WO2004033997A1

WO2004033997A1 - 測定装置及び測定結果の表示方法

Info

Publication number: WO2004033997A1
Application number: PCT/JP2003/013059
Authority: WO
Inventors: Gentarou Ishihara; Toru Mori
Original assignee: Yokogawa Electric Corporation
Priority date: 2002-10-10
Filing date: 2003-10-10
Publication date: 2004-04-22
Also published as: JP4254193B2; DE10393448T5; JP2004132815A

Abstract

測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘って測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する測定装置であって、測定範囲を設定する測定範囲設定手段Mと、測定範囲とは別に測定結果の表示範囲を設定する表示範囲設定手段Vと、測定範囲設定手段Mで設定された測定範囲に亘って測定された測定結果のうち、表示範囲設定手段Vで設定された表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成する測定画面生成手段6と、該測定画面生成手段6によって生成された測定画面を表示する表示手段7とを具備する。このような構成により、測定スケールを変更することなく測定結果の表示範囲を可変することにより測定装置の使い勝手を向上させることができる。

Description

明細書測定装置及び測定結果の表示方法技術分野

本発明は、測定装置及び測定結果の表示方法に関する。背景技術

周知のように、光信号に含まれる波長成分及び当該波長成分のレベル（光強度）を測定する測定装置として光スぺクトラムアナライザがある。光スぺクトラムァナライザは、光信号を分光器を用いて細かい波長成分に分光し、該各波長成分を個別に受光することにより各々の光強度を電気信号に変換し、これら電気信号に基づいて波長と光強度との関係を横軸（波長軸）と縦軸（光強度軸）とで示す測定画面を生成して画像表示するものである。このような光スぺクトラムアナライザには、横軸を波長に代えて光周波数として表示するものがある。

このような光スぺクトラムアナライザを用いて光信号の測定を行う場合、測定者は、測定しょうとする波長範囲を操作入力することにより光スぺクトラムアナライザの測定スケール（測定範囲）を設定し、その上で測定開始指示を操作入力することにより上記測定スケールに亘る光強度を光スぺクトラムアナライザに測定させる。光スペクトラムアナライザは、上記測定スケールに亘る光強度を測定が完了すると、内部メモリに記憶された測定結果に基づいて測定画面を生成して画像表示する。なお、このような光スペクトラムアナライザについては、例えば特許第 2 8 7 7 0 9号公報のような公知文献に記載されている。ところで、上記従来の光スぺクトラムアナライザでは、測定実行後に測定スケールを変更することによって既得の測定結果の表示範囲を変更する機能が備えられている。例えば、表示範囲として測定実行時の測定スケールよりも広い範囲が操作入力された場合、光スペクトラムアナライザは、測定結果の波長範囲を縮小表示する。すなわち、この場合、測定画面は、波長軸上に表示される波長範囲が測定実行時の測定スケールよりも広い範囲に設定されるので、測定結果の波長範囲が圧縮された状態のものとなる。これに対して、表示範囲として測定実行時の測定スケールよりも狭い範囲が操作入力された場合には、光スぺクトラムアナラィザは、この表示範囲として指定された測定結果の一部を拡大表示する。すなわち、この場合には、測定画面は、波長軸上に表示される波長範囲が測定実行時の測定スケールよりも狭い範囲に設定されるので、測定結果の波長範囲が拡大された状態のものとなる。

しかしながら、このような従来の光スペクトラムアナライザでは、測定結果の表示範囲、つまり測定画面として表示する測定結果の波長範囲を設定するために測定スケールが変更されてしまうので使い勝手が悪い。すなわち、先の測定スケ一ルで再測定を行う必要がある場合には、先の測定スケールと同一の波長範囲を設定し直す必要があるため、操作が煩わしい。

特に近年、光スペクトラムアナライザの測定対象の一例である光情報通信の信号光においては、インタ一ネットなどの普及による光情報通信の伝送情報量の増大に伴い、複数の波長の異なる光が多重化された信号光（WD M： Wavelength Division Multiplex) の利用が急激に広がっている。 WD Mを利用した光通信では、波長の異なる光それぞれをチャネルとして扱い、多重化するチャネル数を増やすことにより伝送容量を増やしている。このような光情報通信で用いられる信号光に含まれる波長は、チャネル数の増大と共に広範囲となっている。そして、このような信号光の光スペクトラムを光スペクトラムアナライザにより測定する場合、測定者は、複数のチャネルを一度に測定するために測定スケールを広く設定して測定を行う。そして、測定を行った後に、個々のチャネルの光レベルゃスぺクトラム幅などを解析するために、個々のチャネルを拡大して表示する。

しかし、従来の光スペクトラムアナライザでは、測定後に個々のチャネルを拡大して表示するためには、表示を行う波長範囲に測定スケールを変更する必要があるため、広い波長範囲を測定後、個々のチャネルを拡大して表示し、広い波長範囲を再び測定する必要がある場合には、測定スケールを再度設定し直さねばならず、使い勝手が悪い。すなわち、従来技術では、測定スケールを変更することなく、表示範囲の変更、つまり波長軸の縮小表示や拡大表示を行うことができないという問題点がある発明の開示

本発明は、上述する問題点に鑑みてなされたもので、測定スケールを変更することなく測定結果の表示範囲を可変することにより測定装置の使い勝手を向上させることを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明では、測定装置に係わる第 1の手段として、測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘つて測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する測定装置であって、測定範囲を設定する測定範囲設定手段（M) と、測定範囲とは別に測定結果の表示範囲を設定する表示範囲設定手段（V) と、測定範囲設定手段（M) で設定された測定範囲に亘つて測定された測定結果のうち、表示範囲設定手段（V) で設定された表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成する測定画面生成手段（6 ) と、該測定画面生成手段（6 ) によって生成された測定画面を表示する表示手段（7 ) とを具備するという構成を採用する。

また、測定装置に係わる第 2の手段として、上記第 1の手段において、測定信号として入力される電気信号について、その電気信号レベルを当該電気信号の特定属性である周波数に関する所定の周波数範囲に亘つて測定する電気スぺクトラムアナライザであるという構成を採用する。

測定装置に係わる第 3の手段として、上記第 1の手段において、測定信号として入力される光信号について、その光強度を当該光強度の特定属性である周波数あるいは波長に関する所定の周波数範囲あるいは波長範囲に亘つて測定する光スぺクトラムアナライザであるという構成を採用する。

測定装置に係わる第 4の手段として、上記第 1〜第 3いずれかの手段において、表示範囲設定手段（V) は、測定範囲設定手段（M) で設定された測定範囲を表示範囲として取り込むという構成を採用する。

測定装置に係わる第 5の手段として、上記第 1〜第 4いずれかの手段において、測範囲を変更せずに測定を繰り返し実行している状態でも、表示範囲が可変であるという構成を採用する。

測定装置に係わる第 6の手段として、上記第 1〜第 4いずれかの手段において、表示範囲が測定結果に対する解析処理を行う際の解析対象となる周波数範囲あるいは波長範囲であるという構成を採用する。

測定装置に係わる第 7の手段として、上記第 1〜第 4いずれかの手段において、測定結果に対する解析処理の結果である周波数値あるいは波長値やレベルに連動して表示範囲を変更するという構成を採用する。

測定装置に係わる第 8の手段として、上記第 1〜第 5いずれかの宇段において、表示範囲設定手段（V) は、測定範囲設定手段（M) において測定範囲が変更されると、当該変更された測定範囲を表示範囲として取り込むという構成を採用する。

測定装置に係わる第 9の手段として、上記第 1〜第 6いずれかの手段において、表示範囲設定手段（V) はポインティングデバイスを備え、該ポインティングデバイスで測定画面内に指定された始点及び終点で規定される領域を表示範囲として設定するという構成を採用する。

測定装置に係わる第 1 0の手段として、上記第 1〜第 7いずれかの手段において、表示範囲が測定範囲の一部として表示範囲設定手段（V) に設定された場合には、測定画面生成手段（6 ) は、表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成すると共に、測定範囲の測定結果を用いて子画面としての測定画面を生成するという構成を採用する。

測定装置に係わる第 1 1の手段として、上記第 1 0の手段において、子画面の表示位置、表示サイズぁるいは表示透過率を可変とするという構成を採用する。測定装置に係わる第 1 2の手段として、上記第 1 0の手段において、子画面には表示範囲を示す領域が枠線で表示されるという構成を採用する。

測定装置に係わる第 1 3の手段として、上記第 1 2の手段において、子画面内における枠線の位置を表示範囲設定手段（V) を用いて移動させることにより表示範囲を可変設定するという構成を採用する。

一方、本発明では、測定結果の表示方法に係わる第 1の手段として、測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘つて測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する方法であって、

測定結果の表示範囲を測定範囲に対して個別設定し、このような表示範囲に基づいて測定結果を画像表示するという構成を採用する。

また、測定結果の表示方法に係わる第 2の手段として、上記第 1の手段において、測定信号として入力される電気信号について、その電気信号レベルを当該電気信号の特定属性である周波数に関する所定の周波数範囲に亘つて測定するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 3の手段として、上記第 1の手段において、測定信号として入力される光信号について、その光強度を当該光強度の特定属性である周波数あるいは波長に関する所定の周波数範囲あるいは波長範囲に亘つて測定するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 4の手段として、上記第 1〜第 3いずれかの手段において、測定範囲を変更せずに測定を繰り返し実行している状態でも、表示範囲が可変であるという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 5の手段として、上記第 1〜第 3いずれかの手段において、表示範囲が測定結果に対する解析処理を行う際の解析対象となる周波数範囲あるいは波長範囲であるという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 6の手段として、上記第 1〜第 3いずれかの手段において、測定結果に対する解析処理の結果である周波数値あるいは波長値やレベルに連動して表示範囲を変更するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 7の手段として、上記第 1〜第 6いずれかの手段において、ポインティングデバイスで測定画面内に指定された始点及び終点で規定される領域を表示範囲として設定するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 8の手段として、上記第 1〜第 7いずれかの手段において、表示範囲が測定範囲の一部として設定された場合には、表示範囲に対応する測定画面を画像表示すると共に、これに加えて測定範囲に対応する測定画面を子画面として画像表示するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 9の手段として、上記第 8の手段において、子画面の表示位置、表示サイズぁるいは表示透過率を可変とするという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 1 0の手段として、上記第 8の手段において、子画面に表示範囲を示す領域を枠線で表示するという構成を採用する。

測定結果の表示方法に係わる第 1 1の手段として、上記第 1 0の手段において、子画面内における枠線の位置を移動させることにより表示範囲を可変設定するという構成を採用する。図面の簡単な説明

図 1は、本発明の一実施形態に係わる光スペクトラムアナライザの機能構成を示すブロック図である。

図 2は、本発明の一実施形態に係わる光スペクトラムアナライザの動作を示す第 1のフローチャートである。

図 3は、本発明の一実施形態に係わる光スぺクトラムアナライザの動作を示す第 2のフローチャートである。

図 4は、本発明の一実施形態表において表示部に表示される表示画面の模式図である。

図 5 Aおよび 5 Bは、本発明の一実施形態において表示部に表示される表示画面の第 2の模式図である。

図 6 A〜6 Cは、本発明の一実施形態における表示スケールの設定を示す第 1 の模式図である。

図 7 Aおよび 7 Bは、本発明の一実施形態における表示スケールの設定を示す第 2の模式図である。発明を実施するための最良の形態

以下、図面を参照して、本発明に係わる測定装置及び測定結果の表示方法の一実施形態について説明する。なお、本実施形態は、本発明を光スペクトラムアナライザに適用したものである。

図 1は、本光スペクトラムアナライザの機能構成を示すブロック図である。この図において、符号 1は測定スケール入力部、 2は測定スケール保持部、 3は測定部、 4は表示スケ一ル入力部、 5は表示スケール保持部、 6は表示演算部（測定画面生成手段)、また 7は表示部である。なお、これら各構成要素のうち、測定スケール入力部 1と測定スケール保持部 2とは測定スケール設定手段 Mを構成し、表示スケール入力部 4と表示スケール保持部 5とは表示スケール設定手段 Vを構成している。

測定スケール入力部 1は、測定者が測定スケールとしての測定波長範囲を操作入力するためのものであり、例えばテンキー等のハードゥエアキ一やマウス等のポインティングデバイスである。測定スケール保持部 2は、上記測定スケール入力部 1で測定者によって入力された測定スケールを保持するものであり、例えば半導体メモリ等の記憶装置である。測定部 3は、測定対象物から測定信号として入力される光信号（測定光）の光強度と波長との関係を示す光スペクトラム特性を測定スケール保持部 2に保持されてた測定スケールに亘つて測定するものであり、例えば測定光を各波長成分に分光する分光器と各波長成分の光強度を電気信号（検出信号）として検出する光検出器から構成されている。

表示スケール入力部 4は、測定者が表示スケールとしての表示波長範囲を操作入力するためのものであり、例えばテンキー等のハ一ドゥエアキ一やマウス等のボインティングデバイスである。表示スケール保持部 5は、上記表示スケール入力部 4で測定者によって入力された表示スケールを保持するものであり、例えば半導体メモリ等の記憶装置である。

このように、本光スペクトラムアナライザでは、このような表示スケール入力部 4と表示スケール保持部 5とから構成される表示スケール設定手段 Vが、上述した測定スケール入力部 1と測定スケール保持部 2とから構成される測定スケ一ル設定手段 Mとは別に設けられている。なお、この表示スケール設定手段 Vを測定スケール設定手段 Mに対して別に設けるという構成は、あくまで両者を機能的に分けるということであり、単一のハードウエアを表示スケール設定手段 Vと測定スケール設定手段 Mとにモード切替することによって実現しても良い。

表示演算部 6は、測定部 3によって測定された光スペクトラム特性の測定結果のうち、上記表示スケール保持部 5に保持されている表示スケールに該当する波長範囲の測定結果を用いて測定画面を生成するものである。このような表示演算部 6は、例えば専用の測定画面生成用プログラムにしたがって動作する中央演算装置（C P U) から構成されている。表示部 7は、表示演算部 6から入力された測定画面を画像表示するものであり、例えば液晶ディスプレイや C R T装置等でめる。

次に、このように構成され广こ本光スペクトラムアナライザの動作について、図 2〜図 7 Bをも参照して詳しく説明する。

図 2は、本光スペクトラムアナライザの動作例を示すフローチャート図である。本光スぺクトラムアナライザを用いて測定光の光スぺクトラム特性を測定する場合、測定者は、測定スケール入力部 1を用いて測定スケールとしての測定波長範囲を当該光スペクトラムアナライザに入力する。本光スペクトラムアナライザは、この測定波長範囲が測定スケール入力部 1から入力されると（ステップ S 1 )、当該測定波長範囲を測定スケール保持部 2に保持させる。そして、測定者が操作部 (図示略）を操作することにより測定開始指令が入力されると（ステップ S 2)、測定部 3は、測定スケール保持部 2に保持された測定波長範囲に亘る各波長の光強度を測定する（ステップ S 3)。

表示演算部 6は、測定部 3から入力される各波長の光強度を順次取り込んで各波長に対応する光強度データとして内部メモリに記憶し、さらに表示スケール保持部 5に保持されている表示スケールに該当する波長範囲の光強度データを内部メモリから読み出して測定画面データを生成する（ステップ S 4)。そして、表示演算部 6は、このように生成した測定画面データを表示部 7に出力することによつて測定画面を更新させる（ステップ S 5)。この測定画面は、各波長における光強度の関係を示すものであり、横軸が各波長を示す波長軸、縦軸が各波長の光強度を示す光強度軸である。

ここで、測定者は、測定画面における波長軸の伸縮を行いたい場合には、上記操作部を操作することにより表示スケールの変更指示を本光スぺクトラムアナラィザに入力する。表示演算部 6は、この表示スケールの変更指示が操作部から操作入力され（ステップ S 6)、さらに操作者が表示スケール入力部 4を操作することによって表示スケール保持部 5には新たな表示波長範囲が保持されると（ステップ S 7)、この新たな表示波長範囲に該当する光強度デ"タを用いて測定画面デ一夕を新たに生成し（ステップ S 4)、この新たな測定画面データを表示部 7に出力することによって測定画面を更新させる（ステップ S 5)。

本光スペクトラムアナライザでは、測定スケールを測定スケール保持部 2に保持する一方、表示スケールを表示スケール保持部 5に保持する。すなわち、測定スケールと表示スケールとを個別に設定するので、表示スケールを変更しても測定スケールは変更されることはない。したがって、測定スケールの設定を変更することなく表示スケールのみを独立に変更する、つまり波長軸の伸張を自由に行うことができる。

なお、本光スペクトラムアナライザは、表示スケール入力部 4を操作することによって、測定の実行中においても表示範囲を可変設定することができるように構成されている。すなわち、測定光の測定を所定の測定スケールで繰り返し実行している最中であっても、表示スケールを任意の波長範囲に変更して測定結果を表示部 7に表示させることができる。

次に、図 3は、本光スペクトラムアナライザの他の動作例を示すフローチヤ一トである。

上記図 2に示した動作例では、最初に測定スケールを設定して測定を実行したときの表示スケールが不定となっている。つまり、測定スケールを設定した後に測定を実行した際に、表示スケールが設定されていなくても測定画面データを生成するが、この際、表示スケールが設定されてないので不定である。

これに対して、図 3に示す動作例では、このような表示スケールの不定状態を回避して測定画面を表示部 7に表示する。すなわち、表示演算部 6は、測定開始指令が操作部から入力され（ステップ S 10)、さらに測定開始の指示が操作部から入力されると（ステップ S ll)、その後に入力された新たな測定スケール（新測定スケール）が当該入力直前の測定スケール（旧測定スケール）と異なるか否かを判定する（ステップ S 12)。ここで、新測定スケールと旧測定スケールが異なる場合は、表示スケールに測定スケールを設定することにより表示スケールをリセットする（ステップ S 13)。この一方、新測定スケールと旧測定スケ一ルが同じ場合には、表示スケールのリセットは行わずに、次の処理である測定を実行する（ステップ S 14)。なお、このステップ S 14以降の処理は、上述した図 2の場合と同様出る。

このような動作例によれば、最初に測定スケールを設定して測定を実行したとき、旧測定スケールは不定であるために新測定スケールと異なるため、表示スケ —ルは測定スケールによりリセットされる。このため、最初に測定スケールを設定して測定を実行したときの表示スケールは不定とならない。また、測定スケールを変更して測定を実行したときに、自動的に表示スケールが測定スケールによりリセットされるため、測定実行後に表示スケールを変更しなくとも、測定実行後に測定波長範囲の全光強度デー夕が自動的に測定画面に表示される。

ここで、図 4は、表示部 7の表示画面の一部表示領域、すなわち波形表示部 8 の模式図である。表示演算部 6によって生成された測定画面は、図示するように波形表示部 8に、横軸を波長（Wavelength) (nm) 縦軸を各波長の光強度 (LeveD(dBm)ととする光スペクトラム特性として表示される。

この図 4において、上段の図は、測定スケールを波長 1540nmから波長 1560nm に設定して測定した場合の測定画面である。表示スケールは、測定実行時に測定スケールによりリセットされるため、表示スケールは、測定スケールと同じ波長 1540nmから波長 1560nmである。この測定画面では、波長 1540nmから波長 1560nmの波長範囲に含まれる波長の異なる 8つの信号成分が表示されている。一方、下段の図は、上記信号成分の中の 1つを拡大して表示をしたものであり、上段の図に示す測定画面が表示部 7に表示された状態で、測定スケールを変更せずに表示スケ一ルのみを波長 1548nmから波長 1550nmに設定し直して表示した場合の測定画面である。

このように、図 3に示した動作例によれば、測定スケールを変更することなく、表示スケールのみを変更することで波形の波長軸方向の拡大表示を行うことができる。なお、図 4の下段では、表示スケールを測定スケールより狭く設定したが、表示スケールを測定スケールより広くすることで波形の縮小表示を行うことも可能である。また、光スペクトラムアナライザなどの測定器には、測定結果に対して光強度のピーク値やスペクトラム幅などの解析処理を行う機能が備わっているが、その解析処理の処理対象データの範囲として表示スケールを使用することで、解析処理を行う範囲を波形表示部 8に表示されている範囲に限定することができる。また、解析処理の結果得られた波長値やレベル値に連動して表示スケールを変更することもできる。

さらに、図 5 Aおよび 5 Bは、上記表示画面の他の例を示す模式図である。この図 5 Aは、測定スケ一ルを波長 1540nmから波長 1560nmと設定して測定を実行した後に、表示スケールを波長 1548nmから波長 1550nmに設定した際に波形表示部 8に表示される測定画面である。この測定画面には、表示スケールの波長 1548nmから波長 1550nmの波形が表示される一方、測定された全波長範囲つまり波長 1540nmから波長 1560nmに亘る全光強度デ一夕が波形全体表示部 9として子画面表示されている。このように、波形表示部 8に測定した光強度デ一夕の一部を拡大して表示をすると共に、波形全体表示部 9に光強度データの全体を表示することにより、両者を比較しながら測定結果の観察を行うことができる。なお、上記波形全体表示部 9を表示部 7に表示するか否かは、操作部からの操作入力によって測定者が任意に設定可能である。また、波形全体表示部 9を表示する際の表示透過率や表示位置や表示サイズも、操作部からの操作入力によって測定者が任意に設定を行うことが可能である。なお、波形表示部 8の上に波形全体表示部 9を重ねて表示する場合において、波形全体表示部 9の表示透過率を測定者が設定することによって、下に表示されている波形表示部 8を透かして表示しても良い。

図 5 Bは、子画面としての波形全体表示部 9を拡大した図である。この図に示すように、波形全体表示部 9には、波形表示部 8に拡大表示されている範囲が表示範囲表示部 1 0として示されている。この表示範囲表示部 1 0は、全体波形表示部 9の中に例えば点線の四角い枠線として表示される。このように全体波形表示部 9の中に表示範囲表示部 1 0を表示することで、波形表示部 8に測定結果の一部を拡大して表示している場合に、測定スケールの全波長範囲に亘る光強度デ —夕のどの部分を表示しているかを測定者は容易に確認することができる。

次に、図 6 A〜6 Cは、本光スペクトラムアナライザにおける表示スケールの設定方法を示す模式図である。この図 6 Aは、測定スケールを波長 1540mnから波長 1560mnに設定して測定した時に波形表示部 8に表示される測定画面である。この波形表示部 8において、測定者は、表示スケール入力部 4のマウスを用いて表示スケールの範囲の始点と終点を指定することにより表示スケールを設定する。すなわち、測定者は、図示するようにマウスカーソル 1 1を表示スケールとして設定したい範囲の始点に配置し、さらに図 6 Bに示すようにマウスのポタンをドラッグしながら表示スケ一ルとして設定したい範囲の始点の位置までマウス力 —ソル 1 1を移動させてマウスのポタンを離す。この結果、波形表示部 8には、図 6 Cに示すように、マウスカーソル 1 1の始点と終点とによって規定される領域 1 2が拡大表示されると共に、全体波形表示部 9が子画面表示される。このように表示スケール入力部 4としてマウスを用いることにより、波長軸方向の拡大表示だけではなく、レベル軸方向の拡大表示を簡単に行うことができる。

ここで、全体波形表示部 9には、上記マウスによって指定された始点と終点とによって規定された領域 1 2に対応する表示範囲表示部 1 0が表示される。なお、このような始点と終点の指定は、表示スケール入力部 4にテンキーを用いることにより縦軸及び/あるいは横軸を数値指定するようにしても良い。例えば、横軸の始点波長と終点波長と（つまり波長範囲）を数値によって設定したり、あるいは縦軸の下限光強度と上限光強度と（つまり光強度範囲）を数値によって設定しても良い。

図 7 Aおよび 7 Bは、本光スぺクトラムアナライザにおける表示スケールの別の設定方法を示す図である。図 7 Aは、全体波形表示部 9の拡大図である。この全体波形表示部 9には、上述したように測定結果の表示範囲を表す表示範囲表示部 1 0が表示される。このような状態の全体波形表示部 9において表示スケールを設定する場合、測定者は、図示するようにマウスカーソル 1 1を表示範囲表示部 1 0の内側に位置設定し、マウスのポタンをドラッグする。この結果、波形表示範囲部 1 0は、図 7 Bに示すようにマウスカーソル 1 1の移動に併せて縦横サィズを保ったまま移動する。

そして、測定者が波形表示部 8に表示したい場所に表示範囲表示部 1 0を移動させたところでマウスのポタンを離すと、波形表示部 8には、表示範囲表示部 1 0に対応した領域が表示される。このように、全体波形表示部 9の中でのマウス操作により、表示スケールを変更することができる。なお、上記実施形態は、本発明を光スペクトラムアナライザに適用したものであるが、本発明は、このような光スペクトラムアナライザだけではなく、例えば電気信号の周波数特性を測定する電気スペクトラムアナライザにも適用可能である。産業上の利用の可能性

以上説明したように、本発明によれば、測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘つて測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する測定装置であって、測定範囲を設定する測定範囲設定手段と、測定範囲とは別に測定結果の表示範囲を設定する表示範囲設定手段と、測定範囲設定手段で設定された測定範囲に亘つて測定された測定結果のうち、表示範囲設定手段で設定された表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成する測定画面生成手段と、該測定画面生成手段によって生成された測定画面を表示する表示手段とを具備するので、測定スケールを変更することなく測定結果の表示範囲を可変することが可能であり、よって測定装置の使い勝手を向上させることができる。

Claims

請求の範囲

1 . 測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘つて測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する測定装置であって、

前記測定範囲を設定する測定範囲設定手段（M) と、

前記測定範囲とは別に前記測定結果の表示範囲を設定する表示範囲設定手段 (V) と、

前記測定範囲設定手段（M) で設定された測定範囲に亘つて測定された測定結果のうち、前記表示範囲設定手段（V) で設定された表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成する測定画面生成手段（6 ) と、

該測定画面生成手段（ 6 )によって生成された測定画面を表示する ¾示手段（ 7 ) と

を具備することを特徴とする測定装置。

2 . 測定信号として入力される電気信号について、その電気信号レベルを当該電気信号の特定属性である周波数に関する所定の周波数範囲に亘つて測定する電気スぺクトラムアナライザであることを特徴とする請求項 1記載の測定装置。

3 . 測定信号として入力される光信号について、その光強度を当該光強度の特定属性である周波数あるいは波長に関する所定の周波数範囲あるいは波長範囲に亘つて測定する光スぺクトラムアナライザであることを特徴とする請求項 1記載の測定装置。

4. 表示範囲設定手段（V) は、測定範囲設定手段（M) で設定された測定範囲を表示範囲として取り込むことを特徴とする請求項 1〜 3いずれかに記載の測定装置。

5 . 測定範囲を変更せずに測定を繰り返し実行している状態でも、表示範囲が可変であることを特徴とする請求項 1〜 4いずれかに記載の測定装置。

6 . 表示範囲が測定結果に対する解析処理を行う際の解析対象となる周波数範囲あるいは波長範囲であることを特徴とする請求項 1〜4いずれかに記載の測定装置。

7 . 測定結果に対する解析処理の結果である周波数値あるいは波長値やレベルに連動して表示範囲を変更することを特徴とする請求項 1〜 4いずれかに記載の測定装置。

8 . 表示範囲設定手段（V) は、測定範囲設定手段（M) において測定範囲が変更されると、当該変更された測定範囲を表示範囲として取り込むことを特徴とする請求項 1〜 7いずれかに記載の測定装置。

9 . 表示範囲設定手段（V) はポインティングデバイスを備え、該ポインティングデバイスで測定画面内に指定された始点及び終点で規定される領域を表示範囲として設定することを特徴とする請求項 1〜 8いずれかに記載の測定装置。

1 0 . 表示範囲が測定範囲の一部として表示範囲設定手段（V) に設定された場合には、測定画面生成手段（6 ) は、表示範囲の測定結果を用いて測定画面を生成すると共に、測定範囲の測定結果を用いて子画面としての測定画面を生成することを特徴とする請求項 1〜 9いずれかに記載の測定装置。

1 1 . 子画面の表示位置、表示サイズあるいは表示透過率を可変とすることを特徴とする請求項 1 0記載の測定装置。

1 2 . 子画面に表示範囲を示す領域を枠線で表示することを特徴とする請求項 1 0記載の測定装置。

1 3 . 子画面内における枠線の位置が移動可能であることにより表示範囲を可変設定することを特徴とする請求項 1 2記載の測定装置。

1 4. 測定対象物から取得した測定信号に基づいて、当該測定信号に含まれる所定の物理量を当該物理量の特定属性に関する所定の測定範囲に亘つて測定し、その測定結果を測定画面として画像表示する方法であって、

測定結果の表示範囲を測定範囲に対して個別設定し、このような表示範囲に基づいて測定結果を画像表示する

ことを特徴とする測定結果の表示方法。

1 5 . 測定信号として入力される電気信号について、その電気信号レベルを当該電気信号の特定属性である周波数に関する所定の周波数範囲に亘つて測定することを特徴とする請求項 1 4に記載の測定結果の表示方法。

1 6 . 測定信号として入力される光信号について、その光強度を当該光強度の特定属性である周波数あるいは波長に関する所定の周波数範囲あるいは波長範囲に亘つて測定することを特徴とする請求項 1 4に記載の測定結果の表示方法。

1 7 . 測定範囲を変更せずに測定を繰り返し実行している状態でも、表示範囲が可変であることを特徴とする請求項 1 4〜1 6いずれかに記載の測定結果の表示方法。

1 8 . 表示範囲が測定結果に対する解析処理を行う際の解析対象となる周波数範囲あるいは波長範囲であることを特徴とする請求項 1 4〜1 6いずれかに記載の測定結果の表示方法。

1 9 . 測定結果に対する解析処理の結果である周波数値あるいは波長値やレベルに連動して表示範囲を変更することを特徴とする請求項 1 4〜 1 6いずれかに記載の測定結果の表示方法。

2 0 . ボインティングデバイスで測定画面内に指定された始点及び終点で規定される領域を表示範囲として設定することを特徴とする請求項 1 4〜1 9いずれかに記載の測定結果の表示方法。

2 1 . 表示範囲が測定範囲の一部として設定された場合には、表示範囲に対応する測定画面を画像表示すると共に、これに加えて測定範囲に対応する測定画面を子画面として画像表示することを特徴とする請求項 1 4〜2 0いずれかに記載の測定結果の表示方法。

2 2 . 子画面の表示位置、表示サイズあるいは表示透過率を可変とすることを特徵とする請求項 2 1記載の測定装置。

2 3 . 子画面に表示範囲を示す領域を枠線で表示することを特徴とする請求項 2 1記載の測定結果の表示方法。

2 4 . 子画面内における枠線の位置を移動させることにより表示範囲を可変設定することを特徴とする請求項 2 3記載の測定結果の表示方法。