WO2006118163A1 - 高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性調整方法 - Google Patents

高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性調整方法 Download PDF

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WO2006118163A1
WO2006118163A1 PCT/JP2006/308780 JP2006308780W WO2006118163A1 WO 2006118163 A1 WO2006118163 A1 WO 2006118163A1 JP 2006308780 W JP2006308780 W JP 2006308780W WO 2006118163 A1 WO2006118163 A1 WO 2006118163A1
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WO
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frequency
inductor
frequency switching
filter
capacitor
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PCT/JP2006/308780
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English (en)
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Inventor
Takanori Uejima
Naoki Nakayama
Shinya Watanabe
Original Assignee
Murata Manufacturing Co., Ltd.
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Publication date
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    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B1/00Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
    • H04B1/38Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
    • H04B1/40Circuits
    • H04B1/44Transmit/receive switching
    • H04B1/48Transmit/receive switching in circuits for connecting transmitter and receiver to a common transmission path, e.g. by energy of transmitter
    • HELECTRICITY
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    • H01P1/10Auxiliary devices for switching or interrupting
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    • H01P1/00Auxiliary devices
    • H01P1/20Frequency-selective devices, e.g. filters
    • H01P1/201Filters for transverse electromagnetic waves
    • H01P1/203Strip line filters

Definitions

  • the present invention relates to a high frequency switching module, and more particularly to a high frequency switching module in which a high frequency switch including a diode FET switch as a switching element and a high frequency filter including an inductor and a capacitor are integrated.
  • the present invention also relates to a method for adjusting the frequency characteristics of a high-frequency circuit, in particular, an RF front-end circuit including a high-frequency switch including a diode or a FET switch as a switching element and a high-frequency filter including a shunt-connected capacitor.
  • the present invention relates to a method for adjusting the attenuation characteristic.
  • High-frequency switching modules in mobile communication devices such as cellular phones are used in RF front-end circuits.
  • Diodes are used as switching elements to switch the transmission path of high-frequency signals in the 8GHz and 900MHz bands. Has been.
  • this type of high-frequency switch is composed of two diodes, an inductor, a capacitor, a resistor, and the like, and controls the voltage applied to the power supply terminal to control the signal. The transmission / reception is switched.
  • high-frequency filters and RF front-end circuits are composed of ⁇ -type low-pass filters with ground capacitors (shunt capacitors) at both ends of the LC parallel resonant circuit, and in particular, low-noise amplifiers ( It is configured to remove the 2nd and 3rd order higher harmonics generated by LNA).
  • the diode D shown in Fig. 28 (A) is shown in Fig. 28 (B) when forward bias is applied to the diode D.
  • the equivalent circuit shown in FIG. That is, when the diode D was turned on, it was found that a circuit in which the capacitor component C was connected in parallel to the series resistance component R and inductance component L was formed.
  • Patent Document 1 JP 2001-177434 A
  • Patent Document 2 JP 2003-133994 A
  • an object of the present invention is to provide a high-frequency switching module having desired frequency characteristics.
  • Another object of the present invention is to provide a method of adjusting the frequency characteristics of a high-frequency circuit that can shift the cut-off frequency to the low-frequency side and can suppress ripples to a small level.
  • the first invention provides:
  • a high frequency switch that includes a high frequency switching element that selectively switches a transmission path of a high frequency signal, and a ⁇ -type high frequency filter that includes an inductor and a capacitor and removes unwanted waves in the transmission path.
  • switching module includes a high frequency switching element that selectively switches a transmission path of a high frequency signal, and a ⁇ -type high frequency filter that includes an inductor and a capacitor and removes unwanted waves in the transmission path.
  • the frequency fk is included in the frequency band other than the n (an integer of 2 or more) order harmonic attenuation region of the fundamental wave. That
  • the inductor constituting the ⁇ -type high-frequency filter is connected in series and directly to the high-frequency switch, so that the ripple (passband A high frequency switching module having a desired frequency characteristic can be obtained with a simple configuration in which the frequency of zero point (fx) does not enter.
  • the frequency fk is preferably located between a second-order harmonic attenuation region and a third-harmonic attenuation region.
  • the high-frequency switch selectively switches between the transmission path of the transmission signal and the transmission path of the reception signal, and the ⁇ -type high-frequency filter is disposed on the transmission path of the transmission signal to remove higher-order harmonics of the transmission signal. It may be configured to do so.
  • the high-frequency switch may include a diode as a high-frequency switching element, and the inductor of the ⁇ -type high-frequency filter may be directly connected in series to the diode.
  • the high-frequency switch may include a FET switch as a high-frequency switching element, and the inductor of the ⁇ -type high-frequency filter may be directly connected in series to the FET switch.
  • the ⁇ -type high-frequency filter is provided on the high-frequency signal transmission path, connected in parallel with the capacitor, and includes a first inductor that forms part of the LC parallel resonant circuit, and a parallel capacitor.
  • the LC parallel resonance circuit may be configured, and may be configured with a low-pass filter including the second inductor. In this case, it is connected in series and directly to the second inductor power high-frequency switch that does not constitute the LC parallel resonant circuit.
  • the inductor of the ⁇ -type high frequency filter preferably has an electrical length that is at least twice as short as the shortest electrical length between one end of the high frequency switch and another element to which the one end is connected. Inn As the ductance increases, the cut-off frequency can be shifted to a lower frequency side, and the effect of suppressing ripples also increases.
  • the inductor of the ⁇ -type high frequency filter may be incorporated as a strip line in a module body formed by laminating a plurality of dielectric layers, or a plurality of dielectric layers may be used as a chip component. It may be mounted on a laminated module body. If it is formed as a strip line, the module can be made smaller. If it is formed as a chip component, an inductor having a larger inductance value can be easily applied.
  • the high-frequency switching module is a single-band compatible type that selectively switches a signal transmission path for transmitting a single-wavelength high-frequency signal, and transmits high-frequency signals of two different wavelengths.
  • Single-band or multiple different wavelengths such as dual-band compatible that selectively switches signal transmission paths, or triple-band compatible that selectively switches signal transmission paths that transmit high-frequency signals of three different wavelengths It can be configured as a single-band, multi-band compatible switching module that selectively switches signal transmission paths for transmitting high-frequency signals.
  • the second invention is:
  • a method of adjusting frequency characteristics of a high-frequency circuit including a high-frequency switching element and a shunt capacitor shunt-connected at a preceding stage or a subsequent stage of the high-frequency switching element, wherein an inductor is added directly and serially to the high-frequency switching element
  • the cutoff frequency of the Chebyshev-type low-pass filter circuit formed by the inductance component formed when the high-frequency switching element is turned on, the capacitance component of the capacitor, and the shunt capacitor is shifted to the low-frequency side and passed. Reduce the ripple frequency, which is the zero of the band, and
  • the inductance f is adjusted so that the frequency fk is included in a frequency band other than the n (an integer of 2 or more) order harmonic attenuation region of the fundamental wave,
  • a ripple (passband The cut-off frequency can be shifted to the low frequency side as desired, and ripple can be suppressed, so that the frequency of the zero point: fx) can not be entered.
  • fx the frequency of the zero point
  • the frequency fk is preferably located between the second harmonic attenuation region and the third harmonic attenuation region.
  • the inductor preferably has an electrical length that is at least twice the shortest electrical length between one end of the high-frequency switching element and the element to which the one end is connected.
  • an element is, for example, a capacitor shunt-connected at the front stage or the rear stage of the high-frequency switching element.
  • the high-frequency switching element is a diode or FET switch, and the inductor is connected in series and directly to the diode or FET switch.
  • FIG. 1 is an equivalent circuit diagram for explaining the principle of the present invention.
  • FIG. 2 is an equivalent circuit diagram for simulation of a high-frequency circuit.
  • FIG. 3 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 4 Another equivalent circuit diagram for high-frequency circuit simulation.
  • FIG. 5 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 6 is a graph showing the high-frequency attenuation characteristics when the inductance value of the inductor is changed in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 7 is still another equivalent circuit diagram for high-frequency circuit simulation.
  • FIG. 8 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics (inductance value 0. OnH) in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 9 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics (inductance value 0.3 nH) in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 10 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics (inductance value 0.5 nH) in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 11 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics (inductance value 2. OnH) in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 12 is a graph showing high-frequency attenuation characteristics (inductance value 8. OnH) in the equivalent circuit shown in FIG.
  • FIG. 13 is a block diagram showing a high-frequency switching module according to the first embodiment. 14] It is explanatory drawing which shows the electrode shape formed in each sheet
  • FIG. 17 is a plan view showing a mounting state of each circuit element on the surface of the ceramic multilayer substrate of the first embodiment.
  • FIG. 18 is a block diagram showing a high frequency switching module according to a second embodiment.
  • FIG. 19 is a block diagram showing a high frequency switching module according to a third embodiment.
  • FIG. 20 is a block diagram showing a high frequency switching module according to a fourth embodiment.
  • FIG. 21 is a block diagram showing a high frequency switching module according to a fifth embodiment.
  • FIG. 22 is a block diagram showing a high frequency switching module according to a sixth embodiment.
  • FIG. 23A is a graph showing the high-frequency attenuation characteristics in the sixth embodiment
  • FIG. 23B is a graph showing the high-frequency attenuation characteristics in the comparative example in which the inductor DL is removed from the circuit of the sixth embodiment.
  • FIG. 27 is a plan view showing a mounting state of each circuit element on the surface of the ceramic multilayer substrate of the sixth embodiment.
  • FIG. 28 shows a conventional diode switch, where (A) is a switch circuit diagram and (B) and (C) are equivalent circuit diagrams.
  • the basic configuration of the high-frequency switching module is that the inductor L of the high-frequency filter is connected in series and directly (without any other elements) to the diode D as a switching element.
  • the high-frequency filter connected to the anode of the diode D constituting the high-frequency switch SW via the inductor L is a low-pass filter LPF, and the filter LPF is connected to the inductor L1 provided on the signal line.
  • the capacitor Cla connected in parallel to the inductor L1 and the shunt capacitors Clb and Clc connected in the front and rear stages of the inductor L1 are connected to each other.
  • the inductor L is also one of the low-pass filters LPF. Part.
  • [0026] 02 (A) is an equivalent circuit for simulation of a high-frequency circuit in which a low-pass filter is connected to a diode.
  • an inductor L that constitutes part of the low-pass filter an OnH inductor L is placed after the diode.
  • Figure 2 (B) is an equivalent circuit for comparison, and forms part of the low-pass filter. 5.
  • OnH inductor L is placed after the shunt capacitor that forms the low-pass filter. This simulation is for GSM1800 (center frequency: 1747. 5MHz).
  • Fig. 3 shows the results of simulating the high-frequency attenuation characteristics in the equivalent circuits of both.
  • the attenuation curve b of the circuit where the OnH inductor L is inserted directly in series with the diode is shown in ml, m2. In other words, the ripple is greatly reduced.
  • the rise of the decay curve is reduced, and sufficient attenuation is obtained in the band where attenuation is desired.
  • the attenuation pole near 3400MHz is the attenuation pole due to the LC parallel resonant circuit and corresponds to the harmonic band twice the fundamental wave. This attenuation pole is almost the same in each curve a and b.
  • Fig. 4 (A) is a simulation circuit using an equivalent circuit of a diode
  • Fig. 4 (B) is a simulation circuit using an S parameter of a diode. It is inserted.
  • Figure 5 shows the results of simulating the high-frequency attenuation characteristics of each equivalent circuit.
  • the attenuation curve c shows the characteristics of the equivalent circuit in FIG. 4 (A)
  • the attenuation curve d shows the characteristics of the equivalent circuit in FIG. 4 (B).
  • the attenuation characteristic shown in Fig. 5 is that the inductance value of inductor L is as small as 1. OnH, and the inductance value is the element connected to one end of diode D shown in Fig. 1 (shunt capacitor Clb). It is equivalent to the shortest electrical length L.
  • FIG. 6 (B) shows an attenuation curve when the inductance value of the inductor L is 2. OnH
  • FIG. 6 (C) shows an attenuation curve when 5. OnH is set.
  • Fig. 6 (A) shows the attenuation curve for comparison when the inductance value is 1. OnH (same as Fig. 5).
  • inductance value of inductor L increases to 2. OnH, and further to 5. OnH, the cutoff frequency increases. A large shift to the low frequency side reduces ripple. This is because a diode and a shunt capacitor are compared with a Chebyshev-type low-pass filter formed by an inductance component and a capacitor component formed when the diode is turned on, and a shunt capacitor arranged adjacent to the diode. This is a result of increasing the inductance in the Chepschev type low-pass filter by increasing the inductance value of the inductor.
  • Induct L is a “filter component” that constitutes a high-frequency filter, and adds a new inductance component to the inductance component formed when the diode is turned on! It plays a role as a “inductance addition element”.
  • the cutoff in the Chebyshev-type low-pass filter without changing the number of elements constituting the high-frequency switching module is achieved.
  • the frequency can be shifted to the low frequency side, and the ripple can be reduced to approximate a Butterworth low-pass filter, thereby realizing a high-frequency switching module having desired attenuation characteristics.
  • the inductance value added to the diode D corresponds to the electrical length between the diode D force and the shunt capacitor of the low-pass filter that is an adjacent element.
  • the inductance value of the inductor L is such that one end of the diode D and one end thereof are Twice the shortest electrical length L with the connected element
  • U which preferably corresponds to an electrical length of 0 or more.
  • FIG. 7 shows still another equivalent circuit as a principle description of the present invention.
  • This equivalent circuit is a simulation circuit using diode S-parameters, and the low-pass filter is an LC parallel resonant circuit LC1 for attenuating the second harmonic and an LC parallel resonant circuit LC2 for attenuating the third harmonic. It is configured.
  • the fundamental wave of this simulation is about 1.81 GHz and the bandwidth is about 0.2 GHz.
  • Figs. 8 to 12 show the inductance values of the inductor L in the simulation circuit shown in Fig. 7 as 0. OnH (Fig. 8), 0.3nH (Fig. 9), and 0.5nH (Fig. 10), respectively. 2.
  • Frequency characteristics when OnH (Fig. 1 1) and 8. OnH (Fig. 12) are set.
  • ml and m2 represent the second harmonic attenuation region
  • m3 and m4 represent the third harmonic attenuation region.
  • the dotted line shows the frequency characteristics of the Chebyshev-type low-pass filter
  • the solid line shows the combined frequency of the Chebyshev-type low-pass filter and the ⁇ -type low-pass filter for the second and third harmonic attenuation. The characteristics are shown.
  • the ripple frequency on the dotted line is located between the second harmonic band and the third harmonic band. As a result, it is possible to suppress the deterioration of the attenuation that occurs on the higher frequency side than the third harmonic band.
  • the inductance value of the inductor L when the inductance value of the inductor L is set to 2. OnH, the frequency of the ripple on the dotted line is between the second harmonic band and the third harmonic band, and 2 It is formed around 3.7 GHz near the second harmonic band. As a result, more attenuation can be obtained in the third harmonic band. Comparing the frequency characteristics of Fig. 10 and Fig. 11, the amount of attenuation in the jumping part of the attenuation pole generated between the 3rd harmonic band and the 4th harmonic band has an inductance value of 0.5 nH (Fig. 10 (Refer to Fig. 11). On the other hand, when the inductance value is set to 2. OnH (see Fig. 11), it is about -45 dB, which means that more attenuation can be obtained.
  • the LC parallel resonance circuit for attenuation of the third harmonic (referred to by LC2 in Fig. 7) by using the attenuation region of the Chebyshev type low-pass filter (higher frequency than the ripple frequency). Can be omitted. This also applies to the example of FIG. 12 shown below.
  • the first embodiment is a triple-band compatible high-frequency switching module (front-end module) corresponding to three communication systems (GSM900 system and GSM1800Z1900 system) as shown in the equivalent circuit of FIG.
  • a diplexer 20 that branches a GSM900 signal path and a GSM1800 / 1900 signal path is provided downstream of the antenna terminal ANT.
  • a first high frequency switch 900SW, a first LC filter 900LPF, and a first balanced surface acoustic wave filter SAW1 are arranged in the signal path of the GSM900 system.
  • the second high frequency switch GSM1800Z1900SW—A, the second LC filter 1800 Z1900LPF, the third high frequency switch 1800Z1900SW—B, and the second balanced elastic surface wave filter SAW2, SAW3 are arranged in the signal path of the GSM1800Z1900 system. ing.
  • the first high-frequency switch 900SW includes a signal path between the antenna terminal ANT and the first transmission-side input terminal GSM90 OTx (that is, a transmission path of a transmission signal of the GSM900 system), an antenna terminal ⁇ , and a first reception.
  • the signal path to the GSM900RX ie, the transmission path for GSM 900 system received signals
  • the first LC filter 900LPF is arranged between the first high frequency switch 900SW and the first transmission side input terminal GSM900TX, that is, in the transmission path of the GSM900 transmission signal.
  • the first balanced surface acoustic wave filter SAW1 is disposed between the first high-frequency switch 900SW and the first reception-side balanced output terminal GSM9 OORx, that is, in the transmission path of the GSM900-based received signal.
  • an inductor LG is connected in parallel between the first balanced surface acoustic wave filter SAW1 and the first receiving-side balanced output terminal GSM900RX for the purpose of phase adjustment between the non-lance output terminals. ing.
  • Second high-frequency switch GSM1800Z1900SW— A is the antenna terminal ANT and second transmission ⁇ Signal path between J human power terminal GSM1800 / 1900Tx, ie, transmission path of GSM1800 / 1900 system transmission signal), and between antenna terminal ANT and second and third receiver balanced output terminals GSM1900Rx, GSM1800Rx Select the signal path (Ryoichi, GSM1800 / 1900 system received signal transmission path) selectively.
  • the 2nd LC filter 1800Z1900LPF is good between the 2nd high frequency switch GSM1800Z1900SW-A and the 2nd transmission side input terminal GSM18 00 / 1900Tx! That is, it is placed in the transmission path of GSM 1800/1900 series transmission signals.
  • the third high-frequency switch 1800Z1900SW-B is the signal path between the second high-frequency switch GSM1800Z19 OOSW-A and the second and third receiver-side balanced output terminals GSM1900Rx, GSM1800Rx (that is, GSM 1800/1900 series reception) Select the signal transmission path).
  • the second balanced surface acoustic wave filters SAW2 and SAW3 are the third high-frequency switch 1800Z1900SW—B and the second and third receiver-side balanced output terminals GSM1900RX and GSM1800Rx. Is placed on the transmission path of the received signal.
  • the gap between the second balanced surface acoustic wave filters SAW2 and SAW3 and the second and third receiver-side balanced output terminals GSM1900Rx and GSM1800Rx is intended for phase adjustment between the balanced output terminals.
  • Inductors LP and LD are connected to each other.
  • the diplexer 20 sends GSM900 or GSM1800Z1900 power transmission signals to the antenna terminal ANT during transmission, and receives signals received at the antenna terminal ANT to the GSM900 or GSM1800Z1900 system during reception. send.
  • the first port P11 of the diplexer 20 has an antenna terminal ANT force
  • the second port P12 has the first high-frequency switch 900SW first port P31g force
  • the third port P13 has the second high-frequency switch GSM1800Z 1900SW—the first port P31d of A Each is connected.
  • the first port P21g of the first LC filter 900LPF is connected to the second port P32g of the first high-frequency switch 900SW, and the first balanced surface acoustic wave filter SAW1 is connected to the third port P33g.
  • the first transmission side input terminal GSM900TX is connected to the second port P22g of the first LC filter 900LPF.
  • GSM1800 / 1900 series (This is the second high-frequency switch GSM1800 / 1900SW— A
  • the second port P32d is connected to the first port P21d of the second LC filter 1800 / 1900LPF
  • the third port P33d is connected to the first port P4 Id of the third high-frequency switch 1800Z1900SW-B.
  • the second transmission side input terminal GSM1800Z1900TX is connected to the second port P22d of the second LC filter 1800Z1900LPF.
  • the second balanced surface acoustic wave filters SAW2 and SAW3 are connected to the second port P42d and the third port P43d of the third high-frequency switch 1800Z1900SW-B, respectively.
  • the diplexer 20 includes inductors Ltl and Lt2 and capacitors Ccl, Cc2, Ctl, Ct2 and Cu1.
  • a parallel circuit composed of an inductor Ltl and a capacitor Ctl is connected between the first port P11 and the second port P12, and the second port P12 side of the parallel circuit is grounded via the capacitor Cul.
  • Capacitors Ccl and Cc2 are connected in series between the first port P11 and the third port P13, and are grounded via the connection point inductor Lt2 and the capacitor Ct2. That is, a high-pass filter is formed by the inductor Ltl and the capacitors Ctl, Ccl, and Ct2.
  • the first high-frequency switch 900SW includes switching elements such as diodes GDI and GD2, inductors GSL1 and GSL2, a capacitor GC5, and a resistor Rg.
  • a diode GDI is connected between the first port P 31g and the second port P32g so that the anode is on the first port P31g side, and the force sword is grounded via the inductor GSL1.
  • the diode GD2 is connected to the first port P31g via the force sword force inductor GSL2, and the anode is grounded via the capacitor GC5.
  • the control terminal Vcl is connected to the connection point between the diode GD2 and the capacitor GC5 via the resistor Rg.
  • the connection point between the power sword of the diode GD2 and the third port P33g is grounded through the capacitor GCu3.
  • the second high-frequency switch GSM1800Z1900SW-A is composed of diodes DDI, DD2, inductors DPSL1, DSL2, DPSLt, capacitors DC4, DC5, CD Pr, Dcu3, DPCtl, and a resistor Rd, which are switching elements.
  • a diode DDI is connected between the first port P31d and the second port P3 2d so that the force sword is on the first port P31d side, and the anode is grounded via the inductor DPSL1 and the capacitor DC4.
  • a series circuit of a capacitor DPCtl and an inductor DPSLt is connected in parallel with the diode DDI between the first port P31d and the second port P32d.
  • the anode of the diode DD2 is connected to the first port P31d via the inductor DSL2 and grounded via the capacitor Dcu3.
  • the power sword of diode DD2 is grounded through capacitor DC5.
  • the anode of the diode DD2 is connected to the third port P33d via the capacitor C DPr, and the connection point between the force sword and the capacitor DC5 is grounded via the resistor Rd.
  • the control terminal Vc2 is connected to the connection point between the inductor DPSL1 and the capacitor DC4.
  • the first LC filter 900LPF is obtained by connecting a parallel circuit of an inductor GLtl and a capacitor GCcl between a first port P21g and a second port P22g. Both ends of the inductor GLtl are grounded via capacitors GCul and GCu2. A capacitor Cgt is connected between the second port P22g and the first transmission side input terminal GSM900TX.
  • the inductor DLt2 and the inductor DLtl are connected in series between the first port P21d and the second port P22d, and a parallel circuit of the inductor DLtl and the capacitor DCc 1 is connected. Talk! Both ends of the inductor DLt 1 are grounded through capacitors DCul and DCu2, respectively. Also, a capacitor Cdp is connected between the second port P22d and the second transmitter input terminal GSM 1800 / 1900Tx!
  • a diode DD3 is connected between the first port P41d and the second port P42d, and the anode of the diode DD3 is grounded via the inductor PSL1 and the capacitor PC4.
  • the control terminal Vc3 is connected to the connection point between the inductor PSL 1 and the capacitor PC4.
  • the inductor PSL2 is connected between the first port P41d and the third port P43d, the connection point between the inductor PSL2 and the third port P43d is connected to the anode of the diode DD4, and the force sword of the diode DD4 is a capacitor Grounded via PC5.
  • the connection point between the power sword of the diode DD4 and the capacitor PC5 is grounded through the resistor Rp.
  • the feature is that the inductor DLt2 of the second LC filter 1800/19 OOLPF is connected in series and directly to the anode of the diode DDI.
  • Inductor DLt2 has the function of shifting the cutoff frequency of the low-pass filter circuit formed when diode DDI is turned on to the low frequency side and reducing ripples as shown in Figs. 6 (B) and (C).
  • an inductor may be provided between the first LC filter 900LPF and the diode GDI.
  • FIGS. 14 to 16 show capacitor electrodes, strip line electrodes, and the like formed by screen printing on each sheet layer constituting the ceramic multilayer substrate of the high-frequency switching module according to the first embodiment.
  • the ceramic multilayer substrate is made by laminating first to 22nd sheet layers 61a to 61v, which also have ceramic power mainly composed of barium oxide, aluminum oxide, and silica, in order, and firing them at a temperature of 1000 ° C or less. It is formed.
  • Various external connection terminal electrodes are formed on the first sheet layer 61a.
  • a ground electrode G1 is formed on the second sheet layer 61b, and electrodes of capacitors Ct2, GC, GCu2, and DC4 are formed on the third sheet layer 61c, and a capacitance is formed with the ground electrode G1.
  • a ground electrode G2 is formed on the fourth sheet layer 61d, and electrodes of capacitors G C, Cul, PC4, and GCul are formed on the fifth sheet layer 61e, and a capacitance is formed with the ground electrode G2.
  • a ground electrode G3 is formed on the sixth sheet layer 61f, and electrodes of capacitors DCul, DCu2, and DCu3 are formed on the seventh sheet layer 61g, and a capacitance is formed with the ground electrode G3.
  • Inductors Ltl, Lt2, DLtl, DLt2, GLtl, DSL2, GSL2, and PSL2 are formed on the ninth, tenth, and eleventh sheet layers 61i, 61j, and 61k, respectively, by stripline electrodes, and each is formed of a via-hole conductor. It is connected.
  • inductors GLtl, DSL2, GSL2, and PSL2 are formed on the twelfth sheet layer 611 by stripline electrodes, and the same type is connected by via-hole conductors.
  • the electrode of the capacitor Ctl is formed on the 14th sheet layer 61 ⁇ , and the electrode of the capacitor DCc 1 and the electrode of the antenna terminal ANT are formed on the 15th sheet layer 61 ⁇ .
  • Capacitors Ccl, GCcl, and DCcl are formed on the 16th sheet layer 61p.
  • the 17th sheet layer 61q is provided with electrodes of capacitors Cc2 and GCcl and a ground electrode G4.
  • Electrodes of capacitors DC5 and PC5 are formed on the 18th sheet layer 61r, and a ground electrode G5 is formed on the 19th sheet layer 61s.
  • the surface of the 22nd sheet layer 61v is the surface of the ceramic multilayer substrate 50, on which various connection terminal electrodes are formed.
  • the first, second, Third surface acoustic wave filters SAW1, SAW2, SAW3 and diodes GDI, GD2, DDI, DD2, DD3, DD4 are mounted on the surface.
  • resistors Rg, Rd, Rp are installed, and inductors DPCtl, DPSLl, DPSLt, GSLl, PSL1, and capacitor CDPr are installed.
  • the second high-frequency switch GSM1800Z1900SW-A applies 3V to the control terminal Vc2, for example, to turn on the diodes DDI and DD2, thereby turning on the GSM1800Z1900 transmission signal. It passes through the 2LC filter 1800Z1900LPF, the second high-frequency switch GSM1800Z1900 SW—A and the diplexer 20, and is transmitted from the antenna terminal ANT connected to the first port PI1 of the diplexer 20.
  • the first high frequency switch 900SW for example, OV is applied to the control terminal Vcl to turn off the diode GDI so that a GSM900 transmission signal is not transmitted. Also, by connecting the diplexer 20, the transmission signal of the GSM1800Z1900 system is prevented from entering the first transmission side input terminal GSM900TX and the first reception side balance output terminal GSM 900Rx. In addition, the 2nd LC FINORETA 1800 / 1900LPF attenuates the second and third harmonics of the GSM1800Z1900 system.
  • the second high-frequency switch GSM1800Z1900SW-A for example, OV is applied to the control terminal Vc2 to turn off the diode DDI so that the GSM1800Z1900 transmission signal is not transmitted. Also, by connecting the diplexer 20, the GSM900 transmission signal is prevented from wrapping around the second transmission side input terminal GSM1800Z1900TX and the second 'third reception side balance output terminal GSM1900Rx, GSM1800Rx.
  • the second harmonic of the GSM900 system is attenuated by the low-pass filter consisting of the capacitor Ctl, the inductor Ltl, and the shunt capacitor Cu 1 of the diplexer 20, and the third harmonic of the GSM900 system is attenuated by the first LC filter 900LPF. I am letting.
  • the third high-frequency switch 1800Z1 When receiving a GSM1800Z1900 series received signal, the third high-frequency switch 1800Z1
  • the received signal of the GSM1800Z1900 system is prevented from entering the GSM900 system and the received signal strength of the GSM900 system SGSM1800 / 1900 system.
  • the second embodiment is a triple-band compatible high-frequency switching module (front-end module) compatible with three communication systems (GSM900 system and GSM1800Z1900 system).
  • the second embodiment has basically the same configuration as the first embodiment. The difference is that in the second high-frequency switch 1800Z1900SW-A, the inductor DLt2 is connected to the power sword of the diode DDI. Even in this configuration, the inductor DLt2 shifts the cutoff frequency to the low frequency side as shown in Fig. 6 when the diode DDI is on. In addition, it has a function of reducing ripple.
  • the other configuration is the same as that of the first embodiment, and a duplicate description is omitted.
  • the third embodiment is a dual-band compatible high-frequency switching module (front-end module) compatible with two communication systems (GSM900 system and GSM1800 system).
  • the GSM 1900 system circuit is omitted and the surface acoustic wave filters SAW1, SAW2, and SAW3 are omitted in the first embodiment.
  • a capacitor Cgr is connected between the first high-frequency switch 900SW and the first receiver-side balanced output terminal GSM900RX, and a capacitor Cdr is connected between the second high-frequency switch 1800SW-A and the second receiver-side balanced output terminal GSM1800RX. Is connected.
  • one end of the inductor DPSL1 of the second high-frequency switch 1800SW-A is connected to the connection point of the inductors DLtl and DLt2.
  • the inductor DLt2 has a function of shifting the cutoff frequency to the low frequency side and reducing the ripple as shown in Fig. 6 when the diode DDI is on.
  • the fourth embodiment is a single-band compatible high-frequency switching module (front-end module) corresponding to one communication system (GSM1800 system).
  • the GSM900 circuit and the diplexer 20 are omitted in the third embodiment.
  • the inductor DLt2 has a function of shifting the cutoff frequency to the low frequency side and reducing the ripple as shown in FIG. 6 when the diode DDI is on.
  • the fifth embodiment is a dual-band compatible high-frequency switching module that supports two communication systems (GSM900 and GSM1800). Module (front-end module).
  • the fifth embodiment has basically the same configuration as the third embodiment. The difference is that the second LC filter 1800LPF is omitted and the inductor DLtl is grounded via the capacitor DCcl. Also in the fifth embodiment, the inductor DLt2 has a function of shifting the cut-off frequency to the low frequency side and reducing the ripple as shown in FIG. 6 when the diode DDI is on.
  • this sixth embodiment is a quad-band compatible high-frequency switching module (front-end module) that supports four communication systems (GSM, DCS, PCS, and WCDMA). ).
  • the GSM transmission transmission path and the reception transmission path are the same as those in the third embodiment, and the DCSZPCS transmission transmission path and the reception transmission path, and the WCDMA reception transmission path and the diplexer.
  • a FET switch specifically, a GaAs switch 21 is provided between 20q and 20q.
  • the diplexer 20q includes a parallel circuit including the inductor DLtl and the capacitor DCcl, and a shunt capacitor Dcul is a DCSZPCS system. And added to the WCDMA system. This added low-pass filter supplements the DCSZPCS system second LC filter LPF connected to the DCSZPCS system transmission side input terminal Tx.
  • the GaAs switch 21 switches the DCSZPCS transmission transmission path, the DCS reception transmission path, the PCS reception transmission path, and the WCDMA system by switching the connection relationship with the terminal T to the terminals T1 to T4.
  • the receiving transmission path is switched.
  • This GaAs switch 21 forms a circuit in which a capacitor C is connected in parallel to the series resistor R and inductor L shown in FIG. 28 (B) during DCSZPCS transmission, as with the diode DDI. . Accordingly, stray capacitance is formed by the shunt capacitor C1 shown in FIG. 28C, and this low-pass filter has Chebyshev characteristics.
  • an inductor DL is connected in series with the GaAs switch 21 in series.
  • the second LC filter LPF of the DCS / PCS system includes the inductor DL, the inductors DLt2 and DLt3, and the capacitor DCc2 connected in parallel with the inductor DLt2, and includes the shunt capacitors Dcu2 and DPTxC.
  • the feature is that the inductor DL of the second LC filter LPF is connected in series and directly to the terminal T1 of the GaAs switch 21.
  • the inductor DL shifts the cutoff frequency of the low-pass filter circuit formed when the terminal T1 of the GaAs switch 21 is turned on and ripples. It has a function to keep it small.
  • attenuation of the third harmonic can be obtained.
  • Figure 23 (A) shows the attenuation characteristics when the inductor DL is inserted.
  • Figure 23 (B) shows the attenuation characteristics for comparison when the inductor DL is not inserted.
  • the inductor DL As shown in Fig. 23 (B), it is generated in 5.1 to 5.2 GHz, which is a band almost three times the fundamental frequency (around 1.75 GHz). As shown in Fig. 23 (A), the ripples that have been generated (the rise of the attenuation pole) is a band that has nothing to do with the higher-order harmonics of the fundamental frequency. 3. It can be moved without changing the attenuation pole (around 7GHz).
  • inductor DL may be provided in series and directly between terminal T of GaAs switch 21 and diplexer 2 Oq.
  • a FET switch such as a CMOS switch can be used instead of the GaAs switch 21.
  • FIGS. 24 to 26 show capacitor electrodes, stripline electrodes, and the like formed by screen printing on each sheet layer constituting the ceramic multilayer substrate of the high-frequency switching module according to the sixth embodiment.
  • the ceramic multilayer substrate is composed of the first to 21st sheet layers 71a to 71u, which have barium oxide, aluminum oxide, and silica as the main components, and the lower forces are sequentially laminated and fired at a temperature of 1000 ° C or lower. Is formed.
  • Various external connection terminal electrodes are formed on the first sheet layer 71a, and a ground electrode G1 is formed on the second sheet layer 71b.
  • Capacitors GC5, Ct2, Cul, and GTxC electrodes are formed on the third sheet layer 71c, and a ground electrode G2 is formed on the fourth sheet layer 71d.
  • Capacitors GC5, GCul, and DPTxC are formed on the fifth sheet layer 71e, and a ground electrode G3 is formed on the sixth sheet layer 71f. 7th sheet layer 71g
  • the electrodes of GRxC, DCul, and DCu2 are formed.
  • Inductors Lt2, DLtl, DLt2, DLt3, and GSL2 are formed on the ninth sheet layer 71i by stripline electrodes, respectively.
  • inductors GLtl and Ltl are formed by strip line electrodes, respectively.
  • electrodes of capacitors Ctl and GCcl are formed on the 14th sheet layer 71 ⁇
  • electrodes of capacitors G Ccl and DCcl and a ground electrode G4 are formed on the 15th sheet layer 71 ⁇ .
  • Electrodes of capacitors GCcl, GC5, DCc2, and Ccl are formed on the sixteenth sheet layer 71p.
  • the electrode of the capacitor DCc2 and the ground electrode G5 are formed on the 17th sheet layer 71q.
  • the inductor DL is formed on the 20th sheet layer 71t!
  • the surface of the 21st sheet layer 71u is the surface of the ceramic multilayer substrate 51, on which various connection terminal electrodes are formed.
  • GaAs switch 21, resistor Rg, inductor GSL1, diodes GDI and GD2 are mounted on the surface.
  • the method for adjusting the frequency characteristics of the high-frequency switching module and the high-frequency circuit according to the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes can be made within the scope of the gist thereof! ⁇ .
  • the present invention is useful for a high-frequency switching module, and is particularly excellent in that it can be adjusted to a desired frequency characteristic while suppressing ripples.

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Abstract

 リップルを小さく抑え、所望の周波数特性を有する高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性調整方法を得る。  スイッチング素子としてのダイオードDを含む高周波スイッチSWとインダクタL,L1及びコンデンサC1aを含む高周波フィルタLPFとを一体化した高周波スイッチングモジュール。π型高周波フィルタを構成するインダクタLがダイオードDに対して直列かつ直接に接続されている。インダクタLを挿入することにより、ダイオードDのオン時に形成されるチェビシェフ型ローパスフィルタ回路の遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともに、リップルを小さくすることができる。

Description

明 細 書
高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性調整方法 技術分野
[0001] 本発明は、高周波スイッチングモジュール、特に、スイッチング素子としてのダイォ ードゃ FETスィッチを含む高周波スィッチとインダクタ及びコンデンサを含む高周波 フィルタとを一体ィ匕した高周波スイッチングモジュールに関する。また、本発明は、高 周波回路の周波数特性調整方法、特に、スイッチング素子としてのダイオードや FE Tスィッチを含む高周波スィッチと、シャント接続されたコンデンサを含む高周波フィ ルタとを含んだ RFフロントエンド回路における減衰特性の調整方法に関する。
背景技術
[0002] 一般に、携帯電話機などの移動体通信装置における高周波スイッチングモジユー ルゃ RFフロントエンド回路において、 1. 8GHz帯や 900MHz帯の高周波信号の伝 送経路を切り換えるためのスイッチング素子としてダイオードが使用されている。
[0003] この種の高周波スィッチは、特許文献 1, 2に記載のように、二つのダイオードとイン ダクタとコンデンサや抵抗などにより構成され、電源端子に印加する電圧を制御する ことで、信号の送受信を切り換えるようにしている。また、高周波フィルタや RFフロント エンド回路は、 LC並列共振回路の両端に接地コンデンサ(シャントコンデンサ)を有 する π型ローパスフィルタで構成されており、特に、送信回路側に配置された低雑音 増幅器 (LNA)にて生じる 2次や 3次の高次高調波を取り除くように構成されて 、る。
[0004] ところで、ダイオードのオン、オフを利用して信号伝送経路を切り換える高周波スィ ツチにおいて、図 28 (A)に示すダイオード Dは、ダイオード Dへの順バイアスの印加 時には、図 28 (B)に示す等価回路を形成していることが分力つた。即ち、ダイオード Dのオン時には、直列の抵抗成分 Rとインダクタンス成分 Lに対してコンデンサ成分 C が並列に接続された回路を形成していることが分力ゝつた。
[0005] そして、このような高周波スィッチに、前記 π型ローパスフィルタを接続して 、る場 合、その等価回路は、図 28 (C)に示すように、ダイオード Dのオン時に形成されるィ ンダクタンス成分 Lと、コンデンサ成分 Cと、 π型ローパスフィルタにおけるシャントコン デンサ CIとでローパスフィルタが形成されていることが判明した。そして、この等価回 路におけるインダクタンス成分 Lのインダクタンスは非常に小さい値 (約 InH)である ため、このローパスフィルタは、遮断周波数が高ぐチェビシェフ特性を有するローバ スフィルタ、即ち、チェビシェフ型ローパスフィルタであることが分かった。なお抵抗成 分 Rはゼロ(零)であってもよ!/、。
[0006] そして、チェビシェフ型ローパスフィルタのリップル(通過帯域の零点: fx)の周波数 力 送信信号の 2次や 3次の高次高調波の帯域、つまり、 π型ローパスフィルタにお いて減衰を獲得したい周波数帯域に入ってしまうと、 2次や 3次の高次高調波を充分 に減衰できなくなってしまい、その結果、所望の周波数特性を有する高周波スィッチ ングモジュールや RFフロントエンド回路が得られなくなってしまうことがある。
特許文献 1 :特開 2001—177434号公報
特許文献 2 :特開 2003— 133994号公報
発明の開示
発明が解決しょうとする課題
[0007] そこで、本発明の目的は、所望の周波数特性を有する高周波スイッチングモジユー ルを提供することにある。
[0008] また、本発明の他の目的は、遮断周波数を低周波側にシフトすることができるととも に、リップルを小さく抑えることのできる高周波回路の周波数特性調整方法を提供す ることにめる。
課題を解決するための手段
[0009] 前記目的を達成するため、第 1の発明は、
高周波信号の伝送経路を選択的に切り換える高周波スイッチング素子を含む高周 波スィッチと、インダクタ及びコンデンサを含んで構成され、前記伝送経路における 不要波を除去する π型高周波フィルタとを一体ィヒした高周波スイッチングモジュール において、
前記 π型高周波フィルタと前記高周波スイッチング素子との間に、直列かつ直接に 接続されたインダクタと、
前記高周波スイッチング素子のオン時に形成されるインダクタンス成分及びコンデ ンサ成分と、前記 π型高周波フィルタに含まれるシャントコンデンサとで構成されるチ エピシェフ型ローパスフィルタとを備え、
前記チェビシェフ型ローパスフィルタにより形成される通過帯域の零点であるリップ ルの周波数を fkとしたとき、該周波数 fkは基本波の n (2以上の整数)次高調波減衰 域以外の周波数帯域に含まれること、
を特徴とする。
[0010] 第 1の発明によれば、高周波スィッチに対して π型高周波フィルタを構成するイン ダクタが直列かつ直接に接続されていることにより、 π型ローパスフィルタの減衰域に リップル (通過帯域の零点: fx)の周波数が入ることがなぐ簡易な構成で所望の周波 数特性を有する高周波スイッチングモジュールを得ることができる。
[0011] 第 1の発明に係る高周波スイッチングモジュールにおいて、前記周波数 fkは 2次高 調波減衰域と 3次高調波減衰域との間に位置することが好ましい。
[0012] そして、高周波スィッチは送信信号の伝送経路と受信信号の伝送経路とを選択的 に切り換え、 π型高周波フィルタは送信信号の伝送経路上に配置され、送信信号の 高次高調波を除去するように構成してもよ ヽ。
[0013] また、高周波スィッチは高周波スイッチング素子としてダイオードを含み、 π型高周 波フィルタのインダクタは該ダイオードに対して直列かつ直接に接続されていてもよ い。あるいは、高周波スィッチは高周波スイッチング素子として FETスィッチを含み、 π型高周波フィルタのインダクタは該 FETスィッチに対して直列かつ直接に接続され ていてもよい。
[0014] また、 π型高周波フィルタは、高周波信号の伝送経路上に設けられ、コンデンサと 並列に接続され、 LC並列共振回路の一部を構成している第 1のインダクタと、並列コ ンデンサを有さず、 LC並列共振回路を構成して 、な 、第 2のインダクタとを含んで構 成されたローパスフィルタで構成してもよい。この場合、 LC並列共振回路を構成して いない第 2のインダクタカ 高周波スィッチに対して直列かつ直接に接続されることに なる。
[0015] また、 π型高周波フィルタのインダクタは高周波スィッチの一端とその一端が接続さ れる他の素子との最短電気長の 2倍以上の電気長を有して 、ることが好ま 、。イン ダクタンスが大きくなると遮断周波数をより大きく低周波側にシフトさせることができ、リ ップルを抑える効果も大きくなる。
[0016] さらに、 π型高周波フィルタのインダクタは、ストリップラインとして、複数の誘電体層 を積層してなるモジュール素体に内蔵されていてもよぐあるいは、チップ部品として 、複数の誘電体層を積層してなるモジュール素体に実装されていてもよい。ストリップ ラインとして形成されていれば、モジュールをより小型化することができる。チップ部品 として形成されて ヽれば、より大きなインダクタンス値を有するインダクタを容易に適 用できる。
[0017] さらに、第 1の発明に係る高周波スイッチングモジュールは、単一波長の高周波信 号を伝送する信号伝送経路を選択的に切り換えるシングルバンド対応型、二つの異 なる波長の高周波信号を伝送する信号伝送経路を選択的に切り換えるデュアルバン ド対応型、あるいは、三つの異なる波長の高周波信号を伝送する信号伝送経路を選 択的に切り換えるトリプルバンド対応型など、単一波長の又は複数の異なる波長の高 周波信号を伝送する信号伝送経路を選択的に切り換えるシングルバンド、マルチバ ンド対応型のスイッチングモジュールとして構成することができる。
[0018] 第 2の発明は、
高周波スイッチング素子と、該高周波スイッチング素子の前段又は後段にてシャン ト接続されたシャントコンデンサとを含む高周波回路の周波数特性調整方法であって 前記高周波スイッチング素子に対して直列かつ直接にインダクタを付加することに より、該高周波スイッチング素子のオン時に形成されるインダクタンス成分と前記コン デンサのキャパシタンス成分と前記シャントコンデンサとで形成されるチェビシェフ型 ローパスフィルタ回路の遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともに、通過帯域の 零点であるリップルの周波数を小さくし、かつ、
前記リップルの周波数を fkとしたとき、該周波数 fkは基本波の n (2以上の整数)次 高調波減衰域以外の周波数帯域に含まれるように、前記インダクタンスの値を調整 すること、
を特徴とする。 [0019] 第 2の発明に係る高周波回路の周波数特性調整方法によれば、高周波スィッチン グ素子にインダクタを直列かつ直接に付加することにより、 π型ローパスフィルタの減 衰域にリップル (通過帯域の零点: fx)の周波数が入ることがな 、ように、遮断周波数 を所望の程度に低周波側にシフトさせ、かつ、リップルを抑えることができ、特に、前 記の RFフロントエンド回路に用いた場合は 2次や 3次の高調波を減衰させることがで きる。
[0020] 第 2の発明に係る高周波回路の周波数特性調整方法において、前記周波数 fkは 2 次高調波減衰域と 3次高調波減衰域との間に位置することが好ましい。
[0021] また、インダクタは高周波スイッチング素子の一端とその一端が接続される素子との 最短電気長の 2倍以上の電気長を有して 、ることが好ま 、。インダクタンスが大きく なると遮断周波数をより大きく低周波側にシフトさせることができ、リップルを抑える効 果も大きくなる。そして、このような素子は、例えば高周波スイッチング素子の前段又 は後段にてシャント接続されたコンデンサである。
[0022] また、高周波スイッチング素子はダイオードや FETスィッチであり、インダクタはこの ダイオードや FETスィッチに対して直列かつ直接に接続される。
図面の簡単な説明
[0023] [図 1]本発明を原理的に説明するための等価回路図である。
[図 2]高周波回路のシミュレーション用の等価回路図である。
[図 3]図 2に示した等価回路における高周波減衰特性を示すグラフである。
[図 4]高周波回路のシミュレーション用のいま一つの等価回路図である。
[図 5]図 4に示した等価回路における高周波減衰特性を示すグラフである。
[図 6]図 4に示した等価回路においてインダクタのインダクタンス値を変更した場合の 高周波減衰特性を示すグラフである。
[図 7]高周波回路のシミュレーション用のさらに他の等価回路図である。
[図 8]図 7に示した等価回路における高周波減衰特性 (インダクタンス値 0. OnH)を 示すグラフである。
[図 9]図 7に示した等価回路における高周波減衰特性 (インダクタンス値 0. 3nH)を 示すグラフである。 [図 10]図 7に示した等価回路における高周波減衰特性 (インダクタンス値 0. 5nH)を 示すグラフである。
[図 11]図 7に示した等価回路における高周波減衰特性 (インダクタンス値 2. OnH)を 示すグラフである。
[図 12]図 7に示した等価回路における高周波減衰特性 (インダクタンス値 8. OnH)を 示すグラフである。
[図 13]第 1実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。 圆 14]第 1実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 1〜第 8層)に形成し た電極形状を示す説明図である。
圆 15]第 1実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 9〜第 15層)に形成し た電極形状を示す説明図である。
圆 16]第 1実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 16〜第 22層)に形成 した電極形状を示す説明図である。
圆 17]第 1実施例のセラミック多層基板の表面における各回路素子の搭載状態を示 す平面図である。
[図 18]第 2実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。
[図 19]第 3実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。
[図 20]第 4実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。
[図 21]第 5実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。
[図 22]第 6実施例である高周波スイッチングモジュールを示すブロック図である。
[図 23] (A)は第 6実施例における高周波減衰特性を示すグラフ、 (B)は第 6実施例 の回路からインダクタ DLを除いた比較例における高周波減衰特性を示すグラフであ る。
圆 24]第 6実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 1〜第 8層)に形成し た電極形状を示す説明図である。
圆 25]第 6実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 9〜第 15層)に形成し た電極形状を示す説明図である。
圆 26]第 6実施例のセラミック多層基板の各シート層(下力も第 16〜第 21層)に形成 した電極形状を示す説明図である。
[図 27]第 6実施例のセラミック多層基板の表面における各回路素子の搭載状態を示 す平面図である。
[図 28]従来のダイオードスィッチを示し、(A)はスィッチ回路図、 (B) , (C)は等価回 路図である。
発明を実施するための最良の形態
[0024] 以下、本発明に係る高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性 調整方法の実施例について添付図面を参照して説明する。
[0025] (本発明の原理的説明、図 1〜図 12参照)
本発明に係る高周波スイッチングモジュールの基本的な構成は、図 1に示すように 、スイッチング素子としてのダイオード Dに対して直列かつ直接 (他の素子を介在する ことなく)に高周波フィルタのインダクタ Lを接続したものである。具体的には、高周波 スィッチ SWを構成しているダイオード Dのアノードにインダクタ Lを介して接続されて いる高周波フィルタはローパスフィルタ LPFであり、該フィルタ LPFは信号線路上に 設けられたインダクタ L1と、該インダクタ L1に並列に接続されたコンデンサ Claと、ィ ンダクタ L1の前段及び後段に設けられシャント接続されたシャントコンデンサ Clb, C lcとの回路からなり、さらに、インダクタ Lもローパスフィルタ LPFの一部を構成してい る。
[0026] 02 (A)は、ダイオードにローパスフィルタを接続した高周波回路のシミュレーション 用の等価回路であり、ローパスフィルタの一部を構成するインダクタ Lとして、 5. OnH のインダクタ Lがダイオードの後段に挿入されている。図 2 (B)は、比較のための等価 回路であり、ローパスフィルタの一部を構成する 5. OnHのインダクタ Lはローパスフィ ルタを構成するシャントコンデンサの後段に配置されている。なお、このシミュレーショ ンは GSM1800 (中心周波数: 1747. 5MHz)についてのものである。
[0027] 両者の等価回路における高周波減衰特性をシミュレートした結果を図 3に示す。ィ ンダクタ Lがダイオードに直列かつ直接に接続されていない回路の減衰曲線 aに対し て、 5. OnHのインダクタ Lをダイオードに直列かつ直接に挿入した回路の減衰曲線 b は、 ml, m2に示すようにリップルが大きく低下しており、換言すると、減衰極による減 衰曲線の跳ね上がりが小さくなり、減衰を獲得したい帯域で十分な減衰が得られて いる。
[0028] 即ち、図 2 (B)に示す回路の場合、減衰曲線 aに示すように、基本波(1747. 5MH z)の 3倍の高調波帯域(5250MHz前後)では十分な減衰が得られて ヽな 、。これに 対して、図 2 (A)に示す回路の場合、基本波の 3倍の高調波帯域において、減衰量 を大きくとることができる。なお、図 3において、 3400MHz付近の減衰極は、 LC並列 共振回路による減衰極であり、基本波の 2倍の高調波帯域に相当するものである。こ の減衰極は各曲線 a, bにおいてほぼ同等である。
[0029] また、図 4 (A)はダイオードの等価回路を用いたシミュレーション用回路で、図 4 (B) はダイオードの Sパラメータを用いたシミュレーション用回路で、ともに 1. OnHのイン ダクタ Lが挿入されて 、る。それぞれの等価回路における高周波減衰特性をシミュレ ートした結果を図 5に示す。なお、減衰曲線 cは図 4 (A)の等価回路の特性を示し、 減衰曲線 dは図 4 (B)の等価回路の特性を示している。
[0030] 図 5に示す減衰特性はインダクタ Lのインダクタンス値が 1. OnHと小さく、そのイン ダクタンス値は図 1に示したダイオード Dの一端とその一端が接続される素子 (シャン トコンデンサ Clb)との最短電気長 Lと等価である。このように、ダイオードの等価回
0
路を用いたシミュレーション、 Sパラメータを用いたシミュレーションの両者においても 、ほぼ同様の減衰特性を示すことが分かる。
[0031] 次に、インダクタ Lのインダクタンス値を 2. OnHとした場合の減衰曲線を図 6 (B)に 、 5. OnHとした場合の減衰曲線を図 6 (C)に示す。なお、図 6 (A)はインダクタンス値 が 1. OnHの場合(図 5と同じもの)の減衰曲線を比較のために示す。
[0032] 図 6 (A)と図 6 (B) , (C)を比較すると明らかなように、インダクタ Lのインダクタンス 値が 2. OnH、さらに 5. OnHと大きくなるに伴って、遮断周波数が低周波側に大きく シフトし、リップルが小さく抑えられる。これは、ダイオードのオン時に形成されるイン ダクタンス成分及びコンデンサ成分と、ダイオードに隣接して配置されたシャントコン デンサとで形成されたチェビシェフ型のローパスフィルタに対して、ダイオードとシャン トコンデンサとの間のインダクタのインダクタンス値を大きくすることにより、チェピシェ フ型のローパスフィルタにおけるインダクタンスが増加した結果である。即ち、インダク タ Lは、高周波フィルタを構成する"フィルタ構成素子"であるとともに、ダイオードのォ ン時に形成されるインダクタンス成分に新たなインダクタンス成分を付力!]させる〃イン ダクタンス付加素子"としての役割を果たしている。
[0033] このように、高周波フィルタを構成するインダクタをダイオードに直列かつ直接に接 続する位置に移動させることにより、高周波スイッチングモジュールを構成する素子 の数を変えることなぐ前記チェビシェフ型ローパスフィルタにおける遮断周波数を低 周波側にシフトさせ、なおかつ、リップルを小さくしてバターワース型のローパスフィル タに近づけることができ、所望の減衰特性を有する高周波スイッチングモジュールを 実現できる。つまり、フィルタのリップル (減衰極の跳ね上がり)をシフトさせて減衰を 獲得したい領域力 ずらすことができる。特に、高次高調波の減衰が十分に達成でき る高周波スイッチングモジュールを実現できる。
[0034] なお、ダイオード Dに付加されるインダクタンス値は、ダイオード D力もそれに隣接 する素子であるローパスフィルタのシャントコンデンサとの間の電気長に相当する。こ の意味で、高周波スィッチ回路 (RFフロントエンド回路)において、遮断周波数を大 きく低周波側にシフトさせるとともにリップルを小さくするには、インダクタ Lのインダク タンス値がダイオード Dの一端とその一端が接続される素子との最短電気長 Lの 2倍
0 以上の電気長に相当することが好ま U、。
[0035] 図 7に、本発明の原理的説明として、さらに他の等価回路を示す。この等価回路は ダイオードの Sパラメータを用いたシミュレーション用回路で、ローパスフィルタは 2次 高調波を減衰するための LC並列共振回路 LC1及び 3次高調波を減衰するための L C並列共振回路 LC2にて構成されている。このシミュレーションの基本波は 1. 81G Hz、帯域幅は 0. 2GHzについてのものである。
[0036] 図 8〜図 12は、それぞれ、図 7に示したシミュレーション回路において、インダクタ L のインダクタンス値を 0. OnH (図 8)、 0. 3nH (図 9)、 0. 5nH (図 10)、 2. OnH (図 1 1)、 8. OnH (図 12)に設定した場合の周波数特性を示している。図 8〜図 12におい て、 ml, m2は 2次高調波減衰域、 m3, m4は 3次高調波減衰域を表している。また 、点線はチェビシェフ型ローパスフィルタの周波数特性を示し、実線はチェビシェフ 型ローパスフィルタ、 2次 · 3次高調波減衰用の π型ローパスフィルタの合成周波数 特性を示している。
[0037] 図 8に示すように、インダクタ Lのインダクタンス値が 0. OnHの場合は、点線上のリツ プル (通過帯域零点: fx)の周波数力 次高調波の減衰域に入っているため、 4次高 調波帯域の 7. 6GHz付近で減衰極の跳ね上がりが発生し、減衰量を劣化させてい る。一方、図 9に示すように、インダクタ Lのインダクタンス値を 0. 3nHとすると、点線 上のリップルの周波数が 3次高調波帯域よりも高ぐかつ、 4次高調波帯域よりも低い 周波数の 6. 2GHz付近に位置する。図 8と図 9の周波数特性を比較すると、インダク タ Lのインダクタンス値を 0. OnHカゝら 0. 3nHに変更しただけで、リップルの周波数が /J、さくなることが分かる。
[0038] さらに、図 10に示すように、インダクタ Lのインダクタンス値を 0. 5nHにすると、点線 上のリップルの周波数が 2次高調波帯域と 3次高調波帯域との間に位置する。これに て、 3次高調波帯域より高周波側で発生する減衰量の劣化を抑制することができる。
[0039] さらに、図 11に示すように、インダクタ Lのインダクタンス値を 2. OnHにすると、点線 上のリップルの周波数が 2次高調波帯域と 3次高調波帯域との間にあって、かつ、 2 次高調波帯域寄りの 3. 7GHz付近に形成される。これにて、 3次高調波帯域でより 多くの減衰を獲得することができる。図 10と図 11の周波数特性を比較すると、 3次高 調波帯域と、 4次高調波帯域との間に発生する減衰極の跳ね上がり部分の減衰量は 、インダクタンス値が 0. 5nH (図 10参照)で約一 30dBであるのに対して、インダクタ ンス値を 2. OnH (図 11参照)にすると約— 45dBになり、より多くの減衰を獲得できる ことが分力ゝる。
[0040] なお、図 11の例では、チェビシェフ型ローパスフィルタの減衰域(リップルの周波数 より高周波側)を利用することで、 3次高調波減衰用の LC並列共振回路(図 7に符号 LC2で示す)を省略することが可能である。この点は以下に示す図 12の例でも同様 である。
[0041] さらに、図 12に示すように、インダクタ Lのインダクタンス値を 8. OnHにすると、点線 上のリップルの周波数が 2次高調波帯域よりも低い周波数側である約 2. 6GHz付近 に形成される。これにて、 2次高調波帯域及び 3次高調波帯域においてより多くの減 衰を獲得することができる。 [0042] なお、前述の各種等価回路に示したインダクタやコンデンサの数値はあくまで一例 であり、相互の関係で最適値は様々である。また、高周波スィッチとしては、前記ダイ オード Dをスイッチング素子とするもの以外に、 GaAs半導体スィッチのような FETス イッチをスイッチング素子とするものであってもよぐ以下にそれぞれのスイッチング素 子を用いた実施例を示す。
[0043] (第 1実施例、図 13〜図 17参照)
第 1実施例は、図 13の等価回路に示すように、 3つの通信システム (GSM900系 及び GSM1800Z1900系)に対応するトリプルバンド対応型の高周波スイッチング モジュール(フロントエンドモジュール)である。
[0044] 詳しくは、アンテナ端子 ANTの後段に、 GSM900系の信号経路と、 GSM1800/ 1900系の信号経路とを分岐するダイプレクサ 20を備えている。 GSM900系の信号 経路には、第 1高周波スィッチ 900SWと第 1LCフィルタ 900LPFと第 1のバランス型 弾性表面波フィルタ SAW1とが配されている。 GSM1800Z1900系の信号経路に も、同様に、第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW— Aと第 2LCフィルタ 1800 Z1900LPFと第 3高周波スィッチ 1800Z1900SW— Bと第 2のバランス型弾性表 面波フィルタ SAW2, SAW3とが配されている。
[0045] 第 1高周波スィッチ 900SWは、アンテナ端子 ANTと第 1送信側入力端子 GSM90 OTxとの間の信号経路 (即ち、 GSM900系の送信信号の伝送経路)と、アンテナ端 子 ΑΝΤと第 1受信側バランス出力端子 GSM900RXとの間の信号経路 (即ち、 GSM 900系の受信信号の伝送経路)とを選択的に切り換える。第 1LCフィルタ 900LPF は、第 1高周波スィッチ 900SWと第 1送信側入力端子 GSM900TXとの間、即ち、 G SM900系の送信信号の伝送経路に配置されている。第 1のバランス型弾性表面波 フィルタ SAW1は第 1高周波スィッチ 900SWと第 1受信側バランス出力端子 GSM9 OORxとの間、即ち、 GSM900系の受信信号の伝送経路に配置されている。
[0046] また、第 1のバランス型弾性表面波フィルタ SAW1と第 1受信側バランス出力端子 GSM900RXとの間には、ノ《ランス出力端子間の位相調整を目的として、インダクタ L Gが並列に接続されている。
[0047] 第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW— Aは、アンテナ端子 ANTと第 2送信 佃 J人力端子 GSM1800/1900Txとの間の信号経路 卩ち、 GSM1800/1900系 の送信信号の伝送経路)と、アンテナ端子 ANTと第 2·第 3受信側バランス出力端子 GSM1900Rx, GSM1800Rxとの間の信号経路(良卩ち、 GSM1800/1900系の 受信信号の伝送経路)とを選択的に切り換える。第 2LCフィルタ 1800Z1900LPF は、第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW— Aと第 2送信側入力端子 GSM18 00/1900Txとの間、良!]ち、 GSM 1800/ 1900系の送信信号の伝送経路に酉己置さ れている。
[0048] 第 3高周波スィッチ 1800Z1900SW— Bは、第 2高周波スィッチ GSM1800Z19 OOSW—Aと第 2·第 3受信側バランス出力端子 GSM1900Rx, GSM1800Rxとの 間の信号経路 (即ち、 GSM 1800/ 1900系の受信信号の伝送経路)を選択的に切 り換える。第 2のバランス型弾性表面波フィルタ SAW2, SAW3はそれぞれ第 3高周 波スィッチ 1800Z1900SW— Bと第 2·第 3受信側バランス出力端子 GSM1900RX , GSM1800Rxとの間、良卩ち、 GSM 1800/ 1900系の受信信号の伝送経路に酉己 置されている。
[0049] また、第 2のバランス型弾性表面波フィルタ SAW2, SAW3と第 2·第 3受信側バラ ンス出力端子 GSM1900Rx, GSM1800Rxとの間〖こは、バランス出力端子間の位 相調整を目的として、インダクタ LP, LDがそれぞれ接続されている。
[0050] ダイプレクサ 20は、送信の際には GSM900系あるいは GSM1800Z1900系力ら の送信信号をアンテナ端子 ANTに送り、受信の際にはアンテナ端子 ANTで受信し た受信信号を GSM900系あるいは GSM1800Z1900系へ送る。ダイプレクサ 20 の第 1ポート P11にはアンテナ端子 ANT力 第 2ポート P12には第 1高周波スィッチ 900SWの第 1ポート P31g力 第 3ポート P13には第 2高周波スィッチ GSM1800Z 1900SW— Aの第 1ポート P31dがそれぞれ接続されている。
[0051] GSM900系において、第 1高周波スィッチ 900SWの第 2ポート P32gには第 1LC フィルタ 900LPFの第 1ポート P21gが接続され、第 3ポート P33gには第 1のバランス 型弾性表面波フィルタ SAW1が接続されている。第 1LCフィルタ 900LPFの第 2ポ ート P22gには第 1送信側入力端子 GSM900TXが接続されている。
[0052] GSM1800/1900系【こお!ヽて、第 2高周波スィッチ GSM1800/1900SW— A の第 2ポート P32dには第 2LCフィルタ 1800/1900LPFの第 1ポート P21dが接続 され、第 3ポート P33dには第 3高周波スィッチ 1800Z1900SW—Bの第 1ポート P4 Idが接続されている。第 2LCフィルタ 1800Z1900LPFの第 2ポート P22dには第 2 送信側入力端子 GSM1800Z1900TXが接続されている。また、第 3高周波スイツ チ 1800Z1900SW— Bの第 2ポート P42d及び第 3ポート P43dには、それぞれ第 2 のバランス型弾性表面波フィルタ SAW2, SAW3が接続されて!、る。
[0053] ダイプレクサ 20は、インダクタ Ltl, Lt2及びコンデンサ Ccl, Cc2, Ctl, Ct2, Cu 1で構成されている。第 1ポート P11と第 2ポート P12との間にインダクタ Ltlとコンデ ンサ Ctlとからなる並列回路が接続され、この並列回路の第 2ポート P12側がコンデ ンサ Culを介して接地される。また、第 1ポート P11と第 3ポート P13との間にはコン デンサ Ccl, Cc2が直列接続され、それらの接続点力インダクタ Lt2及びコンデンサ Ct2を介して接地される。即ち、インダクタ Ltl及びコンデンサ Ctl, Ccl, Ct2でハイ パスフィルタがそれぞれ形成されて 、る。
[0054] 第 1高周波スィッチ 900SWは、スイッチング素子であるダイオード GDI, GD2、ィ ンダクタ GSL1, GSL2、コンデンサ GC5及び抵抗 Rgで構成されている。第 1ポート P 31gと第 2ポート P32gとの間に、アノードが第 1ポート P31g側になるようにダイオード GDIが接続され、力ソードはインダクタ GSL1を介して接地される。ダイオード GD2 は力ソード力インダクタ GSL2を介して第 1ポート P31gに接続され、アノードがコンデ ンサ GC5を介して接地される。ダイオード GD2とコンデンサ GC5との接続点に抵抗 Rgを介して制御端子 Vclが接続されている。また、ダイオード GD2の力ソードと第 3 ポート P33gとの接続点はコンデンサ GCu3を介して接地される。
[0055] 第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW— Aは、スイッチング素子であるダイォ ード DDI, DD2、インダクタ DPSL1, DSL2, DPSLt、コンデンサ DC4, DC5, CD Pr, Dcu3, DPCtl及び抵抗 Rdで構成されている。第 1ポート P31dと第 2ポート P3 2dとの間に、力ソードが第 1ポート P31d側になるようにダイオード DDIが接続され、 アノードはインダクタ DPSL1及びコンデンサ DC4を介して接地される。また、第 1ポ ート P31dと第 2ポート P32dとの間には、コンデンサ DPCtlとインダクタ DPSLtの直 列回路がダイオード DDIとは並列に接続されている。 [0056] ダイオード DD2はアノードがインダクタ DSL2を介して第 1ポート P31dに接続され るとともに、コンデンサ Dcu3を介して接地される。また、ダイオード DD2の力ソードは コンデンサ DC5を介して接地される。また、ダイオード DD2のアノードはコンデンサ C DPrを介して第 3ポート P33dに接続され、力ソードとコンデンサ DC5との接続点は抵 抗 Rdを介して接地される。インダクタ DPSL1とコンデンサ DC4との接続点に制御端 子 Vc2が接続されている。
[0057] 第 1LCフィルタ 900LPFは、第 1ポート P21gと第 2ポート P22gとの間にインダクタ G Ltlとコンデンサ GCclの並列回路を接続したものである。インダクタ GLtlの両端は それぞれコンデンサ GCul, GCu2を介して接地される。また、第 2ポート P22gと第 1 送信側入力端子 GSM900TXとの間にはコンデンサ Cgtが接続されている。
[0058] 第 2LCフィルタ 1800Z1900LPFは、第 1ポート P21dと第 2ポート P22dとの間に、 インダクタ DLt2とインダクタ DLtlとが直列に接続され、かつ、インダクタ DLtlとコン デンサ DCc 1の並列回路が接続されて!ヽる。インダクタ DLt 1の両端はそれぞれコン デンサ DCul, DCu2を介して接地される。また、第 2ポート P22dと第 2送信側入力 端子 GSM 1800/ 1900Txとの間にはコンデンサ Cdpが接続されて!、る。
[0059] 第 3高周波スィッチ 1800Z1900SW—Bは、第 1ポート P41dと第 2ポート P42dと の間にダイオード DD3が接続され、ダイオード DD3のアノードはインダクタ PSL1及 びコンデンサ PC4を介して接地される。インダクタ PSL 1とコンデンサ PC4との接続点 に制御端子 Vc3が接続されている。また、第 1ポート P41dと第 3ポート P43dとの間に インダクタ PSL2が接続され、インダクタ PSL2と第 3ポート P43dとの接続点はダイォ ード DD4のアノードが接続され、ダイオード DD4の力ソードはコンデンサ PC5を介し て接地される。また、ダイオード DD4の力ソードとコンデンサ PC5の接続点は抵抗 Rp を介して接地される。
[0060] 以上の構成力もなる第 1実施例において、その特徴は、第 2LCフィルタ 1800/ 19 OOLPFのインダクタ DLt2がダイオード DDIのアノードに直列かつ直接に接続され ていることにある。インダクタ DLt2は、図 6 (B) , (C)に示したように、ダイオード DDI がオンされたときに形成されるローパスフィルタ回路の遮断周波数を低周波側にシフ トさせるとともにリップルを小さく抑える機能を有する。 [0061] なお、同様の機能を目的として、第 1LCフィルタ 900LPFとダイオード GDIとの間 にインダクタを設けてもよい。
[0062] 図 14〜図 16は、第 1実施例である高周波スイッチングモジュールのセラミック多層 基板を構成する各シート層上にスクリーン印刷などで形成されたコンデンサ電極、ス トリップライン電極などを示している。セラミック多層基板は酸化バリウム、酸化アルミ -ゥム、シリカを主成分としたセラミックス力もなる第 1〜第 22シート層 61a〜61vを下 力も順次積層し、 1000°C以下の温度で焼成することにより形成される。
[0063] 第 1シート層 61aには種々の外部接続用端子電極が形成されている。第 2シート層 61bにはグランド電極 G1が形成され、第 3シート層 61cにはコンデンサ Ct2, GC, G Cu2, DC4の電極が形成され、グランド電極 G1とでキャパシタンスを形成している。 第 4シート層 61dにはグランド電極 G2が形成され、第 5シート層 61eにはコンデンサ G C, Cul, PC4, GCulの電極が形成され、グランド電極 G2とでキャパシタンスを形 成している。
[0064] 第 6シート層 61fにはグランド電極 G3が形成され、第 7シート層 61gにはコンデンサ DCul, DCu2, DCu3の電極が形成され、グランド電極 G3とでキャパシタンスを形 成している。第 9 ·第 10·第 11シート層 61i, 61j, 61kにはそれぞれストリップライン電 極によってインダクタ Ltl, Lt2, DLtl, DLt2, GLtl, DSL2, GSL2, PSL2が形 成され、それぞれがビアホール導体にて接続されている。さらに、第 12シート層 611 にはストリップライン電極によってインダクタ GLtl, DSL2, GSL2, PSL2が形成さ れ、それぞれ同種のものがビアホール導体にて接続されて 、る。
[0065] 第 14シート層 61ηにはコンデンサ Ctlの電極が形成され、第 15シート層 61οには コンデンサ DCc 1の電極及びアンテナ端子 ANTの電極が形成されて!、る。第 16シ ート層 61pにはコンデンサ Ccl, GCcl, DCclの電極が形成されている。第 17シー ト層 61qにはコンデンサ Cc2, GCclの電極及びグランド電極 G4が形成されている。 第 18シート層 61rにはコンデンサ DC5, PC5の電極が形成され、第 19シート層 61s にはグランド電極 G5が形成されている。
[0066] 第 22シート層 61vの表面は、図 17に示すように、セラミック多層基板 50の表面であ つて、種々の接続用端子電極が形成されている。そして、その表面には、第 1 ·第 2· 第 3弾性表面波フィルタ SAW1, SAW2, SAW3、ダイオード GDI, GD2, DDI, DD2, DD3, DD4が搭載されている。さらに、抵抗 Rg, Rd, Rpが搭載され、インダ クタ DPCtl, DPSLl, DPSLt, GSLl, PSL1、コンデンサ CDPrが搭載されている
[0067] ここで、図 13に示した回路構成を有する高周波スイッチングモジュールの動作につ いて説明する。まず、 GSM1800Z1900系の送信信号を送信する場合には、第 2 高周波スィッチ GSM1800Z1900SW—Aにおいて制御端子 Vc2に、例えば 3Vを 印加してダイオード DDI, DD2をオンすることにより、 GSM1800Z1900系の送信 信号が第 2LCフィルタ 1800Z1900LPF、第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900 SW— A及びダイプレクサ 20を通過し、ダイプレクサ 20の第 1ポート PI 1に接続され たアンテナ端子 ANTから送信される。
[0068] この際、第 1高周波スィッチ 900SWにおいて制御端子 Vclに、例えば OVを印加し てダイオード GDIをオフすることにより、 GSM900系の送信信号が送信されないよう にしている。また、ダイプレクサ 20を接続することにより、 GSM1800Z1900系の送 信信号が第 1送信側入力端子 GSM900TX及び第 1受信側バランス出力端子 GSM 900Rxに回り込まないようにしている。さらに、第 2LCフイノレタ 1800/1900LPFで は GSM1800Z1900系の 2次高調波及び 3次高調波を減衰させている。
[0069] 次いで、 GSM900系の送信信号を送信する場合には、第 1高周波スィッチ 900S Wにおいて制御端子 Vclに、例えば 3Vを印加してダイオード GDI, GD2をオンす ることにより、 GSM900系の送信信号が第 1LCフィルタ 900LPF、第 1高周波スイツ チ 900SW及びダイプレクサ 20を通過し、ダイプレクサ 20の第 1ポート PI 1に接続さ れたアンテナ端子 ANTから送信される。
[0070] この際、第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW—Aにおいて制御端子 Vc2に 、例えば OVを印加してダイオード DDIをオフすることにより、 GSM1800Z1900系 の送信信号が送信されないようにしている。また、ダイプレクサ 20を接続することによ り、 GSM900系の送信信号が第 2送信側入力端子 GSM1800Z1900TX及び第 2 '第 3受信側バランス出力端子 GSM1900Rx, GSM1800Rxに回り込まないように している。 [0071] さらに、ダイプレクサ 20のコンデンサ Ctl、インダクタ Ltl及びシャントコンデンサ Cu 1力 なるローパスフィルタにて GSM900系の 2次高調波を減衰させ、第 1LCフィル タ 900LPFでは GSM900系の 3次高調波を減衰させている。
[0072] 次いで、 GSM1800Z1900系及び GSM900系の受信信号を受信する場合には 、第 2高周波スィッチ GSM1800Z1900SW— Aにおいて制御端子 Vc2に、例えば OVを印加してダイオード DDI, DD2をオフし、第 1高周波スィッチ 900SWにおいて 制御端子 Vclに OVを印加してダイオード GDI, GD2をオフすることにより、 GSM90 0系の受信信号力 S第 2送信佃 J人力端子 GSM1800/1900Txに、 GSM1800/19 00系の受信信号が第 1送信側入力端子 GSM900TXに、それぞれ回り込まないよう にし、アンテナ端子 ANTから入力した信号をそれぞれ第 2 ·第 3受信側バランス出力 端子 GSM1900Rx, GSM1800Rx、第 1受信ィ則ノ ランス出力端子 GSM900Rx【こ 出力する。
[0073] GSM1800Z1900系の受信信号を受信する場合、第 3高周波スィッチ 1800Z1
900SW—Bはダイオード DD3, DD4をオンすることにより、受信信号が第 2受信側 バランス出力端子 GSM1900RXに出力される。一方、ダイオード DD3, DD4がオフ しているとき、受信信号は第 3受信側バランス出力端子 GSM1800RXに出力される
[0074] また、ダイプレクサ 20を接続することにより、 GSM1800Z1900系の受信信号が G SM900系に、 GSM900系の受信信号力 SGSM1800/1900系に、それぞれ回り 込まないようにしている。
[0075] (第 2実施例、図 18参照)
第 2実施例は、図 18の等価回路に示すように、 3つの通信システム (GSM900系 及び GSM1800Z1900系)に対応するトリプルバンド対応型の高周波スイッチング モジュール(フロントエンドモジュール)である。
[0076] 本第 2実施例は前記第 1実施例と基本的には同様の構成を有している。異なるの は、第 2高周波スィッチ 1800Z1900SW— Aにおいて、インダクタ DLt2をダイォー ド DDIの力ソードに接続した点にある。この構成においても、インダクタ DLt2はダイ オード DDIのオン時に図 6に示したように遮断周波数を低周波側にシフトさせるとと もにリップルを小さくする機能を有する。
[0077] 本第 2実施例において、他の構成は第 1実施例と同様であり、重複した説明は省略 する。
[0078] (第 3実施例、図 19参照)
第 3実施例は、図 19の等価回路に示すように、 2つの通信システム (GSM900系 及び GSM1800系)に対応するデュアルバンド対応型の高周波スイッチングモジュ ール(フロントエンドモジュール)である。
[0079] 本第 3実施例は、前記第 1実施例において GSM 1900系の回路が省略されるととも に、弾性表面波フィルタ SAW1, SAW2, SAW3が省略されている。そして、第 1高 周波スィッチ 900SWと第 1受信側バランス出力端子 GSM900RXとの間にコンデン サ Cgrが接続され、第 2高周波スィッチ 1800SW— Aと第 2受信側バランス出力端子 GSM1800RXとの間にコンデンサ Cdrが接続されている。また、第 2高周波スィッチ 1800SW— Aのインダクタ DPSL1の一端は、インダクタ DLtl, DLt2の接続点に接 続されている。
[0080] 本第 3実施例においても、インダクタ DLt2はダイオード DDIのオン時に図 6に示し たように遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともにリップルを小さくする機能を有 する。
[0081] (第 4実施例、図 20参照)
第 4実施例は、図 20の等価回路に示すように、 1つの通信システム (GSM1800系 )に対応するシングルバンド対応型の高周波スイッチングモジュール (フロントエンド モジユーノレ)である。
[0082] 本第 4実施例は、前記第 3実施例において GSM900系の回路及びダイプレクサ 2 0が省略されている。本第 4実施例においても、インダクタ DLt2はダイオード DDIの オン時に図 6に示したように遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともにリップルを 小さくする機能を有する。
[0083] (第 5実施例、図 21参照)
第 5実施例は、図 21の等価回路に示すように、 2つの通信システム (GSM900系 及び GSM1800系)に対応するデュアルバンド対応型の高周波スイッチングモジュ ール(フロントエンドモジュール)である。
[0084] 本第 5実施例は前記第 3実施例と基本的には同様の構成を有している。異なるの は、第 2LCフィルタ 1800LPFを省略し、インダクタ DLtlをコンデンサ DCclを介し て接地すること〖こある。そして、本第 5実施例においても、インダクタ DLt2はダイォー ド DDIのオン時に図 6に示したように遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともにリ ップルを小さくする機能を有する。
[0085] (第 6実施例、図 22〜図 27参照)
本第 6実施例は、図 22の等価回路に示すように、 4つの通信システム (GSM系、 D CS系、 PCS系及び WCDMA系)に対応するクヮッドバンド対応型の高周波スィッチ ングモジュール(フロントエンドモジュール)である。
[0086] 本第 6実施例において、 GSM系の送信伝送経路と受信伝送経路は前記第 3実施 例と同様であり、 DCSZPCS系の送信伝送経路と受信伝送経路及び WCDMA系 の受信伝送経路とダイプレクサ 20qとの間に、第 3実施例に示した第 2高周波スイツ チ 1800SW— Aに代えて FETスィッチ(具体的には、 GaAsスィッチ 21)を設けた構 成からなる。
[0087] ダイプレクサ 20qは、前記各実施例で示したインダクタ Ltl, Lt2及びコンデンサ Ct 1, Cul, Ccl, Ct2に加えて、インダクタ DLtlとコンデンサ DCclとからなる並列回 路及びシャントコンデンサ Dculが DCSZPCS系及び WCDMA系に対して追加さ れて 、る。この追加されたローパスフィルタは DCSZPCS系の送信側入力端子 Tx に接続されている DCSZPCS系の第 2LCフィルタ LPFを補うためのものである。
[0088] GaAsスィッチ 21は、端子 Tとの接続関係を各端子 T1〜T4に切り換えることにより 、 DCSZPCS系の送信伝送経路と DCS系の受信伝送経路、 PCS系の受信伝送経 路及び WCDMA系の受信伝送経路を切り換えるものである。この GaAsスィッチ 21 は、 DCSZPCS系の送信時において、前記ダイオード DDIと同様に、図 28 (B)に 示した直列の抵抗 Rとインダクタ Lに対してコンデンサ Cが並列に接続された回路を 形成する。従って、図 28 (C)に示したシャントコンデンサ C1による浮遊容量が形成さ れ、このローパスフィルタはチェビシェフ特性を有することになる。
[0089] そこで、本第 6実施例では、 GaAsスィッチ 21に対してインダクタ DLを直列かつ直 接に接続した。 DCS/PCS系の第 2LCフィルタ LPFは、該インダクタ DL、インダクタ DLt2, DLt3及びインダクタ DLt2と並列に接続されたコンデンサ DCc2からなり、シ ヤントコンデンサ Dcu2, DPTxCを備えている。
[0090] 以上の構成力もなる第 6実施例において、その特徴は、第 2LCフィルタ LPFのイン ダクタ DLが GaAsスィッチ 21の端子 T1に直列かつ直接に接続されていることにある 。インダクタ DLは、図 6 (B) , (C)に示したように、 GaAsスィッチ 21の端子 T1がオン されたときに形成されるローパスフィルタ回路の遮断周波数を低周波側にシフトさせ るとともにリップルを小さく抑える機能を有する。また、 3次高調波の減衰も獲得するこ とができる。図 23 (A)に、インダクタ DLが挿入された場合の減衰特性を示す。図 23 ( B)は、インダクタ DLが挿入されていない場合の減衰特性を比較のために示す。
[0091] このように、インダクタ DLを設けることによって、図 23 (B)に示すように、基本周波 数(1. 75GHz前後)のほぼ 3倍の帯域である 5. 1〜5. 2GHzに生じていたリップル (減衰極の跳ね上がり)を、図 23 (A)に示すように、基本周波数の高次高調波とは関 係ない帯域である 4. 7GHz前後に、基本周波数の 2次高調波(3. 7GHz前後)の減 衰極を変えることなぐ移動させることができる。
[0092] なお、同様の目的として、インダクタ DLを GaAsスィッチ 21の端子 Tとダイプレクサ 2 Oqとの間に直列かつ直接に設けてもよい。また、前記 GaAsスィッチ 21に代えて、 C MOSスィッチなどの FETスィッチを使用することもできる。
[0093] 図 24〜図 26は、本第 6実施例である高周波スイッチングモジュールのセラミック多 層基板を構成する各シート層上にスクリーン印刷などで形成されたコンデンサ電極、 ストリップライン電極などを示している。セラミック多層基板は酸化バリウム、酸ィ匕アルミ -ゥム、シリカを主成分としたセラミックス力もなる第 1〜第 21シート層 71a〜71uを下 力も順次積層し、 1000°C以下の温度で焼成することにより形成される。
[0094] 第 1シート層 71aには種々の外部接続用端子電極が形成され、第 2シート層 71bに はグランド電極 G1が形成されている。第 3シート層 71cにはコンデンサ GC5, Ct2, C ul, GTxCの電極が形成され、第 4シート層 71dにはグランド電極 G2が形成されて いる。第 5シート層 71eにはコンデンサ GC5, GCul, DPTxCの電極が形成され、第 6シート層 71fにはグランド電極 G3が形成されている。第 7シート層 71gにはコンデン サ GRxC, DCul, DCu2の電極が形成されている。
[0095] 第 9シート層 71iにはそれぞれストリップライン電極によってインダクタ Lt2, DLtl, DLt2, DLt3, GSL2が形成されている。第 10シート層 71jにはそれぞれストリップラ イン電極によってインダクタ GLtl, Ltlが形成されている。さらに、第 14シート層 71η にはコンデンサ Ctl, GCclの電極が形成され、第 15シート層 71οにはコンデンサ G Ccl, DCclの電極及びグランド電極 G4が形成されている。
[0096] 第 16シート層 71pにはコンデンサ GCcl, GC5, DCc2, Cclの電極が形成されて いる。第 17シート層 71qにはコンデンサ DCc2の電極及びグランド電極 G5が形成さ れて 、る。第 20シート層 71tにはインダクタ DLが形成されて!、る。
[0097] 第 21シート層 71uの表面は、図 27に示すように、セラミック多層基板 51の表面であ つて、種々の接続用端子電極が形成されている。そして、その表面には、 GaAsスィ ツチ 21、抵抗 Rg、インダクタ GSL1、ダイオード GDI, GD2が搭載されている。
[0098] (他の実施例)
なお、本発明に係る高周波スイッチングモジュール及び高周波回路の周波数特性 調整方法は前記実施例に限定するものではなぐその要旨の範囲内で種々に変更 でさることは勿!^である。
産業上の利用可能性
[0099] 以上のように、本発明は、高周波スイッチングモジュールに有用であり、特に、リップ ルを小さく抑えて所望の周波数特性に調整できる点で優れている。

Claims

請求の範囲
[1] 高周波信号の伝送経路を選択的に切り換える高周波スイッチング素子を含む高周 波スィッチと、インダクタ及びコンデンサを含んで構成され、前記伝送経路における 不要波を除去する π型高周波フィルタとを一体ィヒした高周波スイッチングモジュール において、
前記 π型高周波フィルタと前記高周波スイッチング素子との間に、直列かつ直接に 接続されたインダクタと、
前記高周波スイッチング素子のオン時に形成されるインダクタンス成分及びコンデ ンサ成分と、前記 π型高周波フィルタに含まれるシャントコンデンサとで構成されるチ エピシェフ型ローパスフィルタとを備え、
前記チェビシェフ型ローパスフィルタにより形成される通過帯域の零点であるリップ ルの周波数を fkとしたとき、該周波数 fkは基本波の n (2以上の整数)次高調波減衰 域以外の周波数帯域に含まれること、
を特徴とする高周波スイッチングモジュール。
[2] 前記周波数 fkは 2次高調波減衰域と 3次高調波減衰域との間に位置することを特 徴とする請求の範囲第 1項に記載の高周波スイッチングモジュール。
[3] 前記高周波スィッチは送信信号の伝送経路と受信信号の伝送経路とを選択的に 切り換え、
前記 π型高周波フィルタは、前記送信信号の伝送経路上に配置され、前記送信信 号の高次高調波を除去すること、
を特徴とする請求の範囲第 1項又は第 2項に記載の高周波スイッチングモジュール
[4] 前記高周波スィッチは前記高周波スイッチング素子としてダイオードを含み、 前記 π型高周波フィルタの前記インダクタは前記ダイオードに対して直列かつ直接 に接続されていること、
を特徴とする請求の範囲第 1項ないし第 3項のいずれかに記載の高周波スィッチン グモジユーノレ。
[5] 前記高周波スィッチは前記高周波スイッチング素子として FETスィッチを含み、 前記 π型高周波フィルタの前記インダクタは前記 FETスィッチに対して直列かつ直 接に接続されていること、
を特徴とする請求の範囲第 1項ないし第 3項のいずれかに記載の高周波スィッチン グモジユーノレ。
[6] 前記 π型高周波フィルタは、前記高周波信号の伝送経路上に設けられ、コンデン サと並列に接続され、 LC並列共振回路の一部を構成している第 1のインダクタと、並 列コンデンサを有さず、 LC並列共振回路を構成していない第 2のインダクタとを含ん で構成されたローパスフィルタであり、 LC並列共振回路を構成して 、な 、前記第 2の インダクタが、前記高周波スィッチに対して直列かつ直接に接続されていることを特 徴とする請求の範囲第 1項ないし第 5項のいずれかに記載の高周波スイッチングモジ ユーノレ ο
[7] 前記 π型高周波フィルタの前記インダクタは前記高周波スィッチの一端とその一端 が接続される他の素子との最短電気長の 2倍以上の電気長を有していることを特徴と する請求の範囲第 1項ないし第 6項のいずれかに記載の高周波スイッチングモジュ 一ノレ。
[8] 前記 π型高周波フィルタの前記インダクタは、ストリップラインとして、複数の誘電体 層を積層してなるモジュール素体に内蔵されていることを特徴とする請求の範囲第 1 項な 、し第 7項の 、ずれかに記載の高周波スイッチングモジュール。
[9] 前記 π型高周波フィルタの前記インダクタは、チップ部品として、複数の誘電体層 を積層してなるモジュール素体に実装されていることを特徴とする請求の範囲第 1項 な 、し第 7項の 、ずれかに記載の高周波スイッチングモジュール。
[10] 単一波長の又は複数の異なる波長の高周波信号を伝送する信号伝送経路を選択 的に切り換えることを特徴とする請求の範囲第 1項ないし第 9項のいずれかに記載の 高周波スイッチングモジュール。
[11] 高周波スイッチング素子と、該高周波スイッチング素子の前段又は後段にてシャン ト接続されたシャントコンデンサとを含む高周波回路の周波数特性調整方法であって 前記高周波スイッチング素子に対して直列かつ直接にインダクタを付加することに より、該高周波スイッチング素子のオン時に形成されるインダクタンス成分と前記コン デンサのキャパシタンス成分と前記シャントコンデンサとで形成されるチェビシェフ型 ローパスフィルタ回路の遮断周波数を低周波側にシフトさせるとともに、通過帯域の 零点であるリップルの周波数を小さくし、かつ、
前記リップルの周波数を fkとしたとき、該周波数 fkは基本波の n (2以上の整数)次 高調波減衰域以外の周波数帯域に含まれるように、前記インダクタンスの値を調整 すること、
を特徴とする高周波回路の周波数特性調整方法。
[12] 前記周波数 fkは 2次高調波減衰域と 3次高調波減衰域との間に位置することを特 徴とする請求の範囲第 11項に記載の高周波回路の周波数特性調整方法。
[13] 前記インダクタは前記高周波スイッチング素子の一端とその一端が接続される素子 との最短電気長の 2倍以上の電気長を有して 、ることを特徴とする請求の範囲第 11 項又は第 12項に記載の高周波回路の周波数特性調整方法。
[14] 前記素子は前記高周波スイッチング素子の前段又は後段にてシャント接続された 前記コンデンサであることを特徴とする請求の範囲第 13項に記載の高周波回路の周 波数特性調整方法。
[15] 前記高周波スイッチング素子はダイオードであり、前記インダクタは該ダイオードに 対して直列かつ直接に接続されて 、ることを特徴とする請求の範囲第 11項な 、し第 14項のいずれかに記載の高周波回路の周波数調整方法。
[16] 前記高周波スイッチング素子は FETスィッチであり、前記インダクタは該 FETスイツ チに対して直列かつ直接に接続されていることを特徴とする請求の範囲第 11項ない し第 14項のいずれかに記載の高周波回路の周波数特性調整方法。
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