CN113053276B - 显示模组、显示装置及绑定检测方法 - Google Patents

显示模组、显示装置及绑定检测方法 Download PDF

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CN113053276B CN202110286464.3A CN202110286464A CN113053276B CN 113053276 B CN113053276 B CN 113053276B CN 202110286464 A CN202110286464 A CN 202110286464A CN 113053276 B CN113053276 B CN 113053276B
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Abstract

本申请实施例提供了一种显示模组、显示装置及绑定检测方法。该显示模组，包括：第一面板、电路连接件和至少一对测试单元；测试单元中两个测试引脚位于第一面板的绑定区，且相互电连接；另两个测试引脚位于电路连接件的绑定区；四个测试引脚分别以至少部分重叠的方式两两对应绑定；四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变；在至少一对测试单元中，一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向，与另一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向相反。本申请实施例实现了将绑定偏移量与绑定导通电阻值拟合出函数关系，提高了绑定检测效率。

Description

显示模组、显示装置及绑定检测方法
技术领域
本申请涉及显示技术领域，具体而言，本申请涉及一种显示模组、显示装置及绑定检测方法。
背景技术
绑定(Bonding)是显示技术领域不可或缺的一道工序。绑定工艺通常是将COF(Chip On Film，覆晶薄膜)或FPC(Flexible Printed Circuit，柔性电路板)的绑定区内的各引脚与第一面板的绑定区内的各引脚连接在一起。
但是在绑定过程中会出现一定的绑定偏移，给绑定产品带来导通电阻偏大甚至绑定断路的负面影响，影响产品良率。因此需要对绑定产品进行检测，管控产品性能。
绑定导通电阻和绑定偏移量是绑定工艺中两个重要的管控参数。在现有的绑定检测方式中，绑定导通电阻由电学方法检测获得，而绑定偏移量则是借助显微镜测量对位标示偏移量，间接反馈绑定引脚偏移量的方式获得。可见，现有的绑定检测方式繁琐且低效，丞待提高。
发明内容
本申请针对现有方式的缺点，提出一种显示模组、显示装置及绑定检测方法，用以解决现有技术存在绑定检测方式繁琐且低效的技术问题。
第一个方面，本申请实施例提供了一种显示模组，包括：第一面板、电路连接件和至少一对测试单元；
测试单元包括四个测试引脚；其中两个测试引脚位于第一面板的绑定区，且相互电连接；另两个测试引脚位于电路连接件的绑定区，分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；四个测试引脚分别以至少部分重叠的方式两两对应绑定；四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，第一尺寸为垂直于第一方向的尺寸，第一方向平行于第一面板的绑定区或电路连接件的绑定区；
在至少一对测试单元中，一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向，与另一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向相反。
第二个方面，本申请实施例提供了一种显示装置，包括：如第一个方面提供的显示模组。
第三个方面，本申请实施例提供了一种基于第一个方面提供的显示模组的绑定检测方法，包括：
获取至少一对测试单元的一对电阻值，一对电阻值中的至少一个电阻值包括对应测试单元中每两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的子电阻值之和；
确定一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系；
根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量。
第四个方面，本申请实施例提供了一种绑定检测装置，包括：
电阻值测量模块，用于获取至少一对测试单元的一对电阻值，一对电阻值中的至少一个电阻值包括对应测试单元中每两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的子电阻值之和；
电阻值比较模块，用于确定一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系；
分析模块，用于根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量。
第五个方面，本申请实施例提供了一种检测设备，包括：
处理器；
存储器，与处理器电连接；
至少一个程序，被存储在存储器中并被配置为由处理器执行，至少一个程序配置用于：执行如第二个方面提供的绑定检测方法。
第六个方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如第二个方面提供的绑定检测方法。
本申请实施例提供的技术方案带来的有益技术效果包括：
1、在测试单元中，位于电路连接件的绑定区的两个测试引脚分别用于接收检测信号和反馈检测信号，位于第一面板的绑定区的两个测试引脚相互电连接形成检测回路，一方面为电学检测创造了可行条件，另一方面可利于外部检测设备的信号连接；
2、测试单元中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，使得在第一面板与电路连接件发生绑定偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生较为明显的电学变化，利于提高检测设备的辨识度，进而利于提高检测精度或灵敏度；
3、至少一对测试单元之间的第一尺寸的变化方向相反，使得在第一面板与电路连接件发生偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生不同的电学变化，借助至少一对测试单元不同的电学变化可以将绑定偏移量与绑定导通电阻值拟合出函数关系，利用该函数关系可以通过一次电学方法检测即能实现对显示模组的绑定导通电阻和绑定偏移量的快速监控，最终实现绑定偏移问题的快速发现和响应，可显著提高显示模组量产中绑定检测效率和数据收集能力。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，这些将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本申请实施例提供的一种显示模组中第一面板的绑定区与电路连接件的绑定区的绑定结构示意图；
图2为本申请实施例提供的一种显示模组中第一面板的绑定区的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种显示模组中电路连接件的绑定区的结构示意图；
图4为本申请实施例提供的另一种显示模组中第一面板的绑定区与电路连接件的绑定区的绑定结构示意图；
图5为本申请实施例提供的另一种显示模组中电路连接件的绑定区的结构示意图；
图6为本申请实施例提供的一种检测设备的框架示意图；
图7为本申请实施例提供的一种绑定检测方法的流程示意图；
图8为本申请实施例提供的一种绑定检测方法中，根据大小关系和每对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出每个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量的实施方式一的流程示意图；
图9为本申请实施例提供的一种绑定检测方法中，根据大小关系和每对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出每个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量的实施方式二的流程示意图；
图10为本申请实施例提供的一种绑定检测装置的框架示意图。
图中：
100-第一面板；200-电路连接件；
310-第一测试单元；311-第一测试引脚；312-第二测试引脚；313-第三测试引脚；314-第四测试引脚；
320-第二测试单元；321-第五测试引脚；322-第六测试引脚；323-第七测试引脚；324-第八测试引脚；
330-工作单元；331-第一工作引脚；332-第二工作引脚；
400-检测设备；410-检测信号收发器；420-存储器；430-处理器；
500-绑定检测装置；510-电阻值测量模块；520-电阻值比较模块；530-分析模块；
A-A’是第一方向。
具体实施方式
下面详细描述本申请，本申请的实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外，如果已知技术的详细描述对于示出的本申请的特征是不必要的，则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。
本技术领域技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非像这里一样被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
本技术领域技术人员可以理解，除非特意声明，这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是，本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件，但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解，当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时，它可以直接连接或耦接到其他元件，或者也可以存在中间元件。此外，这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
本申请的发明人进行研究发现，现有的绑定产品中，绑定区的各引脚都是细长的直方条形，测试引脚与其他常规工作引脚无差异，因此绑定偏移量与绑定导通电阻值之间难以拟合函数关系，因此需要采用两套检测方法分别对绑定导通电阻以及绑定偏移量进行检测，即采用电学方法检测获得绑定导通电阻，借助显微镜测量对位标示偏移量，进而间接获得绑定偏移量。可见，现有的绑定检测方式繁琐且低效，丞待提高。
本申请提供的显示模组、显示装置及绑定检测方法，旨在解决现有技术的如上技术问题。
下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。
本申请实施例提供了一种显示模组，该显示模组的结构示意图如图1-图5所示，包括但不限于：第一面板100、电路连接件200和至少一对测试单元。
测试单元包括但不限于四个测试引脚。其中两个测试引脚位于第一面板100的绑定区，且相互电连接。另两个测试引脚位于电路连接件200的绑定区，分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。四个测试引脚分别以至少部分重叠的方式两两对应绑定。四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，第一尺寸为垂直于第一方向的尺寸，第一方向平行于第一面板100的绑定区或电路连接件200的绑定区。
在至少一对测试单元中，一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向，与另一个测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向相反。
本实施例提供的一种显示模组，在需要相互绑定的第一面板100与电路连接件200之间设置至少一对测试单元，即至少两个测试单元，其中两两成对。测试单元中，位于电路连接件200的绑定区的两个测试引脚分别用于接收检测信号和反馈检测信号，位于第一面板100的绑定区的两个测试引脚相互电连接形成检测回路，一方面为电学检测创造了可行条件，另一方面可利于外部检测设备400的信号连接。
测试单元中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，使得在第一面板100与电路连接件200发生绑定偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生较为明显的电学变化，利于提高检测设备400的辨识度，进而利于提高检测精度或灵敏度。
可选地，电学变化包括电阻值变化。具体地，每两个对应绑定的测试引脚之间的电阻值与绑定时两个测试引脚的绑定接触面积成反比，即绑定接触面积越大，电阻值越小，反之亦然。每个测试单元中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，可以使得在第一面板100与电路连接件200发生绑定偏移的情况下，两个对应绑定的测试引脚之间的绑定接触面积变化幅度加剧，进而使两个对应绑定的测试引脚的电阻值变化更为明显，即经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生较为明显的电学变化。
至少一对测试单元之间的第一尺寸的变化方向相反，使得在第一面板100与电路连接件200发生偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生不同的电学变化，借助至少一对测试单元不同的电学变化可以将绑定偏移量与绑定导通电阻值拟合出函数关系，利用该函数关系可以通过一次电学方法检测即能实现对显示模组的绑定导通电阻和绑定偏移量的快速监控，最终实现绑定偏移问题的快速发现和响应，可显著提高显示模组量产中绑定检测效率和数据收集能力。
发明人考虑到，在每个测试单元中四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变。为此，本申请为显示模组提供如下一种可能的实现方式：
如图1或图4所示，本申请实施例的至少一对测试单元包括但不限于：第一测试单元310和第二测试单元320。
第一测试单元310包括但不限于：第一测试引脚311、第二测试引脚312、第三测试引脚313和第四测试引脚314。
第二测试单元320包括但不限于：第五测试引脚321、第六测试引脚322、第七测试引脚323和第八测试引脚324。
第一测试引脚311与第二测试引脚312电连接，第五测试引脚321与第六测试引脚322电连接，且第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322均位于第一面板100的绑定区。
第三测试引脚313和第四测试引脚314分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端，第七测试引脚323和第八测试引脚324也分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324均位于电路连接件200的绑定区。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322，分别以至少部分重叠的方式与第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324一一对应绑定。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322的第一尺寸均不变。第三测试引脚313和第四测试引脚314中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与第七测试引脚323和第八测试引脚324中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
本实施例提供的显示模组中，第一测试单元310的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第三测试引脚313和第四测试引脚314中的至少一个)位于电路连接件200的绑定区；并且，第二测试单元320的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第五测试引脚321和第六测试引脚322中的至少一个)位于电路连接件200的绑定区。这样可有利于减少对第一面板100的半导体图案化工序。
可选地，如图3或图5所示，第三测试引脚313的第一尺寸与第四测试引脚314的第一尺寸均沿第一方向同向单调变化。第七测试引脚323的第一尺寸和第八测试引脚324的第一尺寸均沿第一方向同向单调变化。
在本实施例中，第三测试引脚313的第一尺寸单调变化的方向与第四测试引脚314的第一尺寸单调变化的方向相同，使得在第一面板100与电路连接件200之间发生绑定偏移的情况下，检测信号在第一测试引脚311和第三测试引脚313之间发生的电学变化方向，可以与第二测试引脚312和第四测试引脚314之间发生的电学变化方向同向，利于检测信号经过第一测试单元310的四个测试引脚后，总的电学变化量更大，即总的电学变化较为明显，这样可以利于提高检测设备400的辨识度，进而利于提高检测精度。
同理，第七测试引脚323的第一尺寸单调变化的方向与第八测试引脚324的第一尺寸单调变化的方向相同，利于检测信号经过第二测试单元320的四个测试引脚后，总的电学变化量更大，即总的电学变化较为明显，这样可以利于提高检测设备400的辨识度，进而利于提高检测精度。
可选地，如图3所示，第三测试引脚313的第一尺寸与第四测试引脚314的第一尺寸均沿第一方向逐渐增大，第七测试引脚323的第一尺寸和第八测试引脚324的第一尺寸均沿第一方向逐渐减小。
可选地，如图5所示，第三测试引脚313的第一尺寸与第四测试引脚314的第一尺寸均沿第一方向逐渐减小，第七测试引脚323的第一尺寸和第八测试引脚324的第一尺寸均沿第一方向逐渐增大。
在一些可能的实施方式中，第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324分别在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影，为三角形、梯形、劣弓形或半圆形中的任意一种。
可选地，若第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324分别在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影为三角形，那么三角形的高可以与第一方向平行，三角形的底可以与第一方向垂直。
可选地，若第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324分别在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影为梯形，那么梯形的高可以与第一方向平行，梯形的上底或下底可以与第一方向垂直。
可选地，若第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324分别在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影为劣弓形或半圆形，那么劣弓形或半圆形的弦可以与第一方向垂直。
发明人考虑到，现有的显示模组中绑定区的各引脚都是细长的直方条形，测试引脚若过于狭长，则会降低检测信号可能发生的电学变化幅度，不利于检测设备400的辨识。为此，本申请为显示模组提供如下一种可能的实现方式：
如图1-图5所示，本申请实施例的显示模组还包括但不限于至少一个工作单元330，工作单元330包括但不限于至少两个工作引脚(如，位于第一面板100的绑定区的第一工作引脚331，和位于电路连接件200的绑定区的第二工作引脚332)，分别位于第一面板100的绑定区和电路连接件200的绑定区，且以至少部分重叠的方式一一对应绑定。
任一测试引脚的第二尺寸均大于工作引脚的第二尺寸，第二尺寸为平行于第一方向的尺寸。
在本实施例中，任一测试引脚的第二尺寸均大于工作引脚的第二尺寸，可以使测试引脚在第一方向上获得更多的绑定接触空间，使得第一面板100与电路连接件200发生绑定偏移的情况下，两个对应绑定的测试引脚之间的绑定接触面积变化幅度更大，进而使两个对应绑定的测试引脚的电阻值变化更为明显，即经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生更为明显的电学变化。
可以理解的是，各工作引脚用于第一面板100与电路连接件200之间常规的信息传递，各工作引脚的尺寸和形状可以采用常规设计，可以满足信息传递的需要即可。
发明人考虑到，在每个测试单元中四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变。为此，本申请为显示模组提供如下另一种可能的实现方式：
本申请实施例的至少一对测试单元包括但不限于：第一测试单元310和第二测试单元320。
第一测试单元310包括但不限于：第一测试引脚311、第二测试引脚312、第三测试引脚313和第四测试引脚314。
第二测试单元320包括但不限于：第五测试引脚321、第六测试引脚322、第七测试引脚323和第八测试引脚324。
第一测试引脚311与第二测试引脚312电连接，第五测试引脚321与第六测试引脚322电连接，且第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322均位于第一面板100的绑定区。
第三测试引脚313和第四测试引脚314分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端，第七测试引脚323和第八测试引脚324也分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324均位于电路连接件200的绑定区。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322，分别以至少部分重叠的方式与第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324一一对应绑定。
第三测试引脚313、第四测试引脚314、第五测试引脚321和第六测试引脚322的第一尺寸均不变。第一测试引脚311和第二测试引脚312中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与第七测试引脚323和第八测试引脚324中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
本实施例提供的显示模组中，第一测试单元310的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第一测试引脚311和第二测试引脚312中的至少一个)位于第一面板100的绑定区；并且，第二测试单元320的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第七测试引脚323和第八测试引脚324中的至少一个)位于电路连接件200的绑定区。这样可有利于适应部分个性化的产品结构需求。
发明人考虑到，在每个测试单元中四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变。为此，本申请为显示模组提供如下又一种可能的实现方式：
本申请实施例的至少一对测试单元包括但不限于：第一测试单元310和第二测试单元320。
第一测试单元310包括但不限于：第一测试引脚311、第二测试引脚312、第三测试引脚313和第四测试引脚314。
第二测试单元320包括但不限于：第五测试引脚321、第六测试引脚322、第七测试引脚323和第八测试引脚324。
第一测试引脚311与第二测试引脚312电连接，第五测试引脚321与第六测试引脚322电连接，且第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322均位于第一面板100的绑定区。
第三测试引脚313和第四测试引脚314分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端，第七测试引脚323和第八测试引脚324也分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324均位于电路连接件200的绑定区。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322，分别以至少部分重叠的方式与第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324一一对应绑定。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第七测试引脚323和第八测试引脚324的第一尺寸均不变。第三测试引脚313和第四测试引脚314中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与第五测试引脚321和第六测试引脚322中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
本实施例提供的显示模组中，第一测试单元310的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第三测试引脚313和第四测试引脚314中的至少一个)位于电路连接件200的绑定区；并且，第二测试单元320的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第五测试引脚321和第六测试引脚322中的至少一个)位于第一面板100的绑定区。这样可有利于适应部分个性化的产品结构需求。
发明人考虑到，在每个测试单元中四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变。为此，本申请为显示模组提供如下再一种可能的实现方式：
本申请实施例的至少一对测试单元包括但不限于：第一测试单元310和第二测试单元320。
第一测试单元310包括但不限于：第一测试引脚311、第二测试引脚312、第三测试引脚313和第四测试引脚314。
第二测试单元320包括但不限于：第五测试引脚321、第六测试引脚322、第七测试引脚323和第八测试引脚324。
第一测试引脚311与第二测试引脚312电连接，第五测试引脚321与第六测试引脚322电连接，且第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322均位于第一面板100的绑定区。
第三测试引脚313和第四测试引脚314分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端，第七测试引脚323和第八测试引脚324也分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324均位于电路连接件200的绑定区。
第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322，分别以至少部分重叠的方式与第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324一一对应绑定。
第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324的第一尺寸均不变。第一测试引脚311和第二测试引脚312中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与第五测试引脚321和第六测试引脚322中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
本实施例提供的显示模组中，第一测试单元310的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第一测试引脚311和第二测试引脚312中的至少一个)位于第一面板100的绑定区；并且，第二测试单元320的四个测试引脚中，第一尺寸沿第一方向单调变化的测试引脚(第五测试引脚321和第六测试引脚322中的至少一个)位于电路连接件200的绑定区。这样可有利于减少对电路连接件200的半导体图案化工序。
发明人考虑到，上述各实施例提供的任一种显示模组，需要具备显示功能。为此，本申请为显示模组提供如下一种可能的实现方式：
本申请实施例的第一面板100包括但不限于显示面板。
电路连接件200包括但不限于覆晶薄膜或柔性电路板。
每个测试单元的四个测试引脚中，两个测试引脚位于显示面板的绑定区，另两个测试引脚位于覆晶薄膜或柔性电路板的绑定区。
可选地，显示面板可以包括依次层叠设置的阳极层、发光层和阴极层等，以构成LED(发光二极管)或者Micro-LED(微发光二极管)或者OLED(Organic Light-EmittingDiode，有机发光二极管)等显示结构。
可选地，显示面板可以包括依次层叠设置的背光源、阵列基板、以及液晶封装层等，以构成LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示)显示结构。
发明人考虑到，上述各实施例提供的任一种显示模组，还可以具备触控功能的。为此，本申请为显示模组提供如下一种可能的实现方式：
本申请实施例的第一面板100包括但不限于层叠设置的显示面板和触控面板。
电路连接件200包括但不限于覆晶薄膜或柔性电路板。
每个测试单元的四个测试引脚中，两个测试引脚位于触控面板的绑定区，另两个测试引脚位于覆晶薄膜或柔性电路板的绑定区。
基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种显示装置，该显示装置包括但不限于：如前述各实施例提供的任一种显示模组。
在本实施例中，显示装置可以为电视、数码相框、手机、智能手表、平板电脑等任何具有显示功能的产品或部件中至少一种。
由于显示装置采用了前述各实施例提供的任一种显示模组，其原理和技术效果请参阅前述各实施例，在此不再赘述。
基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种检测设备400，如图6所示，该检测设备400包括但不限于：检测信号收发器410、存储器420和处理器430。
存储器420与处理器430电连接，如通过总线相连。
检测信号收发器410与处理器430电连接，如通过总线相连。
至少一个计算机程序，被存储在存储器420中并被配置为由处理器430执行，至少一个程序配置用于：执行如前述实施例提供的一种绑定检测方法的各种可选实施方式。该绑定检测方法将在下文详细说明，故在此不赘述。
本技术领域技术人员可以理解，本申请实施例提供的检测设备400可以为所需的目的而专门设计和制造，或者也可以包括但不限于通用计算机中的已知设备。这些设备具有存储在其内的计算机程序，这些计算机程序选择性地激活或重构。这样的计算机程序可以被存储在设备(例如，计算机)可读介质中或者存储在适于存储电子指令并分别耦联到总线的任何类型的介质中。
处理器430可以是CPU(Central Processing Unit，中央处理器)，通用处理器，DSP(Digital Signal Processor，数据信号处理器)，ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路)，FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。处理器430也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等。
总线可包括但不限于一通路，在上述组件之间传送信息。总线可以是PCI(Peripheral Component Interconnect，外设部件互连标准)总线或EISA(ExtendedIndustry Standard Architecture，扩展工业标准结构)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。
存储器420可以是ROM(Read-Only Memory，只读存储器)或可存储静态信息和指令的其他类型的静态存储设备，RAM(random access memory，随机存取存储器)或者可存储信息和指令的其他类型的动态存储设备，也可以是EEPROM(Electrically ErasableProgrammable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器)、CD-ROM(Compact DiscRead-Only Memory，只读光盘)或其他光盘存储、光碟存储(包括但不限于压缩光碟、激光碟、光碟、数字通用光碟、蓝光光碟等)、磁盘存储介质或者其他磁存储设备、或者能够用于携带或存储具有指令或数据结构形式的期望的程序代码并能够由计算机存取的任何其他介质，但不限于此。
可选地，检测设备400还可以包括但不限于收发器。收发器可用于信号的接收和发送。收发器可以允许检测设备400与其他设备进行无线或有线通信以交换数据。需要说明的是，实际应用中收发器不限于一个。
可选地，检测设备400还可以包括但不限于输入单元。输入单元可用于接收输入的数字、字符、图像和/或声音信息，或者产生与检测设备400的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。输入单元可以包括但不限于触摸屏、物理键盘、功能键(比如音量控制按键、开关按键等)、轨迹球、鼠标、操作杆、拍摄装置、拾音器等中的一种或多种。
可选地，检测设备400还可以包括但不限于输出单元。输出单元可用于输出或展示经过处理器430处理的信息。输出单元可以包括但不限于显示屏、扬声器、振动装置等中的一种或多种。
可选的，存储器420用于存储执行本申请方案的应用程序代码，并由处理器430来控制执行。处理器430用于执行存储器420中存储的应用程序代码，以实现本申请实施例提供的任一种绑定检测方法。
基于同一发明构思，本申请实施例提供了一种前述各实施例提供的任一种显示模组的绑定检测方法，该方法的流程示意图如图7所示，该方法包括但不限于步骤S101-S103：
S101：获取至少一对测试单元的一对电阻值，一对电阻值中的至少一个电阻值包括但不限于对应测试单元中每两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的子电阻值之和。
可选地，由前述实施例提供的检测设备400中的处理器430根据存储器420内的计算机程序，控制检测信号收发器410向前述实施例提供的任一种显示模组中的至少一对测试单元发送检测信号，检测信号收发器410将随之接收到至少一个测试单元输出的反馈信号传递到处理器430，处理器430根据与至少一对测试单元对应的检测信号与反馈信号之间的差异，计算得到至少一对测试单元的一对电阻值。
可选地，检测信号可以是电压信号或电流信号等。
S102：确定一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系。
可选地，由处理器430确定一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系。
S103：根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量。
可选地，处理器430根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量。其中，测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向由显示模组的出厂结构所决定，是已知参数。
本实施例提供的一种绑定检测方法，充分利用了显示模组中至少一对测试单元之间的第一尺寸的变化方向相反，使得在第一面板100与电路连接件200发生偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生不同的电学变化的结构特点，借助至少一对测试单元不同的电学变化可以将绑定偏移量与绑定导通电阻值拟合出函数关系，利用该函数关系可以通过一次电学方法检测即能实现对显示模组的绑定导通电阻和绑定偏移量的快速监控，最终实现绑定偏移问题的快速发现和响应，可显著提高显示模组量产中绑定检测效率和数据收集能力。
在一些可能的实施方式中，上述步骤S103根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量，如图8所示，包括但不限于步骤S201-S202：
S201：在第一尺寸沿第一方向逐渐增大的一个测试单元、位于第一尺寸沿第一方向逐渐减小的另一个测试单元的上游的条件下，若一个测试单元的电阻值小于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相同；若一个测试单元的电阻值大于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相反。
S202：根据偏移量与一对电阻值及绑定接触区域的面积之间的关系，确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移量。
需要说明的是，本申请中描述的“上游”和“下游”是在第一方向上的前、后位置的相对位置关系，例如：第一方向是从左向右的方向，则“上游”在“下游”的左边，“下游”在“上游”的右边。
下面以示例一为例，对上述步骤S201和步骤S202进行举例说明：
示例一：如图1-图3所示，显示模组中，第一方向是从左向右的方向，第一测试单元310位于第二测试单元320的左边。
第一测试单元310的位于第一面板100的绑定区的第一测试引脚311和第二测试引脚312，与位于电路连接件200的绑定区的第三测试引脚313和第四测试引脚314一一对应绑定。第一测试引脚311与第二测试引脚312电连接，第三测试引脚313和第四测试引脚314分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。
第二测试单元320的位于第一面板100的绑定区的第五测试引脚321和第六测试引脚322，与位于电路连接件200的绑定区的第七测试引脚323和第八测试引脚324一一对应绑定。第五测试引脚321与第六测试引脚322电连接，第七测试引脚323和第八测试引脚324也分别用于连接检测设备400的检测信号输出端和检测信号反馈端。
令：第一测试引脚311、第二测试引脚312、第五测试引脚321和第六测试引脚322均在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影为矩形，其中各矩形的长度方向垂直于第一方向，宽度方向平行于第一方向。
第三测试引脚313、第四测试引脚314、第七测试引脚323和第八测试引脚324均在第一面板100的绑定区所在平面、或电路连接件200的绑定区所在平面的投影为三角形，其中各三角形的底边方向垂直于第一方向，高度方向平行于第一方向，且第三测试引脚313的底边和第四测试引脚314的底边均朝右，第七测试引脚323的底边和第八测试引脚324的底边均朝左。
各三角形的底边长度与各矩形的长度相等，均为l；各三角形的高度与各矩形的宽度相等，均为m。
第一测试单元310内的第三测试引脚313的第一尺寸和第四测试引脚314的第一尺寸均沿第一方向逐渐增大；第二测试单元320内的第七测试引脚323的第一尺寸和第八测试引脚324的第一尺寸均沿第一方向逐渐减小。
利用检测设备400向第三测试引脚313和第四测试引脚314中的一个发射检测信号，以及向第七测试引脚323和第八测试引脚324中的一个发射检测信号，并接收第三测试引脚313和第四测试引脚314中的另一个输出的反馈信号，以及接收第七测试引脚323和第八测试引脚324中的另一个输出的反馈信号。
根据第一测试单元310内的检测信号与反馈信号之间的差异，计算得到第一测试单元310的电阻值Rleft；根据第二测试单元320内的检测信号与反馈信号之间的差异，计算得到第二测试单元320的电阻值Rright。
由于第一测试单元310和第二测试单元320中三角形引脚左右朝向相反，当第一面板100与电路连接件200之间存在绑定偏移量时，第一测试单元310和第二测试单元320中的各对应绑定引脚之间的绑定接触面积变化值不同，进而可以引起Rleft和Rright变化幅度不同，由此可以将绑定偏移量x与左右绑定导通电阻值拟合出函数关系，并利用该函数关系计算得到绑定偏移量x。
当电路连接件200相对于第一面板100沿第一方向(即绑定整体右偏)偏移时，第一测试单元310内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sleft＝l/2m(m-|x|)2，那么第一测试单元310的电阻值 与此同时，第二测试单元320内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sright＝l/2m(m2-x2)，那么第二测试单元320的电阻值
当电路连接件200相对于第一面板100沿第一方向的反向(即绑定整体左偏)偏移时，第一测试单元310内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sleft＝l/2m(m2-x2)，那么第一测试单元310的电阻值 与此同时，第二测试单元320内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sright＝l/2m(m-|x|)2，那么第二测试单元320的电阻值/>
前述各公式中，绑定偏移量记为x，x>0表示表示右偏，x<0表示绑定左偏。绑定后，绑定导通电阻R＝k/S，其中S是绑定接触面积；k为电阻与1/S间的拟合系数物理量，与ACF(Anisotropic Conductive Film，异方性导电胶膜)胶产品规格相关。
在一些可能的实施方式中，在前述各实施例的基础上，至少一个电阻值与两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的面积成反比。即前述示例一中，绑定导通电阻R＝k/S。
在一些可能的实施方式中，上述步骤S103根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量，如图9所示，包括但不限于步骤S301-S302：
S301：在第一尺寸沿第一方向逐渐增大的一个测试单元、位于第一尺寸沿第一方向逐渐减小的另一个测试单元的下游的条件下，若一个测试单元的电阻值小于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相同；若一个测试单元的电阻值大于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相反。
S302：根据偏移量与一对电阻值及绑定接触区域的面积之间的关系，确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移量。
下面以示例二为例，对上述步骤S301和步骤S302进行举例说明：
示例二：如图4和图5所示，显示模组中，第一方向还是从左向右的方向，第一测试单元310仍然位于第二测试单元320的左边。
示例二与前述示例一的区别在于：第一测试单元310中的第三测试引脚313的三角形底边和第四测试引脚314的三角形底边均朝左，第七测试引脚323的三角形底边和第八测试引脚324的三角形底边均朝右。
当电路连接件200相对于第一面板100沿第一方向(即绑定整体右偏)偏移时，第一测试单元310内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sleft＝l/2m(m2-x2)，那么第一测试单元310的电阻值 与此同时，第二测试单元320内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sright＝l/2m(m-x)2，那么第二测试单元320的电阻值
当电路连接件200相对于第一面板100沿第一方向的反向(即绑定整体左偏)偏移时，第一测试单元310内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sleft＝l/2m(m-|x|)2，那么第一测试单元310的电阻值 与此同时，第二测试单元320内每两个对应绑定的引脚之间的接触面积Sright＝l/2m(m2-x2)，那么第二测试单元320的电阻值/>
基于同一发明构思，本申请实施例提供的一种绑定检测装置500，该装置的结构框架示意图如图10所示，包括但不限于：电阻值测量模块510，电阻值比较模块520和分析模块530。
电阻值测量模块510用于获取至少一对测试单元的一对电阻值，一对电阻值中的至少一个电阻值包括但不限于对应测试单元中每两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的子电阻值之和。
电阻值比较模块520用于确定一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系。
分析模块530用于根据大小关系和至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量。
本实施例的检测装置可执行本申请实施例提供的任一种绑定检测方法，其实现原理相类似，此处不再赘述。
在一些可能的实施方式中，分析模块530还用于在第一尺寸沿第一方向逐渐增大的一个测试单元、位于第一尺寸沿第一方向逐渐减小的另一个测试单元的上游的条件下，若一个测试单元的电阻值小于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相同；若一个测试单元的电阻值大于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相反；根据偏移量与一对电阻值及绑定接触区域的面积之间的关系，确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移量。
在一些可能的实施方式中，分析模块530还用于在第一尺寸沿第一方向逐渐增大的一个测试单元、位于第一尺寸沿第一方向逐渐减小的另一个测试单元的下游的条件下，若一个测试单元的电阻值小于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相同；若一个测试单元的电阻值大于另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相反；根据偏移量与一对电阻值及绑定接触区域的面积之间的关系，确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移量。
基于同一的发明构思，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器430执行时实现如前述实施例提供的任一种绑定检测方法。
本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质适用于上述任一绑定检测方法的各种可选实施方式。在此不再赘述。
本技术领域技术人员可以理解，本实施例提供的计算机可读存储介质可以是任何能够被电子设备访问的可用介质，包括易失性介质和非易失性介质、可移动介质或不可移动介质。计算机可读存储介质包括但不限于任何类型的盘(包括软盘、硬盘、光盘、CD-ROM、和磁光盘)、ROM、RAM、EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory，可擦写可编程只读存储器)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory，电可擦可编程只读存储器)、闪存、磁性卡片或光线卡片。也就是，计算机可读存储介质包括由设备(例如，计算机)以能够读的形式存储或传输信息的任何介质。
应用本申请实施例，至少能够实现如下有益效果：
1、在测试单元中，位于电路连接件200的绑定区的两个测试引脚分别用于接收检测信号和反馈检测信号，位于第一面板100的绑定区的两个测试引脚相互电连接形成检测回路，一方面为电学检测创造了可行条件，另一方面可利于外部检测设备400的信号连接。
2、测试单元中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，使得在第一面板100与电路连接件200发生绑定偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生较为明显的电学变化，利于提高检测设备400的辨识度，进而利于提高检测精度或灵敏度。
3、至少一对测试单元之间的第一尺寸的变化方向相反，使得在第一面板100与电路连接件200发生偏移的情况下，经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生不同的电学变化，借助每一对测试单元不同的电学变化可以将绑定偏移量与绑定导通电阻值拟合出函数关系，利用该函数关系可以通过一次电学方法检测即能实现对显示模组的绑定导通电阻和绑定偏移量的快速监控，最终实现绑定偏移问题的快速发现和响应，可显著提高显示模组量产中绑定检测效率和数据收集能力。
4、任一测试引脚的第二尺寸均大于工作引脚的第二尺寸，可以使测试引脚在第一方向上获得更多的绑定接触空间，使得第一面板100与电路连接件200发生绑定偏移的情况下，两个对应绑定的测试引脚之间的绑定接触面积变化幅度更大，进而使两个对应绑定的测试引脚的电阻值变化更为明显，即经过每个测试单元的四个测试引脚的检测信号可以发生更为明显的电学变化。
本技术领域技术人员可以理解，本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地，具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地，现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。
在本说明书的描述中，具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
应该理解的是，虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，其可以以其他的顺序执行。而且，附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段，这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，其执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
以上所述仅是本申请的部分实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (13)

1.一种显示模组，其特征在于，包括：第一面板、电路连接件和至少一对测试单元；
所述测试单元包括四个测试引脚；其中两个测试引脚位于所述第一面板的绑定区，且相互电连接；另两个测试引脚位于所述电路连接件的绑定区，分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；所述四个测试引脚分别以至少部分重叠的方式两两对应绑定；所述四个测试引脚中至少一个测试引脚的第一尺寸沿第一方向单调变化，且与其对应绑定的另一个测试引脚的第一尺寸不变，所述第一尺寸为垂直于所述第一方向的尺寸，所述第一方向平行于所述第一面板的绑定区或所述电路连接件的绑定区；
在至少一对所述测试单元中，一个所述测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向，与另一个所述测试单元中测试引脚的第一尺寸的变化方向相反。
2.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，至少一对所述测试单元包括：第一测试单元和第二测试单元；
所述第一测试单元包括：第一测试引脚、第二测试引脚、第三测试引脚和第四测试引脚；
所述第二测试单元包括：第五测试引脚、第六测试引脚、第七测试引脚和第八测试引脚；
所述第一测试引脚与所述第二测试引脚电连接，所述第五测试引脚与所述第六测试引脚电连接，且所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚均位于所述第一面板的绑定区；
所述第三测试引脚和所述第四测试引脚分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端，所述第七测试引脚和所述第八测试引脚也分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚均位于所述电路连接件的绑定区；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚，分别以至少部分重叠的方式与所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚一一对应绑定；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚的第一尺寸均不变；所述第三测试引脚和所述第四测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与所述第七测试引脚和所述第八测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
3.根据权利要求2所述的显示模组，其特征在于，所述第三测试引脚的第一尺寸与所述第四测试引脚的第一尺寸均沿第一方向同向单调变化；
所述第七测试引脚的第一尺寸和所述第八测试引脚的第一尺寸均沿第一方向同向单调变化。
4.根据权利要求3所述的显示模组，其特征在于，所述第三测试引脚的第一尺寸与所述第四测试引脚的第一尺寸均沿第一方向逐渐增大，所述第七测试引脚的第一尺寸和所述第八测试引脚的第一尺寸均沿第一方向逐渐减小；
或，所述第三测试引脚的第一尺寸与所述第四测试引脚的第一尺寸均沿第一方向逐渐减小，所述第七测试引脚的第一尺寸和所述第八测试引脚的第一尺寸均沿第一方向逐渐增大。
5.根据权利要求4所述的显示模组，其特征在于，所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚分别在所述第一面板的绑定区所在平面、或所述电路连接件的绑定区所在平面的投影，为三角形、梯形、劣弓形或半圆形中的任意一种。
6.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述显示模组还包括至少一个工作单元，所述工作单元包括至少两个工作引脚，分别位于第一面板的绑定区和电路连接件的绑定区，且以至少部分重叠的方式一一对应绑定；
任一测试引脚的第二尺寸均大于所述工作引脚的第二尺寸，所述第二尺寸为平行于所述第一方向的尺寸。
7.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，至少一对所述测试单元包括：第一测试单元和第二测试单元；
所述第一测试单元包括：第一测试引脚、第二测试引脚、第三测试引脚和第四测试引脚；
所述第二测试单元包括：第五测试引脚、第六测试引脚、第七测试引脚和第八测试引脚；
所述第一测试引脚与所述第二测试引脚电连接，所述第五测试引脚与所述第六测试引脚电连接，且所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚均位于所述第一面板的绑定区；
所述第三测试引脚和所述第四测试引脚分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端，所述第七测试引脚和所述第八测试引脚也分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚均位于所述电路连接件的绑定区；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚，分别以至少部分重叠的方式与所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚一一对应绑定；
所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚的第一尺寸均不变；所述第一测试引脚和所述第二测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与所述第七测试引脚和所述第八测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
8.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，至少一对所述测试单元包括：第一测试单元和第二测试单元；
所述第一测试单元包括：第一测试引脚、第二测试引脚、第三测试引脚和第四测试引脚；
所述第二测试单元包括：第五测试引脚、第六测试引脚、第七测试引脚和第八测试引脚；
所述第一测试引脚与所述第二测试引脚电连接，所述第五测试引脚与所述第六测试引脚电连接，且所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚均位于所述第一面板的绑定区；
所述第三测试引脚和所述第四测试引脚分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端，所述第七测试引脚和所述第八测试引脚也分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚均位于所述电路连接件的绑定区；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚，分别以至少部分重叠的方式与所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚一一对应绑定；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚的第一尺寸均不变；所述第三测试引脚和所述第四测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与所述第五测试引脚和所述第六测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
9.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，至少一对所述测试单元包括：第一测试单元和第二测试单元；
所述第一测试单元包括：第一测试引脚、第二测试引脚、第三测试引脚和第四测试引脚；
所述第二测试单元包括：第五测试引脚、第六测试引脚、第七测试引脚和第八测试引脚；
所述第一测试引脚与所述第二测试引脚电连接，所述第五测试引脚与所述第六测试引脚电连接，且所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚均位于所述第一面板的绑定区；
所述第三测试引脚和所述第四测试引脚分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端，所述第七测试引脚和所述第八测试引脚也分别用于连接检测设备的检测信号输出端和检测信号反馈端；所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚均位于所述电路连接件的绑定区；
所述第一测试引脚、所述第二测试引脚、所述第五测试引脚和所述第六测试引脚，分别以至少部分重叠的方式与所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚一一对应绑定；
所述第三测试引脚、所述第四测试引脚、所述第七测试引脚和所述第八测试引脚的第一尺寸均不变；所述第一测试引脚和所述第二测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向，与所述第五测试引脚和所述第六测试引脚中的至少一个的第一尺寸的变化方向相反。
10.根据权利要求1所述的显示模组，其特征在于，所述第一面板包括显示面板；所述电路连接件包括覆晶薄膜或柔性电路板；所述测试单元的四个测试引脚中，两个测试引脚位于所述显示面板的绑定区，另两个测试引脚位于所述覆晶薄膜或所述柔性电路板的绑定区；
或，所述第一面板包括层叠设置的显示面板和触控面板；所述电路连接件包括覆晶薄膜或柔性电路板；所述测试单元的四个测试引脚中，两个测试引脚位于所述显示面板的绑定区或所述触控面板的绑定区，另两个测试引脚位于所述覆晶薄膜或所述柔性电路板的绑定区。
11.一种显示装置，其特征在于，包括：如权利要求1-10中任一项所述的显示模组。
12.一种基于权利要求1-10中任一项所述的显示模组的绑定检测方法，其特征在于，包括：
获取至少一对测试单元的一对电阻值，所述一对电阻值中的至少一个电阻值包括对应测试单元中每两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的子电阻值之和；
确定所述一对电阻值中的一个电阻值与另一个电阻值之间的大小关系；
根据所述大小关系和所述至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量；所述至少一个电阻值与两个对应绑定的测试引脚之间绑定接触区域的面积成反比。
13.根据权利要求12所述的绑定检测方法，其特征在于，根据所述大小关系和所述至少一对测试单元中测试单元的第一尺寸的变化方向，确定出至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向和偏移量，包括：
在第一尺寸沿第一方向逐渐增大的一个测试单元、位于第一尺寸沿第一方向逐渐减小的另一个测试单元的上游的条件下，若所述一个测试单元的电阻值小于所述另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相同；若所述一个测试单元的电阻值大于所述另一个测试单元的电阻值，则确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移方向与第一方向相反；
根据所述偏移量与所述一对电阻值及绑定接触区域的面积之间的关系，确定至少一个测试单元的每两个对应绑定的测试引脚之间的偏移量。
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