DE69119679T2 - Ausgangsschaltung eines abfühlverstärkers für einen halbleiterspeicher - Google Patents

Ausgangsschaltung eines abfühlverstärkers für einen halbleiterspeicher

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Description

  • Die Erfindung betrifft eine Halbleiterspeichervorrichtung. Die frühere europäische Patentanmeldung Nr. 90 113 339.7 der vorliegenden Anmelderin, veröffentlicht nach dem Prioritätstag der vorliegenden Anmeldung (Artikel 54(3) EPÜ) als EP-A2-0 408 032 beschreibt eine Halbleiterspeichervorrichtung, welche einen Speicher aufweist, eine Ausgleichschaltung, die zwischen erste und zweite Datenleitungen geschaltet ist, an welche Daten von dem Speicher ausgegeben werden, um die Datenleitungen auf gleiches Potential zu setzen, wenn ein Ausgleichsimpulssignal an die Ausgleichschaltung angelegt wird, und weist weiterhin Zwischenspeicherschaltungen zum Zwischenspeichern der Potentiale an den Datenleitungen auf, und an der Eingangsseite der Zwischenspeicherschaltungen vorgesehene Pufferschaltungen zum Abschneiden der Signale für die Zwischenspeicherschaltungen entsprechend den Ausgleichsimpulssignalen während des Ausgleichsvorgangs an der Ausgleichsschaltung.
  • Die Druckschrift zum Stand der Technik EP-A1-0 235 889 beschreibt eine Halbleiterspeichervorrichtung, welche aufweist: eine erste Eingangsklemme und eine zweite Eingangsklemme zum Empfangen komplementärer Signale, einen ersten und einen zweiten Stromspiegel-Meßverstärker, wobei jeder der Stromspiegel Meßverstärker aufweist: einen Bezugsknoten, eine Ausgangsklemme, einen an den Bezugsknoten angeschlossenen ersten Transistor, und einen an die Ausgangsklemme angeschlossenen zweiten Transistor. Die Gates des ersten Transistors des ersten Meßverstärkers und des zweiten Transistors des zweiten Meßverstärkers sind an die erste Eingangsklemme angeschlossen, und die Gates des zweiten Transistors des ersten Neßverstärkers und des ersten Transistors des zweiten Meßverstärkers sind an die zweite Eingangsklemme angeschlossen. Ein erster Kurzschlußtransistor ist zwischen die Bezugsknoten geschaltet und kann zeitweilig nach Empfang eines Taktsignals an seinem Gate leiten, um die Geschwindigkeit des Lesevorgangs eines statischen Speichers mit wahlfreiem Zugriff zu erhöhen.
  • Zum besseren Verständnis der vorliegenden Erfindung wird deren technischer Hintergrund nachstehend kurz erläutert.
  • Technischer Hintergrund
  • Figur 6 zeigt einen wesentlichen Teil einer konventionellen Halbleiterspeichervorrichtung, beispielsweise eines EPROM. Diese Halbleiterspeichervorrichtung weist auf: beispielsweise einen Adresspuffer 31, der zeitweilig das Datenleseadressensignal speichert, einen X-Dekodierer 32 und einen Y-Dekodierer 33, die das Adressensignal von dem Adresspuffer 31 dekodieren, einen Y-Selektor 34, der das Ausgangssignal des Y-Dekodierers 33 empfängt, eine Speicherzelleneinheit 35, aus welcher eine bestimmte Zelle in Abhängigkeit von den Ausgangssignalen des Y-Selektors 34 und des X-Dekodierers 32 ausgesucht wird, einen Meßverstärker 36, der das Signal verstärkt, welches aus der Speicherzelleneinheit 35 ausgelesen und von dem Y-Selektor 34 geliefert wird, und ein Datensignal mit einem bestimmten Pegel erzeugt, eineImpulsgeneratorschaltung (ATD) 37, welche die Anderung des Adressensignals in dem Adresspuffer 31 erfaßt, ein bestimmtes Impulssignal erzeugt (nachstehend als Ausgleichsimpulssignal bezeichnet), und dieses an den Meßverstärker 36 liefert, eine Eingangs/Ausgangs- Pufferschaltung 38, die das Datensignal von dem Meßverstärker 36 aufgibt, einen Dateneingangsabsohnitt 39, der (nicht gezeigte) Transistoren in dem Y-Selektor 34 treibt, in Abhängigkeit von den Daten von der Eingangs/Ausgangs- Pufferschaltung 38, sowie eine Steuerung 40, die den Meßverstärker 36, die Impulsgeneratorschaltung 37, die Eingangs/Ausgangspufferschaltung 38, und den Dateneingangsabschnitt 39 steuert auf der Grundlage des Chipfreischaltsignals /CE, des Ausgangsfreischaltsignals /OE, des Programm- oder Schreibsignals /PGM, und der Versorgungsspannung Vpp.
  • Die Speicherzelleneinheit 35 besteht beispielsweise aus einem Bezugs-EPROM und ist so ausgelegt, daß das gleichzeitige Auslesen von Signalen auf unterschiedlichen Pegeln ermöglicht wird.
  • Der Meßverstärker 36 ist so ausgelegt, daß er Signale auf einem bestimmten Pegel erzeugt, beispielsweise durch dreistufige Verstärkung von Signalen auf unterschiedlichem Pegel von der Speicherzelleneinheit 35 über den Y-Selektor 34. Jeder der Verstärkerabschnitte der ersten bis dritten Stufe besteht aus zwei Differenzverstärkern und einer Übertragungsgateschaltung, welche die Ausgangssignale des Differenzverstärkerpaars auf den selben Pegel ausgleicht, auf der Grundlage des Ausgleichimpulssignals von der Impulsgeneratorschaltung 37.
  • Figur 7 erläutert den Aufbau des dreistufigen Verstärkungsabschnitts und der Ausgangsschaltung.
  • Die Differenzverstärker 36a und 36b vergleichen die Signale von dem Verstärkungsabsohnitt (nicht gezeigt) der zweiten Stufe in bezug auf eine Potentialdifferenz und beurteilen, ob das Signal auf dem Pegel "1" oder "0" liegt. Diese Differenzverstärker 36a und 36b werden mit solchen Eingangssignalen versorgt, daß jeder Signale auf unterschiedlichem Pegel erzeugt, so daß der Ausgangspegel des Differenzverstärkers 36b gleich "0" ist, wenn der Ausgangspegel des Differenzverstärkers 36a gleich "1" ist. Im einzelnen wird das Eingangssignal Vin1 sowohl der nicht invertierenden Eingangsklemme des Differenzverstärkers 36a als auch der invertierenden Klemme des Differenzverstärkers 36b zugeführt, wogegen das Eingangssignal Vin2 sowohl der nicht invertierenden Eingangsklemme des Differenzverstärkers 36b als auch der invertierenden Klemme des Differenzverstärkers 36a zugeführt wird.
  • Die Ausgangsklemme des Differenzverstärkers 36a bzw. 36b ist an eine Inverterschaltung 36c bzw. 36d angeschlossen. Über die Ausgangsklemmen der Verstärker 36a und 36b ist ein Übertragungsgate 36e geschaltet, welches aus einem p-Kanal- Transistor P1 und einem n-Kanal-Transistor N1 besteht, die parallel geschaltet sind. Die Gates des n-Kanal-Transistors N1 und des p-Kanal-Transistros P1 werden mit den Ausgleichimpulssignalen EQ und /EQ von der Impulserzeugungsschaltung 37 versorgt.
  • Unter Bezugnahme auf Figur 8 wird der Betriebsablauf bei dieser Anordnung erläutert.
  • Vor der Änderung der Adresse ADD befindet sich das Potential Va des Knotens a zwischen dem Differenzverstärker 36a und der Inverterschaltung 36c auf dem Pegel "1", das Potential Vb des Knotens b zwischen dem Differenzverstärker 36b und der Inverterschaltung 36d liegt auf dem Pegel "0", das Ausgangspotential Q der Inverterschaltung 36c liegt auf dem Pegel "0", und das Ausgangspotential /Q der Inverterschaltung 36d liegt auf dem Pegel "1". Wenn in diesem Zustand die Adresse ADD geändert wird, erzeugt die Impulsgeneratorschaltung 37 die Ausgleichimpulssignale EQ und /EQ. Dann werden die Transistoren P1 und N1 leitend, welche die Ausgleichimpulse EQ und /EQ empfangen, wodurch die Potentiale Va und Vb beider Knoten a und b ausgeglichen werden.
  • Wenn dann die Ausgleichimpulssignale EQ /EQ abnehmen, werden die Transistoren P1 und N1 nicht leitend, wodurch die Potentiale Va und Vb der Ausgangsknoten a und b der Differenzverstärker 36a und 36b zu den ursprünglichen Potentialen zurückkehren können, die von den Verstärkern 36a und 36b als Potentiale der Knoten festgestellt wurden.
  • Wenn die Ausgleichimpulssignale EQ und /EQ die Transistoren P1 und N1 leitend machen, liegen die Potentiale Va und Vb der Ausgangsklemmen der Differenzverstärker 36a und 36b auf einem mittleren Potential. Daher können die Inverterschaltungen 36c und 36d nicht feststellen, ob die Eingangspotential auf dem Pegel "0" oder "1" liegen, so daß die Ausgangspotentiale Q und /Q unbestimmt werden, was zu der Möglichkeit führt, daß fehlerhafte Ausgangssignale erzeugt werden.
  • Bei der konventionellen Schaltungsanordnung ist eine gewisse Zeit dafür erforderlich, daß die Ausgangspotentiale der Inverterschaltungen 36c und 36d in den Normalzustand zurückkehren, nachdem die Ausgleichimpulssignale EQ und /EQ abgenommen haben, was es erschwert, einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb zu erzielen.
  • Beschreibung der Erfindung
  • Das Ziel der vorliegenden Erfindung besteht in der Bereitstellung einer Halbleiterspeichervorrichtung, welche das Ausgangssignal stabil auf einem festgelegten Pegel halten kann, selbst in Gegenwart von Ausgleichimpulssignalen, und dadurch einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb erzielen kann, daß die Zeit zwischen der Abnahme des Ausgleichimpulssignals bis zum Auftauchen eines normalen Signals verkürzt wird.
  • Das voranstehende Ziel wird durch eine Halbleiterspeichervorrichtung erreicht, welche gemäß Patentanspruch 1 Verstärker zur Erzeugung von Ausgleichimpulssignalen entsprechend der Änderung der Andresse aufweist, und auf der Grundlage der Ausgleichimpulssignale getrennt zwei aus dem Speicher ausgelesene Signale verstärkt, sowie eine Ausgleichsschaltung zum Ausgleichen des Ausgangssignals des Verstärkers, und weiterhin Zwischenspeicherschaltungen zum Zwischenspeichern der Ausgangssignale von den Verstärkern aufweist, sowie Absohneideschaltungen, die an der Eingangsseite der Zwischenspeicherschaltungen vorgesehen sind, und während des Ausgleichvorgangs an der Ausgleichsschaltung die Signale zu den Zwischenspeicherschaltungen entsprechend den Ausgleichimpulssignalen abschneiden.
  • Infolge dieser Anordnung schneidet während des Ausgleichszeitraums, wenn der Ausgleichimpuls erzeugt wird, die Abschneideschaltung das Signal ab, welches aus dem Speicher ausgelesen wird, und inzwischen liefert die Zwischenspeicherschaltung das zwischengespeicherte Signal. Daher ist es möglich, zu verhindern, daß das Ausgangssignal auf einem unbestimmten Pegel liegt, wodurch ein verläßliches Ausgangssignal sichergestellt wird. Sobald der Ausgleichimpuls abgenommen hat, verschwindet der Abschneidezustand, so daß das Signal geliefert werden kann, was einen Hochgeschwindigkeitsbetrieb ermöglicht. Bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind in den abhängigen Patentansprüchen abgegeben.
  • Kurzbeschreibung der Zeichnungen
  • Figur 1 ist ein Schaltbild eines wesentlichen Teils einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • Figur 2 ist ein Schaltbild eines Teils von Figur 1;
  • Figur 3 zeigt Signalformen zur Erläuterung des Betriebsablaufs der Schaltung von Figur 1;
  • Figur 4 ist ein Schaltbild eines wesentlichen Teils einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • Figur 5 zeigt Signalformen zur Erläuterung des Betriebs der Schaltung von Figur 4;
  • Figur 6 ist ein Blockschaltbild einer Halbleiterspeichervorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung;
  • Figur 7 ist ein Schaltbild eines wesentlichen Teils eines konventionellen Meßverstärkers; und
  • Figur 8 zeigt Signalformen zum Zweck der Beschreibung des Betriebs der Schaltung von Figur 7.
  • Die beste Art und Weise der Ausführung der Erfindung
  • Unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen wird eine erste Ausführungsform der vorliegenden Erifndung erläutert.
  • Figur 1 zeigt den Verstärkungsabschnitt der dritten Stufe des Meßverstärkers 36. Die gleichen Teile wie in Figur 7 sind durch die gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und die Beschreibung konzentriert sich hauptsächlich auf Teile, die sich von denen in Figur 7 unterscheiden.
  • Die Ausgangsklemmen der Differenzverstärker 36a und 36b sind an Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 über getaktete (CMOS) Inverterschaltungen 11 bzw. 12 angeschlossen. Die Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 speichern die Signale zwischen, die an den Differenzverstärkern 36a und 36b festgestellt wurden.
  • Die getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 weisen den selben Aufbau auf, so daß nur die Konstruktion der Inverterschaltung 11 erläutert wird, und bei der Inverterschaltung 12 sind die gleichen Teile wie bei der Inverterschaltung 11 durch die selben Bezugszeichen bezeichnet, und auf eine Beschreibung dieser Teile wird verzichtet.
  • Die getaktete Inverterschaltung 11 besteht, aus einer Reihenschaltung der Stromleitungspfade von p-Kanal- Transistoren P2 und P3 und von n-Kanal-Transistoren N2 und N3 zwischen der Spannungsversorgung V und Masse. Die Gates des p-Kanal-Transistors P und des n-Kanal-Transistors N2 sind mit der Ausgangsklemme des Differenzverstärkers 36a verbudnen. Die Drains des Transistors P2 und des Transistors N2 sind an die Eingangsklemme der Zwischenspeicherschaltung 13 angeschlossen. Die Source des Transistors P2 ist mit dem Drain des p-Kanal-Transistors P3 verbunden, dessen Gate das Ausgleichimpulssignal EQ empfängt, und dessen Source mit der Spannungsversorgung V verbunden ist. Die Source des Transistors N2 ist an den Drain des n-Kanal-Transistors N3 angeschlossen, dessen Gate das Ausgleichimpulssignal /EQ empfängt, und dessen Source an Masse gelegt ist.
  • Figur 2 erläutert den Aufbau der Zwischenspiecherschaltungen 13 und 14.
  • Die Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 bestehen jeweils aus zwei CMOS-Inverterschaltungen IN1 und IN2. Die Inverterschaltungen IN1 und 1N2 bestehen aus p-Kanal- und n- Kanal-Transistoren P4 bzw. N4, und PS bzw. NS.
  • Unter Bezugnahme auf Figur 3 wird der Betriebsablauf dieser Anordnung beschrieben.
  • Wenn die Adresse unverändert bleibt und das Ausgleichssignal EQ nicht vorhanden ist, befinden sich die Transistoren P3 und N3 der getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 in dem leitenden Zustand. In diesem Zustand liegen, abhängig von den Potentialen Va und Vb der Ausgangsklemmen der Differenzverstärker 36a und 36b, die Ausgangspotential Vc und Vd der getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 auf dem Pegel "0" bzw. auf dem Pegel "1", die in den Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 zwischengespeichert werden. Dies führt dazu, daß die Ausgangspotentiale Q bzw. /Q der Zwischenspeicherschaltung 13 bzw. 14 auf dem Pegel "0" bzw. dem Pegel "1" liegen.
  • Wenn sich die Adresse ändert, und die Impulsgeneratorschaltung 37 die Ausgleichsimpulssignale EQ und /EQ erzeugt, sorgen diese Signale EQ und /EQ dafür, daß die Transistoren P1 und N1 leitend werden, wodurch die Ausgangsklemmenpotentiale Va und Vb der Differenzverstärker 36a und 36b ausgeglichen werden. Gleichzeitig werden die Transistoren P3 und N3, welche die getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 bilden, unter Steuerung durch die Ausgleichsimpulssignale EQ und /EQ in den nichtleitenden Zustand versetzt. Dies führt dazu, daß die Inverterschaltungen 11 und 12 einen Zustand hoher Impedanz annehmen, wodurch eine Übertragung der Signale verhindert wird. Während des Ausgleichsvorgangs liefern daher die Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 die Signale, die vor der Erzeugung der Ausgleichsimpulssignale zwischengespeichert wurden, als Q und /Q, was verhindert, daß die Ausgangssignale instabil werden, im Gegensatz zur konventionellen Vorgehensweise.
  • Nach Beendigung der Ausgleichsimpulssigale EQ und /EQ werden die Transistoren P1 und N1 nichtleitend, wogegen die Transistoren P3 und N3 leitend werden, so daß sie folgende Signale liefern können.
  • Bei dieser Ausführungsform übertragen während des Ausgleichszeitraums die getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 keine Signale, und statt dessen liefern die Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14 die Signale, die vor der Erzeugung der Ausgleichsimpulssignale zwischengespeichert wurden, als Q und /Q. Dies schaltet einen instabilen Zustand aus, der bei einer konventionellen, entsprechenden Schaltung auftrat, wodurch die verläßliche Ausgabe eines Signals auf einem bestimmten Pegel sichergestellt wird.
  • Nachdem die Ausgleichsimpulssignale abnehmen, erfahren bei dieser Ausführungsform die Ausgangspotentiale Va und Vb der Differenzverstäker 36a und 36b (die als die Potentiale der Knoten a und b bezeichnet werden) kurzzeitig eine leichte Instabilität. Der Grund hierfür besteht darin, daß die Knoten a und b an die Gates der Transistoren P2 und N2 angeschlossen sind, welche die getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 bilden.
  • Während des Ausgleichszeitraums liegen daher die Potentiale Va und Vb der Knoten a und b auf einem mittleren Potential, wodurch die Transistoren P2 und N2 teilweise leitend werden. Zu diesem Zeitpunkt halten die Zwischenspeicherschaltungen 13 und 14, die jeweils aus zwei Inverterschaltungen IN1 und 1N2 bestehen, wie in Figur 2 gezeigt, die vorherigen Daten. Konzentriert man sich auf die getaktete Inverterschaltung 11, so wird infolge der Tatsache, daß das Ausgangspotential Vc der getakteten Inverterschaltung auf dem Pegel "0" liegt, der Transistor P4, welcher die Inverterschaltung IN1 bildet, leitend, so daß ein Signal auf dem Pegel "1" ausgegeben wird, und der Transistor N5, der die Inverterschaltung 1N2 bildet, ist durchgeschaltet, so daß die Zwischenspeicherschaltung 13 auf dem Pegel "1" bleiben kann.
  • Da wie voranstehend geschildert in diesem Zustand der Transistor P2 in der getakteten Inverterschaltung 11 teilweise leitend ist, wird ein Leitungspfad von dem Knoten K1, der die Transistoren P2 und P3 verbindet, durch den Transistor P2 zum Transistor N5 erzeugt, wodurch das Potential des Knotens K1 verringert wird.
  • Wenn die Ausgleichsimpulssignale aufhören, neigt das Fotential Va des Knotens a dazu, auf dem Pegel "1" zurückzukehren, jedoch beginnt das Potential des Knotens a temporär abzusinken, infolge der parasitären Kapazität C1 (der Gatekapazität und der Übergangskapazität) zwischen dem Knoten K1, und infolge der Tatsache, daß das Gate des Transistors P2 auf niedrigem Pegel liegt.
  • Im Gegensatz hierzu beginnt das Potential Vb des Knotens b zeitweilig anzusteigen, unter dem Einfluß der parasitären Kapazität C2 zwischen dem Knoten K2, der die Transistoren N2 und N3 verbindet, und des Gates des Transistors N2.
  • Aus diesem Grund ist eine gewisse Zeit dafür erforderlich, daß die Potentiale der Knoten ein Potential erreichen, welches von der Inverterschaltung IN1 als hoher oder niedriger Pegel beurteilt werden kann. Insbesondere ändert sich das Potential des Ausgangsknotens des Differenzverstärkers langsam nach der Beendigung des Ausgleichsimpulssignals, so daß gewisse Zeitverluste im Hochgeschwindigkeitsbetrieb auftreten, obwohl diese Verluste immer noch geringer sind als bei einer entsprechenden konventionellen Schaltung.
  • Figur 4 zeigt eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, welche das Zeitverlustproblem bei der ersten Ausführungsform löst. Bei dieser Ausführungsform sind dieselben Teile wie in Figur 1 durch die gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und die Erläuterung wird sich auf die Teile konzentrieren, die sich von jenen bei der ersten Ausführungsform unterscheiden.
  • In Figur 4 sind die Ausgangsklemmen der Differenzverstärker 36a und 36b an die Gates der Transistoren P3 und N3 angeschlossen, welche die getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 bilden. Die Gates der Transistoren P2 und N2 werden mit den Ausgleichsimpulssignalen EQ bzw. /EQ versorgt.
  • Infolge dieses Aufbaus können während des Vorhandenseins der Ausgleichsimpulssignale EQ und /EQ die Transistoren P2 und N2 der getakteten Inverterschaltungen 11 und 12 in einen vollständig nichtleitenden Zustand versetzt werden. Konzentriert sich die Erläuterung auf die getaktete Inverterschaltung 11, so kann der Leitungspfad von dem Knoten K1 durch den Transistor P2 zum Transistor P5, der die Zwischenspeicherschaltung 13 bildet, abgeschnitten werden, was ein Absinken des Potentials des Knotens K1 selbst dann verhindert, wenn das Potential des Knotens a ein mittleres Potential ist. Wenn die Ausgleichsimpulssignale EQ und /EQ abnehmen, und das Potential des Knotens a zu dessen Ursprungspotential zurückkehrt, wird daher verhindert, daß zeitweilig unterschiedliche Daten auftauchen, wodurch es ermöglicht wird, Daten verläßlich mit hoher Geschwindigkeit zu übertragen.
  • Zwar wird bei den Ausführungsformen die vorliegenden Erfindung bei EPROMs eingesetzt, jedoch ist sie hierauf nicht beschränkt. Sie kann beispielsweise bei SRAMs eingesetzt werden.
  • Die vorliegende Erfindung läßt sich auch noch auf andere Arten und Weisen einsetzen oder verwirklichen, ohne von ihrem Wesen und ihren wesentlichen Eigenschaften abzuweichen.
  • Industrielle Anwendbarkeit
  • Wie im einzelnen beschrieben kann die vorliegende Erfindung das Ausgangssignal stabil auf einem festgelegten Pegel selbst in Gegenwart des Ausgleichimpulssignals halten, und eine Hochgeschwindigkeitsbetrieb durch Verkürzung des Zeitraums zwischen der Abnahme des Ausgleichssignals bis zum Auftauchen eines normalen Signals erzielen. Dieses Merkmal ist bei Meßverstärkern nützlich, und läßt sich sehr gut industriell einsetzen.

Claims (4)

1. Halbleiterspeichervorrichtung mit:
einem ersten und einen zweiten Verstärker (36a,36b) zum Verstärkern eines Paares komplementärer Signale, die aus dem Speicher (35) ausgelesen werden;
einer Ausgleichsschaltung (36e), die über die Ausgangsklemmen des ersten und zweiten Verstärkers (36a,36b) geschaltet ist, und die Potentiale der Ausgangsklemmen der ersten und zweiten Verstärker (36a,36b) auf der Grundlage von Ausgleichsimpulssignalen (EQ,/EQ) ausgleicht, die entsprechend der Änderung einer Adresse zum Zugriff auf Daten in dem Speicher (35) erzeugt werden;
Zwischenspeicherschaltungen (13,14) zum Zwischenspeichern der Ausgangssignale von den Verstärkern (36a,36b); und
Abschneideschaltungen (11,12), die auf der Eingangsseite der Zwischenspeicherschaltungen (13,14) vorgesehen sind, und während des Ausgleichsvorgangs der Ausgleichsschaltung (36e) die Signale zu den Zwischenspeicherschaltungen (13,14) entsprechend den Ausgleichsimpulssignalen (EQ,/EQ) abschneiden.
2. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß jede der Absohneideschaltungen (11,12) aus einer getakteten Inverterschaltung besteht, die in eine Zustand hoher Impedanz versetzt wird, wenn sie das Ausgleichsimpulssignal (EQ,/EQ) empfängt.
3. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß jede der getakteten Inverterschaltungen (11,12) aus ersten MOS-Transistoren (P2,N2) eines ersten und zweiten Leitfähigkeitstyps besteht, deren Gates jeweils die Ausgangssignale der Verstärker (36a,36b) empfangen, und deren eines Ende von deren Strompfaden an die Eingangsklemme jeder der Zwischenspeicherschaltungen (13,15) angeschlossen ist, und aus zweiten MOS- Transistoren (P3,N3) eines ersten und zweiten Leitfähigkeitstyps, bei denen ein Ende jedes ihrer Strompfade an das andere Ende jedes der Strompfade der ersten MOS-Transistoren (P2,N2) angeschlossen ist, und deren Gates die Ausgleichsimpulssignale (EQ, /EQ) empfangen.
4. Halbleiterspeichervorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß jede der getakteten Inverterschaltungen (11,12) aus ersten MOS-Transistoren (P2,N2) eines ersten und zweiten Leitfähigkeitstyps besteht, deren Gates jeweils die Ausgleichsimpulssignale (EQ,/EQ) empfangen, und deren eines Ende ihrer Strompfade an die Eingangsklemme jeder der Zwischenspeicherschaltungen (13, 14) angeschlossen ist, und aus zweiten MOS-Transistoren (P3,N3) eines ersten und zweiten Leitfähigkeitstpys, deren eines Ende ihrer Strompfade an das andere Ende jedes der Strompfade der ersten MCS-Transistoren (P2,N2) angeschlossen ist, und deren Gates jeweils die Ausgangssignale von den Verstärkern (36a,36b) empfangen.
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DE (1) DE69119679T2 (de)
WO (1) WO1991015856A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10031947A1 (de) * 2000-06-30 2002-01-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Ausgleich unterschiedlicher Spannungen auf Leitungszügen in integrierten Halbleiterschaltungen

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5331228A (en) * 1992-07-31 1994-07-19 Sgs-Thomson Microelectronics, Inc. Output driver circuit
JP2768880B2 (ja) * 1993-01-19 1998-06-25 株式会社東芝 半導体記憶装置
GB2286072B (en) * 1994-01-31 1998-02-25 Advanced Risc Mach Ltd Sense amplification in data memories
JP3067094B2 (ja) * 1995-02-22 2000-07-17 三洋電機株式会社 光再生装置
JPH0922593A (ja) * 1995-07-05 1997-01-21 Toshiba Microelectron Corp 半導体メモリ
US5914899A (en) * 1995-07-05 1999-06-22 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory having a page mode in which previous data in an output circuit is reset before new data is supplied
JP3192077B2 (ja) * 1996-01-30 2001-07-23 日本電気株式会社 半導体記憶装置
US5644538A (en) * 1996-03-01 1997-07-01 Micron Technology, Inc. Circuit and method for controllng the duration of pulses in a control signal from an electronic system
US6225888B1 (en) * 1997-12-08 2001-05-01 Nokia Telecommunications Oy Authentication between communicating parties in a telecommunications network
JP2001118388A (ja) * 1999-10-18 2001-04-27 Nec Ic Microcomput Syst Ltd バッファ回路
US6603817B1 (en) * 2000-03-21 2003-08-05 Mitsubisihi Denki Kabushiki Kaisha Buffer circuit capable of correctly transferring small amplitude signal in synchronization with high speed clock signal
JP4313537B2 (ja) * 2001-02-02 2009-08-12 富士通株式会社 低振幅電荷再利用型低電力cmos回路装置、加算器回路及び加算器モジュール
US20060250162A1 (en) * 2005-04-18 2006-11-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Signal amplification circuit for high-speed operation and semiconductor memory device having the same
JP4901211B2 (ja) * 2005-12-26 2012-03-21 株式会社東芝 センスアンプ及び半導体記憶装置
US20090167742A1 (en) * 2006-05-24 2009-07-02 Yousuke Nakagawa Display Device Driving Circuit, Data Signal Line Driving Circuit, and Display Device
KR100824779B1 (ko) * 2007-01-11 2008-04-24 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치의 데이터 출력 경로 및 데이터 출력방법
CN101118780B (zh) * 2007-09-18 2010-09-08 钰创科技股份有限公司 一种具有感测放大器的闩锁器
US10204906B2 (en) * 2016-12-16 2019-02-12 Intel Corporation Memory with single-event latchup prevention circuitry

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS595986B2 (ja) * 1976-06-21 1984-02-08 株式会社東芝 Mosランダムアクセスメモリ
JPS5429531A (en) * 1977-08-09 1979-03-05 Sharp Corp Sense circuit for cmos static random access memory
JPS60164997A (ja) * 1984-02-08 1985-08-28 Toshiba Corp 読出し専用半導体記憶回路
JPS62167698A (ja) * 1986-01-20 1987-07-24 Fujitsu Ltd 半導体記億装置
JPS6350997A (ja) * 1986-08-19 1988-03-03 Toshiba Corp 出力バツフア回路
JPS63209212A (ja) * 1987-02-25 1988-08-30 Hitachi Ltd ラツチドライバ回路
US4891792A (en) * 1987-09-04 1990-01-02 Hitachi, Ltd. Static type semiconductor memory with multi-stage sense amplifier
JPH01290191A (ja) * 1988-05-17 1989-11-22 Ricoh Co Ltd センスアンプ回路装置
JP2573335B2 (ja) * 1988-11-09 1997-01-22 株式会社東芝 不揮発性メモリ
US5126974A (en) * 1989-01-20 1992-06-30 Hitachi, Ltd. Sense amplifier for a memory device
JPH0344890A (ja) * 1989-07-12 1991-02-26 Toshiba Corp 半導体記憶装置のデータ出力制御回路
JP2534782B2 (ja) * 1989-11-10 1996-09-18 株式会社東芝 半導体装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10031947A1 (de) * 2000-06-30 2002-01-24 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Ausgleich unterschiedlicher Spannungen auf Leitungszügen in integrierten Halbleiterschaltungen
DE10031947B4 (de) * 2000-06-30 2006-06-14 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung zum Ausgleich unterschiedlicher Spannungen auf Leitungszügen in integrierten Halbleiterschaltungen

Also Published As

Publication number Publication date
JP2573392B2 (ja) 1997-01-22
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JPH03283194A (ja) 1991-12-13

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