DE4005796C2 - Vorrichtung zur Herstellung einer Dünnschicht - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Herstellung einer Dünnschicht, die
insbesondere nach dem chemischen Gasphasenabscheidungsverfahren oder
CVD Verfahren arbeitet. Auf dem Gebiet der Elektronik ist als eine der
Vorrichtungen zur Bildung einer Dünnschicht auf einem Substrat eine
Vorrichtung bekannt, die nach dem CVD Verfahren arbeitet.
Das CVD Verfahren, das ein Abscheidungsverfahren ist, das eine chemische
Reaktion verwendet, ist als ein geeignetes Verfahren zum Bilden einer
Dünnschicht hoher Qualität anzusehen, die nur schwer zur beschädigen ist
und im Vergleich mit physikalischen Abscheidungsverfahren, wie beispiels
weise der Dampfabscheidung und dem Aufdampfen, eine gute Stufenüber
deckung zeigt. Verglichen mit einem epitaxialen Molekularstrahlverfahren MBE,
das ein hohes Vakuum benötigt, ist bei einer CVD Vorrichtung ein derartiges
hohes Vakuum nicht notwendig, kann eine mit geringeren Kosten verbundene
Vorrichtung verwandt werden und ist daher eine Massenproduktion möglich.
Es gibt jedoch noch gewisse Schwierigkeiten, die zu überwinden sind, um mit
der CVD Vorrichtung Dünnschichten mit höherer Qualität zu bilden. Diese
Schwierigkeiten sind die folgenden:
Fig. 4 und 5 der zugehörigen Zeichnung zeigen Gasströmungsmuster in einer
herkömmlichen Vorrichtung zum Bilden von Dünnschichten oder Dünnfilmen
mit der CVD-Vorrichtung. In Fig. 4 und 5 sind eine Reaktionskammer 1, eine
Zuführeinrichtung 2 zur Zufuhr von Materialgas, ein Substrat 3, ein beheizbarer
Substratträger 4 zum Halten und Erhitzen des Substrats und der Materialgas
strom 7 von der Zuführeinrichtung 2 dargestellt.
Fig. 4 zeigt das Muster eines Gasstromes, wenn der Träger 4 nicht erhitzt ist
und auf der üblichen Raumtemperatur (20°C) gehalten ist. Die Vorrichtung ist
so ausgebildet, daß der Materialgasstrom annähernd das Substrat erreicht,
sofern der Träger 4 nicht erhitzt wird. Wenn jedoch der Träger 4 erhitzt wird
(400°C), um die chemische Reaktion zu fördern, dann tritt im Muster des
Materialgasstromes aufgrund der Wärmekonvektion eine Turbulenz auf. Das hat
zur Folge, daß die gewünschte Zuführung unmöglich ist, was die Qualität des
niedergeschlagenen Filmes beeinträchtigt, beispielsweise zu einer Ungleichmä
ßigkeit des Filmes führt, und die Erzeugung von Poren im Film zur Folge hat,
die durch Kerne verursacht werden, die in der Gasphase erzeugt werden.
Es ist in der jüngsten Zeit eine CVD-Vorrichtung vorgeschlagen worden, die mit
einem verringerten Druck arbeitet, um den oben erwähnten Nachteil einer
Reaktionsanordnung mit normalem Druck zu beseitigen. Diese Weiterentwick
lung beruht auf der Unterdrückung der Wärmekonvektion, indem der Druck in
der Reaktionskammer und die Auftriebswirkung herabgesetzt werden.
Die Fig. 6 und 7 zeigen die Formen der Materialgasströmung unter einem
verringerten Druck.
In Fig. 6, die den Gasstrom 7 zeigt, während der Träger 4 nicht erhitzt ist und
auf der üblichen Raumtemperatur (20°C) gehalten ist, treten bereits zirkulie
rende Wirbel auf. Das wird dadurch hervorgerufen, daß aufgrund der Tatsache,
daß die Geschwindigkeit des Materialgasstromes von der Zuführeinrichtung 2
größer als bei normalem Druck ist, der Rückprall vom Träger 4 sehr groß ist.
In Fig. 7, die den Gasstrom 7 zeigt, während der Träger 4 erhitzt ist (1000°C),
werden so große Wirbel erzeugt, daß das Gas, das die Nähe des Substrates auf
dem Träger erreicht hat, infolge der zusätzlichen Auftriebswirkung erneut
aufsteigt, die durch die Wärmekonvektion erzeugt wird.
Wie es oben beschrieben wurde, können Turbulenzen im Materialstrom nicht
vollständig dadurch beseitigt werden, daß einfach der Druck im Inneren der
Reaktionskammer herabgesetzt wird. Nur durch die Verwendung einer
Reaktionskammer mit verringertem Druck in der CVD-Vorrichtung können daher
Turbulenzen im Materialgasstrom nicht unterdrückt werden, und kann eine
Beeinträchtigung der Film- oder Schichtqualität aufgrund von Gasstromturbu
lenzen nicht vermieden werden.
Da eine Herabsetzung des Druckes weiterhin dazu führt, daß sich der
Materialgasstrom durch die Reaktionskammer ausdehnt, wird der Reaktions
behälter durch das Materialgas verunreinigt und wird der Reaktionsbehälter
seinerseits das Materialgas verunreinigen.
Um eine Dünnschicht oder einen Dünnfilm mit hoher Qualität in einer
Reaktionsanordnung mit verringertem Druck zu bilden, ist es unter diesen
Umständen unabdingbar, ein neues Verfahren anzuwenden, das es erlaubt, den
Gasstrom so zu steuern, daß das Materialgas mit der Wand der Reaktions
kammer nicht in Berührung kommt.
Aus der JP 62-37374 A, Patent Abstracts of Japan, C-435, 18. Juli 1987,
Band 11, Nr. 222, ist eine Vorrichtung zur Dünnschichtherstellung bekannt, bei
der um den Umfang eines Materialgas-Zuführrohrs herum mehrere Steuergas-
Zufuhrrohre in gleichen Umfangsabständen angeordnet sind. Durch die
Steuergas-Zufuhrrohre werden einzelne Steuergas-Teilströme in die Reaktions
kammer abgestrahlt, um das Entstehen von Verwirbelungen des Materialgas
stroms zu unterdrücken. Solche Verwirbelungen können einen Abriß der
gleichmäßigen Materialgasströmung zur Folge haben und die Qualität der herge
stellten Dünnschicht verschlechtern. Obwohl diese bekannte Ausbildung bereits
qualitätsmäßig verbesserte Dünnschichten ermöglicht, hat es sich gezeigt, daß
durch die diskreten Steuergas-Teilströme insbesondere nicht das Problem voll
ständig beseitigt wird, daß das Materialgas mit den Begrenzungswänden der
Reaktionskammer in Kontakt gelangt und hierdurch verunreinigt wird.
Der Erfindung liegt demnach das technische Problem zugrunde, eine Vor
richtung zur Dünnschichtherstellung zu schaffen, die durch weitestgehende
Vermeidung von Turbulenzen im Materialgasstrom und weitestgehende
Vermeidung von Kontakten zwischen dem Materialgasstrom und den
Begrenzungswänden der Reaktionskammer die Herstellung qualitativ hoch
wertiger Dünnschichten ermöglicht.
Bei der Lösung dieser Problemstellung geht die Erfindung von einer Vorrichtung
zur Herstellung einer Dünnschicht aus, umfassend ein in einer Reaktions
kammer angeordnetes Substrat, eine Materialgas-Zuführungseinrichtung zum
Bereitstellen eines auf das Substrat gerichteten Materialgasstroms sowie eine
Steuergas-Zuführungseinrichtung zum Bereitstellen eines Steuergasstroms zur
Strahlformung des Materialgasstroms.
Erfindungsgemäß ist bei einer solchen Vorrichtung vorgesehen, daß der
Steuergasstrom den von der Materialgas-Zuführungseinrichtung bereitgestellten
Materialgasstrom vollständig umschließt und daß die bereitgestellte Steuergas
menge größer als die bereitgestellte Materialgasmenge ist.
Der den Materialgasstrom umschließende Steuergasstrom verhindert das
Auftreten von Turbulenzen, die durch Wärmekonvektion hervorgerufen werden
können. Weil der Steuergasstrom den Materialgasstrom vollständig umschließt,
ist zudem sichergestellt, daß der Materialgasstrom auf seinem Weg von der
Materialgas-Zuführungseinrichtung zum Substrat nicht an die Begrenzungs
wände der Reaktionskammer prallt und durch Kontakt mit denselben ver
unreinigt wird. Entsprechend hochwertige Dünnschichten sind die Folge.
Im folgenden werden anhand der zugehörigen Zeichnung besonders bevorzugte
Ausführungsbeispiele der Erfindung näher beschrieben. Es zeigen
Fig. 1A ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Vor
richtung,
Fig. 1B eine Draufsicht auf eine Steuergaszuführungseinrichtung,
Fig. 1C eine Schnittansicht einer Steuergaszuführungseinrichtung
und einer Materialgaszuführungseinrichtung,
Fig. 1D eine Draufsicht auf die Zuführungseinrichtungen von Fig.
1C,
Fig. 2 und 3 weitere Ausführungsbeispiele der Erfindung,
Fig. 4 und 5 Gasströmungsmuster in einer herkömmlichen Vorrichtung
zum Bilden einer Dünnschicht bei normalem Druck und
Fig. 6 und 7 die Gasströmungsmuster in einer Vorrichtung zum Bilden
einer Dünnschicht bei verringertem Druck.
In den Fig. 1A und 1B, die ein Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen
Vorrichtung zeigen, sind gleiche oder ähnliche Bauelemente wie in den Fig. 4
bis 7 mit den gleichen Bezugszeichen versehen.
Es sind somit eine Reaktionskammer 1, eine Zuführungseinrichtung 2 zum
Zuführen eines Materialgases, ein Substrat 3, ein Heizträger 4 und ein den
Träger haltender Tisch 5 dargestellt. Um die Zuführungseinrichtung 2 herum ist
eine Steuergaszuführungseinrichtung 6 angeordnet, die ein Steuergas so
abgibt, daß es den Materialgasstrom umschließt, der von der Zuführungsein
richtung 2 abgegeben wird. Obwohl Einzelheiten der Materialgaszuführung, der
Materialgasabführung und der Steuergaszuführung nicht dargestellt sind, sind
entsprechende Einrichtungen zu diesem Zweck vorgesehen. Die Zuführungsein
richtung 6 weist in der in Fig. 1B dargestellten Weise eine ringförmige
Gasaustrittsöffnung 6a auf, die im wesentlichen konzentrisch zur Zuführungs
einrichtung 2 angeordnet ist.
Der Materialgasstrom 7, der von der Zuführungseinrichtung 2 zum Substrat 3
hin abgegeben wird, wird vom Gasstrom 8 umgeben, der von der Steuergaszu
führungseinrichtung 6 abgegeben wird, und zu einem Strahl geformt. Im
folgenden wird der Materialgasstrom 7 als Quellenstrom bezeichnet, während
der Steuergasstrom 8 als Mantelstrom bezeichnet wird, um die erfindungs
gemäße Ausbildung deutlich zu machen.
Das Gas, das den Quellenstrom 7 bildet, ist ein Materialgas zum Aufwachsen
einer CVD Dünnschicht oder eines CVD-Dünnfilmes. Es kann irgendein Gas
einschließlich eines Materialgases auf Siliziumbasis, wie beispielsweise SiH4,
Si2H6 usw., sein, wenn eine Dünnschicht oder ein Dünnfilm auf Siliziumbasis
gebildet werden soll, oder es kann irgendein Gas einschließlich eines Material
gases der Gruppe III, wie beispielsweise TM, TMG usw., oder ein Mischgas
aus einem Materialgas der Gruppe V, wie beispielsweise AsH3 und NH3 mit
dem oben genannten Materialgas der Gruppe III sein, wenn eine Dünnschicht
oder ein Dünnfilm der Gruppen III/V gebildet werden soll. Bei der Bildung einer
Dünnschicht oder eines Dünnfilmes der Gruppe II/VI kann das Materialgas ein
Gas, das Materialgas der Gruppe II einschließt, oder ein Mischgas sein, das
Materialgas der Gruppe VI einschließt.
Das Materialgas kann mit anderen Worten irgendein Gas sein, das ein
bestimmtes Material des Filmes oder der dünnen Schicht umfaßt, der oder die
auf dem Substrat niedergeschlagen werden soll.
Das bevorzugte Gas zum Bilden des Mantelstromes 8 ist beispielsweise H2-Gas,
Ar-Gas oder N2-Gas. Bei den Gruppen II/V und II/VI ist ein Gas, das ein Gas der
Gruppe V einschließt, und ein Gas, das ein Gas der Gruppe VI einschließt,
jeweils akzeptabel. In jedem Fall verhindert der Mantelstrom 8 eine Turbulenz
in der Strömung, die durch einen Rückstoß des Quellenstromes 7 verursacht
wird.
Um die Gasströmungssteuerung für den oben angegebenen Zweck zu
verwirklichen, müssen die folgenden Bedingungen erfüllt sein.
Zunächst muß die Strömungsmenge des Mantelstromes 8 größer als die des
Quellenstromes 7 sein. Es ist bevorzugt, daß die Menge des Mantelstromes so
groß ist, daß sie mehrere Zehnfache der Quellenstrommenge beträgt.
Bei einem speziellen Beispiel, bei dem eine Reaktionskammer mit einem
Durchmesser von etwa 60 mm bei einer Verdrängung von 0,8 l/s annähernd
unter einem Druck von 66,5 mbar (50 Torr) verwandt wird, wobei der
Durchmesser des Trägers annähernd 54 mm beträgt, liegt der Mantelstrom bei
3000 Norm-cm3/min und der Quellenstrom bei 110 Norm-cm3/min.
Zusätzlich zu dem obigen Erfordernis bezüglich der Gasströmungsmengen
müssen die Gasströmungsgeschwindigkeiten am jeweiligen Teil der Reaktions
kammer derart sein, daß die Geschwindigkeit des Quellenstroms an einem
Punkt A unmittelbar nach dem Austritt aus der Zuführungseinrichtung 2 größer
als die und vorzugsweise gleich dem 1,5fachen der Geschwindigkeit des
Mantelstromes am Punkt B ist. Die Gesamtströmungsgeschwindigkeit am Punkt
C ist im wesentlichen gleich der am Punkt B. Weiterhin ist es notwendig, daß
die Gesamtströmungsgeschwindigkeit am Punkt D, d. h. an einem Spalt 9, der
zwischen der Reaktionskammer und dem Träger begrenzt ist, wesentlich größer
als die Strömungsgeschwindigkeit am Punkt C ist und vorzugsweise einige
Zehnfache dieser Geschwindigkeit beträgt.
Bei einem weiteren speziellen Beispiel mit der gleichen Reaktionskammer, die
einen Durchmesser von etwa 60 mm hat, wie es oben beschrieben wurde, und
mit einer Verdrängung von 0,8 l/s annähernd bei einem Druck von etwa
66,5 mbar (50 Torr), wobei der Durchmesser des Trägers etwa 54 mm beträgt,
liegt die Quellenstromgeschwindigkeit am Punkt A bei annähernd 12 cm/s, liegt
die Mantelstromgeschwindigkeit am Punkt B bei etwa 9 cm/s, beträgt die
Gesamtströmungsgeschwindigkeit am Punkt C annähernd 9 cm/s und liegt die
Gesamtströmungsgeschwindigkeit am Punkt D im Spalt 9 bei annähernd
49 cm/s.
Der Druck im Inneren der Reaktionskammer kann insoweit verändert werden,
als sich der Quellenstrom nicht über die gesamte Reaktionskammer ausdehnt,
wobei es ausreicht, daß die oben angegebenen Beziehungen zwischen den
Quellen- und Mantelstrommengen und zwischen den Strömungsgeschwindig
keiten an den Punkten A, B, C und D erfüllt sind.
Bei der oben beschriebenen Gasströmungssteuerung tritt keine Turbulenz im
Gasstrom selbst dann auf, wenn das Substrat auf etwa 1000°C oder mehr
erhitzt wird, und ist kein Kontakt des Materialgases mit der Wandfläche der
Reaktionskammer festzustellen.
Wenn insbesondere der Zwischenraum zwischen der Wandfläche der
Reaktionskammer 1 und dem Träger 4 schmal ausgebildet wird, so daß sich ein
Spalt 9 ergibt, wie es in der Zeichnung dargestellt ist, dann wird der Quellen
strom des Materialgases, der die Substratoberfläche erreicht hat, einmal in
seitlicher Richtung ausgedehnt und anschließend an der Stelle des Spaltes
beschleunigt, so daß er schnell in den Spalt eingesaugt und abgesaugt wird.
Der schmale Spalt 9 bewirkt daher, daß eine Wärmekonvektion verhindert wird,
die durch die Wärme vom erhitzten Substrat verursacht werden könnte.
Die Fig. 1C und 1D zeigen eine Abwandlungsform des in den Fig. 1A und 1B
dargestellten Ausführungsbeispiels, bei dem die Zuführungseinrichtung 2 im
wesentlichen konzentrisch durch eine Zuführungseinrichtung 6' hindurchgeht.
Fig. 2 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel mit einer konischen Reaktions
kammer 1. Auch bei diesem Ausführungsbeispiel ist es erforderlich, daß die
Mantelstrommenge größer als die Quellenstrommenge ist, wie es bei den in den
Fig. 1A bis 1D dargestellten Ausführungsbeispielen der Fall ist. Was die
Strömungsgeschwindigkeit an den verschiedenen Teilen der Reaktionskammer
anbetrifft, so ist es weiterhin notwendig, daß die Strömungsgeschwindigkeit
des Materialgases, das von der Sprüheinrichtung 2 ausgestoßen wird, an einem
Punkt E größer als die Geschwindigkeit des Mantelstromes an einem Punkt F
ist.
Dadurch, daß bei diesem Ausführungsbeispiel eine konische Reaktionskammer
vorgesehen ist, ist der Gesamtstrom am Punkt G langsamer als am Punkt F.
Das hat zur Folge, daß das Strömungsmuster des Quellenstromes 7 keine
Schulter (seitlich verlaufender Teil) aufweist, die beim Strömungsmuster des
Quellenstromes 7 bei den Ausführungsbeispielen gemäß Fig. 1A bis 1D
vorgesehen ist, und gleichmäßig, d. h. stufenlos in Form eines Strahles, auf die
Substratoberfläche verläuft.
Auch bei dem in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel erstreckt sich die
Reaktionskammer seitlich über das Substrat 3, um eine bessere Unterdrückung
der Wärmekonvektion über dem Substrat zu sichern. Die Lage des Substrates
3 kann weiterhin über den Tisch 5 eingestellt werden, um die Breite des
Spaltes 9 zu verändern. Die Gesamtströmungsgeschwindigkeit am Punkt H im
Spalt 9 kann daher problemlos so eingestellt werden, daß der Überschuß der
Geschwindigkeit am Punkt H bezüglich der Gesamtströmungsgeschwindigkeit
am Punkt G zu jedem Zeitpunkt nach Maßgabe der Substrattemperatur
eingestellt werden kann, um für einen ausreichenden angemessenen Wert zu
sorgen, der eine Wärmekonvektion wirksam verhindert.
Bei einem speziellen Ausführungsbeispiel mit einer Reaktionskammer, die einen
Durchmesser von etwa 20 mm am Kammerhals hat, deren Länge etwa 70 mm
im geraden zylindrischen Abschnitt längs des Kammerhalses beträgt, deren
konische Länge etwa 80 mm im konischen Teil beträgt, deren Durchmesser am
unteren Ende des konischen Teils bei etwa 40 mm liegt und deren Durchmesser
am vergrößerten zylindrischen Teil K 100 mm beträgt, wobei die Verdrängung
etwa 0,4 l/s bei verringertem Druck von etwa 133 mbar (100 Torr) beträgt und
die Quellenstrommenge bei 110 Norm-cm3/min und die Mantelstrommenge bei
3000 Norm-cm3/min liegt, ergibt sich ein Gasstrahl, wie er durch eine
gestrichelte Linie dargestellt ist. Selbst wenn das Substrat auf 1000°C oder
mehr erhitzt wird, tritt keine Turbulenz im Gasstrom auf und wird kein Kontakt
mit dem Materialgas und der Reaktionskammer festgestellt.
Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Plasma
CVD-Vorrichtung. Dieses Ausführungsbeispiel ist im wesentlichen gleich dem
in Fig. 2 dargestellten Ausführungsbeispiel mit der Ausnahme, daß ein
Plasmaanregungsteil 10 vorgesehen ist. Der Plasmaanregungsteil 10 kann eine
Hochfrequenzentladung, eine Mikrowellenentladung, eine ECR-Entladung usw.
verwenden. Die Mikrowellenentladung wird in solchen Druckbereichen
bevorzugt, in denen der Quellenstrom und der Mantelstrom stabil gebildet
werden können.
Wenn der Gasstrom durch die Plasmaentladung angeregt wird, nehmen die
Verunreinigungsquellen durch Moleküle, Atome, Ionen, Elektronen, aktive
Radikale usw. im aktiven Gas im allgemeinen zu, die mit der Wandoberfläche
der Reaktionskammer in Berührung gelangen. Die erfindungsgemäße Aus
bildung, bei der der Gasstrom in Form eines Strahles gesteuert wird, führt
jedoch dazu, daß keine Turbulenz im Gasstrom auftritt und das Materialgas
niemals mit der Wandoberfläche der Reaktionskammer in Berührung kommt.
Bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Bilden einer Dünnschicht werden
somit wirksam eine Turbulenz im Materialgasstrom und ein Kontakt zwischen
dem Materialgas und der Wandoberfläche der Reaktionskammer verhindert,
was sicherstellt, daß eine Dünnschicht mit hoher Qualität niedergeschlagen
wird.
Claims (6)
1. Vorrichtung zur Herstellung einer Dünnschicht, umfassend
- 1. ein in einer Reaktionskammer (1) angeordnetes Substrat (3),
- 2. eine Materialgas-Zuführungseinrichtung (2) zum Bereitstellen eines auf das Substrat (3) gerichteten Materialgasstroms (7) sowie
- 3. eine Steuergas-Zuführungseinrichtung (6) zum Bereitstellen eines Steuergasstroms (8) zur Strahlformung des Materialgasstroms
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Steuergas-Zuführungseinrichtung (6) eine ringförmige Austrittsöffnung
aufweist, die im wesentlichen konzentrisch zur Materialgas-Zuführungs
einrichtung (2) ist.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß in
der Reaktionskammer (1) zwischen dem Substrat (3) und einer
benachbarten Begrenzungswand der Reaktionskammer (1) zur Be
schleunigung, An- und Absaugung des Materialgasstroms (7) ein
schmaler Spalt (9) gebildet ist.
4. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Reaktionskammer (1) einen konisch verlaufenden
Querschnitt aufweist, der sich allmählich in Richtung des Gasstroms
erweitert, und daß die Strömungsgeschwindigkeit des Materialgases im
Zuführungsbereich in die Reaktionskammer (1) größer als die des
Steuergases ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die
Reaktionskammer (1) einen gaszuführungsnahen Teil mit kleinem
Durchmesser, einen daran anschließenden konischen Teil sowie einen
an den konischen Teil anschließenden Teil mit großem Durchmesser
aufweist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Einrichtung (10) zur Plasmaanregung des Materialga
ses und/oder des Steuergases vorgesehen ist.
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