WO2020200824A1 - Träger mit verkleinerter durchkontaktierung - Google Patents

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WO2020200824A1
WO2020200824A1 PCT/EP2020/057673 EP2020057673W WO2020200824A1 WO 2020200824 A1 WO2020200824 A1 WO 2020200824A1 EP 2020057673 W EP2020057673 W EP 2020057673W WO 2020200824 A1 WO2020200824 A1 WO 2020200824A1
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wiring layer
layer
insulation layer
carrier
base substrate
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PCT/EP2020/057673
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English (en)
French (fr)
Inventor
Michael Schumann
Original Assignee
Osram Opto Semiconductors Gmbh
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Publication date
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Definitions

  • a carrier with a reduced via is specified.
  • a circuit board is a carrier for electrical or
  • a circuit board can be designed as a single-layer, two-layer or multi-layer circuit board.
  • a vertical connection between the layers is produced in particular by plated-through holes, the minimum diameter of which in conventional production processes is often greater than 125 ⁇ m or greater than 150 ⁇ m.
  • Closure cap which covers the associated through-hole plating, thus has an even larger diameter, which is usually significantly larger than the minimum structure width of a layer.
  • One task to be solved is to find a carrier
  • Another object is to provide a reliable and cost-effective method for producing such a carrier.
  • a carrier with a base substrate is specified.
  • the base substrate is with respect to his
  • Material composition and / or its layer thickness carried out in such a way that it mechanically supports the carrier and / or mechanically stabilizes it. If the carrier has a plurality of further layers, these layers are in particular also mechanically supported by the base substrate.
  • the base substrate shows all layers of the carrier
  • the base substrate can be a printed circuit board, a metal core board, a plastic body or a ceramic body.
  • the base substrate has a plurality of
  • the base substrate are stacked on top of each other and embedded in an epoxy resin or epoxy-like resin. It is possible for the base substrate to be formed from laminated layers of pre-impregnated fiber layers, so-called prepreg layers.
  • the base substrate can preferably be produced in a panel.
  • the carrier has an inner wiring layer and an outer one Wiring layer on.
  • the inner wiring layer is arranged on the base substrate, a direct arrangement of the inner wiring layer on the base substrate being preferred.
  • the inner wiring layer is, for example, through a
  • Wiring layer can be placed on the insulation layer
  • the insulation layer and the base substrate can have different material compositions and / or
  • the insulation layer is applied to the base substrate and, in this sense, is mechanically supported by the base substrate. More preferably, both the insulation layer and the base substrate are designed to be electrically insulating.
  • the carrier it has at least one through-hole contact in the
  • Insulation layer which extends through the insulation layer and electrically connects the inner wiring layer to the outer wiring layer. Since that
  • the insulation layer can be made particularly thin. Since the insulation layer is not or hardly designed for mechanical stabilization of the carrier, this embodiment of the insulation layer enables a large selection of materials for the insulation layer. Due to the small layer thickness of the insulation layer, the plated-through hole can be formed through the insulation layer in a comparatively simple manner. For example, an opening is made through the
  • Insulation layer formed through it and then filled with an electrically conductive material to form the via. Because of the low
  • Layer thickness of the insulation layer can be the opening
  • the plated-through hole has a lateral cross section which has a maximum lateral extent or a diameter of at most 100 ⁇ m, 90 ⁇ m, 80 ⁇ m, 75 ⁇ m or of at most 50 ⁇ m. This maximum is more preferably
  • a lateral direction is understood to mean a direction which runs parallel to a main extension surface of the carrier and / or the base substrate, for example parallel to a mounting surface of the carrier.
  • a vertical direction is understood to mean a direction which is perpendicular to the main extension surface of the carrier and / or the base substrate, for example perpendicular to the mounting surface of the carrier.
  • the vertical direction and the lateral direction are transverse or preferably orthogonal
  • this has a base substrate, at least one insulation layer,
  • the base substrate and the insulation layer are preferably made of
  • the base substrate is designed to mechanically stabilize the carrier and in particular carries the insulation layer.
  • the wiring layer is at least partially between the base substrate and the in the vertical direction
  • Insulation layer arranged.
  • the outer wiring layer is spatially separated from the inner wiring layer at least in some areas by the insulation layer.
  • Plating connects the inner wiring layer to the outer wiring layer in an electrically conductive manner.
  • the plated-through hole particularly preferably has a lateral one
  • the carrier thus has at least two different ones
  • Isolation layer separated from each other and through the
  • Vias are connected to one another in an electrically conductive manner. Since the carrier has at least two layers, the outer wiring layer, the surface of which in particular forms a mounting surface of the carrier, can be larger
  • connection surfaces or a higher number of connection surfaces for receiving a higher number of components Since the wiring takes place in areas via the plated-through hole or a plurality of plated-through holes, the number of conductor tracks on the mounting surface can be reduced. Since the via also has a comparatively small lateral cross section, a closure cap of the via can be placed on the
  • the mounting surface must be made correspondingly smaller. Due to the multi-layer design of the carrier and the comparatively small dimensions of the plated-through hole, more free space is advantageously left on the mounting surface for the formation of connection surfaces for receiving electrical components that are attached to them
  • Connection surfaces are mounted. It is possible for the closure caps to be designed as connection surfaces.
  • the mounting surface can have more or larger connection surfaces on which the components can be mounted.
  • the carrier can be designed to be particularly compact and / or accommodate a larger number of components.
  • the inner wiring layer is arranged on the base substrate.
  • the wiring layer is structured in such a way that the insulation layer is regionally
  • the inner wiring layer is made of a
  • the structured cover layer of the base substrate formed.
  • the structured cover layer of the base substrate can be divided into a plurality of spatially separated or interconnected partial regions. These sub-regions can be designed as conductor tracks and / or sealing caps.
  • the outer wiring layer can, in correspondence with the inner wiring layer, be designed as a structured cover layer with a plurality of connection surfaces, sealing caps and / or conductor tracks.
  • the outer wiring layer can be formed directly on the insulation layer.
  • the inner wiring layer is electrically conductively connected to the outer wiring layer.
  • the sealing caps of the outer wiring layer can be larger or smaller than the corresponding sealing caps of the inner wiring layer
  • the carrier contains a via in the base substrate which
  • Via is hereinafter referred to as
  • the base through-contact particularly preferably has a larger lateral one
  • Insulation layer For example, the first Insulation layer
  • Base through-hole contact in the base substrate has a cross section with a maximum lateral extension or diameter of at least 100 gm, 125 gm, 150 gm or 200 gm.
  • the via adjoins the
  • Base substrate does not adhere to the insulation layer, or does not extend through the insulation layer.
  • a closure cap of the outer wiring layer which completely covers the plated-through hole in the insulation layer in plan view, can thus have a smaller cross section or a smaller maximum lateral extent than a corresponding closure cap of the inner one
  • the Via in the base substrate has a lateral diameter which is at least 25%, 50%, 75%, 100% or at least 200% larger than a lateral diameter of the via in the insulation layer.
  • the lateral diameter is to be understood as the maximum lateral extent of the plated-through hole.
  • the carrier it has a further wiring layer.
  • the wiring layer and the further wiring layer are in particular on opposite surfaces of the
  • the innermost layer Arranged base substrate. Via the plated-through hole or plated-through holes in the base substrate, the inner
  • Wiring layer and the further wiring layer can be connected to one another in an electrically conductive manner.
  • the wiring layer can be designed as a further inner wiring layer of the carrier or as an outer, rear wiring layer of the carrier.
  • the carrier has a further insulation layer, a further inner wiring layer, a further outer wiring layer and one or a plurality of further vias in the further insulation layer.
  • the base substrate is disposed both between the inner wiring layers and between the insulation layers in the vertical direction.
  • Through-hole plating can connect the further inner wiring layer to the further outer wiring layer in an electrically conductive manner.
  • Insulation layers can have diameters or maximum lateral dimensions of the same order of magnitude.
  • Through-hole plating has a maximum diameter of at most 100 gm, 75 mpi or at most 50 mpi.
  • the carrier is preferably made of at least four layers.
  • the carrier has at least four
  • the carrier has two inner wiring layers which are arranged directly on the base substrate, namely on two opposite surfaces of the
  • the carrier can have two outer wiring layers, each of which is accessible from the outside, for example, and is in particular arranged directly on one of the insulation layers. It is conceivable that additional outer wiring layers, each of which is accessible from the outside, for example, and is in particular arranged directly on one of the insulation layers. It is conceivable that additional outer wiring layers, each of which is accessible from the outside, for example, and is in particular arranged directly on one of the insulation layers. It is conceivable that additional
  • Wiring layers and / or additional insulation layers are arranged between an inner and an outer wiring layer. Furthermore, it can be provided that one of the outer wiring layers forms the mounting surface of the carrier and the other of the outer wiring layers forms a rear side of the carrier facing away from the mounting surface.
  • the base substrate is located in particular along the
  • the insulation layers can be formed from the same material or from different materials.
  • the plated through-hole has in the insulation layer and / or the further plated-through hole in the further insulation layer a lateral cross-section with a maximum lateral extension of at most 75 gm or of at most 50 gm.
  • the maximum lateral expansion is between 10 gm and 100 gm inclusive, for example between 30 gm and 100 gm inclusive or between 50 gm and 100 gm inclusive.
  • the plated through-hole and / or the further plated-through hole can have a constant cross section, a constant diameter or a constant maximum lateral extent.
  • Insulation layer and / or the further through-contacting in the further insulation layer, with increasing vertical distance from the base substrate, has a smaller lateral cross section with a correspondingly smaller one
  • the cross-section, the diameter or the maximum lateral extent of the plated-through hole or the further plated-through hole can thus be made smaller.
  • the lateral extent of the closure cap or of the connection surface, which in plan view covers the plated-through hole, in particular completely covers it, can also be further reduced in this way.
  • the inner wiring layer has an inner closure cap which, in plan view, forms the through-hole connection in the base substrate
  • the inner cap can
  • the outer wiring layer can be an outer one that is adjacent to the via in the insulation layer Have closure cap, the outer closure cap in plan view covering this through-hole contact, in particular covering it completely.
  • a maximum lateral offset between the outer closure cap and the plated through-hole in the insulation layer is preferably smaller than a maximum lateral offset between the inner one
  • the maximum lateral offset between the outer closure cap and the via can be at least 10 gm, 25 gm, 50 gm or 100 gm smaller than the maximum lateral offset between the inner one
  • Via in the insulation layer is greater than a maximum lateral offset between the inner
  • the outer closure cap can simultaneously be designed as a connection surface for receiving a component.
  • a contact point of the component can be fastened, in particular soldered, to the connection surface.
  • the carrier can have a plurality of pairs of connection surfaces, each pair being set up for receiving, mechanical fastening and / or for making electrical contact with at least one component.
  • Connection surfaces of each pair can be assigned different electrical polarities. Furthermore, a lateral distance between the connection surfaces of the same pair or of the different adjacent pairs can be smaller than a lateral structure width of the conductor tracks or the Closing caps of the same wiring layer, in particular on the mounting surface. For example, this lateral distance can be less than 200 mpi, 160 mpi, 100 mpi, 50 mpi, 30 mpi or 20 mpi.
  • the outer wiring layer forms a freely accessible mounting surface, which is used for receiving and making electrical contact with a component or a plurality of electrical components
  • the mounting surface is in particular planar.
  • a planar mounting surface is understood here in particular to be a mounting surface which has no local depressions or elevations or which only has local depressions or elevations smaller than 50 ⁇ m, 40 ⁇ m, 30 ⁇ m, 20 ⁇ m or smaller than 10 ⁇ m.
  • Mounting surface is in particular in areas by a
  • the planar mounting surface can have small local depressions or elevations, the vertical depth or height of which is given by the vertical layer thickness of the outer wiring layer or is smaller than the vertical layer thickness of the outer wiring layer, ie is smaller than that
  • the insulation layer can be along the vertical direction
  • the carrier has a rear side facing away from the mounting surface.
  • the back of the carrier can be partially covered by a surface of the further insulation layer and partially be formed by a surface of the further outer wiring layer.
  • the rear side of the carrier can be made planar.
  • the outer wiring layer has a plurality of conductor tracks and connection surfaces arranged next to one another.
  • the outer wiring layer forms in particular the mounting surface of the carrier.
  • the connection surfaces are preferably tightly packed, with a lateral distance between adjacent ones
  • Terminal areas in particular is not larger than one
  • the mounting surface is preferably free of conductor tracks and / or sealing caps which, in plan view, are at least partially between adjacent
  • Connection areas for example between two adjacent rows or columns of connection areas, are arranged and are laterally spaced from these connection areas.
  • some of the connection surfaces are not via the vias in the insulation layer but exclusively via the conductor tracks on the outer
  • Wiring layer can be electrically contacted externally. This means that these connection surfaces are wired to the outside in particular via the conductor tracks and can thus be connected in an electrically conductive manner to an external voltage source. Some more of the connection surfaces, in particular the rest of the connection surfaces, are for example by means of
  • Vias in the insulation layer are electrically conductively connected to the inner wiring layer.
  • the further wiring layer Via the inner wiring layer, for example via conductor tracks of the inner wiring layer, and / or via plated-through holes in the base substrate and / or through further plated-through holes in the further insulation layer the further
  • Connection surfaces are wired to the outside. Under a wiring of a connection surface to the outside is to
  • connection surface is contactable. If a connection surface is wired to the outside, it can be connected to an external voltage source, for example.
  • the external electrical contacting of the connection surfaces on the mounting surface is thus made on at least two, three or four
  • connection surfaces arranged next to one another are arranged as pairs.
  • the pads of the same pair can have different electrical
  • connection surface of a pair cannot be electrically contacted externally via the plated-through hole but exclusively via conductor track / s of the outer wiring layer.
  • the respective other connection surface of a pair is preferably electrically conductive by means of a plated through-hole in the insulation layer with the inner wiring layer
  • connection surfaces is set up in particular for receiving, mechanical fastening and / or for making electrical contact with a component.
  • Connection surfaces of the inner wiring layer is electrically conductively connected to the further inner wiring layer via the plated-through hole in the base substrate. This connection surface can be connected to the further outer layer via the further through-contact in the further insulation layer
  • Wiring layer wired especially to the outside be wired. It is also possible that one of the
  • Connection surfaces of the same pair is wired to the outside exclusively via a conductor track on the mounting surface, while the other connection surface of the same pair is not electrically conductively connected to any of the conductor tracks on the mounting surface, but at least partially via the vias in the insulation layer and / or in the base substrate and / or is wired in the further insulation layer.
  • the carrier has a plurality of vias in the
  • the outer wiring layer can have a plurality of conductor tracks, in particular
  • the outer wiring layer has a plurality of electrically conductive conductor tracks and a plurality of pairs of connecting surfaces arranged next to one another. At least some of the
  • Connection surfaces can be connected in an electrically conductive manner to the electrical conductor tracks. It is possible that the other connection surfaces each with one of the
  • connection surfaces that are electrically conductively connected to the vias in the insulation layer are, for example, not electrically conductive to the conductor tracks on the mounting surface
  • connection surfaces are in particular electrically contacted by means of the vias in the insulation layer with the wiring layer underneath and in particular are electrically contacted externally from there.
  • connection surfaces arranged on the same mounting surface can thus be made different wiring layers.
  • the number of electrical conductor tracks and / or the sealing caps on the mounting surface can be reduced because the electrical contacting of some connection surfaces takes place via the vias below.
  • the mounting surface can thus have a higher number of closely packed connection surfaces, as a result of which a higher number of components can be arranged on the mounting surface.
  • the components can thus be arranged particularly close to one another on the mounting surface. Since the electric
  • connection surfaces or the components are contacted via different wiring layers, the risk of electrical short circuits on the mounting surface is reduced.
  • the insulation layer and / or the further insulation layer is a layer composed of a potting compound, an oxide layer, a nitride layer, a polyimide layer, a
  • Solder resist layer or a photoresist layer solder resist layer or a photoresist layer.
  • the base substrate can be a printed circuit board, a metal core board, a plastic body or a ceramic body.
  • a carrier is provided with a base substrate, an insulation layer, an inner wiring layer, an outer
  • the plated-through hole in the insulation layer has a lateral cross section, the maximum lateral extent of which is preferably at most 100 ⁇ m.
  • Isolation layer from each other. For example that will
  • Base substrate as a circuit board, ceramic body,
  • Plastic body or provided as a metal core board The process of forming the insulation layer can be
  • the insulation layer is applied to the base substrate by a coating method.
  • the base substrate can be made by a casting process or by laminating a
  • a plurality of electrically insulating and / or electrically conductive layers are produced. It is possible for the base substrate to be provided as a prefabricated printed circuit board.
  • the base substrate can have a preliminary mounting surface with connection surfaces, conductor tracks and / or sealing caps.
  • the temporary mounting surface is covered by the application of the insulation layer or layers.
  • the final mounting surface of the carrier is only formed after the outer wiring layer has been applied to the insulation layer.
  • the mounting surface of the carrier can vary in terms of the number and / or the Geometry and size of the conductor tracks, the connection surfaces and / or the sealing caps from the preliminary
  • an electrically insulating material is applied to the inner wiring layer to form the insulation layer.
  • an opening is formed in the insulation layer, whereupon the opening is filled with an electrically conductive material to form the via.
  • a mechanical process, a chemical process, for example an etching process, or a laser drilling process can be used to form the opening or a plurality of openings.
  • the insulation layer is formed from a photo-structurable material, for example from a photoresist, the openings in the insulation layer can be exposed by exposure
  • Conductive material for forming the plated-through hole is applied in places to the inner wiring layer.
  • an electrical connection is made to form the insulation layer.
  • Top view covers the via, in particular completely covered.
  • the material of the insulation layer can be partially removed to expose the plated-through hole.
  • the plated-through hole or the plurality of plated-through holes is made before application the insulation layer is applied to the wiring layer.
  • the plated-through hole is implemented as a local elevation on the wiring layer before the
  • Insulation layer is applied to the wiring layer. Since the via or the
  • Vias are formed in front of the insulation layer, no openings have to be made in the insulation layer and then filled.
  • the vias can each have a particularly small cross section or diameter, since the
  • the plated-through hole or the plated-through holes can be formed in the shape of a drop or a hemisphere on the corresponding wiring layer.
  • Vias can each have a cross section
  • Figures 1A, 1B and IC are schematic representations
  • FIGS. ID and IE are schematic representations of various comparative examples of a conventional carrier in FIG.
  • Figures 2A, 2B and 2C are schematic representations of a
  • FIG. 3C shows a schematic representation of a section of a carrier in a vertical sectional view
  • FIGS. 4A, 4B and 4C are schematic representations
  • Embodiments of a multi-layer carrier in a vertical sectional view Embodiments of a multi-layer carrier in a vertical sectional view
  • Figures 5A, 5B and 5C are schematic representations of a
  • Carrier 5A in a plan view of the mounting surface, 5B in a vertical sectional view, 5C in a plan view of the
  • FIGS. 6A and 6B are schematic representations of a further exemplary embodiment of a carrier, with 6A in a plan view of the mounting surface and 6B in a plan view of the inner wiring layer,
  • FIGS. 7A and 7B are schematic representations of a further exemplary embodiment of a carrier, with FIG. 7A in a plan view of the mounting surface and 7B in a plan view of the inner wiring layer, Figures 8A, 8B, 8C, 8D, 8E, 8F and 8G are schematic
  • FIGS 9A, 9B and 9C are schematic representations
  • FIGS. 10A, 10B, IOC and 10D show schematic representations of further method steps of a method for producing a carrier, each in a vertical sectional view.
  • FIG. 1A shows a comparative example for a single-layer conventional carrier 10.
  • the carrier 10 has one
  • a mounting surface 10M of the carrier 10 is defined by exposed surfaces of the
  • the carrier 10 also has an exposed rear side 10B facing away from the mounting surface 10M, which is surrounded by a rear surface 1B of the
  • the wiring layer 2V is in particular by a
  • the structured cover layer 1Z of the base substrate 1 is formed.
  • the structured cover layer 1Z can have a plurality of subregions connected to one another or laterally spaced apart subregions which
  • FIG. 1B shows a comparative example for a two-layer conventional carrier 10.
  • this additionally has a rear-side wiring layer 3R on the rear side 1B of the base substrate 1.
  • This wiring layer 3R can, for example, the function of a rear
  • Front side 1F and / or rear side 1B can be designed to be planar.
  • the front wiring layer 2V can consist of a
  • the rear wiring layer 3R can be analogous to the
  • Front wiring layer 2V may be formed from a structured cover layer 1Z which has a plurality of
  • the front wiring layer 2V is via a
  • FIG. 1C shows a comparative example for a four-layer conventional carrier 10. Compared to FIG. 1B, this additionally has two inner wiring layers IV and IR. In particular, the front 1F or the rear 1B is planar together with the wiring layer 2V or 3R
  • the inner wiring layers IV and IR are embedded in the same material as the base substrate 1.
  • the outer wiring layers 2V and 3R can be connected in an electrically conductive manner to the inner wiring layers IV and IR via the vias 21 and 31.
  • Via / s 11 can be the two inner
  • Wiring layers IV and IR be connected to one another in an electrically conductive manner.
  • connection surfaces 2P are part of the mounting surface 10M for external contacting. They should therefore have a suitable minimum structure width and a suitable minimum distance so that an electrical component can be securely mounted on the mounting surface and electrically contacted.
  • the connection surfaces 3P are part of the back of the carrier 10B for external contacting. They should therefore have a suitable minimum structure width and a suitable minimum spacing, so that the carrier 10 can be securely mounted on a base and suitably electrically connected to it.
  • the carriers 10 shown in FIGS. 1A to IC can each have a base substrate 1 made of an electrically insulating material, the vias 11, 21 and / or 31 shown in FIGS. 1B and IC being embedded and / or in particular in the same material as the base substrate 1. or are laterally surrounded by the same material as the base substrate 1.
  • the vias 11, 21 and 23 each have a lateral diameter HD, 21D and 31D.
  • the plated-through holes 11, 21 and 31 generally have a diameter of at least 125 ⁇ m or 150 ⁇ m.
  • the closure caps IC, 2C or 3C should be designed so large that they each associated with a plan view
  • FIG. ID a section of a mounting surface 10M of a carrier 10 is shown in plan view.
  • the mounting surface 10M is formed in particular from an exposed surface 1F of the base substrate 1 and from an exposed surface of the outer wiring layer 2V. So the
  • Mounting surface 10M electrically conductive in areas and electrically insulating in areas.
  • the mounting surface 10M has at least one connection surface 2P, usually a plurality of
  • connection surface 2P covers a plated-through hole 11 or 21, then it additionally fulfills the function of a closure cap 2C.
  • the closure cap 2C can be integrated, that is to say included, or at least partially included in the connection surface. In plan view, the closure caps 2C (and, if applicable, the
  • Terminal surface 2P the respective associated through-hole connection 11 or 21 completely.
  • the conductor tracks 2W have a minimum structure width (as a rule this is the conductor track width), which is required either by the manufacturing process of the wiring layer 2V or by the application, for example with regard to the required
  • the closure caps 2C have a minimum structure width (usually this is the cap diameter), which is determined by the
  • connection surfaces 2P and / or the conductor tracks 2W and / or the closure caps 2C which is either due to the manufacturing process of the
  • Wiring layer 2V or the application, for example, with regard to the required dielectric strength.
  • the minimum structure widths and spacing is the
  • connection surfaces 2P within the mounting surface 10M is limited, in particular with regard to their sizes and positions.
  • the explanations for the wiring layer 2V, illustrated in FIG. ID, also apply analogously to the outer wiring layer 3R and, excluding the connection surfaces, also to inner ones
  • the mounting surface 10M will usually have a regular arrangement of tightly packed connection surfaces 2P each with different electrical potentials. This can lead to too little free space remaining on the mounting surface 10M for the required conductor tracks 2W or for the sealing caps 2C in order to electrically connect or wire each of the connection surfaces 2P in a suitable manner.
  • FIG. IE exemplarily illustrates the problem of an arrangement of 6 ⁇ 3 connection surfaces 2P which are suitable for the assembly of 3 ⁇ 3 small bipolar components P which are tightly packed. Due to the small component size, each connection surface 2P is too small to integrate a closure cap 2C therein. Due to the tight packing of the components P, the distance between the connection surfaces 2P is too small to be able to pass through between these conductor tracks. Consequently, in this example, the inner 4 of the total of 18 connection surfaces cannot be electrically connected, neither by conductor track nor by plated-through hole.
  • closure caps 2C can be reduced in size or the number of conductor tracks 2W and / or closure caps 2C on the mounting surface 10M can be reduced.
  • the exemplary embodiment for a carrier 10 shown in FIG. 2A corresponds structurally to the carrier 10 shown in FIG. 1A.
  • the carrier 10 has an inner wiring layer IV and an outer wiring layer 2V.
  • An insulation layer 2 is arranged in regions between the wiring layers IV and 2V.
  • the carrier 10 has a plurality of
  • Vias 21 each have a cross section with a maximum lateral extent or with a lateral diameter of at most 100 ⁇ m.
  • Connection surfaces 2P on the outer wiring layer 2V can be made correspondingly smaller. According to Figure 2A, the outer wiring layer 2V protrudes along the vertical
  • Connection areas 2P and / or the plated-through holes 21 of the outer wiring layer 2V can be formed from the same material or from different materials. It is conceivable that the plated-through hole 21 and the associated closure cap 2C are formed from the same material and in one piece. Notwithstanding this, it is possible that the plated-through hole 21 and the associated closure cap 2C are two different layers, which in particular directly adjoin one another and in different
  • the mounting surface 10M is in particular planar and has a roughness of at most 50 mpi, 40 mpi, 30 mpi, 20 mpi or at most 10 mpi.
  • the roughness of the mounting surface 10M is given by local depressions or local elevations, which are determined by the layer thickness of the
  • Closing cap 2C are conditional.
  • the conductor tracks 2W, the closure caps 2C and / or the connection surfaces 2P can have a vertical layer thickness of at most 50 mpi, 40 mpi, 30 mpi, 20 mpi or at most 10 mpi.
  • Insulation layer 2 in areas over the outer
  • Insulation layer 2 have openings 20, so that the
  • Insulation layer 2 are accessible.
  • the connection surfaces 2P are for receiving one or more components
  • the openings 20 can serve as a catch basin for excess connecting material.
  • each takes Cross section of the vias 21 with increasing
  • the plated-through holes 21 thus have a 2V on the outer wiring layer
  • a rear side 10B is formed by a surface, in particular by a rear side 1B, of the base substrate 1.
  • the carrier 10 has a plurality of base vias 11, that is to say
  • the carrier 10 further comprises a rear
  • the base vias 11 thus extend from the rear side wiring layer IR through the base substrate 1 to the inner one
  • the rear side 1B of the carrier 10 is partially covered by surfaces of the rear side
  • Insulation layer 3 is arranged on the rear side 1B of the base substrate 1. This insulation layer 3 can fill areas between the caps IC so that the
  • Rear side 1B is made entirely planar.
  • the base via 11 has a lateral
  • Diameter HD is a maximum lateral extension of the cross-section of the Base via 11.
  • the diameter HD is greater than 100 mpi, in particular greater than 150 mpi. It is possible that the diameter 11D of the base via 11 is at least 50%, 75%, 100% or 200% larger than the diameter 21D of the via 21.
  • Vias 21 overlap, partially overlap, or be arranged next to one another.
  • the base vias 11 do not extend from the rear wiring layer IR to the inner wiring layer IV, but rather through the rear wiring layer IR and through the inner wiring layer IV. While the
  • Wiring layer IV is arranged, according to Figure 3B, at least one of the plated-through holes 21 can be arranged directly on the base plated-through hole 11 in plan view.
  • the plated through-hole 21 is completely covered in a plan view by a closure cap 2C, the diameter 2CD of which is greater than a diameter 21D of the plated through hole 21.
  • FIG. 3C a base through-contact 11 in the base substrate 1 and an associated closure cap IC on the base substrate 1 are shown schematically as an example.
  • Base via 11 has a lateral diameter 11D.
  • the closure cap IC has a lateral diameter ICD.
  • the closure cap IC completely covers the associated base via 11.
  • the closure cap IC and the associated base via 11 can have the same cross section or the same diameter. In practice that is
  • the diameter ICD of the closure cap IC is chosen such that it is the sum of the diameter HD of the
  • the required diameter of the closure cap is preferably at least as large as the sum of the diameter of the plated-through hole and twice the manufacturing tolerances. For example is the
  • ICD diameter at least 110 gm, 130 gm, 160 gm, 210 gm or 250 gm.
  • Base via 11 shown schematically, that is, with an offset V of zero.
  • a possible maximum offset between the base via 11 and the associated closure cap IC is shown schematically in the center and on the right-hand side in FIG. 3C. The edge of the
  • Closing cap IC coincides with the edge of the via 11, so that the closing cap IC the
  • Base via 11 is only just completely covered.
  • FIG. 3C can be applied to all pairs of vias and sealing caps that belong together, that is to say for example also to
  • Insulation layer 2 compared to the Base vias 11 in the base substrate 1 one
  • the diameter 2CD of the closure cap 2C is correspondingly smaller than the diameter ICD of the closure cap IC, and that the necessary area of the closure cap 2C
  • the maximum offset that occurs correlates with the size of the plated-through hole and / or the sealing cap, so that a smaller one
  • Via 21 can be placed. This in turn further reduces the minimum required diameter 2CD of the closure cap 2C.
  • the offset V can be 50 gm, so that the minimum required diameter ICD of the closure cap IC is 225 pm, while for a via 21 through a
  • the offset V can be 25 ⁇ m, so that the at least
  • Closing cap 2C would be 5027 pm 2 , compared to 39761 pm 2 of the closing cap IC.
  • the carrier 10 has four layers.
  • the carrier 10 has a further inner wiring layer IR and a further outer wiring layer 3R.
  • the inner wiring layers IV and IR each have a cover layer 1Z of the base substrate 1.
  • the respective cover layers 1Z are arranged in particular on the base substrate 1, in particular directly on the base substrate 1.
  • Base vias 11 extend in particular partially through the respective cover layers 1Z.
  • the closure caps IC are each arranged on the cover layer 1Z, in particular directly on the cover layer 1Z.
  • the cover layers 1Z and the closure caps IC can be congruent when viewed from above.
  • the carrier 10 has another
  • the insulation layer 3 can be formed analogously to the insulation layer 2.
  • the carrier 10 has a plurality of further plated-through holes 31 which electrically conductively connect the further inner wiring layer IR to the further outer wiring layer 3R.
  • the outer wiring layer 3R is located on the rear side 10B of the carrier 10. The outer wiring layer 3R is therefore accessible from the outside. Analogous to the
  • front outer wiring layer 2V can the
  • the material composition and the layer thickness can be the same as the outer wiring layer 3R
  • Wiring layer 2V be formed.
  • Insulation layers 2 and 3 in FIG. 4B are formed analogously to the insulation layer 2 in FIG. 2B.
  • the insulation layers 2 and 3 can each have a plurality of openings 20 or 30 in which the connection surfaces 2P or 3P are exposed.
  • the conductor tracks 2W and / or 3W and the closure caps 2C and / or 3C can be partially or completely through the respective
  • Insulation layers 2 or 3 be covered.
  • Connection surfaces 2P and / or 3P can be partially covered by the respective insulation layers 2 or 3.
  • the configuration of the plated-through holes 21 and 31 shown in FIG. 4C is analogous to the configuration in FIG. 2C
  • Insulation layer layers and further wiring layers can be added on the mounting side and / or the rear.
  • FIG. 4A shows an insulation layer 2 or 3 with an associated wiring layer 2V or 3R on each side of the carrier.
  • FIG. 4D shows two insulation layers 2 or 3 with associated wiring layers on each side.
  • Figure 4E points to each Side three insulation layers 2 or 3 with associated wiring layers. If further internal wiring layers are required, these can be implemented, for example, as shown in FIG.
  • Base substrate 1 and / or in the insulation layers 2 or 2 are arranged.
  • the plated-through holes 21 and 31 between the wiring layers within the insulation layers 2 and 3 can be smaller than that
  • FIGS. 5A, 5B and 5C it is shown by way of example how the problem illustrated in FIG. IE can be solved in particular through the use of insulation layers 2 and 3 and associated vias 21 and 31.
  • FIG. 5A shows the plan view of part of FIG.
  • FIG. 5B shows a vertical sectional view through part AB of the carrier 10.
  • FIG. 5C shows a plan view of the wiring layer IV within the carrier 10, which corresponds to a lateral sectional view.
  • the mounting surface 10M has an arrangement of 8 x 4
  • Terminal surfaces 2P which are suitable for the assembly of 4 x 4 tightly packed small bipolar components P. These can be, for example, light-emitting diode flipchips.
  • Insulation layer 2 has a smaller diameter 21D
  • Closing caps 2C can be significantly smaller than that
  • a closure cap 2C could have a diameter 2CD of 80 mpi, compared to a closure cap IC with a
  • connection surface has, for example, a width of 80 ⁇ m, 100 ⁇ m, 150 ⁇ m or 200 ⁇ m specified by the component P, then a closure cap 2C can be integrated into a connection surface 2P, i.e. a connection surface 2P can be positioned over a via 21 during this in that
  • Carrier 10 are electrically wired.
  • the outer 20 connection surfaces can, for example, as illustrated, electrically by means of conductor tracks 2W in the wiring layer 2V
  • the inner 12 connection areas 2P can, for example, firstly be via
  • Wiring within the wiring layers IR and 3R according to FIG. 5B can be present or optional.
  • FIGS. 5A to 5C can in this way easily be expanded to a larger number of components P or connection surfaces 2P.
  • connection areas 2P are wired by conductor tracks 2W within this wiring layer. These are usually the connection surfaces on the outside of the field.
  • connection surfaces are laid on the next lower wiring layer via vias 21. Usually these are the internal connection surfaces.
  • Wiring layer This is done using a sufficient number of wiring layers until enough potentials remain in wiring layer IV to be wired there by conductor tracks IW or through-hole contact 11 in the base substrate 1.
  • FIGS. 6A and 6B show, as an application example, a tightly packed arrangement of 16 ⁇ 9 connection surfaces 2P, which are suitable for, for example, 8 ⁇ 9 tightly packed bipolar small components P such as light-emitting diode flipchips.
  • the components are wired in part via a common electrode 4, which can be designed as a common anode or common cathode of the carrier 10.
  • the respective components P each have a connection area which is assigned to an individual potential and can be electrically wired separately, while the others
  • Connection surfaces of the components have a common potential and can all be electrically connected to one another.
  • FIG. 6A shows, analogously to FIG. 5A, the top view of part of the mounting surface 10M and the wiring layer 2V of a carrier 10.
  • FIG. 6B shows, analogously to FIG. 5C, a
  • the vertical structure of the carrier 10 corresponds to that of the carrier 10 shown in FIG. 5B.
  • Closing cap 2C have a diameter 2CD of 80 ⁇ m, compared to a closing cap IC with a
  • connection surface 2P has, for example, a width of 80 ⁇ m, 100 ⁇ m, 150 ⁇ m or 200 ⁇ m predetermined by the component P, then it is a
  • Carrier 10 are electrically wired.
  • Conductor tracks 2W wired in the wiring layer 2V as illustrated in Figure 6A.
  • the remaining 54 connection areas with individual potential can no longer be wired for reasons of space within the wiring layer 2V, and are initially placed on the wiring level IV via through-hole contact 21.
  • There 50 of these 54 connection areas are wired by conductor tracks IW in wiring layer IV, as illustrated in FIG. 6B.
  • the remaining 4 connection surfaces can no longer be wired for reasons of space within the wiring layer IV, and are initially via
  • FIGS. 6A to 6B can be applied to a larger number of components P, respectively, analogously to the explanations for FIGS. 4D and 4E
  • Connection surfaces 2P can be expanded.
  • FIGS. 7A and 7B show, as an application example, a tightly packed arrangement of 16 ⁇ 9 connection areas 2P, which are suitable, for example, for 8 ⁇ 9 tightly packed bipolar small components P such as light-emitting diode flipchips.
  • the mounting surface 10M or the outer wiring layer 2V thus has a plurality of connection surfaces 2P, in particular in a matrix form with a plurality of
  • Rows and columns are arranged.
  • connection areas 2P of every second column of the matrix arrangement are connected to one another in an electrically conductive manner via a common conductor track 2W.
  • the common conductor track 2W is in particular on a line with the associated connection surfaces 2P of the same column. In other words, the common conductor track 2W in particular does not protrude laterally beyond the associated connection areas 2P to the connection areas 2P of the adjacent column.
  • connection areas 2P are connected to the wiring layer 2V via the conductor tracks 2W
  • Conductor tracks 2W on the wiring layer 2V or on the mounting surface 10M are electrically connected or electrically wired, can via the
  • connection surfaces 2P of the same row which are not already electrically wired via the conductor tracks 2W on the mounting surface 10M, are in the inner row according to FIG. 7B
  • Wiring layer IV connected to one another in an electrically conductive manner via the conductor tracks IW.
  • a cross matrix circuit is two different
  • Each component P which is arranged on a pair of two connection surfaces 2P of different polarities, can be via the
  • the conductor tracks IW, 2W, 3W, the
  • the cover layer 1Z of the base substrate 1 can also be formed from such a material.
  • Insulation layers 2 and 3 can each consist of one
  • Solder mask a photoresist, a potting compound
  • the maximum possible offset between the plated-through hole 21 or 31 and the associated closure cap 2C or 3C is preferably less than 100 gm, 50 gm, for example less than 30 gm, in particular less than 25 gm or less than 20 gm.
  • Such additional layers can be made of titanium, platinum, Palladium, tungsten nitride or their alloys
  • the pads 2P or 3P which are used for electrical
  • the insulation layer 2 or 3 has openings 20 or 30 in which the connection surfaces 2P or 3P are at least partially accessible, the insulation layer 2 or 3 can protrude along the vertical direction beyond the connection surface 2P or 3P.
  • the opening 20 or 30 can be used as
  • FIGS. 8A to 8G various method steps of a method for producing a carrier 10 are shown schematically.
  • a base substrate 1 with a metallic coating on both sides is made, in particular, of copper
  • the base substrate 1 can consist of a
  • the base substrate has a front side 1F and a rear side 1B. Due to the metallic coating, a cover layer 1Z of the base substrate 1 is in each case on the front side 1F and on the
  • the cover layer 1Z is in particular partially intended to form a wiring layer IV or IR.
  • a sealing layer IC is formed in each case on the cover layer 1Z.
  • the sealing layer IC can be made of copper
  • Vias 11 can be formed from the same material or from different materials.
  • Closure layer IC structured on both sides of the base substrate 1.
  • the sealing layer IC can be structured into a plurality of sealing caps IC, each of which in plan view has at least one of the
  • Closing cap IC has a diameter ICD. By structuring the cover layer 1Z and the sealing layer IC, the base substrate 1 can be exposed in certain areas.
  • an insulation layer 2 is on the
  • Insulation layer 2 can completely cover the closure caps IC and / or the base substrate 1 in plan view.
  • Insulation layer 3 can be applied to the rear side 1B of the base substrate 1 and to the rear side sealing caps IC.
  • the insulation layers 2 and 3 can be in the same process step or in different
  • Insulation layers 2 and 3 can be formed from the same material or from different materials.
  • openings are formed in the insulation layers 2 and 3 to form the plated-through holes 21 and 31.
  • Wires 2W are formed on the insulation layer 2.
  • the inner sealing caps IC form, in particular, an inner wiring layer IV.
  • the inner wiring layer IV is connected to the outer via the vias 21
  • Connection surfaces 3P, conductor tracks 3W and a plurality of possible closure caps 3C are formed.
  • the exemplary embodiment shown in FIG. 8F corresponds to the exemplary embodiment shown in FIG. 4A for a carrier 10.
  • a partial layer of the insulation layer 2 or 3 is applied to the outer wiring layer 2V or 3R in such a way that the partial layer partially covers the connection surfaces 2P or 3P and partially or in particular completely covers the conductor tracks 2W or 3W.
  • Partial layer of the insulation layer 2 or 3 and the rest of the insulation layer 2 or 3 can consist of the same
  • the partial layers can each have openings 20 or 30 in which the connection surfaces 2P or 3P at least are freely accessible in certain areas.
  • the exemplary embodiment shown in FIG. 8G corresponds to the exemplary embodiment shown in FIG. 4B for a carrier 10.
  • a plurality of electrically conductive connection structures are applied to the wiring layer IV or to the wiring layer IR, which for
  • connection structures can be designed as bonding wires or in the form of hemispheres. According to Figure 9B, the
  • the insulation layer 2 and / or the insulation layer 3 are formed in such a way that they completely cover the vias 21 or 31.
  • Wiring layer 2V or 3R can be formed on the insulation layer 2 or 3. This method is particularly suitable for the production of a carrier 10 shown for example in FIG. 2C or in FIG. 4C.
  • the exemplary embodiment shown in FIG. 10A essentially corresponds to the exemplary embodiment shown in FIG. 8E for a method step. in the
  • the insulation layer 2 or 3 has a plurality of openings for the formation of the
  • the insulation layer 2 or 3 can be structured on the base substrate 1 be applied. Alternatively, it is possible that the
  • Insulation layer 2 or 3 initially flat on the
  • Base substrate 1 is formed and then structured.
  • a sacrificial layer 5 is on the
  • Insulation layer 2 or 3 itself has openings.
  • the openings of the sacrificial layer 5 have a larger one
  • Openings of the insulation layer 2 or 3 and within the openings of the sacrificial layer 5 can be the front-side outer wiring layer 2V or the rear-side outer wiring layer
  • Wiring layer 3R are formed.
  • the plated-through holes 21 and the connection surfaces 2P or the sealing caps 2C of the front-side wiring layer 2V can be formed from the same material or from different materials. Analogously, the vias 31 and
  • Connection surfaces 3P or the sealing caps 3C of the outer wiring layer 3R can be formed from the same material or from different materials.
  • the sacrificial layer 5 is removed.
  • Wiring layer 2V or 3R can be thinned, sanded or planarized.
  • the sacrificial layer 5 only removed after thinning, grinding or planarizing the corresponding wiring layer 2V or 3R.
  • the shape, the layer thickness and / or the flanks of the vias 21 or 31 and the wiring layer 2V or 3R can be better controlled, for example in comparison with an etching process, since the manufacturing tolerances in the Structuring the sacrificial layer 5 are generally better than, for example, when structuring an etching mask.
  • An even more precise control can also be achieved if the sacrificial layer 5 is designed to be radiation-permeable, for example transparent, or if an LDI process (Laser Direct
  • partitioning partitioning

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Abstract

Es wird ein Träger (10) angegeben mit einem Basissubstrat (1), zumindest einer Isolierungsschicht (2), zumindest einer inneren Verdrahtungslage (1V), zumindest einer äußeren Verdrahtungslage (2V) und und zumindest einer Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2), die sich durch die Isolierungsschicht (2) hindurch erstreckt,, wobei - das Basissubstrat und die Isolierungsschicht aus unterschiedlichen Materialien gebildet sind, - das Basissubstrat zur mechanischen Stabilisierung des Trägers ausgeführt ist und die Isolierungsschicht trägt, - die innere Verdrahtungslage in vertikaler Richtung zumindest bereichsweise zwischen dem Basissubstrat und der Isolierungsschicht angeordnet ist, - die äußere Verdrahtungslage durch die Isolierungsschicht von der inneren Verdrahtungslage räumlich getrennt ist, und - die Durchkontaktierung die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbindet und einen lateralen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 100 µm aufweist. Des Weiteren wird ein Verfahren zur Herstellung eines solchen Trägers angegeben.

Description

Beschreibung
TRÄGER MIT VERKLEINERTER DURCHKONTAKTIERUNG
Es wird ein Träger mit verkleinerter Durchkontaktierung angegeben .
Eine Leiterplatte ist ein Träger für elektrische oder
elektronische Bauelemente und weist in der Regel eine
Montagefläche mit einer Mehrzahl von Anschlussflächen,
Leiterbahnen und Verschlusskappen auf. Deren Abstand
voneinander sowie deren Anordnung auf der Montagefläche sind durch Mindeststrukturbreiten der Anschlussflächen, der
Leiterbahnen und der Verschlusskappen begrenzt. Je nach
Komplexität der Verdrahtung kann eine Leiterplatte als einlagige, zweilagige oder mehrlagige Leiterplatte ausgeführt sein. Eine vertikale Verbindung zwischen den Lagen wird insbesondere durch Durchkontaktierungen hergestellt, deren Mindestdurchmesser bei herkömmlichen Herstellungsverfahren oft größer als 125 gm oder größer als 150 gm sind. Eine
Verschlusskappe, die die zugehörige Durchkontaktierung abdeckt, weist somit einen noch größeren Durchmesser auf, der meist deutlich größer ist als die Mindeststrukturbreite einer Lage. Durch diese typischen Strukturbreiten und Abmessungen werden die Ausgestaltung der Montagefläche und insbesondere die Packungsdichte der Bauelemente eingeschränkt.
Weitergehend ergeben sich Schwierigkeiten bei der
Kontaktierung von Bauelementen mit eng aneinander liegenden Kontaktflächen .
Eine zu lösende Aufgabe besteht darin, einen Träger,
anzugeben, der zur Aufnahme von elektrischen oder
elektronischen, insbesondere optoelektronischen Bauelementen geeignet ist und eine besonders kompakt ausgestaltete
Montagefläche zur Aufnahme einer möglichst großen Anzahl von Bauelementen aufweist. Eine weitere Aufgabe ist es, ein zuverlässiges und kosteneffizientes Verfahren zur Herstellung eines solchen Trägers anzugeben.
Diese Aufgaben werden durch den Träger gemäß dem unabhängigen Anspruch sowie durch das Verfahren zur Herstellung eines solchen Trägers gelöst. Weitere Ausgestaltungen des Trägers oder des Verfahrens zur Herstellung des Trägers sind
Gegenstand der weiteren Ansprüche.
Es wird ein Träger mit einem Basissubstrat angegeben.
Insbesondere ist das Basissubstrat bezüglich seiner
Materialzusammensetzung und/oder seiner Schichtdicke derart ausgeführt, dass dieses den Träger mechanisch trägt und/oder mechanisch stabilisiert. Weist der Träger eine Mehrzahl von weiteren Schichten auf, werden diese Schichten insbesondere ebenfalls von dem Basissubstrat mechanisch getragen. Von allen Schichten des Trägers weist das Basissubstrat
insbesondere die höchste mechanische Stabilität auf. Das Basissubstrat kann eine Leiterplatte, eine Metallkernplatine, ein Kunststoffkörper oder ein Keramikkörper sein.
Insbesondere weist das Basissubstrat eine Mehrzahl von
Glasfasern auf, die etwa miteinander gewoben und/oder
übereinander gestapelt und etwa in einem Epoxidharz oder epoxidähnlichen Harz eingebettet sind. Es ist möglich, dass das Basissubstrat aus laminierten Schichten vorimprägnierter Faserschichten, sogenannten Prepreg-Schichten gebildet ist. Bevorzugt ist das Basissubstrat in einem Panel herstellbar.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist dieser eine innere Verdrahtungslage und eine äußere Verdrahtungslage auf. Insbesondere ist die innere Verdrahtungslage auf dem Basissubstrat angeordnet, wobei eine unmittelbare Anordnung der inneren Verdrahtungslage auf dem Basissubstrat bevorzugt ist. In vertikaler Richtung ist die innere Verdrahtungslage zum Beispiel durch eine
Isolierungsschicht des Trägers von der äußeren
Verdrahtungslage räumlich getrennt. Die äußere
Verdrahtungslage kann auf der Isolierungsschicht,
vorzugsweise unmittelbar auf der Isolierungsschicht, gebildet sein. Die Isolierungsschicht und das Basissubstrat können unterschiedliche Materialzusammensetzungen und/oder
unterschiedliche Schichtdicken aufweisen. Zum Beispiel wird die Isolierungsschicht auf das Basissubstrat aufgebracht und in diesem Sinne von dem Basissubstrat mechanisch getragen. Weiter bevorzugt sind sowohl die Isolierungsschicht als auch das Basissubstrat elektrisch isolierend ausgeführt sind.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist dieser zumindest eine Durchkontaktierung in der
Isolierungsschicht auf, die sich durch die Isolierungsschicht hindurch erstreckt und die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch verbindet. Da das
Basissubstrat insbesondere hinsichtlich seiner Schichtdicke und Materialzusammensetzung derart ausgeführt ist, dass der Träger hauptsächlich durch das Basissubstrat mechanisch stabilisiert und somit von dem Basissubstrat mechanisch getragen ist, kann die Isolierungsschicht besonders dünn ausgeführt sein. Da die Isolierungsschicht nicht oder kaum zur mechanischen Stabilisierung des Trägers eingerichtet ist, ermöglicht diese Ausführung der Isolierungsschicht eine große Auswahl an Materialien für die Isolierungsschicht. Aufgrund der geringen Schichtdicke der Isolierungsschicht kann die Durchkontaktierung auf vergleichsweise einfache Art und Weise durch die Isolierungsschicht hindurch gebildet werden. Zum Beispiel wird eine Öffnung durch die
Isolierungsschicht hindurch gebildet und nachfolgend zur Ausformung der Durchkontaktierung mit einem elektrisch leitfähigen Material aufgefüllt. Aufgrund der geringen
Schichtdicke der Isolierungsschicht kann die Öffnung
entsprechend klein ausgeführt werden, ohne dass es
Schwierigkeiten beim Auffüllen der Öffnung, etwa im Hinblick auf die Benetzung oder Kapillareffekte, gibt. Insbesondere weist die Durchkontaktierung einen lateralen Querschnitt auf, der eine maximale laterale Ausdehnung oder einen Durchmesser von höchstens 100 gm, 90 gm, 80 gm, 75 gm oder von höchstens 50 gm aufweist. Weiter bevorzugt liegt diese maximale
laterale Ausdehnung oder dieser Durchmesser zwischen
einschließlich 10 gm und einschließlich 100 gm.
Unter einer lateralen Richtung wird vorliegend eine Richtung verstanden, die parallel zu einer Haupterstreckungsfläche des Trägers und/oder des Basissubstrats, beispielsweise parallel zu einer Montagefläche des Trägers, verläuft. Unter einer vertikalen Richtung wird vorliegend eine Richtung verstanden, die senkrecht zu der Haupterstreckungsfläche des Trägers und/oder des Basissubstrats ist, beispielsweise senkrecht zu der Montagefläche des Trägers. Die vertikale Richtung und die laterale Richtung sind quer oder bevorzugt orthogonal
zueinander angeordnet.
In mindestens einer Ausführungsform des Trägers weist dieser ein Basissubstrat, zumindest eine Isolierungsschicht,
zumindest eine innere Verdrahtungslage, zumindest eine äußere Verdrahtungslage und zumindest eine Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht auf. Die Durchkontaktierung erstreckt sich insbesondere durch die Isolierungsschicht hindurch. Bevorzugt sind das Basissubstrat und die Isolierungsschicht aus
unterschiedlichen Materialien gebildet. Das Basissubstrat ist zur mechanischen Stabilisierung des Trägers ausgeführt und trägt insbesondere die Isolierungsschicht. Die innere
Verdrahtungslage ist in der vertikalen Richtung zumindest bereichsweise zwischen dem Basissubstrat und der
Isolierungsschicht angeordnet. Die äußere Verdrahtungslage ist zumindest bereichsweise durch die Isolierungsschicht von der inneren Verdrahtungslage räumlich getrennt. Die
Durchkontaktierung verbindet die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend. Besonders bevorzugt weist die Durchkontaktierung einen lateralen
Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 100 gm auf.
Der Träger weist somit mindestens zwei unterschiedliche
Verdrahtungslagen auf, die durch eine dünne
Isolierungsschicht voneinander getrennt und durch die
Durchkontaktierung miteinander elektrisch leitend verbunden sind. Da der Träger zumindest zweilagig ausgeführt ist, kann die äußere Verdrahtungslage, deren Oberfläche insbesondere eine Montagefläche des Trägers bildet, größere
Anschlussflächen oder eine höhere Anzahl von Anschlussflächen zur Aufnahme einer höheren Anzahl von Bauelementen aufweisen. Da die Verdrahtung bereichsweise über die Durchkontaktierung oder über eine Mehrzahl von Durchkontaktierungen erfolgt, kann die Anzahl der Leiterbahnen auf der Montagefläche reduziert werden. Da die Durchkontaktierung zudem einen vergleichsweise kleinen lateralen Querschnitt aufweist, kann eine Verschlusskappe der Durchkontaktierung auf der
Montagefläche dementsprechend kleiner ausgeführt sein. Aufgrund der mehrlagigen Gestaltung des Trägers und der vergleichsweise geringen Dimensionen der Durchkontaktierung verbleibt somit vorteilhafterweise auf der Montagefläche mehr Freifläche für die Ausbildung von Anschlussflächen für die Aufnahme von elektrischen Bauelementen, die auf diese
Anschlussflächen montiert werden. Es ist möglich, dass die Verschlusskappen als Anschlussflächen ausgebildet sind.
Aufgrund der verringerten Anzahl von erforderlichen
Leiterbahnen und der verkleinerten Verschlusskappen kann die Montagefläche mehr oder größere Anschlussflächen aufweisen, auf denen die Bauelemente montiert werden können. In diesem Sinne kann der Träger besonders kompakt ausgestaltet sein und/oder eine höhere Anzahl von Bauelementen aufnehmen.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers ist die innere Verdrahtungslage auf dem Basissubstrat angeordnet. Insbesondere ist die Verdrahtungslage derart strukturiert ausgeführt, dass die Isolierungsschicht bereichsweise
unmittelbar an das Basissubstrat und bereichsweise
unmittelbar an die innere Verdrahtungslage angrenzt. Zum Beispiel ist die innere Verdrahtungslage aus einer
strukturierten Deckschicht des Basissubstrats gebildet. Die strukturierte Deckschicht des Basissubstrats kann in eine Mehrzahl von räumlich getrennten oder miteinander verbundenen Teilregionen unterteilt sein. Diese Teilregionen können als Leiterbahnen und/oder Verschlusskappen ausgeführt sein.
Die äußere Verdrahtungslage kann in Entsprechung zur inneren Verdrahtungslage als strukturierte Deckschicht mit einer Mehrzahl von Anschlussflächen, Verschlusskappen und/oder Leiterbahnen ausgeführt sein. Die äußere Verdrahtungslage kann unmittelbar auf der Isolierungsschicht gebildet sein. Durch die Isolierungsschicht hindurch erstreckt sich die Durchkontaktierung oder die Mehrzahl von
Durchkontaktierungen, wodurch die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbunden ist. Insbesondere unterscheidet sich die Größe oder die
Geometrie der inneren Verdrahtungslage von der Größe oder Geometrie der äußeren Verdrahtungslage. Die Verschlusskappen der äußeren Verdrahtungslage können größer oder kleiner als die entsprechenden Verschlusskappen der inneren
Verdrahtungslage ausgeführt sein.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers enthält dieser eine Durchkontaktierung im Basissubstrat, die
elektrisch leitfähig ausgebildet ist und sich insbesondere durch das Basissubstrat hindurch erstreckt. Diese
Durchkontaktierung wird im Folgenden als
Basisdurchkontaktierung bezeichnet. Besonders bevorzugt weist die Basisdurchkontaktierung einen größeren lateralen
Querschnitt auf als die Durchkontaktierung in der
Isolierungsschicht. Zum Beispiel weist die
Basisdurchkontaktierung im Basissubstrat einen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung oder Durchmesser von mindestens 100 gm, 125 gm, 150 gm oder 200 gm auf.
Insbesondere grenzt die Durchkontaktierung in dem
Basissubstrat nicht an die Isolierungsschicht an, oder erstreckt sich nicht durch die Isolierungsschicht hindurch. Eine Verschlusskappe der äußeren Verdrahtungslage, die die Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht in Draufsicht vollständig bedeckt, kann somit einen kleineren Querschnitt oder eine kleinere maximale laterale Ausdehnung aufweisen als eine entsprechende Verschlusskappe der inneren
Verdrahtungslage, welche die Durchkontaktierung im
Basissubstrat in Draufsicht vollständig bedeckt. Die Durchkontaktierung im Basissubstrat weist einen lateralen Durchmesser auf, der mindestens 25 %, 50 %, 75 %, 100 % oder mindestens 200 % größer ist als ein lateraler Durchmesser der Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht. Unter dem lateralen Durchmesser ist im Zweifel die maximale laterale Ausdehnung der Durchkontaktierung zu verstehen.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist dieser eine weitere Verdrahtungslage auf. Die innere
Verdrahtungslage und die weitere Verdrahtungslage sind insbesondere auf gegenüberliegenden Oberflächen des
Basissubstrats angeordnet. Über die Durchkontaktierung oder Durchkontaktierungen im Basissubstrat können die innere
Verdrahtungslage und die weitere Verdrahtungslage miteinander elektrisch leitend verbunden sein. Die weitere
Verdrahtungslage kann als weitere innere Verdrahtungslage des Trägers oder als äußere, rückseitige Verdrahtungslage des Trägers ausgeführt sein.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist dieser eine weitere Isolierungsschicht, eine weitere innere Verdrahtungslage, eine weitere äußere Verdrahtungslage und eine oder eine Mehrzahl von weiteren Durchkontaktierungen in der weiteren Isolierungsschicht auf. Die weitere
beziehungsweise die weiteren Durchkontaktierungen erstrecken sich hierbei durch die weitere Isolierungsschicht hindurch. Das Basissubstrat ist in der vertikalen Richtung sowohl zwischen den inneren Verdrahtungslagen als auch zwischen den Isolierungsschichten angeordnet. Die weitere
Durchkontaktierung kann die weitere innere Verdrahtungslage mit der weiteren äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbinden . Die Durchkontaktierung und die weitere Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht beziehungsweise in der weiteren
Isolierungsschicht können Durchmesser oder maximale laterale Ausdehnungen in der gleichen Größenordnung aufweisen. Zum Beispiel weist die Durchkontaktierung oder die weitere
Durchkontaktierung einen maximalen Durchmesser von höchstens 100 gm, 75 mpi oder von höchstens 50 mpi auf. Vorzugsweise ist der Träger in diesem Fall mindestens vierlagig ausgeführt.
Mit anderen Worten weist der Träger mindestens vier
Verdrahtungslagen auf.
Zum Beispiel weist der Träger zwei innere Verdrahtungslagen auf, die unmittelbar auf dem Basissubstrat angeordnet sind, nämlich auf zwei gegenüberliegenden Oberflächen des
Basissubstrats. Der Träger kann zwei äußere Verdrahtungslagen aufweisen, die etwa jeweils von außen zugänglich und jeweils insbesondere unmittelbar auf einer der Isolierungsschichten angeordnet sind. Es ist denkbar, dass zusätzliche
Verdrahtungslagen und/oder zusätzliche Isolierungsschichten zwischen einer inneren und einer äußeren Verdrahtungslage angeordnet sind. Weiterhin kann vorgesehen sein, dass eine der äußeren Verdrahtungslagen die Montagefläche des Trägers bildet und die andere der äußeren Verdrahtungslagen eine der Montagefläche abgewandte Rückseite des Trägers bildet. Das Basissubstrat befindet sich insbesondere entlang der
vertikalen Richtung zwischen der Isolierungsschicht und der weiteren Isolierungsschicht. Die Isolierungsschichten können aus demselben Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Trägers weisen die Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht und/oder die weitere Durchkontaktierung in der weiteren Isolierungsschicht einen lateralen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 75 gm oder von höchstens 50 gm auf. Zum Beispiel liegt die maximale laterale Ausdehnung zwischen einschließlich 10 gm und 100 gm, zum Beispiel zwischen einschließlich 30 gm und 100 gm oder zwischen einschließlich 50 gm und 100 gm.
Entlang der vertikalen Richtung können die Durchkontaktierung und/oder die weitere Durchkontaktierung einen konstanten Querschnitt, einen konstanten Durchmesser oder eine konstante maximale laterale Ausdehnung aufweisen. Im Unterschied hierzu ist es möglich, dass die Durchkontaktierung in der
Isolierungsschicht und/oder die weitere Durchkontaktierung in der weiteren Isolierungsschicht mit zunehmendem vertikalem Abstand zum Basissubstrat einen kleiner werdenden lateralen Querschnitt mit einer sich entsprechend verringernden
lateralen Abmessung oder einem sich entsprechend
verringernden Durchmesser aufweisen. An einer äußeren
Verdrahtungslage kann der Querschnitt, der Durchmesser oder die maximale laterale Ausdehnung der Durchkontaktierung oder der weiteren Durchkontaktierung somit verkleinert ausgeführt sein. Die laterale Ausdehnung der Verschlusskappe oder der Anschlussfläche, die in Draufsicht die Durchkontaktierung bedeckt, insbesondere vollständig bedeckt, kann dadurch ebenfalls weiter verkleinert werden.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist die innere Verdrahtungslage eine innere Verschlusskappe auf, die in Draufsicht die Durchkontaktierung im Basissubstrat
vollständig bedeckt. Die innere Verschlusskappe kann
unmittelbar an die Durchkontaktierung im Basissubstrat angrenzen. Die äußere Verdrahtungslage kann eine äußere, an die Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht angrenzende Verschlusskappe aufweisen, wobei die äußere Verschlusskappe in Draufsicht diese Durchkontaktierung bedeckt, insbesondere vollständig bedeckt. Hierbei ist vorzugsweise ein maximaler lateraler Versatz zwischen der äußeren Verschlusskappe und der Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht kleiner als ein maximaler lateraler Versatz zwischen der inneren
Verschlusskappe und der Durchkontaktierung im Basissubstrat. So kann zum Beispiel der maximale laterale Versatz zwischen der äußeren Verschlusskappe und der Durchkontaktierung um mindestens 10 gm, 25 gm, 50 gm oder 100 gm kleiner sein als der maximale laterale Versatz zwischen der inneren
Verschlusskappe und der Durchkontaktierung im Basissubstrat.
Abweichend hiervon ist es möglich, dass der maximale laterale Versatz zwischen der äußeren Verschlusskappe und der
Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht größer ist als ein maximaler lateraler Versatz zwischen der inneren
Verschlusskappe und der Durchkontaktierung im Basissubstrat. Allgemein kann die äußere Verschlusskappe gleichzeitig als Anschlussfläche zur Aufnahme eines Bauelements eingerichtet sein. Zum Beispiel kann eine Kontaktstelle des Bauelements auf der Anschlussfläche befestigt, insbesondere verlötet, sein .
Der Träger kann eine Mehrzahl von Paaren aus Anschlussflächen aufweisen, wobei jedes Paar für die Aufnahme, mechanische Befestigung und/oder für die elektrische Kontaktierung zumindest eines Bauelements eingerichtet ist. Die
Anschlussflächen jedes Paares können unterschiedlichen elektrischen Polaritäten zugeordnet sein. Weitergehend kann ein lateraler Abstand zwischen den Anschlussflächen desselben Paares oder der unterschiedlichen benachbarten Paare kleiner als eine laterale Strukturbreite der Leiterbahnen oder der Verschlusskappen derselben Verdrahtungslage, insbesondere auf der Montagefläche, sein. Zum Beispiel kann dieser laterale Abstand kleiner als 200 mpi, 160 mpi, 100 mpi, 50 mpi, 30 mpi oder 20 mpi sein.
Gemäß zumindest einer Aus führungs form des Trägers bildet die äußere Verdrahtungslage eine frei zugängliche Montagefläche, welche zur Aufnahme und zur elektrischen Kontaktierung eines Bauelements oder mehrerer elektrischer Bauelemente
eingerichtet ist. Die Montagefläche ist insbesondere planar ausgebildet. Unter einer planaren Montagefläche wird hierbei insbesondere eine Montagefläche verstanden, die keine lokalen Vertiefungen oder Erhöhungen aufweist, oder die lediglich lokale Vertiefungen oder Erhöhungen kleiner als 50 pm, 40 pm, 30 pm, 20 pm oder kleiner als 10 pm aufweist. Die
Montagefläche ist insbesondere bereichsweise durch eine
Oberfläche der Isolierungsschicht und bereichsweise durch eine Oberfläche der äußeren Verdrahtungslage gebildet.
Die planare Montagefläche kann kleine lokale Vertiefungen oder Erhöhungen aufweisen, deren vertikale Tiefe oder Höhe durch die vertikale Schichtdicke der äußeren Verdrahtungslage gegeben ist oder kleiner ist als die vertikale Schichtdicke der äußeren Verdrahtungslage, also kleiner ist als die
Schichtdicke der Leiterbahnen, der Anschlussflächen und/oder der Verschlusskappen der äußeren Verdrahtungslage. Entlang der vertikalen Richtung kann die Isolierungsschicht
bereichsweise über die äußere Verdrahtungslage hinausragen oder umgekehrt.
Der Träger weist eine der Montagefläche abgewandte Rückseite auf. Die Rückseite des Trägers kann bereichsweise durch eine Oberfläche der weiteren Isolierungsschicht und bereichsweise durch eine Oberfläche der weiteren äußeren Verdrahtungslage gebildet sein. Analog zu der Montagefläche kann die Rückseite des Trägers planar ausgeführt sein.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist die äußere Verdrahtungslage eine Mehrzahl von Leiterbahnen und nebeneinander angeordneten Anschlussflächen auf. Die äußere Verdrahtungslage bildet insbesondere die Montagefläche des Trägers. Die Anschlussflächen sind bevorzugt dicht gepackt, wobei ein lateraler Abstand zwischen benachbarten
Anschlussflächen insbesondere nicht größer ist als eine
Mindeststrukturbreite der Leiterbahnen und/oder
Verschlusskappen. Bevorzugt ist die Montagefläche frei von Leiterbahnen und/oder Verschlusskappen, die in Draufsicht zumindest bereichsweise zwischen benachbarten
Anschlussflächen, zum Beispiel zwischen zwei benachbarten Reihen oder Spalten von Anschlussflächen, angeordnet und dabei von diesen Anschlussflächen lateral beabstandet sind. Zum Beispiel sind einige der Anschlussflächen nicht über die Durchkontaktierungen in der Isolierungsschicht sondern ausschließlich über die Leiterbahnen der äußeren
Verdrahtungslage extern elektrisch kontaktierbar. Das bedeutet, dass diese Anschlussflächen insbesondere über die Leiterbahnen nach außen verdrahtet sind und somit mit einer externen Spannungsquelle elektrisch leitend verbunden sein können. Einige weitere der Anschlussflächen, insbesondere die übrigen der Anschlussflächen, sind etwa mittels der
Durchkontaktierungen in der Isolierungsschicht mit der inneren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbunden.
Über die innere Verdrahtungslage, etwa über Leiterbahnen der inneren Verdrahtungslage, und/oder über Durchkontaktierung/en im Basissubstrat und/oder über weitere Durchkontaktierung/en in der weiteren Isolierungsschicht können die weiteren
Anschlussflächen nach außen verdrahtet werden. Unter einer Verdrahtung einer Anschlussfläche nach außen ist zu
verstehen, dass die Anschlussfläche extern elektrisch
kontaktierbar ist. Ist eine Anschlussfläche nach draußen verdrahtet, kann diese beispielsweise mit einer externen Spannungsquelle verbunden werden. Die externe elektrische Kontaktierung der Anschlussflächen auf der Montagefläche erfolgt somit auf mindestens zwei, drei oder vier
Verdrahtungslagen .
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers sind zumindest einige oder alle der nebeneinander angeordneten Anschlussflächen als Paare angeordnet. Die Anschlussflächen desselben Paares können unterschiedlichen elektrischen
Polaritäten des Trägers zugeordnet sein. Insbesondere ist jeweils eine Anschlussfläche eines Paares nicht über die Durchkontaktierung sondern ausschließlich über Leiterbahn/en der äußeren Verdrahtungslage extern elektrisch kontaktierbar. Die jeweils andere Anschlussfläche eines Paares ist bevorzugt mittels einer Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht mit der inneren Verdrahtungslage elektrisch leitend
verbunden. Das Paar aus den Anschlussflächen ist insbesondere für die Aufnahme, mechanische Befestigung und/oder für die elektrische Kontaktierung eines Bauelements eingerichtet.
Es ist weiterhin möglich, dass zumindest eine der
Anschlussflächen von der inneren Verdrahtungslage über die Durchkontaktierung im Basissubstrat mit der weiteren inneren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbunden ist. Über die weitere Durchkontaktierung in der weiteren Isolierungsschicht kann diese Anschlussfläche mit der weiteren äußeren
Verdrahtungslage verdrahtet, insbesondere nach außen verdrahtet sein. Es ist außerdem möglich, dass eine der
Anschlussflächen desselben Paares ausschließlich über eine Leiterbahn auf der Montagefläche nach außen verdrahtet ist, während die andere Anschlussfläche desselben Paares mit keiner der Leiterbahnen auf der Montagefläche elektrisch leitend verbunden ist, sondern zumindest teilweise über die Durchkontaktierung/en in der Isolierungsschicht und/oder im Basissubstrat und/oder in der weiteren Isolierungsschicht verdrahtet ist.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers weist dieser eine Mehrzahl von Durchkontaktierungen in der
Isolierungsschicht auf. Die äußere Verdrahtungslage kann eine Mehrzahl von Leiterbahnen aufweisen, die insbesondere
randseitig auf der Montagefläche angeordnet sind. Zum
Beispiel weist die äußere Verdrahtungslage mehrere elektrisch leitfähige Leiterbahnen und mehrere Paare aus nebeneinander angeordneten Anschlussflächen auf. Zumindest einige der
Anschlussflächen können mit den elektrischen Leiterbahnen elektrisch leitend verbunden sein. Es ist möglich, dass die anderen Anschlussflächen jeweils mit einer der
Durchkontaktierungen in der Isolierungsschicht elektrisch leitend verbunden sind. Die Anschlussflächen, die mit den Durchkontaktierungen in der Isolierungsschicht elektrisch leitend verbunden sind, sind beispielsweise nicht mit den Leiterbahnen auf der Montagefläche elektrisch leitend
verbunden. Diese Anschlussflächen sind insbesondere mittels der Durchkontaktierungen in der Isolierungsschicht mit der darunterliegenden Verdrahtungslage elektrisch kontaktiert und insbesondere von dort extern elektrisch kontaktiert werden.
Die elektrische Kontaktierung der auf derselben Montagefläche angeordneten Anschlussflächen kann somit auf unterschiedlichen Verdrahtungslagen erfolgen. Die Anzahl der elektrischen Leiterbahnen und/oder der Verschlusskappen auf der Montagefläche kann dadurch reduziert werden, da die elektrische Kontaktierung mancher Anschlussflächen über die darunter liegenden Durchkontaktierungen erfolgt. Die
Montagefläche kann somit eine höhere Anzahl von eng gepackten Anschlussflächen aufweisen, wodurch eine höhere Anzahl von Bauelementen auf der Montagefläche angeordnet werden kann.
Die Bauelemente können so besonders dicht aneinander auf der Montagefläche angeordnet sein. Da die elektrische
Kontaktierung der Anschlussflächen oder der Bauelemente über unterschiedliche Verdrahtungslagen erfolgt, wird die Gefahr elektrischer Kurzschlüsse auf der Montagefläche reduziert.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Trägers ist die Isolierungsschicht und/oder die weitere Isolierungsschicht eine Schicht aus einer Vergussmasse, eine Oxidschicht, eine Nitridschicht, eine Polyimid-Schicht, eine
Lotstopplackschicht oder eine Photolackschicht. Das
Basissubstrat kann eine Leiterplatte, eine Metallkernplatine, ein Kunststoffkörper oder ein Keramikkörper sein.
Es wird ein Verfahren zur Herstellung eines Trägers,
insbesondere eines hier beschriebenen Trägers angegeben. Die im Zusammenhang mit dem Träger beschriebenen Merkmale können daher auch für das Verfahren herangezogen werden und
umgekehrt .
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird ein Träger mit einem Basissubstrat, einer Isolierungsschicht, einer inneren Verdrahtungslage, einer äußeren
Verdrahtungslage und einer sich durch die Isolierungsschicht hindurch erstreckenden Durchkontaktierung hergestellt. Durch die Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht ist die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbunden. Die Durchkontaktierung in der Isolierungsschicht weist einen lateralen Querschnitt auf, dessen maximale laterale Ausdehnung bevorzugt höchstens 100 gm ist.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens
unterscheiden sich der Prozess zur Ausbildung des
Basissubstrats und der Prozess zur Ausbildung der
Isolierungsschicht voneinander. Zum Beispiel wird das
Basissubstrat als Leiterplatte, Keramikkörper,
Kunststoffkörper oder als Metallkernplatine bereitgestellt. Der Prozess zur Ausbildung der Isolierungsschicht kann
Schritte zum Aufbringen der Isolierungsschicht auf das
Basissubstrat und zur Strukturierung der Isolierungsschicht zur Ausbildung der Durchkontaktierung umfassen. Zum Beispiel wird die Isolierungsschicht durch ein Beschichtungsverfahren auf das Basissubstrat aufgebracht. Das Basissubstrat kann durch ein Gießverfahren oder durch Auflaminieren einer
Mehrzahl von elektrisch isolierenden und/oder elektrisch leitfähigen Schichten hergestellt werden. Es ist möglich, dass das Basissubstrat als vorgefertigte Leiterplatte bereitgestellt wird.
Das Basissubstrat kann eine vorläufige Montagefläche mit Anschlussflächen, Leiterbahnen und/oder Verschlusskappen aufweisen. Durch das Aufbringen der Isolierungsschicht oder der Isolierungsschichten wird die vorläufige Montagefläche bedeckt. Die endgültige Montagefläche des Trägers wird erst nach dem Aufbringen der äußeren Verdrahtungslage auf die Isolierungsschicht gebildet. Die Montagefläche des Trägers kann sich im Hinblick auf die Anzahl und/oder auf die Geometrie und Größe der Leiterbahnen, der Anschlussflächen und/oder der Verschlusskappen von der vorläufigen
Montagefläche des Basissubstrats unterscheiden.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird zur Ausbildung der Isolierungsschicht ein elektrisch isolierendes Material auf die innere Verdrahtungslage aufgebracht. Zur teilweisen Freilegung der inneren Verdrahtungslage wird eine Öffnung in der Isolierungsschicht gebildet, woraufhin die Öffnung zur Ausbildung der Durchkontaktierung mit einem elektrisch leitfähigen Material aufgefüllt wird. Zur
Ausbildung der Öffnung oder einer Mehrzahl von Öffnungen kann ein mechanischer Prozess, ein chemischer Prozess, etwa ein Ätzprozess, oder ein Laserbohrprozess angewandt werden.
Ist die Isolierungsschicht aus einem photostrukturierbaren Material, etwa aus einem Photolack, gebildet, können die Öffnungen in der Isolierungsschicht durch Belichten
insbesondere mit Hilfe einer Maske gebildet werden.
Gemäß zumindest einer Ausführungsform des Verfahrens wird vor dem Ausbilden der Isolierungsschicht ein elektrisch
leitfähiges Material zur Ausbildung der Durchkontaktierung stellenweise auf die innere Verdrahtungslage aufgebracht. Zur Ausbildung der Isolierungsschicht kann ein elektrisch
isolierendes Material auf die innere Verdrahtungslage
aufgebracht werden, sodass die Isolierungsschicht in
Draufsicht die Durchkontaktierung bedeckt, insbesondere vollständig bedeckt. Zur Freilegung der Durchkontaktierung kann das Material der Isolierungsschicht teilweise abgetragen werden .
Bei dieser Ausführungsvariante wird die Durchkontaktierung oder die Mehrzahl von Durchkontaktierungen vor dem Aufbringen der Isolierungsschicht auf die Verdrahtungslage aufgebracht. Die Durchkontaktierung ist in diesem Fall als lokale Erhöhung auf der Verdrahtungslage ausgeführt, bevor die
Isolierungsschicht auf die Verdrahtungslage aufgebracht wird. Da die Durchkontaktierung beziehungsweise die
Durchkontaktierungen vor der Isolierungsschicht gebildet werden, müssen keine Öffnungen in der Isolierungsschicht hergestellt und anschließend aufgefüllt werden. In diesem Fall können die Durchkontaktierungen jeweils einen besonders kleinen Querschnitt oder Durchmesser aufweisen, da die
Schwierigkeiten beim Befüllen von besonders kleinen Öffnungen in diesem Fall nicht auftauchen.
Die Durchkontaktierung oder die Durchkontaktierungen können in diesem Fall tropfenförmig oder halbkugelförmig auf der entsprechenden Verdrahtungslage gebildet werden. Solche
Durchkontaktierungen können jeweils einen Querschnitt
aufweisen, der sich mit zunehmendem Abstand vom Basissubstrat oder von der entsprechenden Verdrahtungslage verjüngt.
Weitere Ausführungsformen und Weiterbildungen des Trägers oder des Verfahrens zur Herstellung des Trägers ergeben sich aus den im Folgenden in Verbindung mit den Figuren 1A bis 10D erläuterten Ausführungsbeispielen. Es zeigen:
Figuren 1A, 1B und IC schematische Darstellungen
verschiedener Vergleichsbeispiele eines herkömmlichen Trägers in vertikaler Schnittansicht,
Figuren ID und IE schematische Darstellungen verschiedener Vergleichsbeispiele eines herkömmlichen Trägers in
Draufsicht, Figuren 2A, 2B und 2C schematische Darstellungen eines
Trägers in vertikaler Schnittansicht,
Figuren 3A und 3B schematische Darstellungen weiterer
Ausführungsbeispiele eines Trägers in vertikaler
Schnittansicht,
Figur 3C schematische Darstellung eines Abschnitts eines Trägers in vertikaler Schnittansicht,
Figuren 4A, 4B und 4C schematische Darstellungen
verschiedener Ausführungsbeispiele eines vierlagigen Trägers in vertikaler Schnittansicht,
Figuren 4D und 4E schematische Darstellungen weiterer
Ausführungsbeispiele eines mehrlagigen Trägers in vertikaler Schnittansicht,
Figuren 5A, 5B und 5C schematische Darstellungen eines
Trägers, dabei 5A in Draufsicht auf die Montagefläche, 5B in vertikaler Schnittansicht, 5C in Draufsicht auf die
innere Verdrahtungslage,
Figuren 6A und 6B schematische Darstellungen eines weiteren Ausführungsbeispiels eines Trägers, dabei 6A in Draufsicht auf die Montagefläche und 6B in Draufsicht auf die innere Verdrahtungslage,
Figuren 7A und 7B schematische Darstellungen eines weiteren Ausführungsbeispiels eines Trägers, dabei 7A in Draufsicht auf die Montagefläche und 7B in Draufsicht auf die innere Verdrahtungslage, Figuren 8A, 8B, 8C, 8D, 8E, 8F und 8G schematische
Darstellungen verschiedener Verfahrensschritte eines
Verfahrens zur Herstellung eines Trägers, jeweils in
vertikaler Schnittansicht,
Figuren 9A, 9B und 9C schematische Darstellungen
verschiedener Verfahrensschritte eines Verfahrens zur
Herstellung eines Trägers gemäß einem weiteren
Ausführungsbeispiel, jeweils in vertikaler Schnittansicht, und
Figuren 10A, 10B, IOC und 10D schematische Darstellungen weiterer Verfahrensschritte eines Verfahrens zur Herstellung eines Trägers, jeweils in vertikaler Schnittansicht.
Gleiche, gleichartige oder gleich wirkende Elemente sind in den Figuren mit gleichen Bezugszeichen versehen. Die Figuren sind jeweils schematische Darstellungen und daher nicht unbedingt maßstabsgetreu. Vielmehr können vergleichsweise kleine Elemente und insbesondere Schichtdicken zur
Verdeutlichung übertrieben groß dargestellt werden.
Figur 1A zeigt ein Vergleichsbeispiel für einen einlagigen herkömmlichen Träger 10. Der Träger 10 weist ein
Basissubstrat 1 auf. Auf dem Basissubstrat 1 ist eine
Verdrahtungslage 2V angeordnet. Eine Montagefläche 10M des Trägers 10 ist durch freiliegende Oberflächen des
Basissubstrats 1F und durch freiliegende Oberflächen der Verdrahtungslage 2V gebildet. Der Träger 10 weist zudem eine der Montagefläche 10M abgewandte freiliegende Rückseite 10B auf, die durch eine rückseitige Oberfläche 1B des
Basissubstrats 1 gebildet ist. Die Verdrahtungslage 2V ist insbesondere durch eine
strukturierte Deckschicht 1Z des Basissubstrats 1 gebildet. Die strukturierte Deckschicht 1Z kann eine Mehrzahl von miteinander verbundenen Teilbereichen oder voneinander lateral beabstandeten Teilbereichen aufweisen, die
beispielsweise als Leiterbahnen 2W oder Anschlussflächen 2P oder als andere Strukturen auf der Montagefläche 10M
ausgeführt sind.
Figur 1B zeigt ein Vergleichsbeispiel für einen zweilagigen herkömmlichen Träger 10. Dieser weist im Vergleich zur Figur 1A zusätzlich eine rückseitige Verdrahtungslage 3R auf der Rückseite 1B des Basissubstrats 1 auf. Diese Verdrahtungslage 3R kann beispielsweise die Funktion einer rückseitigen
Anschluss-, Kontakt- oder Montagefläche erfüllen. Die
Vorderseite 1F und/oder die Rückseite 1B können/kann planar ausgeführt sein.
Die vorderseitige Verdrahtungslage 2V kann aus einer
strukturierten Deckschicht 1Z des Basissubstrats 1 gebildet sein, die eine Mehrzahl von Teilbereichen aufweist, welche beispielsweise als Leiterbahnen 2W, Anschlussflächen 2P oder als Verschlusskappen 2C ausgeführt sind (vgl. Figur ID) . Die rückseitige Verdrahtungslage 3R kann analog zu der
vorderseitigen Verdrahtungslage 2V aus einer strukturierten Deckschicht 1Z gebildet sein, die eine Mehrzahl von
Teilbereichen aufweist, welche beispielsweise als rückseitige Anschlussflächen 3P, als rückseitige Leiterbahnen 3W oder als rückseitige Verschlusskappen 3C ausgeführt sind.
Die vorderseitige Verdrahtungslage 2V ist über eine
Durchkontaktierung 11 oder über eine Mehrzahl von
Durchkontaktierungen 11 mit der rückseitigen Verdrahtungslage 3R elektrisch leitend verbunden. Die Verschlusskappen 2C oder 3C innerhalb der Verdrahtungslagen 2V oder 3R stellen dabei die Endpunkte der Durchkontaktierungen 11 dar.
Figur IC zeigt ein Vergleichsbeispiel für einen vierlagigen herkömmlichen Träger 10. Dieser weist im Vergleich zur Figur 1B zusätzlich zwei innere Verdrahtungslagen IV und IR auf. Insbesondere ist die Vorderseite 1F oder die Rückseite 1B zusammen mit der Verdrahtungslage 2V oder 3R planar
ausgeführt. Die inneren Verdrahtungslagen IV und IR sind in demselben Material des Basissubstrats 1 eingebettet.
Über die Durchkontaktierungen 21 und 31 können die äußeren Verdrahtungslagen 2V und 3R mit den inneren Verdrahtungslagen IV und IR elektrisch leitend verbunden sein. Über die
Durchkontaktierung/en 11 können die beiden inneren
Verdrahtungslagen IV und IR miteinander elektrisch leitend verbunden sein.
Bei den in den Figuren 1A bis IC dargestellten Trägern 10 sind die Anschlussflächen 2P Teil der Montagefläche 10M zur externen Kontaktierung. Sie sollten deshalb eine geeignete Mindeststrukturbreite und einen geeigneten Mindestabstand aufweisen, sodass ein elektrisches Bauelement sicher auf der Montagefläche montiert und elektrisch kontaktiert werden kann. Die Anschlussflächen 3P (sofern vorhanden) sind Teil der Trägerrückseite 10B zur externen Kontaktierung. Sie sollten deshalb eine geeignete Mindeststrukturbreite und einen geeigneten Mindestabstand aufweisen, sodass der Träger 10 sicher auf eine Unterlage montiert und mit dieser geeignet elektrisch verbunden werden kann. Die in den Figuren 1A bis IC dargestellten Träger 10 können jeweils ein Basissubstrat 1 aus einem elektrisch isolierenden Material aufweisen, wobei die in den Figuren 1B und IC dargestellten Durchkontaktierungen 11, 21 und/oder 31 insbesondere in dem gleichen Material des Basissubstrats 1 eingebettet und/oder lateral von dem gleichen Material des Basissubstrats 1 umgeben sind.
Die Durchkontaktierungen 11, 21 und 23 weisen jeweils einen lateralen Durchmesser HD, 21D und 31D auf. Bei herkömmlichen Verfahren mit herkömmlichen Materialien des Basissubstrats weisen die Durchkontaktierungen 11, 21 und 31 in der Regel einen Durchmesser von mindestens 125 gm oder 150 gm auf. Die Verschlusskappen IC, 2C oder 3C sollten derart groß gestaltet sein, dass sie in Draufsicht die jeweils zugehörige
Durchkontaktierungen 11, 21 oder 31 auch unter
Berücksichtigung von prozessbedingten Versatztoleranzen sicher vollständig bedecken. Die Größe der Durchkontaktierung 11, 21 oder 31 spielt somit eine wichtige Rolle bei der
Gestaltung des Trägers 10, insbesondere der Montagefläche 10M des Trägers 10.
In Figur ID ist ein Abschnitt einer Montagefläche 10M eines Trägers 10 in Draufsicht dargestellt. Die Montagefläche 10M ist insbesondere aus einer freiliegenden Oberfläche 1F des Basissubstrats 1 und aus einer freiliegenden Oberfläche der äußeren Verdrahtungslage 2V gebildet. Somit ist die
Montagefläche 10M bereichsweise elektrisch leitfähig und bereichsweise elektrisch isolierend ausgeführt.
Gemäß Figur ID weist die Montagefläche 10M zumindest eine Anschlussfläche 2P, üblicherweise eine Mehrzahl von
Leiterbahnen 2W und üblicherweise eine Mehrzahl von Verschlusskappen 2C auf. Bedeckt eine Anschlussfläche 2P eine Durchkontaktierung 11 oder 21, so erfüllt sie zusätzlich die Funktion einer Verschlusskappe 2C. Die Verschlusskappe 2C kann in der Anschlussfläche integriert, also enthalten oder zumindest teilweise enthalten sein. In Draufsicht bedecken die Verschlusskappen 2C (und gegebenenfalls die
Anschlussfläche 2P) die jeweils zugehörige Durchkontaktierung 11 oder 21 vollständig.
Die Leiterbahnen 2W haben eine Mindeststrukturbreite (in der Regel ist das die Leiterbahnbreite) , die entweder durch den Herstellungsprozess der Verdrahtungslage 2V oder durch die Anwendung zum Beispiel bezüglich der erforderlichen
Stromtragfähigkeit gegeben ist.
Die Verschlusskappen 2C haben eine Mindeststrukturbreite (in der Regel ist das der Kappendurchmesser) , die durch die
Herstellungsprozesse von
der Verdrahtungslage 2V und den Durchkontaktierungen 11 oder 21 gegeben ist.
Zwischen den Anschlussflächen 2P und/oder den Leiterbahnen 2W und/oder den Verschlusskappen 2C besteht ein Mindestabstand, der entweder durch den Herstellungsprozess der
Verdrahtungslage 2V oder durch die Anwendung zum Beispiel bezüglich der erforderlichen Spannungsfestigkeit gegeben ist.
Durch die Anwesenheit von Leiterbahnen 2W und/oder
Verschlusskappen 2C sowie die einzuhaltenden
Mindeststrukturbreiten und Mindestabstände ist die
Gestaltungsfreiheit der Anschlussflächen 2P innerhalb der Montagefläche 10M insbesondere im Hinblick auf deren Größen und Lagen beschränkt. Die Ausführungen für die Verdrahtungslage 2V, illustriert in Figur ID, gilt analog auch für die äußere Verdrahtungslage 3R sowie exklusive der Anschlussflächen auch für innere
Verdrahtungslagen .
Wird eine dichte regelmäßige Anordnung von Bauelementen auf der Montagefläche 10M angestrebt, so wird die Montagefläche 10M üblicherweise eine regelmäßige Anordnung von dicht gepackten Anschlussflächen 2P mit jeweils unterschiedlichen elektrischen Potentialen aufweisen. Dies kann dazu führen, dass auf der Montagefläche 10M zu wenig Freifläche für die benötigten Leiterbahnen 2W oder für die Verschlusskappen 2C verbleibt, um jede der Anschlussflächen 2P elektrisch passend zu verbinden oder zu verdrahten.
Figur IE illustriert exemplarisch das Problem einer Anordnung von 6 x 3 Anschlussflächen 2P, die geeignet für die Montage von 3 x 3 eng gepackten kleinen bipolaren Bauelementen P sind. Durch die kleine Bauteilgröße ist jede Anschlussfläche 2P zu klein, um eine Verschlusskappe 2C darin zu integrieren. Durch die enge Packung der Bauelementen P ist der Abstand der Anschlussflächen 2P zu klein, um zwischen diesen Leiterbahnen hindurchführen zu können. Folglich können in diesem Beispiel die innenliegenden 4 der insgesamt 18 Anschlussflächen nicht elektrisch verbunden werden, weder per Leiterbahn noch per Durchkontaktierung .
Eine Anordnung von eng gepackten kleinen Bauelementen wie zum Beispiel von eng gepackten Leuchtdioden-Flipchips auf dem Träger 10 gemäß Figur IE ist somit nur schwer realisierbar.
Im Folgenden werden verschiedene Ausführungsbeispiele für einen Träger 10 dargestellt, bei dem die Verschlusskappen 2C verkleinert werden können oder die Anzahl der Leiterbahnen 2W und/oder der Verschlusskappen 2C auf der Montagefläche 10M reduziert werden kann.
Das in der Figur 2A dargestellte Ausführungsbeispiel für einen Träger 10 entspricht strukturell dem in der Figur 1A dargestellten Träger 10. Im Unterschied hierzu weist der Träger 10 eine innere Verdrahtungslage IV und eine äußere Verdrahtungslage 2V auf. Eine Isolierungsschicht 2 ist bereichsweise zwischen den Verdrahtungslagen IV und 2V angeordnet. Der Träger 10 weist eine Mehrzahl von
Durchkontaktierungen 21 auf, die sich bereichsweise durch die Isolierungsschicht 2 hindurch erstrecken und die innere
Verdrahtungslage IV mit der äußeren Verdrahtungslage 2V elektrisch leitend verbinden. Insbesondere weisen die
Durchkontaktierungen 21 jeweils einen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung beziehungsweise mit einem lateralen Durchmesser von höchstens 100 pm auf.
Im Vergleich mit herkömmlichen Trägern (siehe zum Beispiel Figur 1A) können die Verschlusskappen 2C und/oder
Anschlussflächen 2P auf der äußeren Verdrahtungslage 2V entsprechend kleiner gestaltet werden. Gemäß Figur 2A ragt die äußere Verdrahtungslage 2V entlang der vertikalen
Richtung über die Isolierungsschicht 2 hinaus. Die
Leiterbahnen 2W, die Verschlusskappen 2C, die
Anschlussflächen 2P und/oder die Durchkontaktierungen 21 der äußeren Verdrahtungslage 2V können aus dem gleichen Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein. Es ist denkbar, dass die Durchkontaktierung 21 und die zugehörige Verschlusskappe 2C aus demselben Material und einstückig ausgebildet sind. Abweichend hiervon ist es möglich, dass die Durchkontaktierung 21 und die zugehörige Verschlusskappe 2C zwei unterschiedliche Schichten sind, die insbesondere unmittelbar aneinander angrenzen und in verschiedenen
Verfahrensschritten hergestellt sind.
Die Montagefläche 10M ist insbesondere planar ausgebildet und weist eine Rauigkeit von höchstens 50 mpi, 40 mpi, 30 mpi, 20 mpi oder von höchstens 10 mpi auf. Insbesondere ist die Rauigkeit der Montagefläche 10M durch lokale Vertiefungen oder lokale Erhebungen gegeben, die etwa durch die Schichtdicke der
Leiterbahnen 2W, der Anschlussflächen 2P und/oder
Verschlusskappe 2C bedingt sind. Die Leiterbahnen 2W, die Verschlusskappen 2C und/oder die Anschlussflächen 2P können eine vertikale Schichtdicke von höchstens 50 mpi, 40 mpi, 30 mpi, 20 mpi oder von höchstens 10 mpi aufweisen.
Das in der Figur 2B dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 2A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu ragt die
Isolierungsschicht 2 bereichsweise über die äußere
Verdrahtungslage 2V hinaus. Dabei kann die Isolierungsschicht 2 die Verschlusskappen 2C, die Anschlussflächen 2P
bereichsweise und die Leiterbahnen 2W vollständig bedecken.
In den Bereichen der Anschlussfläche 2P kann die
Isolierungsschicht 2 Öffnungen 20 aufweisen, sodass die
Anschlussflächen 2P in den Öffnungen 20 der
Isolierungsschicht 2 zugänglich sind. Die Anschlussflächen 2P sind für die Aufnahme eines oder mehrerer Bauelemente
eingerichtet. Die Öffnungen 20 können als Auffangbecken für überschüssiges Verbindungsmaterial dienen.
Das in der Figur 2C dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 2A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied nimmt jeweils der Querschnitt der Durchkontaktierungen 21 mit zunehmendem
Abstand zum Basissubstrat 1 ab. Die Durchkontaktierungen 21 weisen somit an der äußeren Verdrahtungslage 2V einen
geringeren Querschnitt auf als an der inneren
Verdrahtungslage IV.
Bei den Figuren 2A bis 2C dargestellte Trägern 10 ist eine Rückseite 10B durch eine Oberfläche, insbesondere durch eine Rückseite 1B, des Basissubstrats 1 gebildet.
Das in der Figur 3A dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 2A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu weist der Träger 10 eine Mehrzahl von Basisdurchkontaktierungen 11, also
Durchkontaktierungen 11, die sich entlang der vertikalen Richtung durch das Basissubstrat 1 hindurch erstrecken, auf. Der Träger 10 umfasst ferner eine rückseitige
Verdrahtungslage IR mit Verschlusskappen IC auf der Rückseite 1B des Basissubstrats 1. Die Basisdurchkontaktierungen 11 erstrecken sich somit von der rückseitigen Verdrahtungslage IR durch das Basissubstrat 1 hindurch zu der inneren
Verdrahtungslage IV. Die Rückseite 1B des Trägers 10 ist bereichsweise durch Oberflächen der rückseitigen
Verdrahtungslage IR und bereichsweise durch Oberflächen einer weiteren Isolierungsschicht 3 gebildet, wobei die
Isolierungsschicht 3 auf der Rückseite 1B des Basissubstrats 1 angeordnet ist. Diese Isolierungsschicht 3 kann Bereiche zwischen den Verschlusskappen IC auffüllen, sodass die
Rückseite 1B insgesamt planar ausgeführt ist.
Die Basisdurchkontaktierung 11 weist einen lateralen
Durchmesser HD auf. Im Zweifel ist der Durchmesser 11D eine maximale laterale Ausdehnung des Querschnitts der Basisdurchkontaktierung 11. Insbesondere ist der Durchmesser HD größer als 100 mpi, insbesondere größer als 150 mpi. Es ist möglich, dass der Durchmesser 11D der Basisdurchkontaktierung 11 mindestens um 50 %, 75 %, 100 % oder 200 % größer ist als der Durchmesser 21D der Durchkontaktierung 21. In Draufsicht kann die Basisdurchkontaktierung 11 und die
Durchkontaktierung 21 sich überlappen, teilweise überlappen, oder nebeneinander angeordnet sein.
Das in der Figur 3B dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 3A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu erstrecken sich die Basisdurchkontaktierungen 11 nicht von der rückseitigen Verdrahtungslage IR bis zu der inneren Verdrahtungslage IV sondern durch die rückseitige Verdrahtungslage IR und durch die innere Verdrahtungslage IV hindurch. Während die
Durchkontaktierung 21 in der Figur 3A auf der inneren
Verdrahtungslage IV angeordnet ist, kann gemäß Figur 3B zumindest eine der Durchkontaktierungen 21 in Draufsicht unmittelbar auf der Basisdurchkontaktierung 11 angeordnet sein. Die Durchkontaktierung 21 ist in Draufsicht von einer Verschlusskappe 2C vollständig bedeckt, deren Durchmesser 2CD größer ist als ein Durchmesser 21D der Durchkontaktierung 21.
In Figur 3C ist exemplarisch eine Basisdurchkontaktierung 11 im Basissubstrat 1 und eine zugehörige Verschlusskappen IC auf dem Basissubstrat 1 schematisch dargestellt. Die
Basisdurchkontaktierung 11 hat einen lateralen Durchmesser 11D. Die Verschlusskappe IC hat einen lateralen Durchmesser ICD.
In Draufsicht bedeckt die Verschlusskappe IC die zugehörige Basisdurchkontaktierung 11 vollständig. Bei einer idealen Bedeckung können die Verschlusskappe IC und die zugehörige Basisdurchkontaktierung 11 den gleichen Querschnitt oder den gleichen Durchmesser aufweisen. In der Praxis ist der
Durchmesser ICD der Verschlusskappe IC jedoch derart gewählt, dass dieser die Summe aus dem Durchmesser HD der
Basisdurchkontaktierung 11 und den Herstellungstoleranzen ist. Es gilt allgemein, dass der benötigte Durchmesser der Verschlusskappe bevorzugt mindestens so groß ist wie die Summe aus dem Durchmesser der Durchkontaktierung und dem zweifachen Herstellungstoleranzen . Zum Beispiel ist der
Durchmesser ICD mindestens 110 gm, 130 gm, 160 gm, 210 gm oder 250 gm.
In der Figur 3C ist auf der linken Seite die optimale
Positionierung der Verschlusskappe IC auf der
Basisdurchkontaktierung 11 schematisch dargestellt, also mit einem Versatz V von Null. Ein möglicher maximaler Versatz zwischen der Basisdurchkontaktierung 11 und der zugehörigen Verschlusskappe IC ist in der Mitte und auf der rechten Seite in der Figur 3C schematisch dargestellt. Der Rand der
Verschlusskappe IC fällt mit dem Rand der Durchkontaktierung 11 zusammen, sodass die Verschlusskappe IC die
Basisdurchkontaktierung 11 nur noch gerade so vollständig bedeckt .
Das in Figur 3C illustrierte Beispiel kann auf alle Paare von zusammengehörigen Durchkontaktierungen und Verschlusskappen angewendet werden, also beispielsweise auch auf
Durchkontaktierungen 21 mit einem lateralen Durchmesser 21D und Verschlusskappen 2C mit einem lateralen Durchmesser 2CD.
Dadurch, dass die Durchkontaktierungen 21 in der
Isolierungsschicht 2 im Vergleich zu den Basisdurchkontaktierungen 11 im Basissubstrat 1 einen
geringeren Querschnitt aufweisen können, ist es bei gleichem maximalen Versatz möglich, dass der minimal nötige
Durchmesser 2CD der Verschlusskappe 2C entsprechend kleiner ausfällt als der Durchmesser ICD der Verschlusskappe IC, und dass damit die nötige Fläche der Verschlusskappe 2C
entsprechend quadratisch kleiner ausfällt als die Fläche der Verschlusskappe IC.
Für manche Herstellungsprozesse korreliert der maximal auftretende Versatz mit der Größe der Durchkontaktierung und/oder der Verschlusskappe, sodass eine kleinere
Verschlusskappe 2C mit geringerem Versatz V auf einer
Durchkontaktierung 21 plaziert werden kann. Dadurch wiederum reduziert sich der minimal benötigte Durchmesser 2CD der Verschlusskappe 2C weiter.
Beispielsweise kann für eine Basisdurchkontaktierung 11 durch das Basissubstrat 1 mit einem Durchmesser HD von 125 gm der Versatz V 50 gm betragen, sodass der mindestens benötigte Durchmesser ICD der Verschlusskappe IC 225 pm beträgt, während für eine Durchkontaktierung 21 durch eine
Isolierungsschicht 2 mit einem Durchmesser 21D von 30 pm der Versatz V 25 pm betragen kann, sodass der mindestens
benötigte Durchmesser 2CD der Verschlusskappe 2C nur noch 80 pm beträgt. Die mindestens benötigte Fläche der
Verschlusskappe 2C wäre 5027 pm2, im Vergleich zu 39761 pm2 der Verschlusskappe IC.
Das in der Figur 4A dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 3A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu ist der Träger 10 vierlagig ausgeführt. Zusätzlich zu der inneren Verdrahtungslage IV und der äußeren Verdrahtungslage 2V weist der Träger 10 eine weitere innere Verdrahtungslage IR und eine weitere äußere Verdrahtungslage 3R auf. Zudem weisen die inneren Verdrahtungslagen IV und IR jeweils eine Deckschicht 1Z des Basissubstrats 1 auf. Die jeweiligen Deckschichten 1Z sind insbesondere auf dem Basissubstrat 1, insbesondere unmittelbar auf dem Basissubstrat 1 angeordnet. Die
Basisdurchkontaktierungen 11 erstrecken sich insbesondere partiell durch die jeweiligen Deckschichten 1Z hindurch. Die Verschlusskappen IC sind jeweils auf der Deckschicht 1Z, insbesondere unmittelbar auf der Deckschicht 1Z angeordnet. Die Deckschichten 1Z und die Verschlusskappen IC können in Draufsicht gesehen deckungsgleich sein.
Gemäß Figur 4A weist der Träger 10 eine weitere
Isolierungsschicht 3 auf. Die Isolierungsschicht 3 kann analog zu der Isolierungsschicht 2 gebildet sein. Der Träger 10 weist eine Mehrzahl von weiteren Durchkontaktierungen 31 auf, die die weitere innere Verdrahtungslage IR mit der weiteren äußeren Verdrahtungslage 3R elektrisch leitend verbinden. Die äußere Verdrahtungslage 3R befindet sich auf der Rückseite 10B des Trägers 10. Die äußere Verdrahtungslage 3R ist somit von außen zugänglich. Analog zu der
vorderseitigen äußeren Verdrahtungslage 2V kann die
rückseitige Verdrahtungslage 3R eine Mehrzahl von
Leiterbahnen 3W, Verschlusskappen 3C und/oder
Anschlussflächen 3P aufweisen. Bezüglich der
Materialzusammensetzung sowie der Schichtdicke kann die äußere Verdrahtungslage 3R analog zu der äußeren
Verdrahtungslage 2V gebildet sein.
Das in der Figur 4B dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 4A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu sind die
Isolierungsschichten 2 und 3 in der Figur 4B analog zu der Isolierungsschicht 2 in der Figur 2B ausgebildet. Mit anderen Worten können die Isolierungsschichten 2 und 3 jeweils eine Mehrzahl von Öffnungen 20 oder 30 aufweisen, in denen die Anschlussflächen 2P oder 3P freigelegt sind. Die Leiterbahnen 2W und/oder 3W und die Verschlusskappen 2C und/oder 3C können teilweise oder vollständig durch die jeweiligen
Isolierungsschichten 2 oder 3 bedeckt sein. Die
Anschlussflächen 2P und/oder 3P können teilweise durch die jeweiligen Isolierungsschichten 2 oder 3 bedeckt sein.
Das in der Figur 4C dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 4A dargestellten Ausführungsbeispiel. Im Unterschied hierzu sind die
Durchkontaktierungen 21 oder 31 derart ausgebildet, dass ihr Querschnitt oder ihr Durchmesser 21D oder 31D mit zunehmendem Abstand zum Basissubstrat 1 abnimmt. Die in der Figur 4C dargestellte Ausgestaltung der Durchkontaktierungen 21 und 31 ist analog zu der Ausgestaltung der in der Figur 2C
dargestellten Durchkontaktierungen 21.
Figuren 4D und 4E illustrieren, dass weitere
Isolierungsschichtlagen und weitere Verdrahtungslagen auf der Montageseite und/oder der Rückseite hinzugefügt werden können .
Ausgehend von einem Träger nach Figur 1B ohne
Isolierungsschicht und dazugehörige Verdrahtungslage zeigt Figur 4A auf jeder Seite des Trägers eine Isolierungsschicht 2 oder 3 mit dazugehöriger Verdrahtungslage 2V oder 3R. Figur 4D zeigt auf jeder Seite zwei Isolierungsschichten 2 oder 3 mit dazugehörigen Verdrahtungslagen. Figur 4E zeigt auf jeder Seite drei Isolierungsschichten 2 oder 3 mit dazugehörigen Verdrahtungslagen. Werden weitere innere Verdrahtungslagen benötigt, können diese zum Beispiel gemäß Figur IC im
Basissubstrat 1 und/oder in den Isolierungsschichten 2 oder 2 angeordnet werden. Die Durchkontaktierung 21 und 31 zwischen den Verdrahtungslagen innerhalb der Isolierungsschichten 2 und 3 können dabei kleiner sein als die
Basisdurchkontaktierungen 11 im Basissubstrat 1.
In den Figuren 5A, 5B und 5C wird exemplarisch dargestellt, wie sich das in Figur IE illustrierte Problem insbesondere durch die Verwendung von Isolierungsschichten 2 und 3 sowie dazugehörigen Durchkontaktierungen 21 und 31 lösen lässt. Figur 5A stellt die Draufsicht auf einen Teil der
Montagefläche 10M und die Verdrahtungslage 2V eines Trägers 10 dar. Figur 5B zeigt eine vertikale Schnittansicht durch einen Teil AB des Trägers 10. Figur 5C stellt eine Draufsicht auf die Verdrahtungslage IV innerhalb des Trägers 10 dar, welche einer lateralen Schnittansicht entspricht.
Die Montagefläche 10M weist eine Anordnung von 8 x 4
Anschlussflächen 2P auf, die geeignet für die Montage von 4 x 4 eng gepackten kleinen bipolaren Bauelementen P sind. Dies können zum Beispiel Leuchtdioden-Flipchips sein.
Da die Durchkontaktierungen 21 innerhalb der
Isolierungsschicht 2 einen geringeren Durchmesser 21D
aufweisen als die Basiskontaktierungen 11 mit dem Durchmesser HD, können die kleinstmöglichen Durchmesser der
Verschlusskappen 2C signifikant kleiner sein als die
kleinstmöglichen Durchmesser der Verschlusskappen IC. Analog zu den Erläuterungen zu Figur 3C könnte eine Verschlusskappe 2C einen Durchmesser 2CD von 80 mpi aufweisen, im Vergleich zu einer Verschlusskappe IC mit einem
Durchmesser ICD von 225 pm. Weist eine Anschlussfläche beispielsweise eine vom Bauelement P vorgegebene Breite von 80 pm, 100 pm, 150 pm oder 200 pm auf, so ist damit eine Integration einer Verschlusskappe 2C in eine Anschlussfläche 2P möglich, also die Positionierung einer Anschlussfläche 2P über einer Durchkontaktierung 21, während dies in dem
Beispiel ohne Isolationsschicht in Figur IE nicht möglich wäre .
So können alle 8 x 4 Anschlussflächen 2P innerhalb des
Trägers 10 elektrisch verdrahtet werden. Die außenliegenden 20 Anschlussflächen können zum Beispiel wie illustriert per Leiterbahnen 2W in der Verdrahtungslage 2V elektrisch
verdrahtet werden. Die innenliegenden 12 Anschlussflächen 2P können zum Beispiel wie illustriert zuerst per
Durchkontaktierung 21 auf die Verdrahtungslage IV und dort dann mit Leiterbahnen IW elektrisch verdrahtet werden (siehe Figur 5C) . Die Durchkontaktierungen 11 und 31 sowie die
Verdrahtungen innerhalb der Verdrahtungslagen IR und 3R gemäß Figur 5B können vorhanden oder optional sein.
Das in den Figuren 5A bis 5C illustrierte Beispiel kann auf diese Weise einfach auf eine größere Anzahl an Bauelementen P beziehungsweise Anschlussflächen 2P erweitert werden.
Ausgehend von der äußeren oberen Verdrahtungslage 2V werden jeweils alle möglichen Anschlussflächen 2P per Leiterbahnen 2W innerhalb dieser Verdrahtungslage verdrahtet. Dies sind üblicherweise die im Feld außenliegenden Anschlussflächen.
Die Potentiale der anderen, insbesondere aller anderen Anschlussflächen werden per Durchkontaktierungen 21 auf die nächsttiefere Verdrahtungslage verlegt. Üblicherweise sind dies die innenliegenden Anschlussflächen.
Dort wird dann jeweils sukzessiv verfahren. Das bedeutet, dass die Potentiale, üblicherweise die außenliegenden
Potentiale, per Leiterbahnen in dieser Verdrahtungslage verdrahtet werden. Die Verdrahtung aller anderen Potentiale, üblicherweise die innenliegenden Potentiale, erfolgt per Durchkontaktierungen jeweils in einer tiefer liegenden
Verdrahtungslage. Dies erfolgt über eine ausreichende Anzahl an Verdrahtungslagen, bis genügend wenig Potentiale in der Verdrahtungslage IV verbleiben, um dort per Leiterbahnen IW oder Durchkontaktierung 11 im Basissubstrat 1 verdrahtet zu werden .
Figuren 6A und 6B zeigen als Anwendungsbeispiel eine eng gepackte Anordnung von 16 x 9 Anschlussflächen 2P, die geeignet für beispielsweise 8 x 9 eng gepackte bipolare kleine Bauelementen P wie zum Beispiel Leuchtdioden-Flipchips sind. Die Verdrahtung der Bauelemente erfolgt teilweise über eine gemeinsame Elektrode 4, die als gemeinsame Anode oder gemeinsame Kathode des Trägers 10 ausgeführt sein kann. Die jeweiligen Bauelemente P weisen jeweils eine Anschlussfläche auf, die einem individuellen Potential zugeordnet und separat elektrisch verdrahtet sein kann, während die anderen
Anschlussflächen der Bauelemente ein gemeinsames Potential haben und alle elektrisch miteinander verbunden sein können.
Figur 6A zeigt, analog der Figur 5A, die Draufsicht auf einen Teil der Montagefläche 10M und die Verdrahtungslage 2V eines Trägers 10. Figur 6B zeigt, analog der Figur 5C, eine
Draufsicht auf die Verdrahtungslage IV innerhalb des Trägers 10 und somit eine laterale Schnittansicht des Trägers 10 auf der vertikalen Höhe der Verdrahtungslage IV. Der vertikale Aufbau des Trägers 10 entspricht dem des in der Figur 5B dargestellten Trägers 10.
Analog zu den Erläuterungen zu Figur 3C könnte eine
Verschlusskappe 2C einen Durchmesser 2CD von 80 gm aufweisen, im Vergleich zu einer Verschlusskappe IC mit einem
Durchmesser ICD von 225 gm. Hat eine Anschlussfläche 2P beispielsweise eine vom Bauelement P vorgegebene Breite von 80 pm, 100 pm, 150 pm oder 200 pm, so ist damit eine
Integration einer Verschlusskappe 2C in eine Anschlussfläche 2P möglich, also die Positionierung einer Anschlussfläche 2P über einer Durchkontaktierung 21, während dies in dem
Beispiel ohne Isolationsschicht in Figur IE nicht möglich wäre .
So können alle 16 x 9 Anschlussflächen 2P innerhalb des
Trägers 10 elektrisch verdrahtet werden. Die 72
Anschlussflächen mit gleichem Potential sowie 18
Anschlussflächen mit individuellem Potential werden per
Leiterbahnen 2W in der Verdrahtungslage 2V verdrahtet, wie in Figur 6A illustriert. Die restlichen 54 Anschlussflächen mit individuellem Potential können aus Platzgründen innerhalb der Verdrahtungslage 2V nicht mehr verdrahtet werden, und werden zunächst per Durchkontaktierung 21 auf die Verdrahtungsebene IV gelegt. Dort werden 50 dieser 54 Anschlussflächen per Leiterbahnen IW in der Verdrahtungslage IV verdrahtet, wie in Figur 6B illustriert. Die restlichen 4 Anschlussflächen können aus Platzgründen innerhalb der Verdrahtungslage IV nicht mehr verdrahtet werden, und werden zunächst per
Durchkontaktierung 11 auf die Verdrahtungsebene IR gelegt um dort dann verdrahtet zu werden. Der in den Figuren 6A bis 6B illustrierte Anwendungsfall kann analog den Ausführungen zu den Figuren 4D und 4E auf eine größere Anzahl an Bauelementen P beziehungsweise
Anschlussflächen 2P erweitert werden.
Figuren 7A und 7B zeigen als Anwendungsbeispiel eine eng gepackte Anordnung von 16 x 9 Anschlussflächen 2P, die geeignet für beispielsweise 8 x 9 eng gepackte bipolare kleine Bauelementen P wie zum Beispiel Leuchtdioden-Flipchips sind. Die Montagefläche 10M oder die äußere Verdrahtungslage 2V weist somit eine Mehrzahl von Anschlussflächen 2P auf, die insbesondere in einer Matrixform mit einer Mehrzahl von
Reihen und Spalten angeordnet sind.
Gemäß Figur 7A sind die Anschlussflächen 2P jeder zweiten Spalte der Matrixanordnung über eine gemeinsame Leiterbahn 2W miteinander elektrisch leitend verbunden. Die gemeinsame Leiterbahn 2W befindet sich insbesondere auf einer Linie mit den zugehörigen Anschlussflächen 2P derselben Spalte. Mit anderen Worten ragt die gemeinsame Leiterbahn 2W insbesondere nicht seitlich über die zugehörigen Anschlussflächen 2P zu den Anschlussflächen 2P der benachbarten Spalte hinaus.
Insbesondere wird genau die Hälfte der Anschlussflächen 2P über die Leiterbahnen 2W auf der Verdrahtungslage 2V
verdrahtet .
Diejenigen Anschlussflächen 2P, die nicht über die
Leiterbahnen 2W auf der Verdrahtungslage 2V beziehungsweise auf der Montagefläche 10M elektrisch angeschlossen oder elektrisch verdrahtet sind, können über die
Durchkontaktierungen 21 mit Leiterbahnen in einer
tieferliegenden Verdrahtungslage, insbesondere in der inneren Verdrahtungslage IV, elektrisch verdrahtet werden. Analog zu der äußeren Verdrahtungslage 2V sind die Anschlussflächen 2P derselben Reihe, die nicht bereits über die Leiterbahnen 2W auf der Montagefläche 10M elektrisch verdrahtet sind, gemäß Figur 7B in der inneren
Verdrahtungslage IV über die Leiterbahnen IW miteinander elektrisch leitend verbunden. In den Figuren 7A und 7B ist somit eine Kreuzmatrixschaltung auf zwei verschiedenen
Verdrahtungslagen dargestellt. Jedes Bauelement P, das auf einem Paar aus zwei Anschlussflächen 2P unterschiedlicher Polaritäten angeordnet ist, kann über die auf
unterschiedlichen Verdrahtungslagen angeordneten Leiterbahnen IW und 2W individuell angesteuert werden.
In allen bisher beschriebenen Ausführungsbeispielen für einen Träger 10 können die Leiterbahnen IW, 2W, 3W, die
Verschlusskappen IC, 2C, 3C, die Anschlussflächen 2P und/oder 3P aus einem Metall wie Kupfer, Nickel oder Aluminium
gebildet sein. Auch die Deckschicht 1Z des Basissubstrats 1 kann aus einem solchen Material gebildet sein. Die
Isolierungsschichten 2 und 3 können jeweils aus einem
Lötstopplack, einem Fotolack, einer Vergussmasse, aus
Siliziumoxid oder aus Siliziumnitrid gebildet sein. Der maximale mögliche Versatz zwischen der Durchkontaktierung 21 oder 31 und der zugehörigen Verschlusskappe 2C oder 3C ist bevorzugt kleiner als 100 gm, 50 gm, etwa kleiner als 30 gm, insbesondere kleiner als 25 gm oder kleiner als 20 gm.
Es ist möglich, dass an den Nahtstellen zwischen zwei elektrisch leitfähigen Schichten weitere Schichten zur
Verbesserung des elektrischen Kontakts, zur Verbesserung des thermischen Kontakts, zur Verbesserung der mechanischen
Festigkeit oder zum Unterbinden von Diffusion eingesetzt werden. Solche weiteren Schichten können aus Titan, Platin, Palladium, Wolframnitrid oder aus Legierungen dieser
Schichten gebildet sein.
Die Anschlussflächen 2P oder 3P, die zur elektrischen
Kontaktierung des Bauelements eingerichtet sind und/oder die Kontaktstellen des Bauelements können aus Titan, Platin, Palladium, Wolframnitrid, Gold, Zinn, Silber, Kupfer oder aus Aluminium oder Legierungen daraus gebildet sein. Weist die Isolierungsschicht 2 oder 3 Öffnungen 20 oder 30 auf, in denen die Anschlussflächen 2P oder 3P zumindest bereichsweise zugänglich sind, kann die Isolierungsschicht 2 oder 3 entlang der vertikalen Richtung über die Anschlussfläche 2P oder 3P hinausragen. Die Öffnung 20 oder 30 kann dabei als
Auffangbecken für überschüssiges Lotmaterial dienen.
In den Figuren 8A bis 8G sind verschiedene Verfahrensschritte eines Verfahrens zur Herstellung eines Trägers 10 schematisch dargestellt .
Gemäß Figur 8A wird ein Basissubstrat 1 mit beidseitiger metallischer Beschichtung insbesondere aus Kupfer
bereitgestellt. Das Basissubstrat 1 kann aus einem
Leiterplatten-Dielektrikum gebildet sein. Das Basissubstrat weist eine Vorderseite 1F und eine Rückseite 1B auf. Durch die metallische Beschichtung ist jeweils eine Deckschicht 1Z des Basissubstrats 1 auf der Vorderseite 1F und auf der
Rückseite 1B gebildet. Die Deckschicht 1Z ist insbesondere teilweise zur Ausbildung einer Verdrahtungslage IV oder IR vorgesehen .
Gemäß Figur 8B wird eine Mehrzahl von Öffnungen zur
Ausbildung der Durchkontaktierungen 11 gebildet, die sich durch die Deckschicht 1Z und das Basissubstrat 1 hindurch erstrecken. Der Querschnitt der Öffnung bestimmt den
Querschnitt HD der Durchkontaktierung 11.
Gemäß Figur 8C werden die Durchkontaktierungen 11 durch
Auffüllen der zuvor erzeugten Öffnungen gebildet. Es wird zudem jeweils eine Verschlussschicht IC auf der Deckschicht 1Z gebildet. Die Verschlussschicht IC kann aus Kupfer
gebildet sein. Die Verschlussschicht IC und die
Durchkontaktierungen 11 können aus dem gleichen Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein.
Gemäß Figur 8D werden die Deckschicht 1Z und die
Verschlussschicht IC auf beiden Seiten des Basissubstrats 1 strukturiert. Die Verschlussschicht IC kann dabei in eine Mehrzahl von Verschlusskappen IC strukturiert werden, die jeweils in Draufsicht zumindest einen der
Durchkontaktierungen 11 vollständig bedeckt. Die
Verschlusskappe IC weist einen Durchmesser ICD auf. Durch die Strukturierung der Deckschicht 1Z und der Verschlussschicht IC kann das Basissubstrat 1 bereichsweise freigelegt werden.
Gemäß Figur 8E wird eine Isolierungsschicht 2 auf die
Vorderseite 1F des Basissubstrats 1 und auf die
vorderseitigen Verschlusskappen IC aufgebracht. Die
Isolierungsschicht 2 kann die Verschlusskappen IC und/oder das Basissubstrat 1 in Draufsicht vollständig bedecken.
Analog zu der Isolierungsschicht 2 kann eine weitere
Isolierungsschicht 3 auf die Rückseite 1B des Basissubstrats 1 und auf die rückseitigen Verschlusskappen IC aufgebracht werden. Die Isolierungsschichten 2 und 3 können in demselben Verfahrensschritt oder in unterschiedlichen
Verfahrensschritten hergestellt werden. Die Isolierungsschichten 2 und 3 können aus demselben Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein.
Gemäß Figur 8F werden Öffnungen in den Isolierungsschichten 2 und 3 zur Ausbildung der Durchkontaktierungen 21 und 31 gebildet. Eine äußere Verdrahtungslage 2V mit möglichen
Anschlussflächen 2P, Verschlusskappen 2C und möglichen
Leiterbahnen 2W wird auf der Isolierungsschicht 2 gebildet. Die innere Verschlusskappen IC bilden insbesondere eine innere Verdrahtungslage IV. Über die Durchkontaktierungen 21 ist die innere Verdrahtungslage IV mit der äußeren
Verdrahtungslage 2V elektrisch leitend verbunden.
Analog zu den Durchkontaktierungen 21 und zu der äußeren Verdrahtungslage 2V auf der Vorderseite 1F des Basissubstrats 1 werden auf der Rückseite 1B des Basissubstrats 1 eine
Mehrzahl von weiteren Durchkontaktierungen 31 und eine äußere Verdrahtungslage 3R mit einer Mehrzahl von möglichen
Anschlussflächen 3P, Leiterbahnen 3W und einer Mehrzahl von möglichen Verschlusskappen 3C gebildet. Das in der Figur 8F dargestellte Ausführungsbeispiel entspricht dem in der Figur 4A dargestellten Ausführungsbeispiel für einen Träger 10.
Gemäß Figur 8G wird eine Teilschicht der Isolierungsschicht 2 oder 3 auf die äußere Verdrahtungslage 2V oder 3R derart aufgebracht, dass die Teilschicht die Anschlussflächen 2P oder 3P teilweise bedeckt und die Leiterbahnen 2W oder 3W teilweise oder insbesondere vollständig bedeckt. Die
Teilschicht der Isolierungsschicht 2 oder 3 und der Rest der der Isolierungsschicht 2 oder 3 können aus dem gleichen
Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein. Die Teilschichten können jeweils Öffnungen 20 oder 30 aufweisen, in denen die Anschlussflächen 2P oder 3P zumindest bereichsweise freizugänglich sind. Das in der Figur 8G dargestellte Ausführungsbeispiel entspricht dem in der Figur 4B dargestellten Ausführungsbeispiel für einen Träger 10.
Das in der Figur 9A dargestellte Ausführungsbeispiel
entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 8D dargestellten Ausführungsbeispiel für einen Verfahrensschritt. Im
Unterschied hierzu werden auf die Verdrahtungslage IV oder auf die Verdrahtungslage IR eine Mehrzahl von elektrisch leitfähigen Verbindungsstrukturen aufgebracht, die zur
Bildung der Durchkontaktierungen 21 oder 31 vorgesehen sind. Die Verbindungsstrukturen können als Bonddrähte oder in Form von Halbkugeln ausgeführt sein. Gemäß Figur 9B wird die
Isolierungsschicht 2 und/oder die Isolierungsschicht 3 derart gebildet, dass diese die Durchkontaktierungen 21 oder 31 vollständig bedeckt.
Gemäß Figur 9C wird das Material der Isolierungsschicht 2 und/oder 3 teilweise abgetragen, sodass die
Durchkontaktierungen 21 oder 31 freigelegt werden. In den darauffolgenden Verfahrensschritten kann die äußere
Verdrahtungslage 2V oder 3R auf der Isolierungsschicht 2 oder 3 gebildet werden. Dieses Verfahren ist für die Herstellung eines etwa in der Figur 2C oder in der Figur 4C dargestellten Trägers 10 besonders geeignet.
Das in der Figur 10A dargestellte Ausführungsbeispiel entspricht im Wesentlichen dem in der Figur 8E dargestellten Ausführungsbeispiel für einen Verfahrensschritt. Im
Unterschied hierzu weist die Isolierungsschicht 2 oder 3 eine Mehrzahl von Öffnungen für die Ausbildung der
Durchkontaktierungen 21 oder 31 auf. Die Isolierungsschicht 2 oder 3 können strukturiert auf das Basissubstrat 1 aufgebracht werden. Alternativ ist es möglich, dass die
Isolierungsschicht 2 oder 3 zunächst flächig auf dem
Basissubstrat 1 gebildet und anschließend strukturiert wird.
Gemäß Figur 10B wird eine Opferschicht 5 auf der
Isolierungsschicht 2 und/oder 3 gebildet, wobei die
Opferschicht 5 in den Bereichen der Öffnungen der
Isolierungsschicht 2 oder 3 selber Öffnungen aufweist. Die Öffnungen der Opferschicht 5 weisen einen größeren
Querschnitt auf als die Öffnungen der Isolierungsschicht 2 und/oder 3.
Gemäß Figur 10C werden die Öffnungen der Isolierungsschicht 2 oder 3 und die Öffnungen der Opferschicht 5 mit einem
elektrisch leitfähigen Material aufgefüllt. Innerhalb der Öffnungen der Isolierungsschicht 2 oder 3 werden
Durchkontaktierungen 21 oder 31 gebildet. Außerhalb der
Öffnungen der Isolierungsschicht 2 oder 3 und innerhalb der Öffnungen der Opferschicht 5 können die vorderseitige äußere Verdrahtungslage 2V oder die rückseitige äußere
Verdrahtungslage 3R gebildet werden. Die Durchkontaktierungen 21 und die Anschlussflächen 2P oder die Verschlusskappen 2C der vorderseitigen Verdrahtungslage 2V können aus demselben Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein. Analog können die Durchkontaktierungen 31 und die
Anschlussflächen 3P oder die Verschlusskappen 3C der äußeren Verdrahtungslage 3R aus dem gleichen Material oder aus unterschiedlichen Materialien gebildet sein.
Gemäß Figur 10D wird die Opferschicht 5 entfernt. Die
Verdrahtungslage 2V oder 3R kann gedünnt, geschliffen oder planarisiert werden. Insbesondere wird die Opferschicht 5 erst nach dem Dünnen, Schleifen oder Planarisieren der entsprechenden Verdrahtungslage 2V oder 3R entfernt.
Durch das in den Figuren 10A bis 10D dargestellte Verfahren können/kann die Form, die Schichtdicke und/oder die Flanken der Durchkontaktierungen 21 oder 31 und der Verdrahtungslage 2V oder 3R zum Beispiel im Vergleich mit einem Ätzprozess besser kontrolliert werden, da die Herstellungstoleranzen bei der Strukturierung der Opferschicht 5 in der Regel besser sind als etwa bei der Strukturierung einer Ätzmaske. Eine noch genauere Kontrolle kann außerdem erzielt werden, wenn die Opferschicht 5 strahlungsdurchlässig, etwa transparent ausgeführt ist, oder wenn ein LDI-Prozess (Laser Direct
Imaging) und/oder ein sogenannter Partitionierungsprozess ( Partitioning) angewandt wird.
Diese Patentanmeldung beansprucht die Priorität der deutschen Patentanmeldung DE 10 2019 108 870.4, deren
Offenbarungsgehalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen wird.
Die Erfindung ist nicht durch die Beschreibung der Erfindung anhand der Ausführungsbeispiele auf diese beschränkt. Die Erfindung umfasst vielmehr jedes neue Merkmal sowie jede Kombination von Merkmalen, was insbesondere jede Kombination von Merkmalen in den Ansprüchen beinhaltet, auch wenn dieses Merkmal oder diese Kombination selbst nicht explizit in den Ansprüchen oder Ausführungsbeispielen angegeben ist. Bezugszeichenliste
10 Träger
10B Rückseite des Trägers
10M Montagefläche des Trägers
1 Basissubstrat
1B Oberfläche/ Rückseite des Basissubstrats
IC Verschlusskappe/ innere Verschlusskappe/
VerschlussSchicht
ICD Durchmesser der inneren Verschlusskappe
1F Oberfläche/ Vorderseite des Basissubstrats
IR Verdrahtungslage/ weitere innere Verdrahtungslage IV Verdrahtungslage/ innere Verdrahtungslage
IW Leiterbahn/ innere Leiterbahn
1Z Deckschicht
11 Durchkontaktierung/ Basisdurchkontaktierung
HD Durchmesser der Durchkontaktierung
2 Isolierungsschicht
2C Verschlusskappe/ äußere Verschlusskappe
2CD Durchmesser der äußeren Verschlusskappe
2P Anschlussfläche
2V Verdrahtungslage/ äußere Verdrahtungslage
2W Leiterbahnen
20 Öffnung der Isolierungsschicht
21 Durchkontaktierung
21D Durchmesser der Durchkontaktierung
3 weitere Isolierungsschicht
3C Verschlusskappe/ äußere Verschlusskappe 3P Anschlussfläche
3R Verdrahtungslage/ weitere äußere Verdrahtungslage 3W Leiterbahnen
30 Öffnung der Isolierungsschicht
31 weitere Durchkontaktierung
31D Durchmesser der weiteren Durchkontaktierung
4 gemeinsame Elektrode
5 Opferschicht
P bipolares Bauelement
V Versatz

Claims

Patentansprüche
1. Träger (10) mit einem Basissubstrat (1), zumindest einer Isolierungsschicht (2), zumindest einer inneren
Verdrahtungslage (IV), zumindest einer äußeren
Verdrahtungslage (2V) und zumindest einer Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2), die sich durch die
Isolierungsschicht (2) hindurch erstreckt, wobei
- das Basissubstrat und die Isolierungsschicht aus
unterschiedlichen Materialien gebildet sind,
- das Basissubstrat zur mechanischen Stabilisierung des
Trägers ausgeführt ist und die Isolierungsschicht trägt,
- die innere Verdrahtungslage in vertikaler Richtung
zumindest bereichsweise zwischen dem Basissubstrat und der Isolierungsschicht angeordnet ist,
- die äußere Verdrahtungslage zumindest bereichsweise durch die Isolierungsschicht von der inneren Verdrahtungslage räumlich getrennt ist, und
- die Durchkontaktierung die innere Verdrahtungslage mit der äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbindet und einen lateralen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 100 pm aufweist.
2. Träger (10) nach dem vorhergehenden Anspruch,
bei dem die innere Verdrahtungslage (IV) auf dem
Basissubstrat (1) angeordnet ist und derart strukturiert ausgeführt ist, dass die Isolierungsschicht (2) bereichsweise unmittelbar an das Basissubstrat und bereichsweise
unmittelbar an die innere Verdrahtungslage angrenzt.
3. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, der eine Durchkontaktierung (11) in dem Basissubstrat (1) aufweist, die sich durch das Basissubstrat (1) hindurch erstreckt, elektrisch leitfähig ausgebildet ist und einen größeren lateralen Querschnitt aufweist als die
Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) .
4. Träger (10) nach dem vorhergehenden Anspruch,
der eine weitere Verdrahtungslage (IR) aufweist, wobei die innere Verdrahtungslage (IV) und die weitere Verdrahtungslage auf gegenüberliegenden Oberflächen (1F, 1B) des
Basissubstrats (1) angeordnet und über die Durchkontaktierung (11) in dem Basissubstrat (1) miteinander elektrisch leitend verbunden sind.
5. Träger (10) nach dem vorhergehenden Anspruch,
der eine weitere Isolierungsschicht (3), eine weitere äußere Verdrahtungslage (3R) und eine weitere Durchkontaktierung (31) in der weiteren Isolierungsschicht aufweist, die sich durch die weitere Isolierungsschicht hindurch erstreckt, wobei
- die weitere Verdrahtungslage (IR) als innere
Verdrahtungslage ausgeführt ist,
- das Basissubstrat (1) in der vertikalen Richtung sowohl zwischen den inneren Verdrahtungslagen (IV, IR) als auch zwischen den Isolierungsschichten (2, 3) angeordnet ist, und
- die weitere Durchkontaktierung die weitere innere
Verdrahtungslage mit der weiteren äußeren Verdrahtungslage elektrisch leitend verbindet und einen lateralen
Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 100 pm aufweist.
6. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) einen lateralen Querschnitt mit einer maximalen lateralen Ausdehnung von höchstens 75 gm aufweist.
7. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) mit zunehmendem vertikalem Abstand zum Basissubstrat (1) einen kleiner werdenden lateralen Querschnitt aufweist.
8. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
- die innere Verdrahtungslage (IV) eine innere
Verschlusskappe (IC) aufweist, die an die
Durchkontaktierung (11) in dem Basissubstrat (1) angrenzt und in Draufsicht diese Durchkontaktierung vollständig bedeckt,
- die äußere Verdrahtungslage (2V) eine äußere
Verschlusskappe (2C) aufweist, die an die
Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) angrenzt und in Draufsicht diese Durchkontaktierung vollständig bedeckt, und
- ein maximaler lateraler Versatz zwischen der äußeren
Verschlusskappe und der Durchkontaktierung in der
Isolierungsschicht kleiner ist als ein maximaler lateraler Versatz zwischen der inneren Verschlusskappe und der
Durchkontaktierung in dem Basissubstrat.
9. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die äußere Verdrahtungslage (2V) eine frei
zugängliche Montagefläche (10M) bildet, welche zur Aufnahme und zur elektrischen Kontaktierung eines elektrischen
Bauelements oder mehrerer elektrischer Bauelemente
eingerichtet ist.
10. Träger (10) nach dem vorhergehenden Anspruch, bei dem die äußere Verdrahtungslage (2V) eine Mehrzahl von Leiterbahnen (2W) und nebeneinander angeordneten
Anschlussflächen ( 2P) aufweist, wobei einige der
Anschlussflächen nicht über die Durchkontaktierungen (21) sondern ausschließlich über die Leiterbahnen (2W) der äußeren Verdrahtungslage extern elektrisch kontaktierbar sind, und einige weitere der Anschlussflächen mittels der
Durchkontaktierungen (21) in der Isolierungsschicht (2) mit der inneren Verdrahtungslage (IV) elektrisch leitend
verbunden sind.
11. Träger (10) nach dem vorhergehenden Anspruch,
bei dem zumindest einige der nebeneinander angeordneten
Anschlussflächen (2P) als Paare angeordnet sind, wobei
- jeweils eine Anschlussfläche eines Paares nicht über die Durchkontaktierung (21) sondern ausschließlich über
Leiterbahn/en (2W) der äußeren Verdrahtungslage (2V) extern elektrisch kontaktierbar ist, und
- die jeweils andere Anschlussfläche eines Paares mittels einer Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) mit der inneren Verdrahtungslage (IV) elektrisch leitend verbunden ist.
12. Träger (10) nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem
- die Isolierungsschicht (2) und/oder die weitere
Isolierungsschicht (3) eine Schicht aus einer
Vergussmasse, eine Oxidschicht, eine Nitridschicht, eine Polyimid-Schicht, eine Lotstopplackschicht oder eine
Photolackschicht ist, und/oder - das Basissubstrat (1) eine Leiterplatte, eine Metallkernplatine, ein Kunststoffkörper oder ein
Keramikkörper ist.
13. Träger (10) nach Anspruch 1,
bei dem
- die äußere Verdrahtungslage (2V) eine frei zugängliche Montagefläche (10M) bildet, welche zur Aufnahme und zur elektrischen Kontaktierung eines elektrischen Bauelements oder mehrerer elektrischer Bauelemente eingerichtet ist, und
- die äußere Verdrahtungslage (2V) eine Mehrzahl von
Leiterbahnen (2W) und nebeneinander angeordneten
Anschlussflächen ( 2P) aufweist, wobei einige der
Anschlussflächen nicht über die Durchkontaktierungen (21) sondern ausschließlich über die Leiterbahnen (2W) der äußeren Verdrahtungslage extern elektrisch kontaktierbar sind, und einige weitere der Anschlussflächen mittels der Durchkontaktierungen (21) in der Isolierungsschicht (2) mit der inneren Verdrahtungslage (IV) elektrisch leitend verbunden sind.
14. Träger (10) nach Anspruch 1,
bei dem
- die äußere Verdrahtungslage (2V) eine frei zugängliche Montagefläche (10M) bildet, welche zur Aufnahme und zur elektrischen Kontaktierung eines elektrischen Bauelements oder mehrerer elektrischer Bauelemente eingerichtet ist,
- die äußere Verdrahtungslage (2V) eine Mehrzahl von
Leiterbahnen (2W) und nebeneinander angeordneten
Anschlussflächen (2P) aufweist, wobei einige der
Anschlussflächen nicht über die Durchkontaktierungen (21) sondern ausschließlich über die Leiterbahnen (2W) der äußeren Verdrahtungslage extern elektrisch kontaktierbar sind, und einige weitere der Anschlussflächen mittels der Durchkontaktierungen (21) in der Isolierungsschicht (2) mit der inneren Verdrahtungslage (IV) elektrisch leitend verbunden sind, und
- einige der nebeneinander angeordneten Anschlussflächen
(2P) als Paare angeordnet sind, wobei jeweils eine
Anschlussfläche eines Paares nicht über die
Durchkontaktierung (21) sondern ausschließlich über
Leiterbahn/en (2W) der äußeren Verdrahtungslage (2V) extern elektrisch kontaktierbar ist, und die jeweils andere Anschlussfläche eines Paares mittels einer
Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) mit der inneren Verdrahtungslage (IV) elektrisch leitend verbunden ist.
15. Verfahren zur Herstellung eines Trägers (10) nach einem der Ansprüche 1 bis 14, bei dem der Prozess zur Ausbildung des Basissubstrats (1) und der Prozess zur Ausbildung der Isolierungsschicht (2) und/oder der weiteren
Isolierungsschicht (3) sich voneinander unterscheiden.
16. Verfahren zur Herstellung eines Trägers (10) nach
Anspruch 15 unter Rückbezug auf Anspruch 3, wobei sich der Prozess zur Ausbildung der Durchkontaktierung (11) in dem Basissubstrat (1) und der Prozess zur Ausbildung der
Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht (2) voneinander unterscheiden.
17. Verfahren nach Anspruch 15, bei dem
- zur Ausbildung der Isolierungsschicht (2) ein elektrisch isolierendes Material auf die innere Verdrahtungslage (IV) aufgebracht wird, und - zur teilweisen Freilegung der inneren Verdrahtungslage eine Öffnung in der Isolierungsschicht gebildet wird, woraufhin die Öffnung zur Ausbildung der
Durchkontaktierung (21) mit einem elektrisch leitfähigen Material aufgefüllt wird.
18. Verfahren nach Anspruch 15, bei dem
- vor dem Ausbilden der Isolierungsschicht (2) ein
elektrisch leitfähiges Material zur Ausbildung der
Durchkontaktierung (21) in der Isolierungsschicht
stellenweise auf die innere Verdrahtungslage (IV)
aufgebracht wird,
- zur Ausbildung der Isolierungsschicht ein elektrisch
isolierendes Material auf die innere Verdrahtungslage aufgebracht wird, sodass die Isolierungsschicht in
Draufsicht die Durchkontaktierung vollständig bedeckt, und
- das Material der Isolierungsschicht zur Freilegung der Durchkontaktierung teilweise abgetragen wird.
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