale à la valeur d ' incrément .
6. Procédé selon l'une des revendications 1 à 5, dans lequel on réalise des diagnostics élémentaires à chaque fois qu'un ensemble de paramètres du dispositif prend une valeur prédéfinie.
7. Procédé selon l'une des revendications 1 à B, dans lequel on réalise des diagnostics élémentaires à des intervalles de temps prédéfinis.
8. Dispositif de diagnostic, pour diagnostiquer le fonctionnement d'un dispositif sous test, le dispositif de diagnostic comprenant des moyens pour réaliser une succession de tests élémentaires de fonctionnement du dispositif sous test, chaque test élémentaire produisant un résultat positif ou négatif indiquant un fonctionnement normal ou anormal du dispositif sous test, le dispositif de diagnostic étant caractérisé en ce qu'il comprend également :
• un compteur d'occurrences (CRT), pour compter des occurrences de résultats identiques de tests élémentaires successifs, • un compteur de résultats (FCRT) , pour compter les résultats positifs ou négatifs des tests élémentaires successifs • un moyen de validation de diagnostic, pour produire un signal d'alerte lorsque le compteur d'occurrences atteint une première valeur maximale (CTRmax) ou lorsque le compteur de réalisations atteint une deuxième valeur maximale (FCTRmax) .
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