DE1165677B - Schaltungsanordnung zum Pruefen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen - Google Patents

Schaltungsanordnung zum Pruefen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen

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DE1165677B
DE1165677B DES80238A DES0080238A DE1165677B DE 1165677 B DE1165677 B DE 1165677B DE S80238 A DES80238 A DE S80238A DE S0080238 A DES0080238 A DE S0080238A DE 1165677 B DE1165677 B DE 1165677B
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

BUNDESREPUBLIK DEUTSCHLAND
DEUTSCHES
PATENTAMT
AUSLEGESCHRIFT
Internat. Kl.: H 04 m
Deutsche KL: 21 a3-28/01
Nummer: 1 165 677
Aktenzeichen: S 80238 VIII a / 21 a3
Anmeldetag: 4. Juli 1962
Auslegetag: 19. März 1964
Die Erfindung bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, in welchen zu Prüfzwecken Prüfleitungen mit Prüfschaltmitteln zu Prüfstromkreisen durchgeschaltet werden und in welchen durch das Größenverhältnis von Blind- und Realteil des komplexen Widerstandes von Prüfleitungen deren Belegungszustand als Freizustand oder Sperrzustand angezeigt ist.
Es sind bereits Prüfschaltungen mit derartigen Merkmalen bekannt, in welchen bezüglich der Prüfmethode bestimmte Probleme auftreten, wie z. B. in Schaltungsanordnungen für Fernmeldeanlagen, in welchen an Prüfleitungen deren Freizustand durch ein erstes Spannungspotential und deren Sperrzustand durch ein zweites Spannungspotential angezeigt wird und in welchen darüber hinaus frei werdende Prüfleitungen auslösender Verbindungen möglicherweise für eine bestimmte Dauer zwar bereits das erste, dem Freizustand entsprechende Spannungspotential führen, obwohl aber der Auslösevorgang noch nicht beendet ist und mithin der Freizustand noch nicht herbeigeführt ist. In diesen Schaltungen weist bei Prüfung mittels Prüfschaltmitteln einerseits von freien Prüfleitungen und andererseits von frei werdenden Prüfleitungen auslösender Verbindungen die jeweilige Änderung des Spannungsabfalles an Widerständen der Prüfschaltmittel infolge der dabei unterschiedlichen komplexen Widerstände von Prüfleitungen unterschiedliche Steilheit auf.
In bekannten Schaltungen wurde zum Zwecke der Unterscheidung von einerseits freien Prüfleitungen und andererseits frei werdenden Prüfleitungen auslösender Verbindungen eine Prüfverzögerung vorgesehen, durch welche der Beginn jedes Prüfvorganges bis nach Ende der jeweiligen bestimmten Dauer hinausgeschoben wird, während deren Doppelprüfgefahr besteht. Eine derartige Prüfverzögerung ist jedoch für Prüfschaltungen in zentralen Schaltgliedern sehr nachteilig.
Darüber hinaus wurde bereits eine Schaltungsanordnung für Nachprüfzwecke vorgeschlagen, in welcher frei werdende Prüfleitungen auslösender Verbindungen von freien Prüfleitungen, die nicht im Auslösestadium sind, unterschieden werden können. Hierzu sind durch Verzögerungsglieder bestimmte Zeitpunkte für den Beginn und das Ende des Prüfvorganges festgelegt; innerhalb des dadurch begrenzten Zeitraumes findet die Prüfung durch Spannungsanschaltung an die zu prüfende Vermittlungseinrichtung statt; dieser Zeitraum ist dabei so festgelegt, daß er in den durch die in der Prüfleitung enthaltenen Schaltungsanordnung zum Prüfen von Leitungen in Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen
Anmelder:
Siemens & Halske Aktiengesellschaft,
Berlin und München,
München 2, Wittelsbacherplatz 2
Als Erfinder benannt:
Josef Röhrig, München
Bündwiderstände dynamisch verlaufenden Spannungsanstieg fällt. Ferner ist ein Spannungsschwellwert festgelegt, welchen die Spannung an den Prüfschaltmitteln innerhalb des genannten Zeitraumes bei Prüfung einer freien Prüfleitung überschreitet und welchen sie dagegen bei Prüfung einer frei werdenden Prüfleitung einer auslösenden Verbindung nicht überschreitet. Der Belegungszustand einer Prüfleitung wird hierbei also durch die fakultative Überschreitung des Spannungsschwellwertes unter Ausnutzung der Charakteristik des Spannungsverlaufes innerhalb des Zeitraumes des dynamischen Stromanstieges erkennbar gemacht, welcher bei Prüfung frei werdender Prüfleitungen auslösender Verbindungen stattfindet.
Zwecks Verkürzung des Prüfvorganges z. B. in zentralen Schaltgliedern ist es vorteilhaft, den Prüfvorgang von Verzögerungsgliedern unabhängig zu machen.
Deshalb wird mit der vorliegenden Erfindung eine andere Lösung angegeben, welche dadurch gekennzeichnet ist, daß der Belegungszustand von zu prüfenden Prüfleitungen an der Steilheit der sich bei Schließung von Prüfstromkreisen an den Prüfschaltmitteln entsprechend dem jeweiligen Belegungszustand ergebenden Spannungsänderung durch Spannung nach der Zeit differenzierende Prüfschaltmittel erkennbar ist. Durch die Erfindung wird insbesondere ermöglicht, daß in derartigen Schaltungsanordnungen, in welchen an Prüfleitungen deren Freizustand durch ein erstes Spannungspotential und deren Sperrzustand durch ein zweites Spannungspotential angezeigt wird und in welchen darüber hinaus frei werdende Prüfleitungen auslösender Verbindungen möglicherweise das erste, dem Freizustand entsprechende Spannungspotential führen, der Freizustand von Prüfleitungen durch die Höhe des Spannungspotentials derselben prüfende und nach Feststellung des ersten Spannungs-
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potentials die Änderung des Spannungspotentials infolge Differenzierung der Spannung nach der Zeit ermittelnde Prüfschaltmittel erkennbar ist.
Die Erfindung hat den Vorteil, daß durch Auswertung der Steilheit des Stromanstieges in Prüfkreisen ein Auswerteergebnis bereits vor Beendigung des Stromanstieges ermittelt werden kann.
Ein besonderer Vorteil der Erfindung ist die Möglichkeit, frei werdende, nicht zu belegende Prüfleitungen auslösender Verbindungen, deren Prüfspannung nach Schließung eines Prüfstromkreises für eine bestimmte Dauer gleich der freier, belegbarer Prüfleitungen sein kann, von diesen bereits während des Stromanstieges im Prüfstromkreis zu unterscheiden. Dadurch kann der Prüfvorgang wesentlich verkürzt werden.
Ein weiterer wesentlicher Vorteil der Erfindung liegt darin, daß Prüfschaltungen dieser Art gegen Störbeeinflussung durch Versorgungsspannungen (z. B. 50 Hz vom öffentlichen Versorgungsnetz oder 161YaHz vom Eisenbahnversorgungsnetz) sehr unempfindlich sind, da die Steilheit der Kurvenformen dieser Störspannungen relativ viel geringer ist als die der Steilheit des Stromanstieges bei derartigen Prüfschaltvorgängen.
In den Fig. 1 und 2 ist in nur wesentlich zum Verständnis der Erfindung beitragenden Bestandteilen ein Ausführungsbeispiel von ihr gezeigt, auf welches dieselbe keineswegs beschränkt ist. Dabei zeigen Fig. 1 und 2 gemeinsam eine Schaltungsanordnung, welche durch Zusammenfügung von F i g. 1 und 2 am Schaltpunkt α ein Ganzes darstellt.
Relais C und Widerstand R stellen in Reihe geschaltet den Belegungsstromkreis dar, an welchen über die Prüfleitung PL durch Wähler W, z. B. Drehwähler, Relaiskoppelfelder od. dgl., die in F i g. 1 und 2 gezeigte Prüfschaltung angeschaltet wird.
In bekannter Weise ist Relais C in diesem Belegungsstromkreis abgefallen, wenn die zu diesem führende Prüfleitung PL frei, d. h. belegbar ist. Seine Wicklung II ist dann über Kontakt c kurzgeschlossen.
Im Besetztzustand dagegen ist Relais C über die Prüfleitung PL, einen Wähler W, über Prüfwiderstände u. dgl. mit Sperrpotential, z. B. Erdpotential, verbunden, ist dadurch erregt und angesprochen, so daß seine Wicklung II, die im Ruhezustand kurzgeschlossen ist, in den genannten Stromkreis einbezogen ist.
Im Auslösezustand ist dieser Stromkreis zwar z.B. am WählerW aufgetrennt, RelaisC ist aber noch nicht abgefallen, und seine Wicklung II ist infolgedessen noch nicht kurzgeschlossen. In diesem Zustand klingt die Erregung des Relais C ab. Sein induktiver Widerstand ist infolge Fehlens des Kurzschlußkreises zu der Zeit größer als im Freizustand. Bei Wiedereinschaltung eines Stromkreises über ein derart abfallendes Relais ist dieses infolge der noch vorhandenen Teilerregung schneller durcherregt als bei Belegung der Prüfleitung nach Abfall des Relais C und Kurzschließung seiner Wicklung II über den Kontakt c.
Bei Schließung eines Prüf Stromkreises z. B. über den Wähler W wird, wie bereits in einer Schaltungsanordnung vorgeschlagen, ein Spannungsteiler aus dem Widerstand R, dem Relais C der Drossel Dr und dem Widerstand R1 gebildet. Die Drossel Dr und Widerstand R1 sind unter Berücksichtigung der elektrischen Werte des Widerstandes R und des Relais C so bemessen und möglicherweise eingestellt, daß bei Durchschaltung dieses Prüfkreises mit einem ausgelösten Belegungsrelais C sich am Prüfpunkt ein während des Stromanstieges in diesem Stromkreis nahezu gleichbleibendes Potential einstellt. Der Spannungsanstieg am Prüfpunkt χ weist dabei eine relativ große Steilheit auf.
Wird dagegen ein derartiger Prüfstromkreis über eine zur Zeit frei werdende Prüfleitung (und BeIegungsstromkreis) einer auslösenden Verbindung geschlossen, so steigt die negative Spannung am Prüfpunkt χ infolge des relativ viel größeren induktiven Widerstandes des Relais C gegenüber dem induktiven Widerstand der Drossel Dr mit einer wesentlich geringeren Steilheit an; die negative Spannung am Prüfpunkt χ steigt aber infolge der Tatsache, daß das Relais C bereits vorerregt ist, dagegen die Drossel Dr nicht, und daß diese außerdem noch gedämpft ist (da sie ein abgefallenes Belegungsrelais C nachbilden soll), kurzzeitig auf einen höheren als den Endwert an, welcher durch die Werte der Gleichstromwiderstände von Belegungsrelais C und Prüfdrossel Dr bestimmt ist, da der Endwert der Erregung beim ungedämpften und vorerregten Belegungsrelais schneller erreicht ist als bei der gedämpften Relaisdrossel Dr. Dieser genannte Endwert liegt unterhalb des kleinsten negativen Spannungspotentials, welches noch als Freipotential angesehen wird. Die Spannung, auf welche das Potential am Prüfpunkt aber kurzzeitig ansteigt, ist größer und liegt im Bereich des Freipotentials, wird aber nicht als solches gewertet durch Berücksichtigung der Steilheit des Spannungsanstieges.
Im Ruhezustand der Schaltung, d. h. wenn die Prüfschaltung über den Prüfpunkt χ nicht durch einen Wähler an eine freie Prüfleitung PL angeschaltet ist, sind in der Prüfschaltung verschiedene Spannungsteilerstromkreise wirksam:
+4,
R8 ,Erde Γ2 R7
R6 _24 ;
Dl, RIl, -60
2. Erde, Al, Dr, (x), Rl, RA, GA, Ä10, -24 ; RlS, i?20
4. Erde, R16, R 25, R13, - 24 ; 5. Erde, R14, R12, -60.
Wird nun ein Prüfstromkreis über eine freie Prüfleitung PL z. B. durch Wähler W geschlossen, in welcher also das Belegungsrelais C abgefallen ist, so entsteht dadurch zunächst ein Spannungsteiler:
6. Erde, R1, Dr, (χ), W, PL, c, C I, R, - 60.
Am Prüfpunkt χ stellt sich ein Spannungspotential ein, welches während des Stromanstieges im Prüf-Stromkreis nahezu gleichbleibt, da die Prüfdrossel Dr annähernd gleiche elektrische Eigenschaften aufweist wie das Belegungsrelais C. Die Einstellung dieses Spannungspotentials, von Erdpotential ausgehend, weist eine relativ große Steilheit auf. Dieses als Freipotential auszuwertende Spannungspotential wird auf den Transistor Π wirksam. Die Steilheit des Spannungsanstieges wird durch den Kondensator C1 etwas abgeflacht, um den Einfluß von Störspannungsspitzen,
welche ζ. B. infolge von Knackgeräuschen od. dgl. entstehen können, unwirksam zu machen und um die Steilheit auf ein definiertes Maß herabzusetzen. Dabei bleibt diese Steilheit jedoch trotzdem relativ groß. Das am Transistor Tl wirksam werdende Freipotential steigt z. B. über 24 V an. Der Stromkreis 2 wird dadurch unwirksam, da der Gleichrichter G 4 nun in Sperrichtungbeansprucht wird. Stattdessen wird aber der Transistor Γ1 leitend und es wird folgender Stromkreis wirksam:
7. -2A1GS, Tl,
i?14, £rde
R127
G6',~RU
-60
In diesem ensteht zwischen der Diode D1 und dem Gleichrichter G 6 ein geringeres Teilspannungspotential als am gleichen Punkt im Stromkreis 1, wodurch die Zenerspannung der Diode unterschritten wird, so daß dieser Zweig des Stromkreises 1 stromlos wird. Infolgedessen steigt die Basisspannung des Transistors T 2 an bis auf + 4 V und er wird dadurch gesperrt; d. h., daß der Stromkreis 1 zu folgendem Stromkreis reduziert wird:
8. Erde,Ä7,i?6, -24. *5
Nach Bildung des Stromkreises 7 wird entsprechend dem weiteren negativen Spannungsanstieg am Priifpunkt χ über den Wert hinaus, bei welchem der Transistor Π leitend wird, und innerhalb eines bestimmten, relativ kleinen Spannungsbereiches, im folgenden als Prüfspannungsbereich bezeichnet, am Prüfpunkt χ (ζ. B. 1 V) die Teilspannung am Punkt α, welche zuvor durch den Stromkreis 5 bestimmt war, herabgesetzt. Die Steilheit der Spannungsherabsetzung am Punkt α entspricht der Steilheit des Spannungsanstieges am Prüfpunkt χ innerhalb des genannten Prüfspannungsbereiches. Durch diese Spannungsherabsetzung am Punkt α wird über den Kondensator C 3 ein in seiner Amplitude durch die Steilheit der Spannungsherabsetzung bestimmter Stromimpuls auf die in der F i g. 2 gezeigte Kippschaltung übertragen und auf sie wirksam (s. unten). Der Kondensator hat dabei eine differenzierende Wirkung. Die Spannung am Prüfpunkt χ steigt über den genannten Prüf spannungsbereich hinaus an, was aber auf die Kippschaltung keine weitere Wirkung hat.
Bei Prüfung einer frei werdenden Prüfleitung einer auslösenden Verbindung ist die Steilheit des negativen Spannungsanstieges am Prüfpunkt χ wesentlich kleiner infolge der differenzierenden Wirkung des Kondensators C 3; infolgedessen ist auch der zur Kippschaltung in F i g. 2 übertragene Stromimpuls wesentlich kleiner und auf sie nicht wirksam (s. unten).
Über nicht gezeigte Stromkreise liegt im Ruhezustand am Punkt y Erdpotential, wodurch bewirkt wird, daß bei Einleitung des Prüfvorganges vor Durchschaltung des Prüf Stromkreises der Transistor Γ 3 der Kippschaltung stromdurchflossen ist (s. Stromkreis 3). Im Ruhezustand liegt die Diode D 2 sperrend zwischen Erdpotential (über Widerstand R15) und einem durch den Stromkreis 3 bestimmten Teilspannungspotential. Bei Anschaltung der Prüfschaltung an eine frei werdende Prüfleitung PL bewirkt der über den Kondensator C 3 übertragene Stromimpuls am Widerstand R15 einen Spannungsabfall, und zwar ebenfalls als Impuls. Je nach Höhe dieses Spannungsabfalles, welcher sich zu der im Ruhezustand an der Diode D 3 anliegenden, diese in Sperrichtung beanspruchenden Spannung addiert, wird die Zenerspannung der Diode D 3 überschritten oder nicht. Dementsprechend wird dieser Impuls auf die Kippschaltung wirksam, welche unter anderem aus den Transistoren T 3, T 4 besteht, und wird folglich auch über den Transistor T 5 auf das Relais P wirksam.
Bei Anschaltung der Prüfschaltung über den Priifpunkt χ an eine frei werdende Prüfleitung einer auslösenden Verbindung ist die Steilheit des Spannungsanstieges am Priifpunkt χ und die der Spannungsherabsetzung am Punkt α gering. Der über den Kondensator C 3 übertragene Impuls wird infolgedessen so klein, daß die Zenerspannung der Diode nicht überschritten wird und der Impuls nicht weiter zur Wirkung kommt. Relais P spricht infolgedessen nicht an.
Wird die Prüfschaltung dagegen an eine freie Prüfleitung angeschaltet, so ist die Steilheit sowohl des Spannungsanstieges am Priifpunkt χ als auch die Spannungsherabsetzung am Punkt α und dementsprechend die Amplitude des über den Kondensator C 3 übertragenen Impulses so groß, daß die Zenerspannung durch den am Widerstand R15 zusätzlich auftretenden Spannungsabfall während des Impulses überschritten wird. Während dieser Überschreitung wird die Spannung der Basis des Transistors Γ 3 positiver, wodurch Stromkreis 3 unwirksam und reduziert wird auf folgenden Stromkreis:
9. Erde, R18, R 20, R 21.
Die an der Basis des Transistors TA vorhandene Spannung ist im Stromkreis 9 negativer als im Stromkreis 3, so daß Transistor Γ 4 leitend wird. Es entsteht folgender Stromkreis:
10. Erde,
RlT, T4
R16, -R 25
,R13, -24.
Über die in diesem Stromkreis am Widerstand R16 abfallende Teilspannung ist Transistor Γ 3 gesperrt. Im Stromkreis 9 fällt an der Diode D 3 eine negative Teilspannung ab, durch welche die Zenerspannung überschritten wird. Diese Teilspannüng wird auf den bis dahin durch + 4 V-Potential gesperrten Transistor Γ 5 wirksam, wodurch dieser leitend wird. Relais P spricht im folgenden Stromkreis an:
11. Erde, Γ5, P,-24.
Relais P schließt nach Ansprechen mit seinem Kontakt P folgenden Stromkreis:
12. Erde, p,
G4, Tl, G5, R6, —24
GZ1JVl, {x)~ W, PL, c, CI, R, —60.
Rl, Dr
Dadurch wird die Prüfleitung gesperrt. Als Sperrpotential ist auf ihr das am Gleichrichter G 3 und am WiderstandR 2 abfallende Teilspannungspotential wirksam. Ferner bleibt Transistor Π leitend, da an seinem Emitter über Gleichrichter G 4 Erdpotential und an seiner Basis negatives Teilspannungspotential anliegt, welches am Widerstand R 7 im Stromkreis 12 abfällt.
Bei Prüfung einer Prüfleitung über ein Kabel wirkt sich dessen Kapazität auf den Prüfvorgang aus, die
sich wie ein parallel zum Belegungsstromkreis (Belegungsrelais C und Widerstand R) liegender Kondensator bemerkbar macht.
Bei Schließung eines Prüfstromkreises über Kabel zu einer freien belegbaren Prüfleitung steigt die Spannung am Prüfpunkt χ zunächst höher an als bei Prüfung ohne Mitwirken eines Kabels. Nach relativ kurzer Zeit sinkt die Spannung am Prüfpunkt auf einen Wert ab, welcher der Prüfung ohne Mitwirken eines Kabels entspricht. Durchläuft die Spannung in ansteigender Richtung am Prüfpunkt χ den Prüfspannungsbereich, so wird in bereits beschriebener Weise die Kippschaltung wirksam auf das Relais P. Bei Absinken der Spannung am Prüfpunkt χ auf den der Prüfung ohne Kabel entsprechenden Wert, wobei der genannte Prüfspannungsbereich nicht durchlaufen wird, bleibt infolgedessen die Kippschaltung wirksam auf das Relais P, welches anspricht und mit Kontakt ρ Sperrpotential an die Prüfleitung anschaltet.
Bei Schließung eines Prüfstromkreises über Kabel ao zu einer frei werdenden Prüfleitung einer auslösenden Verbindung steigt ebenfalls die Spannung am Prüfpunkt χ zunächst über den Prüfspannungsbereich hinaus an; durchläuft sie diesen, so wird ebenfalls die Kippschaltung wirksam auf das Relais P, welches zunächst erregt wird. Die Spannung am Prüfpunkt χ sinkt auf einen der Prüfung ohne Kabel auf eine frei werdende Prüfleitung einer auslösenden Verbindung entsprechenden Wert ab und durchläuft dabei in fallender Richtung den Prüfspannungsbereich. Der Spannungsverlauf innerhalb des Prüfspannungsbereiches weist eine relativ große negative Steilheit auf. Relais P hat bis dahin noch nicht angesprochen. Stromkreis 11 wird unwirksam. Stromkreis 1 wird wieder wirksam.
Die Spannung am Punkt α steigt wieder an auf den dem Ruhezustand entsprechenden Wert. Die Steilheit der Spannungserhöhung am Punkt α entspricht der Steilheit der Spannungsherabsetzung am Prüfpunkt χ innerhalb des Prüfspannungsbereiches.
Durch diese Spannungserhöhung am Punkt α wird ein in seiner Amplitude durch die Steilheit der Spannungserhöhung bestimmter Stromimpuls auf die in F i g. 2 gezeigte Kippschaltung übertragen. Diese Vorgänge der Differenzierung durch den Kondensator C 3 entsprechen den bereits beschriebenen Vorgängen und unterscheiden sich lediglich durch die Stromrichtung bzw. Polarität. Durch den der Spannungserhöhung am Punkt α entsprechenden negativen Impuls an der Basis des Transistors T3 wird dieser leitend. Damit wird Stromkreis 3 wieder wirksam, und infolgedessen die Basis des Transistors Γ 4 positiver, welcher dadurch gesperrt wird. Die Stromkreise 10 und 11 werden wieder unwirksam; die Erregung des Relais P ist somit ausgeschaltet. Anschließend steigt die Spannung am Prüfpunkt χ wieder an und durchläuft dabei den Prüfspannungsbereich. Relais P wird dabei nicht wieder eingeschaltet infolge der, wie bereits beschrieben, zu geringen Steilheit des Spannungsanstieges am Prüfpunkt x.
Die Ansprechzeit des Relais P ist vorzugsweise größer als die zuvor beschriebene Zeit der Erregung, durch welche es nicht ansprechen soll.
Für den Fall, daß diese Forderung nicht erfüllt ist und Relais P nach Absinken der Prüf spannung und Durchschreitung des Prüfspannungsbereiches in fallender Richtung noch anspricht infolge seiner kurzzeitigen Erregung und seiner elektromechanischen Trägheit, kann trotz Schließung des Kontaktes ρ der Transistor T1, welcher inzwischen unwirksam geschaltet wurde, nicht wieder durchlässig geschaltet werden, da durch geeignete Bemessung der Gleichrichter G 3 und G 4 eine negativere Spannung am Emitter des Transistors Tl liegt als an seiner Basis (vgl. Stromkreis 12). Die Prüfschaltung, insbesondere der Transistor T1 ist durch Schließen des Kontaktes ρ nicht wirksam werdend, sondern nur wirksam bleibend schaltbar. Durch diese Maßnahme wird, wie bereits durch eine andere Schaltungsanordnung vorgeschlagen wurde, auch die Gefahrenzeit des Doppelprüfens wesentlich herabgesetzt.
Die angegebene Höhe von Spannungswerten dienen lediglich der anschaulichen Darstellung und haben mit dem Gegenstand der Erfindung nichts ursächlich zu tun. Es ist ferner möglich, die Erfindung durch andersartige Schaltungen mit andersartigen Bauteilen, wie z. B. Relais, Elektronenröhren u. dgl., zu realisieren.

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Schaltungsanordnung für Fernmelde-, insbesondere Fernsprechanlagen, in welchen zu Prüfzwecken Prüflekungen mit Prüfschaltmitteln zu Prüfstromkreisen durchgeschaltet werden, und in welchen durch das jeweilige Größenverhältois von Blind- und Realteil des komplexen Widerstandes von freien oder gesperrten Prüfleitungen deren Belegungszustand als Freizustand oder Sperrzustand angezeigt ist, dadurchgekennze ich net, daß der Belegungszustand von zu prüfenden Prüfleitungen an der Steilheit der sich bei Schließung von Prüfstromkreisen an den Prüfschaltmitteln entsprechend dem jeweiligen Belegungszustand ergebenden Spannungsänderung durch Spannung nach der Zeit differenzierende Prüfschaltmittel erkennbar ist.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1 für Fernmeldeanlagen, in welchen an Prüfleitungen deren Freizustand durch ein erstes Spannungspotential und deren Sperrzustand durch ein zweites Spannungspotential angezeigt wird und in welchen frei werdende, nicht belegbare Prüfleitungen auslösender Verbindungen möglicherweise das erste Spannungspotential führen und in welchen bei Prüfung mittels Prüfschaltmitteln einerseits von freien Prüfleitungen und andererseits von frei werdenden Prüfleitungen auslösender Verbindungen die jeweilige Änderung des Spannungsabfalles an Widerständen der Prüfschaltmittel infolge der dabei unterschiedlichen komplexen Widerstände von Prüflekungen unterschiedliche Steilheit aufweist, dadurch gekennzeichnet, daß der Freizustand von Prüfleitungen durch die Höhe des Spannungspotentials derselben prüfende und nach Feststellung des ersten Spannungspotentials die Änderung des Spannungspotentials infolge Differenzierung der Spannung nach der Zeit ermittelnde Prüfschaltmittel erkennbar ist.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
409 539/144 3.64 © Bundesdruckerei Berlin
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