DE667750C - Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten - Google Patents
Verfahren zur Herstellung unipolarer SperrschichtenInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 title claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 13
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims description 5
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 claims description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 4
- 239000010953 base metal Substances 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 238000007792 addition Methods 0.000 claims description 2
- 239000003513 alkali Substances 0.000 claims description 2
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 claims 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 claims 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 7
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical group [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910000497 Amalgam Inorganic materials 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N Selenium Chemical compound [Se] BUGBHKTXTAQXES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N Sulfur Chemical compound [S] NINIDFKCEFEMDL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N caesium oxide Chemical compound [O-2].[Cs+].[Cs+] KOPBYBDAPCDYFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001942 caesium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000009795 derivation Methods 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 229910052711 selenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011669 selenium Substances 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052717 sulfur Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011593 sulfur Substances 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/16—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising cuprous oxide or cuprous iodide
- H01L21/161—Preparation of the foundation plate, preliminary treatment oxidation of the foundation plate, reduction treatment
- H01L21/165—Reduction of the copper oxide, treatment of the oxide layer
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- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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Description
Bekannte Verfahren bereiten entweder nur die Kupferoxydulschicht für die Auf bringung
der Ableiteelektrode oder für ein nachfolgendes Verfahren zur Erzeugung oder Aufbringung
einer Sperrschicht durch Säureätzung vor; z. B. sollen bei diesen bekannten Verfahren
schlechtleitendes Kupferoxyd entfernt werden oder die Kupferoxydulschicht durch Abätzen dünner und daher ihre gesamte Leit-
to fähigkeit erhöht werden; auch sollen die infolge der chemischen Umsetzungen bei der
Ätzung möglichen starken Temperaturerhöhungen weitgehend verhindert werden,
, damit keine Widerstandserhöhung der Kupferoxydulschicht
infolge Temperaturanstieg eintritt.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten auf Halbleitern
zur Gleichrichtung elektrischer Ströme oder für photoelektrische Zwecke besteht darin,
daß vor der Aufbringung der Elektrode auf die Halbleiterfläche, an der die unipolare
Sperrwirkung auftritt, diese mit unedlen Metallen, z. B. Alkali- oder Erdalkalimetall, in
Dampfform in so geringer Menge, daß sie eine höchstens wenige Atomschichten starke Schicht
bilden kann, behandelt wird, welche geeignet sind, gewisse, die Leitfähigkeit begünstigende
chemische Komponenten oder andere gelöste Beimengungen des Halbleiters von seiner
Oberfläche zu entfernen.
Das erfindungsgemäße Verfahren kann z. B. in der Weise ausgeführt werden, daß ein
Kupferoxydulplättchen, welches entweder massiv ist oder sich nur als dünne Schicht
auf einem Kupferblech befindet,· der Einwirkung von Metalldämpfen ausgesetzt wird. Als
Metall kann z. B. Cäsium verwendet werden, welches wahrscheinlich mit dem im Kupferoxydul
gelösten Sauerstoff Spuren von Cäsiumoxyd bildet. Die zur Anwendung gelangende Cäsiummenge ist so gering, daß sich höchstens
eine wenige Atomlagen betragende Cäsiumschicht auf dem Halbleiter niederschlägt.
Dadurch wird wahrscheinlich eine geringe Verarmung des Kupferoxyduls an Sauerstoff herbeigeführt, wodurch die Leitfähigkeit
an der Oberfläche herabgesetzt und die Sperrwirkung vergrößert wird. Bringt man auf einer derart behandelten Fläche dann
eine Elektrode an, die man z. B. thermisch oder kathodisch aufstäubt und die aus Silber
oder Gold bestehen kann, so erhält man eine Sperrwirkung, die derjenigen, die man ohne
vorhergehende Behandlung mit Cäsium erhält, stark überlegen ist. Man kann auf diese Weise
sowohl zu Kontakten gelangen, die photoelektrisch wirksam sind, wie auch zu solchen, die
*) Von dem Patentsucher ist als der Erfinder angegeben worden:
Dr. Ferdinand Waibel in Berlin-Charlottenburg.
sich für die Zwecke der Gleichrichtung gut gebrauchen lassen.
Auch bei anderen Halbleitern, ζ. Β flden, S el en; den und ähnlichen, ist ei:
handlung mit unedlen Metallen, z. B. oder Erdalkalimetallen, vorteilhaft. Ma: vermuten, daß auch diese Wirkung darauf "be*·"
ruht, daß diese Metalle den elektronegativen Bestandteil, z.B. den Schwefel oder das Selen,
ίο binden und dadurch eine oberflächliche Verarmung an diesem Bestandteil bewirken. Die
Behandlung mit solchen Metallen erfolgt vorteilhaft in einem Vakuumgefäß und kann z. B.
in der Weise durchgeführt werden, daß in dem Gefäß durch Heizen eines mit dem betreffenden
Metall oder einer seiner Verbindungen bestrichenen Drahtes etwas Metalldampf erzeugt wird, der sich auf der Halbleiteroberfläche
niederschlägt. Auf dieser Fläche wird
ao dann, ohne daß der Halbleiter aus dem Gefäß entfernt wird, z.B. durch kathodisches Aufstäuben,
die wirksame Elektrode hergestellt und eine Stromzuführung an dieser befestigt.
Dieser letztgenannte Arbeitsgang kann z. B.
in der bekannten Weise erfolgen, daß ein federnder gespannter Kontakt so angeordnet
wird, daß er nach Durchbrennen eines dünnen Drähtchens frei wird und sich auf die aufgestäubte
Elektrode fest auflegt. Das Gefäß kann danach evakuiert bleiben oder mit einer
gewünschten Gasfüllung versehen werden.
Werden zur chemischen Oberflächenbehandlung Metalle verwendet, so ist es erforderlich,
diese stets nur in ganz geringer Menge zur Anwendung zu bringen, so'daß sie selbst nicht
ausreichen, die wirksame Elektrode zu bilden. An Stelle von Metallen können auch Amalgame
benutzt werden. Besitzt der Halbleiter außer der zu behandelnden noch weitere
freie Oberflächen, so können diese während der Behandlung abgedeckt werden, so daß an
ihnen keine Einwirkung stattfindet.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten auf Schichten aus chemischen
einen Halbleiter bildenden Verbindungen zur Gleichrichtung elektrischer
Ströme oder für photoelektrische Zwecke mit chemischer Behandlung der Halbleiteroberfläche,
dadurch gekennzeichnet, daß vor der Aufbringung der Elektrode
auf die Halbleiterfläche, an der die unipo-. lare Sperrwirkung auftritt, diese mit
unedlen Metallen, z. B. Alkali- oder Erdalkalimetalle,
in Dampfform in so geringer Menge, daß sie eine höchstens wenige Atomschichten starke Schicht bilden kann,
behandelt wird, welche geeignet sind, gewisse, die Leitfähigkeit begünstigende chemische
Komponenten oder andere gelöste Beimengungen des Halbleiters von seiner Oberfläche zu entfernen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ein Alkalimetall, z. B.
Cäsium oder ein Erdalkalimetall, zur Einwirkung auf den Halbleiter gebracht wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch
gekennzeichnet, daß die- Behandlung im Vakuum erfolgt.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Behandlung der
Oberfläche und die Herstellung der Elektrode in dem gleichen Vakuumgefäß vorgenommen
wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES104231D DE667750C (de) | 1932-04-16 | 1932-04-17 | Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DES0104231 | 1932-04-16 | ||
DES104231D DE667750C (de) | 1932-04-16 | 1932-04-17 | Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE667750C true DE667750C (de) | 1938-11-19 |
Family
ID=25998490
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DES104231D Expired DE667750C (de) | 1932-04-16 | 1932-04-17 | Verfahren zur Herstellung unipolarer Sperrschichten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE667750C (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE893232C (de) * | 1949-04-09 | 1953-10-15 | Licentia Gmbh | Selengleichrichterplatte |
DE946075C (de) * | 1945-03-29 | 1956-07-26 | Siemens Ag | Sperrschicht-Trockengleichrichter |
DE952655C (de) * | 1953-03-06 | 1956-11-22 | Standard Elektrik Ag | Verfahren zur Herstellung von gut formierbaren Selengleichrichterplatten mit niedriger Schleusenspannung |
DE966967C (de) * | 1939-03-02 | 1957-09-19 | Aeg | Elektrisch unsymmetrisch leitendes System, insbesondere Trockengleichrichter |
DE970900C (de) * | 1944-05-24 | 1958-11-13 | Standard Elek K Lorenz Ag | Verfahren zur Herstellung unipolarer Leiter mit Selen oder Selenverbindungen als Halbleiter |
-
1932
- 1932-04-17 DE DES104231D patent/DE667750C/de not_active Expired
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE966967C (de) * | 1939-03-02 | 1957-09-19 | Aeg | Elektrisch unsymmetrisch leitendes System, insbesondere Trockengleichrichter |
DE970900C (de) * | 1944-05-24 | 1958-11-13 | Standard Elek K Lorenz Ag | Verfahren zur Herstellung unipolarer Leiter mit Selen oder Selenverbindungen als Halbleiter |
DE946075C (de) * | 1945-03-29 | 1956-07-26 | Siemens Ag | Sperrschicht-Trockengleichrichter |
DE893232C (de) * | 1949-04-09 | 1953-10-15 | Licentia Gmbh | Selengleichrichterplatte |
DE952655C (de) * | 1953-03-06 | 1956-11-22 | Standard Elektrik Ag | Verfahren zur Herstellung von gut formierbaren Selengleichrichterplatten mit niedriger Schleusenspannung |
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