WO2020189350A1 - 電波吸収体及び電波吸収体用キット - Google Patents

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WO2020189350A1
WO2020189350A1 PCT/JP2020/009802 JP2020009802W WO2020189350A1 WO 2020189350 A1 WO2020189350 A1 WO 2020189350A1 JP 2020009802 W JP2020009802 W JP 2020009802W WO 2020189350 A1 WO2020189350 A1 WO 2020189350A1
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radio wave
incident angle
layer
incident
wave absorber
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PCT/JP2020/009802
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English (en)
French (fr)
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一浩 福家
将嗣 古曾
悠也 松▲崎▼
Original Assignee
日東電工株式会社
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Publication date
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    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K9/00—Screening of apparatus or components against electric or magnetic fields
    • H05K9/0073—Shielding materials
    • H05K9/0081—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding
    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K9/0073—Shielding materials
    • H05K9/0081—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding
    • H05K9/0088—Electromagnetic shielding materials, e.g. EMI, RFI shielding comprising a plurality of shielding layers; combining different shielding material structure

Definitions

  • the present invention relates to a radio wave absorber and a kit for a radio wave absorber.
  • Patent Document 1 describes a radio wave absorber composed of a reflective layer in which at least one of a convex portion and a concave portion is distributed and formed on the surface thereof, and an absorption layer laminated along the surface of the reflective layer. .. In the absorption layer, an absorption layer is formed on the surface of the reflection layer to a certain thickness along the surface shape thereof.
  • At least one of a convex portion and a concave portion needs to be distributed and formed on the surface of the reflective layer, and the absorbing layer needs to be formed to a constant thickness along the surface shape of the reflective layer.
  • the present invention can be applied to radio waves incident at a wide range of incident angles and various polarizations even if at least one of a convex portion and a concave portion is not formed on the surface of a conductor that reflects radio waves.
  • a radio wave absorber advantageous for exhibiting a desired absorption performance is provided.
  • the present invention also provides a radio wave absorber kit that is advantageous for constructing such a radio wave absorber.
  • the present invention The first radio wave absorber that maximizes the reflection absorption amount of radio waves of a specific frequency measured based on Japanese Industrial Standards (JIS) R 1679: 2007 at the first incident angle at an incident angle of 0 ° to 80 °, A second radio wave absorbing unit that maximizes the amount of reflection and absorption of the radio wave at the second incident angle at an incident angle of 0 ° to 80 ° is provided.
  • the magnitude of the second incident angle is different from the magnitude of the first incident angle, or the type of polarization of the radio wave incident at the second incident angle is that of the radio wave incident at the first incident angle. It is different from the type of polarization,
  • the first radio wave absorbing unit and the second radio wave absorbing unit are arranged along a predetermined surface. Provides a radio wave absorber.
  • the present invention The first to form the first radio wave absorber that maximizes the reflected absorption amount of radio waves of a specific frequency measured based on JIS R 1679: 2007 at the first incident angle at an incident angle of 0 ° to 80 °.
  • Peace and A second piece for forming a second radio wave absorbing portion that maximizes the amount of reflection and absorption of the radio wave at the second incident angle at an incident angle of 0 ° to 80 ° is provided.
  • the magnitude of the second incident angle is different from the magnitude of the first incident angle, or the type of polarization of the radio wave incident at the second incident angle is that of the radio wave incident at the first incident angle. Different from the type of polarization, We provide a kit for radio wave absorbers.
  • the above-mentioned radio wave absorber is desired for radio waves incident at a wide range of incident angles and various polarizations even if at least one of a convex portion and a concave portion is not formed on the surface of a conductor that reflects radio waves. It is advantageous for exhibiting absorption performance.
  • FIG. 1A is a plan view showing an example of a radio wave absorber according to the present invention.
  • FIG. 1B is a cross-sectional view of a radio wave absorber along the IB-IB line in FIG. 1A.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing an example of a radio wave absorber kit according to the present invention.
  • FIG. 3 is a plan view showing another example of the radio wave absorber kit according to the present invention.
  • FIG. 4 is a diagram showing another example of the radio wave absorber according to the present invention.
  • FIG. 5 is a diagram showing still another example of the radio wave absorber according to the present invention.
  • the radio wave absorber 1a includes a first radio wave absorbing unit 10 and a second radio wave absorbing unit 20.
  • the amount of reflected absorption of radio waves of a specific frequency f measured based on JIS R 1679: 2007 is maximum at the first incident angle ⁇ 1 at an incident angle of 0 ° to 80 °. ..
  • the reflection absorption amount is synonymous with the absolute value of the reflection attenuation amount S (dB) defined by the following equation (1), for example.
  • P 0 in the formula (1) is the received power (W / m 2 ) due to the reflection of the metal plate
  • P i is the received power (W / m 2 ) due to the reflection of the sample.
  • the amount of reflection absorption corresponds to the absolute value of the amount of reflection in JIS R 1679: 2007.
  • the absolute value of the reflected amount of the radio wave of a specific frequency f measured based on JIS R 1679: 2007 is the maximum at the second incident angle ⁇ 2 at the incident angle of 0 ° to 80 °. It becomes.
  • the magnitude of the second incident angle ⁇ 2 is different from the magnitude of the first incident angle ⁇ 1 , or the type of polarization of the radio wave incident at the second incident angle ⁇ 2 is incident at the first incident angle ⁇ 1 . It is different from the type of polarization of radio waves.
  • the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20 are arranged along a predetermined surface F.
  • the predetermined surface F may be a flat surface, a curved surface, a surface having irregularities, or a surface having corners.
  • the amount of reflected and absorbed radio waves of frequency f is measured using, for example, a sample having a square planar shape of 200 mm square. That is, in the present specification, the "radio wave reflection absorption amount" means a value when the radio wave absorption unit is formed in a square plane shape of 200 mm square.
  • the range of the incident angle at which the desired absorption performance is exhibited tends to be large, or the desired absorption performance is exhibited for different types of polarized waves.
  • at least one of a convex portion and a concave portion may not be formed on the surface of the conductor for reflecting radio waves.
  • the frequency f of the radio wave that can be absorbed by the radio wave absorber 1a is not limited to a specific frequency.
  • the obliquely incident radio wave that can be absorbed by the radio wave absorber 1a may be a TM wave or a TE wave.
  • the second incident angle theta 2 is or a first incident angle theta 1 identical to the type of polarized wave of the radio wave type polarization of the radio wave is incident at a first incident angle theta 1 incident at the 0
  • the value obtained by subtracting the first incident angle ⁇ 1 from the second incident angle ⁇ 2 is, for example, 5 ° or more.
  • the first The value obtained by subtracting the first incident angle ⁇ 1 from the two incident angles ⁇ 2 may be 10 ° or more, 30 ° or more, or 50 ° or more.
  • the first incident angle ⁇ 1 is, for example, 70 ° or less.
  • the first The value obtained by subtracting the first incident angle ⁇ 1 from the two incident angles ⁇ 2 may be 65 ° or less, 45 ° or less, or 25 ° or less.
  • the range R 15 of the incident angle at which the reflected absorption amount is 15 dB or more is 35 ° or more.
  • the range R 15 is preferably 40 ° or more, and more preferably 45 ° or more.
  • the range of ⁇ a ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ b and ⁇ c ⁇ ⁇ are related to each incident angle satisfying the relationship of ⁇ 1 ⁇ ⁇ a ⁇ b ⁇ c ⁇ d ⁇ ⁇ 2.
  • the range R 10 of the incident angle at which the reflected absorption amount is 10 dB or more is 30 ° or more.
  • the radio wave absorber 1a tends to exhibit desired absorption performance for radio waves incident on a wide range of incident angles, for example.
  • the range R 10 is preferably 35 ° or higher, more preferably 40 ° or higher.
  • the range of ⁇ a ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ b and ⁇ c ⁇ ⁇ are related to each incident angle satisfying the relationship of ⁇ 1 ⁇ ⁇ a ⁇ b ⁇ c ⁇ d ⁇ ⁇ 2.
  • the ratio S 2 / S 1 of the area S 2 in which the second radio wave absorbing unit 20 covers the predetermined surface F to the area S 1 in which the first radio wave absorbing unit 10 covers the predetermined surface F is, for example. It is 1/10 to 10. As a result, the radio wave absorber 1a can more reliably exhibit the desired absorption performance for radio waves incident on a wide range of angles and various polarizations.
  • S 2 / S 1 may be 1/8 or more, 1/4 or more, or 1/2 or more.
  • S 2 / S 1 may be 8 or less, 4 or less, or 2 or less.
  • the radio wave absorber 1a includes, for example, a plurality of first radio wave absorbing units 10 and a plurality of second radio wave absorbing units 20.
  • the plurality of first radio wave absorbing units 10 and the plurality of second radio wave absorbing units 20 are regularly or randomly arranged along a predetermined surface F. If the size or planar shape of the sample for measuring the reflected absorption amount of the radio wave of the frequency f cannot be formed only by the individual first radio wave absorbing unit 10, the frequency using the plurality of first radio wave absorbing units 10 is used. A sample for measuring the amount of reflection and absorption of the radio wave of f is prepared. The same applies to the case where the size or planar shape of the sample for measuring the reflected absorption amount of the radio wave of the frequency f cannot be formed only by the individual second radio wave absorbing unit 20.
  • the plurality of first radio wave absorbing units 10 and the plurality of second radio wave absorbing units 20 are arranged alternately along a predetermined surface F, for example.
  • the radio wave absorber 1a the spatial variation in absorption performance for radio waves incident at an angle in a predetermined range and various polarizations tends to be small.
  • the first radio wave absorbing units 10 may be adjacent to each other, or a plurality of second radio wave absorbing units 20 may be arranged between the first radio wave absorbing units 10.
  • the second radio wave absorbing units 20 may be adjacent to each other, or a plurality of first radio wave absorbing units 10 may be arranged between the second radio wave absorbing units 20.
  • the planar shapes of the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20 have a specific shape. Not limited.
  • the contour of the planar shape may be formed by a straight line, a curved line, or a combination of a straight line and a curved line.
  • the radio wave absorber 1a is attached to, for example, the adherend 3a.
  • the adherend 3a has a predetermined surface F.
  • the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20 are configured based on, for example, any of the following non-reflection condition equations (2) to (4).
  • Equation (2) is a non-reflection condition equation for vertically incident radio waves
  • equation (3) is a non-reflection condition equation for TE waves
  • equation (4) is a non-reflection condition equation for TM waves.
  • ⁇ is the wavelength of the radio wave to be absorbed
  • d is the thickness of the absorbing material
  • ⁇ is the incident angle of the radio wave.
  • the first radio wave absorbing unit 10 includes, for example, a first resistance layer 11 and a first dielectric layer 12.
  • the first dielectric layer 12 is arranged between the first resistance layer 11 and a predetermined surface F in the thickness direction of the first resistance layer 11.
  • the second radio wave absorbing unit 20 includes, for example, a second resistance layer 21 and a second dielectric layer 22.
  • the second dielectric layer 22 is arranged between the second resistance layer 21 and a predetermined surface F in the thickness direction of the second resistance layer 21.
  • the radio wave absorber 1a is a ⁇ / 4 type radio wave absorber.
  • Each of the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20 typically has a surface for reflecting radio waves formed by the conductor.
  • the radio wave absorber 1a When a radio wave having a wavelength ⁇ to be absorbed is incident on the radio wave absorber 1a, the radio wave is reflected by the surface of the first resistance layer 11 or the second resistance layer 21 (front surface reflection) and is reflected by the conductor (back surface reflection).
  • the radio wave absorber 1a is designed so as to interfere with the radio waves. Further, based on the transmission theory, the sheet resistance of the first resistance layer 11 and the second resistance layer 21 is set so that the impedance expected from the front surface of the first resistance layer 11 and the second resistance layer 21 becomes equal to the characteristic impedance of the plane wave. Each is defined.
  • the radio wave absorber 1a may be a radio wave absorber using a dielectric loss material and a magnetic loss material.
  • the radio wave absorber 1a further includes, for example, a connection layer 30.
  • the connection layer 30 is arranged at a position closer to a predetermined surface F than the first dielectric layer 12 in the thickness direction of the first dielectric layer 12, and is a second dielectric in the thickness direction of the second dielectric layer 22. It is arranged at a position closer to the predetermined surface F than the layer 22.
  • the connection layer 30 connects, for example, the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 to a predetermined surface F.
  • the connection layer 30 includes, for example, an adhesive layer 31.
  • the radio wave absorber 1a can be arranged at a predetermined position.
  • the adhesive layer 31 may be formed by being divided into a plurality of portions corresponding to the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20, or may be integrally formed in the radio wave absorber 1a.
  • the adhesive layer 31 is in contact with, for example, a predetermined surface F.
  • the pressure-sensitive adhesive layer contains, for example, a rubber-based pressure-sensitive adhesive, an acrylic-based pressure-sensitive adhesive, a silicone-based pressure-sensitive adhesive, or a urethane-based pressure-sensitive adhesive.
  • the connection layer 30 includes, for example, a conductor layer 32 and an adhesive layer 31.
  • the conductor layer 32 reflects the radio waves to be absorbed (backside reflection).
  • the conductor layer 32 may be formed by being divided into a plurality of portions corresponding to the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20, or may be integrally formed in the radio wave absorber 1a. ..
  • the adhesive layer 31 is arranged between the conductor layer 32 and the predetermined surface F, for example, in the thickness direction of the conductor layer 32.
  • the adhesive layer 31 is in contact with, for example, a predetermined surface F.
  • the conductor layer 32 is, for example, a metal foil or an alloy foil.
  • the conductor layer 32 may be a metal plate.
  • the conductor layer 32 may be formed by forming a conductor on a substrate by using a method such as sputtering, ion plating, plating, or coating (for example, bar coating).
  • the conductor layer 32 may be formed by rolling.
  • the ratio r 2 / r 1 of the sheet resistance r 2 of the second resistance layer 21 to the sheet resistance r 1 of the first resistance layer 11 is, for example, 0.001 to 100.
  • the ratio r 2 / r 1 may be 0.04 or more, 0.08 or more, or 0.2 or more.
  • the ratio r 2 / r 1 may be 30 or less, 12 or less, or 5 or less.
  • r 2 / r 1 Typically, when the radio wave to be absorbed contains a TM wave, r 2 / r 1 ⁇ 1, and when the radio wave to be absorbed contains a TE wave, r 2 / r 1 > 1.
  • the ratio D 2 / D 1 of the thickness D 2 of the second dielectric layer 12 to the thickness D 1 of the first dielectric layer 11 is, for example, 0.01 to 10.
  • the ratio D 2 / D 1 is in such a range, the range of incident conditions such as the incident angle at which the desired absorption performance is exhibited in the radio wave absorber 1a tends to be large.
  • Each of the relative permittivity of the first dielectric layer 11 and the relative permittivity of the second dielectric layer 12 is, for example, the relative permittivity at 10 GHz measured according to the cavity resonance method.
  • the ratio D 2 / D 1 may be 0.1 or more, 0.2 or more, or 0.3 or more.
  • the ratio D 2 / D 1 may be 7 or less, 5 or less, or 3 or less.
  • Each material of the first resistance layer 11 and the second resistance layer 21 is not limited to a specific material as long as it has a desired sheet resistance.
  • the respective materials of the first resistance layer 11 and the second resistance layer 21 are, for example, indium tin oxide (ITO). In this case, the sheet resistance of the first resistance layer 11 and the second resistance layer 21 can be easily adjusted to a desired range.
  • Each of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 is formed of, for example, a predetermined polymer.
  • Each of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 is, for example, ethylene vinyl acetate copolymer, vinyl chloride resin, urethane resin, acrylic resin, acrylic urethane resin, polyethylene, polypropylene, silicone, polyethylene terephthalate, polyethylene. Includes at least one polymer selected from the group consisting of naphthalate, polypropylene, polyimide, and cycloolefin polymers. In this case, the thicknesses of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 can be easily adjusted, and the manufacturing cost of the radio wave absorber 1a can be kept low.
  • Each of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 can be produced, for example, by molding a predetermined resin composition by hot pressing or the like.
  • Each of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 may be formed as a single layer, or may be formed by a plurality of layers made of the same or different materials.
  • n is an integer of 2 or more
  • the relative dielectrics of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 are respectively.
  • the rate is determined, for example, as follows.
  • the relative permittivity ⁇ i of each layer is measured (i is an integer from 1 to n).
  • the measured relative permittivity ⁇ i of each layer is multiplied by the ratio of the thickness t i of the layer to the total T of the first dielectric layer 12 or the second dielectric layer 22, and ⁇ i ⁇ (t). Find i / T).
  • the first dielectric layer 12 may include a base material that serves as a support for supporting the first resistance layer 11.
  • the first dielectric layer 12 may contain a base material that serves as a support to support the conductor layer 32.
  • the second dielectric layer 22 may include a base material that serves as a support for supporting the second resistance layer 21.
  • the second dielectric layer 12 may contain a base material that serves as a support to support the conductor layer 32.
  • the material forming such a base material is, for example, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN), acrylic resin (PMMA), polycarbonate (PC), polyimide (PI), or cycloolefin polymer (COP). ..
  • PET polyethylene terephthalate
  • PEN polyethylene naphthalate
  • PMMA acrylic resin
  • PC polycarbonate
  • PI polyimide
  • COP cycloolefin polymer
  • the material of the base material is preferably PET from the viewpoint of good heat resistance, dimensional stability, and a balance between manufacturing cost.
  • the radio wave absorber 1a is manufactured by using, for example, a predetermined radio wave absorber kit. As shown in FIG. 2, the radio wave absorber kit 50a includes a first piece 10a and a second piece 20a.
  • the first piece 10a is a piece for forming the first radio wave absorbing unit 10.
  • the second piece 20a is a piece for forming the second radio wave absorbing unit 20.
  • the radio wave absorber kit 50a includes, for example, a base material 40.
  • the first piece 10a is arranged so as to cover a part of the base material 40.
  • the second piece 20a is arranged so as to cover another part of the base material 40.
  • the first piece 10a and the second piece 20a are fixed on the base material 40 by, for example, the adhesive layer 31.
  • the base material 40 can be peeled off from the adhesive layer 31. Therefore, the radio wave absorber 1a can be produced by peeling the base material 40 from the adhesive layer 31 to expose the adhesive layer 31 and pressing the adhesive layer 31 against a predetermined surface F of the adherend 3a.
  • the base material 40 is, for example, a film made of a polyester resin such as PET.
  • the radio wave absorber 1a may be manufactured by using the radio wave absorber kit 50b shown in FIG.
  • the radio wave absorber kit 50b includes, for example, a first piece 10a, a second piece 20a, a first base material 45a, and a second base material 45b.
  • the first piece 10a is arranged on the first base material 45a
  • the second piece 20a is arranged on the second base material 45b.
  • the first piece 10a is fixed on the first base material 45a by, for example, an adhesive layer 31.
  • the first base material 45a can be peeled off from the first piece 10a.
  • the second piece 20a is fixed on the second base material 45b by, for example, the adhesive layer 31.
  • the second base material 45b can be peeled off from the second piece 20a.
  • the first piece 10a is removed from the first base material 45a
  • the second piece 20a is removed from the second base material 45b
  • the first piece 10a and the second piece 20a are placed on a predetermined surface F of the adherend 3a. Place along.
  • the radio wave absorber 1a can be manufactured by pressing the first piece 10a and the second piece 20a against the predetermined surface F.
  • the radio wave absorber 1a can be changed from various viewpoints.
  • the radio wave absorber 1a includes a plurality of types of radio wave absorbers.
  • the radio wave absorber 1a may further include, for example, a third radio wave absorbing unit.
  • the third radio wave absorbing unit is arranged along the predetermined surface F together with the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20.
  • the third radio wave absorbing unit has characteristics different from those of the first radio wave absorbing unit 10 and the second radio wave absorbing unit 20 in terms of the amount of reflected absorption of radio waves of a specific frequency f measured based on JIS R 1679: 2007. Have.
  • the reflection absorption amount of the radio wave of a specific frequency f in the third radio wave absorbing unit becomes maximum at the third incident angle ⁇ 3 at the incident angle of 0 ° to 80 °.
  • the third incident angle ⁇ 3 is, for example, an angle different from the first incident angle ⁇ 1 and the second incident angle ⁇ 2 .
  • the type of polarization of the radio wave incident at the third incident angle ⁇ 3 is the type of polarization of the radio wave incident at the first incident angle ⁇ 1 or the type of polarization of the radio wave incident at the second incident angle ⁇ 1. It's different.
  • the radio wave absorber 1a further includes a third radio wave absorbing unit, and the third radio wave absorbing unit further reflects and absorbs a radio wave of a specific frequency f with respect to a TE wave at a third incident angle ⁇ 3 (0 ° ⁇ 3 ⁇ ). It may be the maximum at 80 °).
  • the radio wave absorber 1a may be changed as shown in the radio wave absorbers 1b and 1c shown in FIGS. 4 and 5.
  • the radio wave absorbers 1b and 1c are configured in the same manner as the radio wave absorber 1a except for a part to be described in particular.
  • the components of the radio wave absorbers 1b and 1c that are the same as or corresponding to the components of the radio wave absorber 1a are designated by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted.
  • the description of the radio wave absorber 1a also applies to the radio wave absorbers 1b and 1c, unless technically inconsistent.
  • the predetermined surface F of the adherend 3a is formed of a conductor. Therefore, the radio wave can be reflected (backside reflection) by the predetermined surface F of the adherend 3a.
  • the first dielectric layer 12 has, for example, a first adhesive surface 12a, and the first adhesive surface 12a is in contact with a predetermined surface F.
  • the second dielectric layer 22 has, for example, a second adhesive surface 22a, and the second adhesive surface 22a is in contact with a predetermined surface F.
  • the first adhesive surface 12a may be formed by the first dielectric layer 12 or may be formed by the adhesive layer.
  • the second adhesive surface 22a may be formed by the second dielectric layer 22 or may be formed by the adhesive layer.
  • the radio wave absorber 1c includes a common dielectric layer 15a and an individual dielectric layer 15b.
  • the common dielectric layer 15a has a constant thickness along a predetermined surface F, and forms a common portion of the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22.
  • the individual dielectric layer 15b is overlapped with the common dielectric layer 15a at the portion corresponding to the second radio wave absorbing unit 20.
  • the first dielectric layer 12 is formed only by the common dielectric layer 15a
  • the second dielectric layer 22 is formed by a portion where the common dielectric layer 15a and the individual dielectric layers 15b are laminated. ..
  • the connection layer 30 is integrally formed in the radio wave absorber 1c.
  • connection layer 30 and the common dielectric layer 15a are superposed.
  • the individual dielectric layer 15b is superposed on the common dielectric layer 15a at the portion forming the second radio wave absorbing unit 20.
  • the first resistance layer 11 is superposed on the common dielectric layer 15a at a portion forming the first radio wave absorbing section 10.
  • the second resistance layer 21 is superposed on the individual dielectric layer 15b at a portion forming the second radio wave absorbing section 20. In this way, the radio wave absorber 1c can be manufactured.
  • the first dielectric layer 12 and the second dielectric layer 22 are composed of the common dielectric layer 15a and the individual dielectric layers 15b.
  • the thickness of the portion forming the first radio wave absorbing portion 10 of the common dielectric layer 15a and the thickness of the portion forming the second radio wave absorbing portion 20 of the common dielectric layer 15a are different from each other.
  • Layer 15a is made.
  • Example 1 Sputtering was performed on a PET film having a thickness of 23 ⁇ m using ITO as a target material to form a resistance layer A having a thickness of 55 nm and a sheet resistance of 370 ⁇ / ⁇ . In this way, a film A with a resistance layer was obtained.
  • An acrylic resin having a relative permittivity of 2.6 was molded to a thickness of 560 ⁇ m to obtain an acrylic resin layer A.
  • the film A with a resistance layer was laminated on the acrylic resin layer A so that the resistance layer A of the film A with a resistance layer was in contact with the acrylic resin layer A.
  • the film A with a resistance layer was adhered to the acrylic resin layer A without using an adhesive. In this way, piece A was obtained.
  • the planar shape of the piece A was a rectangle having a length of 200 mm and a width of 100 mm.
  • An aluminum foil having a thickness of 7 ⁇ m was sandwiched between a PET film having a thickness of 25 ⁇ m and a PET film having a thickness of 9 ⁇ m, and a film K with a conductor in which these were laminated was prepared.
  • the planar shape of the film K with a conductor was a square of 200 mm square.
  • the piece A was laminated so that the acrylic resin layer A was in contact with the conductor-attached film K.
  • the piece B was laminated so that the acrylic resin layer B was in contact with the conductor-attached film K.
  • One piece A and one piece B were superposed on the conductor-attached film K.
  • the film K with a conductor was covered with the pieces A and B. In this way, a sample according to Example 1 was obtained.
  • the acrylic resin layer A and the acrylic resin layer B were adhered to the film K with a conductor without using an adhesive.
  • Example 2 Piece A and piece B were cut so that the width was 67 mm.
  • the piece A was laminated so that the acrylic resin layer A was in contact with the conductor-attached film K.
  • the piece B was laminated so that the acrylic resin layer B was in contact with the conductor-attached film K.
  • the film K with a conductor was covered with the pieces A and B.
  • a sample according to Example 2 was obtained.
  • the acrylic resin layer A and the acrylic resin layer B were adhered to the film K with a conductor without using an adhesive.
  • Example 3 Sputtering was performed on a PET film having a thickness of 23 ⁇ m using ITO as a target material to form a resistance layer C having a thickness of 17 nm and a sheet resistance of 930 ⁇ / ⁇ . In this way, a film C with a resistance layer was obtained.
  • An acrylic resin having a relative permittivity of 2.6 was molded to a thickness of 660 ⁇ m to obtain an acrylic resin layer C.
  • the film C with a resistance layer was laminated on the acrylic resin layer C so that the resistance layer C of the film C with a resistance layer was in contact with the acrylic resin layer C.
  • the film C with a resistance layer was adhered to the acrylic resin layer C without using an adhesive. In this way, piece C was obtained.
  • the planar shape of the piece C was a rectangle having a length of 200 mm and a width of 100 mm.
  • the piece A was stacked so that the acrylic resin layer A was in contact with the film K with a conductor.
  • the piece C was superposed so that the acrylic resin layer B was in contact with the conductor-attached film K.
  • the film K with a conductor was covered with the pieces A and C. In this way, a sample according to Example 3 was obtained.
  • the acrylic resin layer A and the acrylic resin layer C were adhered to the film K with a conductor without using an adhesive.
  • TM waves were used as the radio waves incident obliquely.
  • TE waves were used as the radio waves incident obliquely.
  • the long axis of the irradiation spot of the TM wave and the TE wave extended in the length direction of each piece at the center of the surface of each sample. From the measurement results of the radio wave absorption amount using the TM wave for the samples according to Examples 1 to 3 and the samples according to Comparative Examples 1 and 2, the range R 15 of the incident angle at which the radio wave absorption amount is 15 dB or more is specified in each sample. did.
  • the R 15 of the samples according to Examples 1 and 2 was larger than the R 15 of the samples according to Comparative Examples 1 and 2.
  • the R 10 of the sample according to Example 3 was larger than the R 10 of the sample according to Comparative Examples 1 and 3. Therefore, it was suggested that the samples according to Examples 1 to 3 had a large range of incident angles at which the desired radio wave absorption performance was exhibited.

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Abstract

電波吸収体１ａは、第一電波吸収部１０と、第二電波吸収部２０とを備える。第一電波吸収部１０において、JISR 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数ｆの電波の反射吸収量が０°～８０°の入射角度において第一入射角度θ1で最大となる。第二電波吸収部２０において、０°～８０°の入射角度において第二入射角度θ2でその電波の反射吸収量が最大となる。第二入射角度θ2の大きさが第一入射角度θ1の大きさと異なっている、又は、第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と異なっている。第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０は、所定の面Ｆに沿って配置されている。

Description

電波吸収体及び電波吸収体用キット
　本発明は、電波吸収体及び電波吸収体用キットに関する。
　従来、広範囲の入射角度で入射する電波や様々な偏波に対して所定の吸収性能を発揮するための電波吸収体が検討されている。
　例えば、特許文献１には、その表面に凸部及び凹部の少なくとも一方が分布形成された反射層と、反射層の表面に沿って積層された吸収層とからなる電波吸収体が記載されている。吸収層は、反射層の表面に、その表面形状に沿って吸収層が一定の厚みに形成されている。
特開２００４－２０７５０６号公報
　特許文献１に記載の技術によれば、反射層の表面に凸部及び凹部の少なくとも一方を分布形成する必要があるとともに反射層の表面形状に沿って吸収層が一定の厚みに形成される必要がある。
　このような事情に鑑み、本発明は、電波を反射する導電体の表面に凸部及び凹部の少なくとも一方が形成されていなくても、広い範囲の入射角度で入射する電波や様々な偏波に対して所望の吸収性能を発揮するのに有利な電波吸収体を提供する。また、本発明は、このような電波吸収体を構成するのに有利な電波吸収体用キットを提供する。
　本発明は、
　日本工業規格（JIS）R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数の電波の反射吸収量が０°～８０°の入射角度において第一入射角度で最大となる第一電波吸収部と、
　０°～８０°の入射角度において第二入射角度で前記電波の反射吸収量が最大となる第二電波吸収部と、を備え、
　前記第二入射角度の大きさが前記第一入射角度の大きさと異なっている、又は、前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と異なっており、
　前記第一電波吸収部及び前記第二電波吸収部は、所定の面に沿って配置されている、
　電波吸収体を提供する。
　また、本発明は、
　JIS R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数の電波の反射吸収量が０°～８０°の入射角度において第一入射角度で最大となる第一電波吸収部を形成するための第一ピースと、
　０°～８０°の入射角度において第二入射角度で前記電波の反射吸収量が最大となる第二電波吸収部を形成するための第二ピースと、を備え、
　前記第二入射角度の大きさが前記第一入射角度の大きさと異なっている、又は、前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と異なっている、
　電波吸収体用キットを提供する。
　上記の電波吸収体は、電波を反射する導電体の表面に凸部及び凹部の少なくとも一方が形成されていなくても、広い範囲の入射角度で入射する電波や様々な偏波に対して所望の吸収性能を発揮するのに有利である。
図１Ａは、本発明に係る電波吸収体の一例を示す平面図である。 図１Ｂは、図１ＡにおけるIB-IB線に沿った電波吸収体の断面図である。 図２は、本発明に係る電波吸収体用キットの一例を示す断面図である。 図３は、本発明に係る電波吸収体用キットの別の一例を示す平面図である。 図４は、本発明に係る電波吸収体の別の一例を示す図である。 図５は、本発明に係る電波吸収体のさらに別の一例を示す図である。
　本発明の実施形態について、図面を参照しつつ説明する。なお、本発明は、以下の実施形態には限定されない。
　図１Ａ及び図１Ｂに示す通り、電波吸収体１ａは、第一電波吸収部１０と、第二電波吸収部２０とを備えている。第一電波吸収部１０において、JIS R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数ｆの電波の反射吸収量は、０°～８０°の入射角度において第一入射角度θ1で最大となる。反射吸収量は、例えば、下記の式（１）によって定義される反射減衰量Ｓ（ｄＢ）の絶対値と同義である。式（１）におけるＰ0は、金属板の反射による受信電力（Ｗ／ｍ2）であり、Ｐiは、試料の反射による受信電力（Ｗ／ｍ2）である。また、反射吸収量は、JIS R 1679：2007における反射量の絶対値に相当する。第二電波吸収部２０において、JIS R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数ｆの電波の反射量の絶対値は、０°～８０°の入射角度において第二入射角度θ2で最大となる。第二入射角度θ2の大きさは第一入射角度θ1の大きさと異なっている、又は、第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と異なっている。電波吸収体１ａにおいて、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０は、所定の面Ｆに沿って配置されている。所定の面Ｆは、平面であってもよいし、曲面であってもよいし、凹凸を有する面であってもよいし、コーナーを有する面であってもよい。電波吸収部において周波数ｆの電波の反射吸収量は、例えば、２００ｍｍ平方の正方形状の平面形状を有する試料を用いて測定される。すなわち、本明細書において、「電波の反射吸収量」は、２００ｍｍ平方の正方形状の平面形状に電波吸収部を構成したときの値を意味する。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000001
　電波吸収体１ａによれば、所望の吸収性能が発揮される入射角度の範囲が大きくなりやすい、又は、異なる種類の偏波に対して所望の吸収性能が発揮される。加えて、電波吸収体１ａにおいて、電波を反射するための導電体の表面に凸部及び凹部の少なくとも一方が形成されていなくてもよい。
　電波吸収体１ａが吸収可能な電波の周波数ｆは、特定の周波数に限定されない。電波吸収体１ａが吸収可能な斜入射の電波は、ＴＭ波であってもよく、ＴＥ波であってもよい。
　電波吸収体１ａにおいて、第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と同一である又は第一入射角度θ1が０°である場合、第二入射角度θ2から第一入射角度θ1を差し引いた値は、例えば５°以上である。これにより、電波吸収体１ａにおいて、所望の吸収性能が発揮される入射角度の範囲が大きくなりやすい。
　第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と同一である又は第一入射角度θ1が０°である場合、第二入射角度θ2から第一入射角度θ1を差し引いた値は、１０°以上であってもよく、３０°以上であってもよく、５０°以上であってもよい。
　第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と同一である又は第一入射角度θ1が０°である場合、第二入射角度θ2から第一入射角度θ1を差し引いた値は、例えば７０°以下である。これにより、電波吸収体１ａにおいて、所望の吸収性能が発揮される入射角度の範囲が大きくなりやすい。
　第二入射角度θ2で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と同一である又は第一入射角度θ1が０°である場合、第二入射角度θ2から第一入射角度θ1を差し引いた値は、６５°以下であってもよく、４５°以下であってもよく、２５°以下であってもよい。
　電波吸収体１ａにおいて、例えばＴＭ波に関し、反射吸収量が１５ｄＢ以上である入射角度のレンジＲ15が３５°以上である。このように、電波吸収体１ａは、例えば、広い範囲の入射角度で入射する電波に対して所望の吸収性能を発揮しやすい。レンジＲ15は、望ましくは４０°以上であり、より望ましくは４５°以上である。なお、例えば、電波吸収体１ａにおいて、θ1≦θa＜θb＜θc＜θd≦θ2の関係を満たす各入射角度に関し、θa≦θ≦θbの範囲及びθc≦θ≦θdの範囲において反射吸収量が１５ｄＢ以上であり、θb＜θ＜θcの範囲で反射吸収量が１５ｄＢ未満である場合、Ｒ15＝（θb－θa）＋（θd－θc）である。
　電波吸収体１ａにおいて、例えばＴＥ波に関し、反射吸収量が１０ｄＢ以上である入射角度のレンジＲ10が３０°以上である。このように、電波吸収体１ａは、例えば、広い範囲の入射角度で入射する電波に対して所望の吸収性能を発揮しやすい。レンジＲ10は、望ましくは３５°以上であり、より望ましくは４０°以上である。なお、例えば、電波吸収体１ａにおいて、θ1≦θa＜θb＜θc＜θd≦θ2の関係を満たす各入射角度に関し、θa≦θ≦θbの範囲及びθc≦θ≦θdの範囲において反射吸収量が１０ｄＢ以上であり、θb＜θ＜θcの範囲で反射吸収量が１０ｄＢ未満である場合、Ｒ10＝（θb－θa）＋（θd－θc）である。
　電波吸収体１ａにおいて、第一電波吸収部１０が所定の面Ｆを覆う面積Ｓ1に対する第二電波吸収部２０が所定の面Ｆを覆う面積Ｓ2の比Ｓ2／Ｓ1は、例えば、１／１０～１０である。これにより、電波吸収体１ａが広い範囲の角度で入射する電波や様々な偏波に対して所望の吸収性能をより確実に発揮できる。
　Ｓ2／Ｓ1は、１／８以上であってもよく、１／４以上であってもよく、１／２以上であってもよい。Ｓ2／Ｓ1は、８以下であってもよく、４以下であってもよく、２以下であってもよい。
　図１Ａ及び図１Ｂに示す通り、電波吸収体１ａは、例えば、複数の第一電波吸収部１０と、複数の第二電波吸収部２０とを備えている。複数の第一電波吸収部１０及び複数の第二電波吸収部２０は、所定の面Ｆに沿って規則的に又はランダムに配置されている。なお、個別の第一電波吸収部１０のみでは周波数ｆの電波の反射吸収量の測定用の試料のサイズ又は平面形状を構成できない場合には、複数の第一電波吸収部１０を用いて、周波数ｆの電波の反射吸収量の測定用の試料が作製される。個別の第二電波吸収部２０のみでは周波数ｆの電波の反射吸収量の測定用の試料のサイズ又は平面形状を構成できない場合も同様である。
　図１Ａに示す通り、複数の第一電波吸収部１０及び複数の第二電波吸収部２０は、例えば、所定の面Ｆに沿って交互に配置されている。これにより、電波吸収体１ａにおいて、所定の範囲の角度で入射する電波や様々な偏波に対する吸収性能の空間的なばらつきが小さくなりやすい。
　電波吸収体１ａにおいて、第一電波吸収部１０同士が隣り合っていてもよく、第一電波吸収部１０同士の間に複数の第二電波吸収部２０が配置されていてもよい。電波吸収体１ａにおいて、第二電波吸収部２０同士が隣り合っていてもよく、第二電波吸収部２０同士の間に複数の第一電波吸収部１０が配置されていてもよい。
　所定の面Ｆに垂直な方向に所定の面Ｆに向かって電波吸収体１ａを見たときに、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０のそれぞれの平面形状は、特定の形状に限定されない。その平面形状の輪郭は、直線で形成されていてもよいし、曲線で形成されていてもよいし、直線と曲線とが組み合わせられて形成されていてもよい。
　図１Ｂに示す通り、電波吸収体１ａは、例えば、被着体３ａに取り付けられている。被着体３ａは、所定の面Ｆを有する。
　第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０は、例えば、下記の無反射条件式（２）～（４）のいずれかに基づいて構成されている。式（２）は垂直入射の電波に対する無反射条件式であり、式（３）はＴＥ波に対する無反射条件式であり、式（４）はＴＭ波に対する無反射条件式である。式（２）～（４）において、λは吸収対象の電波の波長であり、ｄは吸収材の厚みであり、θは電波の入射角度である。
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000002
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000003
Figure JPOXMLDOC01-appb-M000004
　図１Ｂに示す通り、第一電波吸収部１０は、例えば、第一抵抗層１１と、第一誘電体層１２とを含んでいる。第一誘電体層１２は、第一抵抗層１１の厚み方向において第一抵抗層１１と所定の面Ｆとの間に配置されている。加えて、第二電波吸収部２０は、例えば、第二抵抗層２１と、第二誘電体層２２とを含んでいる。第二誘電体層２２は、第二抵抗層２１の厚み方向において第二抵抗層２１と所定の面Ｆとの間に配置されている。換言すると、電波吸収体１ａは、λ／４型の電波吸収体である。第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０のそれぞれは、典型的には、導電体によって形成された電波を反射するための面を有する。電波吸収体１ａに吸収対象とする波長λの電波が入射すると、第一抵抗層１１又は第二抵抗層２１の表面での反射（表面反射）による電波と、導電体における反射（裏面反射）による電波とが干渉するように、電波吸収体１ａが設計されている。また、伝送理論に基づき、第一抵抗層１１及び第二抵抗層２１の前面から見込んだインピーダンスが平面波の特性インピーダンスと等しくなるように、第一抵抗層１１及び第二抵抗層２１のシート抵抗がそれぞれ定められている。なお、電波吸収体１ａは、誘電損失材料及び磁性損失材料を用いた電波吸収体であってもよい。
　図１Ｂに示す通り、電波吸収体１ａは、例えば、接続層３０をさらに備えている。接続層３０は、第一誘電体層１２の厚み方向において第一誘電体層１２よりも所定の面Ｆに近い位置に配置され、かつ、第二誘電体層２２の厚み方向において第二誘電体層２２よりも所定の面Ｆに近い位置に配置されている。接続層３０は、例えば、第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２を所定の面Ｆに接続している。
　接続層３０は、例えば、粘着層３１を含んでいる。これにより、電波吸収体１ａを所定の位置に配置できる。粘着層３１は、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０に対応して複数の部分に分かれて形成されていてもよいし、電波吸収体１ａにおいて一体として形成されていてもよい。粘着層３１は、例えば、所定の面Ｆに接触している。粘着層は、例えば、ゴム系粘着剤、アクリル系粘着剤、シリコーン系粘着剤、又はウレタン系粘着剤を含んでいる。
　接続層３０は、例えば、導電体層３２と、粘着層３１とを含んでいる。導電体層３２により、吸収対象の電波が反射（裏面反射）される。導電体層３２は、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０に対応して複数の部分に分かれて形成されていてもよいし、電波吸収体１ａにおいて一体として形成されていてもよい。粘着層３１は、例えば、導電体層３２の厚み方向において、導電体層３２と所定の面Ｆとの間に配置されている。粘着層３１は、例えば、所定の面Ｆに接触している。
　導電体層３２は、例えば、金属箔又は合金箔である。導電体層３２は、金属板であってもよい。導電体層３２は、例えば、スパッタリング、イオンプレーティング、メッキ、又はコーティング（例えば、バーコーティング）等の方法を用いて基材上に導電体を成膜することによって形成されていてもよい。導電体層３２は、圧延によって形成されてもよい。
　第一抵抗層１１のシート抵抗ｒ1に対する第二抵抗層２１のシート抵抗ｒ2の比ｒ2／ｒ1は、例えば、０．００１～１００である。これにより、電波吸収体１ａにおいて、所望の吸収性能が発揮される入射角度の範囲が大きくなりやすい。
　比ｒ2／ｒ1は、０．０４以上であってもよく、０．０８以上であってもよく、０．２以上であってもよい。比ｒ2／ｒ1は、３０以下であってもよく、１２以下であってもよく、５以下であってもよい。典型的には、吸収対象の電波がＴＭ波を含む場合、ｒ2／ｒ1＜１であり、吸収対象の電波がＴＥ波を含む場合、ｒ2／ｒ1＞１である。
　電波吸収体１ａにおいて、第一誘電体層１１の厚みＤ1に対する第二誘電体層１２の厚みＤ2の比Ｄ2／Ｄ1は、例えば、０．０１～１０である。比Ｄ2／Ｄ1がこのような範囲にあると、電波吸収体１ａにおいて、所望の吸収性能が発揮される、入射角度等の入射条件の範囲が大きくなりやすい。第一誘電体層１１の比誘電率及び第二誘電体層１２の比誘電率のそれぞれは、例えば、空洞共振法に従って測定される１０ＧＨｚにおける比誘電率である。
　比Ｄ2／Ｄ1は、０．１以上であってもよく、０．２以上であってもよく、０．３以上であってもよい。比Ｄ2／Ｄ1は、７以下であってもよく、５以下であってもよく、３以下であってもよい。
　第一抵抗層１１及び第二抵抗層２１のそれぞれの材料は、所望のシート抵抗を有する限り、特定の材料に限定されない。第一抵抗層１１及び第二抵抗層２１のそれぞれの材料は、例えば、酸化インジウムスズ（ＩＴＯ）である。この場合、第一抵抗層１１及び第二抵抗層２１のシート抵抗を所望の範囲に調整しやすい。
　第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれは、例えば、所定の高分子によって形成されている。第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれは、例えば、エチレン酢酸ビニル共重合体、塩化ビニル樹脂、ウレタン樹脂、アクリル樹脂、アクリルウレタン樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン、シリコーン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリカーボネート、ポリイミド、及びシクロオレフィンポリマーからなる群より選ばれる少なくとも１つの高分子を含む。この場合、第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれの厚みを調整しやすく、かつ、電波吸収体１ａの製造コストを低く保つことができる。第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれは、例えば、所定の樹脂組成物を熱プレス等によって成形することによって作製できる。
　第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれは、単一の層として形成されていてもよいし、同一又は異なる材料でできた複数の層によって形成されていてもよい。第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれがｎ個の層（ｎは２以上の整数）を有する場合、第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２のそれぞれの比誘電率は、例えば、以下の様にして決定される。各層の比誘電率εiを測定する（ｉは、１～ｎの整数）。次に、測定された各層の比誘電率εiにその層の厚みｔiの第一誘電体層１２又は第二誘電体層２２の全体Ｔに対する厚みの割合を乗じて、εi×(ｔi／Ｔ)を求める。すべての層に対するεi×(ｔi／Ｔ)を加算することによって、各誘電体層の比誘電率を決定できる。
　第一誘電体層１２が複数の層を有する場合、第一誘電体層１２には、第一抵抗層１１を支持する支持体としての役割を果たす基材が含まれていてもよい。加えて、第一誘電体層１２には、導電体層３２を支持する支持体としての役割を果たす基材が含まれていてもよい。第二誘電体層２２が複数の層を有する場合、第二誘電体層２２には、第二抵抗層２１を支持する支持体としての役割を果たす基材が含まれていてもよい。加えて、第二誘電体層１２には、導電体層３２を支持する支持体としての役割を果たす基材が含まれていてもよい。このような基材をなす材料は、例えば、ポリエチレンテレフタレート（ＰＥＴ）、ポリエチレンナフタレート（ＰＥＮ）、アクリル樹脂（ＰＭＭＡ）、ポリカーボネート（ＰＣ）、ポリイミド（ＰＩ）、又はシクロオレフィンポリマー（ＣＯＰ）である。なかでも、良好な耐熱性と、寸法安定性と、製造コストとのバランスの観点から、基材の材料は、望ましくはＰＥＴである。
　電波吸収体１ａは、例えば、所定の電波吸収体用キットを用いて作製される。図２に示す通り、電波吸収体用キット５０ａは、第一ピース１０ａと、第二ピース２０ａとを備えている。第一ピース１０ａは、第一電波吸収部１０を形成するためのピースである。第二ピース２０ａは、第二電波吸収部２０を形成するためのピースである。
　電波吸収体用キット５０ａは、例えば、基材４０を備えている。電波吸収体用キット５０ａにおいて、第一ピース１０ａは基材４０の一部を覆うように配置されている。第二ピース２０ａは基材４０の別の一部を覆うように配置されている。第一ピース１０ａ及び第二ピース２０ａは、例えば、粘着層３１によって基材４０上に固定されている。基材４０は粘着層３１から剥離可能である。このため、基材４０を粘着層３１から剥離して粘着層３１を露出させ、粘着層３１を被着体３ａの所定の面Ｆに押し付けることによって電波吸収体１ａを作製できる。基材４０は、例えば、ＰＥＴ等のポリエステル樹脂製のフィルムである。
　電波吸収体１ａは、図３に示す、電波吸収体用キット５０ｂを用いて作製されてもよい。電波吸収体用キット５０ｂは、例えば、第一ピース１０ａと、第二ピース２０ａと、第一基材４５ａと、第二基材４５ｂとを備えている。第一ピース１０ａは第一基材４５ａ上に配置されており、第二ピース２０ａは第二基材４５ｂ上に配置されている。第一ピース１０ａは、例えば粘着層３１によって第一基材４５ａ上に固定されている。第一基材４５ａは第一ピース１０ａから剥離可能である。第二ピース２０ａは、例えば粘着層３１によって第二基材４５ｂ上に固定されている。第二基材４５ｂは第二ピース２０ａから剥離可能である。例えば、第一基材４５ａから第一ピース１０ａを取り外し、かつ、第二基材４５ｂから第二ピース２０ａを取り外して、第一ピース１０ａ及び第二ピース２０ａを被着体３ａの所定の面Ｆに沿って配置する。さらに、第一ピース１０ａ及び第二ピース２０ａを所定の面Ｆに押し付けることによって、電波吸収体１ａを作製できる。
　電波吸収体１ａは様々な観点から変更可能である。電波吸収体１ａは、複数種類の電波吸収部を備えている。電波吸収体１ａは、例えば、第三電波吸収部をさらに備えていてもよい。この場合、第三電波吸収部は、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０と共に所定の面Ｆに沿って配置される。第三電波吸収部は、JIS R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数ｆの電波の反射吸収量の点で、第一電波吸収部１０及び第二電波吸収部２０とは異なる特性を有する。例えば、第三電波吸収部における特定の周波数ｆの電波の反射吸収量は、０°～８０°の入射角度において第三入射角度θ3で最大となる。第三入射角度θ3は、例えば、第一入射角度θ1及び第二入射角度θ2とは異なる角度である。もしくは、第三入射角度θ3で入射する電波の偏波の種類が第一入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類若しくは第二入射角度θ1で入射する電波の偏波の種類と異なっている。例えば、第二電波吸収部２０における特定の周波数ｆの電波の反射吸収量がＴＭ波に関し第二入射角度θ2（０°＜θ2≦８０°）で最大となる場合を仮定する。この場合、電波吸収体１ａが第三電波吸収部をさらに備え、第三電波吸収部が特定の周波数ｆの電波の反射吸収量がＴＥ波に関し第三入射角度θ3（０°＜θ3≦８０°）で最大となるものであってもよい。
　電波吸収体１ａは、図４及び図５に示す電波吸収体１ｂ及び１ｃのように変更されてもよい。電波吸収体１ｂ及び１ｃは、特に説明する部分を除き電波吸収体１ａと同様に構成されている。電波吸収体１ａの構成要素と同一又は対応する電波吸収体１ｂ及び１ｃの構成要素には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。電波吸収体１ａに関する説明は、技術的に矛盾しない限り、電波吸収体１ｂ及び１ｃにも当てはまる。
　電波吸収体１ｂにおいて、被着体３ａの所定の面Ｆは、導電体によって形成されている。このため、被着体３ａの所定の面Ｆによって電波を反射（裏面反射）させることができる。第一誘電体層１２は、例えば、第一粘着面１２ａを有し、第一粘着面１２ａが所定の面Ｆに接触している。第二誘電体層２２は、例えば、第二粘着面２２ａを有し、第二粘着面２２ａが所定の面Ｆに接触している。第一粘着面１２ａは、第一誘電体層１２によって形成されていてもよいし、粘着剤層によって形成されていてもよい。第二粘着面２２ａは、第二誘電体層２２によって形成されていてもよいし、粘着剤層によって形成されていてもよい。
　図５に示す通り、電波吸収体１ｃは、共通誘電体層１５ａ及び個別誘電体層１５ｂを備えている。共通誘電体層１５ａは、所定の面Ｆに沿って一定の厚みを有しおり、第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２の共通部分をなしている。一方、個別誘電体層１５ｂは、第二電波吸収部２０に対応する部分において共通誘電体層１５ａに重ねられている。換言すると、第一誘電体層１２は共通誘電体層１５ａのみによって形成され、第二誘電体層２２は、共通誘電体層１５ａと個別誘電体層１５ｂとが積層された部位によって形成されている。電波吸収体１ｃにおいて、接続層３０は、電波吸収体１ｃにおいて一体として形成されている。
　電波吸収体１ｃの作製方法の一例を説明する。例えば、接続層３０と、共通誘電体層１５ａとが重ね合わせられる。その後、第二電波吸収部２０をなす部位において共通誘電体層１５ａに個別誘電体層１５ｂが重ねられる。次に、第一抵抗層１１を、第一電波吸収部１０をなす部位において共通誘電体層１５ａに重ねる。加えて、第二抵抗層２１を、第二電波吸収部２０をなす部位において個別誘電体層１５ｂに重ねる。このようにして、電波吸収体１ｃを作製できる。
　電波吸収体１ｃにおいて、共通誘電体層１５ａ及び個別誘電体層１５ｂによって第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２が構成されている。一方、共通誘電体層１５ａのみによって第一誘電体層１２及び第二誘電体層２２を構成することも可能である。この場合、例えば、共通誘電体層１５ａの第一電波吸収部１０をなす部位の厚みと、共通誘電体層１５ａの第二電波吸収部２０をなす部位の厚みとが異なるように、共通誘電体層１５ａが作製される。
　以下、実施例により本発明をより詳細に説明する。ただし、本発明は、以下の実施例に限定されない。
　＜実施例１＞
　２３μｍの厚みを有するＰＥＴフィルムの上に、ＩＴＯをターゲット材として用いてスパッタリングを行い、５５ｎｍの厚み及び３７０Ω／□のシート抵抗を有する抵抗層Ａを形成した。このようにして、抵抗層付フィルムＡを得た。２．６の比誘電率を有するアクリル樹脂を５６０μｍの厚みに成形して、アクリル樹脂層Ａを得た。抵抗層付フィルムＡの抵抗層Ａがアクリル樹脂層Ａに接触するように抵抗層付フィルムＡをアクリル樹脂層Ａに重ねた。抵抗層付フィルムＡは、粘着剤を使用せずにアクリル樹脂層Ａに接着した。このようにして、ピースＡを得た。ピースＡの平面形状は、２００ｍｍの長さ及び１００ｍｍの幅を有する長方形であった。
　２３μｍの厚みを有するＰＥＴフィルムの上に、ＩＴＯをターゲット材として用いてスパッタリングを行い、１１０ｎｍの厚み及び１６０Ω／□のシート抵抗を有する抵抗層Ｂを形成した。このようにして、抵抗層付フィルムＢを得た。２．６の比誘電率を有するアクリル樹脂を７１０μｍの厚みに成形して、アクリル樹脂層Ｂを得た。抵抗層付フィルムＢの抵抗層Ｂがアクリル樹脂層Ｂに接触するように抵抗層付フィルムＢをアクリル樹脂層Ｂに重ねた。抵抗層付フィルムＢは、粘着剤を使用せずにアクリル樹脂層Ｂに接着した。このようにして、ピースＢを得た。ピースＢの平面形状は、２００ｍｍの長さ及び１００ｍｍの幅を有する長方形であった。
　２５μｍの厚みを有するＰＥＴフィルムと９μｍの厚みを有するＰＥＴフィルムとの間に７μｍの厚みを有するアルミニウム箔が挟まれてこれらが積層された導電体付フィルムＫを準備した。この導電体付フィルムＫの平面形状は、２００ｍｍ平方の正方形であった。導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ａが接触するようにピースＡを重ねた。加えて、導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ｂが接触するようにピースＢを重ねた。導電体付フィルムＫに１つのピースＡ及び１つのピースＢを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＡ及びピースＢによって覆われた。このようにして、実施例１に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ａ及びアクリル樹脂層Ｂは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　＜実施例２＞
　幅が６７ｍｍになるようにピースＡ及びピースＢを切断した。導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ａが接触するようにピースＡを重ねた。加えて、導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ｂが接触するようにピースＢを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＡ及びピースＢによって覆われた。このようにして、実施例２に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ａ及びアクリル樹脂層Ｂは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　＜実施例３＞
　２３μｍの厚みを有するＰＥＴフィルムの上に、ＩＴＯをターゲット材として用いてスパッタリングを行い、１７ｎｍの厚み及び９３０Ω／□のシート抵抗を有する抵抗層Ｃを形成した。このようにして、抵抗層付フィルムＣを得た。２．６の比誘電率を有するアクリル樹脂を６６０μｍの厚みに成形して、アクリル樹脂層Ｃを得た。抵抗層付フィルムＣの抵抗層Ｃがアクリル樹脂層Ｃに接触するように抵抗層付フィルムＣをアクリル樹脂層Ｃに重ねた。抵抗層付フィルムＣは、粘着剤を使用せずにアクリル樹脂層Ｃに接着した。このようにして、ピースＣを得た。ピースＣの平面形状は、２００ｍｍの長さ及び１００ｍｍの幅を有する長方形であった。
　導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ａが接触するようにピースＡを重ねた。加えて、導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ｂが接触するようにピースＣを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＡ及びピースＣによって覆われた。このようにして、実施例３に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ａ及びアクリル樹脂層Ｃは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　＜比較例１＞
　導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ａが接触するように、導電体付フィルムＫに２つのピースＡを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＡによって覆われた。このようにして、比較例１に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ａは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　＜比較例２＞
　導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ｂが接触するように、導電体付フィルムＫに２つのピースＢを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＢによって覆われた。このようにして、比較例２に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ｂは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　＜比較例３＞
　導電体付フィルムＫにアクリル樹脂層Ｃが接触するように、導電体付フィルムＫに２つのピースＣを重ねた。これにより、導電体付フィルムＫがピースＣによって覆われた。このようにして、比較例３に係るサンプルを得た。アクリル樹脂層Ｃは、粘着剤を使用せずに導電体付フィルムＫに接着した。
　［電波吸収量の測定］
　JIS R 1679:2007に準拠して、０°～７０°の入射角度で入射する７６．５ＧＨｚのミリ波に対する各実施例に係るサンプル及び各比較例に係るサンプルの電波吸収量（入射波の電力に対する反射波の電力の比をｄＢ表記した値の絶対値）を測定した。なお、この測定は、０°、１５°、３０°、４５°、６０°、及び７０°の入射角度において行った。比較例１に係るサンプルの電波吸収量の測定において斜めに入射する電波としてＴＭ波及びＴＥ波を用いた。実施例１～３及び比較例２に係るサンプルの電波吸収量の測定において斜めに入射する電波としてＴＭ波を用いた。実施例４及び比較例３に係るサンプルの電波吸収量の測定において斜めに入射する電波としてＴＥ波を用いた。各サンプルにおいてＴＭ波及びＴＥ波の照射スポットの長軸は、各サンプルの表面の中央において各ピースの長さ方向に延びていた。実施例１～３に係るサンプル並びに比較例１及び２に係るサンプルに対するＴＭ波を用いた電波吸収量の測定結果から、各サンプルにおいて電波吸収量が１５ｄＢ以上となる入射角度のレンジＲ15を特定した。レンジＲ15の特定は、「発明を実施するための形態」で述べたレンジＲ15の決定方法に基づいていた。結果を表１に示す。一方、実施例４並びに比較例１及び３に係るサンプルに対するＴＥ波を用いた電波吸収量の測定結果から、各サンプルにおいて電波吸収量が１０ｄＢ以上となる入射角度のレンジＲ10を特定した。レンジＲ10の特定は、「発明を実施するための形態」で述べたレンジＲ10の決定方法に基づいていた。結果を表１に示す。比較例１に係るサンプルにおいて入射角度が０°のときに電波吸収量が最大であった。比較例２及び３に係るサンプルにおいて入射角度が７０°のときに電波吸収量が最大であった。
　表１に示す通り、実施例１及び２に係るサンプルのＲ15は、比較例１及び２に係るサンプルのＲ15よりも大きかった。加えて、実施例３に係るサンプルのＲ10は、比較例１及び３に係るサンプルのＲ10よりも大きかった。このため、実施例１～３に係るサンプルは、所望の電波吸収性能が発揮される入射角度の範囲が大きいことが示唆された。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000005
  

Claims (13)

  1. 　日本工業規格（JIS）R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数の電波の反射吸収量が０°～８０°の入射角度において第一入射角度で最大となる第一電波吸収部と、
    　０°～８０°の入射角度において第二入射角度で前記電波の反射吸収量が最大となる第二電波吸収部と、を備え、
    　前記第二入射角度の大きさが前記第一入射角度の大きさと異なっている、又は、前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と異なっており、
    　前記第一電波吸収部及び前記第二電波吸収部は、所定の面に沿って配置されている、
    　電波吸収体。
  2. 　前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と同一である、又は、前記第一入射角度が０°であり、
    　前記第二入射角度から前記第一入射角度を差し引いた値が５°以上である、請求項１に記載の電波吸収体。
  3. 　前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と同一であり、又は、前記第一入射角度が０°であり、
    　前記第二入射角度から前記第一入射角度を差し引いた値が７０°以下である、請求項１又は２に記載の電波吸収体。
  4. 　前記第一電波吸収部が前記所定の面を覆う面積に対する前記第二電波吸収部が前記所定の面を覆う面積の比は、１／１０～１０である、請求項１～３のいずれか１項に記載の電波吸収体。
  5. 　複数の前記第一電波吸収部と、複数の前記第二電波吸収部と、を備え、
    　前記複数の前記第一電波吸収部及び前記複数の前記第二電波吸収部は、前記所定の面に沿って規則的に又はランダムに配置されている、請求項１～４のいずれか１項に記載の電波吸収体。
  6. 　前記複数の前記第一電波吸収部及び前記複数の前記第二電波吸収部は、前記所定の面に沿って交互に配置されている、請求項５に記載の電波吸収体。
  7. 　前記第一電波吸収部は、第一抵抗層と、前記第一抵抗層の厚み方向において前記第一抵抗層と前記所定の面との間に配置された第一誘電体層とを含み、
    　前記第二電波吸収部は、第二抵抗層と、前記第二抵抗層の厚み方向において前記第二抵抗層と前記所定の面との間に配置された第二誘電体層とを含む、
    　請求項１～６のいずれか１項に記載の電波吸収体。
  8. 　前記第一誘電体層の厚み方向において前記第一誘電体層よりも前記所定の面に近い位置に配置され、かつ、前記第二誘電体層の厚み方向において前記第二誘電体層よりも前記所定の面に近い位置に配置されている接続層をさらに備えた、請求項７に記載の電波吸収体。
  9. 　前記接続層は、粘着層を含む、請求項８に記載の電波吸収体。
  10. 　前記接続層は、導電体層と、粘着層とを含む、請求項８に記載の電波吸収体。
  11. 　前記第一抵抗層のシート抵抗に対する前記第二抵抗層のシート抵抗の比は、０．００１～１００である、請求項７～１０のいずれか１項に記載の電波吸収体。
  12. 　前記第一誘電体層の厚みに対する、前記第二誘電体層の厚みの比は、０．０１～１０である、請求項７～１１のいずれか１項に記載の電波吸収体。
  13. 　JIS R 1679：2007に基づいて測定される特定の周波数の電波の反射吸収量が０°～８０°の入射角度において第一入射角度で最大となる第一電波吸収部を形成するための第一ピースと、
    　０°～８０°の入射角度において第二入射角度で前記電波の反射吸収量が最大となる第二電波吸収部を形成するための第二ピースと、を備え、
    　前記第二入射角度の大きさが前記第一入射角度の大きさと異なっている、又は、前記第二入射角度で入射する前記電波の偏波の種類が前記第一入射角度で入射する前記電波の偏波の種類と異なっている、
    　電波吸収体用キット。
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