CN113993273A - 一种显示装置及其测试方法 - Google Patents

一种显示装置及其测试方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113993273A
CN113993273A CN202111230749.1A CN202111230749A CN113993273A CN 113993273 A CN113993273 A CN 113993273A CN 202111230749 A CN202111230749 A CN 202111230749A CN 113993273 A CN113993273 A CN 113993273A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
test terminal
male connector
signal
terminal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111230749.1A
Other languages
English (en)
Inventor
胡宏锦
左堃
张斌
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN202111230749.1A priority Critical patent/CN113993273A/zh
Publication of CN113993273A publication Critical patent/CN113993273A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/02—Details
    • H05K1/11—Printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K1/111—Pads for surface mounting, e.g. lay-out
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0425—Test clips, e.g. for IC's
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2803—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP] by means of functional tests, e.g. logic-circuit-simulation or algorithms therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R24/00—Two-part coupling devices, or either of their cooperating parts, characterised by their overall structure
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00—Printed circuits
    • H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
    • H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

本发明提供了一种显示装置及其测试方法，其中，显示装置包括：显示面板，柔性线路板以及检测电路板；柔性线路板上设置有公头连接器，公头连接器包括多个第一导电端子，多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子；检测电路板包括与公头连接器对应设置的母头连接器，母头连接器包括与多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子；检测电路板包括与第一测试端子对应的第二导电端子耦接的第一测试信号线，以及与第二测试端子对应的第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线，第一测试信号线和第二测试信号线通过第一测试端子和第二测试端子构成测试回路。

Description

一种显示装置及其测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种显示装置及其测试方法。
背景技术
现有显示装置中，因柔性线路板(Flexible Printed Circuit，FPC)设计需求，模组结构在电路转接的时候经常需要使用到连接器(Connecter)，比如，常采用板对板(Boardto Board-Connector，BTB)连接器进行扣接通讯，常见BTB连接器一般包括公头和母头两部分，使用时可以通过将公头的导电端子与母头的导电端子扣接，来实现模组显示以及触控功能的启用。
然而在扣接过程中，往往会产生一些扣接不良，比如，扣接不到位，扣接不充分等，这些扣接不良容易使电源信号在公头和母头对接处产生大电流导致局部高温，从而产生热聚集效应，过高的热量聚集会导致显示不良。如何实现对BTB连接器扣接不良的检测成为急需解决的技术问题。
发明内容
本发明提供了一种显示装置及其测试方法，用于实现对BTB连接器的扣接状态的检测。
第一方面，本发明实施例提供了一种显示装置，包括：
显示面板，与所述显示面板耦接的柔性线路板以及与所述柔性线路板耦接的检测电路板；
所述柔性线路板上设置有公头连接器，所述公头连接器包括多个第一导电端子，其中，所述多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子；
所述检测电路板包括与所述公头连接器对应设置的母头连接器，所述母头连接器包括与所述多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子；
所述检测电路板还包括与所述第一测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第一测试信号线，以及与所述第二测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线，所述第一测试信号线和所述第二测试信号线通过所述第一测试端子和所述第二测试端子构成测试回路，所述测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
在一种可能的实现方式中，所述多个第一导电端子沿第一方向延伸并沿与所述第一方向相交的第二方向依次排列，所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于所述公头连接器的中心线的两侧。
在一种可能的实现方式中，沿所述第一方向，所述多个第一导电端子沿所述第二方向依次排列为第一排和第二排，所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于相应排的边缘。
在一种可能的实现方式中，所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第一排。
在一种可能的实现方式中，所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第二排。
在一种可能的实现方式中，所述第一测试端子位于所述第一排，所述第二测试端子位于所述第二排。
在一种可能的实现方式中，所述第一测试端子位于所述第二排，所述第二测试端子位于所述第一排。
在一种可能的实现方式中，所述多个第一导电端子还包括彼此耦接且不相邻的第三测试端子和第四测试端子，所述第三测试端子和所述第一测试端子位于所述第一排，所述第四测试端子和所述第二测试端子位于所述第二排，所述检测电路板还包括与所述第三测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第三测试信号线，以及与所述第四测试端子耦接的第四测试信号线，所述第三测试信号线和所述第四测试信号线通过所述第三测试端子和所述第四测试端子构成另一测试回路，所述另一测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
第二方面，本发明实施例还提供了一种如上面任一项所述的显示装置的测试方法，包括：
在将所述公头连接器***所述母头连接器之后，通过所述至少两条测试信号线中的所述第一测试信号线和所述第二测试信号线与所述第一测试端子和所述第二测试端子构成所述测试回路；
通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
在一种可能的实现方式中，所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
向所述第一测试信号线输入感应信号；
获得经所述第二测试信号线输出的接收信号；
将所述感应信号和所述接收信号进行信号强弱对比，获得对比结果；
根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
在一种可能的实现方式中，所述根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接完好；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第二阈值且小于所述第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值小于所述第二阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误。
在一种可能的实现方式中，在所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态之后，所述方法还包括：
若所述扣接状态表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分或者所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误，则中断向所述显示面板的电压信号的输出。
本发明的有益效果如下：
本发明实施例提供了一种显示装置及其测试方法，其中，该显示装置包括显示面板，与该显示面板耦接的柔性线路板以及与该柔性线路板耦接的检测电路板，该柔性线路板上设置有公头连接器，该公头连接器包括多个第一导电端子，该多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子，检测电路板包括与公头连接器对应设置的包括多个第二导电端子的母头连接器，该检测电路板还包括与第一测试端子对应的第二导电端子耦接的第一测试信号线，以及与第二测试端子对应的第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线，该第一测试信号线和第二测试信号线通过第一测试端子和第二测试端子构成测试回路，该检测电路板通过该测试回路可以对公头连接器和母头连接器进行扣接检测。也就是说，在公头连接器的多个第一导电端子中的不相邻的第一测试端子和第二测试端子耦接在一起的前提下，通过母头连接器上与第一测试端子和第二测试端子对应的第二导电端子所耦接的测试信号线所构成的测试回路，可以实现对公头连接器和母头连接器扣接状态的检测，如此一来，根据所检测的扣接状态，可以及时将公头连接器和母头连接器之间的扣接不良检测出来，保证了显示装置的使用性能。
附图说明
图1为相关技术中BTB连接器中公头和母头扣接不到位的其中一种示意图；
图2为相关技术中BTB连接器中公头和母头扣接不充分的其中一种示意图；
图3为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图；
图4为图3中公头连接器的其中一种结构放大示意图；
图5为图3中母头连接器的其中一种结构放大示意图；
图6为图4中公头连接器和图5中母头连接器耦接时的一种等效电路图；
图7为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第一种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图8为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第二种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图9为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第三种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图10为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第四种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图11为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第五种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图12为本发明实施例提供的一种显示装置中按照第六种设置方式设置公头连接器和母头连接器的其中一种结构示意图；
图13为本发明实施例提供的一种显示装置的测试方法的方法流程图；
图14为图13中步骤S102的方法流程图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例的附图，对本发明实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。并且在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。基于所描述的本发明的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
除非另外定义，本发明使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本发明中使用的“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。
需要注意的是，附图中各图形的尺寸和形状不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。并且自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。
相关技术中，在柔性显示模组进行调试以及产测以及与主机端组装时，通常采用BTB连接器进行扣接通讯，常见BTB连接器一般包括公头01和母头02两部分，使用时可以通过将公头01的导电端子与母头02的导电端子扣接，来实现模组显示以及触控功能的启用。
在实际调试和产测过程中，本发明人发现在扣接BTB连接器的公头01和母头02时，往往会产生一些扣接不良，比如，扣接不到位，扣接不充分等。如图1所示为BTB连接器中公头01和母头02扣接不到位的其中一种示意图，如图2所示为BTB连接器中公头01和母头02扣接不充分的其中一种示意图。这些扣接不良可以是人为原因导致，还可以是公头01和母头02制程工艺偏差难以扣接导致。一旦发生扣接不良，将导致模组测试和通信出现问题。此外，扣接不良容易使电源信号在公头01和母头02对接处产生大电流导致局部高温，从而导致热聚集效应。比如，当电源信号引脚(PIN)扣接不充分时，一旦通过该电源信号引脚进行通电，会导致在公头01和母头02扣接处，因通过电流强度过大以及扣接面积过小产生局部高温发热，过高的热量聚集往往容易导致屏显示不良。
鉴于此，本发明实施例提供了一种显示装置及测试方法，用于实现对BTB连接器的扣接状态的检测。
如图3所示为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图，所述显示装置包括：
显示面板1，与所述显示面板1耦接的柔性线路板2以及与所述柔性线路板2耦接的检测电路板3；
所述柔性线路板2上设置有公头连接器4，所述公头连接器4包括多个第一导电端子40，其中，所述多个第一导电端子40包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子401和第二测试端子402；
所述检测电路板3包括与所述公头连接器4对应设置的母头连接器5，所述母头连接器5包括与所述多个第一导电端子40对应设置的多个第二导电端子50；
所述检测电路板3还包括与所述第一测试端子401对应的所述第二导电端子50耦接的第一测试信号线501，以及与所述第二测试端子402对应的所述第二导电端子50耦接的第二测试信号线502在内的至少两条测试信号线，所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502通过所述第一测试端子401和所述第二测试端子402构成测试回路，所述测试回路用于对所述公头连接器4与所述母头连接器5进行扣接检测。
所述显示装置可以是有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)，还以是量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes，QLED)，具体可以应用于手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件。对于该显示装置的其它必不可少的组成部分均为本领域的普通技术人员应该理解具有的，在此就不做赘述，也不应作为对本发明的限制。
在具体实施过程中，所述检测电路板3可以是用于模组测试的检测治具电路主板，通过该检测治具电路主板对显示模组进行预检，保证了显示模组的生产良率。此外，所述检测电路板3还可以是可以与显示模组组装在一起的主机端电路主板，通过该主机端电路主板可以对组装后的产品进行检测，从而保证了组装后的产品的生产良率。此外，还可以根据实际应用需要来设置所述检测电路板3，在此不做限定。
所述检测电路板3上设置有公头连接器4，所述公头连接器4包括多个第一导电端子40，所述多个第一导电端子40的具体个数可以根据实际应用需要来设置，在此不做限定。所述多个第一导电端子40包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子401和第二测试端子402，也就是说，所述多个第一导电端子40至少包括彼此不相邻的所述第一测试端子401和所述第二测试端子402，且所述第一测试端子401和所述第二测试端子402耦接。
所述检测电路板3包括与所述公头连接器4对应设置的母头连接器5，所述母头连接器5包括与所述第一导电端子40对应设置的多个第二导电端子50，所述多个第二导电端子50的具体个数和所述多个第一导电端子40的具体个数相等，每个导电端子的宽度相等，且二者相邻两导电端子之间的间距相等，如此一来，可以保证所述公头连接器4与所述母头连接器5二者之间的充分扣接。这里的“相等”可以是完全相等，还可以是近似相等。
所述检测电路板3还包括与所述第一测试端子401对应的所述第二导电端子50耦接的第一测试信号线501，以及与所述第二测试端子402对应的所述第二导电端子50耦接的第二测试信号线502，所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502通过所述第一测试端子401和所述第二测试端子402构成测试回路。由于所述第一测试端子401和所述第二测试端子402彼此耦接，在将所述第一测试信号线501和所述母头连接器5上与所述第一测试端子401对应的第二导电端子50耦接，以及将所述第二测试信号线502和所述母头连接器5上与所述第二测试端子402对应的第二导电端子50耦接之后，通过所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502可以使所耦接的导电端子之间构成测试回路。后续所述检测电路板3可以通过所述测试回路对所述公头连接器4和所述母头连接器5进行扣接检测，从而实现了对所述公头连接器4和所述母头连接器5的扣接状态的检测，如此一来，可以及时将公头连接器和母头连接器之间的扣接不良检测出来，保证了显示装置的使用性能。
以所述至少两条测试信号线仅包括所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502为例，对所述测试回路的扣接检测原理进行解释说明。结合图4和图5所示，其中，图4为图3中所述公头连接器4的其中一种结构放大示意图，其中，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402之间通过搭接连线耦接，图4中虚线框C所标注的结构为搭接连线，图5为图3中所述母头连接器5的其中一种结构放大示意图。如图6所示为图4所示的所述公头连接器4和图5所示的所述母头连接器5耦接时的一种等效电路图，其中，在所述公头连接器和4和所述母头连接器5耦接时存在相应的线路负载。所述测试回路等价于一个RC检测回路***，基于该回路***的信号衰减，可以用如下公式表示：
Figure BDA0003315785760000091
其中，Vin表示经所述第一测试信号线501输入的感应信号，Vout表示经所述第二测试信号线502输出的接收信号。
在具体实施过程中，由于任何线路的设计都会存在线路负载的损耗，因此，可以根据所述第一测试信号线501输入的感应信号和所述第二测试信号线502输出的接收信号之间的强弱对比，从而确定所述公头连接器4与所述母头连接器5二者之间的扣接状态。若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间比值不小于第一阈值，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接完好，比如，所述第一阈值可以为95％，相应地，在Vout≥Vin*95％时，表明所述公头连接器4与所述母头连接器5扣接完好，即扣接充分；若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第二阈值且小于所述第一阈值，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接不充分，此时，所述接收信号的信号强度明显小于所述感应信号的信号强度，比如，所述第一阈值可以为95％，所述第二阈值可以是63％，相应地，在63％≤Vout＜Vin*95％时，表明所述公头连接器4与所述母头连接器5扣接不充分。若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值小于所述第二阈值，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接错误，比如，所述第二阈值可以是63％，相应地，在Vout＜63％时，所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接错误，再比如，若Vout＝0，则表明二者之间完全未接触。当然，还可以根据实际应用情况，来设置所述第一阈值和所述第二阈值来对所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态进行判断，在此不做限定。
在本发明实施例中，可以采用以下几种设置方式来设置所述公头连接器4和所述母头连接器5二者之间的结构，但又不仅限于以下几种设置方式。
第一种设置方式如图7所示，所述多个第一导电端子40沿第一方向延伸并沿与所述第一方向相交的第二方向依次排列，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402分别位于所述公头连接器4的中心线的两侧，所述中心线沿所述第一方向延伸。其中，图7中箭头x所示的方向为所述第一方向，箭头y所示的方向为所述第二方向，图7中虚线L表示中心线。
在本发明实施例中，沿所述第一方向，所述多个第一导电端子40沿所述第二方向依次排列为第一排41和第二排42，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402分别位于相应排的边缘。
第二种设置方式如图8所示，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402均位于所述第一排41。其中，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402可以是分别位于所述第一排41的最边缘。
第三种设置方式如图9所示，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402均位于所述第二排42。其中，所述第一测试端子401和所述第二测试端子402可以是分别位于所述第二排42的最边缘。
第四种设置方式如图10所示，所述第一测试端子401位于所述第一排41，所述第二测试端子402位于所述第二排42。
第五种设置方式如图11所示，所述第一测试端子401位于所述第二排42，所述第二测试端子402位于所述第一排41。
第六种设置方式如图12所示，所述多个第一导电端子40还包括彼此耦接且不相邻的第三测试端子403和第四测试端子404，所述第三测试端子403和所述第一测试端子401位于所述第一排41，所述第四测试端子404和所述第二测试端子402位于所述第二排42，所述检测电路板3还包括与所述第三测试端子403对应的所述第二导电端子50耦接的第三测试信号线503，以及与所述第四测试端子404耦接的第四测试信号线504，所述第三测试信号线503和所述第四测试信号线504通过所述第三测试端子403和所述第四测试端子404构成另一测试回路，所述另一测试回路用于对所述公头连接器4与所述母头连接器5进行扣接检测。其中，对于所述另一测试回路对所述公头连接器4和所述母头连接器5的扣接检测过程同前述测试回路的检测过程，在此不再赘述。
需要说明的是，所述第一测试端子401、所述第二测试端子402、所述第三测试端子403和所述第四测试端子404，可以是分别位于相应排的最边缘，还可以是位于相应排的边缘的除最边缘之外的位置，具体根据实际应用中所需检测的扣接位置来设置，在此不做限定。
在具体实施过程中，除了上述所提及的六种设置方式来设置所述公头连接器4和所述母头连接器5的结构之外，还可以采用其它设置方式来设置，在此不再详述。此外，需要说明的是，本发明实施例所示意出的上述几种设置方式中，是以所述公头连接器4和所述母头连接器5的俯视结构为例进行的说明，只是简单示意出所述公头连接器4中相关导电端子之间通过搭接连线进行耦接的情况，在实际应用中，需要根据所述公头连接器4中相关金属层来实现相关导电端子之间的连线搭接，在此不做详述。
基于同一发明构思，如图13所示，本发明实施例还提供了一种显示装置的测试方法的方法流程图，该测试方法所应用的显示装置的具体结构参照前述部分的描述，在此不再赘述。此外，该测试方法解决问题的原理与前述显示装置相似，因此该测试方法的实施可以参见前述显示装置的实施，重复之处不再赘述。
结合图13所示，该测试方法包括：
S101：在将所述公头连接器***所述母头连接器之后，通过所述至少两条测试信号线中的所述第一测试信号线和所述第二测试信号线与所述第一测试端子和所述第二测试端子构成所述测试回路；
S102：通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
在具体实施过程中，步骤S101至步骤S102的具体实现过程如下：
首先，在将所述公头连接器4***所述母头连接器5之后，通过所述至少两条测试信号线中的所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502与所述第一测试端子401和所述第二测试端子402构成所述测试回路，其中，关于所述第一测试信号线501和所述第二测试信号线502与所述第一测试端子401和所述第二测试端子402所构成的测试回路参照前述相关部分的描述，重复之处不再赘述。
然后，通过所述测试回路检测所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态。由于任何线路的设计都会存在线路负载的损耗，在公头连接器4的多个第一导电端子40中的不相邻的第一测试端子401和第二测试端子402耦接在一起的前提下，通过母头连接器5上与第一测试端子401和第二测试端子402对应的第二导电端子50所耦接的测试信号线所构成的测试回路，不可避免地存在线路负载的损耗，通过对测试回路的负载情况的检测，可以实现对公头连接器4和母头连接器5扣接状态的检测，如此一来，根据所检测的扣接状态，可以及时将公头连接器和母头连接器之间的扣接不良检测出来，保证了显示装置的使用性能。
在本发明实施例中，如图14所示，步骤S102：通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
S201：向所述第一测试信号线输入感应信号；
S202：获得经所述第二测试信号线输出的接收信号；
S203：将所述感应信号和所述接收信号进行信号强弱对比，获得对比结果；
S204：根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
在具体实施过程中，结合图4和图5所示的连接器的结构示意图，步骤S201至步骤S204的具体实现过程如下：
首先，通过所述检测电路板3可以向所述第一测试信号线501输入感应信号，所述感应信号可以是高频方波信号，比如，频率大于100kHz，然后，通过所述测试回路获得经所述第二测试信号线502输出的接收信号，然后，将所述感应信号和所述接收信号进行信号强弱对比，获得对比结果，然后，根据所述对比结果，确定所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态，比如，所述接收信号的信号强度近似为零，此时所述测试回路处于开路(或者断路)状态，相应地，表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接完全不充分。如此一来，实现了对所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态的检测。
在具体实施过程中，在采用图12所示的设置方式来设置所述公头连接器4和所述母头连接器5时，步骤S201至步骤S204的具体实现过程可以是，通过所述第一测试信号线501加载第一感应信号，通过所述第三测试信号线503加载第二感应信号，输出每个感应信号经所对应的测试回路的接收信号，然后，根据每个测试回路的感应信号和接收信号的信号强弱对比结果，进而确定相应测试回路对应位置处所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态。比如，所述第一感应信号和所述第二感应信号可以是同一信号，可以按照时间先后顺序来分别输入相应的感应信号，相应地，确定与所述第一感应信号对应输出的第一接收信号，根据所述第一接收信号与所述第一感应信号进行信号强弱对比，获得第一对比结果，进而确定所述第一测试信号线501与所述第二测试信号线502所构成的测试回路对应位置处所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态；此外，确定与所述第二感应信号对应输出的第二接收信号，根据所述第二接收信号与所述第二感应信号进行信号强弱对比，获得第二对比结果，进而确定所述第三测试信号线503与所述第四测试信号线504所构成的另一测试回路对应位置处所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态。
仍结合图12所示，所述第一感应信号和所述第二感应信号还可以是极性相反的两种信号，比如，所述第一感应信号为正电压信号，所述第二感应信号为负电压信号，可以分别根据各个测试回路中感应信号与接收信号之间的信号强弱对比结果，来确定相应测试回路对应位置处所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态。此外，所述第一感应信号和所述第二感应信号还可以是频率不同的两种信号，比如，所述第一感应信号为高频信号，所述第二感应信号为低频信号，可以分别根据各个测试回路中感应信号与接收信号之间的信号强弱对比结果，来确定相应测试回路对应位置处所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态。此外，在实际应用中，还可以根据需要来设定所述第一感应信号和所述第二感应信号，进而进行相应的扣接检测，在此不再详述。
在本发明实施例中，步骤S204：根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接完好；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第二阈值且小于所述第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值小于所述第二阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误。
在具体实施过程中，所述第一阈值可以是95％，所述第二阈值可以是63％，若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值大于等于95％，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接完好；若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值在63％～95％之间波动，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接不充分，若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值在63％～0％之间波动，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接错误，特别是在所述接收信号的信号强度为零时，表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间处于完全未接触的扣接状态。此外，根据实际需要进一步划分所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接不充分的程度，比如，若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值在95％～86％之间波动，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间处于轻度扣接不充分，若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值在86％～63％之间波动，则表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间处于重度扣接不充分。当然，本领域技术人员还可以根据本发明提及的扣接检测原理，采用其它数值的所述第一阈值和所述第二阈值所界定出的范围来确定所述公头连接器4与所述母头连接器5之间的扣接状态，在此不再详述。
在本发明实施例中，在步骤S204：根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态之后，所述方法还包括：
若所述扣接状态表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分或者所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误，则通过所述印刷电路板中断向所述显示面板的电压信号的输出。
在具体实施过程中，若所述扣接状态表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接不充分或者扣接错误，所述检测电路板3可以中断向所述显示面板1的电压信号的输出，从而避免了局部高温高热导致面板异常显示的产生，保证了所述显示面板1的使用寿命。反之，若所述扣接状态表明所述公头连接器4与所述母头连接器5之间扣接完全，所述检测电路板3可以向所述显示面板1的驱动集成电路提供显示驱动电压信号，从而保证了所述显示面板1的正常显示。
尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (12)

1.一种显示装置，其特征在于，包括：
显示面板，与所述显示面板耦接的柔性线路板以及与所述柔性线路板耦接的检测电路板；
所述柔性线路板上设置有公头连接器，所述公头连接器包括多个第一导电端子，其中，所述多个第一导电端子包括彼此耦接且不相邻的第一测试端子和第二测试端子；
所述检测电路板包括与所述公头连接器对应设置的母头连接器，所述母头连接器包括与所述多个第一导电端子对应设置的多个第二导电端子；
所述检测电路板还包括与所述第一测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第一测试信号线，以及与所述第二测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第二测试信号线在内的至少两条测试信号线，所述第一测试信号线和所述第二测试信号线通过所述第一测试端子和所述第二测试端子构成测试回路，所述测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
2.如权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述多个第一导电端子沿第一方向延伸并沿与所述第一方向相交的第二方向依次排列，所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于所述公头连接器的中心线的两侧。
3.如权利要求2所述的显示装置，其特征在于，沿所述第一方向，所述多个第一导电端子沿所述第二方向依次排列为第一排和第二排，所述第一测试端子和所述第二测试端子分别位于相应排的边缘。
4.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第一排。
5.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一测试端子和所述第二测试端子均位于所述第二排。
6.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一测试端子位于所述第一排，所述第二测试端子位于所述第二排。
7.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一测试端子位于所述第二排，所述第二测试端子位于所述第一排。
8.如权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述多个第一导电端子还包括彼此耦接且不相邻的第三测试端子和第四测试端子，所述第三测试端子和所述第一测试端子位于所述第一排，所述第四测试端子和所述第二测试端子位于所述第二排，所述检测电路板还包括与所述第三测试端子对应的所述第二导电端子耦接的第三测试信号线，以及与所述第四测试端子耦接的第四测试信号线，所述第三测试信号线和所述第四测试信号线通过所述第三测试端子和所述第四测试端子构成另一测试回路，所述另一测试回路用于对所述公头连接器与所述母头连接器进行扣接检测。
9.一种如权利要求1-8任一项所述的显示装置的测试方法，其特征在于，包括：
在将所述公头连接器***所述母头连接器之后，通过所述至少两条测试信号线中的所述第一测试信号线和所述第二测试信号线与所述第一测试端子和所述第二测试端子构成所述测试回路；
通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
10.如权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
向所述第一测试信号线输入感应信号；
获得经所述第二测试信号线输出的接收信号；
将所述感应信号和所述接收信号进行信号强弱对比，获得对比结果；
根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态。
11.如权利要求10所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述对比结果，确定所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态，包括：
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接完好；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值不小于第二阈值且小于所述第一阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分；
若所述接收信号的信号强度与所述感应信号的信号强度之间的比值小于所述第二阈值，则表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误。
12.如权利要求11所述的测试方法，其特征在于，在所述通过所述测试回路检测所述公头连接器与所述母头连接器之间的扣接状态之后，所述方法还包括：
若所述扣接状态表明所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接不充分或者所述公头连接器与所述母头连接器之间扣接错误，则中断向所述显示面板的电压信号的输出。
CN202111230749.1A 2021-10-22 2021-10-22 一种显示装置及其测试方法 Pending CN113993273A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111230749.1A CN113993273A (zh) 2021-10-22 2021-10-22 一种显示装置及其测试方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111230749.1A CN113993273A (zh) 2021-10-22 2021-10-22 一种显示装置及其测试方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113993273A true CN113993273A (zh) 2022-01-28

Family

ID=79740176

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111230749.1A Pending CN113993273A (zh) 2021-10-22 2021-10-22 一种显示装置及其测试方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113993273A (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101398539A (zh) * 2007-09-28 2009-04-01 群康科技(深圳)有限公司 显示模组
CN107683020A (zh) * 2017-10-17 2018-02-09 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置
CN107966646A (zh) * 2017-11-17 2018-04-27 武汉天马微电子有限公司 一种显示装置及其测试方法
WO2020062514A1 (zh) * 2018-09-30 2020-04-02 惠科股份有限公司 逻辑板组件、显示装置和液晶显示器
CN113079636A (zh) * 2021-03-23 2021-07-06 厦门天马微电子有限公司 显示模组及显示模组的制造方法
CN113419159A (zh) * 2021-05-31 2021-09-21 歌尔光学科技有限公司 柔性电路板的测试方法、测试装置和测试电路

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101398539A (zh) * 2007-09-28 2009-04-01 群康科技(深圳)有限公司 显示模组
CN107683020A (zh) * 2017-10-17 2018-02-09 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、其检测方法、柔性电路板及显示装置
US20190116672A1 (en) * 2017-10-17 2019-04-18 Boe Technology Group Co., Ltd. Display panel, detection method thereof, flexible printed circuit and display device
CN107966646A (zh) * 2017-11-17 2018-04-27 武汉天马微电子有限公司 一种显示装置及其测试方法
WO2020062514A1 (zh) * 2018-09-30 2020-04-02 惠科股份有限公司 逻辑板组件、显示装置和液晶显示器
CN113079636A (zh) * 2021-03-23 2021-07-06 厦门天马微电子有限公司 显示模组及显示模组的制造方法
CN113419159A (zh) * 2021-05-31 2021-09-21 歌尔光学科技有限公司 柔性电路板的测试方法、测试装置和测试电路

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10520978B1 (en) Foldable display panel and foldable display device
US7722370B2 (en) Socket with detection functions
CN109752421A (zh) 显示面板和显示装置
US9727188B2 (en) Touch display panel and electronic equipment
CN111696461B (zh) 一种显示面板和显示装置
US10762821B1 (en) Display panel and display apparatus
CN105761661B (zh) 显示器件及其重启方法、显示面板
CN107919059B (zh) 显示基板、显示面板和显示装置
CN104156106B (zh) 触控装置及其驱动方法
CN109857277A (zh) 触控显示面板及其制备方法、驱动方法和触控显示装置
CN113655646B (zh) 显示面板、显示模组及显示装置
CN111739453A (zh) 显示面板及显示装置
CN113495647A (zh) 输入感测装置和具有该输入感测装置的显示装置
CN103617772B (zh) 显示面板及其测试方法
CN113205758A (zh) 显示模组、裂纹检测方法及显示装置
CN109215558B (zh) 显示装置
CN113993273A (zh) 一种显示装置及其测试方法
US11169648B2 (en) Touch electrode, touch display panel, and touch display device
CN107966646B (zh) 一种显示装置及其测试方法
CN101360379B (zh) 光源保护电路及其在背光模组和液晶显示器的应用
CN111045549A (zh) 显示面板及其驱动方法和显示装置
CN113487971B (zh) 显示面板及显示装置
US20080202802A1 (en) Printed circuit board module having two printed circuit boards for mounting inline package elements and adhibit elements respectively
CN205213144U (zh) 显示设备及其柔性电路板
US11860204B2 (en) Display device and detection method for impedance of display device

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination