CN107683020A - 一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置,该柔性电路板中的第二绑定区,包括:多个接触衬垫,以及至少一个测试衬垫组;多个接触衬垫用于与第一绑定区中对应的多个接触电极分别进行绑定连接;测试衬垫组,用于与第一绑定区中对应的测试电极组进行绑定连接;测试衬垫组包括多个测试衬垫,各测试衬垫用于与对应的测试电极进行绑定连接;测试衬垫组还用于在第一绑定区和第二绑定区绑定后,通过检测测试衬垫与对应的测试电极之间的通断状态,判断多个接触衬垫和多个接触电极的绑定状态。本发明实施例提供的柔性电路板,通过在第二绑定区中设置测试衬垫组,后续柔性电路板与显示面板绑定后,可以有效快速的检测绑定效果。

Description

一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤指一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置。
背景技术
随着显示技术的不断发展,显示屏或触摸屏已经广泛应用于人们的生活中,其中,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)具有体积小、功耗低、无辐射等特点,有机电致发光器件(Organic Light-Emitting Diode,OLED)具有自发光、反应快、视角广、亮度高、色彩艳、轻薄等优点。
现有技术中,显示面板的绑定区域包括多个接触电极(pad),柔性电路板上的绑定区域包括多个接触衬垫(pin),显示屏或触摸屏的绑定(bonding)制程,一般需要通过各向异性的导电胶(Anisotropic Conductive Film,ACF),将柔性电路板(Flexible PrintedCircuit,FPC)上的接触衬垫(pin)与显示面板上的接触电极(pad)绑定到一起。然而,绑定制程通常由于温度、压力以及对位工艺等条件不当,会导致绑定后,显示面板上的部分或全部接触电极与柔性电路板上的接触衬垫开路,或者出现相邻的接触电极或相邻的接触衬垫短路。
通常在FPC上的元件区域中可以焊接一些元器件,例如二极管等,焊接有元器件的FPC可以表示为FPCA(Flexible Printed Circuit Assembly),将显示面板和柔性电路板绑定后,对于带有元器件的柔性电路板(FPCA)无法通过测试通道电阻来判断绑定状态,即便是不带有元器件的简易FPC,也需要通过万用表扎柔性电路板上的接触衬垫(也叫金手指),以判断绑定效果,这种检测绑定效果的方式,非常容易扎破接触衬垫。
发明内容
本发明实施例提供一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置,能够在一定程度上实现对显示面板和柔性电路板绑定效果的有效检测。
第一方面,本发明实施例提供了一种柔性电路板,包括:用于与所述显示面板上的第一绑定区进行绑定连接的第二绑定区;其中,
所述第二绑定区,包括:多个接触衬垫,以及至少一个测试衬垫组;
多个所述接触衬垫与所述柔性电路板上的信号线对应连接,且用于与所述第一绑定区中对应的多个接触电极分别进行绑定连接;
所述测试衬垫组,用于与所述第一绑定区中对应的测试电极组进行绑定连接;
所述测试衬垫组包括多个测试衬垫,所述测试电极组包括多个测试电极,各所述测试衬垫用于与对应的测试电极进行绑定连接;
所述测试衬垫组还用于在所述第一绑定区和所述第二绑定区绑定后,通过检测所述测试衬垫与对应的所述测试电极之间的通断状态,判断所述多个所述接触衬垫和多个所述接触电极的绑定状态。
第二方面,本发明实施例提供了一种显示面板,包括:衬底基板,位于所述衬底基板上的第一绑定区,以及如权利要求1所述的柔性电路板;其中,
所述第一绑定区与所述柔性电路板上的第二绑定区绑定连接;
所述第一绑定区,包括:多个与所述显示面板上的信号线对应连接的接触电极,以及至少一个测试电极组;
所述测试电极组包括多个测试电极,各所述测试电极用于与所述第二绑定区中对应的测试衬垫进行绑定连接;
所述测试电极组,用于通过检测所述测试电极与对应的所述测试衬垫之间的通断状态,判断多个所述接触衬垫和多个所述接触电极的绑定状态。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,每一个所述测试电极组中,至少存在两个相互连接的所述测试电极,且至少存在两个相互断开的所述测试电极,且对应所述测试衬垫组中对应的所述测试衬垫为悬空设置;或,
每一个所述测试衬垫组中,至少存在两个相互连接的所述测试衬垫,且至少存在两个相互断开的所述测试衬垫,且对应的所述测试电极组中对应所述测试电极为悬空设置。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,所述第一绑定区中的所述接触电极和所述测试电极位于同一行或同一列,所述测试电极与所述接触电极的大小和形状一致;
所述第二绑定区中的所述接触衬垫和所述测试衬垫位于同一行或同一列,且所述测试衬垫与所述接触衬垫的大小和形状一致。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,位于同一行或同一列的各所述测试电极和各所述接触电极中相邻电极之间间距相等;
位于同一行或同一列的各所述测试衬垫和各所述接触衬垫中相邻衬垫之间间距相等。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,所述第一绑定区,还包括:位于所述接触电极和所述测试电极构成的一行或一列的两端的至少一个对位电极;
所述第二绑定区,还包括:位于所述接触衬垫和所述测试衬垫构成的一行或一列的两端的至少一个对位衬垫。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,所述第一绑定区,包括至少三组所述测试电极组;
各所述测试电极组分别位于所述第一绑定区的中间位置以及两端位置;
所述第二绑定区,包括至少三组对应的所述测试衬垫组;
各所述测试衬垫组分别位于所述第二绑定区的中间位置以及两端位置。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,所述测试电极组包括三个所述测试电极,所述两个相互连接的所述测试电极为相间隔的两个所述测试电极;或,
所述测试衬垫组包括三个所述测试衬垫,所述两个相互连接的所述测试衬垫为相间隔的两个所述测试衬垫。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述显示面板中,所述测试电极组中的各所述测试电极为悬空设置,所述第一绑定区还包括:与所述测试电极一一对应连接的第一测试端子,所述第一测试端子通过导线与对应的所述测试电极连接;或,
所述测试衬垫组中的各所述测试衬垫为悬空设置,所述第二绑定区还包括:与所述测试衬垫一一对应连接的第二测试端子,所述第二测试端子通过导线与对应的所述测试衬垫连接。
第三方面,本发明实施例提供了一种上述显示面板的检测方法,每一个所述测试电极组中,至少存在两个相互连接的所述测试电极,且至少存在两个相互断开的所述测试电极,且对应所述测试衬垫组中对应所述测试衬垫为悬空设置;
所述检测方法,包括:
检测相互连接的测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第一连接状态;
检测相互断开的测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第二连接状态;
根据所述第一连接状态和所述第二连接状态,判断所述接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若所述第一连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定开路;若所述第二连接状态为导通,则所述绑定状态为绑定短路;若所述第一连接状态为导通,且所述第二连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定良好。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述检测方法中,所述第二绑定区,还包括:与所述测试衬垫一一对应连接的第二测试端子;
所述检测相互连接的测试电极对应的两个测试衬垫之间的第一连接状态,包括:
检测相互连接的所述测试电极对应的两个所述第二测试端子之间的连接状态;
所述检测相互断开的所述测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第二连接状态,包括:
检测相互断开的所述测试电极对应的两个所述第二测试端子之间的连接状态。
第四方面,本发明实施例提供了一种上述显示面板的检测方法,每一个所述测试衬垫组中,至少存在两个相互连接的所述测试衬垫,且至少存在两个相互断开的所述测试衬垫,且对应所述测试衬垫组中对应所述测试衬垫为悬空设置;
所述检测方法,包括:
检测相互连接的测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第一连接状态;
检测相互断开的测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第二连接状态;
根据所述第一连接状态和所述第二连接状态,判断所述接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若所述第一连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定开路;若所述第二连接状态为导通,则所述绑定状态为绑定短路;若所述第一连接状态为导通,且所述第二连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定良好。
在一种可能的实现方式中,在本发明实施例提供的上述检测方法中,所述第一绑定区,还包括:与所述测试电极一一对应连接的第一测试端子;
所述检测相互连接的测试衬垫对应的两个测试电极之间的第一连接状态,包括:
检测相互连接的所述测试衬垫对应的两个所述第一测试端子之间的连接状态;
所述检测相互断开的所述测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第二连接状态,包括:
检测相互断开的所述测试衬垫对应的两个所述第一测试端子之间的连接状态。
第五方面,本发实施例提供了一种显示装置,包括:上述显示面板。
本发明有益效果如下:
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置,该柔性电路板,包括:用于与显示面板上的第一绑定区进行绑定连接的第二绑定区;其中,第二绑定区,包括:多个接触衬垫,以及至少一个测试衬垫组;多个接触衬垫与柔性电路板上的信号线对应连接,且用于与第一绑定区中对应的多个接触电极分别进行绑定连接;测试衬垫组,用于与第一绑定区中对应的测试电极组进行绑定连接;测试衬垫组包括多个测试衬垫,测试电极组包括多个测试电极,各测试衬垫用于与对应的测试电极进行绑定连接;测试衬垫组还用于在第一绑定区和第二绑定区绑定后,通过检测测试衬垫与对应的测试电极之间的通断状态,判断多个接触衬垫和多个接触电极的绑定状态。本发明实施例提供的柔性电路板,通过在第二绑定区中设置测试衬垫组,后续柔性电路板与显示面板绑定后,可以通过检测测试衬垫与对应的测试电极之间的通断状态,来判断显示面板与柔性电路板之间的绑定状态,因而,可以有效快速的检测绑定效果,且实现工艺简单,无需增加额外的工艺制程。
附图说明
图1为本发明实施例提供的柔性电路板的结构示意图之一;
图2为本发明实施例提供的柔性电路板的结构示意图之二;
图3为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之一;
图4为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之二;
图5为本发明实施例提供的显示面板的结构示意图之三;
图6为本发明实施例提供的柔性电路板的结构示意图之三;
图7a为绑定后的显示面板的结构示意图;
图7b为图7a中的局部放大图;
图8为本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法流程图之一;
图9为本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法流程图之二;
其中,10、衬底基板;11、接触电极;12、测试电极组;121、测试电极;13、接触衬垫;14、测试衬垫组;141、测试衬垫;15、第一测试端子;16、第二测试端子;17、对位电极;18;对位衬垫;201、第一绑定区;202、第二绑定区。
具体实施方式
针对现有技术中存在的不能有效地检测绑定效果的问题,本发明实施例提供了显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置。
下面结合附图,对本发明实施例提供的显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置的具体实施方式进行详细地说明。附图中各部分的大小和形状不反映真实比例,目的只是示意说明本发明内容。
本发明实施例中,图1和图2分别为应用于显示面板的柔性电路板的结构示意图,图3为与图1或图2所示的柔性电路板对应的显示面板的结构示意图;图4和图5为显示面板的结构示意图,图6为与图4或图5所示的显示面板对应的柔性电路板的结构示意图;图7a为图4所示的显示面板与图6所示的柔性电路板绑定后的结构示意图,图7b为图7a的局部放大示意图。
第一方面,本发明实施例提供了一种应用于显示面板的柔性电路板,如图1~图3所示,上述柔性电路板,包括:用于与显示面板上的第一绑定区201进行绑定连接的第二绑定区202;其中,
第二绑定区202,包括:多个接触衬垫13,以及至少一个测试衬垫组14;
多个接触衬垫13与柔性电路板上的信号线对应连接,且用于与第一绑定区201中对应的多个接触电极11分别进行绑定连接;
测试衬垫组14,用于与第一绑定区201中对应的测试电极组12进行绑定连接;
测试衬垫组14包括多个测试衬垫141,测试电极组12包括多个测试电极121,各测试衬垫141用于与对应的测试电极121进行绑定连接;
测试衬垫组14还用于在第一绑定区201和第二绑定区202绑定后,通过检测测试衬垫141与对应的测试电极121之间的通断状态,判断多个接触衬垫13和多个接触电极11的绑定状态。
本发明实施例提供的柔性电路板,通过在第二绑定区中设置测试衬垫组,后续柔性电路板与显示面板绑定后,可以通过检测测试衬垫与对应的测试电极之间的通断状态,来判断显示面板与柔性电路板之间的绑定状态,因而,可以有效快速的检测绑定效果,且实现工艺简单,无需增加额外的工艺制程。
如图1和图2所示,柔性电路板上的第二绑定区202一般位于柔性电路板的边缘,如图3所示,显示面板上的第一绑定区201一般位于显示面板的边缘,这样便于将第二绑定区202与第一绑定区201进行绑定。柔性电路板上的接触衬垫13一般与柔性电路板内部的信号线对应连接,显示面板上的接触电极11一般与显示面板内部的信号线对应连接,这样将接触电极11与对应的接触衬垫13进行绑定后,就可以将显示面板上的信号线与柔性电路板上的信号线对应连接。
在具体实施时,显示面板上的接触电极11与柔性电路板上的接触衬垫13是通过各向异性的导电胶(ACF)绑定在一起的,在特定的温度和电压下,导电胶中的导电粒子才能***正常,使接触电极11与对应的接触衬垫13绑定良好,因此,接触电极11与对应的接触衬垫13之间的绑定效果,由绑定过程中的温度、压力以及对位等工艺条件决定,由于在绑定过程中,显示面板上所有的接触电极11是在相同的工艺条件下,与柔性电路板上对应的接触衬垫13绑定的,因而,只要检测到其中一组接触电极11对应的接触衬垫13之间的绑定状态,就能得到所有的接触电极11与对应的接触衬垫13之间的绑定状态。因此,本发明实施例中,可以通过检测测试衬垫141与对应的测试电极121之间的通断状态,来判断显示面板与柔性电路板之间的绑定状态。
第二方面,本发明实施例提供了一种显示面板,如图3所示(为了更清晰的示意第一绑定区201的结构,图3中并未示出将要绑定于显示面板上的柔性电路板),包括:衬底基板10,位于衬底基板10上的第一绑定区201,以及第一方面中的上述柔性电路板;其中,
第一绑定区201与柔性电路板上的第二绑定区202绑定连接;
第一绑定区201,包括:多个与显示面板上的信号线对应连接的接触电极11,以及至少一个测试电极组12;
测试电极组12包括多个测试电极121,各测试电极121用于与第二绑定区202中对应的测试衬垫141进行绑定连接;
测试电极组12,用于通过检测测试电极121与对应的测试衬垫141之间的通断状态,判断多个接触衬垫13和多个接触电极11的绑定状态。
本发明实施例提供的显示面板,该显示面板中的第一绑定区201域中设有测试电极组12,柔性电路板中的第二绑定区202中设有测试衬垫组14,柔性电路板与显示面板绑定后,可以通过检测测试衬垫141与对应的测试电极121之间的通断状态,来判断显示面板与柔性电路板之间的绑定状态,因而,可以有效快速的检测绑定效果,且实现工艺简单,无需增加额外的工艺制程。
具体地,本发明实施例提供的上述显示面板中,至少包括以下两种方式设置测试电极组12以及对应的测试衬垫组14的结构:
方式一:
参照图4和图5,每一个测试电极组12中,至少存在两个相互连接的测试电极121,且至少存在两个相互断开的测试电极121,且对应的测试衬垫组14中对应测试衬垫141为悬空设置(如图6所示)。
具体地,每一个测试电极组12中,至少包括三个测试电极121,才能满足至少存在两个相互连接的测试电极121,以及至少存在两个相互断开的测试电极121,而且对应的柔性电路板中对应的测试衬垫141为悬空设置,因而在显示面板上的测试电极组12中的测试电极121,与柔性电路板中对应的测试衬垫141绑定之后,可以通过检测测试衬垫141之间的电阻,来判断测试电极121与对应的测试衬垫141之间的绑定状态,以得到显示面板上的接触端子与柔性电路板上对应的接触衬垫13之间的绑定状态。
应该说明的是,本发明实施例中,“悬空设置”可以理解为,不和信号线连接,即在使用过程中不会施加任何信号。在本发明实施例中,测试衬垫141为悬空设置,从而在第二绑定区202中增加测试衬垫141后,不会对接触衬垫13中的信号产生影响,同理,后续测试电极121也可以设置为悬空设置,从而不会对接触电极11中的信号产生影响。
方式二:参照图1和图2,每一个测试衬垫组14中,至少存在两个相互连接的测试衬垫141,且至少存在两个相互断开的测试衬垫141,且对应测试电极组12中对应测试电极121为悬空设置(如图3所示)。
具体地,每一个测试衬垫组14中,至少包括三个测试衬垫141,才能满足至少存在两个相互连接的测试衬垫141,以及至少存在两个相互断开的测试衬垫141,而且对应的显示面板中对应的测试电极121为悬空设置,因而在显示面板上的测试电极组12中的测试电极121,与柔性电路板中对应的测试衬垫141绑定之后,可以通过检测测试电极121之间的电阻,来判断测试衬垫141与对应的测试电极121之间的绑定状态,以得到柔性电路板上的接触衬垫13与上对应的显示面板上的接触电极11之间的绑定状态。
在实际应用中,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图5和图6所示,第一绑定区201中的接触电极11和测试电极121位于同一行或同一列,测试电极121与接触电极11的大小和形状一致;
在具体实施时,通过将柔性电路板上的接触衬垫13与显示面板上的接触电极11绑定到一起,将柔性电路板上的信号线与显示面板上的信号线对应连接,将第一绑定区201中的接触电极11和测试电极121设置为位于同一行或同一列,对应的也可以将柔性电路板上对应的接触端子和测试端子设置为同一行或同一列,这样在绑定过程中,接触电极11与对应的接触衬垫13之间,以及测试电极121与对应的接触衬垫13之间的距离较短,使绑定过程更加方便。
优选地,同样参照图5和图6,测试电极121与接触电极11的大小和形状一致。测试电极121与接触电极11设置为大小和形状一致,测试电极121与接触电极11除连接的信号线不同外,其他参数均相同,因而,可以通过检测测试电极121的绑定效果,准确的反应接触电极11的绑定效果,使检测到绑定状态的结果更加可靠。此外,也可以将第一绑定区201中的各测试电极121以及各接触电极11等间距设置,在实际应用中,上述测试电极121的材料优选为与接触电极11采用相同的材料。
同样的道理,如图1和图2所示,第二绑定区202中的接触衬垫13和测试衬垫141位于同一行或同一列,且测试衬垫141与接触衬垫13的优选为大小和形状一致。
具体地,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图4和图5所示,位于同一行或同一列的各测试电极121和各接触电极11中相邻电极之间间距相等;即位于同一行或同一列的各测试电极121和各接触电极11均匀分布,相邻的测试电极121之间、相邻的接触电极11之间或者相邻的测试电极121和接触电极11之间的间距相等,例如,第一绑定区中包括:测试电极一、测试电极二、测试电极三、接触电极一、接触电极二、接触电极三……,则测试电极一与测试电极二之间的间距、测试电极三与接触电极一,以及接触电极二与接触电极三之间的间距相等。
同样的道理,如图1和图2所示,位于同一行或同一列的各测试衬垫141和各接触衬垫13中相邻衬垫之间间距相等。
在实际应用中,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图5和图6所示,第一绑定区201,还包括:位于接触电极11和测试电极121构成的一行或一列的两端的至少一个对位电极17;
参照图5和图6,位于第一绑定区201两端的接触电极11与其他接触电极11的形状略微不同,这样,在工艺过程中,可以将这两个接触电极11作为对位标记使用,图5和图6中以接触电极11和测试电极121为矩形,以及两端的对位电极17为“T”型进行举例示意,在具体实施时,接触电极11、测试电极121以及对位电极17也可以设置为其他形状和大小,此处不对接触电极11、测试电极121以及对位电极17的形状和大小进行限定。
同样的道理,如图1和图2所示,第二绑定区202,还包括:位于接触衬垫13和测试衬垫141构成的一行或一列的两端的至少一个对位衬垫18。
参照图1和图2,位于第二绑定区202两端的接触衬垫13与其他接触衬垫13的形状略微不同,这样,在工艺过程中,可以将这两个接触衬垫13作为对位标记使用,图1和图2中以接触衬垫13和测试衬垫141为矩形,以及两端的对位衬垫18为“T”型进行举例示意,在具体实施时,接触衬垫13、测试衬垫141以及对位衬垫18也可以设置为其他形状和大小,此处不对接触衬垫13、测试衬垫141以及对位衬垫18的形状和大小进行限定。
在实际应用中,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图4和图5所示,上述第一绑定区201,可以包括至少三组测试电极组12;
各测试电极组12分别位于第一绑定区201的中间位置以及两端位置;
图4和图5中以第一绑定区201包括三组测试电极组12为例进行示意,在绑定工艺过程中,虽然显示面板上的所有接触电极11是在相同的工艺条件下,与柔性电路板上对应的接触衬垫13进行绑定的,但在不同的区域中绑定效果可能存在一定的差异,因此,通过设置多个测试电极组12,可以提高检测绑定效果的可靠性,将测试电极组12设置为三组,且各测试电极组12分别设置在第一绑定区201的中间位置及两端位置,是本发明实施例的优选实施方式,在具体实施时,也可以将测试电极组12设置为其他数量,且分布方式也可以根据实际需要来设置,此处不对测试电极组12的数量及分布进行限定。
同理,如图1和图2所示,上述第二绑定区202,可以包括至少三组对应的测试衬垫组14(图中以三组为例进行示意);
各测试衬垫组14分别位于第二绑定区202的中间位置以及两端位置。
具体地,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图4所示,测试电极组12可以包括三个测试电极121,两个相互连接的测试电极121为相间隔的两个测试电极121;
参照图4,以同一个测试电极组12中的测试电极121分别为pad1、pad2和pad3为例,pad1和pad3相互连接,将显示面板上的各接触电极11和测试电极121,与柔性电路板上的接触衬垫13和测试衬垫141绑定后,采用普通万用表或探针直接检测测试衬垫141之间的电阻值,若检测到存在相邻的测试电极121(pad1和pad2,或pad2和pad3)对应的测试衬垫141导通,则可以确定出现了绑定短路,若检测到存在相间隔的测试电极121(pad1和pad3)对应的测试衬垫141开路,则可以确定出现了绑定开路,只有检测到相邻的测试电极121(pad1和pad2,以及pad2和pad3)对应的测试衬垫141开路,且相间隔的测试电极121(pad1和pad3)对应的测试衬垫141导通,才能确定绑定良好。
此外,如图5所示,也可以设置为相邻的其中两个测试电极121相互连接。
如图4所示,同样以同一个测试电极组12中的测试电极121分别为pad1、pad2和pad3为例,pad1和pad2相互连接,将显示面板上的各接触电极11和测试电极121,与柔性电路板上的接触衬垫13和测试衬垫141绑定后,采用普通万用表或探针直接检测测试衬垫141之间的电阻值,若检测到存在相互连接的测试电极121(pad1和pad2)对应的测试衬垫141开路,则可以确定出现了绑定开路,若检测到存在相互断开的测试电极121(pad1和pad3,或pad2和pad3)对应的测试衬垫141导通,则可以确定出现了绑定短路,只有检测到相互连接的测试电极121(pad1和pad2)对应的测试衬垫141导通,以及相互断开的测试电极121(pad1和pad3,及pad2和pad3)对应的测试衬垫141开路,才能确定绑定良好。
同理,在实际应用中,如图1所示,上述测试衬垫组14可以包括三个测试衬垫141,两个相互连接的测试衬垫141为相间隔的两个测试衬垫141。
进一步地,本发明实施例提供的上述显示面板中,如图3所示,测试电极组12中的各测试电极121为悬空设置,第一绑定区201还包括:与测试电极121一一对应连接的第一测试端子15,第一测试端子15通过导线与对应的测试电极121连接;
通过设置与测试电极121一一对应连接的第一测试端子15,在绑定完成后,可以采用万用表或探针直接检测第一测试端子15之间的电阻值,无需对测试电极121进行扎针,从而避免对测试电极121造成损伤,在具体实施时,第一测试端子15的材料可以与测试电极121的材料可以相同也可以不同,例如可以采用铜制作第一测试端子15。图中以第一测试端子15为方形为例进行示意,在具体实施时,第一测试端子15也可以设置为其他形状,例如圆形或三角形等,此处不对第一测试端子15的形状进行限定。
类似地,如图6所示,测试衬垫组14中的各测试衬垫141为悬空设置,第二绑定区202还包括:与测试衬垫141一一对应连接的第二测试端子16,第二测试端子16通过导线与对应的测试衬垫141连接。
通过设置与测试衬垫141一一对应连接的第二测试端子16,在绑定完成后,可以采用万用表或探针直接检测第二测试端子16之间的电阻值,无需对测试衬垫141进行扎针,从而避免对测试衬垫141造成损伤,在具体实施时,第二测试端子16的材料可以与测试衬垫141的材料可以相同也可以不同,例如可以采用铜制作第二测试端子16。图中以第二测试端子16为圆形为例进行示意,在具体实施时,第二测试端子16也可以设置为其他形状,例如方形或三角形等,此处不对第二测试端子16的形状进行限定。
图7a为图4所示的显示面板与图6所示的柔性电路板绑定后的结构示意图,图7b为图7a的局部放大示意图,参照图7b,在绑定后,可以通过检测第二测试端子16之间的电阻来确定绑定状态,具体地,若检测到相互断开的测试电极121对应的第二测试端子16导通,则可以确定出现了绑定短路,若检测到相互连接的测试电极121对应的第二测试端子16开路,则可以确定出现了绑定开路,只有检测到相互断开的测试电极121对应的第二测试端子16均开路,以及相互连接的测试电极121对应的第二测试端子16均导通,才能确定绑定良好。
第三方面,本发明实施例还提供了一种上述显示面板的检测方法,如图4或图5所示,每一个测试电极组12中,至少存在两个相互连接的测试电极121,且至少存在两个相互断开的测试电极121,且对应测试衬垫组14中对应测试衬垫141为悬空设置(如图6所示);
如图8所示,上述检测方法,可以包括:
S301、检测相互连接的测试电极对应的两个测试衬垫之间的第一连接状态;
S302、检测相互断开的测试电极对应的两个测试衬垫之间的第二连接状态;
S303、根据第一连接状态和第二连接状态,判断接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若第一连接状态为断开,则绑定状态为绑定开路;若第二连接状态为导通,则绑定状态为绑定短路;若第一连接状态为导通,且第二连接状态为断开,则绑定状态为绑定良好。
本发明实施例中,上述绑定状态可以指,接触电极与对应的接触衬垫之间(或测试电极与对应的测试衬垫之间)的接触情况,可以包括接触良好和接触不良两种情况,上述绑定良好可以指接触电极与对应的接触衬垫之间能够良好的导通,且相邻的接触电极、相邻的接触衬垫或相邻的接触电极与接触衬垫之间不发生短路,接触不良可以指接触电极与对应的接触衬垫之间断开,即信号不能在接触电极与接触衬垫之间传输,即绑定开路,也可以指相邻的接触电极、相邻的接触衬垫或相邻的接触电极与接触衬垫之间发生短路,即绑定短路。
在上述步骤S303中,在实际应用中,以图7b所示的结构为例,如果绑定良好,则相互连接的测试电极对应的测试衬垫之间应为导通状态,相互断开的测试电极对应的测试衬垫之间应该为开路,则检测到的第一连接状态应该为导通,第二连接状态应该为断开;若出现绑定开路,则检测到的第一连接状态为断开;若出现绑定短路,则检测到的第二连接状态为导通。因而,可以根据第一连接状态和第二连接状态,来判断接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态。
在上述步骤S301或步骤S302中,在具体实施时,可以通过检测测试电极对应的测试衬垫之间的电阻值来确定连接状态,例如,在绑定良好的情况下,相互连接的测试电极对应的两个测试衬垫之间的电阻值为数值较小的正常电阻值,相互断开的测试电极对应的两个测试衬垫之间的电阻值为无穷大,因而,可以通过设置阈值的方式来确定连接状态,例如可以设置大于该正常电阻的电阻值为阈值,当检测到的测试衬垫之间的电阻值大于该阈值,则连接状态为断开,若小于该阈值,则连接状态为导通。
具体地,本发明实施例提供的上述检测方法中,上述第二绑定区202,还可以包括:与测试衬垫141一一对应连接的第二测试端子16,如图6所示;
上述步骤S301,可以包括:
检测相互连接的测试电极对应的两个第二测试端子之间的连接状态;
上述步骤S302,可以包括:
检测相互断开的测试电极对应的两个第二测试端子之间的连接状态。
通过设置与测试衬垫一一对应连接的第二测试端子,在绑定完成后,可以采用万用表或探针直接检测第二测试端子之间的电阻值,无需对测试衬垫进行扎针,从而避免对测试衬垫造成损伤,在具体实施时,第二测试端子的材料可以与测试衬垫的材料不同,例如可以采用铜制作测试端子。
第四方面,本发明实施例还提供了一种上述显示面板的检测方法,如图1或图2所示,每一个测试衬垫组14中,至少存在两个相互连接的测试衬垫141,且至少存在两个相互断开的测试衬垫141,且对应测试衬垫组14中对应测试衬垫141为悬空设置;
如图9所示,上述检测方法,可以包括:
S401、检测相互连接的测试衬垫对应的两个测试电极之间的第一连接状态;
S402、检测相互断开的测试衬垫对应的两个测试电极之间的第二连接状态;
S403、根据第一连接状态和第二连接状态,判断接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若第一连接状态为断开,则绑定状态为绑定开路;若第二连接状态为导通,则绑定状态为绑定短路;若第一连接状态为导通,且第二连接状态为断开,则绑定状态为绑定良好。
本发明实施例中,上述绑定状态可以指,接触衬垫与对应的接触电极之间(或测试衬垫与对应的测试电极之间)的接触情况,可以包括接触良好和接触不良两种情况,上述绑定良好可以指接触衬垫与对应的接触电极之间能够良好的导通,且相邻的接触衬垫、相邻的接触电极或相邻的接触衬垫与接触电极之间不发生短路,接触不良可以指接触衬垫与对应的接触电极之间断开,即信号不能在接触衬垫与接触电极之间传输,即绑定开路,也可以指相邻的接触衬垫、相邻的接触电极或相邻的接触衬垫与接触电极之间发生短路,即绑定短路。
在上述步骤S403中,如果绑定良好,则相互连接的测试衬垫对应的测试电极之间应为导通状态,相互断开的测试衬垫对应的测试电极之间应该为开路,则检测到的第一连接状态应该为导通,第二连接状态应该为断开;若出现绑定开路,则检测到的第一连接状态为断开;若出现绑定短路,则检测到的第二连接状态为导通。因而,可以根据第一连接状态和第二连接状态,来判断接触衬垫与对应的接触电极之间的绑定状态。
在上述步骤S401或步骤S402中,在具体实施时,可以通过检测测试衬垫对应的测试电极之间的电阻值来确定连接状态,例如,在绑定良好的情况下,相互连接的测试衬垫对应的两个测试电极之间的电阻值为数值较小的正常电阻值,相互断开的测试衬垫对应的两个测试电极之间的电阻值为无穷大,因而,可以通过设置阈值的方式来确定连接状态,例如可以设置大于该正常电阻的电阻值为阈值,当检测到的测试电极之间的电阻值大于该阈值,则连接状态为断开,若小于该阈值,则连接状态为导通。
进一步地,本发明实施例提供的上述显示面板的检测方法中,如图3所示,上述第一绑定区201,还可以包括:与测试电极121一一对应连接的第一测试端子15;
上述步骤S401,可以包括:
检测相互连接的测试衬垫对应的两个第一测试端子之间的连接状态;
上述步骤S402,可以包括:
检测相互断开的测试衬垫对应的两个第一测试端子之间的连接状态。
通过设置与测试电极一一对应连接的第一测试端子,在绑定完成后,可以采用万用表或探针直接检测第一测试端子之间的电阻值,无需对测试衬垫进行扎针,从而避免对测试衬垫造成损伤。
第五方面,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括:上述显示面板。
该显示装置可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。由于该显示装置解决问题的原理与上述显示面板相似,因此该显示装置的实施可以参见上述显示面板的实施,重复之处不再赘述。
本发明实施例提供的显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置,通过在第二绑定区中设置测试衬垫组,后续柔性电路板与显示面板绑定后,可以通过检测测试衬垫与对应的测试电极之间的通断状态,来判断显示面板与柔性电路板之间的绑定状态,因而,可以有效快速的检测绑定效果,且实现工艺简单,无需增加额外的工艺制程。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (14)

1.一种应用于显示面板的柔性电路板,其特征在于,包括:用于与所述显示面板上的第一绑定区进行绑定连接的第二绑定区;其中,
所述第二绑定区,包括:多个接触衬垫,以及至少一个测试衬垫组;
多个所述接触衬垫与所述柔性电路板上的信号线对应连接,且用于与所述第一绑定区中对应的多个接触电极分别进行绑定连接;
所述测试衬垫组,用于与所述第一绑定区中对应的测试电极组进行绑定连接;
所述测试衬垫组包括多个测试衬垫,所述测试电极组包括多个测试电极,各所述测试衬垫用于与对应的测试电极进行绑定连接;
所述测试衬垫组还用于在所述第一绑定区和所述第二绑定区绑定后,通过检测所述测试衬垫与对应的所述测试电极之间的通断状态,判断所述多个所述接触衬垫和多个所述接触电极的绑定状态。
2.一种显示面板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板上的第一绑定区,以及如权利要求1所述的柔性电路板;其中,
所述第一绑定区与所述柔性电路板上的第二绑定区绑定连接;
所述第一绑定区,包括:多个与所述显示面板上的信号线对应连接的接触电极,以及至少一个测试电极组;
所述测试电极组包括多个测试电极,各所述测试电极用于与所述第二绑定区中对应的测试衬垫进行绑定连接;
所述测试电极组,用于通过检测所述测试电极与对应的所述测试衬垫之间的通断状态,判断多个所述接触衬垫和多个所述接触电极的绑定状态。
3.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,每一个所述测试电极组中,至少存在两个相互连接的所述测试电极,且至少存在两个相互断开的所述测试电极,且对应所述测试衬垫组中对应的所述测试衬垫为悬空设置;或,每一个所述测试衬垫组中,至少存在两个相互连接的所述测试衬垫,且至少存在两个相互断开的所述测试衬垫,且对应的所述测试电极组中对应所述测试电极为悬空设置。
4.如权利要求2所述的显示面板,其特征在于,所述第一绑定区中的所述接触电极和所述测试电极位于同一行或同一列,所述测试电极与所述接触电极的大小和形状一致;
所述第二绑定区中的所述接触衬垫和所述测试衬垫位于同一行或同一列,且所述测试衬垫与所述接触衬垫的大小和形状一致。
5.如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,位于同一行或同一列的各所述测试电极和各所述接触电极中相邻电极之间间距相等;
位于同一行或同一列的各所述测试衬垫和各所述接触衬垫中相邻衬垫之间间距相等。
6.如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述第一绑定区,还包括:位于所述接触电极和所述测试电极构成的一行或一列的两端的至少一个对位电极;
所述第二绑定区,还包括:位于所述接触衬垫和所述测试衬垫构成的一行或一列的两端的至少一个对位衬垫。
7.如权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述第一绑定区,包括至少三组所述测试电极组;
各所述测试电极组分别位于所述第一绑定区的中间位置以及两端位置;
所述第二绑定区,包括至少三组对应的所述测试衬垫组;
各所述测试衬垫组分别位于所述第二绑定区的中间位置以及两端位置。
8.如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述测试电极组包括三个所述测试电极,所述两个相互连接的所述测试电极为相间隔的两个所述测试电极;或,
所述测试衬垫组包括三个所述测试衬垫,所述两个相互连接的所述测试衬垫为相间隔的两个所述测试衬垫。
9.如权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述测试电极组中的各所述测试电极为悬空设置,所述第一绑定区还包括:与所述测试电极一一对应连接的第一测试端子,所述第一测试端子通过导线与对应的所述测试电极连接;或,
所述测试衬垫组中的各所述测试衬垫为悬空设置,所述第二绑定区还包括:与所述测试衬垫一一对应连接的第二测试端子,所述第二测试端子通过导线与对应的所述测试衬垫连接。
10.一种如权利要求3~9任一项所述的显示面板的检测方法,其特征在于,每一个所述测试电极组中,至少存在两个相互连接的所述测试电极,且至少存在两个相互断开的所述测试电极,且对应所述测试衬垫组中对应所述测试衬垫为悬空设置;
所述检测方法,包括:
检测相互连接的测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第一连接状态;
检测相互断开的测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第二连接状态;
根据所述第一连接状态和所述第二连接状态,判断所述接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若所述第一连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定开路;若所述第二连接状态为导通,则所述绑定状态为绑定短路;若所述第一连接状态为导通,且所述第二连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定良好。
11.如权利要求10所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第二绑定区,还包括:与所述测试衬垫一一对应连接的第二测试端子;
所述检测相互连接的测试电极对应的两个测试衬垫之间的第一连接状态,包括:
检测相互连接的所述测试电极对应的两个所述第二测试端子之间的连接状态;
所述检测相互断开的所述测试电极对应的两个所述测试衬垫之间的第二连接状态,包括:
检测相互断开的所述测试电极对应的两个所述第二测试端子之间的连接状态。
12.一种如权利要求3~9任一项所述的显示面板的检测方法,其特征在于,每一个所述测试衬垫组中,至少存在两个相互连接的所述测试衬垫,且至少存在两个相互断开的所述测试衬垫,且对应所述测试衬垫组中对应所述测试衬垫为悬空设置;
所述检测方法,包括:
检测相互连接的测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第一连接状态;
检测相互断开的测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第二连接状态;
根据所述第一连接状态和所述第二连接状态,判断所述接触电极与对应的接触衬垫之间的绑定状态;若所述第一连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定开路;若所述第二连接状态为导通,则所述绑定状态为绑定短路;若所述第一连接状态为导通,且所述第二连接状态为断开,则所述绑定状态为绑定良好。
13.如权利要求12所述的显示面板的检测方法,其特征在于,所述第一绑定区,还包括:与所述测试电极一一对应连接的第一测试端子;
所述检测相互连接的测试衬垫对应的两个测试电极之间的第一连接状态,包括:
检测相互连接的所述测试衬垫对应的两个所述第一测试端子之间的连接状态;
所述检测相互断开的所述测试衬垫对应的两个所述测试电极之间的第二连接状态,包括:
检测相互断开的所述测试衬垫对应的两个所述第一测试端子之间的连接状态。
14.一种显示装置,其特征在于,包括:如权利要求2~10任一项所述的显示面板。
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Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108828391A (zh) * 2018-07-04 2018-11-16 京东方科技集团股份有限公司 显示装置的绑定检测装置
CN109192764A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示面板及其制备方法
CN109523943A (zh) * 2018-12-28 2019-03-26 厦门天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
CN109872667A (zh) * 2019-03-28 2019-06-11 惠科股份有限公司 信号检测***及显示装置
CN109884830A (zh) * 2019-02-28 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制作方法、显示装置、掩模板
CN109935569A (zh) * 2019-02-20 2019-06-25 昆山国显光电有限公司 测试单元、阵列板及显示面板cog绑定状态的监测方法
CN110223991A (zh) * 2019-06-25 2019-09-10 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示装置
CN110515492A (zh) * 2019-08-28 2019-11-29 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及其检测方法和显示装置
CN110636696A (zh) * 2019-08-23 2019-12-31 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 覆晶薄膜及显示装置
CN110718194A (zh) * 2018-07-13 2020-01-21 三星显示有限公司 显示装置
CN111123170A (zh) * 2019-12-20 2020-05-08 上海视欧光电科技有限公司 显示模组、显示模组的绑定测试装置和绑定装置
CN111487822A (zh) * 2020-04-23 2020-08-04 厦门天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示装置及其绑定检测方法
CN111524936A (zh) * 2020-04-16 2020-08-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及显示装置
CN111554221A (zh) * 2020-06-28 2020-08-18 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种显示模组和显示装置
CN111681545A (zh) * 2020-05-27 2020-09-18 上海中航光电子有限公司 显示面板和显示装置
CN112086374A (zh) * 2020-09-29 2020-12-15 武汉天马微电子有限公司 一种显示装置及其制备方法、电子设备
CN113193017A (zh) * 2021-04-21 2021-07-30 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和显示装置
CN113296298A (zh) * 2021-06-01 2021-08-24 广州国显科技有限公司 显示模组及显示装置
CN113703205A (zh) * 2020-05-21 2021-11-26 夏普株式会社 显示装置
CN113993273A (zh) * 2021-10-22 2022-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及其测试方法
CN114170904A (zh) * 2021-12-06 2022-03-11 合肥维信诺科技有限公司 显示模组及显示装置
CN114286510A (zh) * 2021-12-28 2022-04-05 武汉天马微电子有限公司 线路板、显示模组及显示装置
US11302614B2 (en) 2019-08-23 2022-04-12 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Chip on film and display device
CN114698367A (zh) * 2022-03-23 2022-07-01 合肥京东方光电科技有限公司 显示面板、显示装置及绑定阻值测试方法
CN114706239A (zh) * 2022-03-30 2022-07-05 绵阳惠科光电科技有限公司 显示装置及绑定状态的检测方法
WO2024000209A1 (zh) * 2022-06-29 2024-01-04 京东方科技集团股份有限公司 显示模组和显示装置

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN206931070U (zh) * 2017-06-09 2018-01-26 合肥鑫晟光电科技有限公司 绑定区连接结构、触摸屏和显示装置
JP7123718B2 (ja) * 2018-09-25 2022-08-23 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置、及び、表示装置の製造方法
KR20210076299A (ko) * 2019-12-13 2021-06-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 입력 센서
CN113535485B (zh) * 2020-04-14 2022-09-16 元太科技工业股份有限公司 电子装置
TWI726681B (zh) 2020-04-14 2021-05-01 元太科技工業股份有限公司 電子裝置
CN112230795B (zh) * 2020-10-13 2024-04-16 京东方科技集团股份有限公司 触控模组及显示装置
CN112164359B (zh) * 2020-10-26 2024-04-05 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及其检测方法
CN115119524A (zh) * 2021-01-20 2022-09-27 京东方科技集团股份有限公司 显示基板及其制备方法、显示装置
CN113053276B (zh) * 2021-03-17 2023-09-19 京东方科技集团股份有限公司 显示模组、显示装置及绑定检测方法
CN113589135A (zh) * 2021-06-24 2021-11-02 深圳同兴达科技股份有限公司 一种fpc与pcb邦定电性能的检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156417A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Optrex Corp 回路基板間の接続状態検査用パターン
CN205643942U (zh) * 2016-05-24 2016-10-12 合肥京东方光电科技有限公司 电路板结构及显示装置
CN206311727U (zh) * 2016-12-27 2017-07-07 信利(惠州)智能显示有限公司 触控装置
CN106959529A (zh) * 2017-03-24 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置及显示面板绑定检测方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5592199A (en) * 1993-01-27 1997-01-07 Sharp Kabushiki Kaisha Assembly structure of a flat type device including a panel having electrode terminals disposed on a peripheral portion thereof and method for assembling the same
CA2217591C (en) * 1997-10-07 2003-07-29 700674 Ontario Limited, Doing Business As Carroll Associates Wireless test fixture
KR100640208B1 (ko) * 2002-12-28 2006-10-31 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시패널의 검사용 범프 구조
US7408189B2 (en) * 2003-08-08 2008-08-05 Tpo Displays Corp. Method of testing FPC bonding yield and FPC having testing pads thereon
JP2006309161A (ja) * 2005-03-29 2006-11-09 Sanyo Epson Imaging Devices Corp 電気光学装置及び電子機器
KR20100082216A (ko) * 2009-01-08 2010-07-16 삼성전자주식회사 잉크젯 헤드 칩 및 이를 채용한 잉크젯 프린트 헤드
TWI405978B (zh) * 2009-05-19 2013-08-21 Chunghwa Picture Tubes Ltd 阻抗量測裝置、顯示面板及接合阻抗的量測方法
JP5334197B2 (ja) * 2009-12-15 2013-11-06 株式会社ジャパンディスプレイ 静電容量型入力装置、静電容量型入力装置の検査方法、静電容量型入力装置用駆動装置
KR101844431B1 (ko) * 2011-06-24 2018-04-03 삼성디스플레이 주식회사 검사패드부를 포함하는 표시패널 및 평판표시장치
KR101871773B1 (ko) * 2012-07-25 2018-06-27 엘지디스플레이 주식회사 플라스틱패널 및 이를 이용한 평판표시장치
KR101876234B1 (ko) * 2012-07-25 2018-07-09 엘지디스플레이 주식회사 플라스틱패널 및 이를 이용한 평판표시장치
KR102210985B1 (ko) * 2014-01-14 2021-02-03 삼성디스플레이 주식회사 구동집적회로, 이를 포함하는 표시장치 및 결합저항 측정 방법
CN106662941A (zh) * 2014-07-03 2017-05-10 夏普株式会社 触摸面板基板
CN104732902B (zh) * 2015-04-21 2017-08-08 京东方科技集团股份有限公司 显示基板、显示面板及显示装置
KR102316101B1 (ko) * 2015-06-24 2021-10-26 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 그 검사 방법
CN106782256B (zh) * 2015-11-18 2020-11-03 上海和辉光电有限公司 一种带有面板测试电路的显示装置
CN105319787B (zh) * 2015-12-01 2018-09-14 武汉华星光电技术有限公司 液晶显示模组
US10580336B2 (en) * 2016-07-14 2020-03-03 Samsung Electronics Co., Ltd. Display driver device
CN113342201B (zh) * 2017-03-24 2022-09-20 南京瀚宇彩欣科技有限责任公司 一种内嵌式触控显示装置的测试方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001156417A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Optrex Corp 回路基板間の接続状態検査用パターン
CN205643942U (zh) * 2016-05-24 2016-10-12 合肥京东方光电科技有限公司 电路板结构及显示装置
CN206311727U (zh) * 2016-12-27 2017-07-07 信利(惠州)智能显示有限公司 触控装置
CN106959529A (zh) * 2017-03-24 2017-07-18 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置及显示面板绑定检测方法

Cited By (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108828391A (zh) * 2018-07-04 2018-11-16 京东方科技集团股份有限公司 显示装置的绑定检测装置
CN108828391B (zh) * 2018-07-04 2020-12-08 京东方科技集团股份有限公司 显示装置的绑定检测装置
CN110718194A (zh) * 2018-07-13 2020-01-21 三星显示有限公司 显示装置
CN109192764A (zh) * 2018-09-11 2019-01-11 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性显示面板及其制备方法
US10873042B2 (en) 2018-09-11 2020-12-22 Boe Technology Group Co., Ltd. Flexible display panel and method of manufacturing the same
CN109523943A (zh) * 2018-12-28 2019-03-26 厦门天马微电子有限公司 显示面板和显示装置
CN109935569A (zh) * 2019-02-20 2019-06-25 昆山国显光电有限公司 测试单元、阵列板及显示面板cog绑定状态的监测方法
CN109884830A (zh) * 2019-02-28 2019-06-14 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板及其制作方法、显示装置、掩模板
CN109872667A (zh) * 2019-03-28 2019-06-11 惠科股份有限公司 信号检测***及显示装置
CN110223991A (zh) * 2019-06-25 2019-09-10 武汉华星光电技术有限公司 显示面板以及显示装置
US11373565B2 (en) 2019-06-25 2022-06-28 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Display panel including test circuit in non-display area and display device
CN110636696A (zh) * 2019-08-23 2019-12-31 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 覆晶薄膜及显示装置
US11302614B2 (en) 2019-08-23 2022-04-12 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Chip on film and display device
CN110515492A (zh) * 2019-08-28 2019-11-29 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及其检测方法和显示装置
CN110515492B (zh) * 2019-08-28 2023-05-02 武汉天马微电子有限公司 一种显示模组及其检测方法和显示装置
CN111123170A (zh) * 2019-12-20 2020-05-08 上海视欧光电科技有限公司 显示模组、显示模组的绑定测试装置和绑定装置
CN111524936A (zh) * 2020-04-16 2020-08-11 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 一种显示面板及显示装置
CN111487822B (zh) * 2020-04-23 2022-11-04 厦门天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示装置及其绑定检测方法
CN111487822A (zh) * 2020-04-23 2020-08-04 厦门天马微电子有限公司 一种阵列基板、显示装置及其绑定检测方法
CN113703205A (zh) * 2020-05-21 2021-11-26 夏普株式会社 显示装置
CN111681545B (zh) * 2020-05-27 2022-03-29 上海中航光电子有限公司 显示面板和显示装置
CN111681545A (zh) * 2020-05-27 2020-09-18 上海中航光电子有限公司 显示面板和显示装置
CN111554221A (zh) * 2020-06-28 2020-08-18 上海天马有机发光显示技术有限公司 一种显示模组和显示装置
CN112086374A (zh) * 2020-09-29 2020-12-15 武汉天马微电子有限公司 一种显示装置及其制备方法、电子设备
CN113193017A (zh) * 2021-04-21 2021-07-30 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和显示装置
CN113193017B (zh) * 2021-04-21 2023-05-05 武汉华星光电技术有限公司 显示面板和显示装置
CN113296298A (zh) * 2021-06-01 2021-08-24 广州国显科技有限公司 显示模组及显示装置
CN113993273A (zh) * 2021-10-22 2022-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种显示装置及其测试方法
CN114170904A (zh) * 2021-12-06 2022-03-11 合肥维信诺科技有限公司 显示模组及显示装置
CN114286510A (zh) * 2021-12-28 2022-04-05 武汉天马微电子有限公司 线路板、显示模组及显示装置
CN114286510B (zh) * 2021-12-28 2024-01-19 武汉天马微电子有限公司 线路板、显示模组及显示装置
CN114698367A (zh) * 2022-03-23 2022-07-01 合肥京东方光电科技有限公司 显示面板、显示装置及绑定阻值测试方法
CN114698367B (zh) * 2022-03-23 2023-07-25 合肥京东方光电科技有限公司 显示面板、显示装置及绑定阻值测试方法
CN114706239A (zh) * 2022-03-30 2022-07-05 绵阳惠科光电科技有限公司 显示装置及绑定状态的检测方法
WO2024000209A1 (zh) * 2022-06-29 2024-01-04 京东方科技集团股份有限公司 显示模组和显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
US10506718B2 (en) 2019-12-10
US20190116672A1 (en) 2019-04-18

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