1236851 ⑴ 玖、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於圖素缺陷檢出補正裝置及圖素缺陷檢出 補正方法。 【先前技術】 固體攝像元件之圖素缺陷係分成:其一,爲對所有正 常信號加算一定量之電荷(導因於 CCD(Charge Coupled Device)之結晶缺陷等)之白缺陷;及其二,爲對正常信號 以一定比率降低信號電平(導因於CCD之導通晶片透鏡之 傷痕等)或全部輸〇以下之信號電平(導因於CCD之光二極 體之開放)之黑缺陷。這些圖素缺陷會成爲攝像時之點狀 傷痕而導致畫質劣化,故提出各種以信號處理實現缺陷檢 出及補正之手段。 傳統之攝像元件之圖素缺陷檢出及補正裝置時,會在 調整時檢出圖素缺陷,將其位置儲存於暫存器等記憶裝置 ,攝像時會參照該位置,從對象圖素附近之圖素之資料計 算內插値,並將此內插値及缺陷圖素資料置換實施內插。 例如專利文獻〗所示,攝像中除了實施圖素缺陷之補 正,尙實施缺陷檢出,爲了針對攝像元件使應實施補正之 欠 個數介於預設之設定範圍內,除了對應缺陷圖素之個 數將缺陷檢出之電平比較之閾値設定成可變以外,尙將缺 陷圖素之位置資訊、缺陷圖素在現框之前之框亦被檢出爲 缺陷圖素時之檢出框之數、以及代表缺陷圖素在前一框是 -4 - (2) 1236851 否經過補正之資訊儲存於1個記憶手段。 又,如專利文獻2之摘要說明所示,具有:用以檢出 固體攝像元件之第1圖素之第1圖素信號、及該第]圖素之 周邊之第2圖素之第2圖素信號之電平差之電平差檢出電路 ;用以將該電平差檢出電路之輸出信號及特定閾値進行比 較之比較器;以及以複數欄份儲存該比較器之比較結果之 記憶體;且,依據該記憶體之儲存資訊斷定缺陷圖素。 又,如專利文獻3之發明摘要所示,具有依據CCD元 件之輸出信號檢出CCD元件之各圖素當中輸出特異電平 之信號之缺陷圖素之系統控制器、開關、檢出前處理電路 、檢出電路、以及用以儲存以前述檢出之缺陷圖素之位置 資料之暫存器,並刪除儲存於暫存器之位置資料。 又,如專利文獻4之說明摘要所示,實施缺陷檢査時 ,以比較器將CCD固體攝像元件之攝像輸出電平及特定 檢出電平進行比較,用以檢出缺陷圖素,並以計數器計算 檢出之缺陷圖素數,當該檢出數超過記憶容許數時,以檢 出電平設定電路將比較器之檢出電平設定成高於當時之檢 出電平之電平,降低缺陷檢出感度,並重複實施再檢査直 到缺陷圖素數介於容許範圍內爲止。 [專利文獻1 ] 曰本特開2002-51266號公報 [專利文獻2 ] 日本特開平6 - 2 8 4 3 4 6號公報 [專利文獻3 ] -5- (3) (3)1236851 曰本特開平5-2 6 03 8 5號公報 [專利文獻4 ] 曰本特開平6 - 3 1 5 Π 2號公報 【發明內容】 然而,上述傳統之缺陷圖素補正方法時,可補正之缺 陷圖素數會受到記憶裝置容量之限制,爲了增加可補正之 圖素數,必須增加記憶裝置之容量,而會導致檢出電路之 閘門規模必須擴大的問題。 又’對於因動作溫度變動等而產生在調整時無法檢出 之後發缺陷,傳統之方法有無法確實檢出及補正之問題。 又,專利文獻1時,因爲將缺陷圖素之位置資訊、缺 陷圖素在現框之前之框亦被檢出爲缺陷圖素時之檢出框之 數、以及代表缺陷圖素在前一框是否經過補正之資訊儲存 於1個記憶手段,可補正之缺陷圖素數會受到記憶手段容 量之限制,而有爲了增加可補正之圖素數而必須增加記憶 手段之容量的問題。 又,專利文獻2時,針對攝像元件之〗圖素及其周邊之 第2圖素檢出兩者之電平差,並將其和閾値進行比較,而 將實施缺陷圖素之判斷的結果預先儲存於記憶體,可補正 之缺陷圖素數會受到記憶體容量之限制,而有爲了增加可 補正之圖素數而必須增加記憶體之容量的問題。 又’專利文獻3時,因爲缺陷圖素檢出手段未檢出對 應儲存於記憶手段之位置資料之圖素爲連續特定次數以上 -6 - 1236851
之缺陷圖素時,會從記憶手段刪除位置資料,雖然可排出 含溫度等在內之檢出條件的影響,然而,可補正之缺陷圖 素數會受到記憶手段容量之限制,而有爲了增加可補正之 圖素數而必須增加記憶手段之容量的問題。 又,專利文獻4時,因會計算缺陷圖素之數,當計數 超過記憶容許數時,會以提高缺陷檢出手段之電平比較閾 値來提高檢出感度,雖然可有效利用有限之記憶手段容量 ’然而,可補正之缺陷圖素數會受到記憶手段容量之限制 ’而有爲了增加可補正之圖素數而必須增加記憶手段之容 量的問題。 有鑑於此,本發明之課題係在提供一種圖素缺陷檢出 補正裝置及圖素缺陷檢出補正方法,可補正之缺陷圖素數 不會受到記錄裝置容量之限制,而且,對於因動作溫度變 動等而產生在調整時無法檢出之後發缺陷,亦可確實檢出 及補正。 本發明之圖素缺陷檢出補正裝置具有:用以計算缺陷 檢出上必要之鄰接圖素及缺陷判別對象圖素之色差之絕對 値、色差及亮度資料、以及針對內插値計算對象圖素之資 料之色差及亮度計算手段;從色差及亮度計算手段之計算 値檢出各種資料之最大値及最小値之各種資料最大値及最 小値檢出手段;針對內插値計算對象圖素取得缺陷判別對 象圖素之色差內插値之色差內插値計算手段;針對內插値 計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之亮度內插値之亮度 內插値計算手段;以利用各種資料最大値及最小値檢出手 (5) 1236851 段、色差內插値計算手段、以及亮度內插値計算手段取得 之資料爲基本,利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺 陷檢出方法實施缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖 素爲缺陷時,置換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原 有資料並實施內插處理之缺陷判別及內插處理手段;以及 選擇以缺陷判別及內插處理手段得到之被判別成缺陷之圖 素之最終輸出値之使用內插値選擇手段;且,攝像中會隨 時實施圖素缺陷之檢出及補正,以複數之缺陷檢出方法及 內插方法之最佳組合實施圖像資料之圖素缺陷之檢出及補 正者。 因此,本發明具有以下之作用。 色差及亮度計算手段會計算缺陷檢出上必要之鄰接圖 素及缺陷判別對象圖素之色差之絕對値、色差及亮度資料 、以及針對內插値計算對象圖素之資料。各種資料最大値 及最小値檢出手段會從色差及亮度計算手段之計算値檢出 各種資料之最大値及最小値。色差內插値計算手段會針對 內插値計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之色差內插値 。亮度內插値計算手段會針對內插値計算對象圖素取得缺 陷判別對象圖素之亮度內插値。缺陷判別及內插處理手段 會以利用各種資料最大値及最小値檢出手段、色差內插値 計算手段、以及亮度內插値計算手段取得之資料爲基本, 利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺陷檢出方法實施 缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖素爲缺陷時,置 換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原有資料並實施內 -8- (6) 1236851 插處理。使用內插値選擇手段則會選擇以缺陷判別及內插 處理手段得到之被判別成缺陷之圖素之最終輸出値。依據 本發明,攝像中會隨時實施圖素缺陷之檢出及補正,以複 數之缺陷檢出方法及內插方法之最佳組合實施圖像資料之 圖素缺陷之檢出及補正。 本發明之圖素缺陷檢出補正方法具有:用以計算缺陷 檢出上必要之鄰接圖素及缺陷判別對象圖素之色差之絕對 値、色差及亮度資料、以及針對內插値計算對象圖素之資 料之色差及亮度計算步驟;從色差及亮度計算步驟之計算 値檢出各種資料之最大値及最小値之各種資料最大値及最 小値檢出步驟;針對內插値計算對象圖素取得缺陷判別對 象圖素之色差內插値之色差內插値計算步驟;針對內插値 計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之亮度內插値之亮度 內插値計算步驟;以利用各種資料最大値及最小値檢出步 驟、色差內插値計算步驟、以及亮度內插値計算步驟取得 之資料爲基本,利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺 陷檢出方法實施缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖 素爲缺陷時,置換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原 有資料並實施內插處理之缺陷判別及內插處理步驟;以及 依據優先度選擇以缺陷判別及內插處理步驟得到之被判別 成缺陷之圖素之最終輸出値之使用內插値選擇步驟;且, 攝像中會隨時實施圖素缺陷之檢出及補正,以複數之缺陷 檢出方法及內插方法之最佳組合實施圖像資料之圖素缺陷 之檢出及補正者。 冬 (7) 1236851 因此,本發明具有以下之作用。
€差及亮度計算步驟會計算缺陷檢出上必要之鄰接圖 « &缺陷判別對象圖素之色差之絕對値、色差及亮度資料 ' Μ及針對內插値計算對象圖素之資料.。各種資料最大値 & β /」、値檢出步驟會從色差及亮度計算步驟之計算値檢出 S種資料之最大値及最小値。色差內插値計算步驟會針對 ii彳直計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之色差內插値 。亮度內插値計算步驟會針對內插値計算對象圖素取得缺 陷判別對象圖素之亮度內插値。缺陷判別及內插處理步驟 會以利用各種資料最大値及最小値檢出步驟、色差內插値 計算步驟、以及亮度內插値計算步驟取得之資料爲基本, 利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺陷檢出方法實施 缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖素爲缺陷時,置 換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原有資料並實施內 插處理。使用內插値選擇步驟則會依據優先度選擇以缺陷 判別及內插處理步驟得到之被判別成缺陷之圖素之最終輸 出値。依據本發明,攝像中會隨時實施圖素缺陷之檢出及 補正,以複數之缺陷檢出方法及內插方法之最佳組合實施 圖像資料之圖素缺陷之檢出及補正。 【實施方式】 以下,適度參照圖面,針對本發明實施形態進行說明 〇 第]圖係應用於本發明實施形態之缺陷檢出及補正控 -10- (8) 1236851 制方塊之基本構成之槪略圖。 首先,針對應用於本發明實施形態之缺陷檢出及補正 控制方塊1之構成進行說明。爲本發明實施形態之中心之 圖素缺陷檢出及內插控制方塊],係位於具有經由輸入端 子4供應含有圖素缺陷之圖像輸入信號I之CCD2等之攝像 方塊、及會產生亮度信號及色信號且經由輸出端子5供應 含有經過補正之資料之圖像輸出信號0之相機信號處理 方塊之間。 應用於本發明實施形態之缺陷檢出及補正控制方塊1 之構成上,具有用以計算缺陷檢出上必要之鄰接圖素及缺 陷判別對象圖素之色差之絕對値、色差及亮度資料、以及 針對內插値計算對象圖素之資料之色差及亮度計算方塊 (1-2)。 又,缺陷檢出及補正控制方塊1之構成上,具有從色 差及亮度計算手段之計算値檢出各種資料之最大値及最小 値之各種資料最大値及最小値檢出方塊(〗-3)。 又,缺陷檢出及補正控制方塊1之構成上,具有針對 內插値計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之色差內插値 之色差內插値計算方塊(1-4)。 又,缺陷檢出及補正控制方塊]之構成上,具有針對 內插値計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之亮度內插値 之売度內插値計算方塊(1-5)。 又,缺陷檢出及補正控制方塊]之構成上,具有以利 用各種資料最大値及最小値檢出方塊(]-3)、色差內插値 -11 - (9) 1236851 計算方塊(]-4 )、以及亮度內插値計算方塊(1 - 5 )取得之資 料爲基本,利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺陷檢 出方法實施缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖素爲 缺陷時,置換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原有資 料並實施內插處理之缺陷判別及內插處理方塊(I -6)。 又,缺陷檢出及補正控制方塊1之構成上,具有選擇 以缺陷判別及內插處理方塊(1 -6)得到之被判別成缺陷之 圖素之最終輸出値之使用內插値選擇方塊(1 - 7)。 又’缺陷檢出及補正控制方塊1之構成上,攝像中會 隨時實施圖素缺陷之檢出及補正,以複數之缺陷檢出方法 及內插方法之最佳組合實施圖像資料之圖素缺陷之檢出及 補正。 又,缺陷檢出及補正控制方塊1之構成上,具有以針 對後段各方塊之各圖素實施處理爲目的而對圖像輸入信號 貫施延遲處理之延遲產生方塊(1-1)。 具有此構成之應用於本發明實施形態之缺陷檢出及補 正控制方塊1執行以下之動作。 以色差及亮度計算方塊(1-2)、色差內插値計算方塊 (1 - 4 )、以及亮度內插値計算方塊(】_ 5 )之演算方法的最佳 化’可將其應用於補色信號處理系及原色信號處理系之其 中任一 ’而不論其爲單板式或多板式等之CCD之攝像形 態。其次,針對應用於單板補色信號處理系之實例進行說 明。 應用於本發明實施形態之缺陷檢出及補正控制方塊1 -12- (10) 1236851 中,色差及亮度計算方塊(]-2)、各種資料最大値及最小 値檢出方塊(1-3)、色差內插値計算方塊(1_4)、亮度內插 値計算方塊(5)、缺陷判別及內插處理方塊(卜6)、以及 使用內插値選擇方塊(1 - 7)會執行以下之動作。 色差及売度計算方塊(卜2)會計算缺陷檢出上必要之 鄰接8圖素及缺陷判別對象圖素之色差之絕對値,亦即, 針對第2圖A所示之鄰接8圖素色差絕對値比較之缺陷檢 出比較對象圖素計算|A-A,|、|B-B’丨、|C-C, |、|D-D, | 、IF-F,卜 IG-G,卜 |Η·Η,卜 |1-1,卜以及 |Ε·Ε’ 卜 又,會計算色差內插値計算方塊(1-4)及亮度內插値 吕十算方塊(1-5)所使用之色差及売度資料,亦即,針對第3 圖所示之內插値計算對象圖素計算Β-Β’ 、D-D’ 、Ε-Ε’ 、F-F, 、Η-Η, 、B + B,、D + D,、E + E,、F + F,、以及 Η + Η, 〇 各種資料最大値及最小値檢出方塊(1-3)會從色差及 亮度計算方塊(卜2)之計算値檢出缺陷判別及內插處理方 塊U-6)所使用之各種資料之最大値及最小値。 依照不同缺陷檢出方式,第2圖 Α所示之鄰接8圖素 間色差絕對値比較之缺陷圖素檢出時,會從IA-A’丨、|B-B,卜 |C-C,卜 |D-D,卜 |F-F,卜 |G-G,卜 |H_H,卜以 及11 -1 ’ |當中檢出最大値,第2圖B所示之鄰接8圖素間比 較之缺陷圖素檢出時,會從A、B、C、D、F、G、Η、以 及I當中檢出最大値及最小値,第2圖C所示之最接近8圖 素間比較之缺陷圖素檢出時,會從A ”、Β ”、C ”、D ”、F ” -13- (11) 1236851 、G ”、Η ”、以及Γ當中檢出最大値及最小値。 色差內插値計算方塊(卜4)會以如下所示之方法計算 內插値。首先,針對第3圖所示之內插値計算對象圖素計 算縱向色差之相關係數Kc —ν = |(Β-Β’ )·(Η·Η,)|/2、及橫 向之色差間之相關係數Kc_h = |(D-D’ )-(F-F,)丨/2,其次 ,計算縱/橫之色差之相關係數Kc_hv = KC_h/(K:e_h + K^_v;) 。但,Kc —h + KC-V = 0時,Kc —hv = 〇.5。其次,求取縱向之 內插値 c_v = (((B-B’ )+ (H-H’ ))/2) X Kc一hv、及橫向之內 插値 c — h = (((D-D’ )+ (F-F’ ))/2) X (i-Kc — hv),而得到缺 陷判別對象圖素E之色差內插値E__c_hv = E,+ (e_v + e_h)。 売度內插値昇方塊(卜5)會以如下所示之方法計算 內插値。首先’針對第3圖所示之內插値計算對象圖素求 取縱向亮度之相關係數Ky_v = |(B + B’MH + H,)|/2、及橫向 色差間之相關係數Ky_h = |(D + D’)-(F + F’)|/2,其次,計算 縱/橫之色差之相關係數K y _ h v = K y — h / (K y _ h + K y _ v )。其次 ,求取縱向之內插値 y_v = (((B + B’)+ (H + H,))/2) x Ky_hv、 及橫向之內插値 y —h = (((D + D’)+ (F + F’))/2) χ (l-Ky —hv), 得到缺陷判別對象圖素 E之亮度內插値 E_y_hv = E,-(y一v+y一h)。 缺陷判別及內插處理方塊(1 - 6)會以各種資料最大値 及最小値檢出方塊(]-3)、色差內插値計算方塊(1-4)、以 及亮度內插値計算方塊(1- 5 )之資料爲基本,利用3種缺陷 檢出方法,同時針對各缺陷檢出方法實施缺陷判別對象圖 素E之缺陷判別,在判斷圖素E爲缺陷時,置換對應缺 -14 - (12) 1236851
Pa檢出方法之內插値、及圖素E之原有資料實施內插處理 〇 第〗缺1¾ fe出方法1係第2圖A所示之鄰接8圖素間色 差絕對値比較之缺陷圖素檢出。 缺陷判別對象圖素爲E時,缺陷判別及內插處理方塊 (1-6)會求取閾値T],亦即,對以各種資料最大値及最小 値檢出方塊(1-3)求取之鄰接8圖素間色差絕對値之最大値 ’乘以以外部之通信設定部3之通信設定方式而可從外部 任意設定之係數 1,並將得到之値視爲閾値T 1。 又,缺陷判別及內插處理方塊(1 - 6)會計算以色差內 插値計算方塊(1 - 4 )及亮度內插値計算方塊(】_ 5 )計算所得 之缺陷判別對象圖素E之色差內插値E_c_hv及亮度內插 値E_y_hv之差分之絕對値|E_y_hv-E_c_hv卜 此外,缺陷判別及內插處理方塊(1 -6)會求取限制値L ,亦即,對缺陷判別對象圖素E之絕對値乘以以外部之通 信設定部3之通信設定方式而可從外部任意設定之係數 ] ,並將求取之値視爲限制値L。比較這些演算結果,若滿 足下述數式1之關係,則將缺陷判別對象圖素E判別成缺 陷。 [數式1] |E-E’ |〉T1 (條件 1-])且 |E^y —hv-E —c_hv| < L(條件 1_2) 本缺陷檢出方法因採用鄰接圖素間之差分之色差’故 -15- (13) 1236851 會進一步彰顯缺陷,和其他2種缺陷檢出方 抑制各式各樣圖像之錯誤檢出。採用色差之 抑制圖像之境界區域等信號電平之變化較激 誤檢出。又,條件1 - 2之限制因爲圖像之正 法滿足,相反的,缺陷部分往往可滿足,故 素之錯誤檢出。又,本限制在抑制缺陷前一 出上亦具有效果。 本檢出方法採用亮度內插値做爲最佳內 誤檢出正常圖素並實施內插處理時,亦可將 之影響抑制於最小。 第2缺陷檢出方法2係第2圖B所示之鄰^ 之缺陷圖素檢出。 缺陷判別對象圖素爲E時,缺陷判別及 (1-6)會求取閾値 T2_max,亦即,對以各種 最小値檢出方塊(1- 3 )求取之鄰接8圖素之最 外部之通信設定部3之通信設定方式而可從 之係數 2,並將求取之値視爲閾値T2_max 同樣的,缺陷判別及內插處理方塊(1 -T2_min,亦即,對鄰接8圖素之最小値乘以 疋部3之通信設定方式而可從外部任意設J 求取之値視爲閾値T 2 _ m i η。比較這些演算 下述數式2之關係,則將缺陷判別對象圖素 法相比,可以 絕對値,可以 烈之部位的錯 常部分往往無 可抑制正常圖 圖素之錯誤檢 插値。即使錯 導致畫質劣化 妾8圖素間比較 內插處理方塊 資料最大値及 大値,乘以以 外部任意設定 〇 6)會求取閾値 以外部之通信 Ε之 2 ^並將 結果,若滿足 Ε判別成缺陷 - 16 - (14) 1236851 [數式2] E〉T2 — max(條件 2-1)或 e < T2_min(條件 2-2) 本檢出方法和其他2種缺陷檢出方法相比,可抑制白 黑之條紋圖案等對比激烈之圖像之錯誤檢出,而可獲得較 高之檢出效率。本檢出方法採用色差內插値做爲最佳內插 値。
第3缺陷檢出方法3係第2圖c所示之最接近8圖素間比 較之缺陷圖素檢出。 缺陷判別對象圖素爲E時,缺陷判別及內插處理方塊 (1-6)會求取間値T3-max,亦即,對以各種資料最大値及 最小値檢出方塊(1 - 3 )得到之最接近8圖素之最大値,乘以 以外部之通信設定部3之通信設定方式而可從外部任意設 定之係數 3,並將得到之値視爲閾値T3_max。
同樣的’缺陷判別及內插處理方塊(1 - 6)會求取閾値 T3__min,亦即’對最接近8圖素之最小値乘以以外部之通 信設定部3之通信設定方式而從外部任意設定之係數3, 並將得到之値視爲閾値T3-min。比較這些演算結果,若 滿足下述數式3之關係,則將缺陷判別對象圖素e判別成 缺陷。 [數式3] E > T3_max(條件 3-1)或 E < T3 — min(條件 3-2) -17- (15) 1236851 在其他2種缺陷檢出方法容易發生錯誤檢出之明亮圖 像(光之反射部或燈等),和不同濾色器之最接近圖素之信 號電平往往會相似。相對於此,缺陷時,和不同濾色器之 最接近圖素之信號電平往往會有差異。因此,利用本檢出 方法,可提高其他2種缺陷檢出方法不易檢出之明亮圖像 部分之缺陷檢出感度。本檢出方法採用売度內插値做爲最 佳內插値。 使用內插値選擇方塊(卜7)會選擇缺陷判別及內插處 理方塊(1 -6)得到之被判別成缺陷之圖素E之最終輸出値 。如前面所述,缺陷判別及內插處理方塊(1 - 6)會實施分 別適合3種缺陷檢出方法之內插處理,3種缺陷檢出方法之 各方法時,可抑制錯誤檢出且維持最大缺陷檢出效率之圖 像各不相同。因此,以如下所示之方法,從各缺陷檢出方 法之特徵選擇圖素E之最終輸出値。 第4圖係使用內插値選擇方塊(卜7)之動作流程圖。 第4圖中,步驟S 1會以第1缺陷檢出方法1判斷是否判 別成缺陷圖素。步驟S 1以第1缺陷檢出方法1判別成缺陷 圖素時,步騾S 2會不管其他檢出方法之判別結果爲何, 而輸出第1缺陷檢出方法]之內插値。 步驟 S 1以第1缺陷檢出方法1判別成非缺陷圖素時, 步驟S3會以第2缺陷檢出方法2判斷是否判別成缺陷圖素 。以第2缺陷檢出方法2判別成缺陷圖素時,步驟S4在第1 缺陷檢出方法1未判別成缺陷時,會不管缺陷檢出方法3之 判別結果爲何,而輸出第2缺陷檢出方法2之內插値。 -18- (16) 1236851 步驟 S 3以第2缺陷檢出方法2判別成非缺陷圖素時, 步驟S 5會以第3缺陷檢出方法3判斷是否判別成缺陷圖素 。以第3缺陷檢出方法3判別成缺陷圖素時,步驟S 6只有 在以其他2種缺陷檢出方法未判別成缺陷時才會輸出第3缺 陷方法3之內插値。 任何一種缺陷檢出方法皆未判別成缺陷時,步驟S 7 會直接輸出圖素E之値。 依據上述本實施形態時,第1,因爲在圖素缺陷檢出 後立即實施內插處理,故無需用以儲存缺陷圖素位置之記 憶裝置,而無需因實施缺陷檢出及補正之區域而受到限制 〇 第2,因爲不需要用以儲存缺陷圖素位置之記憶裝置 ,故以低成本即可對全部圖素實現缺陷補正。 第3,因爲在攝像時隨時實施缺陷檢出及內插,故可 實施導因於攝像元件溫度變化等之後發缺陷之檢出及補正 〇 第4,因爲同時實施複數缺陷檢出、及相符之內插處 理’並依據缺陷檢出方法之特徵決定最終內插輸出値,故 可將內插後之正常圖素之錯誤檢出抑制於最小。 第5,因爲對各缺陷檢出方法實施缺陷檢出時之閎値 之通fe設疋’故可將正常圖素之錯誤檢出抑制於最小,且 獲得最大缺陷圖素檢出效率。 第6 ’因爲缺陷檢出方法及內插方法之組合爲最佳組 合,即使錯誤檢出正常圖素並實施內插處理時,亦可將導 -19- (17) 1236851 致畫質劣化之影響抑制於最小。 第7,因爲對缺陷檢出時從亮度及色差計算得之內插 値之信號電平、及檢出對象圖素之信號電平之關係進行檢 出設有限制,故可檢出容易錯誤檢出之圖像之狀態,而可 抑制錯誤檢出。 當然,本發明並未受限於上述本實施形態,只要未背 離本發明之申請專利範圍,可以爲其他之適當構成。 本發明之圖素缺陷檢出補正裝置係用以對以攝像手段 攝取之圖像資料實施圖素缺陷檢出及補正之圖素缺陷檢出 補正裝置,具有:用以計算缺陷檢出上必要之鄰接圖素及 缺陷判別對象圖素之色差之絕對値、色差及亮度資料、以 及針對內插値計算對象圖素之資料之色差及亮度計算手段 ;從色差及亮度計算手段之計算値檢出各種資料之最大値 及最小値之各種資料最大値及最小値檢出手段;針對內插 値計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之色差內插値之色 差內插値計算手段;針對內插値計算對象圖素取得缺陷判 別對象圖素之亮度內插値之亮度內插値計算手段;以利用 上述各種資料最大値及最小値檢出手段、上述色差內插値 計算手段、以及上述亮度內插値計算手段取得之資料爲基 本,利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺陷檢出方法 實施缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖素爲缺陷時 ,置換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原有資料並實 施內插處理之缺陷判別及內插處理手段;以及選擇以上述 缺陷判別及內插處理手段得到之被判別成缺陷之圖素之最 -20- (18) 1236851 終輸出値之使用內插値選擇手段;且,攝像中會隨時實施 圖素缺陷之檢出及補正,以複數之缺陷檢出方法及內插方 法之最佳組合實施圖像資料之圖素缺陷之檢出及補正’而 在圖素缺陷檢出後立即實施內插處理,故無需以儲存缺陷 圖素之位置爲目的之記憶裝置,不會因實施缺陷檢出及補 正之區域而受到限制,又,因爲攝像時隨時實施缺陷檢出 及內插,而具有可實施導因於攝像元件溫度變化等之後發 缺陷之檢出及補正之效果。 又,本發明之圖素缺陷檢出補正裝置如上所述,上述 缺陷判別及內插處理手段之缺陷判別時,會使用針對缺陷 判別對象圖素之色差內插値及亮度內插値來限制缺陷判別 ,故缺陷檢出時,而對從亮度及色差計算所得之內插値之 信號電平、及檢出對象圖素之信號電平之關係進行檢出設 有限制’可檢出容易發生錯誤檢出之圖像之狀態,而具有 抑制錯誤檢出之效果。 又,本發明之圖素缺陷檢出補正裝置如上所述,上述 缺陷判別及內插處理手段之缺陷判別及內插處理時,採用 複數缺陷檢出方法、及在錯誤檢出時亦可將畫質劣化抑制 於最小而最適合各缺陷檢出方法之內插方法,同時實施各 缺陷檢出及內插處理’上述使用內插値選擇手段則以依據 缺陷檢出方法之特徵決定最終內插輸出値來選擇最終內插 輸出値,並同時實施複數之缺陷檢出及適合其之內插處理 ,依據缺陷檢出方法之特徵來決定最終內插輸出値,而可 將內插後之正常圖素之錯誤檢出抑制於最小,又,利用缺 -21 - (19) 1236851 陷檢出方法及內插方法之組合的最佳化,即使因錯誤檢出 正常圖素並實施內插處理時,亦具有可將導致畫質劣化之 影響抑制於最小之效果。 又,本發明之圖素缺陷檢出補正裝置如上面所述,因 爲上述限制可從外部任意設定,針對各缺陷檢出方法實施 缺陷檢出時之閾値之通信設定,而具有可將正常圖素之錯 誤檢出抑制於最小且具有最大缺陷圖素檢出效率之效果。 又,本發明之圖素缺陷檢出補正方法係針對以攝像手 段攝取之圖像資料實施圖素缺陷之檢出及補正之圖素缺陷 檢出補正方法,具有:用以計算缺陷檢出上必要之鄰接圖 素及缺陷判別對象圖素之色差之絕對値、色差及亮度資料 、以及針對內插値計算對象圖素之資料之色差信號及亮度 信號計算步驟;從色差及亮度計算步驟計算値檢出各種資 料之最大値及最小値之各種資料最大値及最小値檢出步驟 ;針對內插値計算對象圖素取得缺陷判別對象圖素之色差 內插値之色差內插値計算步驟;針對內插値計算對象圖素 取得缺陷判別對象圖素之亮度內插値之亮度內插値計算步 驟;以利用上述各種資料最大値及最小値檢出步驟、上述 色差內插値計算步驟、以及上述亮度內插値計算步驟取得 資料爲基本,利用複數之缺陷檢出方法,同時針對各缺陷 檢出方法實施缺陷判別對象圖素之缺陷判別,在判斷圖素 爲缺陷時,置換對應缺陷檢出方法之內插値及圖素之原有 資料並實施內插處理之缺陷判別及內插處理步驟;以及依 據優先度選擇以上述缺陷判別及內插處理步驟得到之被判 -22- (20) 1236851 別成缺陷之圖素之最終輸出値之使用內插個 ,攝像中會隨時實施圖素缺陷之檢出及補IE 陷檢出方法及內插方法之最佳組合實施圖f| 陷之檢出及補正,而在圖素缺陷檢出後立則 ,故無需以儲存缺陷圖素之位置爲目的之言Ε 因實施缺陷檢出及補正之區域而受到限制, 時隨時實施缺陷檢出及內插,而具有可實施 件溫度變化等之後發缺陷之檢出及補正之% 依據優先順位輸出缺陷檢出之內插値之效果 又,本發明之圖素缺陷檢出補正方法如 上述使用內插値選擇步驟之優先度係鄰接Ϊ 値比較、鄰接8圖素比較、以及最接近8圖素 故具有可以鄰接8圖素色差絕對値比較、鄰; 及最接近8圖素比較之順序輸出缺陷檢出之 【圖式簡單說明】 第1圖係應用於本實施形態之缺陷檢出 塊之構成圖。 第2圖係缺陷檢出方法及檢出對象圖素 鄰接8圖素間色差絕對値比較,第2圖Β係; 較,第2圖C係最接近8圖素間比較。 第3圖係內插値計算對象圖素圖。 第4圖係使用內插値選擇方塊之動作流平 選擇步驟;且 ,以複數之缺 資料之圖素缺 實施內插處理 憶裝置,不會 又,因爲攝像 導因於攝像元 果,又,具有 〇 上面所述,因 圖素色差絕對 比較之順序, I 8圖素比較、 內插値之效果 及補正控制方 ,第2圖 Α係 ®接8圖素間比 【圖。 -23- (21) (21)1236851 [圖號說明] 1…缺陷檢出及補正控制方塊 1 -1…延遲產生方塊 1-2…色差及亮度計算方塊 1- 3…各種資料最大値及最小値檢出方塊 1-4…色差內插値計算方塊 1-5…亮度內插値計算方塊 1 - 6…缺陷判別及內插處理方塊 1-7…使用內插値選擇方塊
2··· CCD 3…通信設定部 4…輸入端子 5…輸出端子 I…含有圖素缺陷之圖素輸入信號 〇…含有經過補正之資料之圖像輸出信號 -24-