CN116626473A - 一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取待测试的车规级主控芯片，每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。通过本发明的技术方案，能够实现对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质。
背景技术
车规级芯片指技术标准达到车规级，可应用于汽车控制的芯片。车规级是适用于汽车电子元件的规格标准等级之一。车规级芯片是应用到汽车中的芯片，不同于消费品和工业品，该类芯片对可靠性的要求要高一些，例如工作温度范围、工作稳定性、不良率等。产品等级差异主要是通过复杂的芯片设计和生产流程控制来实现，从而在工作温度范围，稳定性等方面表现出差异化。
现有技术中的车辆控制器设计在对车规级芯片进行测试时，对汽车上使用的功能，在一定外界环境干扰下进行功能测试，主要覆盖汽车所用芯片功能及控制器所用功能。
现有技术存在如下缺陷：现有的技术只针对车辆使用的功能进行测试，没有在芯片全工况的状态下对主控芯片进行测试，因为测试的局限性，导致芯片的使用范围及能力局限，导致车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差。
发明内容
本发明提供了一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质，可以解决先有技术获得的车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差的问题。
第一方面，提供了一种车规级主控芯片的测试方法，该方法包括：
获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
第二方面，本发明提供了一种车规级主控芯片的测试装置，该装置包括：
主控芯片获取模块，用于获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
全工况运行模块，用于将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
状态信息评估模块，用于在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
第三方面，本发明提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的车规级主控芯片的测试方法。
第四方面，本发明提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的车规级主控芯片的测试方法。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测试的车规级主控芯片，车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集，每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路，之后将预设的目标测试函数，分别加载至车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行，最后在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果，解决了先有技术获得的车规级主控芯片测试结果的全面性与准确性较差的问题，实现了对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例一提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图；
图2a是根据本发明实施例二提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图；
图2b是根据本发明实施例二提供的方法所得到的一种车规级主控芯片的函数验证方法算法框架；
图2c是根据本发明实施例二提供的方法所得到的一种喷油信号的信号示意图；
图3是根据本发明实施例三提供的一种车规级主控芯片的测试装置的结构示意图；
图4是是实现本发明实施例的车规级主控芯片的测试方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。
需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
实施例一
图1为本发明实施例一提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图，本实施例可适用于对车规级主控芯片进行性能测试的情况，该方法可以由车规级主控芯片的测试装置来执行，该车规级主控芯片的测试装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该车规级主控芯片的测试装置可配置于具有车规级主控芯片测试功能的终端或服务器中。如图1所示，该方法包括：
S110、获取待测试的车规级主控芯片。
其中，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路。
其中，所述车规级主控芯片可以包括：控制类芯片，功率类芯片与传感器芯片等；进一步的，所述车规级主控芯片包括：处理器、***控制器与***配置模块、故障管理器与芯片内部功能模块；进一步的，所述车规级芯片可以为国产车规级芯片。
在本实施例中，所述硬件***组件集可以包括：同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线,通用定时器,随机存取存储器，以太网连接器,即时通讯器,实动态频率变换器以及只读存储器等。
具体的，在本实施例中，所述目标测试函数为车辆的初始角计算函数；
所述车规级主控芯片包括第一计算核、第二计算核以及第三计算核；与第一计算核对应的第一硬件***组件集包括随机存取存储器，同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线，以及通用定时器；与第二计算核对应的第二硬件***组件集包括通用定时器，随机存取存储器，以太网连接器以及即时通讯器；与第三计算核对应的第三硬件***组件集包括通用定时器，同步外设接口器，实动态频率变换器以及只读存储器；第一计算核与匹配的硬件***组件集组合得到整车控制电路，第二计算核与匹配的硬件***组件集组合得到电机控制电路，第三计算核与匹配的硬件***组件集组合得到发动机控制电路。
其中，所述同步外设接口器可以用于实现单片机与各种外设设备以串行的方式进行通信以交换信息；所述通信控制器可以为在数据通信数据中控制数据传输的通信接口设备；所述控制器域网可以用于在车载各电子控制装置之间交换信息，形成汽车电子控制网络；所述以太网连接器可以实现以太网与汽车的通信连接；所述只读存储器用于预先存储信息的读出。
S120、将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行。
其中，所述的目标测试函数可以为电机控制器初始角位置计算函数。
进一步的，所述车规级主控芯片的全工况运行为：当前车规级主控芯片为满负荷状态运行，所述车规级主控芯片中包含的全部资源均被调用的工作状态；在本实施例中，通过实现车规级主控芯片的全工况运行，可以实现所述车规级主控芯片所包含的所有硬件以及软件资源的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
在本实施例中，在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的过程中，还包括：对所述车规级主控芯片中包括的各元器件中注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境。
在本实施例中，通过对所述车规级主控芯片注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境的操作，可以对所述车规级主控芯片在干扰环境下的芯片运行情况进行测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性；具体的，所述高温测试环境可以为温度60℃以及60℃以上的高温环境。
S130、在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
其中，所述测试结果可以包括：所述目标测试函数的计算结果正确，测试成功，或所述目标测试函数的计算结果错误，测试失败。
具体的，根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果之后，还包括：根据预设的读写频率对所述车规级主控芯片进行数据读写测试，并将所述读写测试的测试结果进行记录；根据所述测试结果获取与所述目标主控芯片匹配的读写测试结果。
在本实施例中，具体的，对所述车规级主控芯片的各个CPU(Central ProcessingUnit，中央处理器)的独立的数据存储区进行周期性的定时读写；示例性的，可以为每秒写入一次读取一次，分别写入0x00，0x5A，0xA5以及0xFF四组数据，并将读取的数据进行正确性的判断，即判断所述读取的数据是否为0x00，0x5A，0xA5以及0xFF四组数据并得到判断结果，之后将所述判断结果传递给控制器外部的记录部分，需要注意的是，所述读写次数应不小于手册规定的存储区域读写次数。通过本实施例所述的方法，可以对所述车规级主控芯片的各个CPU的数据存储性能进行测试，以提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测试的车规级主控芯片，车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集，每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路，之后将预设的目标测试函数，分别加载至车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行，最后在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果，实现了对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
实施例二
图2a为本发明实施例二提供的一种车规级主控芯片的测试方法的流程图，本实施例以上述实施例为基础进行细化，在本实施例中具体是对将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的方法进行补充。
如图2a所示，该方法包括：
S210、获取待测试的车规级主控芯片，执行S220与S230。
其中，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路。
S220、将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行。
S230、向第一计算核输入发动机的齿轮信号，向第二计算核输入车速信号以及以太网通信信号，以及向第三计算核输入旋变信号。
其中，所述目标测试函数是为了验证芯片功能单独设计的计算函数，其主要功能为发动机提前角计算和喷油驱动波形计算、整车控制的车速信号采集、网络数据转发和高低边驱动设置、电机信号的旋变信号采集以及三相电机驱动。其中第一计算核主要考核随机存取存储器，同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线，以及通用定时器的调度，第二计算核主要考核通用定时器，随机存取存储器，以太网连接器以及即时通讯器的调度，第三计算核主要考核通用定时器，同步外设接口器，实动态频率变换器以及只读存储器的调度；其中，所述通用定时器较为复杂，分为多个功能模块，故由三个计算核。三个计算核之间需要传递车速信号，并将递车速信号存放至各个CPU对应的随机存取存储器中，以确保总线传输的稳定性和数据安全性；进一步的，对于外部信号注入，需要给第一计算核注入发动机的齿轮信号，并判断第一计算核计算得到的喷油信号是否满足齿轮输入信号的要求；进一步的，给第二计算核注入车速信号以及以太网通信信号，并判断计算得到的输出信号和从第一计算核以及第三计算核中得到的转发数据，之后第三计算核注入旋变信号，并判断所生成的三相驱动信号正确性。
S240、在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
具体的，在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，包括：
实时检测与第一计算核对应的整车控制电路输出的喷油信号是否为满足预设的齿轮输入信号要求的提前角数据；实时检测与第二计算核对应的电机控制电路输出的信号是否为满足预设阈值要求的车速与扭矩数据；实时检测与第二计算核对应的发动机控制电路输出的信号是否为满足预设正确率要求的转速数据。
具体的，在本实施例中，给第一计算核注入发动机的齿轮信号，并判断第一计算核计算得到的喷油信号是否满足齿轮输入信号要求的提前角数据；进一步的，给第二计算核注入车速信号以及以太网通信信号，时检测与第二计算核对应的电机控制电路输出的信号是否为满足预设阈值要求的车速与扭矩数据，并时检测与第二计算核对应的发动机控制电路输出的信号是否为满足预设正确率要求的转速数据，之后向第三计算核注入旋变信号，并判断所生成的三相驱动信号正确性。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测试的车规级主控芯片，车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集，每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路，之后将预设的目标测试函数，分别加载至车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行，最后在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果，实现了对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
具体实施例
为了更清楚的表述本发明实施例提供的技术方案，本实施例将一种根据本实施例得到的一种具体的实施场景进行简单介绍。
如图2b所示，为所述车规级主控芯片的函数验证方法算法框架。
其中，如图2b所示的GTM为本实施例中对应的通用定时器，所述SPI为本实施例中对应的同步外设接口器，所述CCU为本实施例中对应的通信控制器，所述CAN为本实施例中对应控制器域网，所述I2C为本实施例中对应的同步串行总线，所述GPIO为本实施例中对应的随机存取存储器，所述ETH为本实施例中对应的以太网连接器，所述RAM为本实施例中对应的随机存取存储器，所述MSN为为本实施例中对应的即时通讯器，所述FADC为本实施例中对应的实动态频率变换器，所述ROM为本实施例中对应的只读存储器。
其中，所述目标测试函数是为了验证芯片功能单独设计的计算函数，其主要功能为发动机提前角计算和喷油驱动波形计算、整车控制的车速信号采集、网络数据转发和高低边驱动设置、电机信号的旋变信号采集以及三相电机驱动。其中第一计算核主要考核随机存取存储器，同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线，以及通用定时器的调度，第二计算核主要考核通用定时器，随机存取存储器，以太网连接器以及即时通讯器的调度，第三计算核主要考核通用定时器，同步外设接口器，实动态频率变换器以及只读存储器的调度；其中，所述通用定时器较为复杂，分为多个功能模块，故由三个计算核。三个计算核之间需要传递车速信号，并将递车速信号存放至各个CPU对应的随机存取存储器中，以确保总线传输的稳定性和数据安全性；进一步的，对于外部信号注入，需要给第一计算核注入发动机的齿轮信号，并判断第一计算核计算得到的喷油信号是否满足齿轮输入信号的要求；进一步的，给第二计算核注入车速信号以及以太网通信信号，并判断计算得到的输出信号和从第一计算核以及第三计算核中得到的转发数据，之后第三计算核注入旋变信号，并判断所生成的三相驱动信号正确性。
示例性的，如图2c所示为上述步骤中第一计算核注入发动机的齿轮信号，并通过第一计算核计算得到的喷油信号示例图。可选的，第二计算核与第三计算核的工作原理类似，区别在于第二计算核主要对车速信号、发动机转速信号、电机转速信号、扭矩信号、驱动信号和车载以太网信号进行数据计算，点计算核主要对旋变信号和三相电机驱动信号进行计算。
实施例三
图3为本发明实施例三提供的一种车规级主控芯片的测试装置的结构示意图。
如图3所示，该装置包括：
主控芯片获取模块310，用于获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
全工况运行模块320，用于将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
状态信息评估模块330，用于在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
本发明实施例的技术方案，通过获取待测试的车规级主控芯片，车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集，每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路，之后将预设的目标测试函数，分别加载至车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行，最后在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果，实现了对车规级主控芯片的全工况状态下的性能测试，提高了车规级主控芯片测试的全面性与准确性。
在上述实施例的基础上，所述车规级主控芯片的测试装置，还包括：
测试环境创建模块，用于在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的过程中，对所述车规级主控芯片中包括的各元器件中注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境。
在上述实施例的基础上，全工况运行模块320，还包括：
第一信号输入单元，用于向第一计算核输入发动机的齿轮信号；
第二信号输入单元，用于向第二计算核输入车速信号以及以太网通信信号；
第三信号输入单元，用于向第三计算核输入旋变信号。
在上述实施例的基础上，状态信息评估模块330，包括：
第一检测单元，用于实时检测与第一计算核对应的整车控制电路输出的喷油信号是否为满足预设的齿轮输入信号要求的提前角数据；
第二检测单元，用于实时检测与第二计算核对应的电机控制电路输出的信号是否为满足预设阈值要求的车速与扭矩数据；
第三检测单元，用于实时检测与第二计算核对应的发动机控制电路输出的信号是否为满足预设正确率要求的转速数据。
在上述实施例的基础上，所述车规级主控芯片的测试装置，还包括
读写测试模块，用于根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果之后，根据预设的读写频率对所述车规级主控芯片进行数据读写测试，并将所述读写测试的测试结果进行记录；根据所述测试结果获取与所述目标主控芯片匹配的读写测试结果。
本发明实施例所提供的车规级主控芯片的测试装置可执行本发明任意实施例所提供的车规级主控芯片的测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。
实施例四
图4示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。
如图4所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。
电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。
处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如车规级主控芯片的测试方法。
相应的，该方法包括：
获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
在一些实施例中，车规级主控芯片的测试方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的车规级主控芯片的测试方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行车规级主控芯片的测试方法。
本文中以上描述的***和技术的各种实施方式可以在数字电子电路***、集成电路***、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上***的***(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程***上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储***、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储***、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行***、装置或设备使用或与指令执行***、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体***、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的***和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的***和技术实施在包括后台部件的计算***(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算***(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算***(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的***和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算***中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将***的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。
计算***可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。
应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。
Claims (10)
1.一种车规级主控芯片的测试方法，其特征在于，包括：
获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的过程中，还包括：
对所述车规级主控芯片中包括的各元器件中注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标测试函数为车辆的初始角计算函数；
所述车规级主控芯片包括第一计算核、第二计算核以及第三计算核；
与第一计算核对应的第一硬件***组件集包括随机存取存储器，同步外设接口器、通信控制器，控制器域网，同步串行总线，以及通用定时器；
与第二计算核对应的第二硬件***组件集包括通用定时器，随机存取存储器，以太网连接器以及即时通讯器；
与第三计算核对应的第三硬件***组件集包括通用定时器，同步外设接口器，实动态频率变换器以及只读存储器；
第一计算核与匹配的硬件***组件集组合得到整车控制电路，第二计算核与匹配的硬件***组件集组合得到电机控制电路，第三计算核与匹配的硬件***组件集组合得到发动机控制电路。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的同时，还包括：
向第一计算核输入发动机的齿轮信号；
向第二计算核输入车速信号以及以太网通信信号；以及
向第三计算核输入旋变信号。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，包括：
实时检测与第一计算核对应的整车控制电路输出的喷油信号是否为满足预设的齿轮输入信号要求的提前角数据；
实时检测与第二计算核对应的电机控制电路输出的信号是否为满足预设阈值要求的车速与扭矩数据；
实时检测与第二计算核对应的发动机控制电路输出的信号是否为满足预设正确率要求的转速数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果之后，还包括：
根据预设的读写频率对所述车规级主控芯片进行数据读写测试，并将所述读写测试的测试结果进行记录；
根据所述测试结果获取与所述目标主控芯片匹配的读写测试结果。
7.一种车规级主控芯片的测试装置，其特征在于，包括：
主控芯片获取模块，用于获取待测试的车规级主控芯片，所述车规级主控芯片包括多个计算核，以及与每个计算核分别对应的硬件***组件集；每个计算核与匹配的硬件***组件集组合得到设定的控制电路；
全工况运行模块，用于将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行，以供各计算核调用对应的硬件***组件集中的全部硬件***组件实施计算，实现车规级主控芯片的全工况运行；
状态信息评估模块，用于在车规级主控芯片的全工况运行过程中，实时检测每个控制电路的运行状态信息，并根据所述运行状态信息，获取所述车规级主控芯片的测试结果。
8.一种车规级主控芯片的测试装置，其特征在于，还包括：
测试环境创建模块，用于在将预设的目标测试函数，分别加载至所述车规级主控芯片中的各计算核中执行的过程中，对所述车规级主控芯片中包括的各元器件中注入高温测试环境，和/或温度冲击测试环境。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
至少一个处理器；以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-6中任一项所述的车规级主控芯片的测试方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的车规级主控芯片的测试方法。
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| CN202310670067.5A CN116626473A (zh) | 2023-06-07 | 2023-06-07 | 一种车规级主控芯片的测试方法、装置、设备及介质 |
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| CN116908659A (zh) * | 2023-09-12 | 2023-10-20 | 江苏祥和电子科技有限公司 | 车规级封装焊点可靠性测试方法及*** |
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