DE3239379A1 - Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten - Google Patents
Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichtenInfo
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Description
12 251 7
PATENTANWALT DIPL.-ING. ULRICH Kl N KE L IN 7032 Sindelfingen -Auf dem Goldberg- Weimarer Str. 32/34-Telefon 07031/86501
Telex 7265509 rose d
14. Oktober 1982
Firma Helmut Fischer GmbH. & Co., Industriestraße 21, 7032 SindeIfingen 6
Institut für Elektronik und Meßtechnik
VORRICHTUNG ZUM MESSEN DER DICKE DÜNNER SCHICHTEN
Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung gemäß dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
Wenn man die Dicke dünner Schichten bei kleinen Gegenständen messen will, dann
muß man noch präziser wissen, wo die Roentgenstrahlen auftreffen, denn es wird ja
der kleine Gegenstand nicht insgesamt gemessen. Die charakteristische Größe der gemessenen Flecke liegt zwischen einigen zehntel Millimetern bis zu einem Millimeter
hinauf. Kleine Meßflecke sind de'shalb notwendig, weil man ja z. B. wissen will, wie
dick die Schicht gerade an einer bestimmten Stelle einer Zahnflanke eines Zahnrads
ist oder wie dick die Schicht im Kontaktbereich der Kontaktzunge ist usw.
Selbstverständlich sieht man nicht, wo denn die Roentgenstrahlen auf der Schicht
auftreffen.
Von einer auf dem Markt befindlichen Vorrichtung ist ungenau bekannt, daß einmal
mit einem Spiegel irgendwie die zu messende Fläche beobachtet werden kann und
dann der Spiegel weggerückt wird und an seine Stelle der Strahler tritt.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung anzugeben, mit der man auf einfache
Weise hochgenau in der Lage ist, den gemessenen Fleck ganz genau zu bestimmen.
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch die aus dem kennzeichnenden Teil des
Hauptanspruchs ersichtlichen Merkmaie gelöst.
Man sieht nun die Durchgangsbohrung und kann diese genauso einstellen, daß die
Mitte der geometrischen Längsachse durch sie hindurch geht. Damit ist eine erste
Fehlerquelle beseitigt. Ferner sieht man auch denjenigen Punkt der Schicht, durch den
die geometrische Längsachse hindurchgeht und der das Zentrum des Meßflecks ist.
Hat das Einblickmikroskop zwei Okulare, dann könnte man mit dem einen Auge die :
Durchgangsbohrung und mit dem anderen Auge die Schicht sehen. Es ist jedoch auch
möglich, mit einem einzigen Okular zu arbeiten und durch Verschiebung von optischen
Gliedern zeitlich nacheinander einmal auf die Durchgangsbohrung und einmal auf die
Schicht scharfzustellen. Die Blendenvorrichtung kann aus organischem oder anorganischem
Glas bestehen. Es gibt z. B. mit Blei dotiertes organisches Glas.
Für den Fall von Silikat-Glas können die Durchgangsbohrungen z„ B. mit Ultraschall
eingearbeitet werden. Die Querschnittsform der Durchgangsbohrungen ist deckungsgleich
immer die gleiche und kann irgendeine geometrische Form haben, die z.B. dem Meßobjekt angepaßt ist.
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Durch die Merkmale des Anspruchs 2 kann man ein weit verbreitetes Glas verwenden,
das relativ weich ist, obwohl es ein anorganisches G|as ist und das schon z. B. bei
6 mm Stärke keine den Meßeffekt nennenswert beeinflussenden Roentgenstrahlen durchr
läßt, andererseits aber so dünn ist, daß man ohne wesentlichen Lichtverlust hindurchblicken
kann. Bleiglas läßt sich auch sehr gut polieren, was hier in vielerlei Richtung notwendig ist.
Durch das Merkmal des Anspruchs 3 erreicht man im wesentlichen das gleiche wie
mit dem Merkmal des Anspruchs 2. Während Bleiglas jedoch einen Pbo-Anteil von
18 bis 58 % besitzt,hat Flintglas einen im Schnitt wesentlich höheren Anteil von
Pbo , nämlich 46 bis 62 %. Dies bedeutet , daß Flinrglas bei gleicher Dicke im allgemeinen
die Roentgenstrahlen noch mehr absorbiert (außer demjenigen Anteil, der durch die Durchgangsbohrungen fliegt).
Durch die Merkmale der Ansprüche 4 bis 6 kann man die Blendenvorrichtung den jeweiligen
Meßproblemen anpassen,und die Rechnungen fallen dann einfacher aus.
Die Geometrien gemäß den Ansprüchen 7 bis 9 haben sich im Versuch sehr bewährt
und lassen sich auch technisch gut beherrschen, wenn es sich um anorganische Gläser
handelt.
Die Merkmale des Anspruchs 10 machen den Aufbau einfacher, und die Auswertung des
Meßergebnisses wird auch einfacher. An sich könnte man die Blendenvorrichtung aber
auch unter einem Winkel zur geometrischen Längsachse verschieben.
• Al·
Durch die Merkmale des Anspruchs 11 wird der Aufbau wiederum einfacher, und die geforderte hohe Präzision läßt sich leichter erfüllen. Man kann dann außerdem die einzelnen Durchgangsbohrungen ebenfalls längs einer Linie anordnen, wenn man sie fest im Glaskörper vorsieht.
Durch die Merkmale des Anspruchs 11 wird der Aufbau wiederum einfacher, und die geforderte hohe Präzision läßt sich leichter erfüllen. Man kann dann außerdem die einzelnen Durchgangsbohrungen ebenfalls längs einer Linie anordnen, wenn man sie fest im Glaskörper vorsieht.
Durch die Merkmale des Anspruchs 12 baut die Vorrichtung trotz einer größeren Anzahl
von Durchgangsbohrungen klein/und auch die einfache Drehbewegung läßt sich exakt
und mit vertretbarem technischem Aufwand ausführen.
Durch die Merkmale des Anspruchs 13 kann man die Durchgangsbohrungen von den
Stirnflächen her hineinarbeiten und muß den Glaskörper nicht durchbohren, was - wenn nicht unmöglich - doch sehr schwierig ware.
Durch die Merkmale des Anspruchs 14 kann man den Spalt parallel zur geometrischen
Längsachse laufen lassen, was die Herstellung und die Montage sowie die Übersichtlichkeit
erleichtert als auch zu keinen Störungen führt, wenn man durch das Einblickmikroskop
auf die Schicht schaut. Trotzdem verfälscht diese Lage des Spalts das Meßergebnis
nicht.
Durch die Merkmale des Anspruchs 15 wird dieser Spalt vernachlässigbar klein, und
zwar sowohl hinsichtlich der Roentgenstrahlen als auch hinsichtlich des Durchblicks
zur Schicht hin. Außerdem wird der Glaskörper dann ein . einziges, en bloc handhabbares
Stück, denn beim Ansprengen treten ja die molekularen Adhäsionskräfte auf, und es ist dann nicht mehr möglich, die beiden Teile von Hand zu trennen
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Zusätzlich können die Stirnflächen mit Wärmeeinwirkung auch verschweißt sein,
was heutzutage ohne Änderung der Geometrie möglich ist. Man hat dann einen tatsächlich einstückigen Glaskörper.
Durch die Merkmale des Anspruchs 16 bildet die Stirnfläche des anderen Teilglases
die eine Begrenzungsseite und ist dann ohnehin hochexakt gerade. Außerdem muß man
dann nur in ein einziges Teilglas das Volumen der Durchgangsbohrung hineinarbeiten,
was einfacher ist, als wenn man in beide Teilgläser z. B. die Hälfte jeder Durchgangsbohrung hineinarbeiten würde. Es wurden dann die Durchgangsbohrung-Hälften
nach dem Zusammensetzen ggf. nicht mehr fluchten, hätten vielleicht Ausbrüche od.
dgl. Diese Gestaltung eignet sich insbesondere für Querschnitts-Geometrien, die mehreckig
sind, wie z. B. Dreiecke, Vierecke, Quadrate usw.
Durch die Merkmale des Anspruchs 17 verfärbt das Glas nicht die Farbe der Schicht.
Außerdem sieht man gut hindurch und kann die Lichtquelle schwächer halten.
Durch die Merkmale des Anspruchs 18 erreicht man, daß man ohne Doppelbrechung
durch den Glaskörper hindurchsieht und dies auch noch mit einem minimalen Absorptionsverlust.
Durch die Merkmale des Anspruchs 19 erreicht man, daß der Roentgenstrahl praktisch
nicht geschwächt wird, denn organisches Glas hat eine sehr niedere Ordnungszahl
und die Metallbeschichtung kann zur Erzeugung des Spiegeleffekts so dünn sein, daß
sie in der Absorption ebenfalls vernachlässigt werden kann.
Durch das Merkmal des Anspruchs 20 erhält man in einer bekannten Herstellungstechnik einen Spiegel , der keine Eigenfarbe hinzufügt und der sehr gut reflektiert.
Durch die Merkmale des Anspruchs 21 erhält man zusätzlich zu denjenigen des
Anspruchs 20 eine noch geringere Absorption, da die Ordnungszahl von Aluminium wesentlich niederer ist als diejenige von Silber.
Im Grunde könnte man den Spiegel auch z. B. aus poliertem Aluminium machen.Wenn
dieses polierte Aluminium jedoch sehr dünn ist, dann könnte es wellen, und wenn
die Trägerschicht aus organischem Glas ist, dann bleibt der Spiegel steif.
Durch die Merkmale des Anspruchs 22 wird der Roentgenstrahl am minimalsten beeinflußt.
Durch die Merkmale des Anspruchs 23 läßt sich leicht auch im Kopf ausrechnen oder
gefühlsmäßig überblicken, welche Besonderheiten die Schicht hat, wie groß der
Meßfleck ist, wie groß die Durchgangsbohrung ist usw.
Durch das Merkmal des Anspruchs 24 erhält man eine Vergrößerung, die ein Einblickmikroskop
ohne weiteres schafft und bei der das Umrechnen besonders leicht fällt.
Durch die Merkmale des Anspruchs 25 erhält man die Möglichkeit, die geometrische
Längsachse durch die Kreuzung des Fadenkreuzes zu legen. Ansich wäre aber für eine Zielvorrichtung auch möglich, konzentrische Kreise oder Keildarstellungen od.
dgl. zu verwenden.
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. KL·*
Durch die Merkmale des Anspruchs 26 kann man im Zusammenhang mit einem einfachen
Vergrößerungsfaktor und einer ins Millimetersystem passenden Teilung leicht
die betroffenen Flächen ausrechnen.
Durch die Merkmale des Anspruchs 27 kann man die Einblickmikroskopvorrichtung
einfach halten. Ohne sammelndesLinsenglied ist dann das Einblickmikroskop auf die
Schicht scharf eingestellt. Mit im Strahlengang befindlichem Glied sieht man dann
den Glaskörper an dessen Unterseite scharf. Man kann natürlich auch den äquivalenten
Weg wählen und das Einblickmikroskop auf die Unterseite des Glaskörpers scharf einstellen
und mit einem zerstreuenden Linsenglied dann die Schicht scharf abbilden. Hierbei sind dann keine Schärfenabgleicharbeiten notwendig, weil ja alle beteiligten
Entfernungen Schichtunterseite/Glaskörper/Linsenglied/Einblickmikroskop im voraus
bekannt sind.
Insgesamt ermöglicht die Erfindung auch genau denjenigen Fleck fotografisch festzuhalten,
auf dem gemessen wurde. Das gleiche gilt für die Form der Durchgangsbohrung,
so daß spätere Irrtümer in der Auswertung ausgeschlossen sind.
Es wird nun ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung beschrieben. In der
Zeichnung zeigen:
Fig. 1 eine perspektivische Ansicht der gesamten Vorrichtung,
Fig. 2 einen perspektivischen Schnitt in der Ebene 2-2 von Fig. 1,
Fig. 3 einen schematischen Schnitt senkrecht zur Ebene 2-2, Fig. 4 die Draufsicht auf einen Glaskörper,
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Fig. 5 die Ansicht gemäß dem Pfeil A in Fig. 4, Fig. 6 die Ansicht eines Ausschnitts der Unterseite einer zu messenden Schicht,
Fig. 7 die schematische Draufsicht auf eine zweite Art Blendenvorrichtung.
Ein Meßtisch 11 hat ein Gehäuse 12 etwa rechtflachförmiger Gestalt. Aus seiner
Oberwand 13 ragt im vorderen Bereich ein senkrecht nach oben gerichteter Flansch 14 ,
der rechteckigen Umriß hat. Dieser Flansch 14 wird von einer Schürze 16 überfangen,
die einstückig mit einer horizontalen Platte 17 ist. In der Mitte geht die Platte
in eine nach oben ragende, kleinere, rechteckige Arbeitsplatte 18 über, die auf ihrer Oberseite exakt horizontal ist und ein rechtwinkliges Koordinatennetz trägt.
Aquicistante Striche 19 verlaufen in X-Richtung und äquidistante Striche 21 verlaufen
in Y-Richtung. In der Arbeitsplatte 18 und der Platte 17 ist ein von oben nach unten
offenes Durchgangsloch 22 vorgesehen. Rechts an diesem aus den Teilen 16, 17 und
18 bestehenden Aufbau ist ein Koordinatentrieb 23 vorgesehen, so daß die Arbeitsplatte
18 wie ein Mikroskoptisch gemäß den Pfeilen 24, 26 bewegbar ist. Dreht man die Rändelschraube 27 in Richtung des Pfeils 28, dann erfolgt - je nach Drehrichtung eine
Bewegung längs des Doppelpfeils 24.
Dreht man eine Rändelschraube 29 in der einen oder anderen Richtung des Pfeils 31,
dann bewegt sich die Arbeitsplatte 18 in einer der Richtungen des Pfeils 26. Eine
gleichzeitige Drehung der Rändelschrauben 27, 29 ergibt eine Überlagerung dieser
Bewegungen. Man kann dadurch das Durchgangsloch 22 relativ zu einer senkrecht stehenden geometrischen Längsachse 32 fein verstellen. Auf die Arbeitsplatte 18 kann
man das Durchgangsloch 22 überquerende Teile legen, und diese werden dann relativ
der geometrischen Längsachse 32 ebenso bewegt. Sind die Teile klein und würden
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durch das Durchgangsloch 22 hindurchfallen, dann wird dieses mit einer geeigneten
Folie, z. B. einer Mylar-Folie abgedeckt und die Teilchen auf diese gelegt, so daß
sie ebenfalls die Bewegung mitmachen. Vom Innenraum des Gehäuses 12 aus sieht man
die Teilchen nach wie vor, da die Folie A- 7 Mikrometer dick ist und glasklar ist
und im Bereich der Lichtwellenlängen durchsichtig ist.
Dieser hier differenziert anhand der Figuren 1 und 2 beschriebene Aufbau ist der
Einfachkeit halber in der einfacheren Darstellung der Figur 3 weggelassen.
Unten im Gehäuse 12 liegt das Strahlenerzeugersystem einer Roentgenröhre 33, das
Roentgenstrahlen erzeugt. Soweit diese Roentgensfrahlen längs der geometrischen
Längsachse 32 austreten, werden sie durch ein DurchgangsIoch 34 eines Zwischenbodens
36 hindurchgelassen, das koaxial zur Längsachse 32 ist./1IIe anderen Strahlen werden
durch den Zwischenboden 36 zurückgehalten, der oberhalb der Roentgenröhre 33
angeordnet ist. Auf dem Zwischenboden 36 und auf dem Durchgangsloch 34 sitzt koaxial ein Aufsatz 37, der aus konzentrischen Rohrringstücken besteht. Eines dieser
Rohrringstücke hat ein Doppellager, welches eine Achse 39 lagert, deren geometrische
Längsachse die Längsachse 32 schneidet und ein Kugelküken 41 aus Blei trägt.
Dieses Kugelküken 41 hat eine Durchgangsbohrung 42, die in der in der Fig. 3 gezeichneten
Stellung koaxial zur Längsachse 32 ist und damit den Roentgenstrahl nach oben durchläßt. Mit der Achse 39 ist außen am Gehäuse 12 ein Betätigungshebel 43
drehfest verbunden. Hat er seine in Fig. 2 gezeichnete Stellung, dann fluchtet die
Durchgangsbohrung 42 mit der Längsachse 32 und läßt den Roentgenstrahl durch.
In der in Figur 2 strichpunktiert gezeichne'ten Stellung des Betätigungshebels 43
ist die Achse 39 gemäß den Doppelpfeilen um 90 verschwenkt worden und die
Durchgangsbohrung 42 liegt senkrecht zur Achse 32, so daß über das Kugelküken 41
hinaus keine Roentgenstrahlen austreten. Das Rohrstück 38 geht gemäß Fig. 2 nach
einem Reduzierstück in ein oberes Rohrstück 44 über, das koaxial zur Längsachse 32
ist, an seinem oberen Endbereich unter 45 angeschnitten ist und dort einen im sichtbaren Bereich des Lichts wirkenden Spiegel 46 trägt. Dieser besteht aus einer
Acrylglas-Scheibe 47, die von hinten mit einer Aluminiumschicht 48 bedampft ist.
Der Spiegel 46 ist unbeweglich, unter 45 geneigt und die Längsachse 32 geht durch
seinen Mittelpunkt. Auch zur Längsachse 32 ist der Spiegel 46 um 45 geneigt. Die Roentgenstrahlen gehen ungeschwächt durch den Spiegel 46 weiter längs der
Längsachse 32. Oberhalb des Spiegels 46 ist genau horizontal und senkrecht zur Längsachse 32 eine Blendenvorrichtung vorgesehen, von der der Einfachkeit halber
nur ein Glaskörper 49 dargestellt ist. Dieser ist aus Bleikristall. Seine Höhe beträgt
6 mm, seine Breite 15 mm und seine Länge 50 mm. Er hat einen sehr hohen Bleianteil.
Seine Oberseite 51 ist planparallel zu seiner Unterseite 52, und diese stehen senkrecht
zur Längsachse 32. Die Oberseite und die Unterseite 51,52 sind geschliffen und poliert. Das Glas selbst ist glasklar. Man sieht ohne Verzerrung durch den Glaskörper
49 hindurch. Die Schwächung des sichtbaren Lichts ist vernachlässigbar. Der Glaskörper 49 besteht aus zwei rechtflachförmigen Streifen 53, 54. Die Stirnfläche
56 des Streifens 54 ist an die Stirnfläche 57 des Streifens 53 angesprengt. Ein sich zwischen den Stirnflächen 56, 57 ggf. bildender Spalt ist enger als
0,1 Mikrometer. Sofern Roentgenstrahlen durch ihn hindurchtreten können, ist ihr
Anteil vernachlässigbar.
Vor dem Ansprengen sind in die Stirnfläche 56 Durchgangsbohrungen 58, 59, 61,62
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mittels Ultraschall eingearbeitet worden, die im montierten Zustand unterschiedlich
großen rechteckigen Querschnitt haben und exakt parallel zur Längsachse 32 verlaufen.
Eine im Querschnitt runde Durchgangsbohrung 63 ist zur Hälfte in den Streifen 53 und zur Hälfte in den Streifen 54 hineingearbeitet. Der Abstand zwischen der
Durchgangsbohrung 58 bis 63 ist erheblich größer als die charakteristische Breite
des längs der Längsachse 32 oberhalb des Spiegels 46 verlaufenden Roentgenstrahls.
Verläuft also die geometrische Längsachse 32 durch die Durchgangsbohrung 58, dann
gelangt nichfedurch die Durchgangsbohrung 59. Entsprechendes gilt für die analogen
Positionierungen.
Der Glaskörper 49 ist an seinem Umfang auf nicht dargestellte Weise in eine Fassung
eingebettet, die fest mit einem Schlitten 64 verbunden ist, der senkrecht zur Längsachse
32 gemäß dem Doppelpfeil 66 beweglich ist. Der Schlitten 64 ist mittels eines
Schwalbenschwanzes an einem Bett 67 geführt. Das Bett 67 ist gehäusefest. Angetrieben
wird der Schiitten64 durch einen Mikroantrieb, bestehend aus einem Drehknopf 68,
einer Achse 69, einem 90 -Umlenkgetriebe 71 und einem Schaft 72, welch letzterer
mit dem Schlitten 64 verbunden ist. Je nachdem, ob man den Drehknopf 68 links oder rechts herum dreht, bewegt sich der Glaskörper 49 gemäß dem aus Fig.2 ersichtlichen
Doppelpfeil nach links oder rechts und je nach dem Ausmaß der Drehung kann man eine der Durchgangsbohrungen 58 bis 63 zum Fluchten mit der Längsachse 32
bringen. Die Linie der Anordnung der Durchgangsbohrungen 58 bis 63 geht nämlich
ebenfalls durch die geometrische Längsachse 32. Die Fassung des Glaskörpers 49 ist
starr mit einem Z-Winkel 73 verbunden, so daß linear eine mit diesem verbundene Lochplatte
74 mitgenommen werden kann. Diese hat ebensoviel Lochzeilen 76 als Durch-
- μ-
gangsbohrungen vorhanden sind. Gehäusefest ist ein optisch arbeitender Leser 77
vorgesehen, der auf der einen Seite Lampen und auf der anderen Seite auf Licht empfindliche Dioden aufweist. Die Lochzeilen 76 sind kodiert, so daß dadurch ausgelesen
werden kann, welche der Durchgangsbohrungen 58, 63 gerade mit der Längsachse
32 fluchtet.
Statt dem ohne weiteres bedienbaren Drehknopf 68 ist bei einer anderen Ausführungsform ein mit einem Spezialschlüssel betätigbarer Schraubenkopf vorgesehen, so daß
der Glaskörper 49 nicht ohne weiteres verstellt werden kann, wenn er einmal eingestellt
worden ist.
Eine Einblickmikroskopvorrichtung 78 hat ein Okular 79. Im zugehörigen Gehäuse ist
ein Umlenkspiegel 81 vorgesehen, der horizontal ankommende Lichtstrahlen zum Okular 79 und zum Auge des Betrachters schickt. Im horizontalen Tubenteil de*
Einblickmikroskopvorrichtung 78 ist an dessen innerem Ende ein Objektiv 82 vorgesehen
Ist vor dieses eine Sammellinse 83 geschoben, so sieht man die Unterseite 52 des Glaskörpers
49 scharf. In der Einblickmikroskopvorrichtung 78 ist auch ein Fadenkreuz
eingebaut, dessen Schnittpunkt 86 in der Mitte der optischen Achse 87 der Einblickmikroskopvorrichtung
78 liegt. Diese optische Achse 87 trifft in ihrem horizontalen Bereich die geometrische Längsachse 32. Oberhalb des Auftreffpunktes der optischen
Achse 87 auf den Spiegel 46 verläuft die optische Achse 87 exakt in der geometrischen
Längsachse 32. Wenn sich daher gemäß Fig. 4 der Schnittpunkt 86 des Fadenkreuzes
84 mitten in der Durchgangsbohrung 61 befindet, dann liegt die Mitte des Bündels
der Roentgensrrahlen ebenfalls in der Durchgangsbohrung 61 , und man ist sicher,
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• /3.
daß nunmehr die Durchgangsbohrungol auf ihrem ganzen Querschnitt von Roentgenstrahlen
durchlaufen wird.
Die Sammellinse 83 steht auf einem Ständer 88, der in einer gehäusefesten Führung
gemäß dem Doppelpfeil 91 senkrecht zur optischen Achse 87 bewegbar ist. In ihrer
einen Stellung ist die Sammellinse 83 aktiv. In ihrer gemäß Fig. 2 rechten Stellung
ist sie inaktiv.
In ihrer inaktiven Stellung ist die Optik der Einblickmikroskopvorrichtung 78 so, daß
nunmehr die Unterseite 92 einer auf der Arbeitsplatte 18 liegenden Schicht 93 für das
Auge des Betrachters scharf abgebildet ist. Der Abstand zwischen dieser Schicht 93 und
dem Glaskörper 49 ist so groß, daß man dessen eingestellte Durchgangsbohrung oder
die Stirnflächen 56, 57 nicht mehr sieht.
Zur Beleuchtung der Unterseite 92 dient eine gehäuse feste Lichtquelle 94, die gemäß
Fig. 3 angeordnet ist und in das Durchgangsloch 22 von unten hineinscheint.
Nunmehr sieht man gemäß Fig. 6 das Fadenkreuz 84 auf der Unterseite. Der Schnittpunkt
86 gibt nun wieder an,.wo die Mitte des Roentgenstrahls ist. Das Fadenkreuz
hat an seinen Achsen eine Teilung 95, 97. Da man vorher den Umriß 96 der Durchgangsbohrung
61 sah, weiß man beim Betrachten der Unterseite 92 auch, daß der Umriß der Roentgenstrahlkeule genau dem Umriß 96 aus Fig. 6 entspricht. Anhand
der Teilung 95 kann man das beaufschlagte Gebiet ausmessen, aber auch genau definieren.
* SUO'
Die Schicht 93 wirft Roentgenstrahlen wieder zurück, die von einem Proportionalzählrohr
97 aufgenommen werden, das nach vorne hin durch einen Schirm 98 zur
Blendenvorrichtung hin abgeschirmt ist.
Statt die Durchgangsbohrungen fest in einem Glaskörper vorzusehen, kann man
auch zwei Blendenhälften 99, 101 verwenden, die ebenfalls aus einem Glas sind,
das für sichtbares Licht durchlässig ist, für Roentgenstrahlen jedoch undurchlässig
ist. Die Blendenhälfte 101 liegt höher als die Blendenhälfte 99, und zwar mit einem
so geringen Abstand, daß die Blendenhälften 99, 101 bei Bewegung gemäß den Doppelpfeilen 102, 103 nicht aufeinander schleifen. Auf ihren einander benachbarten
Seiten haben die Blendenhälften 99 antiparallel schauende V-Ausnehmungen, die zu
einer Mittenebene 107 symmetrisch sind. Durch antiparallele Bewegung der Blendenhälften
99/101 wird nun die Durchgangsbohrung 108 größer oder kleiner, ohne daß sich die Diagonale der Schnittpunkte des quadratischen Umrisses der Durchgangsbohrung
aus der Mittenebene 107 herausbewegt.
Es lassen s ichauf diese Weise kontinuierlich unterschiedliche quadratische Umrisse
erzeugen. Sind die V-Ausnehmungen 104, 106 nicht rechtwinklige sondern spitzwinklige
oder stumpfwinklige Ausnehmungen, dann lassen sich rhombische Umrisse erzeugen. Ist nur eine V-Ausnehmung 104 vorgesehen und ist die Ausnehmung 106
lediglich eine gerade Stirnfläche ( 180 -V-Ausnehmung) , dann lassen sich Dreiecke
unterschiedlicher Gestalt bilden, wobei die Mittenebene 107 immer die Vorzugsebene
ist, durch die auch die geometrische Längsachse 32 geht.
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12 251 ί
Durch die Erfindung gelingt es also, lediglich sehr kleine Massen langsam bewegen
zu müssen, so daß auch über die lange Lebensdauer des Geräts hin eine hohe Genauigkeit beibehalten wird.
Es gibt keine sich abnutzende Anschläge, keine mechanischen Schocks, keine
zusätzlichen Halteglieder, Federn oder dergleichen.
Claims (1)
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12 251Patentansprüche:1. Vorrichtung zum Messen der Dicke dünner Schichten nach dem Roentgen-Fluoreszenz-Prinzip,mit einem RoentgenstrahI-Erzeuger, der längs einer geometrischen Längsachse einen Roentgenstrahl aussendet,mit einer Tischvorrichtung als Träger für eine zu messende Schicht,mit einer Blendenvorrichtung, die im wesentlichen aus einem Roentgenstrahlen ganz absorbierenden Material ist und eine Durchgangsapertur aufweist, die längs in die geometrische Längsachse bringbar ist,mit einer Lichtquelle für sichtbares Licht, die auf den Platz für diezumessende Schicht richtbar ist,mit einer Einblickmikroskopvorrichtung zur Betrachtung derjenigen Gegend der Schicht, auf die der Roentgenstrahl trifft,und mit einem Umlenkspiegel im Strahlengang zwischen Einblickmikroskopvorrichhjng und Gegend der Schicht,gekennzeichnet durch folgende Merkmale:a) Die Blendenvorrichtung (49) ist aus einem für sichtbares Licht durchlässigen Glas, besitzt mehrere Durchgangsbohrungen (58,59,61,62,63,108) unterschiedlicher Querschnittsgeometrie und ist bewegbar, so daß251 μ i (.3X3 Ii)■ιjeweils eine der Durchgangsbohrungen (58,59,61,62,63, 108) mit der geometrischen Längsachse (32) fluchtet.b) Der Umlenkspiegel (46) ist aus einem Roentgenstrahlen praktisch nicht absorbierenden Material und wird von der geometrischen Längsachse (32) durchquert.c) Die Einblickmikroskopvorrichtung (78) bildet sowohl die Blendenvorrichtung (49) als auch die Gegend (92) der Schicht (93) scharf ab .d) In der Einblickmikroskopvorrichtung ist eine Zieleinrichtung (84) vorgesehen, deren Zielpunkt (86) in Strahlengangrichtung (87) die geometrische Längsachse (32) schneidet und zwar dort, wo die geometrische Längsachse (32) den Umlenkspiegel (46) durchdringt.2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas Bleiglas ist.3. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas Flintglas ist.4. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie ungleichseitig rechteckig ist.5. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie quadratisch ist.ORIGINAL12 251 . - ' . Z'. 3.. ■6. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie kreisrund ist.7. Vorrichtung nach Anspruchs, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie etwa 0,2 χ 0,2 mm und/oder 0,6 χ 0,6 mm und/oder 1,2 χ 1,2 mm ist.8. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie 0,4 χ 0,2 mm und/oder 1 χ 0,6 mm und/oder 1,8 χ 1,2 mm ist.9. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Querschnittsgeometrie 0,3 mm und/oder 0,5 mm und/oder 0,6 mm und/oder 0,8 mm ist.10. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenvorrichtung (49) exakt senkrecht zur geometrischen Längsachse (32) verschiebbar geführt ist.11. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenvorrichtung (49) linear verschiebbar geführt ist.12. Vorrichtung nach Anspruch 1 und 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenvorrichtung (49) drehbar geführt ist.13. Vorrichtung nach einem oder mehreren der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenvorrichtung (49) mindestens zwei12251 / ***""*• L.Teilgläser (53, 54) umfaßt, die mit je einer Stirnfläche (56, 57) aneinandergrenzen und daß die Durchgangsbohrungen (58,59,61,02,63) von mindestens einer dieser Stirnflächen (56) aus in die Teiigläser (53, 54) hineingearbeitet sind.14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die Stirnflächen (56, 57) gerade und planeben sind und der durch den zwischen den Stirnflächen (56, 57) vorhandene Spalt um mindestens eine Zehnerpotenz weniger Roentgenstrahlen hindurchläßt als die kleinste Durchgangsbohrung (58).15. Vorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Stirnflächen (56, 57) in einem das Ansprengen erforderlichen Maß plan poliert sind.16. Vorrichtung nach Anspruch 4, 5 und 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Durchgangsbohrungen (58,59,61,62) lediglich von der Stirnfläche (56) des einen Teilglases (54j gearbeitet sind.17. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas farblos glasklar ist.18. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der aus diesem Glas bestehende Glaskörper (49) an seiner Oberseite (51) und Unterseite (52) senkrecht zur geometrischen Längsachse (32) steht und daß die Oberseite (51) und Unterseite (52) hochglänzend poliert ist.12 251 X '.5.19. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Spiegel (46) eine Trägerschicht (47) aus organischem Glas hat, die mit Metall (48) beschichtet ist.20. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß das Metall (48) Silber ist.21. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß das Metall (48) Aluminium ist.22. Vorrichtung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, daß die Beschichtung (48) aufgedampft ist.23. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Vergrößerungsfakior des Einblickmikroskops (78) eine im Dezimalsystem bevorzugte Zahl größer als 9 und kleiner als 41 ist.24. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß die Zahl 20 ist.25. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Zielvorrichtung ein Fadenkreuz (84) ist.26. Vorrichtung nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, daß das Faden-■ έ·kreuz (84) an seinen Achsen eine Teilung (95, 97) hat.27. Vorrichtung nach Anspruch I7 dadurch gekennzeichnet, daß das Einblickmikroskop (78) ein einziges Okular (79) hat und daß in den Strahlengang (87) des Mikroskops (78) wahlweise ein Linsenglied (83) bringbar ist.
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---|---|---|---|
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US06/487,130 US4597093A (en) | 1982-10-23 | 1983-04-21 | Apparatus for measuring the thickness of thin layers |
GB08310802A GB2129127B (en) | 1982-10-23 | 1983-04-21 | Measuring thickness of thin layers |
SG103/86A SG10386G (en) | 1982-10-23 | 1986-02-06 | Apparatus for measuring the thickness of thin layers |
US06/858,689 US4799246A (en) | 1982-10-23 | 1986-05-02 | Apparatus for measuring the thickness of thin layers |
HK257/87A HK25787A (en) | 1982-10-23 | 1987-03-26 | Apparatus for measuring the thickness of thin layers |
JP2027320A JPH02236106A (ja) | 1982-10-23 | 1990-02-08 | 薄層の厚さ測定装置 |
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3444270A1 (de) * | 1984-12-05 | 1986-06-05 | Helmut Fischer GmbH & Co Institut für Elektronik und Meßtechnik, 7032 Sindelfingen | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
DE3710437A1 (de) * | 1987-04-01 | 1988-10-20 | Helmut Fischer Elektronik & Me | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
US4860329A (en) * | 1986-02-24 | 1989-08-22 | Upa Technology, Inc. | X-ray fluorescence thickness measuring device |
Families Citing this family (41)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3239379A1 (de) * | 1982-10-23 | 1984-04-26 | Helmut Fischer GmbH & Co Institut für Elektronik und Meßtechnik, 7032 Sindelfingen | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
DE3522779A1 (de) * | 1984-07-03 | 1986-01-09 | Twin City International, Inc., Amherst, N.Y. | Dickenmessinstrument mit stationaerem probenbeobachtungsspiegel |
JPH0539449Y2 (de) * | 1985-09-30 | 1993-10-06 | ||
DE3731973A1 (de) * | 1987-09-23 | 1989-04-13 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Vorrichtung zur stabilisierung fuer roentgenfluoreszenzschichtdicken-messgeraete und verfahren hierzu |
US4962518A (en) * | 1987-12-07 | 1990-10-09 | Twin City International, Inc. | Apparatus for measuring the thickness of a coating |
US4979203A (en) * | 1989-06-19 | 1990-12-18 | Princeton X-Ray Laser | X-ray laser microscope apparatus |
DE4021388A1 (de) * | 1990-07-05 | 1992-01-16 | Twin City Int Inc | Vorrichtung zum messen der staerke eines ueberzuges |
DE4203887C2 (de) * | 1992-02-11 | 1998-07-23 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Positioniervorrichtung für ein Meßgerät |
US5309495A (en) * | 1992-03-18 | 1994-05-03 | Helmut Fischer | Positioning device for an x-ray thickness measuring system |
DE19710420C2 (de) * | 1997-03-13 | 2001-07-12 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Dicken dünner Schichten mittels Röntgenfluoreszenz |
DE19739321C2 (de) * | 1997-09-09 | 2001-09-27 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Verfahren und Einrichtung zum Bestimmen der Meßunsicherheit bei Röntgenfluoreszenz-Schichtdickenmessungen |
GB9906011D0 (en) | 1999-03-16 | 1999-05-12 | Whiley Foils Ltd | Fluorescent materials |
US6345086B1 (en) * | 1999-09-14 | 2002-02-05 | Veeco Instruments Inc. | X-ray fluorescence system and method |
JP3811089B2 (ja) * | 2002-04-15 | 2006-08-16 | 株式会社東芝 | 摩耗量測定方法 |
DE10259696B4 (de) * | 2002-12-18 | 2018-07-05 | Immobiliengesellschaft Helmut Fischer Gmbh & Co. Kg | Vorrichtung zum Messen der Dicke dünner Schichten |
US7023954B2 (en) * | 2003-09-29 | 2006-04-04 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | Optical alignment of X-ray microanalyzers |
DE102004020370B4 (de) * | 2004-04-23 | 2006-11-16 | Sirona Dental Systems Gmbh | Röntgenstrahler und Verfahren zur Erzeugung und Darstellung von Röntgenbildern |
US20080302461A1 (en) * | 2007-06-08 | 2008-12-11 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Transparent Colored High Modulus Interlayers and Laminates Therefrom |
US20080318063A1 (en) * | 2007-06-22 | 2008-12-25 | Anderson Jerrel C | Glass laminates with improved weatherability |
US20090155576A1 (en) * | 2007-12-18 | 2009-06-18 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Glass-less glazing laminates |
WO2013170052A1 (en) | 2012-05-09 | 2013-11-14 | Sio2 Medical Products, Inc. | Saccharide protective coating for pharmaceutical package |
US7985188B2 (en) * | 2009-05-13 | 2011-07-26 | Cv Holdings Llc | Vessel, coating, inspection and processing apparatus |
EP2796591B1 (de) | 2009-05-13 | 2016-07-06 | SiO2 Medical Products, Inc. | Vorrichtung und Verfahren zum Innenbeschichten von Gefäßen |
US9458536B2 (en) | 2009-07-02 | 2016-10-04 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD coating methods for capped syringes, cartridges and other articles |
US11624115B2 (en) | 2010-05-12 | 2023-04-11 | Sio2 Medical Products, Inc. | Syringe with PECVD lubrication |
US9878101B2 (en) | 2010-11-12 | 2018-01-30 | Sio2 Medical Products, Inc. | Cyclic olefin polymer vessels and vessel coating methods |
US9272095B2 (en) | 2011-04-01 | 2016-03-01 | Sio2 Medical Products, Inc. | Vessels, contact surfaces, and coating and inspection apparatus and methods |
US11116695B2 (en) | 2011-11-11 | 2021-09-14 | Sio2 Medical Products, Inc. | Blood sample collection tube |
US10189603B2 (en) | 2011-11-11 | 2019-01-29 | Sio2 Medical Products, Inc. | Passivation, pH protective or lubricity coating for pharmaceutical package, coating process and apparatus |
EP2914762B1 (de) | 2012-11-01 | 2020-05-13 | SiO2 Medical Products, Inc. | Verfahren zur inspektion einer beschichtung |
US9903782B2 (en) | 2012-11-16 | 2018-02-27 | Sio2 Medical Products, Inc. | Method and apparatus for detecting rapid barrier coating integrity characteristics |
CA2892294C (en) | 2012-11-30 | 2021-07-27 | Sio2 Medical Products, Inc. | Controlling the uniformity of pecvd deposition on medical syringes, cartridges, and the like |
US9764093B2 (en) | 2012-11-30 | 2017-09-19 | Sio2 Medical Products, Inc. | Controlling the uniformity of PECVD deposition |
EP2961858B1 (de) | 2013-03-01 | 2022-09-07 | Si02 Medical Products, Inc. | Beschichtete spritze. |
DE102013102270A1 (de) * | 2013-03-07 | 2014-09-11 | Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik | Optischer Spiegel, Röntgenfluoreszenzanalysegerät und Verfahren zur Röntgenfluoreszenzanalyse |
KR102336796B1 (ko) | 2013-03-11 | 2021-12-10 | 에스아이오2 메디컬 프로덕츠, 인크. | 코팅된 패키징 |
US9937099B2 (en) | 2013-03-11 | 2018-04-10 | Sio2 Medical Products, Inc. | Trilayer coated pharmaceutical packaging with low oxygen transmission rate |
US9863042B2 (en) | 2013-03-15 | 2018-01-09 | Sio2 Medical Products, Inc. | PECVD lubricity vessel coating, coating process and apparatus providing different power levels in two phases |
WO2015148471A1 (en) | 2014-03-28 | 2015-10-01 | Sio2 Medical Products, Inc. | Antistatic coatings for plastic vessels |
CN116982977A (zh) | 2015-08-18 | 2023-11-03 | Sio2医药产品公司 | 具有低氧气传输速率的药物和其他包装 |
CN109323653B (zh) * | 2018-11-14 | 2024-03-08 | 江苏一六仪器有限公司 | 一种x光光斑定位仪及其定位方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1976179A (en) * | 1930-04-28 | 1934-10-09 | Mannl Rudolf | Adjusting device for x-ray tubes |
US4262201A (en) * | 1977-12-21 | 1981-04-14 | Oesterreichische Studiengeseilschaft fur Atomenergie G.m.b.H. | Apparatus for determining the specific weight of selected regions of microscopic small plane parallel samples |
DE3137186A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-05-06 | Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo | Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung |
DE3203747A1 (de) * | 1981-02-04 | 1982-09-02 | Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo | Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3717768A (en) * | 1970-02-09 | 1973-02-20 | Medinova Ab | X-ray filter device in combination with a positioning light converging means |
JPS51121388A (en) * | 1975-04-16 | 1976-10-23 | Nec Corp | Apparatus for adjusting a specimen for x-ray diffration camera |
JPS5489596A (en) * | 1977-12-27 | 1979-07-16 | Nec Corp | Swing and iris set for x-rays |
JPS57197454A (en) * | 1981-05-29 | 1982-12-03 | Rigaku Denki Kogyo Kk | X-ray analysing apparatus |
JPS58133239A (ja) * | 1982-02-02 | 1983-08-08 | 株式会社堀場製作所 | 照射x線領域モニタ−装置 |
DE3239379A1 (de) * | 1982-10-23 | 1984-04-26 | Helmut Fischer GmbH & Co Institut für Elektronik und Meßtechnik, 7032 Sindelfingen | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
-
1982
- 1982-10-23 DE DE19823239379 patent/DE3239379A1/de active Granted
-
1983
- 1983-04-21 JP JP58070825A patent/JPS5975109A/ja active Granted
- 1983-04-21 GB GB08310802A patent/GB2129127B/en not_active Expired
- 1983-04-21 US US06/487,130 patent/US4597093A/en not_active Expired - Lifetime
-
1986
- 1986-02-06 SG SG103/86A patent/SG10386G/en unknown
- 1986-05-02 US US06/858,689 patent/US4799246A/en not_active Expired - Lifetime
-
1987
- 1987-03-26 HK HK257/87A patent/HK25787A/xx not_active IP Right Cessation
-
1990
- 1990-02-08 JP JP2027320A patent/JPH02236106A/ja active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US1976179A (en) * | 1930-04-28 | 1934-10-09 | Mannl Rudolf | Adjusting device for x-ray tubes |
US4262201A (en) * | 1977-12-21 | 1981-04-14 | Oesterreichische Studiengeseilschaft fur Atomenergie G.m.b.H. | Apparatus for determining the specific weight of selected regions of microscopic small plane parallel samples |
DE3137186A1 (de) * | 1980-09-22 | 1982-05-06 | Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo | Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung |
DE3203747A1 (de) * | 1981-02-04 | 1982-09-02 | Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo | Roentgenfluoreszenz-messeinrichtung |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3444270A1 (de) * | 1984-12-05 | 1986-06-05 | Helmut Fischer GmbH & Co Institut für Elektronik und Meßtechnik, 7032 Sindelfingen | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
US4860329A (en) * | 1986-02-24 | 1989-08-22 | Upa Technology, Inc. | X-ray fluorescence thickness measuring device |
DE3710437A1 (de) * | 1987-04-01 | 1988-10-20 | Helmut Fischer Elektronik & Me | Vorrichtung zum messen der dicke duenner schichten |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4799246A (en) | 1989-01-17 |
JPH02236106A (ja) | 1990-09-19 |
SG10386G (en) | 1987-09-18 |
GB8310802D0 (en) | 1983-05-25 |
GB2129127B (en) | 1985-11-13 |
HK25787A (en) | 1987-04-03 |
US4597093A (en) | 1986-06-24 |
DE3239379C2 (de) | 1989-04-20 |
JPH0526122B2 (de) | 1993-04-15 |
JPS5975109A (ja) | 1984-04-27 |
GB2129127A (en) | 1984-05-10 |
JPH0244363B2 (de) | 1990-10-03 |
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