DE2204491B2 - Meßsteuerung einer Siliciumsäge über eine Hilfsspindel - Google Patents
Meßsteuerung einer Siliciumsäge über eine HilfsspindelInfo
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Description
ο richtung zum Schneiden von Halbleiterstäben, insbesondere Siüciumstäben in Scheiben von etwa 200 bis
1000 μτα Dicke mittels einer diamantbestückten Innenlochsäge,
weiche in ein Spannfutter gespannt ist, das durch ein Luft-, Gas- odor Flüssigkeitspolster reibungs-
is arm in einem Spannfutterlager getragen wird oder in
einem Wälzlager läuft und über einen kraftschlüssigen Antrieb in Rotation versetzt wird, wobei der Halbleiterstab
auf einem senkrecht zur Rotationsebene der Innenlochsäge beweglichen Zustellungsrntchanismus
befestigt ist, der außerdem in der Rotationsebene der Innenlochsäge beweglich ist, die mit einer Meßsteuerung
zur Einstellung der Schniilposiiiun der Zuteilvorrichtung
des Halbleiterstabes in Abhängigkeit von der Dicke der Halbleiterscheiben und der Schnittstärke des
Innenlochsägeblattes versehen ist, mit deren Hilfe die Schnittposition unmittelbar am Halbleiterstab gemessen
und in Abhängigkeit von der Differenz zwischen »Ist«- und »Soll-Wert« der Scheibendicke nachge'regelt
wird und die starre Verbindung des Halbleiterstabes mit
JO seinem Führungsfutter während des Einstellvorganges der Schnittposition gelöst wird.
Derartige Schneidvorrichtungen sind bekannt und z. B. in der deutschen Offenlegungsschrift 20 52 896
behandelt.
Sie liefern Halbleiterscheiben ausreichender Oberflächengüte, deren Dickenabweichungen vom Sollwert
aber infolge der nachstehend aufgeführten Eigenschaften des Schneid- und Zustellungsmechanismus zu groß
sind und weitere Arbeitsgänge zum Erreichen der
■to zulässigen Toleranzen von ■-: 5 μ t.-forderlich machen.
Eine bekannt gewordene Zustellungsart derartiger Schneidvorrichtungen mit Inncnlochsägen ist, eine
Spindel über eine Freilaufeinrichtung mit einer Kolben-Zahnstangen-Ritzel-Anordnung
um einen vorgegebe-
■f) nen Winkel zu drehen und diese Drehbewegung über
eine Mutter, mit der das Führungsfutter des Halbleiterstabes gekoppelt ist, wieder in eine geradlinige, axial zur
Spindel verlaufenden Bewegung zu übersetzen.
Allein aus der Zahl der verwendeten Übertragungs-
Allein aus der Zahl der verwendeten Übertragungs-
w glieder geht schon hervor, daß die Zustellungsgenauigkeit
ohne besondere Maßnahme nur in bestimmten, den geforderten Toleranzen nicht genügenden Grenzen
erreichbar ist.
Sie kann insbesondere dann nicht erreicht werden,
Sie kann insbesondere dann nicht erreicht werden,
■>r>
wenn zur Ausschaltung des »Spieles« das Ende der Übertragungskette, der Halbleiterstab über eine reibende
Verbindung mit einem Führungsfutter, das zur Fixierung der Schnittposition dient, verbunden ist. Dann
in Verbindung mit dem Spiel bzw. den Fertigungstole-
w> ranzen und den federnden Eigenschaften der Übertragungsglieder
der Zustelleinrichtung führt der Unterschied der Reibungskoeffizienten bei Haft- und
Gleitreibung der reibenden Verbindung zu Undefinierten, durcii die Beschleunigungs- bzw. Trägheitskräftc
hl hervorgerufene Ruhepositioncn der Schneidstelle (slipstick).
Diese Einflußgrößen führen zu Dickenabweichungen, die über den geforderten Toleranzen liegen und durch
weitere Bearbeitungsgänge korrigiert werden müssen.
Pa das Schneidprinzip mit diamantbestückter Innenlochsäge
weiters eine gewisse Toleranz der Schnittstärke infolge Abnutzung der Säge erwarten läßt, muß die
Zustellung von ihrer Mechanik her mit einer Toleranz von nur etwa 1 μπι erfolgen, um eine Toleranz der
Scheibendicke < 5 μπι zu erreichen,
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, beim Schneiden von Halbleiterscheiben, insbesondere Siliciumscheiben,
mit einer Stärke von 200 bis 1000 μπι aus
Halbleiterstäben bis zu etwa 500 mm Länge die Dickenabweichungen vom Sollwert auf weniger als
5 μπι zu reduzieren.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß eine Meßsteuerung zur Einstellung der Schnittposition der
Zustellvorrichtung des Halbleiterstabes in Abhängigkeit von der Dicke der Halbleiterscheiben und der
Schnittstärke des Innenlochsägeblattes vorgesehen ist,
mit deren Hilfe die Schnittposition unmittelbar am Halbleiterstab gemessen und in Abhängigkeit von der
Differenz zwischen »Ist-« und »Soll-Wert« der Scheibendicke nachgeregelt wird und die starre Verbindung
des Halbleiterstabes mit seinem Fuhrungsiitter während
des Einstellvorganges der Schnittposition gelöst wird.
Sie ist dadurch gekennzeichnet, daß die Meßsteuerung
aus einer Präzisionsmeßspindel von gleicher Länge wie die Zustellspindel der Schneidvorrichtung besteht
und über eine auf ihr laufenden Präzistonsmutter mit einem O-Indikator verbunden ist, welcher über einen am
zuzuschneidenden Halbleiterstab befestigten Meßarm die durch einen die Präzisionsspindel antreibenden
Schrittmotor vorgegebene Schnittposiüon des Halbleiterstabes feststellt, daß der 0-lndikator Ober eine
elektronische Auswerteinrichtung mit dem Motor der Zustellspindel und dem Lösungsmechanismus der
starren Verbindung des den Halbleiterstab tragenden Schlittens mit seinem Führungsfutter verbunden ist und
diese in Schnittposition einregelt, während die starre Verbindung des den Halbleiterstab tragenden Schlittens
mit seinem lührungsfutter gelöst ist
Dabei werden mittels einer Mc:ßvorrichtung die Abweichungen der Scheibendicke von ihrem Sollwert
ermittelt und über eine elektronische Auswerteinrichtung der Vorschub der Präzisionsmeßspindel auf den
Sollwert der Scheibendicke nachgestellt
Eine voitere Ausbildung der Meßsteuerung besteht
darin, daß die Präzisionsmeßspindel der Meßsteuerung durch eine kurze Präzisionsmikrometerschraube ersetzt
ist, die mit einer Mutter, die auf einer Hilfsspindel läuft,
und einem O-Indikator verbunden ist,daß die Präzisionsmikrometerschraube
über die Hilfsspindel und den mit ihr verbundenen O-Indikator in die Ausgangsposition
zur genauen Zustellung der Scheibendicke gebracht wird, und daß an dem am Halbleiterstab befestigten
Meßarm ein zweiter O-Indikator angebracht ist, mit
dessen Hilfe der Halbleiterstab in genaue Schnittposition eingeregelt wird, wobei mittels einer Meßeinrichtung
gemessene Abweichungen der Scheibendicke der Halbleiterscheiben über einen die Präzisionsmikrometerschraube
betätigenden Schrittmotor korrigiert werden. Die Meßeinrichtung zur Feststellung der
Abweichungen der Scheibendicke von ihrem Sollwert ist z. B. eine toleranzanzeigende Grenzlehre.
Mit dieser Meßeinrichtung werden die Vorteile erzielt, daß bei einer guten Oberflächengüte der
Halbleiterscheiben die Dickenabweichungen unter 5 μπι liegen, wodurch weitert /eitfordernde und komplizierte
ίο
Arbeitsgänge im Herstellungsprozeß erspart werden und der Prozeß einen höheren Automatisierungsgrad
erreicht
Außerdem werden an die Zustellungsspindel keine Präzisionsforderungen gestellt, da diese Forderungen
von der Meßspindel, die keine Kräfte zu übertragen hat,
oder der Mikrometerschraube der weiteren Ausbildung übernommen werden. Es können deshalb handelsübliche
Vorschubeinrichtungen für den Zustellmechanismus und die Meßsteuerung verwendet werden.
Die Erfindung wird nun anhand der Ausführungsbeispiele der Meßsteuerung in F i g. 1 und 2 näher erläutert
In
F i g. 1 ist der Teil der Schneidvorrichtung schematisch
dargestellt der von der Erfindung betroffen wird.
F i g. 2 stellt eine weitere Ausbildung der Erfindung dar.
Der Halbleiterstab t, das Führungsfutter 2, der Schlitten 3, die Einstellspindel 5 mit Laufmutter 4 und
Zustellvorrichtung 6 sind mit dem die Innenlochsäge tragenden Futter 17 und dem Futfrlager 18 Teile der
Vorrichtung, wie sie herkömmlich ist.
Erfindungsgemäß ist an den Schlitten 3 der Zustelleinrichtung ein Meßarm 7 für die Meßsteuerung
angebracht, der zur Einstellung der genauen Schnittposition "erwendet wird.
Mit Hilfe einer Präzisionsmeßspindel 8, die von einem
Schrittmotor 12 angetrieben wird, und etwa die gleiche Länge wie der zu sägende Halbleiterstab bzw. die
Führungsspindel hat, wird eine Präzkionsmutter 9, die auf der Spindel 8 läuft, um den Betrag in Längsrichtung
des Halbleiterstabes 1 verschoben, der der Halbleiterscheibendicke 16 und der Schnittbreite des Innenlochsägeblattes
27 entspricht Ein mit der Präzisionsmutter 9 starr verbundener O-Indikator 10 arbeitet auf dem
Meßarm 7 und setzt über einen elektronischen Auswerter 11 den Motor 26 der Zustelleinrichtung 6 und
damit über die Einstellspindel 5 und die Laufmutter 4 den Halbleiterstab 1 in Bewegung bis der Halbteiterstab
in Schnittposition gebracht ist, welche durch den O-Indikator auf etwa 1 μπι genau einreguliert werden
kern.
Vorausgesetzt ist dabei weiters, daß über den elektronischen Auswerter 11 und eine das Führungsfutter
2 lösende Vorrichtung 14 die starre Verbindung des Führungsfutters 2 mit dem den Halbleiterstab 1
tragenden Schlitten 3 für die Dauer des Einstellvorgang gelöst ist, (in F i g. 1 durch Doppelpfeile angedeutet) so
daß sich der Schlitten 3 mit Halbleiterstab 1 frei im Führungsmittel- bewegen kann und ein slip-stick
ausgeschaltet wird.
Nach Erreichen der Schnittposition wird die starre Verbindung des Führungsfutters mit dem Halbleiterstab
wieHerhergestellt und damit der Stab in Schnittposition arretiert.
Eventuelle Abweichungen von der Soll-Dicke der Halbleiterscheiben 16 durch Anutzung der innenlochsäge
und anderer mechanischer Einflüsse werden durch eine toleranzanzeigende Grenzwertlehre 15 mit elektronischer
Auswjrteinrichtung erfaßt und die Einstellung der Schnittposition über Schrittmotor 12 der
Meßspindel 8 der Meßsteuerung korrigiert.
Die mit dieser Meßsteuerung erreichbaren Dickenabweichungen liegen entsprechend der Aufgabe der
Erfindung unter 5 μπι. Hierbei ist die Meßspindel, die
keine Kräfte zu üi/ertragen hat, als Präzisionsspindel
ausgebildet und liefert das Einstellmaß als absolutes Maß und ist deshalb relativ aufwendig.
In Fig.2 ist ein Teil aus Fig. 1 hervorgehoben, der
gegenüber der anhand der F i g. 1 erläuterten Meßsteuerung den wesentlichen Vorteil bringt, daß das
Zustellungsmaß als relatives Maß vorgegeben wird und über einen Meßkopf 22, der aus einer Präzisionsmikrometerschraube
besteht, eine korrigierbare absolute Einstellung der Schnittposition einstellbar ist. Dabei ist
die Präzisionsmeßspinde! 8 nach Fig. I, mit welcher das
absolute Maß der Scheibendicke eingestellt wurde, durch eine Hilfspindel 20 ersetzt worden, auf der eine
Laufmutter 21 läuft, die mit der Mikrometerschraube 22 und einem O-Indikator 24 starr verbunden ist.
Ein weiterer O-Indikator 23 ist mit dem Meßarm 7 starr verbunden.
Durch Betätigen der Hilfsspindel 20, die etwa gleich lang wie der Halbleiterstab bzw. die Zustellspindel ist.
und Verfahren der Laufmutter 21 wird die Mikrometerschraube in Ausgangsposition des Einstellvorganges
gefahren, v?
mittels des
mittels des
s stif eine Genauigkeit "on ?>m l Jim
mit ihr verbundenen O-Indikators 24 ermöglicht wird, indem dieser den »Null«-Punkt beim
Berühren seines Fühlers mit dem Meßarm 7 bildet.
Geringfügige Abweichungen z. B. bis zu etwa 10 μπι
können im Auswerter 11 elektronisch berücksichtigt werden.
Anschließend wird der Halbleiterstab 1 über dessen Einstellmechanismus 6 in Schnittposition gefahren, die
mit einer Genauigkeit von etwa I μπι erreicht ist, sobald
der Fühler des 0-lndikators 23 die Mikrometerschraube
22 berührt
Hierbei werden die Dickenabweichungen der Scheiben, die infolge der Abnützung des Innenlochsägeblattes
und anderer mechanischer Einflüsse, z. B. des Antriebs entstehen und über eine toleranzanzeigende
Grenzwertlehre 15 erfaßt werden, über den Schrittmotor 25 der Mikrometerschraube ausreguliert.
Bei dieser letzten Ausbildung der Meßsteuerung kann die erforderliche Genauigkeit der Scheibendicke durch
den Einsatz normaler Werkzeuge und Lehren erreicht werden.
Claims (3)
1. Schneidvorrichtung zum Schneiden von Halbleiterstäben
(1). insbesondere Silicmmstäben in Scheiben von etwa 200 bis 1000 um Dicke mittels
einer diamantbestückten Innenlochsäge, welche in ein Spannfutter (17) gespannt ist, das durch ein Luft-,
Gas- oder Flüssigkeitspolster reibungsarm in einem Spannfutterlager (18) getragen wird oder in einem
Wälzlager läuft und über einen kraftschlüssigen Antrieb in Rotation versetzt wird, wobei der
Halbleiterstab (1) auf einem senkrecht zur Rotationsebene der Innenlochsäge beweglichen Zustellungsmechanismus
(2 bis 6) befestigt ist, der außerdem in der Rotationsebene der Innenlochsäge
beweglich ist, die mit einer Meßsteuerung zur Einstellung der Schnittposition der Zustellvorrichtung
des Halbleiterstabes in Abhängigkeit von der Dicke der Halbleiterscheiben und der Schnittstärke
des Innenlochsägeblattes versehen ist, mit deren Hilfe dieSdwittposition unmittelbar am Halbleiterstab
gemessen und in Abhängigkeit von der Differenz zwischen »Ist«- und »Soll-Wert« der
Scheibendicke nachgeregelt wird und die starre Verbindung des Halbleiterstabes mit seinem Führungsfutter
während des Einstellvorganges der Schnittposition gelöst wird, dadurch gekennzeichnet,
daß die Meßsteuerung aus einer Präzisionsmeßspindel (8) von gleicher Länge wie die
Zusteiispindel (5) der Schneidvorrichtung besteht und über eine auf ihr laufenden Präzisionsmutter (9)
mit einem 0 indikator (10) verbunden ist, welcher über einen am zuzuschneidenden Halbleiterstab (1)
befestigten Meßarm (7) die durch einen die Präzisionsspindel (8) antreibenden Schrittmotor (12)
vorgegebene Schnittposition des Halbleiterstabes (1) feststellt, daß der O-Indikator (10) über eine
elektronische Auswerteinrichtung (11) mit dem Motor (26) der Zustellspindel (S) und dem Lösungsmechanismus (14) der starren Verbindung des den
Halbleiterstab (1) tragenden Schlittens (3) mit seinem Führungsfutter (2) verbunden ist und diese in
Schnittposition einregelt, während die starre Verbindung des den Halbleiterstab (1) tragenden Schlittens
(3) mit seinem Führungsfutter (2) gelöst ist.
2. Schneidvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Präzisionsmeßspindel der
Meßsteuerung eine kurze Präzisionsmikrometerschraube (22) ist, die mit einer Mutter (21), die auf
einer Hilfsspindel (20) von der Länge der Zustellspindel
läuft und einem 0-Indikator (24) verbunden ist, daß die Präzisionsmikrometerschraube (22) Ober
die Hilfsspindel (20) und den mit ihr verbundenen O-Indikator (24) in die Ausgangsposition zur genauen
Zustellung der Schnittposition gebracht wird, daß an dem am Halbleiterstab befestigten Meßarm (7) ein
weiterer O-Indikator (23) angebracht ist, mit dessen Hilfe der Halbleitcrstab (1) in genaue Schnittposition
eingeregelt wird, wobei mittels einer toleranzanzel·
gendcn Grenzwertlehre (15) gemessene Abweichungen der Scheibendicke über den die Präzisionsmikrometerschraube
(22) betätigenden Schrittmotor (25) korrigiert werden.
3. Schneidvorrichtung nach Anspruch I oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß mittels einer Meßvorrichtung,
die aus einer toleranzanzeigenden Grenzwertlehre (15) besteht, die Abweichungen der
Scheibendicke von ihrem Sollwert ermittelt werden und über eine elektronische AHSwerteinrichtung der
Schritt der Präzisionsmeßspindel (8) bzw. der Mikrometerschraube (22) auf den Sollwert der
Scheibendicke nachgeregelt wird.
Priority Applications (4)
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Publications (3)
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4949700A (en) * | 1987-12-17 | 1990-08-21 | Tokyou Seimitsu Co., Ltd. | Ingot support device in slicing apparatus |
JPH0767692B2 (ja) * | 1989-09-07 | 1995-07-26 | 株式会社東京精密 | スライシングマシンの切断方法 |
JPH09508326A (ja) * | 1994-02-07 | 1997-08-26 | ストルエルス アクチェ セルスカプ | 試料から物質構造サンプルを切断するための装置 |
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Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3039235A (en) * | 1961-01-31 | 1962-06-19 | Hamco Mach & Elect Co | Cutting apparatus |
FR1294795A (fr) * | 1961-04-17 | 1962-06-01 | Landis Gendron S A | Dispositif d'avance très précis et son application à une machine à scier les monocristaux de silicium |
DE1217840B (de) * | 1961-07-24 | 1966-05-26 | Telefunken Patent | Innenlochsaegevorrichtung |
US3577861A (en) * | 1969-04-07 | 1971-05-11 | Kayex Corp | Transfer device for cutting apparatus |
-
1972
- 1972-01-31 DE DE19722204491 patent/DE2204491C3/de not_active Expired
- 1972-10-12 CH CH1493872A patent/CH545177A/de not_active IP Right Cessation
- 1972-12-18 GB GB5830172A patent/GB1394707A/en not_active Expired
-
1973
- 1973-01-25 FR FR7302602A patent/FR2170679A5/fr not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
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DE2204491C3 (de) | 1981-02-26 |
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FR2170679A5 (de) | 1973-09-14 |
GB1394707A (en) | 1975-05-21 |
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