TWI400513B - 面板雷射修補機及面板檢查方法 - Google Patents

面板雷射修補機及面板檢查方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI400513B
TWI400513B TW97126158A TW97126158A TWI400513B TW I400513 B TWI400513 B TW I400513B TW 97126158 A TW97126158 A TW 97126158A TW 97126158 A TW97126158 A TW 97126158A TW I400513 B TWI400513 B TW I400513B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
panel
frame
disposed
detecting
laser repairing
Prior art date
Application number
TW97126158A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201003188A (en
Inventor
Tien Tsai Chuang
Original Assignee
Shuz Tung Machinery Ind Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shuz Tung Machinery Ind Co Ltd filed Critical Shuz Tung Machinery Ind Co Ltd
Priority to TW97126158A priority Critical patent/TWI400513B/zh
Publication of TW201003188A publication Critical patent/TW201003188A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI400513B publication Critical patent/TWI400513B/zh

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

面板雷射修補機及面板檢查方法
本發明涉及面板雷射修補機方面的技術領域,尤指一種面板雷射修補機上用於測試該面板或檢測板是否有瑕疵的檢測機構。
台灣公告第M312849、M313734號專利,其皆係單獨利用探針組上的複數探針接觸該面板一側之檢測板上的接觸點,以透過該檢測板上的檢測線路將測試訊號送入該面板中。然而,該些探針輸入的測試訊號係需經過該接觸點及該檢測線路。因此單獨利用該些探針將測試訊號輸入該面板的檢測方式,係無法確認出所檢測到的瑕疵是在該面板還是該檢測板的檢測線路。一般的檢測板僅係用於供輸入測試訊號,其最後係會被裁切掉,因此如該檢測板的檢測線路有瑕疵時並不會影響該面板的品質。而該習知的雷射修補機卻會因為無法確認是否該面板還是該檢測板有瑕疵,而將該僅檢測板有瑕疵者一齊作為不良品或是對其作雷射修補。如此,不但增加產品的不良率而且亦會浪費成本。
本發明提供一種能確認該面板還是該檢測板有瑕疵之面板雷射修補機。其中該面板之縱、橫側邊分別各延伸有 一檢測板。每一檢測板上具有複數接觸點及分別與該些接觸點連接的複數條檢測線路,該些檢測線路並分別與該面板之複數縱向或橫向畫素的開關電路連接。該雷射修補機包括一機台、一檢測機構、一雷射修補裝置及一影像擷取裝置。該機台具一框體、一燈源及一龍門,該框體係供置放該面板,且具有垂直相鄰接的兩框桿,該燈源係設在該框體下方,該龍門可於該框體上方移動。該檢測機構包括複數檢測裝置分別設於該兩框桿上,每一檢測裝置包括一座體、一探針組及一導電組。該座體係可移動地設於相對應框桿上。該探針組具有一第一昇降座及複數探針,該第一昇降座係可昇降地設於該座體上,該些探針係結合於該第一昇降座,可供接觸該面板之檢測板的接觸點,以將測試訊號輸入該面板的相對應畫素的開關電路。該導電組係具有一第二昇降座及一導電棉,該第二昇降座係可昇降地設於該座體上,該導電棉係設於該昇降座上可供接觸該檢面板之檢測線路靠近該面板的一端,以將電力輸入該面板的相對應畫素的開關電路。該雷射修補裝置可移動地設於該龍門,可對機台上的面板的進行雷射修補。該影像擷取裝置結合於該雷射修補裝置上,可供擷取該機台上之面板的影像。
本發明係可藉由該些探針接觸該檢測板的接觸點,以將測試訊號輸入該面板的相對應畫素的開關電路,以進行該面板的初步測試,然後再利用該導電棉接觸該檢測板之檢測線路靠近該面板的一端,以將電力輸入該面板的相對應畫素的開關電路,以進一步進行該面板還是該檢測板有 瑕疵的確認。進而可藉此發現檢測板的瑕疵,以達到降低產品不良率及成本之目的。
至於本發明的其它發明內容與更詳細的技術及功效說明,將揭露於隨後的說明。
第一~十圖係顯示本發明之面板雷射修補機包括一機台1、一支撐機構2、複數固定裝置3、一檢測機構4、一雷射修補裝置5及一影像擷取裝置6。
在該第一、二圖中係顯示,該面板7之縱、橫側邊分別各延伸有一檢測板8。每一檢測板8上具有複數接觸點80及分別與該些接觸點80連接的複數條檢測線路81。該些檢測線路81並分別與該面板7之複數縱向或橫向畫素的開關電路(圖中未示)連接。
在該第三圖中係顯示,該機台1具有一框體10、一燈源(圖中未示)及一龍門12。該框體10係由一第一框桿100、一第二框桿101、一第三框桿102及一第四框桿103圍成一矩形而成。該第二框桿101及第四框桿103係相互平行。該燈源係設在該框體10下方。該龍門12係可於該框體10上方移動。
在該第四、五圖中係顯示,該第二框桿101及第四框桿103上分別具有一軌道13。該支撐機構2包括複數支撐桿20及一驅動模組20a。每一支撐桿20的兩端係分別可移動地連接於該兩軌道13。於每一支撐桿20頂面具有一 防磨層200供該面板置於其上時不會磨損,另該支撐桿20上又具有複數氣孔201貫通至頂面,且可產生一吸力將其上的面板吸附,及可吹出氣體使其上的面板略微上浮。該驅動模組20a包括兩第一驅動裝置21及複數第二驅動裝置22。每一第一驅動裝置21係包括一伸縮壓缸210設於該第二框桿101上。該伸縮壓缸210具有可伸縮作動之一伸縮軸211,該伸縮軸211的端部係連結於靠近該第一框桿100之支撐桿20上。該些第二驅動裝置22係位在該第一框桿100上,可供分別驅動其餘的支撐桿20於該框體10上水平的移動。每一第二驅動裝置22包括一齒條220、一齒輪221及一馬達222。該齒條220係設於該第二框桿101上且與該軌道13平行,在本實施例中該些第二驅動裝置22係共用一齒條220。該齒輪221係與該齒條220嚙合。該馬達222係設於該支撐桿20上可供驅動該齒輪221轉動。
在該第六、七圖中係顯示,該些固定裝置3係分別設於第一框桿100及該第四框桿103上。每一固定裝置3包括一驅動器30及一定位塊31。該驅動器30係可移動地設於相對應的框桿上,該定位塊31係可被該驅動器30驅動而垂直該相對應框桿地移動。
在該第六~九圖中係顯示,該檢測機構4係包括複數檢測裝置40及複數驅動部41。該些檢測裝置40係分別設於該第一框桿100及該第四框桿103上。該些驅動部41係可分別驅動該些檢測裝置40於相對應的框桿上移動。每一檢測裝置40包括一座體42、一探針組43及一導電組44。該座體42係可移動地設於相對應的框桿上。該探針組43 包括一第一昇降座430及複數探針431。該第一昇降座430係可昇降地設於該座體42上。該些探針431係結合於該第一昇降座430可供由下方接觸該檢測板8上的接觸點80,以將測試訊號輸入該面板7之相對應縱向或橫向畫素的開關電路,如第二圖所示。該導電組44包括一第二昇降座440及一導電棉441。該第二昇降座440係可昇降地設於該座體42上。該導電棉441係結合於該第二昇降座440的頂面,可供由下方接觸該檢測板8上之檢測線路81靠近該面板7的一端,以將電力輸入該面板7之相對應縱向或橫向畫素的開關電路,如第二圖所示。每一驅動部41包括一齒條45、一齒輪46及一馬達47。該齒條45係設於相對應框桿上,該齒輪46係與該齒條45嚙合,該馬達47係設於該相對應檢測裝置40的座體42上。在本實施例中同一框桿上的複數驅動部41係共用一條齒條45。
在該第三圖中係顯示,該雷射修補裝置5係可移動地設於該龍門12,可對機台1上的面板的進行雷射修補。該影像擷取裝置6係結合於該雷射修補裝置5上,可供擷取該面板的影像。
在該第十圖中係顯示,每一探針431具有一探針管432、一伸縮桿433及一彈簧434。該探針管432係結合在該第一昇降座430。該探針管432朝上的一端具一開口435。該探針管432的內側管壁上具有一定位凸部436。該伸縮桿433係一端具有一探針頭437,另一端係由該開口435延伸入該探針管432中,且具有一凸塊438,該凸塊438係可被該定位凸部436限制在該探針管432中。該彈 簧434係設在該探針管432中且頂於該凸塊438,供將該伸縮桿433朝該開口435的方向頂出。
第十一、十二圖係顯示,一取料機構(圖中未示)將該面板送至該框體10上方時,該些支撐桿20上的複數氣孔201會對該面板7的底面吹氣,以使該面板7略微懸浮。當該面板7的兩垂接相鄰接的側邊頂靠到該些固定裝置3的定位塊31時,該驅動器30會驅動該定位塊31移動以將該面板7頂於定位。此時該些支撐桿20上的複數氣孔201會產生吸力以吸住該面板7的底面。之後,該燈源朝該面板投射光線,該探針組43的探針431可上昇接觸該檢測板供將測試訊號輸入該面板7。而該龍門12可於該框體10上方移動,該雷射修補裝置5可於該龍門12上移動以修補該面板7上的瑕疵,該影像擷取裝置6可於該龍門12上移動以擷取該面板7的影像供檢查。
第八、十圖係顯示,該第一昇降座430帶動該探針431上昇至使該探針頭437接觸該檢測板8時,該伸縮桿433係可藉由該彈簧434的作用而於該探針管432一端彈性伸縮,以緩衝該探針431接觸該檢測板8的力道。如此,便可避免該探針431與該檢測板8的接觸力道過大,進而可因此增長該探針431的使用壽命。而且,該些探針431接觸該檢測板8的接觸點80時,如第二圖所示,係可將測試訊號輸入該面板7的相對應畫素的開關電路,以進行該面板的初步測試(第十五圖的a步驟)。
第九圖係顯示,在利用該些探針431對該面板7進行初步測試並發現瑕疵後,可再利用該第二昇降座440帶動 該導電棉441上昇至接觸該檢測板8的檢測線路81,如第二圖所示,使該導電棉44可將電力輸入該面板7的相對應畫素的開關電路,以進一步確認是該面板7還是該檢測板8有瑕疵(第十五圖的b步驟),並藉此發現該檢測板8的瑕疵,以達到降低產品不良率及成本之目的。
第十三、十四圖係顯示,當欲檢查該面板7位於該支撐桿20正上方的區域時,該第一驅動裝置21或該第二驅動裝置22係可驅動相對應的支撐桿20移動一距離,待檢查完畢後再將該支撐桿20移回原位。藉此,係可使得該面板7上的瑕疵不會被該支撐桿20的陰影所遮掩,而使該面板7的所有位置皆能被精確的檢查到,進而能大幅提昇面板檢查的精確度。
無論如何,任何人都可以從上述例子的說明獲得足夠教導,並據而了解本發明確實有產業上之利用性。而且又未見與本發明相同或類似的技術公開於前,所以本發明有新穎性及進步性,而符合發明專利要件,爰依法提出申請。
1‧‧‧機台
10‧‧‧框體
100‧‧‧第一框桿
101‧‧‧第二框桿
102‧‧‧第三框桿
103‧‧‧第四框桿
12‧‧‧龍門
13‧‧‧軌道
2‧‧‧支撐機構
20‧‧‧支撐桿
200‧‧‧防磨層
201‧‧‧氣孔
20a‧‧‧驅動模組
21‧‧‧第一驅動裝置
210‧‧‧伸縮壓缸
211‧‧‧伸縮軸
22‧‧‧第二驅動裝置
220‧‧‧齒條
221‧‧‧齒輪
222‧‧‧馬達
3‧‧‧固定裝置
30‧‧‧驅動器
31‧‧‧定位塊
4‧‧‧檢測機構
40‧‧‧檢測裝置
41‧‧‧驅動部
42‧‧‧座體
43‧‧‧探針組
430‧‧‧第一昇降座
431‧‧‧探針
432‧‧‧探針管
433‧‧‧伸縮桿
434‧‧‧彈簧
435‧‧‧開口
436‧‧‧定位凸部
437‧‧‧探針頭
438‧‧‧凸塊
44‧‧‧導電組
440‧‧‧第二昇降座
441‧‧‧導電棉
45‧‧‧齒條
46‧‧‧齒輪
47‧‧‧馬達
5‧‧‧雷射修補裝置
6‧‧‧影像擷取裝置
7‧‧‧面板
8‧‧‧檢測板
80‧‧‧接觸點
81‧‧‧檢測線路
第一圖係本發明所述面板及檢測板的平面示意圖。
第二圖係本發明所述面板及檢測板的局部放大示意圖。
第三圖係本發明之立體圖。
第四圖係本發明之支撐機構的局部立體放大示意圖。
第五圖係本發明之支撐機構的局部剖面放大示意圖。
第六圖係本發明之固定裝置的放大示意圖。
第七圖係本發明之檢測機構的立體放大示意圖。
第八圖係本發明之探針組的動作示意圖。
第九圖係本發明之導電組的動作示意圖。
第十圖係本發明之探針的剖面放大示意圖。
第十一圖係本發明之面板的定位動作示意圖(俯視)。
第十二圖係本發明之面板的定位動作示意圖(側視)。
第十三圖係本發明之支撐桿的動作示意圖(俯視)。
第十四圖係本發明之支撐桿的動作示意圖(側視)。
第十五圖係本發明之面板雷射修補方法的流程圖。
100‧‧‧第一框桿
103‧‧‧第四框桿
3‧‧‧固定裝置
30‧‧‧驅動器
31‧‧‧定位塊
4‧‧‧檢測機構
40‧‧‧檢測裝置
41‧‧‧驅動部
43‧‧‧探針組
44‧‧‧導電組

Claims (11)

  1. 一種面板瑕疵檢測及雷射修補機,用以檢測一面板的一瑕疵、確認該瑕疵是否位於該面板、以及修補該面板上的該瑕疵,其中該面板之縱、橫側邊分別各延伸出一檢測板,每一檢測板具有複數接觸點及分別與該些接觸點連接的複數條檢測線路,該些檢測線路係位於靠近該面板的一端並分別與該面板之複數縱向或橫向畫素的開關電路連接;該面板瑕疵檢測及雷射修補機包括:一機台,係具有一框體及一龍門,該框體具有垂直相鄰接的兩框桿,該龍門可於該框體上方移動;一檢測機構,包括複數檢測裝置分別設於該兩框桿上,每一檢測裝置包括一座體、一探針組及一導電組;該座體係可移動地設於相對應框桿上;該探針組具有一第一昇降座及複數探針,該第一昇降座係可昇降地設於該座體上,該些探針係結合於該第一昇降座,該第一昇降座帶動該些探針至使該些探針接觸該檢測板的該些接觸點,並讓該些探針輸入一測試訊號於該面板的相對應畫素的開關電路,以找出該瑕疵;該導電組係具有一第二昇降座及一導電棉,該第二昇降座係可昇降地設於該座體上,該導電棉係設於該第二昇降座上,該第二昇降座帶動該導電棉至使該導電棉接觸連接對應該瑕疵的接 觸點之該檢測線路,並將電力輸入該面板的相對應畫素的開關電路,以檢測出該瑕疵是位於該面板還是位於該檢測板;一雷射修補裝置,係可移動地設於該龍門,可對機台上的該面板的該瑕疵進行雷射修補;及一影像擷取裝置,係結合於該雷射修補裝置上,可供擷取該機台上之面板的影像。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該檢測機構更包括複數驅動部可分別驅動該些座體於相對應的框桿上移動,每一驅動部包括一齒條、一齒輪及一馬達,該齒條係設於相對應框桿上,該齒輪係與該齒條嚙合,該馬達係設於該座體上。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中每一探針具有一探針管、一伸縮桿及一彈簧,該探針管係結合在該第一昇降座,該探針管朝向該面板的一端係具一開口,該伸縮桿係一端具有一探針頭,另一端係由該開口延伸入該探針管中,該彈簧係設在該探針管中供將該伸縮桿朝該開口的方向頂出。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該伸縮桿延伸入該探針管內的一端係具有一凸塊,該探針管的內側管壁上係具有一定位凸部, 該定位凸部可供將該凸塊限制於該探針管中。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,更包括一支撐機構,該支撐機構具複數支撐桿設該框體上供支撐該面板,該支撐桿上係具有複數氣孔,該氣孔可產生吸力供吸住該面板。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該支撐機構包括一驅動模組,該框體具有兩平行的軌道,每一支撐桿的兩端係分別可移動地連接於該兩軌道,該驅動模組係供分別驅動該些支撐桿於框體上移動。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該驅動模組包含複數第一驅動裝置,每一第一驅動裝置包括一伸縮壓缸設於該框體上,該伸縮壓缸具有可伸縮作動之一伸縮軸,該伸縮軸端部係連結於該支撐桿。
  8. 如申請專利範圍第6或7項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該驅動模組包含複數第二驅動裝置,每一第二驅動裝置包括一齒條、一齒輪及一馬達,該齒條係設於該框體上且與該軌道平行,該齒輪係與該齒條嚙合,該馬達係設於該支撐桿上可供驅動該齒輪轉動。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,更包括有複數固定裝置,該支撐上的複數氣孔係可吹出氣體,該些固定裝置係分別可移動地設於該兩框桿上,每一固定裝置包括一驅動器及一定位塊,該驅動器係供驅動該定位塊垂直相對應框桿地移動。
  10. 如申請專利範圍第5項所述之面板瑕疵檢測及雷射修補機,其中該支撐桿的頂面係具有一防磨層,供防止置於其上的面板磨損。
  11. 一種面板檢查方法,用以檢測一面板的一瑕疵、確認該瑕疵是否位於該面板、以及修補該面板上的該瑕疵,其中該面板之縱、橫側邊分別各延伸一檢測板,每一檢測板具有複數接觸點及分別與該些接觸點連接的複數條檢測線路,該些檢測線路係位於靠近該面板的一端並分別與該面板之複數縱向或橫向畫素的開關電路連接;該面板檢查方法包括:將一探針機構的複數探針接觸該檢測板上的該些接觸點,並送入一檢測訊號於該面板的相對應畫素的開關電路,以找出該面板的瑕疵處;將一檢測機構的導電棉接觸在連接對應該瑕疵處之該接觸點的該檢測線路,並送入電力於該面板的相對應畫素的開關電路,以檢測該電力是否能經由該檢測線路 輸送至對應畫素的開關電路,並確認該瑕疵是否位於該面板。
TW97126158A 2008-07-10 2008-07-10 面板雷射修補機及面板檢查方法 TWI400513B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW97126158A TWI400513B (zh) 2008-07-10 2008-07-10 面板雷射修補機及面板檢查方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW97126158A TWI400513B (zh) 2008-07-10 2008-07-10 面板雷射修補機及面板檢查方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201003188A TW201003188A (en) 2010-01-16
TWI400513B true TWI400513B (zh) 2013-07-01

Family

ID=44825455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW97126158A TWI400513B (zh) 2008-07-10 2008-07-10 面板雷射修補機及面板檢查方法

Country Status (1)

Country Link
TW (1) TWI400513B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI693002B (zh) * 2017-12-18 2020-05-01 大陸商上海微電子裝備(集團)股份有限公司 一種增材製造裝置和製造方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI547333B (zh) * 2013-02-04 2016-09-01 旭東機械工業股份有限公司 雷射切割設備

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3704057A (en) * 1971-06-02 1972-11-28 American Cyanamid Co Electrochromic device having identical display and counter electrode materials
TW200519011A (en) * 2003-10-17 2005-06-16 Olympus Corp Substrate conveying system
TWI241934B (en) * 2003-12-03 2005-10-21 Quanta Display Inc Apparatus and method for inspecting and repairing circuit defect
TW200827690A (en) * 2006-12-22 2008-07-01 All Ring Tech Co Ltd A test platform for light on test of LCD panels

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3704057A (en) * 1971-06-02 1972-11-28 American Cyanamid Co Electrochromic device having identical display and counter electrode materials
TW200519011A (en) * 2003-10-17 2005-06-16 Olympus Corp Substrate conveying system
TWI241934B (en) * 2003-12-03 2005-10-21 Quanta Display Inc Apparatus and method for inspecting and repairing circuit defect
TW200827690A (en) * 2006-12-22 2008-07-01 All Ring Tech Co Ltd A test platform for light on test of LCD panels

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI693002B (zh) * 2017-12-18 2020-05-01 大陸商上海微電子裝備(集團)股份有限公司 一種增材製造裝置和製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201003188A (en) 2010-01-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2016021043A1 (ja) スクリーン印刷装置
CN203811982U (zh) 一种清洁设备
KR101286250B1 (ko) 다수의 헤드 유니트를 갖는 어레이 테스트 장치
TWI400513B (zh) 面板雷射修補機及面板檢查方法
CN105974619A (zh) 具有移载功能的液晶屏幕检测设备
JP4910880B2 (ja) スクリーン印刷方法
KR101129642B1 (ko) 액정셀 검사장치 및 검사방법
KR101001099B1 (ko) 액정표시소자 패널 검사장치
CN106383021B (zh) 一种玻璃在线光学检验台
JP2846176B2 (ja) プリント基板検査方法および検査装置
JP5133912B2 (ja) 液晶パネルの欠陥検査装置
TWI404935B (zh) 檢查裝置
CN208224106U (zh) 一种贴片机的检测平台
JP2006344705A (ja) 基板のステージ装置、検査装置及び修正装置
CN113008794B (zh) 一种检测设备及光学检测方法
CN211856390U (zh) 一种柔性线路板检测装置
CN202171569U (zh) 高效的自动光学检测设备
CN211207005U (zh) 通用型点灯治具
TWM351566U (en) Laser repair apparatus with probe mechanism
TWI391649B (zh) 面板缺陷之點燈測試機台及面板缺陷之點燈測試方法
KR100669112B1 (ko) 슬라이딩 기능이 구비된 디스플레이 장치용 글라스 검사장치
KR101300098B1 (ko) 기판 검사 장치 및 방법
CN210347851U (zh) 共用式两段fpc假压检测治具
KR20180088564A (ko) 디스플레이패널의 열화상 검사장치
CN220932824U (zh) 一种探针卡检测装置