JP4388909B2

JP4388909B2 - 画素欠陥補正装置

Info

Publication number: JP4388909B2
Application number: JP2005127111A
Authority: JP
Inventors: 秀彦佐藤; 澄人吉川
Original assignee: イーストマンコダックカンパニー
Priority date: 2005-04-25
Filing date: 2005-04-25
Publication date: 2009-12-24
Anticipated expiration: 2025-04-25
Also published as: US8035702B2; US20060238629A1; JP2006304231A

Description

本発明は、ＣＣＤ等の撮像素子で得られた画素群に存在する欠陥を補正する装置に関する。

従来より、ＣＣＤ等の２次元撮像素子中に存在する欠陥画素を検出し、周囲画素を用いて欠陥画素を補正して出力する技術が知られている。

下記の特許文献１には、ベイヤー（Ｂａｙｅｒ）配列において、Ｇｂにラインクロール補正係数を乗算し、Ｇｒはそのまま出力することで全体としてラインクロールを除去することが開示されている。ここで、「ラインクロール」とは、Ｒ、Ｇ、Ｂの微細カラーフィルタ群からなる原色ベイヤー配列のカラーフィルタが受光面に設けられ、特にＲの微細カラーフィルタを通過する長波長光が受光面の深部まで達することから、その深部において発生した電荷が隣接する他の画素に漏洩してノイズとなり、ＢやＧの微細カラーフィルタが設けられた画素に混入することで、たとえ無模様かつ一色の被写体を撮影した場合であっても各画素の感度が不均一となってしまう現象をいう。ラインクロールは、ベイヤー配列に限らず他のカラー配列においても生じ得る。

特開平９−２３８３５５号公報

ＣＣＤ等の撮像素子の欠陥画素は、温度上昇や長時間露光等により不特定に増減する。かかる欠陥画素を検出し補正する際には、注目画素の周囲画素を用いるが、仮に注目画素に隣接する隣接画素を用いたのではラインクロールの影響で検出精度及び補正精度が担保されない。そこで、画素の欠陥検出及び欠陥画素の補正には、ラインクロールの影響を回避すべく、注目画素に対して１ラインだけ離れた同色ラインに位置する４つの画素を用いて行うことが考えられる。

図１４に、注目画素の欠陥検出方法及び補正方法を示す。ベイヤー配列された画素（正確にはベイヤー配列のカラーフィルタが配置された画素であるが、便宜上、単に画素と称する）のうち、図１４（ａ）に示すように、注目画素Ｇｏｒｇ１００と同色のラインに位置する縦横方向の４つの画素である画素１０２（Ｇ１）、画素１０４（Ｇ２）、画素１０６（Ｇ３）、画素１０８（Ｇ４）を欠陥検出用画素として用いる。例えば、ＧｏｒｇがＧ（グリーン）／Ｂｌｕｅ（ブルー）ラインのＧ画素である場合、このラインから１ラインだけ離れたＧ／ＢラインのＧ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４を欠陥検出用画素として用いる。これら４つの画素Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４から注目画素Ｇｏｒｇ位置における画素値を推定し、その推定値と実際のＧｏｒｇの画素値とを比較する。Ｇｏｒｇの画素値と推定値との差分が所定のしきい値以上であって著しく大きい場合には、周囲の画素から推定され得ない不正な値が混入していると判定してＧｏｒｇを欠陥画素として検出する。Ｇｏｒｇを欠陥画素として検出した場合、欠陥検出に用いた４つの画素Ｇ１，Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４をそのまま補正用画素１１０、１１２、１１４、１１６として用いてＧｏｒｇを補正する（つまり、Ｇｏｒｇの画素値をＧ１〜Ｇ４の推定値で置換する）。

以上のようにして１ライン分だけ離れた周囲画素を用いることでラインクロールの影響を排除できるが、１ライン分だけ離れた周囲画素を用いて補正するため画像のシャープネスが損なわれてしまう。また、元画像に欠陥画素をその一部に含む斜め方向のエッジが存在している場合、このような補正方法では本来あるべき斜め方向のエッジが消失してしまう問題もある。

図１５に、元画像にＧｏｒｇを含む斜め方向のエッジ１２０が存在する場合を示す。欠陥画素Ｇｏｒｇは、縦横のＧ１〜Ｇ４で補正され、これらにはエッジ１２０の画素情報が含まれていないから、補正後のＧｏｒｇもエッジの情報を有さず、図１５（ａ）のように補正前には存在していたエッジ１２０が、図１５（ｂ）のように補正後にはその一部が消失してしまう。

本発明の目的は、ラインクロールの影響を排除し、かつ、斜めエッジが存在する場合でもこれを消失させることなく、確実に欠陥画素を補正できる装置を提供することにある。

本発明は、所定配列された画素群のうちの任意の画素の欠陥を補正する画素欠陥補正装置であって、注目画素の周囲画素を用いて前記注目画素の欠陥を検出する欠陥検出手段と、欠陥画素周囲のラインクロールの有無を判定するラインクロール判定手段と、前記ラインクロールの有無に応じて前記欠陥画素を補正するために用いる画素を変化させて前記欠陥画素を補正する補正手段とを有する。

本発明は、ラインクロールの存在を前提として欠陥画素の補正を行うのではなく、ラインクロールが生じているか否かを判定し、ラインクロールの有無に応じて欠陥画素の補正方法を変化させる。本発明の１つの実施形態では、ラインクロールが存在する場合に、さらに斜め方向エッジが存在するか否かを判定し、斜め方向エッジの有無に応じて欠陥画素の補正方法を変化させる。また、ラインクロールが存在しない場合に、欠陥画素の欠陥を再度検証し、検証結果に応じて補正方法を変化させる。斜め方向エッジの有無により補正方法を変化させることで元画像に存在する斜め方向を維持するように欠陥画素を補正することができ、ラインクロールの有無により補正方法を変化させることで元画像のシャープネスを維持するように欠陥画素を補正できる。

本発明によれば、ラインクロールの有無に応じて補正方法、すなわち補正に用いる画素を変化させるので、より精度の高い欠陥画素補正が可能となる。

以下、図面に基づき本発明の実施形態についてベイヤー配列を例にとり説明する。

図１に、本実施形態に係るデジタルカメラの構成ブロック図を示す。なお、レンズやシャッタ等の光学系や表示装置、各種スイッチ類は周知であるため省略してある。

ＣＣＤ１０は、ベイヤー配列のカラーフィルタを有し、被写体像を光電変換してＲ画素、Ｇ画素、Ｂ画素の画素信号として出力する。Ａ／Ｄ１２は、ＣＣＤからのアナログ画素信号をデジタル信号に変換し、画素値として画像メモリ１４に出力する。画素メモリ１４は、各画素値を順次記憶する。プロセッサ１６は、画像メモリ１４に記憶された画素値を順次読み出して欠陥検出処理及び欠陥画素の補正処理を実行し、さらにγ補正やホワイトバランス調整、輝度色差信号変換、ＪＰＥＧ変換等を実行して出力する。プロセッサ１６は、プログラムメモリ１８に予め記憶されたプログラムに従ってこれらの各処理を実行する。プログラムには、欠陥検出モジュール及び欠陥画素補正モジュールが含まれており、プロセッサ１６はこれらのモジュールを順次実行する。

本実施形態における欠陥検出方法は従来と同様であるが、欠陥画素補正方法は幾つかのステップから構成される。大別すると以下の各ステップを含む。
（１）ラインクロール有無の判定ステップ
欠陥画素あるいはその周囲にラインクロールが生じているか否かを判定するステップである。
（２）斜め方向エッジ有無の判定ステップ
ラインクロールが存在している場合にさらに欠陥画素を含む斜め方向エッジが元画像に存在しているか否かを判定するステップである。
（３）欠陥画素の検証ステップ
ラインクロールが存在していない場合に、別の周囲画素を用いて欠陥画素の欠陥を検証するステップである。

本実施形態では、上記の（１）〜（３）の判定ステップにより、欠陥画素の補正方法を適応的に変化させて補正する。以下、これらのステップについて詳細に説明する。

図２に、ベイヤー配列された画素を示す。Ｇ／Ｂライン、Ｇ／Ｒラインが交互に並んだ配列である。Ｇ／ＢラインにおけるＧをＧｂ、Ｇ／ＲラインにおけるＧをＧｒと称する。５×５の画素のうち、中央の画素１００を注目画素とする。図では、Ｇ／Ｂライン上のＧであるから注目画素がＧｂとなっている。以下では、注目画素を一般化してＧｏｒｇとする。

図３に、注目画素１００（Ｇｏｒｇ）の欠陥を検出する処理を示す。図１４に示す従来の方法と同様に、注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ラインに位置する縦横方向の４つの画素である画素１０２（Ｇ１）、画素１０４（Ｇ２）、画素１０８（Ｇ３）、画素１０６（Ｇ４）を欠陥検出用画素として用い、注目画素Ｇｏｒｇの欠陥を検出する。すなわち、４つの画素Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４の画素値からＧｏｒｇの位置における画素値を推定し、推定値と実際のＧｏｒｇの画素値との差分がしきい値以上であるか否かを判定する。推定は、例えばＧ１〜Ｇ４の単純平均を用いて行う。差分値がしきい値以上である場合には注目画素Ｇｏｒｇを欠陥画素と仮検出する。ここで、「仮検出」としたのは、後述するように検証の結果、欠陥ではないと判定される場合もあることを考慮したものである。

図４に、注目画素Ｇｏｒｇが欠陥画素と仮判定された場合の、ラインクロール有無を判定する処理を示す。上記のとおり、ラインクロールは特にＲ画素電荷が隣接画素に漏洩して生じるものである。そこで、着目画素Ｇｏｒｇに対して隣接する４つの画素である画素２１０（Ｇ５）、画素２１２（画素Ｇ６）、画素２１４（Ｇ７）、画素２１６（Ｇ８）を用いてＧｏｒｇ位置における画素値を推定し、上記のＧ１〜Ｇ４で推定した画素値と比較する。ラインクロールが存在していなければ両推定値はほとんど一致するが、ラインクロールが存在している場合には両推定値はラインクロールによるノイズ分だけ相違する。そこで、両推定値の差分を算出し、その差分が所定のしきい値以上である場合にラインクロールが生じていると判定できる。ラインクロールは、注目画素Ｇｏｒｇ周囲のＧ１〜Ｇ４、及びＧ５〜Ｇ８を用いて判定するため、これら８つの画素はラインクロール用画素２０２〜２１２として機能する。

ラインクロールが検出された場合、隣接画素を用いて補正することはできず、１ライン分だけ離れた画素を用いる必要があるが、Ｇ１〜Ｇ４の画素値を用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正したのでは斜め方向エッジが消失してしまう。一方、元画像にそもそも斜め方向エッジが存在しない場合にはこのような問題は生じない。そこで、元画像に斜め方向エッジが存在するか否かを判定する必要がある。

図５に、ラインクロールが生じている場合の、斜め方向エッジの検出処理を示す。斜め方向のエッジは、注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ライン上に位置する斜め方向の４つの画素である画素３０２（Ｇ９）、画素３０４（Ｇ１０）、画素３０６（Ｇ１１）、画素３０８（Ｇ１２）を用いて検出できる。例えば、Ｇ９、Ｇ１２を用いた推定値と、Ｇ１０、Ｇ１１を用いた推定値が大きく異なる場合には斜め方向のエッジが生じていると判定できる。元画像に斜め方向のエッジが存在する場合、Ｇ１〜Ｇ４とは異なる画素を用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正する。

図６に、斜め方向エッジが存在する場合の、注目画素Ｇｏｒｇの補正処理を示す。Ｇ１〜Ｇ４ではなく、斜め方向エッジを検出するために用いたＧ９〜Ｇ１２をそのまま補正用画素４０２、４０４、４０６、４０８として用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正する。注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ライン上に位置し、しかも斜め方向の４つの画素Ｇ９〜Ｇ１２を用いて補正することで、ラインクロールの影響を排除し、かつ、斜め方向のエッジを維持した補正が可能となる。

図７に、斜め方向エッジが存在しない場合の、注目画素Ｇｏｒｇの補正処理を示す。斜め方向エッジが存在しないため、Ｇ１〜Ｇ４を用いて補正しても問題ない。そこで、従来と同様にＧ１〜Ｇ４を用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正する。これにより、ラインクロールの影響を排除した補正が可能となる。

一方、ラインクロールが生じていない場合には、注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた画素を用いて補正する必要はなく、注目画素Ｇｏｒｇに隣接する画素を用いて補正することが可能であり、これにより画像のシャープネスを損なうこともない。但し、注目画素Ｇｏｒｇを欠陥画素と検出したのは、単に注目画素Ｇｏｒｇが斜め方向エッジに含まれていたからである可能性がある。図３に示すように、Ｇｏｒｇが欠陥画素であるか否かは、縦横方向のＧ１〜Ｇ４を用いて検出するため、単に斜め方向のエッジが存在するだけであってもＧｏｒｇの実際の値とＧ１〜Ｇ４を用いた推定値が相違してしまうからである。そこで、注目画素Ｇｏｒｇが欠陥画素と検出された場合であっても、ラインクロールが生じていない場合には、隣接画素を用いて補正するに先立ちＧｏｒｇが真に欠陥画素であるか否かを検証する。

図８に、注目画素Ｇｏｒｇの欠陥検証処理を示す。欠陥検出用画素としてはＧ１〜Ｇ４が用いられるが、検証用画素としては４つの隣接画素である画素６０２（Ｇ５）、画素６０４（Ｇ６）、画素６０６（Ｇ７）、画素６０８（Ｇ８）が用いられる。ラインクロールが生じていないことは既に判定済みであるため隣接画素Ｇ５〜Ｇ８を用いることができる点に留意されたい。Ｇ５〜Ｇ８を用いてＧｏｒｇ位置の画素値を推定し、実際のＧｏｒｇの画素値と比較する。両者の差分が所定のしきい値以上であって両者が大きく異なる場合には、Ｇｏｒｇは真に欠陥画素であると判定できる。一方、両者の差分が所定のしきい値より小さい場合には、注目画素Ｇｏｒｇは欠陥画素ではないと判定し、補正することなくそのまま出力する。なお、注目Ｇｏｒｇは真に欠陥画素であることが検証された場合には、隣接画素Ｇ５〜Ｇ８をそのまま用いてＧｏｒｇを補正する（つまり、Ｇ５〜Ｇ８の推定値でＧｏｒｇを置換する）。これにより、画像のシャープネスを維持できる。

図９に、本実施形態の全体処理フローチャートを示す。あるフレームの画像を画像メモリ１４に記憶した後の処理である。

まず、プロセッサ１６は、注目画素Ｇｏｒｇに対して１ライン分だけ離れた同色ライン上に位置する縦横方向の４つの画素Ｇ１〜Ｇ４の画素値を画像メモリ１４から読み出して注目画素Ｇｏｒｇの欠陥を検出する（Ｓ１０１）。注目画素Ｇｏｒｇに欠陥が検出されない場合には補正することなくそのまま後段の処理ブロックに出力する（Ｓ１０８）。一方、注目画素Ｇｏｒｇに欠陥が検出された場合には、次に注目画素Ｇｏｒｇ近傍にラインクロールが生じているか否かを判定する（Ｓ１０２）。

図１０に、Ｓ１０２におけるラインクロール判定の詳細フローチャートを示す。プロセッサ１６は、注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ライン上に位置する縦横方向の４つの画素Ｇ１〜Ｇ４を画像メモリ１４から読み出すとともに、注目画素Ｇｏｒｇに隣接する４つの同色画素Ｇ５〜Ｇ８を読み出す（Ｓ１５０）。そして、Ｇ１〜Ｇ４を用いて推定値＝（Ｇ１＋Ｇ２＋Ｇ３＋Ｇ４）／４を算出するとともにＧ５〜Ｇ８を用いて推定値＝（Ｇ５＋Ｇ６＋Ｇ７＋Ｇ８）／４を算出し、両推定値の差分を演算する（Ｓ１５１）。両推定値の差分を演算した後、差分値を所定のしきい値と大小比較する（Ｓ１５２）。しきい値は固定値でもよく、後述するように適応的に可変設定してもよい。差分値がしきい値以上であればラインクロールが生じていると判定し（Ｓ１５３）、差分値がしきい値より小さければラインクロールは生じていないと判定する（Ｓ１５４）。

再び図９に戻り、ラインクロールが生じている場合と生じていない場合の処理について説明する。

＜ラインクロールが生じている場合＞
ラインクロールが生じている場合、注目画素Ｇｏｒｇに隣接する画素を補正用の画素に用いることはできず、１ライン分だけ離れた同色ラインに位置する画素を用いることができるが、さらに縦横方向の画素を用いるが斜め方向の画素を用いるかを選択する。選択の基準は、斜め方向のエッジが存在するか否かである。そこで、斜め方向エッジが存在するか否かを判定し（Ｓ１０３）、存在する場合には斜め方向の画素を用いた補正処理Ａを用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正する（Ｓ１０４）。また、斜め方方向エッジが存在しない場合には縦横方向の画素を用いた補正処理Ｂを用いて注目画素Ｇｏｒｇを補正する（Ｓ１０５）。

図１１に、補正処理Ａのフローチャートを示す。注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ラインに位置する斜め方向の４つの画素Ｇ９、Ｇ１０、Ｇ１１、Ｇ１２の画素値を画像メモリ１４から読み出し（Ｓ２０１）、これら４つの画素の平均（Ｇ９＋Ｇ１０＋Ｇ１１＋Ｇ１２）／４、若しくは、各画素値に係数をもたせた加重平均（係数のもたせ方として、ある画素値が４画素の平均値に近ければその画素の係数を相対的に大きくすれば単純加算によるボケを減らすことができる）、若しくは４画素中の中央２画素の平均値でＧｏｒｇを置換することにより補正する（Ｓ２０２）。

図１２に、補正処理Ｂのフローチャートを示す。注目画素Ｇｏｒｇから１ライン分だけ離れた同色ラインに位置する縦横方向の４つの画素Ｇ１、Ｇ２、Ｇ３、Ｇ４の画素値を画像メモリ１４から読み出し（Ｓ３０１）、これら４つの画素の平均（Ｇ１＋Ｇ２＋Ｇ３＋Ｇ４）／４、若しくは、各画素値に係数をもたせた加重平均（係数のもたせ方として、ある画素値が４画素の平均値に近ければその画素の係数を相対的に大きくすれば単純加算によるボケを減らすことができる）、若しくは４画素中の中央２画素の平均値でＧｏｒｇを置換することにより補正する（Ｓ３０２）。

＜ラインクロールが生じていない場合＞
ラインクロールが生じていない場合、注目画素Ｇｏｒｇに隣接する画素を補正用の画素に用いることができる。しかしながら、注目画素が真に欠陥画素であるか否かを検証する必要がある。その理由は、Ｓ１０１で注目画素Ｇｏｒｇを欠陥画素と検出した際には縦横方向の周囲画素を用いて検出しており、注目画素Ｇｏｒｇを含む斜め方向エッジが存在する場合には縦横方向画素から推定した画素値とＧｏｒｇの画素値とは異なるため、これをもって欠陥画素と誤検出する可能性があるからである。そこで、Ｓ１０１での欠陥検証が斜め方向エッジによる誤検出であるか否かを検証する（Ｓ１０６）。具体的には、注目する画素Ｇｏｒｇに隣接する斜め方向の４つの同色画素からＧｏｒｇの画素値を推定し、この推定値とＧｏｒｇの画素値とを比較し、所定の範囲外である場合に欠陥画素であると検証する。欠陥画素であると検証された場合には、隣接する４つの同色画素を用いた補正処理Ｃにより補正する（Ｓ１０７）。一方、欠陥が検証されなかった場合には、Ｇｏｒｇは欠陥画素ではないとして補正することなくそのまま出力する（Ｓ１０８）。なお、Ｓ１０１で縦横方向の画素のみならず斜め方向の画素を用いて欠陥画素を検出している場合はＳ１０６の検証処理は不要である。

図１３に、補正処理Ｃのフローチャートを示す。注目画素Ｇｏｒｇに隣接する４つの画素Ｇ５、Ｇ６，Ｇ７、Ｇ８を画像メモリ１４から読み出し（Ｓ４０１）、これら４つの画素の平均（Ｇ５＋Ｇ６＋Ｇ７＋Ｇ８）／４、若しくは、各画素値に係数をもたせた加重平均（係数のもたせ方として、ある画素値が４画素の平均値に近ければその画素の係数を相対的に大きくすれば単純加算によるボケを減らすことができる）、若しくは４画素中の中央２画素の平均値でＧｏｒｇを置換することにより補正する（Ｓ４０２）。

以上説明したように、本実施形態では、ラインクロールの有無及び斜め方向エッジの有無に応じて注目画素Ｇｏｒｇの補正方法を変化させることで、補正精度を向上することができる。

本実施形態では、ラインクロールの有無に応じて補正方法を変化させているので、ラインクロール有無の判定精度が補正の精度に大きく影響する。そこで、図１０のＳ１５２において差分値と大小比較するしきい値を固定値ではなく、適応的に設定することが好適である。具体的には、デジタルカメラにおけるＩＳＯ感度や撮影条件に合わせて、プロセッサ１６が全ての画素値に対して予想されるノイズレベルを設定し、このノイズレベルに応じてしきい値を増減調整する。ノイズレベルの設定は例えば無模様のかつ一色の画像を事前に撮影し、その画像から得られるＳ／Ｎデータをメモリに記憶しておく方法がある。このときの画像撮影に際し、ＩＳＯを変える、等条件を変えた撮影を各種行いその条件毎のＳ／Ｎデータをメモリに記憶しておく。条件毎のＳ／Ｎデータを予想されるノイズレベルの設定の際に適切に用いることで精度を増すことができる。ＩＳＯ感度が増大するほど一般にノイズレベルは増大する。デフォルトのしきい値はプログラムメモリ１８に予め記憶されており、プロセッサ１６はデフォルトのしきい値に対してノイズレベルを加算し、ノイズレベルが増大するほどその値が増大するようなしきい値を設定する。一例として、ＩＳＯ感度に応じて一義的にしきい値を設定する等である。これにより、本来であればラインクロールが生じていないにもかかわらずノイズの影響によりラインクロールが生じているとの誤判定を防止できる。

実施形態の構成ブロック図である。ベイヤー配列の画素説明図である。注目画素に対する欠陥画素の説明図である。注目画素に対するラインクロール判定画素の説明図である。注目画素に対する斜め方向エッジの判定画素の説明図である。注目画素に対する補正画素の説明図である。注目画素に対する他の補正画素の説明図である。注目画素に対する他の補正画素の説明図である。実施形態の処理フローチャートである。ラインクロールの判定処理フローチャートである。補正処理Ａのフローチャートである。補正処理Ｂのフローチャートである。補正処理Ｃのフローチャートである。従来の補正処理説明図である。従来の補正処理説明図である。

符号の説明

１０ＣＣＤ、１２Ａ／Ｄ、１４画像メモリ、１６プロセッサ、１８プログラムメモリ。

Claims

所定配列された画素群のうちの任意の画素の欠陥を補正する画素欠陥補正装置であって、
注目画素の周囲画素を用いて前記注目画素の欠陥を検出する欠陥検出手段と、
欠陥画素周囲のラインクロールの有無を判定するラインクロール判定手段と、
前記ラインクロールの有無に応じて前記欠陥画素を補正するために用いる画素を変化させて前記欠陥画素を補正する補正手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項１記載の装置において、
前記欠陥画素をその一部に含む斜め方向エッジの有無を判定する斜めエッジ判定手段
を有し、
前記補正手段は、前記ラインクロールが存在する場合に、前記斜め方向エッジの有無に応じて前記欠陥画素を補正するために用いる画素を変化させて前記欠陥画素を補正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項２記載の装置において、
前記補正手段は、前記ラインクロールが存在する場合であって前記斜め方向エッジが存在するときに、前記欠陥画素と同色のラインに位置する斜め方向の複数画素を用いて前記欠陥画素を補正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項２記載の装置において、
前記補正手段は、前記ラインクロールが存在する場合であって前記斜め方向エッジが存在しないときに、前記欠陥画素と同色のラインに位置する縦横方向の複数画素を用いて前記欠陥画素を補正することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項１〜４のいずれかに記載の装置において、
前記ラインクロールが存在しない場合に、前記欠陥検出回路における周囲画素と異なる第２周囲画素を用いて前記欠陥画素の欠陥を検証する検証手段
を有することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項５記載の装置において、
前記補正手段は、前記検証手段で欠陥が検証されたときに前記第２周囲画素を用いて前記欠陥画素を補正し、欠陥が検証されないときに前記欠陥画素をそのまま出力することを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項５記載の装置において、
前記欠陥検出回路における周囲画素は、前記注目画素と同色のラインに位置する複数の画素であり、
前記第２周囲画素は、前記注目画素に隣接する複数の画素である
ことを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項１〜７のいずれかに記載の装置において、
前記ラインクロール判定手段は、前記注目画素から１ライン分だけ離れた同色ライン上に位置する複数画素を用いた前記注目画素位置の推定画素値と前記注目画素に隣接する同色の複数画素を用いた前記注目画素位置の推定画素値との差分値をしきい値と大小比較することにより判定する
ことを特徴とする画素欠陥補正装置。
請求項８記載の装置において、
前記しきい値は、画素のノイズレベルに応じて可変設定されることを特徴とする画素欠陥補正装置。
所定配列された画素群のうちの任意の画素の欠陥を補正する画素欠陥補正装置であって、
欠陥画素の周囲画素を用いてラインクロールを検出する検出手段と、
前記ラインクロールが検出されない場合に前記欠陥画素に隣接する複数の隣接画素を用いて前記欠陥画素の欠陥を検証し、欠陥が検証されたときに前記隣接画素を用いて前記欠陥画素の欠陥を補正し、欠陥が検証されないときに前記欠陥画素をそのまま出力する処理手段と、
を有することを特徴とする画素欠陥補正装置。