DE2855303C2 - - Google Patents
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- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 8
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 8
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 1
- 230000003014 reinforcing effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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- H03F—AMPLIFIERS
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- H03F3/343—DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen linearen Verstärker
nach dem Oberbegriff des Hauptanspruchs.
Ein solcher Verstärker ist im wesentlichen aus der
US-PS 36 75 143 bekannt. Er kann Anwendung finden in digitalen
Systemen, mit deren Hilfe Signale mit niedrigem Pegel
auf digitale Pegel gebracht werden, z. B. in Komparatoren
für Analog/Digital-Wandler und Verstärker für Impulse mit
niedrigem Pegel. Sie enthalten insbesondere n-Kanal-MOS-
Transistoren.
Ein Merkmal von n-Kanal-MOS-Transistoren ist, daß sie eine
niedrige Steilheit (gm) aufweisen, z. B. in der Größenordnung
von 0,5 mA/V für einen Transistor mit einer Breite von 250 µm
und einer Länge von 6 µm, der bei 200 µA wirkt, im Vergleich
zu z. B. 8 mA/V für einen Bipolartransistor einer vergleichbaren
Scheibenoberfläche von 10 000 µm², der bei demselben
Strom wirkt. Die Spannungsverstärkung eines Verstärkers ist
gm · R E , wobei R E der effektive Belastungswiderstand ist,
der die Parallelschaltung des Belastungswiderstandes und
des Ausgangswiderstandes enthält. Im Falle eines Verstärkers
mit einem Bipolartransistor kann eine Verstärkung von 100 mit
einem effektiven Belastungswiderstand R E von 12 kΩ erhalten
werden. Da dieser Wert im Vergleich zu dem Ausgangswiderstand
niedrig ist, kann der Belastungswiderstand 12 kΩ betragen.
Im Falle eines Verstärkers mit einem MOS-Transistor wäre, um
die gleiche Spannungsverstärkung zu erhalten, ein effektiver
Belastungswiderstand von 200 kΩ erforderlich. Ein Belastungswiderstand
mit einem derartigen Wert führt jedoch einen
großen Gleichspannungsabfall über der Belastung herbei, was
es notwendig macht, daß eine hohe Speisespannung verwendet
oder daß der MOS-Transistor bei einem niedrigen Strom betrieben
wird. Dementsprechend muß, um einen Verstärker aus
MOS-Transistoren mit hoher Verstärkung zu erhalten, der Belastungswiderstand
einen hohen Widerstand (Ausgangswiderstand =
slope resistance), aber einen niedrigen differentiellen
Gleichstromwiderstand (= chord resistance) aufweisen, wodurch
die Speisespannung niedriger oder der Betriebsstrom höher
sein kann als bei einem großen Belastungswiderstand notwendig
wäre.
Ein bekannter linearer Verstärker mit hoher Verstärkung,
der bei niedrigen Spannungen wirkt, ist in der US-PS 36 78 407
beschrieben. Jede Verstärkerstufe einer beschriebenen Ausführungsform
enthält einen "P"-Kanal-Anreicherungs-MOS-
Feldeffekttransistor mit isoliertem Gate (MOSFET). Der Belastungskreis
für den verstärkenden MOSFET enthält zwei
parallele Wege, die zusammen einen hohen Ausgangswiderstand
und einen niedrigen Gleichstromwiderstand bewirken. In einem
der Wege ist ein erster Transistor angeordnet, der als eine
Konstant-Stromquelle wirkt und eine Hilfsbelastung bildet.
Der andere Weg enthält einen oder mehrere Transistoren, bei
denen jeweils das Gate und die Drain miteinander verbunden
sind und die je eine Vorspannungsschaltung für den ersten
Transistor bilden, und einen weiteren Transistor, dessen
Gate und Drain miteinander verbunden sind und der eine
Hauptwiderstandsbelastung bildet. Beim Betrieb mit
niedrigen den verstärkenden MOSFET durchfließenden Strömen
ist die Impedanz des Hilfsbelastungstransistors niedrig im
Vergleich zu der des Belastungstransistors. Wenn jedoch der
Strom erhöht wird, wird der Sperrstromwert des Hilfsbelastungstransistors
erreicht, wodurch seine Impedanz auf einen höheren
Wert zunimmt. Da die beiden Belastungstransistoren parallelgeschaltet
sind, können die effektive dynamische Impedanz
und die Verstärkung des Verstärkers nun denen eines FET-
Verstärkers mit einer üblichen Belastung nahe kommen. In
dieser bekannten Schaltung wird die Speisespannung niedrig
gehalten und ist der Source-Drain-Gleichstrom des verstärkenden
MOS-Feldeffekttransistors höher als bei einer üblichen
Belastung möglich wäre; die Gesamtverstärkung der Stufe ist
aber noch immer nicht größer als bei einem üblichen Belastungswiderstand
erhalten werden würde.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, die Verstärkung
eines linearen MOS-Verstärkers zu erhöhen, der einen Belastungswiderstand
enthält, der einen hohen differentiellen Ausgangswiderstand
und einen niedrigen Gleichstromwiderstand aufweist.
Diese Aufgabe wird ausgehend von einem Verstärker der eingangs
genannten Art durch die im Kennzeichen des Hauptanspruchs
angegebenen Maßnahmen gelöst.
Der erste und der zweite Transistor können durch n-Kanal-
MOS-Verarmungstransistoren gebildet werden.
Um die Herstellung des linearen Verstärkers in Form einer
integrierten Schaltung zu erleichtern, sieht eine Weiterbildung
der Erfindung vor, daß die Transistorverstärkerstufe
eine durch ein sourcegekoppeltes Transistorpaar gebildete
Verstärkerschaltung ist, von der ein erster und ein zweiter
Zweig mit einer gemeinsamen Stromspeiseschaltung verbunden
sind, daß der erste und der zweite Zweig je ein Verstärkungselement
mit einer ausgeglichenen Kaskodenbelastungsschaltung
in der Ausgangsschaltung enthalten, und daß ein Eingangssignal
differentiell den Eingängen der Verstärkungselemente
zugeführt wird.
Die Verstärkerschaltung mit einem emittergekoppelten
Transistorenpaar kann ein Gleichtaktrückkopplungssystem enthalten.
Ein derartiges Rückkopplungssystem ermöglicht es,
daß die Ausgänge richtig vorgespannt werden, trotz der
Tatsache, daß der Gesamtemitterstrom und die Belastungskennlinien
nicht genau definiert werden können.
Die Ausgangsschaltungen können mit einer Schaltung verbunden
sein, die ihre Ausgangssignale zusammengefügt und
ein einziges Niederspannungs-Ausgangssignal erzeugt,
das sich zur Anwendung bei einer digitalen Schaltungsanordnung
eignet.
Die Erfindung wird nachstehend beispielsweise anhand der
Zeichnung näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1a, b und c schematisch drei bekannte Verarmungs-n-
Kanal-MOS-Transistorschaltungen,
Fig. 2 eine graphische Darstellung des Drain-Source-
Stromes (I DS ) als Funktion der Drain-Source-
Spannung (V DS ) der drei Schaltungen nach Fig. 1,
Fig. 3(a) und 3(b) schematisch zwei bekannte Belastungsschaltungen,
Fig. 4 eine graphische Darstellung der Änderung des Drain-
Source-Stromes (I DS ) mit der Source-Substratspannung
(V SB ) für die Belastungsschaltungen nach den Fig. 3(a)
und 3(b)
Fig. 5 in der oberen Kurve die Änderung von V TND mit V SB
und in der unteren Kurve die Änderung von dV T /dV SB
mit V SB für die Kaskodenbelastung nach Fig. 3(b),
Fig. 6 schematisch ein Schaltbild einer ausgeglichenen
Kaskodenbelastung,
Fig. 7 eine graphische Darstellung von I DS über V SB für die
Belastung nach Fig. 6,
Fig. 8 schematisch ein Schaltbild eines ein emittergekoppeltes
Transistorpaar enthaltenden Verstärkers mit in
jedem Zweig der Verstärkerschaltung einer ausgeglichenen
Kaskodenbelastung, und
Fig. 9, 10 und 11 graphische Darstellungen verschiedener
Kennlinien des Verstärkers nach Fig. 8.
Fig. 1(a) zeigt einen Verarmungs-n-Kanal-MOS-Transistor 20,
dessen Source und Gate an Erde gelegt sind. Das Verhältnis
zwischen Breite und Länge (B/L) der Gate-Elektrode dieses
Transistors ist 10 µm/7 µm, normalerweise als 10/7 ausgedrückt.
Die V DS -I DS -Kurve (a) der Fig. 2 bezieht sich auf
den Transistor 20, der eine Kanallänge L′ von 5 µm und
eine Schwellenspannung V TND von -3,5 V aufweist. Oberhalb
der Sättigung weist der nahezu gerade Teil von (a) einen
differentiellen Ausgangswiderstand in der Größenordnung
von 128 kΩ auf. Die Änderung des Ausgangswiderstandes
wird durch eine Herabsetzung der effektiven Kanallänge
infolge der Vergrößerung der Länge des Verarmungsgebietes
rings um die Drain herbeigeführt. Der Ausgangswiderstand
ist jedoch zu I DS umgekehrt proportional und nimmt bei
zunehmender Kanallänge L′ zu. In Fig. 1a ist der Gleichstromwiderstand
bei I DS von 200 µA 37,5 kΩ.
Die Schaltung nach Fig. 1(b) zeigt Verarmungs-n-Kanal-MOS-
Transistoren 22, 24, die in Kaskode angeordnet sind, wodurch
ein beträchtlich größerer Ausgangswiderstand (3,2 MΩ) im
Vergleich zu der Schaltung nach Fig. 1a erhalten wird. Die
Gates der MOS-Transistoren 22, 24 sind an Erde gelegt.
In dieser Schaltungsanordnung bestimmt der Transistor 22
den Strom, der zum Vorspannen der Source des Transistors 24
verwendet wird, die ein viel größeres B/L-Verhältnis (125/7)
als die des Transistors 22 (10/7) aufweist, um den erforderlichen
Strom zu erhalten. In dem Gebiet mit hohem Ausgangswiderstand
der dargestellten Schaltungsanordnung ist die
Drainspannung des Transistors 22 bzw. die Sourcespannung
des Transistors 24 gleich 2,3 V. Auch ist
R out = R out₂₄ (1 + gm 24 · R out₂₂),
wobei R out der Ausgangswiderstand der Schaltung, R out₂₂ und
R out₂₄ die Ausgangswiderstände der Transistoren 22 bzw. 24
und gm 24 die Steilheit des Transistors 24 darstellen.
Die Schaltung nach Fig. 1(c) zeigt die Transistoren 22
und 24, wobei das Gate des Transistors 22 an Erde gelegt
und das Gate des Transistors 24 an eine Spannungsquelle
von +1,2 V angeschlossen ist. Der Effekt, der erhalten
wird, wenn der Transistor 24 gesondert vorgespannt und
nicht, wie in Fig. 1b, an Erde gelegt wird, ist, daß die
Spannung an der Drain des Transistors 22 auf 3,4 V zunimmt,
wobei die sich daraus ergebende Zunahme von R out₂₂ eine
Zunahme des effektiven Ausgangswiderstandes R out auf
6 bis 9 MΩ zur Folge hat (Kurve c der Fig. 2).
Fig. 3 und 4 beziehen sich auf die Anwendung von Verarmungs-
n-Kanal-MOS-Transistoren als Belastungen. Im Falle der
Fig. 3a enthält die Belastung einen einzigen Verarmungs-
n-Kanal-MOS-Transistor 26, dessen Gate mit seiner Source
verbunden ist. Das B/L-Verhältnis des Transistors 26 ist
10/7, was gleich dem des Transistors 20 in Fig. 1a ist.
Fig. 4 ist ein graphische Darstellung des Drain-Source-
Stromes I DS als Funktion der Source-Substratspannung V SB .
Die Kurve a ist die mit der Belastung nach Fig. 3a
erhaltene Kennlinie. Der Ausgangswiderstand des gesättigten
Gebietes der Kurve a ist 78 kΩ, was viel niedriger als der
der Kurve a in Fig. 2 ist.
Die Belastung nach Fig. 3b enthält in Kaskode geschaltete
Verarmungs-n-Kanal-MOS-Transistoren 28, 30, die die gleichen
B/L-Verhältnisse wie die Transistoren 22, 24 (Fig. 1b)
aufweisen. Die Kennlinie dieser Belastung ist durch die
Kurve b der Fig. 4 dargestellt und der Ausgangswiderstand
von 150 kΩ liegt erheblich unter dem der Kurve b in Fig. 2.
Der Grund, warum der Ausgangswiderstand jedes der Belastungstransistoranordnung
niedriger als die Ausgangswiderstände
nach Fig. 1(a) und 1(b) ist, ist die Änderung der
Schwellenspannung V T mit der Rückwärtsvorspannung, d. h.
mit V SB . Diese Änderung ist in der oberen Kurve der Fig. 5
dargestellt, deren untere Kurve dV T /dV SB zeigt. Bei zunehmender
V SB wird die Schwellenspannung V TND eines Verarmungs-n-
MOS-Transistors positiver, d. h. daß ihre Größe abnimmt,
wobei auch die effektive Gate-Spannung abnimmt. In der
Kurve (b) der Fig. 3 ist der Ausgangswiderstand fast völlig
diesem Effekt zuzuschreiben. So ist
R slope = 1/gm (28) · dV T /dV SB .
Wie aus der unteren Kurve der Fig. 5 ersichtlich ist, tritt
die stärkste Änderung von V T bei niedrigen Werten von V SB auf,
was zur Folge hat, daß der Ausgangswiderstand in diesem Gebiet
niedriger ist.
Um diesen Rückwärtsvorspannungseffekt auf V T bei in Kaskode
angeordneter Belastung zu beseitigen, ist es erforderlich,
eine Spannung an die Gates der Belastungstransistoren anzulegen,
die sich in bezug auf die Änderung von V T in entgegengesetztem
Sinne ändert. Eine Schaltung zur Erzielung dieses
Ausgleichs zeigt Fig. 6.
Fig. 6 zeigt eine ausgeglichene Kaskodenbelastungsschaltung,
die eine Kaskodenbelastung enthält, die durch Verarmungs-
n-Kanal-MOS-Transistoren 32, 34 gebildet wird, deren B/L-
Verhältnisse 10/10 bzw. 125/7 betragen, während weiter
eine Ausgleichsschaltung vorgesehen ist, die einen Anreicherungs-n-Kanal-MOS-Transistor
36 mit einem B/L-Verhältnis
von 60/7 und einen Verarmungs-n-Kanal-MOS-Transistor 38
mit einem B/L-Verhältnis von 6/40 enthält. Die Transistoren
36, 38 sind in Kaskode angeordnet, dadurch, daß die Drain
des Transistors 36 mit der Source des Transistors 38 verbunden
ist und die Gates dieser Transistoren miteinander
verbunden sind. Die Gates der Transistoren 36 und 38 sind
aber mit der Source des Transistors 38 und der Drain des
Transistors 36 verbunden. Die Gates von allen vier Transistoren
sind miteinander verbunden und die Source des Transistors 36
ist mit der Source des Transistors 32 verbunden, die ihrerseits
mit einem Verstärkungstransistor 40 verbunden ist.
Die Drains der Transistoren 34, 38 sind mit einer Vorspannungsspeiseschiene
42 verbunden, die im dargestellten Beispiel
an +12 V liegt.
Die Wirkung der Belastungsschaltung nach Fig. 6 wird anhand
der I DS -V SB -Kurve der Fig. 7 beschrieben. Beim Fehlen
der durch die Transistoren 36, 38 gebildeten Ausgleichsschaltung
wäre die Kurve nach Fig. 7 der Kurve (b) der
Fig. 4 ähnlich, wodurch der Ausgangswiderstand von
100 bis 200 kΩ ungenügend wäre, um für den Verstärkungstransistor
40 eine genügend hohe Verstärkung von mehr
als 50 zu erhalten. Um den bei der Beschreibung der Fig. 3
bis 5 beschriebenen Rückwärtsvorspannungseffekt zu beseitigen,
wird ein niedriger Strom mittels des Transistors 38 dem
Transistor 36 zugeführt. Wie in Fig. 6 dargestellt ist,
weist der Transistor 36 ein großes B/L-Verhältnis von 60/7
auf, so daß der Spannungsabfall über diesem Transistor von
z. B. 1,3 V nur ein wenig größer als seine Schwellwertspannung
V TN von z. B. 1,0 V ist. Die Spannung von 1,3 V
über dem Transistor 36 wird den Gate-Elektroden der
Transistoren 32, 34 zugeführt. Bei zunehmender Source-
Substratspannung V SB nimmt die V TN des Transistors 36
und damit der Spannungsabfall über diesem Transistor zu.
Dieser Effekt gleicht auf ideale Weise den Effekt der
Änderung der V T des Transistors 32 mit der Source-Substratspannung
der V T des Transistors 32 mit der Source-Substratspannung
aus, so daß der Wert des Belastungswiderstandes
hoch, z. B. 1 MΩ oder höher, ist, obgleich der Gleichstromwiderstand
niedrig gehalten wird. In Fig. 7, die eine
berechnete graphische Darstellung ist, ist Überkompensation
bei niedrigen Werten von V SB aufgetreten, so daß die Kurve
ein Gebiet negativen Widerstandes aufweist. Das mittlere
Gebiet weist jedoch einen Widerstand von mindestens 1 MΩ
auf.
Wenn die ausgeglichene Belastung mit einem geeigneten
Verstärkungstransistor kombiniert wird, wird ein linearer
Verstärker mit Spannungsverstärkungen in der Größenordnung
von einigen Hundert für eine niedrige Speisevorspannung
von 12 bis 15 V erhalten.
Da die ausgeglichene Belastung MOS-Transistoren enthält,
kann sie leicht zusammen mit dem verbleibenden Teil
des Verstärkers als eine integrierte Schaltung hergestellt
werden. Die Verstärkungstransistoren können in Kaskode
angeordnete Transistorenpaare enthalten, die selber die
Stromverstärkungsstufen einer durch ein emittergekoppeltes
Transistorenpaar gebildeten Schaltung bilden. Eine derartige
Schaltung zeigt Fig. 8.
Die Schaltung nach Fig. 8 kann vorteilhafterweise als
drei Abschnitte enthaltend betrachtet werden, und zwar
einen Verstärkungsabschnitt 44, einen Abschnitt 46 zum
Zusammenfügen der ausgeglichenen Ausgangssignale der Abschnitte
44 und zum Zuführen dieser Signale zu einem Niederspannungsausgang,
sowie einen Niederspannungsausgangsabschnitt
48, dessen Ausgangssignal dazu benutzt werden
kann, eine logische Stufe direkt zu betreiben.
Der Abschnitt 44 enthält im wesentlichen einen durch ein
source-gekoppeltes Transistorenpaar gebildeten Verstärker
mit ausgeglichenen Kaskodenbelastung und ein Gleichtaktrückkopplungssystem
zur Einstellung des Gesamtemitterstroms.
Der Verstärker enthält Paare in Kaskode angeordneter
Verarmungs-n-Kanal-MOS-Transistoren 50, 52 und 54, 56.
Das Gate des Transistors 50 ist mit einer Eingangsklemme V IN
und das Gate des Transistors 54 ist mit einer anderen Eingangsklemme
IN verbunden. Die Gate-Elektroden der Transistoren
52, 56 sind mit einem gemeinsamen Sourcepunkt 58
verbunden, der an eine Vorspannungsschiene auf Erdpotential
mit Hilfe eines Anreicherungs-n-MOS-Transistors 62 angeschlossen
ist. Ausgeglichene Kaskodenbelastungen 64, 66
sind mit den Drainkreisen der Transistoren 52 bzw. 56 und
mit einer Vorspannungsspeiseschiene 68 auf einer V DD
von +15 V verbunden. Jede der Belastungen 64, 66 ist
im wesentlichen gleich der anhand der Fig. 6 beschriebenen
Belastung und diese Belastungen werden der Kürze wegen
nicht wieder beschrieben. Die abgeglichenen Ausgangssignale
des Verstärkers werden den Punkten 70, 72 in den
Drainkreisen der Transistoren 52 bzw. 56 entnommen.
Weil es schwierig ist, den Gesamtemitterstrom und die Belastungskennlinien
mit genügender Genauigkeit zu definieren,
um sicherzustellen, daß die Ausgänge richtig vorgespannt
werden, ist das Gleichtaktrückkopplungssystem angebracht.
Dieses Rückkopplungssystem enthält eine Stromspiegelschaltung
mit Anreicherungs-n-Kanal-MOS-Transistoren 74, 76,
wobei die Drain und das Gate des Transistors 76 zusammengeschaltet
werden. Ein Anreicherungs-n-Kanal-MOS-Transistor 78
ist mit seiner Source an die Drain des Transistors 76, mit
seiner Drain an die Schiene 68 und mit seinem Gate an eine
Bezugsspannungsspeiseleitung 80 angeschlossen, die beim
Betrieb mit einer Speisequelle von 9 V verbunden ist. Die
Bezugsspannung ist zur Einstellung des mittleren Punktes
des Verstärkers verwendet. Es sind zwei weitere Anreicherungs-
n-Kanal-MOS-Transistoren 82, 84 vorgesehen. Die Gates der
Transistoren 82, 84 sind mit den Drains der Transistoren 52
bzw. 56 verbunden, während die Drains der Transistoren 82, 84
miteinander und mit der Schiene 68 und ihre Source miteinander
und mit dem Verbindungspunkt der Drain des Transistors 74
und der Gate-Elektrode des Transistors 62 verbunden sind.
Dadurch, daß das B/L-Verhältnis der Transistoren 82 und 84
gleich der Hälfte dieses Verhältnisses des Transistors 78
gemacht wird, ist der Spannungsabfall (d)-(c) nahezu
gleich (a)-(b). Das B/L-Verhältnis des Transistors 62 ist
derart gewählt, daß die Spannung bei (b) nahezu gleich der
bei (c) ist. Mit Hilfe des beschriebenen Rückkopplungssystems
können große Änderungen in den Belastungskennlinien
durch kleine Änderungen in der Spannung bei (b) (und
somit bei (a)) wegen der großen Schleifenverstärkung der
Transistoren 82, 62 und des Belastungsnetzwerkes ausgeglichen
werden. Weiter üben wegen der abgeglichenen
Vorspannungsschaltung Änderungen in der V TO der Anreicherungstransistoren
62, 74, 76, 78, 82 und 84 nur einen
geringen Einfluß auf die Spannung am mittleren Punkt des
Verstärkers aus.
Der Abschnitt 46 enthält Anreicherungs-n-Kanal-MOS-Transistoren
88, 90, 92 und 94. Die Gates der Transistoren 88,
90, die spannungsverringernde Transistoren enthalten, sind
mit den Verstärkerausgangspunkten 70 bzw. 72 verbunden,
während ihre Drains mit der Schiene 68 und ihre Source
mit den Drains der Transistoren 92 bzw. 94 verbunden sind.
Die Transistoren 92, 94 bilden eine weitere Stromspiegelschaltung,
wobei die Drain und das Gate des Transistors 92
miteinander verbunden sind. Ein Niederspannungs-Eintaktausgangsssignal
wird der Drain des Transistors 94 entnommen.
Der Niederspannungsausgangsabschnitt 48 enthält einen
Anreicherungs-n-Kanal-Transistor 96, dessen Gate mit
der Drain des Transistors 94 und dessen Drain mit einer
Ausgangsklemme 100 verbunden ist. Die Drain ist weiter
mit einer Spannungsspeiseschiene 102 auf einer V CC von 5 V
mittels eines Verarmungs-n-Kanal-MOS-Transistors 98 verbunden,
dessen Gate mit seiner Source verbunden ist, so daß ein
Widerstand gebildet wird.
Aus einer Betrachtung der Ausgangskaskodeanordnung der
Transistoren 50, 52 und 54, 56 geht hervor, daß, wenn
z. B. der Emitterpunkt 58 an 2,5 V, d. h. (V TND -1 V), liegt,
wobei V TND die Schwellwertspannung für einen n-Kanal-Verarmungstransistor
ist, die Source des Transistors 52 oder 56
an einer die letzere Spannung um noch 2,5 V überschreitenden
Spannung liegt, wodurch die Mindestbetriebsspannung in der
Größenordnung von 5 V (2V TND -2 V) liegt. Wenn die angeglichenen
Eingänge an einer Erdpotential überschreitenden
Spannung (z. B. 1 V) liegen, werden der Emitterpunkt 58 und
somit die Mindestbetriebsspannung dementsprechend erhöht.
Da gefunden wurde, daß die ausgeglichene Kaskodenbelastung
über etwa V DD -4 V nicht wirken wird, ist es notwendig,
daß die Speisespannung 15 V ± 10% beträgt.
Die Änderung des Ausgangswiderstandes R out des Kaskodentransistors
52 (Fig. 8) als Funktion der Spannung am
Punkt 70 ist in Fig. 9(a) dargestellt. Die Kurve 9(b)
zeigt den Widerstand R load der ausgeglichenen Kaskodenbelastung
64 als Funktion der Spannung am Punkt 70, wenn
V DD gleich +15 V ist. Der wirksame Widerstand R E am Punkt 70
ist in Fig. 9 als eine gestrichelte Kurve dargestellt und
die Form der Kurve wird dadurch bestimmt, daß R load und R out
als eine Parallelschaltung betrachtet werden.
Weiter kann, weil die Transistoren 50 und 54 Verarmungstransistoren
sind, die dargestellte Schaltung mit Eingangspegeln
zwischen 0 und +3 V arbeiten. Fig. 10 zeigt die
Übertragungskennlinien des Verstärkers nach Fig. 8 für
Eingangsspannungspegel V IN von 0 V und +3 V. Wie dargestellt,
ändert eine Eingangspegeländerung von 3 V die wirksame
Änderung der Eingangsspannung α V input für eine Ausgangsspannung
von 1,6 V um etwa 0,01 mV. Der vollständige logische
Bereich (0,8 V-2,4 V) an der Ausgangsklemme 100 erfordert
eine Eingangsänderung von weniger als 0,2 mV.
Die Daten des Verstärkers nach Fig. 8 werden nachstehend
in Tabellenform gegeben.
So weist der durch das emittergekoppelte Transistorenpaar
gebildete Verstärker eine Verstärkung in der Größenordnung
von 1000 auf, während die Eingangs/Ausgangsverstärkung in
der Größenordnung von 660 liegt. Beim Betrieb auf einem
Eingangsspannungspegel von 0 ist die obere Spannungsausweichungsgrenze
10,6 V (d. h. 4,4 V unter der Speisespannung).
Die Spannung am mittleren Punkt des Verstärkers wird auf
8,9 V gesetzt, so daß die untere Spannungsausweichung
nur 6,9 V ist. Die Spannung am mittleren Punkt wird hoch
gesetzt, so daß, bei zunehmendem Eingangsspannungspegel,
die untere Ausweichungsgrenze nicht den Betrieb der Schaltung
verhindert. Bei einem Eingangsspannungspegel von +3 V ist
somit die untere Ausweichungsgrenze 7,8 V, aber dies
ist noch 1 V unter der Spannung am mittleren Punkt.
Die kurzzeitige Empfindlichkeit dieses Verstärkers für einen
nahezu augenblicklichen Eingangsspannungsbereich zwischen
V IN und IN (Fig. 8) von -1 mV bis zu +1 mV zum Zeitpunkt
= t 0 ist in Fig. 11 dargestellt. Die Kurven (a), (a′),
(e) und (f) beziehen sich auf die Spannungsänderungen an
den entsprechend bezeichneten Punkten in Fig. 8. Die Ansprechzeit
des Verstärkers ist 2,1 µsec, was einem - 3 dB-
Frequenzdurchlaßband von etwa 75 kHz äquivalent ist.
Der Vollständigkeit halber kann die Verstärkerschaltung
nach Fig. 8 dadurch abgeändert werden, daß die ausgeglichenen
Kaskodenbelastungen 64, 66 durch Kaskodenbelastungen der
in Fig. 3(b) dargestellten Art ersetzt werden. Der abgeänderte
Verstärker, der bei einer V DD von 12,0 V arbeitet,
weist eine Verstärkung des emittergekoppelten Verstärkungstransistorenpaares
in der Größenordnung von 80 und eine
Gesamtverstärkung in der Größenordnung von 50 auf.
Wenn hier von einem MOS-Transistor die Rede ist, ist dies
selbstverständlich in derart weitem Sinne aufzufassen, daß
dieser Ausdruck Anordnungen einschließt, bei denen die
Gate-Elektrode aus einem von einem Metall verschiedenen
Material, z. B. polykristallinem Silizium, besteht und
bei denen die Gate-Isolierschicht eine andere Zusammensetzung
als lediglich Siliziumoxid aufweist.
Claims (5)
1. Linearer Verstärker mit einer MOS-Transistorverstärkerstufe,
die eine Signaleingangs- und eine Signalausgangsschaltung
sowie eine in der Signalausgangsschaltung
angeordnete Belastungsschaltung enthält, wobei die
Belastungsschaltung in Kaskode angeordnet einen ersten
und einen zweiten Verarmungs-MOS-Transistor enthält,
dadurch gekennzeichnet, daß die Gate-Elektroden des
ersten und des zweiten Transistors miteinander und mit
einer parallel zu dieser Kaskodenschaltung geschalteten
Kompensationsschaltung verbunden sind, wobei die Kompensationsschaltung
einen Verarmungs-MOS-Transistor und einen
Anreicherungs-MOS-Transistor enthält, deren Gates miteinander
und mit den Gates des ersten und des zweiten Transistors
gekoppelt sind, wobei die Drain des Anreicherungstransistors
mit seinem Gate und mit der Source des
Verarmungstransistors gekoppelt ist.
2. Verstärker nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der erste und der zweite MOS-Transistor (32, 34) Verarmungs-n-Kanaltransistoren
sind.
3. Verstärker nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß die Transistorverstärkerstufe eine durch ein
sourcegekoppeltes Transistorpaar gebildete Verstärkerschaltung
ist, von der ein erster und ein zweiter Zweig
mit einer gemeinsamen Stromspeiseschaltung (62, 74) verbunden
sind, daß der erste und der zweite Zweig je ein Verstärkungselement
mit einer ausgeglichenen Kaskodenbelastungsschaltung
(64, 66) in der Ausgangsschaltung enthalten, und daß ein
Eingangssignal differentiell den Eingängen der Verstärkungselemente
zugeführt wird.
4. Verstärker nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die durch das emittergekoppelte Transistorenpaar
gebildete Verstärkerschaltung ein Gleichtaktrückkopplungssystem
enthält.
5. Verstärker nach Anspruch 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausgangsschaltungen des ersten und des
zweiten Zweiges mit einer Schaltung (46) verbunden sind,
die ihre Ausgangssignale zusammenfügt und ein einziges
Niederspannungs-Ausgangssignal erzeugt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
GB54306/77A GB1592800A (en) | 1977-12-30 | 1977-12-30 | Linear amplifier |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2855303A1 DE2855303A1 (de) | 1979-07-12 |
DE2855303C2 true DE2855303C2 (de) | 1987-07-30 |
Family
ID=10470593
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782855303 Granted DE2855303A1 (de) | 1977-12-30 | 1978-12-21 | Linearer verstaerker |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4247824A (de) |
JP (1) | JPS54100646A (de) |
CA (1) | CA1126827A (de) |
DE (1) | DE2855303A1 (de) |
FR (1) | FR2413818A1 (de) |
GB (1) | GB1592800A (de) |
IT (1) | IT1108266B (de) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1977
- 1977-12-30 GB GB54306/77A patent/GB1592800A/en not_active Expired
-
1978
- 1978-12-19 US US05/970,888 patent/US4247824A/en not_active Expired - Lifetime
- 1978-12-21 DE DE19782855303 patent/DE2855303A1/de active Granted
- 1978-12-27 FR FR7836494A patent/FR2413818A1/fr active Granted
- 1978-12-27 IT IT69955/78A patent/IT1108266B/it active
- 1978-12-27 CA CA318,671A patent/CA1126827A/en not_active Expired
- 1978-12-29 JP JP16449078A patent/JPS54100646A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54100646A (en) | 1979-08-08 |
GB1592800A (en) | 1981-07-08 |
FR2413818B1 (de) | 1984-09-21 |
CA1126827A (en) | 1982-06-29 |
DE2855303A1 (de) | 1979-07-12 |
IT7869955A0 (it) | 1978-12-27 |
IT1108266B (it) | 1985-12-02 |
JPH0520924B2 (de) | 1993-03-22 |
US4247824A (en) | 1981-01-27 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |