1225233 玖、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係有關一種顯示檢查方法等用於經由排列顯示 晶胞成矩陣形式形成之顯示面板，偵測該顯示面板之一電 極的斷路，以及一種供檢查電極間之短路用之顯示檢查方 法等。 【先前技術】 作為於經由將顯示晶胞排列成矩陣形式形成之電漿顯 示面板，檢查一電極斷路之習知方法，採用一種方法，使 用全表面顯示圖案，將顯示圖案拍攝為影像資料，以及經 由使用影像分析偵測缺陷。若如圖1 A或圖2 A所示，於電 漿顯示面板3 0之一電極發生斷路，則其顯示線出現未發光 部分。因此經由比較斷路顯示線之梯度與該顯示線上下二 鄰近像素之梯度，或經由比較斷路顯示線之梯度與該顯示 線左右二鄰近像素之梯度，容易擷取線缺陷。 一顯示面板包括複數個列電極，行電極排列於垂直列電 極方向，以及R (紅）、G (綠）及B (藍）色顯示晶胞形成於列 電極與行電極之交叉點，此種顯示面板為已知。於此種顯 示面板，當偵測得毗鄰電極間短路時，單色圖案（R、G或B 圖案）顯示於全顯示面板上。此種情況下，若毗鄰電極間發 生短路，則另一色顯示晶胞發光。因此可偵測得電極間的 短路。 若如圖 1B 圖所示，於顯示區上端部或下端部有一斷路 顯示線，或若如圖2B所示，於顯示區左端部或右端部有一 斷路顯示線，則由斷路引起之線缺陷梯度接近等於顯示區 5 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 外側梯度，結果變成難以經由使用前述方法偵測斷路。另 一方面，若試圖比較於線缺陷部分梯度與顯示區一鄰近像 素梯度，則須嚴格於顯示區固定為水平不允許顯示區失 真。因此也難以採用此種方法。 【發明内容】 本發明之一目的係提供一種用於一顯示面板之顯示檢 查方法及顯示檢查裝置，該方法或裝置可牢靠地偵測於顯 示區上端部或下端部之線缺陷、或於顯示區左端部或右端 部之線缺陷。 有一型顯示面板，其中行電極係於顯示面板垂直方向分 割。於此型顯示面板，如圖3所示，於行方向分割之行電 極組1 0 1及1 0 2之行電極間短路，造成線缺陷，而妨礙正 常顯示。但當採用前述檢查方法，於全顯示面板上顯示單 色圖案時，上行電極與下行電極間之短路不影響顯示。因 此無法檢測得上行電極與下行電極間之短路。 本發明之另一目的係提供一種用於一顯示面板之顯示 檢查方法及顯示檢查裝置，其可檢查設置為彼此分開之上 行電極與下行電極間之短路。 此外，當電漿顯示面板之毗鄰列電極間發生短路時，有 一問題為暗線不會出現於全表面顯示面板，因而無法偵測 列電極間之短路。 本發明之另一目的係提供一種用於一顯示面板之顯示 檢查方法及顯示檢查裝置，其可牢靠地檢查列電極間之短 路。 前述發明目的可經由一種用於一顯示面板供檢查一顯 6 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 示面板之線缺陷之顯示檢查方法，該顯示面板包括複數列 電極，以及複數行電極排列於垂直列電極方向，而形成顯 示晶胞於列電極與行電極之交叉點，該顯示晶胞係經由控 制於顯示區排列成矩陣形式之顯示晶胞的發光，該顯示檢 查方法具有下列各步驟：讓位於顯示區頂端或底端之顯示 晶胞列發光；經由使用一影像感測器偵測發光顯示晶胞、 位置接近發光顯示晶胞且係位於顯示區之顯示晶胞、以及 非發光且位於顯示區外側部分之顯示晶胞，且輸出一視訊 影像；基於該輸出視訊影像，對應位於頂端或底端之發光 晶胞列，而於列方向偵測亮線數目及長度；以及當亮線數 目及長度係小於預定值時，判定於對應顯示晶胞列之列電 極已經發生斷路。 前述本發明之目的可經由一種顯示檢查方法達成，該顯 示檢查方法係用於一顯示面板，用以檢查一顯示面板之線 缺陷，該顯示面板包括複數列電極，以及複數行電極排列 於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之 交叉點，該顯示晶胞係經由控制於顯示區排列成矩陣形式 之顯示晶胞的發光，該顯示檢查方法具有下列各步驟：讓位 於顯示區左端或右端之顯示晶胞列發光；經由使用一影像 感測器偵測發光顯示晶胞、位置接近發光顯示晶胞且係位 於顯示區之顯示晶胞、以及非發光且位於顯示區外側部分 之顯示晶胞，且輸出一視訊影像；基於該輸出視訊影像， 對應位於左端或右端之發光晶胞行，而於行方向偵測亮線 數目及長度；以及當亮線數目及長度係小於預定值時，判 定於對應顯示晶胞行之行電極已經發生斷路。 7 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 前述本發明之目的可經由一種顯示檢查方法達成，該顯 示檢查方法係用於一顯示面板，用以檢查一顯示面板之線 缺陷，該顯示面板包括複數列電極，以及複數行電極排列 於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之 交叉點，該顯示晶胞係排列於列方向，讓其發光色彩為三 色且彼此不同色，以及三色形成一像素，以及發光色彩相 同之顯示晶胞排列於行方向，經由控制於顯示區排列成矩 陣形之顯示晶胞之發光，該顯示面板顯示一影像，該顯示 檢查方法具有下列各步驟：讓位於顯示區左端或右端之顯 示晶胞列發光；經由使用一影像感測器偵測發光顯示晶 胞、位置接近發光顯示晶胞且係位於顯示區之顯示晶胞、 以及非發光且位於顯示區外側部分之顯示晶胞，且輸出一 視訊影像；基於該輸出視訊影像，對應位於左端或右端之 發光晶胞行，而於行方向偵測亮線數目及長度；以及當亮 線數目及長度係小於預定值時，判定於對應顯示晶胞行之 行電極已經發生斷路。 前述本發明之目的可經由一種顯示檢查方法達成，該顯 示檢查方法係用於一顯示面板，用以檢查一顯示面板上介 於劃分行電極間之線缺陷，該顯示面板包括複數列電極， 以及複數行電極排列於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞 於列電極與行電極之交叉點，行電極係於行方向於顯示區 分割，顯示面板係形成為可以經由分割所得之分割晝面形 成可能之同時選擇顯示晶胞，當取一列作單位時，顯示檢 查方法包含下列步驟：經由讓經由分割所得之上及下分割 晝面其中之一發單色光；經由使用一影像感測器偵測作為 8 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 非發光分割晝面之上及下分割晝面之另一晝面，以及輸出 一視訊信號；基於該輸出視訊信號，於對應該上及下分割 晝面之另一晝面之顯示晶胞行，於一行方向偵測一亮線； 以及對應已經偵測得亮線之顯示晶胞行，判定介於分割列 電極間發生電極短路。 前述本發明之目的可經由一種顯示檢查方法達成，該顯 示檢查方法係用於一顯示面板，用以檢查一顯示面板上介 於劃分行電極間之線缺陷，該顯示面板包括複數列電極， 以及複數行電極排列於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞 於列電極與行電極之交叉點，該顯示晶胞係排列於列方 向，讓其發光色彩為三色且彼此相異，且形成一個像素； 以及其發光色彩為相同之顯示晶胞排列於行方向，行電極 係於行方向於顯示區分割，顯示面板係形成為可以經由分 割所得之分割晝面形成可能之同時選擇顯示晶胞，當取一 列作單位時，顯示檢查方法包含下列步驟：經由讓經由分割 所得之上及下分割晝面其中之一發單色光；經由使用一影 像感測器偵測作為非發光分割晝面之上及下分割晝面之另 一晝面，以及輸出一視訊信號；基於該輸出視訊信號，於 對應該上及下分割晝面之另一晝面之顯示晶胞行，於一行 方向偵測一亮線；以及對應已經偵測得亮線之顯示晶胞 行，判定介於分割列電極間發生電極短路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查方法，該方法係用於檢查一顯示面板之線缺陷，該顯示 面板包括複數列電極，以及複數行電極排列於垂直列電極 方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之交叉點，該顯 9 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 示面板係經由控制於一顯示區排列成矩陣形式之顯示晶胞 之發光而顯示一影像，該顯示檢查方法包含下列步驟：讓顯 示區之顯示晶胞以鋸齒格形發光；經由使用一影像感測器 而彳貞測顯示區之顯示晶胞，以及輸出一視訊信號；基於該 輸出之視訊信號，而偵測於列方向之暗線；以及對應已經 偵測得暗線之顯示晶胞列，判定電極短路發生於列電極間。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之線缺陷，該顯示 面板包括複數列電極，以及複數行電極排列於垂直列電極 方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之交叉點，該顯 示面板係經由控制於一顯示區排列成矩陣形式之顯示晶胞 之發光而顯示一影像，該顯示檢查裝置設置有：一發光裝 置，其係供讓位於顯示區頂端或底端之顯示晶胞列發光； 一影像感測器，其係供偵測發光顯示晶胞、位置接近該發 光顯示晶胞且係位於顯示區之顯示晶胞、以及非發光且位 於顯示區外側部分之顯示晶胞，以及輸出一視訊信號；以 及一判定裝置，其係供基於由影像感測器輸出之視訊信 號，而於對應位於頂端或底端之顯示晶胞列之列方向，檢 查亮線數目及亮線長度，以及當該亮線數目及長度係小於 預定值時，判定於對應顯示晶胞列之列電極發生斷路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之線缺陷，該顯示 面板包括複數列電極，以及複數行電極排列於垂直列電極 方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之交叉點，該顯 示面板係經由控制於一顯示區排列成矩陣形式之顯示晶胞 10 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 之發光而顯示一影像，該顯示檢查裝置設置有：一發光裝 置，其係供讓位於顯示區左端或右端之顯示晶胞列發光； 一影像感測器，其係供偵測發光顯示晶胞、位置接近該發 光顯示晶胞且係位於顯示區之顯示晶胞、以及非發光且位 於顯示區外側部分之顯示晶胞，以及輸出一視訊信號；以 及一判定裝置，其係供基於由影像感測器輸出之視訊信 號，而於對應位於左端或右端之顯示晶胞行之行方向，檢 查亮線數目及亮線長度，以及當該亮線數目及長度係小於 預定值時，判定於對應顯示晶胞行之行電極發生斷路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之線缺陷，該顯示 面板包括複數列電極，以及複數行電極排列於垂直列電極 方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之交叉點，顯示 晶胞排列於列方向，故其發光色彩為三色且彼此相異，且 形成一個像素，以及其發光色彩相同之該等顯示晶胞係排 列於行方向，該顯示面板係經由控制於一顯示區排列成矩 陣形式之顯示晶胞之發光而顯示一影像，該顯示檢查裝置 設置有：一發光裝置，其係供讓位於顯示區左端或右端之顯 示晶胞列發光；一影像感測器，其係供偵測發光顯示晶胞、 位置接近該發光顯示晶胞且係位於顯示區之顯示晶胞、以 及非發光且位於顯示區外側部分之顯示晶胞，以及輸出一 視訊信號；以及一判定裝置，其係供基於由影像感測器輸 出之視訊信號，而於對應位於左端或右端之顯示晶胞行之 行方向，檢查亮線數目及亮線長度，以及當該亮線數目及 長度係小於預定值時，判定於對應顯示晶胞行之行電極發 11 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 生斷路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之分割行電極間之 線缺陷，該顯示面板包括複數列電極，以及複數行電極排 列於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極 之交叉點，行電極於行方向於一顯示區分割，如此形成之 顯示面板可取一列作為單元，同時選擇經由分割所得之分 割晝面的顯示晶胞，該顯示檢查裝置裝配有：一發光裝置， 其係供經由分割所得之上分割晝面及下分割晝面其中之一 發單色光；一影像感測器，其係供經由使用一影像感測器 偵測上及下分割畫面之另一晝面作為非發光分割晝面，以 及輸出一視訊信號；一判定裝置，其係供基於該輸出視訊 信號，偵測於上及下分割畫面之另一晝面，對應一顯示晶 胞行於行方向之亮線，以及判定對應該偵測得亮線之顯示 晶胞行，介於分割列電極間發生電極短路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之分割行電極間之 線缺陷，該顯示面板包括複數列電極，以及複數行電極排 列於垂直列電極方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極 之交叉點，顯示晶胞係排列於列方向，其發光色彩為三色 且彼此各異以及形成一個像素，以及發光色彩相同之顯示 晶胞係排列於行方向，行電極於行方向於一顯示區分割， 如此形成之顯示面板可取一列作為單元，同時選擇經由分 割所得之分割晝面的顯示晶胞，該顯示檢查裝置裝配有： 一發光裝置，其係供經由分割所得之上分割晝面及下分割 12 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 晝面其中之一發單色光；一影像感測器，其係供經由使用 一影像感測器偵測上及下分割畫面之另一晝面作為非發光 分割晝面，以及輸出一視訊信號；一判定裝置，其係供基 於該輸出視訊信號，偵測於上及下分割晝面之另一晝面， 對應一顯示晶胞行於行方向.之亮線，以及判定對應該偵測 得亮線之顯示晶胞行，介於分割列電極間發生電極短路。 前述本發明之目的可經由一種供顯示面板用之顯示檢 查裝置，該方法係用於檢查一顯示面板之線缺陷，該顯示 面板包括複數列電極，以及複數行電極排列於垂直列電極 方向，而形成顯示晶胞於列電極與行電極之交叉點，該顯 示面板係經由控制於一顯示區排列成矩陣形式之顯示晶胞 之發光而顯示一影像，該顯示檢查裝置設置有：一發光裝 置，其係供讓顯示區之顯示晶胞以鋸齒格形發光；一影像 感測器，其係供經由使用一影像感測器偵測於顯示區之顯 示晶胞，以及輸出一視訊信號；一判定裝置，其係供基於 該輸出視訊信號而偵測於列方向之一暗線，以及判定對應 出現暗線之顯示晶胞列之列電極間發生電極短路。 【實施方式】 (第一具體實施例） 後文將參照圖4至1 0說明根據本發明之供顯示面板用 之顯示檢查方法之具體實施例。 圖4為方塊圖顯示用於電漿顯示面板之顯示檢查方法之 檢查裝置組態。圖5為略圖顯示欲檢查之電漿顯示面板3 0 之電極配置。 如圖4所示，檢查裝置1 0 0包括一檢查器主體1，其係 13 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 供於檢查時照明電漿顯示面板3 Ο，一 CCD攝影機2，供攝 取電漿顯示面板3 0之顯示面影像，一影像處理裝置3，供 接收來自CCD攝影機2之視訊影像以及一控制裝置4，供 控制檢查器主體1、CCD攝影機2及影像處理裝置3。影像 處理裝置3包括一影像處理區段3 a，供執行影像處理俾分 析發光圖案（容後詳述），一影像處理記憶體3 b，供儲存R、 G及B個別之由CCD攝影機2供給的影像資料，以及一影 像處理主題記憶體3 c，供暫時儲存影像處理主題資料。 如圖5所示，一定址驅動器1 1、一 X維持驅動器1 2以 及一 Y維持驅動器1 3皆連結至電漿顯示面板3 0之電極， 係設置於檢查器主體1。 如圖5所示，電衆顯示面板30包括行電極Dir、Dig、 Dlb、D2r、D2g、D2b、…Dmr、Dmg 及 Dmb 以及列電極 XI 至Xn及列電極Y1至 Yn設置於垂直行電極方向。如圖5 所示，行電極被指定而以所述順序重複關聯R晶胞、G晶 胞及Β晶胞。於顯示區3 0 a，R晶胞、G晶胞及Β晶胞係重 複形成於行電極與列電極X1至X η以及列電極Y1至Υ η之 交叉點。如圖5所示，R晶胞、G晶胞及Β晶胞係循序設置 成呈一集合處理，一像素係由該集合所形成。一額外顯示 區3 0 b係設置於該顯示區3 0 a外側。 如圖5所示，列電極X1至X η以及列電極Y1至Υ η係交 錯以梳狀形式設置，故由交互相對之兩邊伸出。列電極X1 至X η其中之一以及列電極Υ 1至Υ η其中之一被指定給一顯 示晶胞列。於一晶胞内部，列電極X1至X η以及列電極Υ1 至Υ η係並聯設置而彼此相對。 14 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 如圖5所示，行電極Dir、Dig、Dlb、D2r...Dmb係連 至定址驅動器1 1，列電極X 1至X n係連結至X維持驅動 1 2，以及列電極Υ1至Υη係連結至Υ維持驅動器1 3。 現在說明電漿顯示面板3 0之驅動方法。 一作為驅動電漿顯示面板 3 0之時間間隔之欄位係由 數個子攔位S F1至S F Ν組成。如圖6所示，於各子攔位 供選擇欲點亮晶胞之定址間隔時間，以及一讓該定址間 時間被選定之晶胞持續點亮經歷一段預定時間之維持間 時間。供於前一欄位復置點亮狀態之復置間隔時間額外 供於第一子欄位SF 1之標頭部分。於此復置間隔時間， 部晶胞皆被復置為點亮晶胞（其中形成有壁電荷之晶胞） 或被復置為熄滅晶胞（其中未形成有壁電荷之晶胞）。前 情況下，預定晶胞被切換成熄滅晶胞。後述情況下，於 後之定址間隔時間，預定晶胞被切換成點亮晶胞。維持 隔時間以子欄位SF1、SF2、...SFN之順序逐步延長。經 改變連續被點亮之子欄位數目，可獲得預定之梯度顯示 於圖7所示各子欄位之定址間隔時間，逐線進行定址 描。換言之，於掃描脈波施加至形成第一線之列電極 之同時，依據對應第一線之一晶胞的定址資料之資料脈 DPI施加至行電極Dir、Dig、Dlb、D2r...Dmb。隨後於一 描脈波施加至形成第二線之列電極Υ 2之同時，依據對應 第二線之一晶胞之定址資料的定址脈波DP2施加至行電 D 1 r、D 1 g、D 1 b、D 2 r…D in b。掃描脈波及資料脈波同時施 至第三線之一晶胞以及以相同方式施加至隨後各線之 胞。最後，一掃描脈波施加至形成第η線之列電極Υ η之 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 結 器 複 提 隔 隔 提 全 j 述 隨 間 由 〇 掃 Υ1 波 掃 於 極 加 晶 同 15 1225233 時，依據對應第η線上一晶胞之定址資料的一資料朋 係施加至行電極 Dir、Dig、Dlb、D2r...Dmb。於定 時間，預定晶胞由點亮晶胞切換成熄滅晶胞，或由 胞切換成點亮。 若如此完成定址掃描，則於子攔位的每個晶胞被 點亮晶胞或熄滅晶胞。於隨後之維持間隔時間，每 維持脈波，則只有點亮晶胞重複發光。於維持間隔1 維持脈波及Y維持脈波以圖7所示之預定時序而重 至列電極X 1至X η以及列電極Y 1至Υ η。於最終子欄 設置一抹消間隔時間，供將全部晶胞皆設定為熄滅 經由重複前述攔位，使用動態圖像於電漿顯示3 之梯度呈現變成可能。 圖8顯示一範例，其中電漿顯示面板被分割成上 區，於各區之電極彼此分開。此種情況下，連結至 示面板3 1之定址驅動器1 1 a及1 1 b、X維持驅動器 1 2 b以及Y維持驅動器1 3 a及1 3 b係設置於檢查器 如圖8所示。 如圖8所示，電漿顯示面板31包括行電極D1 r ’ Dlb、D2r、D2g、D2b、…Dmr、Dmg 及 Dmb，列電極 X i 及列電極 Y1 至 Y i 設置於垂直行電極方向， DAlr、DAlg、DAlb、DA2r、DA2g、DA2b、".DAmr、 D A m b及列電極X i + 1至X n以及列電極Y i + 1至Y n設 直行電極方向。各行電極被指定為以引述的順序而 聯R晶胞、G晶胞及B晶胞。R晶胞、G晶胞及B晶 形成於行電極與列電極X1至X η及列電極Y1至Υ η 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 ί 波 DPn 址間隔 媳滅晶 設定為 次施加 時間，X 複施加 位 S F N， 晶胞。 &板 3 0 區及下 電漿顯 1 2a及 主體， ' Dig' XI至 行電極 DAmg、 置於垂 重複關 胞重複 之交叉 16 1225233 點。以圖5所示情況之相同方式，接續設置之一 R晶胞、 一 G晶胞以及一 B晶胞係以一組處理，一個像素係由該組 組成。 行電極 Dir、Dig、Dlb、D2r、D2g、D2b、... D m r ^ Dmg、 Dmb連結至定址驅動器11a。行電極DAlr、DAlg、DAlb、 DA2r、DA2g、DA2b、".DAmr、DAmg、DAmb 連結至定址驅動 器1 1 b。列電極X1至X i連結至X維持驅動器1 2 a。列電極 Y 1至Y i連結至Y維持驅動器1 3 a。列電極X i + 1至Xn連結 至X維持驅動器1 2 b。列電極Y i +1至Υ η連結至Y維持驅 動器1 3b。 電漿顯示面板 3 1之驅動方法係類似前述電漿顯示面板 3 0之驅動方法。 現在說明經由使用檢查裝置 1 0 0執行電漿顯示面板 3 0 上端部及下端部之檢查程序。被分割為上區及下區之電漿 顯示面板3 1之檢查也係以相同方式執行。 如圖4所示，電漿顯示面板30設定於檢查器主體1。讓 頂端之一顯示晶胞列以及底端之一顯示晶胞列，亦即該電 漿顯示面板3 0之顯示區共二排顯示晶胞列發光。讓設置於 顯示晶胞列間之中間區顯示黑色（亦即讓其不發光）。進行 此種圖案之顯示。圖9A、9B、9C及9D依據是否有斷路而 顯示各種發光圖案。圖9 A顯示無斷路，對應頂端及底端之 二排顯示晶胞列有二橫條亮線之發光圖案。圖9 A所示圖案 為偵測斷路之該偵測圖案。圖9B顯示於底端之顯示晶胞列 有斷路，以及底端之亮線於中央被岔斷之發光圖案。圖9C 顯示於頂端及底端個別顯示晶胞列有斷路，以及於頂端及 17 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 底端之各亮線於中央被岔斷之發光圖案。圖9D顯示於頂端 及底端之各顯示晶胞列有斷路，於頂端無亮線，而於底端 之亮線於中央岔斷之發光圖案。 以C C D攝影機2拍攝電漿顯示面板3 0之此種發光圖案。 顯示處理裝置3基於C C D攝影機2供給的影像資料而分析 發光圖案。 圖1 0為流程圖顯示檢查時進行之處理。圖1 0所示處理 係基於控制裝置4進行之控制執行。 於圖1 0之步驟S1，驅動脈波供給電漿顯示面板3 0，因 而藉檢查器主體1顯示前述偵測圖案。結果電漿顯示面板 3 0係以圖9 A至圖9 D所示之發光圖案而被點亮。此外，斷 路數目數值被初始化為0。隨後藉C C D攝影機2拍攝發光 圖案影像（步驟S2 )。拍照所得影像之影像資料由CCD攝影 機 2傳輸至影像處理裝置 3之影像處理記憶體 3 b (步驟 S 3 )。此處三色R、G及B之資料係分開傳輸。 隨後由儲存於影像處理記憶體 3 b之影像資料，將位於 電漿顯示面板 3 0頂端之顯示晶胞列含括區設定作為影像 處理區（步驟S 4 )。本區係設定為包括位置接近前述顯示晶 胞列且位在顯示區的顯示晶胞，以及不發光（亦即於黑顯示 區的顯示晶胞）以及位在顯示區外側部分（亦即位在顯示晶 胞列上方部分）之顯示晶胞。隨後，於預設區之影像資料被 儲存於影像處理主題記憶體3 c (步驟S 5 )。 隨後基於儲存於影像處理主題記憶體 3 c之影像資料， 而執行由位於頂端之顯示晶胞列擷取發光晶胞列之處理 (步驟S 6 )。隨後判定位於頂端之發光晶胞列是否於發光晶 18 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 胞列之擷取處理被擷取。當判定為肯定，則處理前進至步 驟S 8。當判定為否定，則處理前進至步驟S 1 0 (步驟S 7 )。 於步驟S 8，擷取之發光晶胞列長度與電漿顯示面板3 0顯 示區之水平長度比對。隨後判定是否有一發光晶胞列之水 平長度係比電漿顯示面板3 0之顯示區之水平長度短。若判 定有此種發光晶胞列，則處理前進至步驟 S 1 0。若判定無 此種發光晶胞列，則處理前進至步驟S 1 1 (步驟S 9 )。於步 驟S 1 0，對列電極之斷路數目加1，且處理前進至步驟S 1 1。 由儲存於影像處理記憶體 3 b之影像資料，包括位在電 漿顯示面板3 0頂端之顯示晶胞列之一區，於步驟S 1 1被設 定為影像處理區。此區被設定為包括不發光之顯示晶胞， 以及位置接近前述顯示晶胞列之顯示區（亦即於黑顯示區 之顯示晶胞）以及位在顯示區外侧部分（亦即位在顯示晶胞 列上方部分）之顯示晶胞。隨後預設區之影像資料被儲存於 影像處理主題記憶體3 c (步驟S 1 2 )。 隨後基於儲存於影像處理主題記憶體 3 c之影像資料， 執行由位於底端之顯示晶胞列擷取發光晶胞列之處理（步 驟S 1 3 )。隨後判定於發光晶胞列之擷取處理是否已經擷取 位於底端之發光晶胞列。當判定為肯定，則處理前進至步 驟S 1 5。當判定為否定，則處理前進至步驟S 1 7 (步驟S 1 4 )。 於步驟 S 1 5，擷取所得之發光晶胞列長度與電漿顯示面板 3 0之顯示區水平長度比較。隨後判定是否有水平長度比電 漿顯示面板3 0顯示區之水平長度更短的發光晶胞列。若判 定有此種發光晶胞列，則處理前進至步驟 S 1 7。若判定無 此種發光晶胞列，則完成處理。於步驟 S1 7，對列電極之 19 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 斷路數目加l，以及完成處理。 藉此方式，於圖 1 0所示處理擷取於頂端之發光晶胞列 (步驟S 6)。若未擷取發光晶胞列（步驟S 7為否），則斷路 數目加1 (步驟S 1 0 )。發光晶胞列未被擷取之案例係對應於 頂端顯示晶胞列未點亮之案例，如圖9 D所示。表示頂端之 顯示晶胞列為斷路。因此於此種情況下，斷路數目加 1。 若被擷取之發光晶胞列長度係比電漿顯示面板 3 0之顯示 區之水平長度短（步驟 S 9之「存在」），則對斷路數目加 1 (步驟S 1 0 )。被擷取之發光晶胞列長度比顯示區水平長度 更短之案例係對應於圖 9C所示之頂端發光晶胞列中央被 岔斷案例。表示頂端之顯示晶胞列斷路。因此此種情況下 對斷路數目加1。 此外於圖1 0所示處理，擷取於底端之發光晶胞列（步驟 S 1 3 )。若未擷取發光晶胞列（步驟S 1 4為否），則斷路數目 加1 (步驟S 1 7 )。發光晶胞列未被擷取之案例係對應於底端 顯示晶胞列未點亮之案例。表示底端之顯示晶胞列為斷 路。因此於此種情況下，斷路數目加 1。若被擷取之發光 晶胞列長度係比電漿顯示面板 3 0之顯示區之水平長度短 (步驟S 1 6之「存在」），則對斷路數目加1 (步驟S 1 7 )。被 擷取之發光晶胞列長度比顯示區水平長度更短之案例係對 應於圖9 B或9 D所示之底端發光晶胞列中央被岔斷案例。 表示底端之顯示晶胞列斷路。因此此種情況下對斷路數目 加1。 例如以圖 9 A所示顯示圖案為例，於頂端之發光晶胞列 被擷取（於步驟S 7為是），且該發光晶胞列長度不比電漿顯 20 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 示面板30顯示區之水平長度短（步驟S9為「不存在」） 此外，於底端之發光晶胞列經擷取（於步驟S 1 4為是）， 度 長 列S1一一 胞眾之 晶 + 端 步 光 C 底 發短及 該度端 ο 3 為 示 顯 平於下 水現況 區發情 示下種 顯況此 之情。 種路 此斷 板此極 面因電 示。列 顯}無 漿tj並 電 列 比t胞 不^晶 圖 數 路 斷 之 數 ^-0 S 處 示9B 所 ο 11 圖 以 例 為 案 圖 示 顯 示 所 成 變 被 列 胞 晶 光 發 之 端 頂 於 將水 ) ^¾ ~I 比在 不存 度不 長 Γ 為 列 9 胞 S 晶 驟 光步 發i( 短 度 長 平 水 7之 S 區 驟示 步顯 於 ο (3 取板 是 為 該 且 示 顯 外 此 光步發“ 但短 度 ) 長 是平 為水 14之 S 區 驟示 步顯 i ο ( 3 取 擷板 經面 列示 胞顯 晶將水 光電 發比 之度 端長 底 列 於胞 在 存 而 長 頂 擷 面 J 晶 驟 胞 情 胞 顯 此 該 短 底 1 0 取 於 顯 3 曰 晶 箱 示此 顯。 之路 端斷 頂極 於電 現列 發有 下列 況胞 情 晶 種示 此顯 此之 因端 〇 底 於 數 路 斷 之 數 tt ?·ιa 處 示 所 ο 11 路圖 為斷， 〇〇 無下 CO 列況 但 成 變 ， 取 如擷 例經 列 圖 以 晶漿 光電 發比 之係 端度 頂 長 於列 ， 胞 例晶 為光 案發 圖該 示但 顯 A 示是 所為 C 7 9CS 驟 步 為 9 S 驟 步 :取 擷 被 列 胞 晶 光 發 之 端 η 3 底 板於 面 ， 示外 短 度 平 水 之 區 示 顯 電 比 度 長 列 胞 晶 光 發 在 存 厂 為 6 11 S 驟 步 比白 列 胞 晶 示 顯二 之 端 驟 步 於 在是 存為 長端 平頂 水於 之現 區發 示 下 顯況 } 潰。 3種路 板此斷 面此極 示因電 顯。列 漿}有 下 況 青 種 此 但度及 圖 擷 經 未 列 胞 晶 光 發 〇 之 2 端 成頂 變於 ΡΠ ， 數例 路為 斷案 之 圖 數示 計顯 中 D 理9 處圖 示 以 所 否 } 為 是 7 為 S 4 雜 一—_ ..S 步 於 驟 步 ο 取 3 擷板 經面 列示 胞顯 晶漿 光電 發比 之 度 端長 底列 於胞 ， 晶 外光 此發 〇 但 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 21 1225233 示區之水平長度短（步驟S16為「存在」）。因而發現於頂 端及底端之顯示晶胞列皆有斷路。此種情況下圖1 0所示處 理之計數斷路數目變成2。 於根據本具體實施例之顯示面板之顯示檢查方法，只點 亮位在顯示區頂端及底端之顯示晶胞列之偵測圖案係如前 文說明使用。結果可確保此等顯示晶胞行與毗鄰於此等顯 示晶胞行之額外顯示區間之梯度差異。因此，可就位於頂 端及底端之顯示晶胞列是否有電極斷路牢靠地進行偵測。 前述具體實施例中，說明檢查於頂端及底端之單一顯示 晶胞列情況。但該具體實施例也可應用於同時檢查頂端或 底端之複數顯示晶胞列（例如二排顯示晶胞列）情況。此種 情況下，發光顯示晶胞列數目或斷路顯示晶胞列數目可基 於允線厚度決定。 (第二具體實施例） 如圖4所示，電漿顯示面板3 0被設定於檢查器主體1。 致使於左端之一顯示晶胞行以及於右端之一顯示晶胞行， 亦即，電漿顯示面板3 0之顯示區共二顯示晶胞行發光。插 置於此等顯示晶胞行間之一中間區致使顯示黑（亦即讓其 不發光）。進行此種圖案之顯示。各個像素行包括三毗鄰顯 示晶胞行，亦即R、G及B顯示晶胞行。 圖11A、11B、11C及11D顯示依據是否有斷路而定之各 種發光圖案。圖11A顯示無斷路，於左端及右端各自有一 由三顯示晶胞行（R、G及B)組成之亮線對應一像素行之發 光圖案。此種情況下，於左端及右端共有六個顯示晶胞行 發光而無錯失部分。圖1 1 A所示發光圖案即為偵測得斷路 22 31W發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 之偵測圖案。圖 1 1 B顯示於右端之顯示晶胞行（R )有一 路，以及含括於右端亮線之顯示晶胞行（R)於中央被岔斷 發光圖案。圖1 1 C顯示右端之顯示晶胞行（R)有一斷路， 及含括於右端之亮線之顯示晶胞行（R)絲毫也未發光之 光圖案。圖1 1 D顯示於右端之顯示晶胞行有斷路之發光 案。以圖1 1 D為例，含括於右端亮線之顯示晶胞行（R)中 部分不發光，且顯示晶胞行（R)被劃分為上部及下部。 圖1 2為流程圖顯示檢查時進行之處理。圖1 2所示處 係基於控制裝置4進行之控制執行。 於圖1 2之步驟S 2 1，驅動脈波由檢查器主體1供給電 顯示面板3 0，因而顯示前述偵測圖案。結果電漿顯示面 3 0例如係以圖1 1 A至1 1 D所示發光圖案被點亮。此外， 路數目值最初為0。隨後藉CCD攝影機2拍攝發光圖案 像（步驟S22)。拍攝的影像之影像資料由CCD攝影機2 輸至影像處理裝置3之影像處理記憶體3 b (步驟S 2 3 )。 處R、G及B三色之資料係分開傳輸。 隨後由儲存於影像處理記憶體 3 b之影像資料，於電 顯示面板 3 0左端之像素行（三顯示晶胞行）之含括區設 作為影像處理區（步驟 S 2 4 )。此區係設定為包括位置接 前述顯示像素行且位於顯示區之顯示晶胞，以及包括未 光（亦即於黑顯示區之顯示晶胞）以及位於顯示區外側部 (亦即位於顯示晶胞行左側部分）之顯示晶胞。隨後於該 設區之影像資料儲存於影像處理主題記憶體 3 c (步 S25)。 接著基於儲存於影像處理主題記憶體 3 c之影像資料 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 斷 之 以 發 圖 間 理 漿 板 斷 影 傳 此 漿 定 近 發 分 預 驟 23 1225233 執行由位於左端之顯示晶胞行擷取一發夕 理（步驟S 2 6 )。隨後判定位於左端之發光E 該發光晶胞行之擷取處理中被擷取。於 下，處理前進至步驟 S28。於否定判定之 進至步驟S 3 0 (步驟S 2 7 )。於步驟S 2 8，擷 (R)長度與電蒙顯示面板30之顯示區之水 後判定是否有一發光晶胞行（R)其垂直長 面板3 0之顯示區之垂直長度短。若判定有 (R)，則處理前進至步驟 S30。若判定無 (R )，則處理前進至步驟S 3 1 (步驟S 2 9 )。 行電極之斷路數目加1，處理前進至步驟 於步驟 S 3 1，就全部三行形成位於左端 晶胞行（R、G及B )，判定步驟S 2 4至S 3 0 完成。於否定判定之情況下，處理返回步 對次一顯示晶胞行（例如G )重複步驟S 2 4 之處理。若於步驟S 3 1之判定為肯定，則 S 3 2。於已經就各色（R、G及 B)顯示晶胞 至S30之處理後，處理前進至步驟S32。 由儲存於影像處理記憶體 3b之影像資 位於電漿顯示面板 3 0右端之像素行（三I 區作為一影像處理區（步驟 S 3 2 )。此區係 接近前述顯示像素行且位於顯示區之顯示 光（亦即於黑顯示區之顯示晶胞）以及位於 (亦即位於顯示晶胞行右側部分）之顯示晶 區之影像資料儲存於影像處理主題記憶體 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 6晶胞行（R)之處 ?曰胞行（R )是否於 肯定判定之情況 情況下，處理前 取之發光晶胞行 平長度比較。隨 度係比電漿顯示 此種發光晶胞行 此種發光晶胞行 於步驟S30，對 S31。 之像素行之顯示 之處理是否已經 驟 S 2 4，於該處 以及隨後各步驟 處理前進至步驟 行執行步驟 S 2 4 料中，隨後設定 i示晶胞行）含括 設定為包括位置 晶胞，以及未發 顯示區外側部分 胞。隨後於預設 3c(步驟 S33)。 24 1225233 隨後，基於儲存於影像處理主題記憶體3 c之影像資料， 執行由位於右端之顯示晶胞行之發光晶胞行（R)之擷取處 理（步驟 S 3 4 )。隨後判定於該發光晶胞行之擷取處理中， 位於右端之發光晶胞行（R)是否被擷取。若判定為肯定，則 處理前進至步驟 S 3 6。若判定為否定，則處理前進至步驟 S 3 8 (步驟S 3 5 )。於步驟S 3 6，擷取所得發光晶胞行（R )之長 度與電漿顯示面板3 0之顯示區垂直長度作比較。隨後判定 是否有一發光晶胞行（R)其垂直長度係比電漿顯示面板 3 0 顯不區之垂直長度短。若判定為此種發光晶胞行（R)’則處 理前進至步驟S 3 8。若判定無此種發光晶胞行（R )，則處理 前進至步驟S 3 9 (步驟S 3 7 )。於步驟S 3 8，對行電極之斷路 數目加1，且處理前進至步驟S3 9。 於步驟 S 3 9，就形成位於右端之像素行之全部三顯示晶 胞行（R、G及B )，判定步驟S 3 2至S 3 8之處理是否已經完 成。若判定為否定，則處理返回步驟 S32，此處就次一顯 示晶胞行（例如 G )重複進行步驟S 3 2以及隨後各步驟之處 理。若於步驟S 3 9之判定為肯定，則完成處理。於就各色 (R、G及B )之顯示晶胞行已經執行步驟S 2 4至S 3 0之處理 後，處理完成。 如前文說明，於左端之發光晶胞行係於圖 1 2所示處理 被擷取（步驟 S 2 6 )。若發光晶胞行未被擷取（步驟 S 2 7為 否），則對斷路數目加1 (步驟S 3 0 )。發光晶胞行未被擷取 之情況係相當於圖 1 1 C所示發光晶胞行（此處於右端之發 光晶胞行）未被點亮的情況。表示左端之發光晶胞行斷路。 因此於此種情況下對斷路數目加 1。若被擷取之發光晶胞 25 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 行之長度係比電漿顯示面板3 0之顯示區垂直長方 S 2 9為「存在」），則對斷路數目加1 (步驟S 3 0 ) 之發光晶胞行長度比顯示區垂直長度短之情況係 1 1 Β及圖1 1 D所示之發光晶胞行（此處為右端發另 於中間被岔斷的情況。表示左端之發光晶胞行具 因此於此種情況下對斷路數目加1。 此外，於圖1 2所示處理，擷取於右端之一發光差 驟S 3 4 )。若發光晶胞行未被擷取（步驟S 3 5為否） 路數目加1 (步驟S 3 8 )。發光晶胞行未被擷取之情 於右端之發光晶胞行未被點亮之情況。表示於右 晶胞行斷路。因此此種情況下，對斷路數目加 1 取之發光晶胞行長度比電漿顯示面板 3 0之顯示 度短（步驟S 3 7為「存在」），則對斷路數目加1 (步 被擷取之發光晶胞行長度比顯示區垂直長度短之 當於右端發光晶胞行於中間被岔斷之情況。表示 光晶胞行斷路。因此於此種情況下斷路數目加1 ^ 例如以圖1 1 Α所示發光圖案為例，於左端之全 晶胞行皆被擷取（步驟S 2 7為是），而該發光晶胞 比電漿顯示面板3 0顯示區垂直長度短（步驟S 2 9 在」）。此外，於右端之全部三發光晶胞行皆被揭 S 3 5為是），且發光晶胞行長度不比電漿顯示面板 區之垂直長度短（步驟S37為「不存在」）。因此 況下於左端及右端之顯示晶胞行皆未見行電極斷 圖1 2所示處理計數之斷路數目變成0。 以圖1 1 B所示發光圖案為例，於左端之全部三 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 [短（步驟 。被掘取 相當於圖 L晶胞行） 有斷路。 ^胞行（步 ，則對斷 況係相當 端之發光 。若被擷 區垂直長 驟 S 3 8 ) 〇 情況係相 右端之發 部三發光 行長度不 為「不存 i取（步驟 30顯示 ，此種情 路。因此 發光晶胞 26 1225233 行皆被擷取（步驟S 2 7為是），而該發光晶胞行長度不比電 漿顯示面板3 0顯示區垂直長度短（步驟S 2 9為「不存在」）。 此外，於右端之全部三發光晶胞行皆被擷取（步驟 S 3 5為 是），但其中發光晶胞行（R)長度係比電漿顯示面板3 0之顯 示區垂直長度短（步驟S37為「存在」）。因此此種情況下 發現左端顯示晶胞行無斷路，但右端顯示晶胞行（R)有一行 電極斷路。因此圖1 2所示處理計數之斷路數目變成1。 例如以圖1 1 C所示發光圖案為例，於左端之全部三發光 晶胞行皆被擷取（步驟S 2 7為是），而該發光晶胞行長度不 比電漿顯示面板3 0顯示區垂直長度短（步驟S 2 9為「不存 在」）。此外，右端之發光晶胞行中該發光晶胞行（R)未被 擷取（步驟S 3 5為否）。至於位在右端之另二發光晶胞行（G 及B )，步驟S 3 5之判定為是，以及步驟S 3 7之判定為「不 存在」。因此此種情況下發現左端之顯示晶胞行並無斷路， 但右端之顯示晶胞行（R )有行電極斷路。因此圖1 2所示處 理計數之斷路數目變成1。 以圖1 1 D所示發光圖案為例，於左端之全部三發光晶胞 行皆被擷取（步驟S 2 7為是），而該發光晶胞行長度不比電 漿顯示面板30顯示區垂直長度短（步驟S29為「不存在」）。 此外，右端之全部三發光晶胞行皆被擷取（步驟 S 3 5為 是），但發光晶胞行（R)長度係比電漿顯示面板3 0顯示區之 垂直長度短（步驟S 3 7為「存在」）。因此此種情況下發現 左端之顯示晶胞行並無斷路，但右端之顯示晶胞行（R)有行. 電極斷路。因此圖1 2所示處理計數之斷路數目變成1。 根據本發明之顯示面板之顯示檢查方法中，只點亮位在 27 312/發明說明書(補件)/92· 10/921193 84 1225233 顯示區左端及右端之顯示晶胞行之偵測圖案係如前 使用。結果可確保該等顯示晶胞行與毗鄰該等顯示 之額外顯示晶胞區間之梯度差異。因此可牢靠地就 端及右端之顯示晶胞行進行是否有行電極斷路。 前述具體實施例中，已經說明對形成於左端或右 像素行之複數個顯示晶胞行（三排顯示晶胞行）作 例。但該具體實施例也可應用於例如檢查單色顯示 及檢查於左端或右端之一顯示晶胞行之案例。 (第三具體實施例） 如圖1 3所示，連結至電漿顯示面板3 1之電極之 動器1 1 a及1 1 b、X維持驅動器1 2 a及1 2 b以及Y維 器13a及13b係設置於檢查器主體1。 如圖1 3所示，電漿顯示面板3 1被切割成上區及 各區之電極彼此分開。如圖1 3所示，行電極D1 r、 Dlb、D2r、D2g、D2b、…Dmr、Dmg 及 Dmb、列電極 X i及列電極Y 1至Y i設置於電漿顯示面板上區。行電 至D m b係連結至定址驅動器1 1 a。列電極X 1至X i 至X維持驅動器1 2 a。列電極Y1至Y i係連結至Y 動器1 3 a。 行電極 DAlr、DAlg、DAlb、DA2r、DA2g、DA2b、... DAmg及DAmb、列電極Xi + 1至Xn及列電極Yi + 1至 置於電聚顯示面板3 1下區。行電極D A 1 r至D A m b係 定址驅動器1 1 b。列電極X i + 1至X n係連結至X維 器1 2 b。列電極Y i + 1至Υ η係連結至Y維持驅動器 如圖 1 3所示，行電極被指定成以引述之順序而 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 文說明 晶胞行 位於左 端之一 檢查案 面板以 定址驅 持驅動 下區’ Dig、 XI至 極D 1 r 係連結 維持驅 D A m r、 7 η係設 連結至 持驅動 1 3b ° 重複關 28 1225233 聯R晶胞、G晶胞及B晶胞。於顯示區4 1，R晶胞、G晶胞 及B晶胞分別係形成於行電極與列電極X 1至X η及列電極 Υ1至Υ η之交叉點。如圖1 3所示，接續設置之R晶胞、G 晶胞及Β晶胞係當成一組來處理，該組形成一個像素。額 外顯示區區域4 7係設置於顯示區4 1外側。 如圖1 3所示，列電極X1至X η及列電極Υ1至Υ η係交 錯梳狀設置，不會由彼此相對之兩邊伸出。列電極 X1至 X η其中之一以及列電極Υ 1至Υ η其中之一指定給一顯示晶 胞列。於一晶胞内部，列電極X1至X η及列電極Υ1至Υ η 係並聯設置，故彼此相對。 於顯示區4 1中間部分，行電極D 1 r至D m b及行電極D A 1 r 至D A m b縱向分開。行電極之排列將進一步說明如後。 現在將說明使用檢查裝置1 0 0檢查電漿顯示面板3 1之 行電極間短路之程序。 如圖 4所示，電漿顯示面板 31於檢查時係設定於檢查 器主體1，讓電漿顯示面板31顯示區41上區及下區之一 全部發單色光（例如R色）。此時讓另一區的全區顯示黑（亦 即讓其不發光）。 圖1 4 A、1 4 B及 1 4 C顯示依據行電極間是否短路之發光 圖案。圖14A顯示行電極間無短路，顯示區41之上區42 全體發單色光之情況。此時下區4 3並無發光晶胞。圖1 4 A 所示發光圖案即為檢查行電極間短路之該種檢查圖案。圖 1 4 B為行電極間短路案例之發光圖案。圖1 4 C為略圖顯示 行電極間之短路。設置於上區之行電極組1 0 1之行電極與 設置於下區之行電極組1 0 2之行電極間之短路部分1 0 3顯 29 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 示於圖1 4 C。若行電極間有此種短路，則設置於上區4 2之 行電極與設置於下區 4 3之行電極彼此透過短路部分 1 0 3 連結。於一線（亮線）1 0 4之晶胞發光，亮線1 0 4係順著行 電極組1 0 2之行電極連結至行電極組1 0 1之行電極。結果 變成可檢查行電極間之短路。 此種電漿顯示面板3 1之發光圖案以CCD攝影機2拍攝。 影像處理裝置3基於CCD攝影機2供給的影像資料而分析 發光圖案。 圖1 5為流程圖顯示檢查時進行的處理。圖1 5所示處理 係基於控制裝置4進行之控制執行。 於圖1 5步驟S 4 1，由檢查器主體1供給驅動脈波給電漿 顯示面板3 1來顯示前述偵測圖案。結果例如於圖1 4 A或圖 1 4 B所示發光圖案，電漿顯示面板3 1被點亮。指示是否有 短路位置的旗標值被初始化為一值，指示「無短路位置」。 隨後藉CCD攝影機2拍攝發光圖案影像（步驟S42)。拍攝 的影像由CCD攝影機2傳輸至影像處理裝置3之影像處理 記憶體3 b (步驟S 4 3 )。三色R、G及B資料傳輸至分開記憶 體區。 隨後設定一記憶體區儲存發光色（R、G或B )變成影像處 理的主題，亦即設定變成影像處理主題之資料（步驟 S 4 4 )。隨後基於儲存於影像處理記憶體3 b之影像資料，求 出近似中間平分線之近似直線（步驟S 4 5 )。 隨後於儲存於影像處理記憶體 3 b之影像資料中，未變 成發光之上區或下區全體設定為影像處理區（步驟 S46)。 此處影像處理區之設定係取步驟S 4 5處理求出之近似直線 30 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 作為參考點。例如，若檢查圖案為圖1 4 A所 括下區43全區及中央平分線區域於步驟S46 像處理區。 接著基於儲存於影像處理主題記憶體 3 c 執行影像處理區發光點或發光線的擷取處理 此處發光點或發光線之擷取係就步驟S 4 4設 行。例如，以圖14 B所示發光圖案為例，發 係於亮線1 0 4擷取。以圖1 4 A所示發光圖案 或發光線未經擷取。 隨後於步驟S 4 8，決定藉步驟S 4 7之處理 發光點或發光線。若判定為肯定則處理前進 若判定為否定，則處理前進至步驟S 5 0。於3 行電極間存在有短路，指示是否有短路之旗 發光色指示「有短路位置」。然後處理由步驟 驟S 5 1。另一方面，於步驟S 5 0，行電極間之 存在，旗標值指示就相關發光色而言是否有 改變。然後處理由步驟S 5 0前進至步驟S 5 1 於步驟S 5 1判定於步驟S 4 1以及隨後各步 就R、G及B全部發光色而言是否已經結束。身 則處理返回步驟S 4 1而前進處理次一發光色 若判定為肯定，則結束圖1 5所示處理。步 之處理就個別發光色（R、G及B)已經執行後 理。
就R、G及B各色而言，檢查是否有行電 藉前文說明之處理進行。對發光色R、G及B 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 示圖案，則包 被設定作為影 之影像資料， (步驟 S 4 7 )。 定之發光色執 光點或發光線 為例，發光點 是否已經擷取 至步驟 S 4 9。 「驟S 4 9，判定 標值，就相關 S49前進至步 短路判定為不 短路位置並未 驟進行的處理 F判定為否定， (例如G色）。 鄉S41至 S50 ，結束全部處 極間之短路係 各色而言，係 31 1225233 基於旗標判定行電極間是否短路。 於根據本具體實施例之顯示面板之顯示檢查方法，只有 經由於縱向分割顯示面板形成的上區及下區其中之一才讓 其發光，於上區及下區之另一區的發光晶胞經擷取。因此 可確定偵測得行電極間之短路。 前述具體實施例中，顯示一範例，其中檢查有三發光色 晶胞排列之彩色顯示面板。但根據本發明之顯示面板之顯 示檢查方法也應用於檢查具有單色晶胞排列之單色顯示面 板。此種情況下只讓其中一區的晶胞發光，進行檢查另一 區是否有發光晶胞。 (第四具體實施例） 現在說明使用檢查裝置1 0 0進行檢查電漿顯示面板 3 0 之列電極間是否短路之程序。被平分為上區及下區之電漿 顯示面板3 1之檢查也可以相同方式執行。 如圖4所示，電漿顯示面板3 0係設定於檢查器主體1。 讓具有鋸齒形格狀形式之發光圖案顯示於電漿顯示面板 3 0之顯示區。圖1 6 A顯示列電極間無短路之發光圖案。圖 1 6 A中，標示為「R」、「G」及「B」之各區分別表示紅、綠 及藍發光晶胞。其它區表示非發光晶胞。圖1 6 A所示圖案 即為偵測得列電極間短路之該種偵測圖案。電漿顯示面板 3 0中，R、G及B色顯示晶胞排列於列方向之R、G及B色 顯示晶胞如前文說明形成一個像素。因此如圖1 6 B所示， 顯示區3 0 a全面顯示白黑鋸齒格形圖案。 圖1 7 A至1 7 C顯示當列電極間有短路時之發光圖案。圖 1 7 A顯示顯示區3 0 a之列電極出現黑線1 1 1 (暗線）之範例。 32 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 如圖 1 7 B所示，包括原先應發光之顯示晶胞之二條顯示 線，於黑線1 1 1部分未發光。 圖1 7 C為略圖顯示列電極間之短路。如圖1 7 C所示，列 電極Y i與列電極X i + 1間短路，因而透過短路部分1 1 2分 別關聯毗鄰顯示晶胞。若出現此種由短路部分1 1 2引發的 短路，則含括於二線且對應於彼此短路之列電極之顯示晶 胞未發光。結果導致有黑線之發光圖案，如圖1 7 A及1 7 B 所示。 圖1 8為流程圖顯示檢查時進行的處理。圖1 8所示檢查 係基於控制裝置4進行之控制執行。 於圖1 8步驟S 6 1，由檢查器主體1供給驅動脈波給電漿 顯示面板3 0，俾顯示圖1 6所示檢查圖案。結果電漿顯示 面板3 0例如係以圖1 6 A及圖1 6 B或圖1 7 A及1 7 B所示發光 圖案而被點亮。隨後藉CCD攝影機2拍攝發光圖案影像（步 驟S 6 2 )。拍攝之影像之影像資料由CCD攝影機2傳輸至影 像處理裝置3之影像處理記憶體3 b (步驟S 6 3 )。此處R、G 及B三色資料係分開傳輸。 接著於儲存於影像處理記憶體 3 b之影像資料中，電漿 顯示面板3 0之顯示區3 0 a全部被設定為影像顯示區，如此 設定之影像顯示區之影像資料係儲存於影像處理主題記憶 體3 c (步驟S 6 4 )。 隨後，基於儲存於影像處理主題記憶體3 c之影像資料， 執行擷取顯示區3 0 a之黑線之處理（步驟S 6 5 )。隨後決定 步驟S 6 5進行黑線擷取處理時，黑線是否已經由顯示區3 0 a 被擷取（步驟 S 6 6 )。若判定為肯定，則執行列電極間有短 33 312/發明說明書(補件)/92-10/92119384 1225233 路之顯示（步驟 S 6 7 )。若判定為否定，則執行列電極 短路之顯示（步驟S 6 8 )。於各情況下結束圖1 8之處3 若於步驟S65，發光圖案為圖16A及圖16B所示該 測圖案，則未出現黑線。由於此種情況下，步驟S 6 6 定導致否定，故判定列電極間並無短路。以圖1 7 A及靥 所示發光圖案為例，擷取黑線。因此種情況下，步驟 之判定結果為肯定，故判定列電極間有短路。 如此於圖1 8所示處理，讓電漿顯示面板3 0顯示鋸 狀檢查圖案。此種情況下若列電極間有短路，則黑線 於對應線上。因此本具體實施例中，執行黑線擷取處ϊ 驟S 6 5 )。若擷取黑線，則判定列電極間有短路。若未 黑線，則判定列電極間並無短路（步驟S 6 6、S 6 8 )。結 確定偵測得列電極間是否短路。 前述具體實施例中已經說明具有 R、G及B三發光 彩色顯示面板。但於單色顯示面板也可採用單色鋸齒 圖案作為檢查圖案。 第一至第四具體實施例舉例說明電漿顯示面板 查。根據本發明之顯示面板之顯示檢查方法也可寬廣 至其它顯示面板。 可未悖離本發明之精髓或必要特性而以其它形式 實施本發明。因此就各方面而言，此等具體實施例須 為舉例說明而非限制性，本發明之範圍係由隨附之申 利範圍而非由前文說明指示，因此落入申請專利範圍 義及相當範圍之全部變化意圖皆涵蓋於本發明之範圍 【圖式簡單說明】 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 間無 f 〇 種偵 之判 I 17B S66 齒格 出現 I (步 擷取 果可 色之 格狀 之檢 應用 具體 考慮 請專 之定 34 1225233 圖1A及1B為略圖顯示習知檢查方法，其中圖1A為略 圖顯示中間部分之斷路，以及圖1 Β為略圖顯示端部斷路； 圖2Α及2Β為略圖顯示習知檢查方法，其中圖2Α為略 圖顯示中間部分之斷路，以及圖2Β為略圖顯示端部斷路； 圖3為略圖顯示習知檢查方法； 圖4為方塊圖顯示用於電漿顯示面板之顯示檢查方法之 檢查裝置組態； 圖5為略圖顯示欲檢查之電漿顯示面板之電極配置； 圖6為略圖顯示一欄位之組態； 圖7為流程圖顯示驅動脈波； 圖8為略圖顯示電漿顯示面板被平分為上區及下區之範 例； 圖9Α、9Β、9C及9D為略圖顯示依據是否有斷路之各種 發光圖案，其中圖9Α為略圖顯示並無斷路之情況，圖9Β 為略圖顯示底端顯示晶胞列有斷路之情況，圖9C為略圖顯 示於頂端以及底端個別之顯示晶胞列有斷路之情況，以及 圖 9 D為略圖顯示於頂端以及底端個別之顯示晶胞列有斷 路之情況； 圖1 0為流程圖顯示檢查時進行的處理； 圖11Α、11Β、11C及11D為略圖顯示依據是否有斷路而 定之各種發光圖案，其中圖11Α為略圖顯示無斷路之情 況，以及圖1 1 Β、1 1 C及1 1 D為略圖顯示右端顯示晶胞列有 斷路之情況； 圖1 2為流程圖顯示檢查時進行的處理； 圖1 3為略圖顯示欲檢查之電漿顯示面板之電極配置； 35 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 圖1 4 A、1 4 B及1 4 C為略圖顯示依據行電極間是否有短 路而定之發光圖案，其中圖14A為略圖顯示行電極間無短 路之情況，圖1 4 B為略圖顯示行電極間有短路之情況，以 及圖1 4 C為略圖顯示行電極間有短路之情況； 圖1 5為流程圖顯示檢查時進行的處理； 圖 1 6 A及 1 6 B為略圖顯示列電極間並無短路之發光圖 案，其中圖16A為略圖顯示各晶胞是否發光以及圖16B為 略圖顯不鑛齒格狀圖案； 圖1 7 A、1 7 B及 1 7 C為略圖顯示當列電極間有短路情況 之發光圖案，其中圖17A為略圖顯示全顯示區，圖17B為 略圖顯示圖1 7 A之部分放大視圖，以及圖1 7 C為略圖顯示 列電極間之短路部分；以及 圖1 8為略圖顯示行電極間有短路之情況。 (元件符號說明） 1 檢查器主體- 2 CCD攝影機 3 影像處理裝置 3a 影像處理區段 3b 影像處理記憶體 3c 影像處理主題記憶體 4 控制裝置 11 定址驅動器 1 1 a、1 1 b 定址驅動器 12 X維持驅動器 1 2 a、1 2 b X維持驅動器 36 312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 1225233 13 Y 維 持 驅 動 器 13a、 13b Y維持驅動 30 電 漿 顯 示 面 板 30a 顯 示 區 30b 額 外 顯 示 區 區域 3 1 電 漿 顯 示 面 板 41 顯 示 區 42 上 區 43 下 區 100 檢 查 裝 置 10 1 行 電 極 組 1 02 行 電 極 組 1 03 短 路 部 1 04 亮 線 111 黑 線 112 短 路 部
312/發明說明書(補件)/92-10/921193 84 37