CN101726943B - 主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法 - Google Patents

Abstract

一种主动元件阵列基板，包括：基板、像素阵列、多个芯片接合垫、多条引线、多条第一检测配线、多个第一与第二开关元件、第一与第二开关配线，以及至少一第二检测配线，其中，第二检测配线设置于基板的周边电路区，且电性连接在第一检测配线与芯片接合垫之间之间。第二开关元件电性连接于第一检测配线与第二检测配线之间。第二开关配线电性连接第二开关元件。利用第二开关配线开启第二开关元件，使来自第一检测配线的检测信号可流经第二开关元件、第二检测配线、芯片接合垫与引线，进而可检测芯片接合垫与引线之间之间的电性连接是否正常。

Description

主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法

技术领域

本发明是有关于一种阵列基板、显示面板及两者的检测方法，且特别是有关于一种主动元件阵列基板(Active Device Array Substrate)、液晶显示面板(Liquid Crystal Display Panel，LCD panel)及两者的检测方法。

背景技术

于诸多的平面显示器中，具有高画质、空间利用效率佳、低消耗功率、无辐射等优越特性的薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film TransistorLiquid Crystal Display，TFT LCD)，已成为显示器领域中的主流。

在完成薄膜晶体管阵列基板的制程后，通常会对薄膜晶体管阵列基板上的像素阵列进行电性检测，以判断像素阵列可否正常运作。当像素阵列无法正常运作时，便可对于不良的元件(如薄膜晶体管或像素电极等)或线路进行修补。然而，为了对于像素阵列进行检测，在薄膜晶体管阵列基板的周边线路区上便需要制作出检测电路(Examining circuit)。

图1为公知的薄膜晶体管阵列基板的示意图。请参照图1，此薄膜晶体管阵列基板100包括：基板110、像素阵列120、多数个芯片接合垫130、多数条引线140、多数条检测配线150、多数个开关元件160以及开关配线170。

请继续参照图1，基板110具有相邻的显示区112与周边电路区114，其中周边电路区114包括引线区114a及焊垫区114b。像素阵列120配置于显示区112。芯片接合垫130设置于焊垫区114b。引线140设置于引线区114a，引线140电性连接在像素阵列120与芯片接合垫130之间。检测配线150设置于周边电路区114。开关元件160设置于周边电路区114、且电性连接在检测配线150与像素阵列120之间，而开关配线170电性连接所有的开关元件160。

请继续参照图1，值得注意的是，利用开关配线170对于所有的开关元件160施加一高栅极电压信号(V_gh)即可开启所有的开关元件160。此时，检测配线140所提供的检测信号可以输入到像素阵列120中，以对于像素阵列120进行检测。另外，当对于所有的开关元件160施加一低栅极电压信号(V_gL)即可关闭所有的开关元件160。如此，即可以无需对于检测电路进行切割。

上述公知的检测电路称为单元短路杆(Cell shorting bar)的设计，相较于传统的需要探针单元(Probe unit)来进行检测的全探针(FullContact)检测设计，上述单元短路杆的设计无需利用探针单元，能减少检测成本。

然而，请继续参照图1，在此薄膜晶体管阵列基板100中，若是芯片接合垫130与引线140之间的电性连接产生异常(短路或断路)，上述的检测电路并无法对于此处的电性连接异常进行检测。如此一来，当后续将驱动芯片(未绘示)电性连接到芯片接合垫130时，驱动芯片所提供的驱动信号将无法有效地传输到像素阵列120中，而将造成显示异常。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种主动元件阵列基板，能够检测芯片接合垫与引线之间的电性连接是否正常。

本发明提供一种液晶显示面板，具有上述的主动元件阵列基板，而能提供良好的显示质量。

本发明提供一种主动元件阵列基板与液晶显示面板两者的检测方法，有利于提升主动元件阵列基板与液晶显示面板的制作合格率。

基于上述，本发明提出一种主动元件阵列基板，包括：一基板、一像素阵列、多数个芯片接合垫、多数条引线、多数条第一检测配线、多数个第一开关元件、一第一开关配线、至少一第二检测配线、多数个第二开关元件以及一第二开关配线。基板具有相邻的显示区与周边电路区，其中周边电路区包括引线区及焊垫区，此引线区位于显示区与焊垫区之间。像素阵列配置于显示区。芯片接合垫设置于焊垫区。引线设置于引线区，引线电性连接在像素阵列与芯片接合垫之间。第一检测配线设置于周边电路区。第一开关元件设置于周边电路区、且电性连接在第一检测配线与像素阵列之间。第一开关配线电性连接第一开关元件。第二检测配线设置于周边电路区、且电性连接在第一检测配线与芯片接合垫之间。第二开关元件电性连接于第一检测配线与第二检测配线之间。第二开关配线电性连接第二开关元件。

基于上述，本发明再提出一种液晶显示面板，包括：上述的主动元件阵列基板、一彩色滤光基板以及一液晶层。彩色滤光基板对向于主动元件阵列基板。液晶层配置于主动元件阵列基板与彩色滤光基板之间。

在本发明的一实施例中，上述的主动元件阵列基板更包括多数个第三开关元件，电性连接于芯片接合垫与第二检测配线之间。

在本发明的一实施例中，上述的第二开关配线电性连接第二开关元件与第三开关元件，且第二开关配线、第二开关元件与第三开关元件为非封闭回路。

在本发明的一实施例中，上述的第二开关配线电性连接第二开关元件与第三开关元件，且第二开关配线、第二开关元件与第三开关元件为封闭回路。

在本发明的一实施例中，上述的像素阵列包括：多数条扫描配线与多数条数据配线、多数个主动元件及多数个像素电极。主动元件与对应的扫描配线以及数据配线电性连接。像素电极与对应的主动元件电性连接。

基于上述，本发明再提出一种主动元件阵列基板的检测方法，适用于检测上述的主动元件阵列基板，此主动元件阵列基板的检测方法包括下列步骤。首先，输入一第一信号到第一开关配线以开启第一开关元件、且同时输入一第二信号到第二开关配线以关闭第二开关元件，使得第一检测配线提供多数个检测信号至像素阵列。之后，输入上述第二信号到第一开关配线以关闭第一开关元件、且同时输入上述第一信号到第二开关配线以开启第二开关元件，使得第一检测配线提供的检测信号经由第二检测配线而传递到芯片接合垫与引线。

基于上述，本发明又提出一种液晶显示面板的检测方法，适用于检测上述的液晶显示面板，此液晶显示面板的检测方法包括下列步骤。首先，输入一第一信号到第一开关配线以开启第一开关元件、且同时输入一第二信号到第二开关配线以关闭第二开关元件，使得第一检测配线提供多数个检测信号至像素阵列。之后，输入上述第二信号到第一开关配线以关闭第一开关元件、且同时输入上述第一信号到第二开关配线以开启第二开关元件，使得由第一检测配线提供的检测信号经由第二检测配线而传递到芯片接合垫与引线。

在本发明的一实施例中，上述的第一信号为高栅极电压信号(V_gh)，且该第二信号为低栅极电压信号(V_gL)。

在本发明的一实施例中，上述的第一信号为低栅极电压信号(V_gL)，且该第二信号为高栅极电压信号(V_gh)。

本发明因采用第二开关配线配合第二开关元件的操作，可使来自第一检测配线的检测信号流经第二开关元件、第二检测配线、芯片接合垫与引线，进而可检测芯片接合垫与引线之间的电性连接是否正常。利用第三开关元件电性连接于芯片接合垫与第二检测配线之间，可达到隔绝芯片接合垫与第二检测配线之间的电性连接。如此，检测完芯片接合垫与引线之间的电性连接是否正常之后，就不需再利用研磨方式将与芯片接合垫外侧相连接的第二检测配线去除，而有利于制程的简化。使第二开关配线、第二开关元件与第三开关元件为封闭回路，将可提供更稳定的检测信号。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附图式，作详细说明如下。

附图说明

图1为公知的薄膜晶体管阵列基板的示意图；

图2为本发明较佳实施例的一种主动元件阵列基板的示意图；

图3为主动元件阵列基板的局部的像素阵列示意图；

图4为本发明较佳实施例的一种主动元件阵列基板的检测方法的流程图；

图5为本发明较佳实施例的另一种主动元件阵列基板的示意图；

图6为本发明较佳实施例的又一种主动元件阵列基板的示意图；

图7为本发明较佳实施例的一种液晶显示面板的示意图。

具体实施方式

以下结合附图，具体说明本发明。

主动元件阵列基板及其检测方法

图2为本发明较佳实施例的一种主动元件阵列基板的示意图。请参照图2，此主动元件阵列基板200包括：一基板210、一像素阵列220、多数个芯片接合垫230、多数条引线240、多数条第一检测配线252、多数个第一开关元件262、一第一开关配线272、至少一第二检测配线254、多数个第二开关元件264以及一第二开关配线274。

请继续参照图2，基板210具有相邻的显示区212与周边电路区214，其中周边电路区214包括引线区214a及焊垫区214b，此引线区214a位于显示区212与焊垫区214b之间。像素阵列220配置于显示区212。芯片接合垫230设置于焊垫区214b。引线240设置于引线区214a，引线240电性连接在像素阵列220与芯片接合垫230之间。第一检测配线252设置于周边电路区214。第一开关元件262设置于周边电路区214、且电性连接在第一检测配线252与像素阵列220之间。第一开关配线272电性连接所有的第一开关元件262。第二检测配线254设置于周边电路区214、且电性连接在第一检测配线252与芯片接合垫230之间。第二开关元件264电性连接于第一检测配线252与第二检测配线254之间。第二开关配线274电性连接所有的第二开关元件264。

图3为主动元件阵列基板的局部的像素阵列示意图。请参照图3，像素阵列220包括：多数条扫描配线222与多数条数据配线224、多数个主动元件226及多数个像素电极228。主动元件226与对应的扫描配线222以及数据配线224电性连接。像素电极228与对应的主动元件226电性连接。主动元件226可以是薄膜晶体管、二极管或是其它适合的元件。

请继续参照图2，值得注意的是，利用第二检测配线254连接到芯片接合垫230的外侧，且第二检测配线254透过第二开关元件264而与原本的第一检测配线252电性连接，因此，当第二开关元件264开启时，来自第一检测配线254的检测信号可经由第二检测配线254、芯片接合垫230、引线240的路径传递，进而能对于芯片接合垫230与引线240之间的电性连接是否正常进行检测。

更详细而言，第一检测配线252可以提供G_E/G_o(栅极侧)、Ro/Ge/Bo/Re/Go/Be(源极侧)等检测信号。第二检测配线254以奇偶相连方式连接到芯片接合垫230的外侧。特别是，搭配第二开关元件264作为控制上述检测信号输出的开关，可检测芯片接合垫230与引线240之间是否为断路或短路。

图4为本发明较佳实施例的一种主动元件阵列基板的检测方法的流程图。此主动元件阵列基板的检测方法300适用于检测上述的主动元件阵列基板200。请同时参照图2与图4，首先，在步骤S302中，输入一第一信号到第一开关配线272以开启第一开关元件262、且同时输入一第二信号到第二开关配线274以关闭第二开关元件264，使得第一检测配线252提供多数个检测信号至像素阵列220。亦即，在步骤S302中，可对于像素阵列220进行检测。

之后，在步骤S304中，输入第二信号到第一开关配线272以关闭第一开关元件262、且同时输入第一信号到第二开关配线274以开启第二开关元件264，使得第一检测配线252提供的检测信号经由第二检测配线254而传递到芯片接合垫230与引线240。亦即，在步骤304中，可对于芯片接合垫230与引线240之间的电性连接进行检测。

值得注意的是，在一实施例中，上述的第一信号为高栅极电压信号(V_gh)，且该第二信号为低栅极电压信号(V_gL)，其中，高栅极电压信号可用来开启这些第一开关元件262与这些第二开关元件264，而低栅极电压信号可用来关闭这些第一开关元件262与这些第二开关元件264。

然而，在另一实施例中，上述的第一信号可为低栅极电压信号(V_gL)，且该第二信号可为高栅极电压信号(V_gh)，亦即，上述通过第一信号与第二信号开启/关闭这些第一开关元件262与这些第二开关元件264的设定方式亦可相反。换言的，此时低栅极电压信号是用来开启这些第一开关元件262与这些第二开关元件264，而高栅极电压信号是用来关闭这些第一开关元件262与这些第二开关元件264。

承上述，利用第二开关元件264与第二检测配线254的设计，可以检测出芯片接合垫230与引线240之间的电性连接是否为短路或断路，而有利于提升主动元件阵列基板200的制作合格率。

图5为本发明较佳实施例的另一种主动元件阵列基板的示意图。此实施例的主动元件阵列基板202与图2的主动元件阵列基板200类似，相同的元件标示以相同的符号，在此不予以重述详细的结构。

值得注意的是，如图5所示，此主动元件阵列基板202更包括多数个第三开关元件266，电性连接于芯片接合垫230与第二检测配线254之间。特别是，第二开关配线274电性连接第二开关元件264与第三开关元件266，且第二开关配线274、第二开关元件264与第三开关元件266为非封闭回路。

如图2所示的实施例，在对于芯片接合垫230与引线240进行检测之后，仍须利用研磨方式将与芯片接合垫230外侧相连接的第二检测配线254去除，以避免后续将驱动芯片(未绘示)接合在芯片接合垫230后产生短路。

因此，在图5所示的实施例中，于芯片接合垫230与第二检测配线254之间再增加第三开关元件260，来达到隔绝芯片接合垫230与第二检测配线254之间的电性连接。因此，检测完芯片接合垫230与引线240之间的电性连接是否正常之后，就不需再利用研磨方式将与芯片接合垫230外侧相连接的第二检测配线254去除。所以，此实施例有利于制程简化、并能够降低制作成本。当然，此主动元件阵列基板202也可进行上述图4的主动元件阵列基板的检测方法300。

特别是，如图5所示的主动元件阵列基板202的第二检测配线254并不一定要如图5所示提供一对检测信号到芯片接合垫230，亦即，第二检测配线254并不一定为如图5所示的两条，也可以是一条到六条(即如图2所绘示)之间的任意数量。

图6为本发明较佳实施例的又一种主动元件阵列基板的示意图。此实施例的主动元件阵列基板204与图2的主动元件阵列基板200类似，相同的元件标示以相同的符号，在此不予以重述详细的结构。

值得注意的是，如图6所示，第二开关配线274电性连接第二开关元件264与第三开关元件266，且第二开关配线274、第二开关元件264与第三开关元件266为封闭回路，如图6中的粗线S所示。此实施例的主动元件阵列基板204能够提供更稳定的检测信号，以对于像素阵列220、以及芯片接合垫230与引线240之间的电性连接进行检测。

综上所述，上述的主动元件阵列基板200、202、204及其检测方法，除了可以对像素阵列220进行检测，还可以检测芯片接合垫230与引线240之间的电性连接是否正常。因此，能确保驱动芯片所提供的驱动信号能传输到像素阵列220中。

液晶显示面板及其检测方法

图7为本发明较佳实施例的一种液晶显示面板的示意图。请参照图7，此液晶显示面板400包括：主动元件阵列基板410、彩色滤光基板420以及液晶层430。主动元件阵列基板410可以是上述第一实施例与第二实施例的主动元件阵列基板200、202、204。彩色滤光基板420对向于主动元件阵列基板410。液晶层430设置于主动元件阵列基板410与彩色滤光基板420之间。

此液晶显示面板400使用了上述的主动元件阵列基板200、202、204，所以，可以对于主动元件阵列基板410进行良好的检测，进而可确保当驱动芯片(未绘示)电性连接到芯片接合垫230之后，能够提供稳定的驱动电压，进而使液晶显示面板400具有良好的显示质量。至于液晶显示面板400的检测方法与上述图4所述的主动元件阵列基板的检测方法300类似，在此即不予以重述。

综上所述，本发明的主动元件阵列基板、液晶显示面板及两者的检测方法至少具有以下的优点：

藉由第二开关配线搭配第二开关元件，可使来自第一检测配线的检测信号流经第二开关元件、第二检测配线、芯片接合垫与引线，进而可检测芯片接合垫与引线之间的电性连接是否正常。利用第三开关元件电性连接于芯片接合垫与第二检测配线之间，可达到隔绝芯片接合垫与第二检测配线之间的电性连接。如此，检测完芯片接合垫与引线之间的电性连接是否正常之后，就不需再利用研磨方式将与芯片接合垫外侧相连接的第二检测配线去除，而有利于制程的简化。再者，使第二开关配线、第二开关元件与第三开关元件为封闭回路，将可提供更稳定的检测信号。另外，具有上述的主动元件阵列基板的液晶显示面板可提供良好的显示质量。上述主动元件阵列基板与液晶显示面板检测方法亦可以提升制作的合格率。

虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何所属技术领域中具有通常知识者，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视后附的申请专利范围所界定者为准。

Claims (16)

1.一种主动元件阵列基板，其特征在于，包括：

一基板，具有相邻的一显示区与一周边电路区，其中该周边电路区包括一引线区及一焊垫区，该引线区位于该显示区与该焊垫区之间；

一像素阵列，配置于该显示区；

多数个芯片接合垫，设置于该焊垫区；

多数条引线，设置于该引线区，该些引线电性连接在该像素阵列与该些芯片接合垫之间；

多数条第一检测配线，设置于该周边电路区；

多数个第一开关元件，设置于该周边电路区，且电性连接在该些第一检测配线与该像素阵列之间；

一第一开关配线，电性连接该些第一开关元件；

至少一第二检测配线，设置于该周边电路区、且电性连接在该些第一检测配线与该些芯片接合垫之间；

多数个第二开关元件，电性连接于该些第一检测配线与该些第二检测配线之间；以及

一第二开关配线，电性连接该些第二开关元件。

2.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，更包括多数个第三开关元件，电性连接于该些芯片接合垫与该第二检测配线之间。

3.如权利要求2所述的主动元件阵列基板，其特征在于，其中该第二开关配线电性连接该些第二开关元件与该些第三开关元件，且该第二开关配线、该些第二开关元件与该些第三开关元件为非封闭回路。

4.如权利要求2所述的主动元件阵列基板，其特征在于，其中该第二开关配线电性连接该些第二开关元件与该些第三开关元件，且该第二开关配线、该些第二开关元件与该些第三开关元件为封闭回路。

5.如权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，其中该像素阵列包括：

多数条扫描配线与多数条数据配线；

多数个主动元件，与对应的该些扫描配线以及该些数据配线电性连接；以及

多数个像素电极，与对应的该些主动元件电性连接。

6.一种液晶显示面板，其特征在于，包括一主动元件阵列基板、一彩色滤光基板以及一液晶层，其中：

该主动元件阵列基板进一步包括：

一基板，具有相邻的一显示区与一周边电路区，其中该周边电路区包括一引线区及一焊垫区，该引线区位于该显示区与该焊垫区之间；

一像素阵列，配置于该显示区；

多数个芯片接合垫，设置于该焊垫区；

多数条引线，设置于该引线区，该些引线电性连接在该像素阵列与该些芯片接合垫之间；

多数条第一检测配线，设置于该周边电路区；

多数个第一开关元件，设置于该周边电路区，且电性连接在该些第一检测配线与该像素阵列之间；

一第一开关配线，电性连接该些第一开关元件；

至少一第二检测配线，设置于该周边电路区、且电性连接在该些第一检测配线与该些芯片接合垫之间；

多数个第二开关元件，电性连接于该些第一检测配线与该第二检测配线之间；

一第二开关配线，电性连接该些第二开关元件；

该彩色滤光基板，对向于该主动元件阵列基板；以及

该液晶层，配置于该主动元件阵列基板与该彩色滤光基板之间。

7.如权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，其中所述主动元件阵列基板更包括多数个第三开关元件，电性连接于该些芯片接合垫与该第二检测配线之间。

8.如权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，其中该第二开关配线电性连接该些第二开关元件与该些第三开关元件，且该第二开关配线、该些第二开关元件与该些第三开关元件为非封闭回路。

9.如权利要求7所述的液晶显示面板，其特征在于，其中该第二开关配线电性连接该些第二开关元件与该些第三开关元件，且该第二开关配线、该些第二开关元件与该些第三开关元件为封闭回路。

10.如权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，其中该像素阵列包括：

多数条扫描配线与多数条数据配线；

多数个主动元件，与对应的该些扫描配线以及该些数据配线电性连接；以及

多数个像素电极，与对应的该些主动元件电性连接。

11.一种主动元件阵列基板的检测方法，适用于检测权利要求1所述的主动元件阵列基板，其特征在于，该主动元件阵列基板的检测方法包括：

输入一第一信号到该第一开关配线以开启该些第一开关元件、且同时输入一第二信号到该第二开关配线以关闭该些第二开关元件，使得该些第一检测配线提供多数个检测信号至该像素阵列；以及

输入该第二信号到该第一开关配线以关闭该些第一开关元件，且同时输入该第一信号到该第二开关配线以开启该些第二开关元件，使得该些第一检测配线提供的该些检测信号经由该第二检测配线而传递到该些芯片接合垫与该些引线。

12.如权利要求11所述的主动元件阵列基板的检测方法，其特征在于，其中该第一信号为高栅极电压信号，且该第二信号为低栅极电压信号。

13.如权利要求11所述的主动元件阵列基板的检测方法，其特征在于，其中该第一信号为低栅极电压信号，且该第二信号为高栅极电压信号。

14.一种液晶显示面板的检测方法，适用于检测权利要求6所述的液晶显示面板，其特征在于，该液晶显示面板的检测方法包括：

输入一第一信号到该第一开关配线以开启该些第一开关元件，且同时输入一第二信号到该第二开关配线以关闭该些第二开关元件，使得该些第一检测配线提供多数个检测信号至该像素阵列；以及

输入该第二信号到该第一开关配线以关闭该些第一开关元件，且同时输入该第一信号到该第二开关配线以开启该些第二开关元件，使得由该些第一检测配线提供的该些检测信号经由该第二检测配线而传递到该些芯片接合垫与该些引线。

15.如权利要求14所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，其中该第一信号为高栅极电压信号，且该第二信号为低栅极电压信号。

16.如权利要求14所述的液晶显示面板的检测方法，其特征在于，其中该第一信号为低栅极电压信号，且该第二信号为高栅极电压信号。

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