CN100428003C - 液晶显示面板及测试其的探针 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种液晶显示面板，其主要在液晶显示面板的一基板中具有一显示区及一***线路区。在***线路区具有多个测试垫，该测试垫间以错位排列的方式形成，并以n个测试垫作一循环排列，分成n个测试垫群，每一测试垫群的该测试垫平行排列配置，其中，n为大于等于2的正整数，该测试垫与一测试装置接触，该测试装置包括多个感测垫，分别对应测试该测试垫群，以测试该液晶显示面板，该感测垫位于该测试装置中包含的薄材的一侧并电性连接该测试装置中的多个导线。本发明还包括一测试此种液晶显示面板的探针。本发明可降低测试成本，以及提高液晶显示器制作过程中的晶胞加工阶段的测试效率，并且实现可以在完成晶胞加工阶段之后测试。

Description

液晶显示面板及测试其的探针

技术领域

本发明涉及一种液晶显示面板及测试其的探针，特别是涉及一种适用于降低测试成本及重复测试液晶显示面板的液晶显示面板及测试其的探针。

背景技术

一般在制作液晶显示器的前段过程中，使用外延的方法在一基板上形成数百万颗的薄膜晶体管以作为控制单元，然而，若有部分的薄膜晶体管在制作时质量不如预期，导致无法表现出其开关控制特性，则会产生如亮点及暗点的缺陷，大幅的降低液晶显示器的质量。因此，必须有效率的对薄膜晶体管进行测试，以维持液晶显示器的质量。

请参考图1，为公知的液晶显示器测试线路示意图。在液晶显示器的基板上包含了多条数据线11、多数条栅极线12、两个数据短路杆13以及两个栅极短路杆14。此两个数据短路杆13分别连接至奇数条的数据线111及偶数条的数据线112，而两个栅极短路杆14分别连接至奇数条的栅极线121及偶数条的栅极线122，最后，将数据短路杆13以与栅极短路杆14的一端分别连接至相对应的测试垫15、16，以供测试装置的探测端接触进行测试。此种方式为2D2G(即两条数据线11以及两极栅极线12作测试)的测试线路。当进行测试时，测试装置可借助多个探测端与相对应的测试垫15、16相接触后，将测试信号经数据短路杆13与栅极短路杆14送入特定的多个薄膜晶体管中以进行测试。在此测试方法中，由于任意相邻的两条数据线11或是栅极线12均没有连接至相同的短路杆。因此，当任意相邻的两条数据线11或是栅极线12在制作中已短路，借助此方法可将此制造瑕疵测试出来。

再有，另一种公知液晶显示器测试线路，请参考图2，同样的在液晶显示器的基板上包含了多条数据线11、多条栅极线12、三个数据短路杆17以及两个栅极短路杆14。三个数据短路杆17分别连接至3m+1、3m+2及3m+3的数据线113、114、115，其中m为零或正整数。而两个栅极短路杆14分别连接至奇数条的栅极线121及偶数条的栅极线122。最后将数据短路杆17以与栅极短路杆14一端分别连接至相对应的测试垫18、16，此种方式为3D2G(即三条数据线11以及两极栅极线12作测试)的测试线路。当进行测试时，测试装置借助多个探测端与相对应的测试垫16、18相接触后，将测试信号经数据短路杆17与栅极短路杆14送入特定的薄膜晶体管中以进行测试。此测试方式将数据线分类成与基本原色(红色、绿色、蓝色)相对应，经特定的数据短路杆输入测试信号后输出特定的基本原色。

但是，无论是图1中2D2G或是图2中3D2G的测试线路方式，均无法有效的同时提升液晶显示器制作时阵列(Array)加工阶段及晶胞(Cell)加工阶段的测试效率。此外，在线路测试完之后均会将短路杆，也就是数据短路杆与栅极短路杆切断，此种方式在短路杆切断之后无法再重新测试。即当要在液晶显示器模块加工阶段之前作测试时，无法重新测试线路是否短路。因此，无法完全确保液晶显示器产品的质量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种液晶显示面板及测试其的探针，用来解决上述公知技术中存在的问题。

为了实现上述目的，本发明提供了一种液晶显示面板，包括：一第一基板、一第二基板、一液晶层、多个像素、多条信号线、多个测试垫。第二基板具有一显示区及一***线路区，显示区对应于第一基板，***线路区位于该显示区周围。液晶层位于该第一基板及该第二基板之间。多个像素形成于该第二基板的该显示区内。多条信号线电性连接至该像素。多个测试垫形成于该第二基板的该***线路区内并对应电性连接至该信号线，该测试垫间为错位排列的方式，并以n个测试垫作一循环排列，分成n个测试垫群，每一测试垫群的该测试垫平行排列配置，其中，n为大于等于2的正整数，该测试垫与一测试装置接触，该测试装置包括多个感测垫，分别对应测试该测试垫群，以测试该液晶显示面板，该感测垫位于该测试装置中包含的薄材的一侧并电性连接该测试装置中的多个导线。

本发明的液晶显示面板，其中，n个测试垫可沿信号线的垂直方向作循环排列。再有，此信号线包括多条数据线、多条栅极线或共同电极线。此外，测试垫可电性连接至该多条数据线。而此测试垫较佳的可包括以n＝2为一循环排列或者是以n＝3为一循环排列。再有，此测试垫较佳可为一导电材料。较佳的，测试垫的材质可与像素的材质相同。

本发明中第一基板可为一彩色滤光基板，第二基板可为一薄膜晶体管基板。

上述测试装置可包括一薄膜探针或一柔性印刷电路板(FPCB)。该多个感测垫可分别对应位于第二基板上***线路区的测试垫所形成的测试垫群。

为了实现上述目的，本发明还提供了一种测试液晶显示面板的测试探针，用于测试一液晶显示面板，该液晶显示面板具有多个测试垫群，该测试探针至少包括：一薄材、多个导线以及多个感测垫。多个导线位于该薄材内或或该薄材的表面，且该导线间不电性连接，该导线电性连接至一测试驱动电路。多个感测垫位于该薄材的一侧并电性连接该导线，且该感测垫分别对应电性连接至该液晶显示面板的该测试垫群。

本发明中测试液晶显示面板的探针，其中，部分的导线与其感测垫不限何种形状，只要可与液晶显示面板中的测试垫接触即可，例如可呈现一“L”形、“T”形或是“一”字形等形状。

由上述可知，本发明借助在第二基板中的***线路区的测试垫的配置，可同时提供短路杆(shorting bar)或是使测试的探针中的感测垫完全接触(fullcontact)两种测试方式。当短路杆测试线路被切断后，仍然可以在完成晶胞(cell)加工阶段之后测试。在作测试时可针对奇数线路或偶数线路进行测试，也可以针对不同区域的线路组进行独立测试。本发明降低了测试成本，同时也提高了液晶显示器产品的质量。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为公知的液晶显示器测试线路示意图；

图2为另一公知的液晶显示器测试线路示意图；

图3为本发明一较佳实施例的液晶显示面板剖视图；

图4为本发明一较佳实施例的薄膜晶体管基板示意图；

图5A和图5B为本发明一较佳实施例的薄膜晶体管基板上***线路区示意图；

图6为本发明一较佳实施例的液晶显示面板与探针接触示意图；

图7为本发明一较佳实施例的测试液晶显示面板的探针示意图；

图8为本发明一较佳实施例的以电路板测试液晶显示面板示意图；

图9A和图9B为本发明另一较佳实施例的薄膜晶体管基板上***线路区及与其接触的探针接触示意图；

图10为本发明一较佳实施例的以电路板测试液晶显示面板示意图；

图11A和图11B为本发明另一较佳实施例的薄膜晶体管基板上***线路区及与其接触的探针接触示意图；

图12为本发明另一较佳实施例的薄膜晶体管基板上***线路区示意图；

图13A至图13F为本发明其它较佳实施例的以电路板测试液晶显示面板示意图。

其中，附图标记：

11，111，112，113，114，115，32    数据线

12，121，122，33                   栅极线

13，17                             数据短路杆

14                                 栅极短路杆

15，16，18                         测试垫

20                                 液晶显示面板

21                                 彩色滤光基板

22                                 薄膜晶体管基板

221                                显示区

222                                ***线路区

23                                 液晶层

24                                 止胶层

31                                 像素

34，34a，34b，34c，50，60，70      测试垫

341，342，511，512，513，601，602，701，702，703    测试垫群

35                                 短路杆

36                               短路测试垫

40                               柔性印刷电路板

41                               薄材

421，422，423，424，425，426     导线

431，432，433，434，435，436     感测垫

51，61，71                       第一测试垫

52，62，72                       第二测试垫

90                               电路板

91                               信号输入垫

具体实施方式

本发明的实施例中的附图均为简化的示意图。该附图仅显示与本发明有关的组件，其所显示的组件不是实际实施时的形态，其实际实施时的组件数目、形状等比例为一选择性的设计，且其组件布局形态可能更复杂。

实施例一，请参考图3，为本发明的一液晶显示面板20简单示意图。其具有一彩色滤光基板21、一薄膜晶体管基板22以及一液晶层23。其中，液晶层23位于彩色滤光基板21及薄膜晶体管基板22之间且液晶层23的外侧具有一止胶层24。本实施例中薄膜晶体管基板22的结构，请参考图4，为本发明的一种液晶显示面板20的薄膜晶体管基板22示意图。此薄膜晶体管基板22具有一显示区221及一***线路区222，该显示区221对应于一如图3所示的彩色滤光基板21，该***线路区222位于该显示区221周围。在薄膜晶体管基板22的显示区221内形成数个像素31。此外具有多条可作为信号线的数据线32与栅极线33电性连接至像素31中。

接着，请参考图5A，为图3的液晶显示面板20俯视图且为薄膜晶体管基板22***线路区222放大示意图。以2D2G结构为例，在薄膜晶体管基板22的***线路区222中，具有多个测试垫34并对应电性连接至该信号线，即数据线32或是栅极线33。此测试垫34间以两两错位排列的方式形成，可分成2组测试垫群341，342，每一测试垫群341，342间的测试垫34a，34b平行排列配置。此种测试垫34间以两两错位排列的方式可先应用短路杆35，即与信号线连接的短路杆35经短路测试垫36以2D2G(即分别对应连接至如图4所示的数据线32与栅极线33)的线路测试方式测试，如图5A所示。在测试完之后，将与短路杆35连接的信号线以磨断或以激光的方式切断，如图5B所示。在此之后，在制作液晶显示器的后续制作流程中，此测试方式不会再针对液晶显示面板20作测试。

另外，在本实施例中还提供一种测试此种液晶显示面板的测试探针。此探针在本实施例中为一柔性印刷电路板40，也可使用薄膜探针。请参考图6，为本实施例中柔性印刷电路板40与液晶显示面板20的电性连接示意图。将柔性印刷电路板40与***线路区222接触的区域放大来看，此柔性印刷电路板40与液晶显示面板20的薄膜晶体管基板22的***线路区222接触。关于本实施例的探针，请参考图7，其至少包括：薄材41、多个导线421、422、423以及多个感测垫431、432、433。此导线421、422、423位于薄材41内或是薄材41的表面，且导线421、422、423间不电性连接，这些导线421、422、423电性连接至一测试驱动电路(图中未示)。感测垫431、432、433则位于薄材41的一侧并分别电性连接导线421、422、423，请再参考图6，此感测垫431、432分别对应电性连接至液晶显示面板20的测试垫群341、342。

本实施例如图7所示的的导线421与其感测垫431呈现一“T”形，其与本实施例中液晶显示面板20的奇数个排列的测试垫群341电性连接。而与感测垫432呈现一“L”形的导线422则与偶数个测试垫群342电性连接。而与感测垫433呈现一“一”字形的导线423则与其中一测试垫34电性连接，此测试垫34c则电性连接至液晶显示面板20中的一信号线。再有，此信号线为液晶显示面板20中的共同电极线(图中未示)，此共同电极线连接薄膜晶体管基板22以及彩色滤光基板21。因此，由上述可知，本实施例可依此探针检测液晶显示面板20的薄膜晶体管是否有短路的现象。

再有，请参考图8，可依此探针，作一种2D2G的测试。以测试驱动装置电性连结测试探针的另一端，以电路板90为例，在电路板90的X轴方向，包括了如图6所示的一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的奇数个排列的测试垫群341的导线421、一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的偶数个排列的测试垫群342的导线422以及一条与连接至液晶显示面板20中共同电极线的测试垫34c的导线423，而在X轴方向的测试垫34则电性连接至薄膜晶体管基板22的数据线32(如图4所示)或共同电极线(图中未示)。同样的，在电路板的Y轴方向则包括了一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的奇数个排列的测试垫群341的导线421以及一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的偶数个排列的测试垫群342的导线422。此时，Y轴方向的测试垫34则电性连接至薄膜晶体管基板22的栅极线33(如图4所示)，并且探针中的导线421，422可与其感测垫431，432形成两个“L”形。最后，经信号输入至电路板90中的信号输入垫91，可测试出液晶显示面板中的薄膜晶体管是否短路。

在本实施例中，经过探针的测试之后，可在薄膜晶体管基板22中的***线路区222的测试垫34上与多个半导体芯片连接，再继续后续的制作流程，以完成液晶显示器的组装。

实施例二，本实施例与实施例一大致上相同，但不同的是，请参考图9A，此测试垫50中本身可分为第一测试垫51及第二测试垫52，第一测试垫51以错位排列的方式形成，并以3个第一测试垫51作一循环排列，分成3组测试垫群，也就是以第1、4、7等测试垫作为第一组测试垫群511，以第2、5、8等测试垫作为第二组测试垫群512，以第3、6、9等测试垫作为第三组测试垫群513，每一测试垫群的测试垫51平行排列配置。此外，此三组的测试垫群(第一组测试垫群511、第二组测试垫群512及第三组测试垫群513)可分别测试如图3所示的彩色滤光基板21的基本原色，即红(R)、绿(G)、蓝(B)。测试垫50中的第二测试垫52则两两互相交错着排列。

随着薄膜晶体管基板22上的测试垫50的排列不同，请再参考图9B，本实施例的探针材料与实施例一的材料相同，本实施例中探针，即柔性印刷电路板40(或薄膜探针)中导线423、424、425、426与感测垫433、434、435、436所呈现的形状也随之改变。本实施例中与薄膜晶体管基板22中第一测试垫51中的第一组测试垫群511电性连接的导线424及其感测垫434呈现“T”形的形状，其可测试蓝色(B)。与薄膜晶体管基板22中第一测试垫51中的第二组测试垫群511电性连接的导线425及其感测垫435呈现“L”形的形状，其可测试绿色(G)。此外，与薄膜晶体管基板22中第一测试垫51中的第三组测试垫群513电性连接的导线426及其感测垫436也可呈现“L”形的形状，其可测试红色(R)。再有，与实施例一相同的导线423及其感测垫433可呈现“一”字形，此形式电性连接至液晶显示面板中的一作为共同电极线的信号线。

本实施例同样与实施例一相同，利用电路板进行测试，请同时参考图9A、图9B及图10，为做一种3D2G的测试方式，在电路板90的X轴方向，包括了一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的第一测试垫51的第一组测试垫群511的导线424、一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的第一测试垫51的第二组测试垫群512的导线425、一条连接薄膜晶体管基板22中***线路区222的第一测试垫51的第三组测试垫群513的导线426以及一条与连接至液晶显示面板20中共同电极线的测试垫50的导线423。本实施例在电路板90的Y轴方向则与实施例一相同。本实施例借助信号输入至电路板90中的信号输入垫91，可测试出液晶显示面板中的薄膜晶体管是否短路。其余部分则与实施例一相同。

本实施例与实施例一大致上相同，但不同的是，请参考图11A，本实施例的测试垫60以两两错位排列的方式形成，并可分为2组测试垫群601，602。而测试垫60本身又可分为第一测试垫61及第二测试垫62，第一测试垫61以错位排列的方式形成且每一测试垫群601，602中的第一测试垫61平行排列配置。每一测试垫群601，602中第二测试垫62则互相平行排列。

测试本实施例中液晶显示面板的探针(如图11B所示)以及利用电路板将信号输入的方式与实施例1相同。此外，在测试完后的测试垫60可与一薄膜连接，再继续后续的制作流程，以完成液晶显示器的组装。

实施例4，本实施例与实施例二大致相同，但不同的是，请参考图12，本实施例的测试垫70，其本身中的第一测试垫71与实施例二以相同的方式排列，而每一第二测试垫72则皆互相平行排列，概括来说，本实施例的测试垫以3个第一测试垫群71作一循环排列，可分成3组测试垫群701，702，703。

另外，本实施例中测试液晶显示面板的探针其排列方式可与实施例二相同，与探针连接的电路板也与实施例二相同。

实施例5至10，可依照实施例1至4中的测试垫的排列方式，而制作出如图13A所示的2D4G(实施例5)、如图13B所示的3D4G(实施例6)、如图13C所示的4D2G(实施例7)、如图13D所示的4D4G(实施例8)、如图13E所示的6D2G(实施例9)以及如图13F所示的6D4G(实施例10)等测试。熟悉相关技术的人员，可根据上述作等效的变化与扩增，并不以此限制本发明的实施方式。

综上所述，本发明所提供的液晶显示面板以及测试此种液晶显示面板的探针，降低了测试成本。并且，在液晶显示面板上的线路可设置在基板、电路板及软性电路板上，取代了公知的原来面板上的线路。此外，本发明也改善了液晶显示器的质量。

当然，本发明还可有其他多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (20)

1、一种液晶显示面板，其特征在于，包括：

一第一基板；

一第二基板，其具有一显示区及一***线路区，该显示区对应于该第一基板，该***线路区位于该显示区周围；

一液晶层，位于该第一基板及该第二基板之间；

多个像素，形成于该第二基板的该显示区内；

多条信号线，电性连接至该像素；以及

多个测试垫，形成于该第二基板的该***线路区内并对应电性连接至该信号线，该测试垫间以错位排列的方式形成，并以n个测试垫作一循环排列，分成n个测试垫群，每一测试垫群的该测试垫平行排列配置，其中，n为大于等于2的正整数，该测试垫与一测试装置接触，该测试装置包括多个感测垫，分别对应测试该测试垫群，以测试该液晶显示面板，该感测垫位于该测试装置中包含的薄材的一侧并电性连接该测试装置中的多个导线。

2、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该n个测试垫沿该信号线的垂直方向作循环排列。

3、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该信号线包括多条数据线。

4、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该信号线包括多条栅极线。

5、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试垫以n＝2为一循环排列。

6、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试垫包括以n＝3为一循环排列。

7、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该第二基板还包括一共同电极线。

8、根据权利要求3所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试垫电性连接至该数据线，并对应电性连接至该像素。

9、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试垫由导电材质所构成。

10、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该第一基板包括一彩色滤光基板。

11、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该第二基板包括一薄膜晶体管基板。

12、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试装置包括一薄膜探针或一柔性印刷电路板。

13、根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试装置的另一端电性连接一测试驱动装置。

14、根据权利要求13所述的液晶显示面板，其特征在于，该测试驱动装置包括一电路板。

15、一种测试液晶显示面板的测试探针，用于测试一液晶显示面板，该液晶显示面板具有多个测试垫群，其特征在于，该测试探针至少包括：

一薄材；

多个导线，位于该薄材内或该薄材的表面，且该导线间不电性连接，该导线电性连接至一测试驱动电路；以及

多个感测垫，位于该薄材的一侧并电性连接该导线，且该感测垫分别对应电性连接至该液晶显示面板的该测试垫群。

16、根据权利要求15所述的测试探针，其特征在于，部分的该导线与其感测垫呈现一“L”形。

17、根据权利要求15所述的测试探针，其特征在于，部分的该导线与其感测垫呈现一“T”形。

18、根据权利要求15所述的测试探针，其特征在于，这些导线中的一导线与其感测垫呈现一“一”字形。

19、根据权利要求15所述的测试探针，其特征在于，该测试探针的另一端电性连接至一测试驱动装置。

20、根据权利要求19所述的测试探针，其特征在于，该测试驱动装置包括一电路板。

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