WO2007004708A1 - 顕微鏡 - Google Patents

顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
WO2007004708A1
WO2007004708A1 PCT/JP2006/313522 JP2006313522W WO2007004708A1 WO 2007004708 A1 WO2007004708 A1 WO 2007004708A1 JP 2006313522 W JP2006313522 W JP 2006313522W WO 2007004708 A1 WO2007004708 A1 WO 2007004708A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
sample
light source
objective lens
incident
Prior art date
Application number
PCT/JP2006/313522
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Tadao Sugiura
Katsuhiko Yasaka
Takashi Kawahito
Kumiko Matsui
Original Assignee
National University Corporation NARA Institute of Science and Technology
Nikon Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by National University Corporation NARA Institute of Science and Technology, Nikon Corporation filed Critical National University Corporation NARA Institute of Science and Technology
Priority to EP06780847A priority Critical patent/EP1895348A4/en
Priority to JP2007523450A priority patent/JP4895050B2/ja
Priority to US11/993,020 priority patent/US7957058B2/en
Publication of WO2007004708A1 publication Critical patent/WO2007004708A1/ja

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/082Condensers for incident illumination only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B5/00Optical elements other than lenses
    • G02B5/30Polarising elements
    • G02B5/3025Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state
    • G02B5/3066Polarisers, i.e. arrangements capable of producing a definite output polarisation state from an unpolarised input state involving the reflection of light at a particular angle of incidence, e.g. Brewster's angle

Definitions

  • the present invention relates to a microscope. Background art
  • the laser beam is tilted so that the angle of incidence of the laser beam with respect to the interface is a pre-use evening angle, and the light regularly reflected at the interface is imaged through an imaging lens placed in the specular reflection direction for image observation.
  • an imaging lens placed in the specular reflection direction for image observation.
  • the entire image is obtained by scanning the light irradiation position on the sample in a one-dimensional direction.
  • Surface plasmon resonance is a phenomenon of resonance between incident light and surface plasmon (surface plasmon-polariton), and the wavenumber vector of the incident light toward the metal surface and the wavenumber vector of the surface plasmon. This is a resonance phenomenon that occurs when the incident light and the surface plasmon travel with longitudinal wave oscillation at the same speed.
  • the plasmon wave number on the metal surface is larger than the wave number of light traveling in the material on the medium side, an evanescent field must be formed on the metal surface in order to cause surface plasmon resonance. Therefore, light is incident at an angle greater than the total reflection angle from the back surface of the substrate with the metal film (Kretchmann arrangement), and surface plasmon resonance occurs by finely adjusting the incident angle as a state where an evanescent field is generated on the metal surface be able to.
  • surface plasmon resonance occurs, the energy of the incident light is lost in the metal film as Joule loss, and the intensity of the reflected light is drastically reduced. Therefore, the surface plasmon resonance phenomenon can be observed by measuring the reflectance while changing the incident angle (surface plasmon spectroscopy).
  • the surface plasmon wavenumber depends greatly on the dielectric constant and thickness of the medium in contact
  • information on the dielectric constant and thickness of the medium can be obtained by observing the surface plasmon resonance phenomenon (surface plasmon spectroscopy). Can be obtained. For this reason, it is used for measuring the adsorption phenomenon of substances on metal films and measuring protein interactions.
  • the first aspect of the present invention is:
  • a minute aperture disposed in a position conjugate with an image side focal plane of the objective lens or a conjugate plane thereof in an optical path between the light source and the objective lens;
  • Position adjusting means for adjusting the position of the microscopic aperture so that light from the light source is incident on the sample at a pre-use evening angle through the microscopic aperture, and between the light source and the objective lens And a polarizing element that extracts linearly polarized light from the light from the light source and irradiates the sample with the linearly polarized light.
  • the second aspect of the present invention is:
  • a microscope that makes laser light from a laser light source incident on a sample through an objective lens and observes the sample through the object lens
  • a polarizing element that is arranged in an optical path between the laser light source and the objective lens and extracts linearly polarized light from the laser beam;
  • the laser light source is arranged such that a condensing point of the laser light is disposed at a position conjugate with the pupil of the objective lens, and the laser light is incident on the sample at a Brew's evening angle.
  • a feature microscope is provided.
  • illumination light is appropriately incident on a sample, particularly a cell immersed in a culture solution, at a Brewster angle, and a polymer compound or protein existing at the solid-liquid interface of the sample.
  • a microscope capable of observing a material having polarization dependence of high resolution.
  • the third aspect of the present invention is:
  • ⁇ r radial width of the arc-shaped minute opening
  • FIG. 1 is an overall side view showing the configuration of an inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is an overall top view showing the configuration of the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • FIGS. 3A-3C are diagrams showing the configuration of the epi-illumination device in the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is an AA enlarged cross-sectional view of FIG. 1 showing a state in which the sample is observed by irradiating illumination light at a Brewster angle with the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is an AA enlarged cross-sectional view of FIG. 1 showing a state in which the sample is observed using the surface plasmon effect by the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is an overall side view showing the configuration of the inverted microscope according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram showing the configuration of the epi-illumination device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 8 is a partially enlarged view of the epi-illumination device according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 9 is a diagram showing the pinhole 28 and the fine adjustment mechanism shown in FIGS. 3B and 3C.
  • FIG. 1 O A—FIG. 10 C is a diagram showing a slit 29 provided in the aperture stop unit 20 of the inverted microscope 1 according to the embodiment of the present invention.
  • FIG. 12 is a graph showing the maximum angle variation ⁇ ⁇ when the radial width ⁇ r of the slit 29 of the aperture stop unit 20 according to the embodiment of the present invention is changed.
  • FIG. 14 is a graph showing changes in the intensity of the background light and the signal light when ⁇ r Z f is changed with the incident angle ⁇ of illumination light as the Brewster angle in the embodiment of the present invention.
  • FIG. 15 shows the radial width of the slit 29 of the aperture stop unit 20 according to the embodiment of the present invention (assuming that 5r is infinitesimal and P is included in the illumination light when only the central angle ⁇ is increased). It is a graph which shows the intensity ratio of polarized light and s polarized light.
  • Fig. 16 shows the intensity reflectivity of p-polarized light and s-polarized light when illumination light is incident on the sample 15 under the same conditions as in Fig. 11 in the embodiment of the present invention while changing the incident angle ⁇ . It is a graph which shows. BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
  • 1 and 2 are an overall side view and a top view showing the configuration of the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • an inverted microscope 1 includes a microscope base 2, a transmission illumination device 3 provided above the microscope base 2, an eyepiece observation tube 4, and a microscope base 2 side. And an epi-illumination device 5 provided for.
  • a stage 6 for placing a sample On the upper surface of the microscope base 2, a stage 6 for placing a sample is provided. Inside the microscope base 2, an immersion objective lens 7 having a high numerical aperture, a block switching unit 8, and an optical path switching unit 9 are provided in order from the stage 6 side downward. In addition, as shown in FIG. 2, a CCD camera 10 is provided on the side surface of the microscope base 2 opposite to FIG.
  • Block switching unit 8 consists of beam splitter 1 1 and fluorescent filter block 1
  • the fluorescence filter block 12 is composed of a dichroic mirror 1 2 a, an excitation filter 1 2 b, and an absorption filter 1 2 c, and is used for fluorescence observation.
  • the optical path switching unit 9 includes a half prism 13 and a total reflection prism 14, and these can be selectively disposed in the optical path by rotating around the axis 9 a. As a result, the image from the sample 15 can be selectively guided only to the CCD camera 10 and the eyepiece observation tube 4 or the CCD camera 10.
  • 3A-3C are enlarged views showing the configuration of the epi-illumination device according to the first embodiment of the present invention.
  • the epi-illumination device 5 in the present embodiment is an illumination device for guiding light from a light source to the block switching unit 8 described above and irradiating the sample 15 via the objective lens 7.
  • the lens is arranged on the collective lens 1 7, the lenses 1 8, 19, and the objective lens 7 on the rear focal plane or on the conjugate plane with the rear focal plane.
  • the aperture stop unit 2 0, the lens 2 1, the mirror 2 2, the lens 2 3, the field stop 2 4 conjugated to the sample surface, the volatilizer unit 2 5, and the lens 2 6 Have.
  • the aperture stop unit 20 has an aperture stop 2 7, a pin hole 28 having a small diameter as a minute aperture, and an arc-shaped slit 29 having an optical axis AX as the center, and these slide to the up and down direction in FIG. 3A.
  • the user can selectively switch and place it in the optical path by sliding it with an operation knob (not shown).
  • the aperture stop 27 is a normal epi-illumination aperture stop that is located on the optical axis AX when disposed in the optical path and has a larger opening than the pinhole 28 and the slit 29.
  • the aperture stop 27 and slit 2 9 has a conjugate relationship with the image side focal plane of each objective lens.
  • the aperture stop unit 20 may be moved in the optical axis direction.
  • the adjustment is performed by moving the lens 26 in the optical axis direction.
  • the aperture stop 27 and the slit 29 may be arranged in the vicinity of the plane conjugate with the image side focal plane of the objective lens within the adjustment range of the lens 26.
  • Such an aperture stop unit 20 is provided with a fine adjustment mechanism to be described later, and finely adjusts the distance between the pinhole 28 and the slit 29 and the optical axis in a plane perpendicular to the optical axis. Can do. This makes it possible to adjust the position in the rear focal plane of the objective lens 7 or the position in the plane conjugate with the rear focal plane, that is, the incident angle of the illumination light with respect to the sample 15 can be adjusted. By adjusting, it is possible to perform illumination at or near the Brewster angle and total reflection illumination. It should be noted that the illumination range in the vicinity of the pre-star angle is preferably at least a Brew's evening angle of ⁇ 10 °.
  • the pinhole 28 is a pinhole with a small diameter
  • the slit 29 is an arc-shaped slit centered on the optical axis AX.
  • the pinhole 28 and the slit 29 are provided so as to be rotatable around the optical axis AX. As a result, the direction in which the contrast ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ is applied to the observed image of the sample 15 can be changed.
  • the pinhole 28 and the slit 29 can be continuously rotated at a constant speed.
  • the rotation period is a video rate. It is possible to obtain a sample image that has no direction of contrast ⁇ ⁇ ⁇ ⁇ in the CCD camera 10 in real time.
  • FIG. 9 is a diagram showing the pinhole 28 shown in FIG. 3B and FIG. 3C and the fine adjustment mechanism described above
  • FIGS. 10A and 10B are the same as those shown in FIG. 3B and FIG.
  • FIG. 10 is a diagram showing the slit 29 shown in C and the fine adjustment mechanism described above. 9 and FIGS. 10A and 10B also show the vibration direction of illumination light (linearly polarized light) to be described later in the first and second embodiments.
  • two plates each formed so that the pinhole 28 and the oval opening 28a sandwich the optical axis AX are connected to each other with the pinhole 28 and the opening 28a.
  • the two plates are slid relative to each other so that the pinholes 2 8 and the openings 2 8 a face each other and the distances between the pinholes 2 8 and the optical axis AX are equal.
  • the distance between the pinhole 28 and the optical axis AX can be finely adjusted in a plane perpendicular to the optical axis AX.
  • these two plates are further equipped with a shirt plate 28 b that can rotate around the optical axis AX, so that the number of pinholes 28 (one or two) can be selected arbitrarily. I can do it.
  • the two plates are provided so as to be integrally rotatable around the optical axis AX, whereby the position of the pinhole 28 can be rotated around the optical axis AX.
  • the slit 29 and the fine adjustment mechanism shown in FIG. 10C are provided with an opening 29a and a shirt plate 29b corresponding to the opening 28a and the shutter plate 28b shown in FIG. Since it is the same as the configuration of FIG.
  • the volatilizer unit 2 5 has a volatilizer 1 (polarizing element) 30 and a hollow hole 3 1, which are slidable in the left-right direction in FIG. 3A, and are selectively switched and placed in the optical path. can do.
  • the volatilizer 30 is a so-called horizontal polarizer that transmits only the linearly polarized light of the illumination light.
  • the beam splitter 11 in the block switching unit 8 is placed in the optical path on the microscope base 2, and the total reflection prism 14 in the optical path switching unit 9 is installed. Place in the optical path (Note that prism 13 can be selected for simultaneous ocular observation). Also, in the epi-illumination device 5, the pinhole 28 in the aperture stop unit 20 is arranged in the optical path (note that the slit 29 may be selected when the brightness of the observation image is important). Place the polarizer 30 in the polarizer 25 in the optical path.
  • the light emitted from the mercury lamp 16 passes through the pinhole 2 8 through the lenses 1 8 and 19, and further, the lens 2 1, the mirror 2 2, and the lens 2 3
  • the incident light enters the polarizer 30 through the field stop 24. Only the linearly polarized light of this light passes through the polarizer 30 and is guided to the beam split 11 of the microscope base 2 through the lens 26. Then, this light is guided to the objective lens 7 by the beam splitter 11 and travels through the objective lens 7 as shown in FIG. 4 to the sample 15 (for details, see cells 35 and cover glass 36, which will be described later). Incident at an angle of Brew's evening (shown as illumination light 37 in Fig. 4).
  • FIG. 4 Incident at an angle of Brew's evening (shown as illumination light 37 in Fig. 4).
  • FIG. 4 is an enlarged cross-sectional view of FIG. 1 AA showing a state in which a sample is observed by irradiating illumination light at a Brewster angle with the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • cells are used as the sample 15 for the observation of Bruce evening.
  • a Petri dish 3 8 having an opening at the bottom is placed on a cover glass 3 6 on which cells 35 are placed.
  • culture medium 39 By using the one filled with culture medium 39, it is possible to observe living cells for several hours to several days while appropriately maintaining environmental conditions such as temperature and carbon dioxide concentration with a reflux device. It becomes possible.
  • the objective lens 7 is an immersion objective lens having a high numerical aperture, and is disposed close to the lower side of the cover glass 36, and the space between the cover glass 36 and the front end of the lens. Filled with oil 40.
  • the incident angle ⁇ of the illumination light with respect to the cell 35 can be changed by adjusting the position of the pinhole 28 in the epi-illumination device 5 by the fine adjustment mechanism described above. If SLITZ ⁇ 2 9 is selected, adjust SLITZ ⁇ 2 9 position.) As a result, the incident angle ⁇ can be set at and near the pre-use evening angle in this observation of Bruce evening.
  • the reflected light 41 from the cells 35 illuminated as described above travels through the objective lens 7 and is guided to the CCD camera 10 via the beam splitter 11 and the total reflection prism 14. In this way, an observation image can be obtained with the CCD camera 10 and the cell 35 can be observed overnight.
  • the form of the substance constituting the cell or the polarization-dependent substance existing at the solid-liquid interface for example, the form of the vicinity of the interface of the polymer compound or the protein.
  • the cell 35 is fluorescently stained, it is emitted from the cell 35 by switching the beam split 11 on the microscope base 2 to the fluorescence filter block 12
  • the fluorescence can be guided to the CCD camera 10 and the cells 35 can be observed with fluorescence. That is, by switching between the beam splitter 11 and the fluorescent filter block 12, it is possible to switch between the Bruce evening observation and the fluorescence observation of the cells 35 by oblique illumination at the same time. Note that this fluorescence observation by oblique illumination has the advantage that a deep portion in the thickness direction of the cell can be observed.
  • FIG. 5 is an AA enlarged cross-sectional view showing a state in which a sample is observed using the effect of surface plasmon resonance by the inverted microscope according to the first embodiment of the present invention.
  • the microscope base 2 and the epi-illumination device 5 are set in the same manner as the above-mentioned Bruce evening observation. Then, the position of the pinhole 28 in the epi-illuminator 5 is adjusted, and the incident angle ⁇ of the illumination light with respect to the cell 35 is set to an angle at which surface plasmon resonance occurs at the interface between the cell 35 and the gold thin film 43 (this embodiment Is set to the angle at which total reflection occurs.
  • the reflected light 41 from the cells 35 illuminated under the above configuration is transmitted to the CCD camera 10 through the objective lens 7, the beam split 11 and the total reflection mirror 14 as in the above-mentioned observation of Bruce evening. Led to.
  • an observation image is obtained with the CCD camera 10, and the cell 35 can be observed with surface plasmons.
  • this surface plasmon observation it is possible to observe the structural change of a substance constituting a cell or a substance having polarization dependency present at a solid-liquid interface, such as a polymer compound or a protein.
  • the fluorescence emitted from the cells 35 is changed to CCD by switching the beam split 11 on the microscope base 2 to the fluorescent filter block 12. It can be guided to the camera 10 and the cells 35 can be observed with fluorescence. That is, beam splitter 11 and fluorescent film By switching evening block 1 2, surface plasmon observation and fluorescence observation of cells 35 with oblique illumination (total reflection illumination here) can be switched simultaneously.
  • the fluorescent filter block 12 in the block switching unit 8 When performing observation with total reflection illumination by the inverted microscope 1, the fluorescent filter block 12 in the block switching unit 8 is placed in the optical path on the microscope base 2, and the epi-illumination device 5 is connected to the Brewster observation described above. Set in the same manner, and use fluorescently stained cells as sample 15. Then, the position of the pinhole 28 in the epi-illumination device 5 is adjusted, and the incident angle ⁇ of the illumination light with respect to the sample 15 is set to an angle at which total reflection occurs at the boundary surface between the cell and the cover glass.
  • the fluorescence emitted from the sample 15 illuminated under the above configuration is transmitted through the objective lens 7, the fluorescence filter block 12 and the total reflection mirror 14 as in the Brewster observation described above. Guided to CCD camera 10 In this way, an observation image is obtained with the CCD camera 10, and fluorescence observation of the sample 15 with total reflection illumination can be performed.
  • the fluorescent filter block 12 in the block switching unit 8 is arranged in the optical path, and the total reflection mirror 14 in the optical path switching unit 9 is arranged in the optical path.
  • the aperture stop 27 in the aperture stop unit 20 is disposed in the optical path, and the hollow hole 31 in the polarizer unit 25 is disposed in the optical path.
  • the light emitted from the mercury lamp 16 is guided to the fluorescent filter block 12 of the microscope base 2 through each member in the epi-illumination device 5. This light is guided to the objective lens 7 by the fluorescent filter block 12 and enters the sample 15 via the objective lens 7.
  • the fluorescence emitted from the sample 15 illuminated in this way is guided again to the CCD camera 10 via the objective lens 7, the fluorescence filter block 12, and the total reflection mirror 14. In this way, an observation image is obtained by the CCD camera 10, and the sample 1 JP2006 / 313522
  • the inverted microscope 1 includes the transmission illumination device 3 and the eyepiece observation tube 4 as described above, the observation of the sample 15 by transmission illumination is also possible in each of the above observations other than the fluorescence observation. Visual observation can also be performed.
  • the inverted microscope 1 includes the mercury lamp 16 as the light source of the epi-illumination device 5 as described above.
  • the present invention is not limited to this, and a single laser light source (laser light source arranged so that the condensing point of the laser light is conjugate with the pupil of the objective lens) is used as the light source of the epi-illumination device 5, and the aperture stop unit 20 It is also possible to omit the pinholes 28 and the slits 29 in this way, and this makes it possible to obtain a brighter observation image.
  • the laser light emission position can be adjusted in the direction perpendicular to the optical axis (the light collecting point can be adjusted in the direction perpendicular to the optical axis).
  • the emission position can be rotated around the optical axis (this makes it possible to rotate the condensing point around the optical axis) and the same circumference around the optical axis. It is desirable to have a plurality of the emission positions on the top (by this, a plurality of the condensing points can be arranged).
  • a speckle removing optical system such as a diffuser in the epi-illumination device 5
  • the inverted microscope 1 can perform all of the observation of Bruce evening, surface plasmon observation, and total reflection illumination by changing the settings of the microscope base 2 and the epi-illumination device 5 as described above.
  • the present invention is not limited to this, and it is naturally possible to configure a microscope with a limited combination, such as a microscope that performs only pre-use observation or a microscope that performs pre-star observation and total reflection illumination.
  • the inverted microscope 1 has a configuration in which the objective lens 7 is disposed close to the sample 15 as described above, so that an objective lens having a high numerical aperture can be adopted, and the resolution of the apparatus is increased. Can be realized. Also through this objective lens 7 perpendicular to the sample 15 Since the sample images are connected, an optical system for correcting the tilt of the image formation surface with a CCD camera, which is required in the above-described conventional technology, is also unnecessary.
  • the inverted microscope 1 has an optical system including the objective lens 7 and an epi-illumination device 5 arranged below the stage 6 so that a free space is secured on the stage 6.
  • This sample 15 can be easily installed, and is particularly effective when observing cells while they are alive.
  • FIG. 6 is an overall side view showing the configuration of the inverted microscope according to the second embodiment of the present invention.
  • 7 and 8 are a diagram and a partially enlarged view showing the configuration of the epi-illumination device in the second embodiment of the present invention.
  • the microscope base 2 of the inverted microscope 50 has an optical path between the beam splitter 11 and the optical path switching unit 9 that can be rotated and adjusted around the optical axis.
  • An analyzer 51 that can be inserted and removed is provided.
  • the epi-illumination device 52 has a rotation adjustment centered on the optical axis between the volatilizer unit 25 and the lens 26, and in the optical path.
  • a 1 Z 4 wave plate 5 3 that can be inserted and removed is provided.
  • the polarizing element 30 in the present embodiment can be rotated and adjusted around the optical axis, and the vibration direction of the light from the light source 16 with respect to the incident surface of the light from the light source 16 to the sample 4 It can be set to pass only 5 degrees of linearly polarized light.
  • the polarizing element 30 is set as described above, the analyzer 51 and the 1Z4 wavelength plate 53 are disposed in the optical path, and other than this
  • the microscope element is set to the same setting as that for the Brewster observation in the above-described embodiment.
  • the light that has passed through the polarizing element 30 aligned in the 45-degree direction passes through the quarter-wave plate 53 that is further rotated in an appropriate direction, and then enters the objective lens 7 to irradiate the sample 15.
  • the reflected light is passed through an analyzer 51 rotated in an appropriate direction to form an image to obtain an observation image.
  • the reflected light is reflected by the physical properties such as the complex refractive index and refractive index anisotropy and thickness of the sample.
  • the reflectivity of s-polarized light and p-polarized light and their phase difference change. Therefore, if the phase difference between the s-polarized light and the p-polarized light is added by the 1Z4 wavelength plate 54 so that the phase difference between the S-polarized component and the P-polarized component of the reflected light is an integer multiple of 7T after being reflected by the sample, the reflected light becomes linearly polarized light and can be quenched by the analyzer 51 adjusted to an appropriate rotation angle.
  • phase difference and amplitude reflectance ratio of s-polarized light and p-polarized light are obtained, respectively, based on these.
  • the complex refractive index and anisotropy of the part can be examined. Analysis methods used in elliptical polarization analysis and literature (S. Henon and Meunier, 'Microscopy at the Brewster angke: Direct observation of first-order phase translat ion in monolayers, Rev. Sci. Instru. Vol. .62, pp.936-939 (1991).).
  • the inverted microscope 50 according to the present embodiment can be used for polarization analysis for examining the complex refractive index, anisotropy, and the like of the sample, in addition to each observation that can be performed with the inverted microscope according to the first embodiment. it can.
  • the illumination light is appropriately incident on the sample, particularly the cell immersed in the culture solution, at the pre-use evening angle, and the polymer existing at the solid-liquid interface of the sample.
  • the slit 29 provided in the aperture stop unit 20 of the inverted microscope 1 according to the present embodiment is designed based on the following design conditions.
  • n c g Refractive index of cover glass 3 6
  • n-oil Refractive index of immersion liquid (oil 40) of objective lens 7 (in the case of so-called dry objective lenses, n-oil 2 1)
  • sample 15 is assumed to have the microcellular structure (35) in the culture medium 39 attached to the cover glass 36.
  • R / f also represents the NA of the objective lens. Therefore, from the formula (B), the NA of the objective lens that can realize the illumination of the present invention can be derived.
  • an immersion objective lens with NA ⁇ 1 should be used.
  • the background light that is, the reflected light from the sample medium
  • the signal light that is, the reflected light from the microcellular structure (35)
  • Buryusu evening corner 0 B 41. 3 ° intensity of the background light in the vicinity of about 1 0 8 ⁇ ; is L 0 7, the intensity of the signal light 10 one 5-10 one 4 This shows that a good contrast image with an SZ B ratio of about 10 3 can be obtained.
  • the radial width ⁇ r of the slit 29 is ⁇ r 0
  • the illumination light will be blocked, so the radial width ⁇ r is a non-zero finite value. It becomes.
  • the radial width ⁇ r is set to a larger value, the illumination light becomes brighter, so that a bright observation image can be obtained.
  • the coherence of the illumination light can be reduced as the value of the radial width ⁇ r is set larger, interference fringe noise generated in the background of the observation image can be reduced.
  • the illumination light beam will include light whose incident angle deviates from ⁇ in the illumination light incident on the sample 15 at the incident angle ⁇ .
  • the radial width (5 r should be set too large). And there is an upper limit.
  • angle variation the angle deviation of the above-mentioned “light whose incident angle deviates from 0” is referred to as “angle variation” in this specification.
  • Figure 12 is a graph showing the maximum angle variation (5 ⁇ when the radial width ⁇ r of the slit 29 is changed. Note that the incident angle ⁇ of illumination light is the Brewster angle, The horizontal axis is (5 r is normalized by the focal length f of the objective lens 7.
  • the background light and the signal light can be obtained from the graph of FIG. 11 in the range of the maximum angle variation ⁇ ⁇ obtained in FIG. The integrated value.
  • Fig. 14 is a graph showing changes in the intensity of the background light and signal light when ⁇ rZf is varied with the incident angle ⁇ of the illumination light as the Bruce evening angle SB.
  • the intensity of the signal light becomes approximately twice the intensity of the background light, and a better contrast ⁇ is obtained.
  • An observation image can be obtained.
  • ⁇ r radial width of slit 29 ⁇ r
  • the lower limit value of the radial width ⁇ r of the slit 29 can be set to an arbitrary value satisfying ⁇ r ⁇ 0. This is because the observation image becomes darker as the radial width ⁇ 5 r is set smaller, but the signal light itself can be detected by using a more sensitive image sensor.
  • the value of the radial width ⁇ r of the slit 29 depends on the configuration of the microscope and its It is most preferable to select an optimal value within the range satisfying conditional expression (1 ') from conditional expression (1) depending on the application.
  • the maximum value of the central angle ⁇ can be obtained by calculating the intensity ratio of p-polarized light and s-polarized light.
  • Fig. 15 is a graph showing the intensity ratio of P-polarized light and s-polarized light contained in the illumination light when only the central angle ⁇ is increased assuming that the radial width ⁇ r of the slit 29 is infinitesimal.
  • FIG. 16 is a graph showing the intensity reflectance of P-polarized light and s-polarized light when illumination light is incident on the sample 15 under the same conditions as in FIG. 11 while changing the incident angle ⁇ . .
  • ⁇ r the radial width
  • ⁇ r the radial width
  • the central angle (arc angle) ⁇ of the slit 29 where the intensity ratio of p-polarized light and s-polarized light is 100 is about 20 °, so this value is shown in the following conditional expression (2). Is the upper limit of the central angle ⁇ . JP2006 / 313522
  • the contrast of the observation image of the sample 15 can be further improved by satisfying the following conditional expression (2 ′).
  • the slit 29 provided in the aperture stop unit 20 of the inverted microscope 1 according to the present embodiment is designed to satisfy the above-described design conditions (conditional expressions (1) and (2)). Yes.
  • the inverted microscope 1 according to the present embodiment can suppress the generation of interference fringes and provide a good observation image with high contrast during Brewster observation, surface plasmon observation, and total reflection fluorescence observation.
  • the slit 29 is designed so as to satisfy the conditional expressions (1 ') and (2' '), an observation image with higher contrast can be obtained by suppressing the generation of interference fringes in each of the above observations. Can do.
  • the slit 29 provided in the aperture stop unit 20 of the inverted microscope 1 is not limited to the above-described configuration, the mode will be described below.
  • the slit 29 provided in the aperture stop unit 20 of the inverted microscope 1 according to the present embodiment includes a plurality of arcs that satisfy the conditional expressions (1) and (2) as shown in FIG.
  • a slit with a shape is placed at an equal distance from the optical axis ⁇ , and a polarizing plate (a volatilizer) is placed on each slit ⁇ , and the polarization direction of each slit is 313522
  • the polarizing plate 23 It can also be configured parallel (p-polarized) to the straight line connecting the approximate center and the optical axis AX.
  • the polarizing plate may be arranged immediately before or after the slits. However, in order to convert the light passing through each slit into the correct polarization direction, it is necessary to arrange the polarizing plates very close to the slit. desirable.
  • each slit by moving each slit as one module in one direction and changing the illumination angle, it is possible to observe a sample having various refractive indexes, Brew's evening observation, surface plasmon observation, and total reflection fluorescence.
  • the error due to the curvature of each circular arc will increase, so if the total central angle ⁇ of each slit is designed to be within 25 °
  • the plurality of slits generally satisfy the conditional expression (1) as a whole.
  • the sum of the central angles ⁇ of the slits ⁇ is within 13 °, since the plurality of slits generally satisfy the conditional expression (1 ′) as a whole.
  • the total central angle of each slit is restricted, so that each of the slits as a separate module.
  • the slits ⁇ may be moved in the radial direction.
  • the plurality of slits can move in conjunction with each other.
  • a plurality of slit plates having slits with different arc radii R may be prepared in advance, and the slit plates may be switched by a slide or the like according to the observation conditions. it can.
  • the slits can be installed so that the sum of the central angles ⁇ of the slits is 3600 °.
  • the slit 29 of the aperture stop unit 20 and the polarizing element (the volatilizer 30) are rotated at high speed around the optical axis AX.
  • the restriction on the center angle ⁇ of the slit, which has occurred in the configuration in which the slit is moved in the radial direction, can be eliminated.
  • the radial width ⁇ r satisfies conditional expression (1) or conditional expression (1 ')
  • the force indicating the arc-shaped slit as the minute opening provided in the aperture stop unit 20, and the shape of the minute opening is not limited thereto. However, as long as it is included in the circular arc shape that satisfies the conditional expressions (1) and (2), for example, a rectangle may be an ellipse.
  • the direction of the polarizer 30 is rotated by 90 ° so that the illumination light becomes s-polarized light, or by switching the polarizer 30 itself. Can also be used as a s-polarized multiple chirp microscope.
  • the polarizing plate disposed in each slit is connected to the substantially central portion of the slit corresponding to the polarization direction and the optical axis ⁇ Arrange it so that it is perpendicular (s-polarized) or 45 ° to the straight line connecting ⁇ .
  • the observation image can be switched by setting the ⁇ -polarized light, s-polarized light, and intermediate settings. It becomes possible to observe.
  • the rotating diffuser plate in the epi-illumination device 5 by arranging the rotating diffuser plate in the epi-illumination device 5, a further interference fringe reduction effect can be realized.
  • the illumination light passes through the rotating diffuser plate, it is linearly polarized by the polarizer. Preferably it is converted to light.
  • the rotating diffuser is placed in front of slit 29 (near the mercury lamp 16 side of aperture diaphragm unit 20).
  • the configuration is such that the illumination light from the mercury lamp 16 passes through a multi-bundle fiber bundled with optical fibers having different optical path lengths. It is possible to achieve the same effect.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

 光源からの光を対物レンズを介して試料へ入射させ、当該対物レンズを介して試料を観察する顕微鏡は、光源と対物レンズとの間の光路中であって対物レンズの像側焦点面あるいはその共役面と共役な位置に配置された微小開口部と、微小開口部を介して光源からの光を試料に対してブリュースター角度で入射させるように微小開口部の位置を調整する位置調整手段と、光源と対物レンズとの間の光路中に配置されており光源からの光より直線偏光を取り出し、直線偏光の光を試料に照射する偏光素子とを有する。

Description

顕微鏡 技術分野
本発明は、 顕微鏡に関する。 背景技術
<ブリュース夕一顕微鏡〉
ブリュース夕一角において p偏光の反射率が 0になることは 1 9世紀より知 られており、 この現象を利用すれば単分子膜の観察力行えることが 1 991年に Dirk Honigと Dietmar Mobius及び S.Henonと; I.Meunierによって報告されて、 薄膜の反射率分布をイメージングする研究が活発化している。
これまでに、 液体上の気一液界面で展開された Langmuir 単分子膜の 2次元構 造の観察や Langnmir単分子膜の配向分布の観察、 混合された Langmuir単分子膜 の相分離の観察、 基板面上に作製された LB膜の観察等、 主に単分子膜の構造観 察に利用されている。 現在ではイメージング装置も市販されており、 半導体製造 工程での薄膜の評価や、 DN A検出に用いられる DN Aマイクロアレイの製品検 査等で利用されている。
これらの手法では、 レーザ光を界面に対して入射角がプリユース夕一角 なる ようにレーザビームを傾け、 界面で正反射した光を正反射方向に設置した結像レ ンズを通して結像して像観察を行う構成になっている (例えば、 アルテックアル ト株式会社、 "BAMブリュース夕一角顕微鏡" 、 [online]、 [平成 17年 5月 23日検索]、 インタ一ネット <URL : http://www.ksv. jp/bam_01. html > を参照。)。 このようにした場合、 観察レンズが薄膜試料に対して傾いた方向から 観察するようになるため、 一度に観察できる領域がスリット状に制限される。 そ T JP2006/313522
2 こでこれらの装置では光の照射位置を試料上で 1次元方向に走査して全体の画 像を得る構成となっている。
ぐ表面プラズモン顕微鏡 >
金属表面近傍の自由電子の集団的縦波振動である表面プラズモンは可視域の 光を用いて励起できることが O Uo及び Kre t chmannによって実験的に証明され、 金属薄膜近傍の分子を検出するのに用いられている。
表面プラズモン共鳴は、 入射光と表面プラズモンとの共鳴現象 (表面ブラズモ ンーポラリ 卜ン (po l ar i ton) ) であり、 入射光が持つ金属表面方向の波数べクト ルと表面プラズモンの波数べクトルが一致した場合に入射光と表面プラズモン が同じ速度で縦波振動しながら進行することで起こる共鳴現象である。
金属表面のプラズモンの波数は媒質側の物質中を進行する光の波数よりも大 きくなるので、 表面ブラズモン共鳴を起こさせるには金属表面上でエバネッセン ト場となる必要がある。 そのため金属膜を付けた基板の裏面より全反射角以上の 角度で光を入射し (Kre tchmann配置)、 金属表面上にエバネッセント場が生じる 状態として入射角を微調整することで表面プラズモン共鳴を起こすことができ る。 表面ブラズモン共鳴が起きると入射した光のエネルギーはジュール損として 金属膜中で損失するので反射光の強度が激減する。 そのため入射角を変化させな がら反射率を測定することで表面プラズモン共鳴現象を観察することができる (表面プラズモン ·スぺクトロスコピー)。
また表面プラズモンの波数は接している媒質の誘電率と厚さに大きく依存す るので、 表面プラズモン共鳴現象を観察する (表面プラズモン ·スぺクトロスコ ピー) ことで媒質の誘電率と厚さに関する情報を得ることができる。 そのため、 金属膜への物質の吸着現象の計測やタンパク質相互作用の計測等に用いられて いる。
さらにこの原理に基づいて金属表面の各点の反射率を計測することで金属薄 膜近傍の分子の分布をイメージングする試みが、 1 9 8 8年に W. Hi cke l と W. Kno l l によって初めてなされた (表面プラズモン顕微鏡)。 その後、 金属膜上に 形成された脂質分子膜の高解像度観察、 D N Aハイブリダィゼーシヨンの実時間 観察、 D N A—タンパク質間相互作用の計測等が行われている。
しかしながら、 上述のブリュース夕一顕微鏡や表面プラズモン顕微鏡は、 照明 光を試料に対してブリュース夕一角度や表面ブラズモン共鳴を起こすための角 度等の大きな入射角度で照射する必要があるため、 試料における構造や屈折率が 大きく変化する部位で干渉縞が発生してしまい、 また、 観察像の背景は暗黒に近 いため S ZB比 (シグナル Zバックグラウンド比) が高く、 わずかな干渉縞でも 非常に目立ちやすいという問題がある。 発明の開示
上記課題を解決するために本発明の第 1の態様は、
光源からの光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対物レンズを介して 前記試料を観察する顕微鏡において、
前記光源と前記対物レンズとの間の光路中であって前記対物レンズの像側焦 点面あるいはその共役面と共役な位置に配置された微小開口部と、
前記微小開口部を介して前記光源からの光を前記試料に対してプリユース夕 一角度で入射させるように前記微小開口部の位置を調整する位置調整手段と、 前記光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記光源からの光 より直線偏光を取り出し、 前記直線偏光の光を前記試料に照射する偏光素子とを 有することを特徴とする。
また本発明の第 2の態様は、
レーザー光源からのレーザー光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対 物レンズを介して前記試料を観察する顕微鏡であって、
前記レーザー光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記レ 一ザ一光から直線偏光を取り出す偏光素子を有し、 前記レーザー光源は、 前記レーザー光の集光点が前記対物レンズの瞳と共役な 位置に配置されており、 かつ前記レーザー光が前記試料に対してブリュース夕一 角度で入射させる位置にあることを特徴とする顕微鏡を提供する。
本発明の前記態様によれば、 試料、 特に培養液に浸されている細胞に対しても 照明光をブリュースター角で適切に入射させ、 試料の固液界面に存在する高分子 化合物やタンパク質等の偏光依存性のある物質を高分解能で観察可能な顕微鏡 を提供することができる。
また、 本発明の第 3の態様は、
光源からの光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対物レンズを介して 前記試料を観察する顕微鏡において、
前記光源と前記対物レンズとの間の光路中であつて前記対物レンズの像側焦 点面あるいはその共役面の近傍に配置されており、 かつ前記光源からの光を前記 試料に対して略ブリュース夕一角度で入射させる円弧形状の微小開口部と、 前記光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記光源からの 光より直線偏光を取り出す偏光素子とを有し、
前記円弧形状の微小開口部が、 以下の条件式を満足することを特徴とする顕微 鏡を提供する。
δ r≤ 0 . 0 6 X f
≤ 2 0 °
但し、
δ r :前記円弧形状の微小開口部の半径方向の幅
f :前記対物レンズの焦点距離
Φ :前記円弧形状の微小開口部の中心角 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡の構成を示す全体側面図であ る。
図 2は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡の構成を示す全体上面図であ る。
図 3 A— 3 Cは、 本発明の第 1実施形態における落射照明装置の構成を示す図 である。
図 4は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡によって、 照明光をブリュー スター角で照射して試料を観察する様子を示す図 1の A— A拡大断面図である。 図 5は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡によって、 表面プラズモン効 果を利用して試料を観察する様子を示す図 1の A— A拡大断面図である。
図 6は、 本発明の第 2実施形態に係る倒立顕微鏡の構成を示す全体側面図であ る。
図 7は、 本発明の第 2実施形態における落射照明装置の構成を示す図である。 図 8は、 本発明の第 2実施形態における落射照明装置の部分拡大図である。 図 9は、図 3 B, 図 3 Cに示すピンホール 2 8及び微調整機構を示す図である。 図 1 O A—図 1 0 Cは、 本発明の実施形態に係る倒立顕微鏡 1の開口絞りュニ ット 2 0に備えられているスリット 2 9を示す図である。
図 1 1は、 本発明の実施形態における開口絞りユニット 2 0のスリット 2 9の 半径方向の幅 δ r = 0のときに、スリツ卜 2 9を半径方向へ移動させることによ つて照明光束の入射角度 Θ を変化させた際の背景光と信号光の強度変化を示す グラフである。
図 1 2は、 本発明の実施形態における開口絞りュニット 2 0のスリット 2 9の 半径方向の幅 δ rを変化させた際の角度ばらつきの最大値 δ Θ を示すグラフで ある。
図 1 3 A、 図 1 3 Bは、 本発明の実施形態において <5 r Z f = 0 . 0 3 、 δ r / f == 0 . 0 6のときの図 1 1に相当するグラフ (スリット 2 9を半径方向に移 動させて照明光束の入射角度 6> を変化させた場合の背景光と信号光の強度変化 グラフ) をそれぞれ示している。
図 1 4は、 本発明の実施形態において照明光の入射角度 Θ をブリュースター 角度 として δ r Z f を変化させた際の背景光と信号光の強度変化を示すグ ラフである。
図 1 5は、 本発明の実施形態における開口絞りュニット 2 0のスリット 2 9の 半径方向の幅 (5 rを無限小と仮定し、 中心角 Φ のみを大きくした際に照明光に 含まれる P偏光と s偏光の強度比を示すグラフである。
図 1 6は、 本発明の実施形態において図 1 1と同じ条件の試料 1 5に対して入 射角度 Θ を変化させながら照明光を入射させた際の p偏光及び s偏光の強度反 射率を示すグラフである。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の各実施形態に係る倒立顕微鏡を添付図面に基づいて説明する。 (第 1実施形態)
図 1及び図 2は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡の構成を示す全体側 面図及び上面図である。
図 1に示すように本実施形態に係る倒立顕微鏡 1は、 顕微鏡ベース 2と、 顕微 鏡ベース 2上方に設けられた透過照明装置 3と、 接眼観察鏡筒 4と、 顕微鏡べ一 ス 2側方に備えられた落射照明装置 5とからなる。
顕微鏡ベース 2の上面には試料を載置するためのステージ 6が備えられてい る。 そして顕微鏡べ一ス 2内部には、 ステージ 6側から下方へ向かって順に、 高 開口数の液浸対物レンズ 7と、 ブロック切換ユニット 8と、 光路切換ユニット 9 とが備えられている。 また、 図 2に示すように、 顕微鏡べ一ス 2における図 1と 反対側の側面には、 C C Dカメラ 1 0が備えられている。
ブロック切換ユニット 8は、 ビ一ムスプリッ夕 1 1と蛍光フィルタブロック 1
2とを備えており、 軸 8 aを中心に回転させることでこれらを選択的に光路内へ 配置することができる。 なお、 蛍光フィル夕ブロック 1 2は、 ダイクロイツクミ ラ一 1 2 a、 励起フィル夕 1 2 b、 及び吸収フィル夕 1 2 cからなり、 蛍光観察 を行う際に用いられる。
また、 光路切換ュニット 9は、 ハーフプリズム 1 3と全反射プリズム 1 4とを 備えており、 軸 9 aを中心に回転させることでこれらを選択的に光路内へ配置す ることができる。 これにより、 試料 1 5からの像を C C Dカメラ 1 0及び接眼観 察鏡筒 4、 又は C C Dカメラ 1 0のみへ選択的に導くことができる。
図 3 A— 3 Cは、 本発明の第 1実施形態における落射照明装置の構成を示す拡 大図である。
図 3 Aに示すように、 本実施形態における落射照明装置 5は、 光源からの光を 上述のブロック切換ュニット 8へ導き、 対物レンズ 7を介して試料 1 5へ照射す るための照明装置であって、 光源として配置された水銀ランプ 1 6から順に、 コ レク夕レンズ 1 7と、 レンズ 1 8 , 1 9と、 対物レンズ 7の後側焦点面あるいは その後側焦点面と共役な面に配置された開口絞りユニット 2 0と、 レンズ 2 1と、 ミラー 2 2と、 レンズ 2 3と、 試料面に対して共役な視野絞り 2 4と、 ボラライ ザ一ユニット 2 5と、 レンズ 2 6とを有する。
開口絞りュニット 2 0は、 開口絞り 2 7、 微小開口部として直径の小さなピン ホール 2 8及び光軸 A Xを中心とする円弧形状のスリット 2 9を有し、 これらは 図 3 A中上下方向ヘスライド可能に設けられており、 使用者は不図示の操作ツマ ミでスライドさせることで選択的に切り換えて光路内へ配置することができる。 なお、 開口絞り 2 7は光路内へ配置された際には光軸 A X上に位置し、 ピンホー ル 2 8及びスリット 2 9よりも開口が大きい通常の落射照明用の開口絞りであ る。
なお、 対物レンズの像側焦点面の光軸方向位置は対物レンズの種類によつて若 千異なるため、 複数種類の対物レンズを切り替えて観察する場合等には、 開口絞 り 2 7及びスリッ ト 2 9が各対物レンズの像側焦点面と共役関係を保つような 2006/313522
8 調整機構が必要となる。 調整方法としては開口絞りュニット 2 0を光軸方向に移 動させても良いが、 本実施形態ではレンズ 2 6を光軸方向に移動させる方法によ つて調整を行う。 その場合開口絞り 2 7及びスリット 2 9はレンズ 2 6の調整巾 の範囲で対物レンズの像側焦点面と共役な面の近傍に配置されていればよい。 対 物レンズの種類に応じてレンズ 2 6を光軸方向に移動させることにより、 開口絞 り 2 7及びスリット 2 9は調整誤差の範囲内で常に対物レンズの像側焦点面と の共役関係を保つことができる。
斯かる開口絞りユニット 2 0には、 後述する微調整機構が備えられており、 光 軸に対して垂直な平面内においてピンホール 2 8及びスリット 2 9と光軸との 距離を微調整することができる。 これにより、 対物レンズ 7の後側焦点面内にお ける位置、 あるいはそのその後側焦点面と共役な面内における位置を調整するこ とが可能となり、 即ち試料 1 5に対する照明光の入射角度を調整してブリュース ター角及びその近傍での照明や全反射照明を行うことが可能となる。 なお、 プリ ュ一スター角近傍での照明範囲としては、 少なくともブリュース夕一角 ± 1 0 ° が望ましい。
ここで、 図 3 Bに示すようにピンホール 2 8は直径の小さなピンホールであり、 スリット 2 9は光軸 A Xを中心とする円弧形状のスリットである。 このため、 前 述のようにプリユース夕一角での照明や全反射照明等を行う際には、 ピンホール 2 8を選択すれば高いコントラストの観察像が得られ、 スリット 2 9を選択すれ ば明るい観察像が得られる。
また、 ピンホール 2 8及びスリット 2 9は、 光軸 A Xを回転中心として回転可 能に設けられている。 これにより、 観察される試料 1 5の像に対してコントラス 卜をつける方向を変更することができる。
さらに、 ピンホール 2 8及びスリット 2 9は、 一定の速度で連続して回転させ ることも可能に設けられている。 これにより、 コントラス卜の方向性がない試料 1 5の像を観察することができる。 特に、 本実施形態では回転周期がビデオレー ト以下に設定されており、 C C Dカメラ 1 0においてリアルタイムでコントラス 卜の方向性がない試料画像を得ることができる。
ピンホール 2 8及びスリット 2 9は、 光軸を中心とする円周上に複数個備える 構成、 特に図 3 Cに示すようにそれぞれ 2つのピンホール 2 8及びスリット 2 9 が光軸 A Xを中心に対向して備えられる構成とすることもできる。 これにより、 ブリュース夕一角での照明や全反射照明等を行う際に、 光軸 A Xを挟んで試料 1 5を両側から照明することとなるため、 照明方向の偏りを解消することができる。 ここで、 図 9は上述の図 3 B、 図 3 Cに示すピンホール 2 8及び前述の微調整 機構を示す図であり、 図 1 0 A、 1 0 Bは上述の図 3 B、 図 3 Cに示すスリット 2 9及び前述の微調整機構を示す図である。 なお、 図 9及び図 1 0 A、 1 0 Bに は、 第 1, 2実施形態における後述の照明光 (直線偏光) の振動方向も示されて いる。
図 9に示すように、 ピンホール 2 8と小判形の開口 2 8 aとが光軸 A Xを挟む ようにそれぞれ形成された 2枚のプレートが、 互いのピンホール 2 8と開口 2 8 aとが対向するように重ねられている。 そしてこの 2枚のプレートを、 互いのピ ンホール 2 8と開口 2 8 aとを対向させたままで、 かつそれぞれのピンホール 2 8と光軸 A Xとの距離が等しくなるように相対的にスライドさせることで、 光軸 A Xに対して垂直な平面内においてピンホール 2 8と光軸 A Xとの距離を微調 整することができる。 また、 この 2枚のプレートには光軸 A Xを中心に回転可能 なシャツ夕板 2 8 bがさらに備えられており、 これによりピンホール 2 8の個数 ( 1つ又は 2つ) を任意に選択できるようになつている。 また、 この 2枚のプレ —トは、 光軸 A Xを中心に一体的に回転可能に設けられており、 これによりピン ホール 2 8の位置を光軸 A Xを中心に回転させることができる。 なお、 図 1 0 C に示すスリット 2 9及び微調整機構は、 図 9に示す開口 2 8 a及びシャッ夕板 2 8 bに対応する開口 2 9 a及びシャツ夕板 2 9 bが備えられており、 図 9の構成 と同様であるため説明を省略する。 ボラライザ一ユニット 2 5は、 ボラライザ一 (偏光素子) 3 0及び中空穴 3 1 を有し、 これらは図 3 A中左右方向へスライド可能に設けられており、 選択的に 切り換えて光路内へ配置することができる。 ボラライザ一 3 0は、 照明光のうち の直線偏光のみを透過させる、 いわゆる振動方向水平のボララィザ一である。 以上の構成の本実施形態に係る倒立顕微鏡 1を用い、 試料 1 5に照明光をプリ ユース夕一角で照射して行う観察 (以下、 Γブリュース夕一観察」 という。)、 表 面プラズモン共鳴の効果を利用した観察(以下、 「表面プラズモン観察」という。)、 全反射照明による観察等を行うことができる。 これらの観察について以下に述べ る。
本倒立顕微鏡 1によってブリュース夕一観察を行う場合、 顕微鏡ベース 2にお いて、 ブロック切換ユニット 8中のビームスプリツ夕 1 1を光路内へ配置し、 光 路切換ユニット 9中の全反射プリズム 1 4を光路内へ配置する (なお、 同時に接 眼観察を行う場合にはプリズム 1 3を選択すればよい。)。 また、 落射照明装置 5 において、 開口絞りユニット 2 0中のピンホール 2 8を光路内へ配置し (なお、 観察像の明るさを重視する場合にはスリツト 2 9を選択すればよい。)、 ボラライ ザ一ュニット 2 5中のポラライザ一 3 0を光路内へ配置する。
以上の設定の落射照明装置 5において、 水銀ランプ 1 6から発せられた光はレ ンズ 1 8, 1 9を介してピンホール 2 8を通過し、 さらにレンズ 2 1、 ミラー 2 2、 レンズ 2 3、 視野絞り 2 4を介してボラライザ一 3 0へ入射する。 この光の うちの直線偏光のみがボラライザ一 3 0を透過し、 レンズ 2 6を介して顕微鏡べ —ス 2のビームスプリツ夕 1 1へ導かれる。 そしてこの光はビームスプリッタ 1 1によって対物レンズ 7へ導かれ、 図 4に示すように対物レンズ 7中を進行し、 試料 1 5に対して (詳しくは後述の細胞 3 5とカバーグラス 3 6との境界面に対 して) ブリュース夕一角でもって入射する (図 4中、 照明光 3 7として示す。)。 図 4は、 本発明の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡によって、 照明光をブリュー スター角で照射して試料を観察する様子を示す図 1 A— A拡大断面図である。 本 ブリュース夕一観察の試料 1 5には、 例えば細胞が用いられ、 図 4に示すように 細胞 3 5を載せたカバ一グラス 3 6上に、 底部に開口を備えたペトリディッシュ 3 8を配置して培養液 3 9で満たしたものを用いることで、 温度や二酸化炭素濃 度等の環境条件を還流装置で適切に保持しながら、 数時間から数日間にわたって 生きたままの細胞を観察することが可能となる。 また、 上述のように対物レンズ 7は高開口数の液浸対物レンズであって、 カバーグラス 3 6の下側に近接して配 置され、 該カバ一グラス 3 6とレンズ先端との間はオイル 4 0で満たされている。 ここで、 細胞 3 5に対する照明光の入射角度 Θ は、 落射照明装置 5における ピンホール 2 8の位置を前述の微調整機構によって調整することで変更するこ とができる (前述の設定の際にスリツ卜 2 9を選択している場合はスリツ卜 2 9 位置を調整する。)。 これにより、本ブリュース夕一観察において、入射角度 Θ を プリユース夕一角及びその近傍に設定することができる。
前述のようにして照明された細胞 3 5からの反射光 4 1は、 対物レンズ 7中を 進行し、 ビ一ムスプリッ夕 1 1及び全反射プリズム 1 4を介して C C Dカメラ 1 0へ導かれる。 このようにして C C Dカメラ 1 0において観察画像が得られ、 細 胞 3 5をブリュース夕一観察することができる。 なお、 このブリュース夕一観察 では、 細胞を構成する物質或いは固液界面に存在する偏光依存性のある物質、 例 えば高分子化合物や夕ンパク質の界面近傍の形態を観察することができる。
ここで、 細胞 3 5が蛍光染色されたものである場合には、 顕微鏡ベース 2にお けるビ一ムスプリッ夕 1 1を蛍光フィル夕ブロック 1 2に切り換えることで、 細 胞 3 5から発せられた蛍光を C C Dカメラ 1 0へ導くことができ、 細胞 3 5を蛍 光観察することができるようになる。 即ち、 ビ一ムスプリッ夕 1 1と蛍光フィル タブロック 1 2の切り換えによって、 ブリュース夕一観察と、 斜光照明による細 胞 3 5の蛍光観察とを切り換えて同時に行うことができる。 なお、 この斜光照明 による蛍光観察には、 細胞における厚み方向へ深い箇所の観察を行うことができ るという利点がある。 本倒立顕微鏡 1によって表面ブラズモン観察を行う場合には、 上述のブリュー ス夕一観察と同様に試料 15として細胞を用い、 図 5に示すように細胞 35との 接触面に元素記号 Au、 C r、 Ag、 A】の金合金の薄膜 (本実施形態において は膜厚 50 nm程度の金薄膜) 43を形成したカバーグラス 44を使用する。 ま た、 光源の波長は、 前記薄膜の主成分が金の場合では、 500 nmより長い波長 域 (A = 500 nm〜 l, 100 nm程度、 実際には 600 nm以上で用いるこ とが多い。) のものが用いられ、 主成分が銀の場合では、 500 nmより短い波 長域 (λ = 380 nm〜 500 nm程度) のものが用いられる。 図 5は、 本発明 の第 1実施形態に係る倒立顕微鏡によって、 表面プラズモン共鳴の効果を利用し て試料を観察する様子を示す A— A拡大断面図である。
また、 顕微鏡ベース 2及び落射照明装置 5は、 上述のブリュース夕一観察と同 様に設定する。そして、落射照明装置 5におけるピンホール 28の位置を調整し、 細胞 35に対する照明光の入射角度 Θ を、 細胞 35と金薄膜 43との境界面に おいて表面プラズモン共鳴が起こる角度 (本実施形態においては全反射の起こる 角度) に設定する。
以上の構成の下で照明された細胞 35からの反射光 41は、 上述のブリュース 夕一観察と同様に、 対物レンズ 7、 ビームスプリツ夕 1 1、 及び全反射ミラ一 1 4を介して CCDカメラ 10へ導かれる。 このようにして CCDカメラ 10にお いて観察画像が得られ、細胞 35を表面プラズモン観察することができる。なお、 この表面プラズモン観察では、 細胞を構成する物質或いは固液界面に存在する偏 光依存性のある物質、 例えば高分子化合物やタンパク質の構造変化を観察するこ とができる。
ここで、 細胞 35が蛍光染色されたものである場合には、 顕微鏡ベース 2にお けるビ一ムスプリッ夕 1 1を蛍光フィル夕ブロック 12に切り換えることで、 細 胞 35から発せられた蛍光を CCDカメラ 10へ導くことができ、 細胞 35を蛍 光観察することができるようになる。 即ち、 ビ一ムスプリッタ 11と蛍光フィル 夕ブロック 1 2の切り換えによって、 表面プラズモン観察と、 斜光照明 (ここで は全反射照明) による細胞 3 5の蛍光観察とを切り換えて同時に行うことができ る。
本倒立顕微鏡 1によって全反射照明による観察を行う場合には、 顕微鏡ベース 2において、 ブロック切換ユニット 8中の蛍光フィルタブロック 1 2を光路内へ 配置し、 落射照明装置 5を上述のブリュースター観察と同様に設定し、 試料 1 5 として蛍光染色した細胞を用いる。 そして、 落射照明装置 5におけるピンホール 2 8の位置を調整し、 試料 1 5に対する照明光の入射角度 Θ を、 細胞とカバー グラスとの境界面において全反射の起こる角度に設定する。
以上の構成の下で照明された試料 1 5から発せられた蛍光は、 上述のブリュー スター観察と同様に、 対物レンズ 7、 蛍光フィル夕ブロック 1 2、 及び全反射ミ ラ一 1 4を介して C C Dカメラ 1 0へ導かれる。 このようにして C C Dカメラ 1 0において観察画像が得られ、 試料 1 5の全反射照明による蛍光観察を行うこと ができる。
さらに、 本倒立顕微鏡 1は、 顕微鏡ベース 2において、 ブロック切換ユニット 8中の蛍光フィル夕ブロック 1 2を光路内へ配置し、 光路切換ユニット 9中の全 反射ミラー 1 4を光路内へ配置し、 さらに落射照明装置 5において、 開口絞りュ ニット 2 0中の開口絞り 2 7を光路内へ配置し、 ボラライザ一ュニッ卜 2 5中の 中空穴 3 1を光路内へ配置する。
以上の設定の落射照明装置 5において、 水銀ランプ 1 6から発せられた光は、 落射照明装置 5における上記各部材を介して顕微鏡ベース 2の蛍光フィルタブ ロック 1 2へ導かれる。 そしてこの光は蛍光フィル夕ブロック 1 2によって対物 レンズ 7へ導かれ、 対物レンズ 7を介して試料 1 5へ入射する。
このようにして照明された試料 1 5から発せられた蛍光は、 再び対物レンズ 7、 蛍光フィル夕ブロック 1 2、 及び全反射ミラー 1 4を介して C C Dカメラ 1 0へ 導かれる。 このようにして C C Dカメラ 1 0において観察画像が得られ、 試料 1 JP2006/313522
14
5の通常の落射蛍光観察を行うことができる。
さらに、 本倒立顕微鏡 1は、 上述のように透過照明装置 3及び接眼観察鏡筒 4 を備えているため、 試料 1 5を透過照明して観察することも、 蛍光観察以外の上 記各観察において肉眼観察を行うこともできる。
なお、 本倒立顕微鏡 1では、 上述のように落射照明装置 5の光源として水銀ラ ンプ 1 6を備えている。 しかしながら本発明はこれに限られず、 落射照明装置 5 の光源としてレーザ一光源 (レーザー光の集光点が対物レンズの瞳と共役となる ように配置したレーザー光源) を用い、 開口絞りユニット 2 0におけるピンホー ル 2 8及びスリット 2 9を省略する構成とすることもでき、 これによつてより明 るい観察像を得ることが可能となる。 なお、 レーザ一光源としては、 レーザー光 の射出位置を光軸に対して垂直な方向へ位置調整可能なもの (これにより前記集 光点を光軸に対して垂直な方向へ位置調整できる。)、 さらには、 前記射出位置が 光軸を中心に回転可能であるもの (これにより前記集光点を光軸を中心に回転さ せることができる。) や、 光軸を中心とする同じ円周上に前記射出位置を複数個 備えているもの (これにより前記集光点を複数個配置できる。) が望ましい。 ま た、 この構成に加え、 落射照明装置 5内にスペックル除去光学系、 例えばデフユ —ザ一を配置することで、 画質のより良い観察像を得ることが可能となる。 また、 本倒立顕微鏡 1は、 上述のように顕微鏡べ一ス 2及び落射照明装置 5の 設定を変更することで、 ブリュース夕一観察、 表面プラズモン観察、 及び全反射 照明による観察の全てを実施できる。 しかしながら本発明はこれに限られず、 プ リユース夕一観察のみを行う顕微鏡や、 プリュ一スター観察と全反射照明による 観察を行う顕微鏡等、 組み合わせを限定した顕微鏡を構成することも当然可能で ある。
本倒立顕微鏡 1は、 上述のように対物レンズ 7を試料 1 5の真下に近接して配 置する構成であるため、 高開口数の対物レンズを採用することができ、 装置の高 解像化を実現できる。 また、 試料 1 5に対して垂直なこの対物レンズ 7を介して 試料の像を結ぶ構成であるため、 上記従来技術において必要とされていた、 C C Dカメラで結像面の傾きを補正するための光学系も不要となる。
また本倒立顕微鏡 1は、 対物レンズ 7を含む光学系や落射照明装置 5等をステ —ジ 6よりも下方に配置することでステージ 6上に自由な空間が確保されてい るため、 ステージ 6への試料 1 5の設置を容易に行うことができ、 特に細胞を生 きたままで観察したい場合等に効果的である。
(第 2実施形態)
以下、 本発明の第 2実施形態に係る倒立顕微鏡について、 上記第 1実施形態に 係る倒立顕微鏡と同様の構成である部分には同じ符号を付して説明を省略し、 特 徴的な部分について詳細に説明する。
図 6は、 本発明の第 2実施形態に係る倒立顕微鏡の構成を示す全体側面図であ る。 また、 図 7及び図 8は、 本発明の第 2実施形態における落射照明装置の構成 を示す図及び部分拡大図である。
図 6に示すように、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 5 0の顕微鏡ベース 2には、 ビームスプリッ夕 1 1と光路切換ュニット 9との間に、 光軸を中心に回転調整可 能でかつ光路内へ挿脱可能な検光子 5 1が備えられている。
また、図 6及び図 7に示すように、本実施形態における落射照明装置 5 2には、 ボラライザ一ユニット 2 5とレンズ 2 6との間に、 光軸を中心に回転調整可能で かつ光路内へ挿脱可能な 1 Z 4波長板 5 3が備えられている。 さらに本実施形態 における偏光素子 3 0は、 光軸を中心に回転調整可能であって、 光源 1 6からの 光のうち試料への当該光源 1 6からの光の入射面に対して振動方向が 4 5度の 直線偏光のみを通過させるように設定することができるようになつている。
以上の構成の下、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 5 0において、 偏光素子 3 0を 前述の設定とし、 検光子 5 1と 1 Z 4波長板 5 3とを光路内へ配置し、 これ以外 の顕微鏡要素は上述した 1実施形態のブリュースター観察時の設定と同じに 設定する。 これにより、 45度方向に合わせた偏光素子 30を通過させた光をさらに適切 な方向に回転させた 1/4波長板 53を通過させた後に対物レンズ 7に入射し て試料 15に照射し、 その反射光を適切な方向に回転させた検光子 51を通過さ せて結像して観察画像を得ることができる。
こうして、 試料の一部分に着目して、 そこに入射して反射する光について考える と、 反射後の光は試料の複素屈折率及び屈折率の異方性、 厚さ等の物理的性質に よって反射光の s偏光と p偏光の反射率及びそれらめ位相差が変化する。 そこで、 試料で反射した後に反射光の S偏光成分と P偏光成分の位相差が 7T の整数倍に なるように 1Z4波長板 54で s偏光と p偏光の位相差をつければ、 反射後の光 は直線偏光となり、 適切な回転角に調整した検光子 51で消光することができる。 この条件を満たしていないそれ以外の個所では消光されないため、 検光子 51通 過後の光を結像すると条件を満たした部分は暗く (消光)、 それ以外の部分は明 るい状態で観察される。 したがって、 条件を変えることで試料の別の箇所を暗く して観察することができる。
そして、 消光して観察されるときの 1Z4波長板 53の回転角、 検光子 51の 回転角から、 それぞれ s偏光と p偏光の位相差及び振幅反射率の比が求められ、 これらを元にその部位の複素屈折率及び異方性を調べることができる。 なお、 解 析手法としては楕円偏光解析で用いられる手法や、 文献 (S.Henon and Meunier, 'Microscopy at the Brewster angke: Direct observation of first-order phase translat ion in monolayers, Rev. Sci. Instru. Vol.62, pp.936-939 (1991) . ) で用いられる手法が挙げられる。
したがって本実施形態に係る倒立顕微鏡 50は、 上記第 1実施形態に係る倒立 顕微鏡で実施可能な各観察に加えて、 試料の複素屈折率や異方性等を調べるため の偏光解析に用いることもできる。
以上の各実施形態によれば、 試料、 特に培養液に浸されている細胞に対しても 照明光をプリユース夕一角で適切に入射させ、 試料の固液界面に存在する高分子 TJP2006/313522
17 化合物やタンパク質等の偏光依存性のある物質を高分解能で観察することがで きる倒立顕微鏡を実現できる。
次に、 本発明において最も特徴的な開口絞りュニット 20に微小開口部として 備えられている円弧形状のスリット 2 9について説明する。
本実施形態に係る倒立顕微鏡 1の開口絞りュニッ卜 2 0に備えられているス リツ卜 2 9は、 以下の設計条件に基づいて設計されている。
はじめに、 スリット 2 9を用いてブリュースター観察を行う場合を想定する。 図 1 0 Aに示されているスリット 2 9において、 円弧の半径を R、 半径方向の 幅を δ r、 円弧の中心角を Φ とすれば、 円弧の半径 Rは、 試料 1 5に照射され る照明光束の入射角度 Θ が次式 (A) で決まるブリュース夕一角 となるよ うな値に設定することが望ましい。
(A) Θ B = a t a n (n sZn c g)
但し、
n s :試料媒質の屈折率
n c g :カバーグラス 3 6の屈折率
この式 (A) より円弧の半径 Rは、 次式 (B) で求められる。
(B) R= s i n (Θ Β) Xn-oilx f
但し、
n-oil :対物レンズ 7の浸液 (オイル 40) の屈折率 (いわゆる乾燥系対物レン ズの場合は n-oil二 1)
f :対物レンズ 7の焦点距離
さらに、 試料 1 5には、 培養液 3 9中の微小細胞構造 (3 5) がカバーグラス 3 6に張り付いているものを想定する。
このとき、 n s = l . 33、 n c g= 1. 5 1とすれば、 ブリュース夕一角 Θ Bは、 上記式 (A) より 0 B = 4 1. 3° となる。 このとき、 円弧の半径 Rは、 n - oil= l . 5 1とすれば、 上記式 (B) より RZ f = 0. 9 9 7となる。 6313522
18 また、 式 (B) を変形し、 RZ f -n- oilX s i n (Θ ) とすれば、 R/ f はまた対物レンズの NAを表す。 したがって式 (B) から、 本発明の照明が実現 できる対物レンズの N Aを導き出すことができ、 上記数値例の場合、 NA≥ 1の 液浸対物レンズを用いればよいことがわかる。
ここで、 微小細胞構造 (35) の屈折率を n c e 1 1 = 1. 35とすれば、 背 景光即ち試料媒質からの反射光と、 信号光即ち微小細胞構造 (35) からの反射 光とは、 それぞれフレネルの反射係数の式及び単層薄膜の反射係数の式を用いて 求めることができる。
図 1 1は、 スリット 29の半径方向の幅 δ r = 0のときに、 スリット 29を半 径方向へ移動させることによって照明光束の入射角度 Θ を変化させた際の背景 光と信号光の強度変化を示すグラフである。 なお、 図中の 「t」 は微小細胞構造 (35) の厚さを表している。
この図 1 1より、 ブリュース夕一角 0 B = 41. 3° 近傍において背景光の強 度は約 1 0— 8〜; L 0— 7、 信号光の強度は 10一5〜 10一4であることから、 SZ B比が約 1 03程度の良好なコントラスト像が得られることがわかる。
ここで、 実際の倒立顕微鏡 1においてスリット 29の半径方向の幅 δ rが δ r 0であると、 照明光が遮断されてしまうこととなるため、 半径方向の幅 δ r は 0でない有限の値となる。 このような半径方向の幅 δ rは、 その値を大きく設 定すればするほど照明光が明るくなるため明るい観察像を得ることができる。 そ してまた、半径方向の幅 δ rの値を大きく設定すればするほど照明光のコヒーレ ンスを低下させることができるため、 観察像の背景に生じる干渉縞ノイズを低減 することができる。
しかしながら、 スリット 29の半径方向の幅 δ rをさらに大きくしていけば、 照明光束には、 入射角度 Θ で試料 1 5に入射する照明光に、 入射角度が Θ から ずれた光が含まれることとなり、 その結果、 観察像のコントラストが低下してし まうという問題がある。 このため、 半径方向の幅(5 rを過度に大きく設定するこ とはできず、 上限値が存在することとなる。
なお、 前述の 「入射角度が 0 からずれた光」 の角度のずれを、 本明細書では 「角度ばらつき」 という。
図 1 2は、スリット 29の半径方向の幅 δ rを変化させた際の角度ばらつきの 最大値 (5 Θ を示すグラフである。 なお、 照明光の入射角度 Θ はブリュースター 角を とし、 図中の横軸は (5 rを対物レンズ 7の焦点距離 f で規格化してい る。
この図 12より、 角度ばらつきの最大値 δ Θ は、 <5 rZf に略比例して増大 することがわかり、 5 rZf = 0. 03のとき角度ばらつきの最大値 (56 は約 0. 75° 、 <5 r/f = 0. 06のとき角度ばらつきの最大値 δ S は約 1. 5° となる。
このように、 スリット 29の半径方向の幅 δ rがある有限の値であれば、 背景 光及び信号光は、 図 12で求めた角度ばらつきの最大値 δ Θ の範囲で図 1 1の グラフを積分した値となる。
例えば、 図 1 3 Α、 図 1 3 Βには、 S r/ f O. 03、 δ r / f = 0. 06 のときの図 1 1に相当するグラフ (スリット 29を半径方向に移動させて照明光 束の入射角度 Θ を変化させた場合の背景光と信号光の強度変化グラフ) をそれ ぞれ示している。
図 1 3 A及び図 1 3 Bより、スリット 29の半径方向の幅 δ rが大きくなると、 図 1 1においてブリュース夕一角近傍で見られた背景光及び信号光の落ち込み 力一ブが次第に緩くなり、 これらの強度の差も小さくなることがわかる。そして、 半径方向の幅 <5 rがさらに大きくなれば、背景光の強度と信号光の強度とが逆転 するような半径方向の幅(5 rの上限値が存在することが予想される。したがって、 信号光の強度よりも背景光の強度が大きくなると信号 (観察像) が背景に埋もれ て検出することができなくなってしまうため、 これらの強度が逆転する半径方向 の幅 δ rの値が上限値となる。 6313522
20 図 1 4は、 照明光の入射角度 Θ をブリュース夕一角度 SBとして δ rZf を 変化させた際の背景光と信号光の強度変化を示すグラフである。
この図 14より、 背景光と信号光の強度は、 3 rZf = 0. 06近傍で逆転し ていることがわかる。 したがつてこの値が好ましいスリット 29の半径方向の幅 δ rの上限値となり、 次の条件式 (1) が導かれる。
(1) 0<(5 r≤0. 06 X f
但し、
δ X :スリット 29の半径方向の幅
f :対物レンズ 7の焦点距離
また、 さらに好ましくは、 半径方向の幅 <5 rの範囲を条件式 (1 ' ) とするこ とによって、 信号光の強度が背景光の強度の約 2倍となり、 より良好なコントラ ス卜の観察像を得ることができる。
( ) 0<(5 r≤0. 03 X f
但し、
δ r : スリット 29の半径方向の幅 δ r
f :対物レンズ 7の焦点距離
また、 スリット 29の半径方向の幅 δ rの下限値は、 δ r≠ 0を満足する任意 の値を設定することが可能である。 これは、 半径方向の幅 <5 rを小さく設定すれ ばするほど観察像が暗くなるが、 より感度の良い撮像素子を用いることで信号光 の検出自体は可能となるためである。
しかしながら、 このとき観察像のコントラストは高くなり SZB比は図 1 1で 述べた約 103に近づくものの、 この一方では照明光のコヒーレンスが高くなり、 試料 1 5における構造や屈折率が大きく変化する部位で干渉縞が発生してしま い、 これによつて SZN比が低下してしまうという問題が生じてしまう。
した力つて、 観察像におけるコントラストと干渉縞ノイズとはトレードオフの 関係にあるため、 スリット 29の半径方向の幅 δ rの値は、 顕微鏡の構成やその 用途に応じて、 条件式 (1) から条件式 (1' ) を満足する範囲内で最適な値を 選択することが最も好ましい。
次に、 スリット 29の円弧の中心角 Φについては、 当該中心角 Φを大きく設 定すればするほど照明光である直線偏光 (p偏光) に s偏光が含まれることとな り、 この結果、 背景が明るくなり試料 15の観察像のコントラストが低下してし まうことから、 p偏光と s偏光の強度比を計算することによって中心角 Φ の最 大値を求めることができる。
図 1 5は、 スリット 29の半径方向の幅 δ rを無限小と仮定し、 中心角 Φ の みを大きくした際に照明光に含まれる P偏光と s偏光の強度比を示すグラフで ある。
また、 図 16は、 上記図 1 1と同じ条件の試料 15に対して入射角度 Θ を変 化させながら照明光を入射させた際の P偏光及び s偏光の強度反射率を示すグ ラフである。 なお、 p偏光については、 上述のように半径方向の幅 δ rを有限の 値に設定すればプリユース夕一角近傍において落ち込みカーブが大幅に緩くな ることがわかっているため、 6 r/ f = 0. 03、 及び 5 =0. 06の場 合も計算している。
図 16より、 スリット 29の半径方向の幅 <5 rが <5 r/f = 0. 03、 δ r /f = 0. 06を満足するとき、 ブリュース夕一角 0 B (=41. 3。 ) におけ る P偏光の強度反射率は約 10— 5〜10— 4であり、 s偏光の強度反射率は約 10 —2であることがわかる。 そしてこのことから、 s偏光の強度反射率が p偏光の強 度反射率よりも大きくならない条件として、試料 15にブリュース夕一角 で 入射する照明光において P偏光には s偏光の少なくとも約 100倍の強度が必 要であることがわかる。
したがって図 15より、 p偏光と s偏光の強度比が 100となるスリット 29 の中心角 (円弧の角度) Φは約 20° であることから、 次の条件式 (2〉 に示す ようにこの値が中心角 Φの上限値となる。 JP2006/313522
22
(2) 0<φ≤20°
但し、
φ :スリット 29の中心角
また、 さらに好ましくは、 次の条件式 (2' ) を満足することで, 試料 1 5の 観察像のコントラストをより向上することができる。
(2 ' ) 0< ≤ 10。
但し、
Φ :スリット 29の中心角
なお、上述の条件式(1)又は条件式(1 ' ) と、条件式(2)又は条件式(2 ' ) を満足するスリット 29によって、 ブリュースター観察のみでなく表面ブラズモ ン観察や全反射蛍光観察を行う際にも良好な観察像を得ることができる。
以上、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1の開口絞りュニット 20に備えられてい るスリット 29は、 上述の設計条件 (条件式 (1) 及び条件式 (2)) を満足す るように設計されている。 これにより本実施形態に係る倒立顕微鏡 1は、 ブリュ 一スター観察、 表面プラズモン観察、 及び全反射蛍光観察に際して、 干渉縞の発 生を抑えコントラストの高い良好な観察像を ることができる。 なお、 条件式 (1 ' ) 及び条件式 (2'' ) を満足するようにスリット 29を設計すれば、 上記 各観察に際して干渉縞の発生をより良好に抑えコントラストがより高い観察像 を得ることができる。
ここで、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1の開口絞りュニッ卜 20に備えられて いるスリット 29は、 上述の構成に限られるものでないため、 以下にその態様を 説明する。
本実施形態に係る倒立顕微鏡 1の開口絞りュニッ卜 20に備えられているス リツ卜 29は、 図 10 Βに示すように上記条件式 ( 1 ) 及び条件式 ( 2 ) を満足 する複数の円弧形状のスリットを光軸 ΑΧから等距離に配置し、 さらに各スリッ 卜のそれぞれに偏光板 (ボラライザ一) を配置し、 その偏光方向が各スリットの 313522
23 略中心部分と光軸 A Xを結ぶ直線に対して平行 (p偏光) な構成とすることもで きる。 このとき偏光板の配置はスリツ卜の直前もしくは直後のいずれでも良いが、 各スリツ卜を通過する光をそれぞれ正しい偏光方向に変換するためには、 偏光板 をスリットのごく近傍に配置することが望ましい。
そして斯かる構成において、 各スリッ卜を 1つのモジュールとして一方向へ移 動して照明角度を変更することで、 様々な屈折率を有する試料のブリュース夕一 観察、 表面プラズモン観察、 及び全反射蛍光観察等を実施する場合には、 円弧形 状である各スリッ卜の曲率による誤差が大きくなつてしまうため、 各スリッ卜の 中心角 Φ の合計が 2 5 ° 以内となるように設計すれば、 複数のスリットが全体 として条件式 (1 ) を略満足することとなるためより好ましい。 特に、 各スリツ 卜の中心角 φ の合計が 1 3 ° 以内となるように設計すれば、 複数のスリットが 全体として条件式 (1 ' ) を略満足することとなるためさらに好ましい。
またさらに、 前述のように複数のスリットを 1つのモジュールとして一方向へ 移動する構成とした場合には各スリツ卜の中心角 の合計に制約が生じるため、 複数のスリツトをそれぞれ別のモジュールとして各スリツ 卜を半径方向へ移動 する構成とすることもできる。 特に、 操作性の観点から、 複数のスリットは連動 して移動可能であることが好ましい。
またこの他には、 円弧の半径 Rが異なるスリットを備えたスリット板を予め複 数枚用意しておき、 観察条件にあわせてこのスリット板を夕一レツトゃスライド 等によって切り替える構成とすることもできる。 この場合、 スリットの中心角 Φ の合計が 3 6 0 ° となるようにスリッ卜を設置することもできる。
また、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1において、 開口絞りュニット 2 0のスリ ッ卜 2 9と偏光素子 (ボラライザ一 3 0 ) とを光軸 A Xを中心に高速回転させる 構成とすることによって、 上述したようなスリッ卜を半径方向へ移動させる構成 において生じていたスリッ卜の中心角 Φの制約を解消することができる。
より具体的には、 半径方向の幅 δ rが条件式 (1 ) 又は条件式 (1 ' ) を満足 する 1つ又は複数のスリットをモー夕等の回転機構で高速回転させることで、 試 料側から見れば開口が円周全体にわたって設けられていることと同等の状態で 観察を行うことができる。 なおこのとき、 スリットと偏光素子の回転速度は同じ である必要があるため、 スリットと偏光素子を同期して回転させる構成、 又はス リットと偏光素子を 1つのモジュールとして回転させる構成とすることが好ま しい。 ―
なお、 以上のように本実施形態に係る倒立顕微鏡 1では開口絞りュニッ卜 2 0 に備えられた微小開口部として円弧形状のスリツトを示している力、 この微小開 口部の形状はこれに限られず、 上記条件式 (1 ) 及び条件式 (2 ) を満足する円 弧形状内に含まれるものであれば、 例えば矩形ゃ楕円形等であってもよい。 また、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1において、 照明光が s偏光となるように ボラライザ一 3 0の向きを 9 0 ° 回転する、 又はボラライザ一 3 0自体を切り替 えることによって、 本倒立顕微鏡 1を s偏光による多重千渉顕微鏡として使用す ることもできる。 或いは、 ボラライザ一 3 0の向きを 4 5 ° 回転して偏光方向を Ρ偏光と s偏光の中間に設定することによって、 ブリュースター観察による観察 像や表面プラズモン観察による観察像と、 多重干渉観察による観察像とを重ね合 わせて観察する構成とすることもできる。 スリット 2 9が図 1 0 Βに示すように 複数の円弧形状のスリットからなる場合には、 各スリットのそれぞれに配置する 偏光板を、 その偏光方向が対応するスリットの略中心部分と光軸 Α Χを結ぶ直線 に対して垂直 (s偏光) あるいは 4 5 ° となるように配置する。 偏光板を 1つの ュニッ卜として挿脱切り替え可能な構成とすることにより、 スリット 2 9が複数 の円弧形状スリツトで構成される場合においても Ρ偏光、 s偏光及び中間の設定 による観察像を切り替えて観察することが可能となる。
また、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1において、 落射照明装置 5に回転拡散板 を配置することによって、 さらなる干渉縞低減効果を実現することもできる。 こ の場合、 照明光は回転拡散板を通過した後で、 ボラライザ一 3 0によって直線偏 光に変換されることが好ましい。 特に、 試料 1 5に対して入射角度 Θ で照射さ れる照明光の角度ばらつきを小さく抑えるためには、 回転拡散板をスリット 2 9 の手前 (開口絞りュニット 2 0の水銀ランプ 1 6側近傍) に配置することが好ま しい。 一方、 角度ばらつきよりも干渉縞低減効果を優先する場合には、 回転拡散 板をスリット 2 9の後ろ (開口絞りユニット 2 0のボラライザ一 3 0側近傍〉 に 配置することが好ましい。
さらには、 本実施形態に係る倒立顕微鏡 1において、 水銀ランプ 1 6からの照 明光を光路長の異なる光ファイバを束ねたマルチバンドルファイバを経由させ る構成とすることによって、 前述の回転拡散板と同様の効果を実現することもで さる。
以上より本実施形態によれば、 照明光を試料に対して大きな入射角度で照射す る構成の顕微鏡であって、 干渉縞の発生を良好に抑えた顕微鏡を実現することが できる。

Claims

26 請 求 の 範 囲
1 . 光源からの光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対物レンズを介 して前記試料を観察する顕微鏡において、
前記光源と前記対物レンズとの間の光路中であって前記対物レンズの像側焦 点面あるいはその共役面と共役な位置に配置された微小開口部と、
前記微小開口部を介して前記光源からの光を前記試料に対してプリユース夕 一角度で入射させるように前記微小開口部の位置を調整する位置調整手段と、 前記光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記光源からの 光より直線偏光を取り出し、 前記直線偏光の光を前記試料に照射する偏光素子と を有することを特徴とする顕微鏡。
2 . 前記位置調整手段は、 前記光源からの光を、 ブリュースター角度を含む所 定角度範囲内で入射させるベく前記微小開口部を光軸に対して垂直な方向へ位 置調整することを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
3 . 前記位置調整手段は、 前記光源からの光を、 ブリュース夕一角度を含む所 定角度範囲内で入射させるベく前記微小開口部を光軸に対して回転方向に位置 調整することを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
4 . 前記偏光素子は、 前記直線偏光の光として P偏光あるいは S偏光に切換え ることを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
5 . 前記位置調整手段は、 前記試料に対して前記光源からの光を全反射角度で 入射させるベく前記微小開口部を光軸に対して垂直な方向へ位置調整でき、 前記光源からの光を前記試料に対して前記ブリュースター角度又は前記全反 27 射角度を切り換えて入射させて観察を行うことを特徴とする請求項 2に記載の 顕微鏡。
6 . 前記微小開口部よりも開口の大きな落射照明用の開口絞りと、
前記微小開口部と前記開口絞りとを光路内へ切り換えて前記開口絞りを光軸 上に配置する切換手段とを有することを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
7 . 前記位置調整手段は、 前記試料と接する面に金属の薄膜が形成されている カバ一グラスを用いた際に前記試料と前記金属の薄膜との間で表面プラズモン 共鳴が生じる角度で前記光源からの光を前記試料に対して入射させるベく、 前記 微小開口部を光軸に対して垂直な方向へ位置調整することを特徴とする請求項 2に記載の顕微鏡。
8 . 前記微小開口部は、 ピンホール又は光軸を中心とする円弧状のスリットで あることを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
9 . 前記微小開口部は、 光軸を中心とする同一円周上に複数個設けられている ことを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
1 0 . 前記微小開口部は、 光軸を中心に回転可能に設けられていることを特徴 とする請求項 1に記載の顕微鏡。
1 1 . レーザ一光源からのレーザー光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対物レンズを介して前記試料を観察する顕微鏡であって、
前記レーザ一光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記レ 一ザ一光から直線偏光を取り出す偏光素子を有し、 前記レーザー光源は、 前記レーザ一光の集光点が前記対物レンズの瞳と共役な 位置に配置されており、 かつ前記レーザ一光が前記試料に対してブリュースター 角度で入射させる位置にあることを特徴とする顕微鏡。
1 2 . 前記レーザ一光源は、 前記レーザー光をブリュースター角度で入射させ るべく、 前記レーザ一光の集光点を光軸に対して垂直な方向へ位置調整すること が可能であることを特徴とする請求項 1 1に記載の顕微鏡。
1 3 . 前記レーザー光源は、 前記試料に対して前記レーザー光を全反射角度で 入射させるベく、 前記レ一ザ一光の射出位置を光軸に対して垂直な方向へ位置調 整することが可能であり、
前記レーザー光を前記試料に対して前記ブリュース夕一角度又は前記全反射 角度を切り換えて入射させて観察を行うことを特徴とする請求項 1 2に記載の 顕微鏡。
1 4 . 前記レーザー光源は、 前記試料と接する面に金属の薄膜が形成されてい るカバーグラスを用いた際に前記試料と前記金属の薄膜との間で表面ブラズモ ン共鳴が生じる角度で前記レーザー光を前記試料に対して入射させるベく、 前記 レーザー光の射出位置を光軸に対して垂直な方向へ位置調整することが可能で あることを特徴とする請求項 1 2又は 1 3に記載の顕微鏡。 .
1 5 . 前記レーザー光源は、 光軸を中心とする同一円周上に前記レーザー光の 射出位置を複数個備えていることを特徴とする請求項 1 1に記載の顕微鏡。
1 6 . 前記レーザー光源は、 前記レーザ一光の射出位置を光軸を中心に回転可 能であることを特徴とする請求項 1 1に記載の顕微鏡。 29
1 7 . さらに、 前記偏光素子と前記対物レンズとの間の光路中に配置された 1 / 4波長板と、 検光子とを、 光軸を中心に回転可能でかつ光路内へ挿脱可能に有 し、
前記 1 4波長板と前記検光子とを光路内へ配置し、 かつ前記偏光素子が前記 光源からの光のうち前記試料への前記光源からの光の入射面に対して振動方向 が 4 5度の直線偏光のみを通過させるように設定することで、 前記試料の偏光解 祈に用いることもできることを特徴とする請求項 1に記載の顕微鏡。
1 8 . 光源からの光を対物レンズを介して試料へ入射させ、 当該対物レンズを 介して前記試料を観察する顕微鏡において、
前記光源と前記対物レンズとの間の光路中であって前記対物レンズの像側焦 点面あるいはその共役面の近傍に配置されており、 かつ前記光源からの光を前記 試料に対して略ブリュース夕一角度で入射させる円弧形状の微小開口部と、 前記光源と前記対物レンズとの間の光路中に配置されており前記光源からの 光より直線偏光を取り出す偏光素子とを有し、
前記円弧形状の微小開口部が、 以下の条件式を満足することを特徴とする顕微 鏡。
δ τ≤0 . 0 6 X f
φ≤ 2 0 °
但し、
δ r :前記円弧形状の微小開口部の半径方向の幅
f :前記対物レンズの焦点距離
Φ :前記円弧形状の微小開口部の中心角
1 9 . 前記円弧形状の微小開口部よりも開口の大きな落射照明用の開口絞りと、 前記円弧形状の微小開口部と前記開口絞りとを光路内へ切り換えて前記開口 絞りを光軸上に配置する切換手段とを有することを特徴とする請求項 1 8に記 載の顕微鏡。
2 0 . 光軸を中心とする略同一円周上に複数の前記円弧形状の微小開口部を有 し、
複数の前記円弧形状の微小開口部のそれぞれに偏光板を備え、 前記偏光板はそ れぞれ対応する微小開口部の略中心と光軸とを結ぶ直線に対して、 平行又は垂直 又は 4 5 ° であることを特徴とする請求項 1 8に記載の顕微鏡。
2 1 . 複数の前記円弧形状の微小開口部は、 それぞれ独立に半径方向へ移動可 能に設けられていることを特徴とする請求項 2 0に記載の顕微鏡。
2 2 . 前記円弧形状の微小開口部、 又は、 複数の前記円弧形状の微小開口部と 前記偏光板は、 光軸を中心として高速回転可能に設けられていることを特徴とす る請求項 1 8に記載の顕微鏡。 '
2 3 . 前記光源と前記対物レンズとの間の光路中に、 回転拡散板を備えている ことを特徴とする請求項 1 8に記載の顕微鏡。
PCT/JP2006/313522 2005-06-30 2006-06-30 顕微鏡 WO2007004708A1 (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP06780847A EP1895348A4 (en) 2005-06-30 2006-06-30 MICROSCOPE
JP2007523450A JP4895050B2 (ja) 2005-06-30 2006-06-30 顕微鏡
US11/993,020 US7957058B2 (en) 2005-06-30 2006-06-30 Microscope

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005-192572 2005-06-30
JP2005192572 2005-06-30
JP2006-077067 2006-03-20
JP2006077067 2006-03-20

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2007004708A1 true WO2007004708A1 (ja) 2007-01-11

Family

ID=37604565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2006/313522 WO2007004708A1 (ja) 2005-06-30 2006-06-30 顕微鏡

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7957058B2 (ja)
EP (1) EP1895348A4 (ja)
JP (1) JP4895050B2 (ja)
WO (1) WO2007004708A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009014897A2 (en) 2007-07-23 2009-01-29 3M Innovative Properties Company Antistatic article, method of making the same, and display device having the same

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013163129A1 (en) * 2012-04-23 2013-10-31 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Biological assay sample analyzer
EP2976619B1 (en) 2013-03-20 2021-11-10 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Light and shutter for a sample analyzer
DE102013107297A1 (de) * 2013-07-10 2015-01-15 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Lichtblattmikroskopie
DE102014110575B4 (de) 2014-07-25 2017-10-12 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop und Verfahren zum optischen Untersuchen und/oder Manipulieren einer mikroskopischen Probe
JP2017009905A (ja) * 2015-06-25 2017-01-12 オリンパス株式会社 顕微鏡用照明装置および顕微鏡
WO2017106145A1 (en) 2015-12-14 2017-06-22 Board Of Regents, The University Of Texas System Lithographic systems and methods
US10620121B2 (en) 2016-04-19 2020-04-14 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods and systems for optothermal particle control
WO2018049109A1 (en) 2016-09-09 2018-03-15 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods and systems for optical control of metal particles with thermophoresis
US10603685B2 (en) 2017-02-23 2020-03-31 Board Of Regents, The University Of Texas System Methods and systems for assembly of particle superstructures
US11287627B2 (en) 2017-06-30 2022-03-29 Chrysanthe Preza Multi-focal light-sheet structured illumination fluorescence microscopy system
US10640873B2 (en) 2018-02-27 2020-05-05 Board Of Regents, The University Of Texas System Optical printing systems and methods
US10809194B2 (en) * 2018-05-27 2020-10-20 Biosensing Instrument Inc. Surface plasmon resonance imaging system and method for measuring molecular interactions
JP7357050B2 (ja) 2018-05-27 2023-10-05 バイオセンシング インストラメント インコーポレイテッド 分子間相互作用を測定するための表面プラズモン共鳴イメージングシステム及び方法
CN108681056B (zh) * 2018-06-26 2024-05-28 深圳市吉斯迪科技有限公司 面向活体的多波长偏振光生物医学显微成像装置
CN109745006B (zh) * 2019-01-31 2024-03-15 北京超维景生物科技有限公司 分离式吸附装置、显微镜探测装置及激光扫描显微镜
CN114200636B (zh) * 2020-08-27 2023-10-24 厦门大学 物镜、光学成像设备、光学***以及光学***检测方法
CN114431825B (zh) * 2022-04-12 2022-06-21 万灵帮桥医疗器械(广州)有限责任公司 裂隙灯显微镜、及其滤光调节结构

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05296842A (ja) * 1992-04-17 1993-11-12 Hitachi Ltd 偏光共焦点走査顕微鏡
JPH06160723A (ja) * 1992-11-17 1994-06-07 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 暗視野照明装置
JPH0915507A (ja) * 1995-07-03 1997-01-17 Olympus Optical Co Ltd 暗視野顕微鏡
JPH11352408A (ja) * 1998-06-08 1999-12-24 Nikon Corp 測定検査用顕微鏡
JP2003083886A (ja) * 2001-09-13 2003-03-19 Kubota Corp 表面プラズモン顕微鏡及び表面プラズモン顕微鏡における暗環像情報取得方法
US20030058530A1 (en) 2001-09-25 2003-03-27 Yoshihiro Kawano Microscope switchable between observation modes
JP2003130808A (ja) * 2001-10-29 2003-05-08 Hitachi Ltd 欠陥検査方法及びその装置
JP2004151445A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Sysmex Corp 輪帯光照射用光源ユニットおよび光学システム
JP2004347777A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4407569A (en) * 1981-07-07 1983-10-04 Carl Zeiss-Stiftung Device for selectively available phase-contrast and relief observation in microscopes
JP3577514B2 (ja) * 2001-10-05 2004-10-13 独立行政法人情報通信研究機構 全反射型蛍光顕微鏡
JP2004302421A (ja) * 2003-03-17 2004-10-28 Nikon Corp 全反射顕微鏡

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05296842A (ja) * 1992-04-17 1993-11-12 Hitachi Ltd 偏光共焦点走査顕微鏡
JPH06160723A (ja) * 1992-11-17 1994-06-07 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 暗視野照明装置
JPH0915507A (ja) * 1995-07-03 1997-01-17 Olympus Optical Co Ltd 暗視野顕微鏡
JPH11352408A (ja) * 1998-06-08 1999-12-24 Nikon Corp 測定検査用顕微鏡
JP2003083886A (ja) * 2001-09-13 2003-03-19 Kubota Corp 表面プラズモン顕微鏡及び表面プラズモン顕微鏡における暗環像情報取得方法
US20030058530A1 (en) 2001-09-25 2003-03-27 Yoshihiro Kawano Microscope switchable between observation modes
JP2003098439A (ja) * 2001-09-25 2003-04-03 Olympus Optical Co Ltd 観察切り替え可能な顕微鏡
JP2003130808A (ja) * 2001-10-29 2003-05-08 Hitachi Ltd 欠陥検査方法及びその装置
JP2004151445A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Sysmex Corp 輪帯光照射用光源ユニットおよび光学システム
JP2004347777A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Olympus Corp 全反射蛍光顕微鏡

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1895348A4

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009014897A2 (en) 2007-07-23 2009-01-29 3M Innovative Properties Company Antistatic article, method of making the same, and display device having the same

Also Published As

Publication number Publication date
EP1895348A4 (en) 2009-11-25
JP4895050B2 (ja) 2012-03-14
EP1895348A1 (en) 2008-03-05
JPWO2007004708A1 (ja) 2009-01-29
US20100142038A1 (en) 2010-06-10
US7957058B2 (en) 2011-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2007004708A1 (ja) 顕微鏡
Guner et al. A smartphone based surface plasmon resonance imaging (SPRi) platform for on-site biodetection
Zhang et al. Metasurfaces for biomedical applications: imaging and sensing from a nanophotonics perspective
Yesilkoy et al. Phase-sensitive plasmonic biosensor using a portable and large field-of-view interferometric microarray imager
US5442448A (en) Device for the laterally resolved investigation of a laterally heterogeneous ultrathin object layer
US8559014B2 (en) High-resolution, common-path interferometric imaging systems and methods
US6597499B2 (en) Total internal reflection fluorescence microscope having a conventional white-light source
CN109477955A (zh) 干涉散射显微镜
US7230697B2 (en) Method and apparatus for multi-mode spectral imaging
US7095556B2 (en) Microscope with wavelength compensation
US20040100636A1 (en) Microscopy
CN106896095B (zh) 复合表面等离子体共振及表面增强拉曼的显微成像技术
JPH07502814A (ja) 入射角度可変分析装置
US11474283B2 (en) Super resolution for magneto-optical microscopy
JP5106369B2 (ja) 光学装置
JP2004117298A (ja) 全反射減衰を利用した測定方法および測定装置
Bryche et al. k-space optical microscopy of nanoparticle arrays: Opportunities and artifacts
JPH07128595A (ja) 光学顕微鏡を用いて緻密なライン幅構造を映像化する方法及び装置
JP2008299146A (ja) 共焦点顕微分光装置
EP3650833A1 (en) Multicolor optical resonator for imaging methods
US20110085163A1 (en) Method and apparatus of measuring relative phase of bio-cells
JP3765036B2 (ja) 測定試料の光学的評価方法およびその装置
JP2010175672A (ja) 顕微鏡装置及びそれに用いられるミラーユニット
JPH10267831A (ja) 複屈折測定光学系および高空間分解能偏光解析装置
JP4989764B2 (ja) 超高分解能走査光学測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007523450

Country of ref document: JP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2006780847

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11993020

Country of ref document: US

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE