JP2004069307A - ディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】互いに分離して設けられた上下の列電極間のショートを検出できるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供する。
【解決手段】上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサ2で検出し、イメージセンサ2の出力ビデオ信号に基づいて、他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出する。明線が検出された場合、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する。
【選択図】 図2
【解決手段】上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサ2で検出し、イメージセンサ2の出力ビデオ信号に基づいて、他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出する。明線が検出された場合、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する。
【選択図】 図2
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、マトリクス状に表示セルが配列したディスプレイパネルの電極間の電極ショートを検査するディスプレイパネルの表示検査方法等に関する。
【0002】
【従来の技術】
複数の行電極と、これら複数の行電極と直交する方向に配列された列電極とを備え、行電極と列電極との交点にR、G、B各色の表示セルが形成されたディスプレイパネルが知られている。このようなディスプレイパネルにおいて、隣接する電極間のショートを検出する際には、ディスプレイパネル全体に単色パターン(R、G、Bパターン)を表示させている。この場合、隣接する電極間のショートがあれば他色の表示セルが発光するため、電極間のショートを検出することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記のディスプレイパネルにおいて、列電極をディスプレイパネルの上下方向に分割したタイプのものがある。このようなタイプのディスプレイパネルでは、図1に示すように、上下に分割された列電極群101、102中の列電極が互いにショートしていると、正常な表示ができなくなる線欠陥が発生する。しかし、ディスプレイパネル全体に単色パターンを表示させる上記検出方法を採用した場合、上下の列電極間のショートは表示に影響を与えない。このため、上下の列電極間のショートが検出できない。
【0004】
本発明は、互いに分離して設けられた上下の列電極間のショートを検出できるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【0006】
請求項2に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査方法であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【0007】
請求項3に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【0008】
請求項4に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査装置であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されたビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図2〜図8を参照して、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法の一実施形態について説明する。
【0010】
図2はプラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図、図3は検査対象となるプラズマディスプレイパネル30の電極配置等を示す図である。
【0011】
図2に示すように、この検査装置100は、検査時にプラズマディスプレイパネル30を点灯させる検査機本体1と、プラズマディスプレイパネル30の表示面を撮影するCCDカメラ2と、CCDカメラ2からの映像信号を受ける画像処理装置3と、検査機本体1、CCDカメラ2および画像処理装置3を制御する制御装置4とを備える。画像処理装置3は、後述する発光パターンを解析するための画像処理を実行する画像処理部3a、CCDカメラ2からの画像データをRGB別に格納する画像処理メモリ3b、および画像処理の対象となるデータを一時的に記憶する画像処理対象メモリ3cを具備する。
【0012】
図3に示すように、検査機本体1には、プラズマディスプレイパネル30の電極に接続されるアドレスドライバ11a,11b、Xサステインドライバ12a,12bおよびYサステインドライバ13a,13bが設けられる。
【0013】
図3に示すように、プラズマディスプレイパネル30は上下方向に2分割され、それぞれの領域の電極が互いに分離されている。図3に示すように、プラズマディスプレイパネル30の上側の分割領域には、列電極D1r,D1g,D1b,D2r,D2g,D2b・・・Dmr,Dmg,Dmbと、行電極X1〜Xiと、行電極Y1〜Yiと、が設けられる。列電極D1r〜Dmbはアドレスドライバ11aに、行電極X1〜XiはXサステインドライバ12aに、行電極Y1〜YiはYサステインドライバ13aに、それぞれ接続される。
【0014】
また、プラズマディスプレイパネル30の下側の分割領域には、列電極DA1r,DA1g,DA1b,DA2r,DA2g,DA2b・・・DAmr,DAmg,DAmbと、行電極Xi+1〜Xnと、行電極Yi+1〜Ynと、が設けられる。列電極DA1r〜DAmbはアドレスドライバ11bに、行電極Xi+1〜XnはXサステインドライバ12bに、行電極Yi+1〜YnはYサステインドライバ13bに、それぞれ接続される。
【0015】
図3に示すように、それぞれの列電極は、順次Rセル、Gセル、Bセルに繰り返し対応するように割り当てられ、表示エリア31において、行電極X1〜Xn、行電極Y1〜Ynとの交点ごとにRセル、Gセル、Bセルがそれぞれ形成される。図3に示すように、連続して配置されたRセル、Gセル、Bセルを1組として、1画素が形成される。表示エリア31の外側には表示エリア外の領域37が設けられる。
【0016】
図3に示すように、行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynは互いに反対側から伸びるように櫛状に交互に配置される。また、1つの表示セル行に対し、行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynはそれぞれ1本ずつ割り当てられ、1つのセルの内部で行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynが平行に向き合って配置される。
【0017】
また、列電極D1r〜Dmbおよび列電極DA1r〜DAmbは、表示領域31の中間部分において上下方向に互いに分離されている。なお、列電極の配置についてはさらに後述する。
【0018】
次に、プラズマディスプレイパネル30の駆動方法について説明する。
【0019】
プラズマディスプレイパネル30を駆動する期間としての1フィールドは、複数のサブフィールドSF1〜SFNにより構成される。図4に示すように、各サブフィールドには、点灯させるセルを選択するアドレス期間と、そのアドレス期間において選択されたセルを所定時間点灯させ続けるサステイン期間とが設けられている。また、最初のサブフィールドであるSF1の先頭部分には、前のフィールドでの点灯状態をリセットするためのリセット期間がさらに設けられている。このリセット期間では、すべてのセルを点灯セル(壁電荷が形成されているセル)に、または消灯セル(壁電荷が形成されていないセル)にリセットする。前者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを消灯セルに切換え、後者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを点灯セルに切換える。サステイン期間はサブフィールドSF1〜SFNの順に段階的に長くされており、点灯させ続けるサブフィールドの個数を変化させることにより、所定の階調表示が可能とされている。
【0020】
図5に示す各サブフィールドのアドレス期間では、1ラインごとにアドレス走査が行われる。すなわち、第1のラインを構成する行電極Y1に走査パルスが印加されると同時に、列電極D1r,D1g,D1b,D2r・・・Dmbに第1のラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDP1が印加され、次に第2のラインを構成する行電極Y2に走査パルスが印加されると同時に、列電極Z1〜Zmに第2のセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDP2が印加される。第3のライン以下についても同様に走査パルスおよびデータパルスが同時に印加される。最後に、第nのラインを構成する行電極Ynに走査パルスが印加されると同時に、列電極D1r,D1g,D1b,D2r・・・Dmbに第nのラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDPnが印加される。上記のようにアドレス期間では、所定のセルを点灯セルから消灯セルに、または消灯セルから点灯セルに切換える。
【0021】
このようにしてアドレス走査が終了すると、サブフィールドにおけるすべてのセルが、それぞれ点灯セルあるいは消灯セルのいずれかに設定されており、次のサステイン期間においてサステインパルスが印加されるごとに点灯セルのみ発光を繰り返す。図5に示すように、サステイン期間では行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynに対し、XサステインパルスおよびYサステインパルスが、それぞれ所定のタイミングで繰り返し印加される。そして、最後のサブフィールドSFNには、全セルを消灯セルに設定する消去期間が設けられている。
【0022】
以上のようなフィールドを繰り返すことにより、プラズマディスプレイパネル30による動画での階調表現が可能となる。
【0023】
次に、検査装置100を用いてプラズマディスプレイパネル30の列電極間の短絡を検査する場合の手順を説明する。
【0024】
図2に示すように、検査時には、プラズマディスプレイパネル30を検査機本体1にセットし、プラズマディスプレイパネル30の表示エリア31内における上側または下側の分割領域のうち、一方の分割領域全体を単色(例えば、R色)発光させる。このとき、他方の分割領域全体を発光させない黒表示とする。
【0025】
図6は、列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示している。図6(a)は列電極間のショートがない場合を示しており、表示領域31のうち上側の分割領域32全体を単色発光させている。このとき、下側の分割領域33において発光しているセルは存在しない。図6(a)に示すパターンは列電極間のショートを検出するための検出パターンそのものである。図6(b)は列電極間のショートがある場合の発光パターンを示している。図6(c)は列電極間のショート部分を示す図であり、上側の分割領域に設けられた列電極群101中の列電極と、下側の分割領域に設けられた列電極群102中の列電極とが互いにショートしたショート部分103を示している。このような列電極間のショートがある場合、図6(b)に示すように、ショート部分103を介して上側の分割領域32に設けられた列電極と、下側の分割領域33に設けられた列電極とが互いに接続される。そして、列電極101中の列電極に接続された、列電極102中の列電極に沿ったライン(明線)104上のセルが発光する。このため、列電極間のショートを検出することが可能となる。
【0026】
このようなプラズマディスプレイ30の発光パターンはCCDカメラ2により取り込まれ、画像処理装置3では、CCDカメラ2からの画像データに基づいて発光パターンの解析を行う。
【0027】
図7は、検査時の処理を示すフローチャートである。図7の処理は制御装置4の制御に基づいて実行される。
【0028】
図7のステップS1では、検査機本体1により、プラズマディスプレイパネル30に上記検出パターンを表示させるような駆動パルスを与える。これにより、プラズマディスプレイパネル30は、例えば、図6(a)または図6(b)に示すような発光パターンで点灯する。ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所無し」を示す値に初期化する。次に、CCDカメラ2により発光パターンの画像を取り込み(ステップS2)、取り込まれた画像の画像データをCCDカメラ2から画像処理装置3の画像処理メモリ3bに転送する(ステップS3)。ここでは、RGB3色のデータを別々のメモリ領域に転送する。
【0029】
次に、画像処理の対象となる発光色(R、G、B)、すなわち画像処理の対象となるデータが格納されたメモリ領域を設定する(ステップS4)。次に、画像処理メモリ3bに格納された画像データに基づいて、中央分割ラインを近似する近似直線を算出する(ステップS5)。
【0030】
次に、画像処理メモリ3bに格納された画像データのうち、上下の分割領域のうち発光させていない方の分割領域全体を画像処理領域として設定する(ステップS4)。ここでは、ステップS5の処理で算出された近似直線を基準として、画像処理領域を設定することができる。ステップS4では、例えば、検出パターンが図6(a)に示すパターンである場合には、発光させていない下側の分割領域33の全体と、上記中央分割ラインとを含む領域を画像処理領域として設定する。
【0031】
次に、画像処理対象メモリ3cに記憶された画像データに基づいて、上記画像処理領域内における輝点または輝線の抽出処理を実行する(ステップS7)。ここでは、ステップS4において設定された発光色について、輝点または輝線を抽出する。例えば、図6(b)に示す発光パターンの場合には、明線であるライン104上に輝点または輝線が抽出されることになる。また、図6(a)に示す発光パターンの場合には、輝点または輝線が抽出されない。
【0032】
ついで、ステップS8では、ステップS7の処理において輝点または輝線が抽出されたか否か判断し、判断が肯定されればステップS9へ進み、判断が否定されればステップS10へ進む。ステップS9では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所有り」を示す値に設定し、ステップS11へ進む。一方、ステップS10では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を変更せずに、ステップS11へ進む。
【0033】
ステップS11では、R、G、Bすべての発光色について、ステップS1以降の処理を終了したか否か判断し、判断が否定されればステップS1へ戻って次の発光色(例えば、G色)についての処理に移行し、判断が肯定されれば図7の処理を終了する。このように、各色の発光色(R、G、B)について、ステップS1〜ステップS10の処理が実行された後、すべての処理を終了する。
【0034】
以上の処理により、R、G、Bの各色について、列電極の有無が検出される。列電極の有無は、発光色(R、G、B)ごとに上述のフラグに基づいて判定することができる。
【0035】
以上説明したように、本実施形態のディスプレイパネルの表示検査方法では、上下に分割されたディスプレイパネルの一方の分割領域のみを発光させ、他方の分割領域において発光するセルを抽出しているので、列電極間のショートを確実に検出することができる。
【0036】
上記実施形態では、3色の発光色のセルが配列したカラーディスプレイパネルを検査する例を示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、単色のセルが配列したモノクロディスプレイパネルの検査にも適用できる。この場合は、分割領域の一方のセルを発光させ、他方の分割領域にあるセルの発光の有無を検出すればよい。
【0037】
また、上記実施形態では、プラズマディスプレイパネルの検査について例示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、他のディスプレイパネルについても広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の検査方法を示す図。
【図2】プラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図。
【図3】検査対象となるプラズマディスプレイパネルの電極配置等を示す図。
【図4】フィールドの構成を示す図。
【図5】駆動パルスを示すタイミングチャート。
【図6】列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示す図であり、(a)は列電極間のショートがない場合を、(b)は列電極間のショートがある場合の発光パターンを、(c)は列電極間のショート部分を、それぞれ示す図。
【図7】検査時の処理を示すフローチャート。
【符号の説明】
1 検査機本体(発光手段)
2 イメージセンサ(CCDカメラ)
3 画像処理装置(判定手段)
D1r,D1g〜Dmb 列電極
DA1r,DA1g〜DAmb 列電極
【発明の属する技術分野】
本発明は、マトリクス状に表示セルが配列したディスプレイパネルの電極間の電極ショートを検査するディスプレイパネルの表示検査方法等に関する。
【0002】
【従来の技術】
複数の行電極と、これら複数の行電極と直交する方向に配列された列電極とを備え、行電極と列電極との交点にR、G、B各色の表示セルが形成されたディスプレイパネルが知られている。このようなディスプレイパネルにおいて、隣接する電極間のショートを検出する際には、ディスプレイパネル全体に単色パターン(R、G、Bパターン)を表示させている。この場合、隣接する電極間のショートがあれば他色の表示セルが発光するため、電極間のショートを検出することができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記のディスプレイパネルにおいて、列電極をディスプレイパネルの上下方向に分割したタイプのものがある。このようなタイプのディスプレイパネルでは、図1に示すように、上下に分割された列電極群101、102中の列電極が互いにショートしていると、正常な表示ができなくなる線欠陥が発生する。しかし、ディスプレイパネル全体に単色パターンを表示させる上記検出方法を採用した場合、上下の列電極間のショートは表示に影響を与えない。このため、上下の列電極間のショートが検出できない。
【0004】
本発明は、互いに分離して設けられた上下の列電極間のショートを検出できるディスプレイパネルの表示検査方法および表示検査装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【0006】
請求項2に記載のディスプレイパネルの表示検査方法は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査方法であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とする。
【0007】
請求項3に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【0008】
請求項4に記載のディスプレイパネルの表示検査装置は、複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査装置であって、前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させる発光手段と、非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、前記イメージセンサから出力されたビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、を備えることを特徴とする。
【0009】
【発明の実施の形態】
以下、図2〜図8を参照して、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法の一実施形態について説明する。
【0010】
図2はプラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図、図3は検査対象となるプラズマディスプレイパネル30の電極配置等を示す図である。
【0011】
図2に示すように、この検査装置100は、検査時にプラズマディスプレイパネル30を点灯させる検査機本体1と、プラズマディスプレイパネル30の表示面を撮影するCCDカメラ2と、CCDカメラ2からの映像信号を受ける画像処理装置3と、検査機本体1、CCDカメラ2および画像処理装置3を制御する制御装置4とを備える。画像処理装置3は、後述する発光パターンを解析するための画像処理を実行する画像処理部3a、CCDカメラ2からの画像データをRGB別に格納する画像処理メモリ3b、および画像処理の対象となるデータを一時的に記憶する画像処理対象メモリ3cを具備する。
【0012】
図3に示すように、検査機本体1には、プラズマディスプレイパネル30の電極に接続されるアドレスドライバ11a,11b、Xサステインドライバ12a,12bおよびYサステインドライバ13a,13bが設けられる。
【0013】
図3に示すように、プラズマディスプレイパネル30は上下方向に2分割され、それぞれの領域の電極が互いに分離されている。図3に示すように、プラズマディスプレイパネル30の上側の分割領域には、列電極D1r,D1g,D1b,D2r,D2g,D2b・・・Dmr,Dmg,Dmbと、行電極X1〜Xiと、行電極Y1〜Yiと、が設けられる。列電極D1r〜Dmbはアドレスドライバ11aに、行電極X1〜XiはXサステインドライバ12aに、行電極Y1〜YiはYサステインドライバ13aに、それぞれ接続される。
【0014】
また、プラズマディスプレイパネル30の下側の分割領域には、列電極DA1r,DA1g,DA1b,DA2r,DA2g,DA2b・・・DAmr,DAmg,DAmbと、行電極Xi+1〜Xnと、行電極Yi+1〜Ynと、が設けられる。列電極DA1r〜DAmbはアドレスドライバ11bに、行電極Xi+1〜XnはXサステインドライバ12bに、行電極Yi+1〜YnはYサステインドライバ13bに、それぞれ接続される。
【0015】
図3に示すように、それぞれの列電極は、順次Rセル、Gセル、Bセルに繰り返し対応するように割り当てられ、表示エリア31において、行電極X1〜Xn、行電極Y1〜Ynとの交点ごとにRセル、Gセル、Bセルがそれぞれ形成される。図3に示すように、連続して配置されたRセル、Gセル、Bセルを1組として、1画素が形成される。表示エリア31の外側には表示エリア外の領域37が設けられる。
【0016】
図3に示すように、行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynは互いに反対側から伸びるように櫛状に交互に配置される。また、1つの表示セル行に対し、行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynはそれぞれ1本ずつ割り当てられ、1つのセルの内部で行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynが平行に向き合って配置される。
【0017】
また、列電極D1r〜Dmbおよび列電極DA1r〜DAmbは、表示領域31の中間部分において上下方向に互いに分離されている。なお、列電極の配置についてはさらに後述する。
【0018】
次に、プラズマディスプレイパネル30の駆動方法について説明する。
【0019】
プラズマディスプレイパネル30を駆動する期間としての1フィールドは、複数のサブフィールドSF1〜SFNにより構成される。図4に示すように、各サブフィールドには、点灯させるセルを選択するアドレス期間と、そのアドレス期間において選択されたセルを所定時間点灯させ続けるサステイン期間とが設けられている。また、最初のサブフィールドであるSF1の先頭部分には、前のフィールドでの点灯状態をリセットするためのリセット期間がさらに設けられている。このリセット期間では、すべてのセルを点灯セル(壁電荷が形成されているセル)に、または消灯セル(壁電荷が形成されていないセル)にリセットする。前者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを消灯セルに切換え、後者の場合には、後続のアドレス期間において所定のセルを点灯セルに切換える。サステイン期間はサブフィールドSF1〜SFNの順に段階的に長くされており、点灯させ続けるサブフィールドの個数を変化させることにより、所定の階調表示が可能とされている。
【0020】
図5に示す各サブフィールドのアドレス期間では、1ラインごとにアドレス走査が行われる。すなわち、第1のラインを構成する行電極Y1に走査パルスが印加されると同時に、列電極D1r,D1g,D1b,D2r・・・Dmbに第1のラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDP1が印加され、次に第2のラインを構成する行電極Y2に走査パルスが印加されると同時に、列電極Z1〜Zmに第2のセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDP2が印加される。第3のライン以下についても同様に走査パルスおよびデータパルスが同時に印加される。最後に、第nのラインを構成する行電極Ynに走査パルスが印加されると同時に、列電極D1r,D1g,D1b,D2r・・・Dmbに第nのラインのセルに対応するアドレスデータに応じたデータパルスDPnが印加される。上記のようにアドレス期間では、所定のセルを点灯セルから消灯セルに、または消灯セルから点灯セルに切換える。
【0021】
このようにしてアドレス走査が終了すると、サブフィールドにおけるすべてのセルが、それぞれ点灯セルあるいは消灯セルのいずれかに設定されており、次のサステイン期間においてサステインパルスが印加されるごとに点灯セルのみ発光を繰り返す。図5に示すように、サステイン期間では行電極X1〜Xnおよび行電極Y1〜Ynに対し、XサステインパルスおよびYサステインパルスが、それぞれ所定のタイミングで繰り返し印加される。そして、最後のサブフィールドSFNには、全セルを消灯セルに設定する消去期間が設けられている。
【0022】
以上のようなフィールドを繰り返すことにより、プラズマディスプレイパネル30による動画での階調表現が可能となる。
【0023】
次に、検査装置100を用いてプラズマディスプレイパネル30の列電極間の短絡を検査する場合の手順を説明する。
【0024】
図2に示すように、検査時には、プラズマディスプレイパネル30を検査機本体1にセットし、プラズマディスプレイパネル30の表示エリア31内における上側または下側の分割領域のうち、一方の分割領域全体を単色(例えば、R色)発光させる。このとき、他方の分割領域全体を発光させない黒表示とする。
【0025】
図6は、列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示している。図6(a)は列電極間のショートがない場合を示しており、表示領域31のうち上側の分割領域32全体を単色発光させている。このとき、下側の分割領域33において発光しているセルは存在しない。図6(a)に示すパターンは列電極間のショートを検出するための検出パターンそのものである。図6(b)は列電極間のショートがある場合の発光パターンを示している。図6(c)は列電極間のショート部分を示す図であり、上側の分割領域に設けられた列電極群101中の列電極と、下側の分割領域に設けられた列電極群102中の列電極とが互いにショートしたショート部分103を示している。このような列電極間のショートがある場合、図6(b)に示すように、ショート部分103を介して上側の分割領域32に設けられた列電極と、下側の分割領域33に設けられた列電極とが互いに接続される。そして、列電極101中の列電極に接続された、列電極102中の列電極に沿ったライン(明線)104上のセルが発光する。このため、列電極間のショートを検出することが可能となる。
【0026】
このようなプラズマディスプレイ30の発光パターンはCCDカメラ2により取り込まれ、画像処理装置3では、CCDカメラ2からの画像データに基づいて発光パターンの解析を行う。
【0027】
図7は、検査時の処理を示すフローチャートである。図7の処理は制御装置4の制御に基づいて実行される。
【0028】
図7のステップS1では、検査機本体1により、プラズマディスプレイパネル30に上記検出パターンを表示させるような駆動パルスを与える。これにより、プラズマディスプレイパネル30は、例えば、図6(a)または図6(b)に示すような発光パターンで点灯する。ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所無し」を示す値に初期化する。次に、CCDカメラ2により発光パターンの画像を取り込み(ステップS2)、取り込まれた画像の画像データをCCDカメラ2から画像処理装置3の画像処理メモリ3bに転送する(ステップS3)。ここでは、RGB3色のデータを別々のメモリ領域に転送する。
【0029】
次に、画像処理の対象となる発光色(R、G、B)、すなわち画像処理の対象となるデータが格納されたメモリ領域を設定する(ステップS4)。次に、画像処理メモリ3bに格納された画像データに基づいて、中央分割ラインを近似する近似直線を算出する(ステップS5)。
【0030】
次に、画像処理メモリ3bに格納された画像データのうち、上下の分割領域のうち発光させていない方の分割領域全体を画像処理領域として設定する(ステップS4)。ここでは、ステップS5の処理で算出された近似直線を基準として、画像処理領域を設定することができる。ステップS4では、例えば、検出パターンが図6(a)に示すパターンである場合には、発光させていない下側の分割領域33の全体と、上記中央分割ラインとを含む領域を画像処理領域として設定する。
【0031】
次に、画像処理対象メモリ3cに記憶された画像データに基づいて、上記画像処理領域内における輝点または輝線の抽出処理を実行する(ステップS7)。ここでは、ステップS4において設定された発光色について、輝点または輝線を抽出する。例えば、図6(b)に示す発光パターンの場合には、明線であるライン104上に輝点または輝線が抽出されることになる。また、図6(a)に示す発光パターンの場合には、輝点または輝線が抽出されない。
【0032】
ついで、ステップS8では、ステップS7の処理において輝点または輝線が抽出されたか否か判断し、判断が肯定されればステップS9へ進み、判断が否定されればステップS10へ進む。ステップS9では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を「ショート箇所有り」を示す値に設定し、ステップS11へ進む。一方、ステップS10では、列電極間のショートがあるものとして、該当する発光色について、ショート箇所の有無を示すフラグの値を変更せずに、ステップS11へ進む。
【0033】
ステップS11では、R、G、Bすべての発光色について、ステップS1以降の処理を終了したか否か判断し、判断が否定されればステップS1へ戻って次の発光色(例えば、G色)についての処理に移行し、判断が肯定されれば図7の処理を終了する。このように、各色の発光色(R、G、B)について、ステップS1〜ステップS10の処理が実行された後、すべての処理を終了する。
【0034】
以上の処理により、R、G、Bの各色について、列電極の有無が検出される。列電極の有無は、発光色(R、G、B)ごとに上述のフラグに基づいて判定することができる。
【0035】
以上説明したように、本実施形態のディスプレイパネルの表示検査方法では、上下に分割されたディスプレイパネルの一方の分割領域のみを発光させ、他方の分割領域において発光するセルを抽出しているので、列電極間のショートを確実に検出することができる。
【0036】
上記実施形態では、3色の発光色のセルが配列したカラーディスプレイパネルを検査する例を示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、単色のセルが配列したモノクロディスプレイパネルの検査にも適用できる。この場合は、分割領域の一方のセルを発光させ、他方の分割領域にあるセルの発光の有無を検出すればよい。
【0037】
また、上記実施形態では、プラズマディスプレイパネルの検査について例示したが、本発明によるディスプレイパネルの表示検査方法は、他のディスプレイパネルについても広く適用できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の検査方法を示す図。
【図2】プラズマディスプレイパネルの表示検査方法に使用される検査装置の構成を示すブロック図。
【図3】検査対象となるプラズマディスプレイパネルの電極配置等を示す図。
【図4】フィールドの構成を示す図。
【図5】駆動パルスを示すタイミングチャート。
【図6】列電極間のショートの有無に応じた発光パターン等を示す図であり、(a)は列電極間のショートがない場合を、(b)は列電極間のショートがある場合の発光パターンを、(c)は列電極間のショート部分を、それぞれ示す図。
【図7】検査時の処理を示すフローチャート。
【符号の説明】
1 検査機本体(発光手段)
2 イメージセンサ(CCDカメラ)
3 画像処理装置(判定手段)
D1r,D1g〜Dmb 列電極
DA1r,DA1g〜DAmb 列電極
Claims (4)
- 複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査方法であって、
前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とするディスプレイパネルの表示検査方法。 - 複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査方法であって、
前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させ、非発光画面となる他方の分割画面をイメージセンサで検出し、その出力ビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定することを特徴とするディスプレイパネルの表示検査方法。 - 複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極と、を備え、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの表示検査装置であって、
前記上下分割画面のうちの一方の分割画面を単色発光させる発光手段と、
非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサから出力されるビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、
を備えることを特徴とするディスプレイパネルの表示検査装置。 - 複数の行電極と、前記複数の行電極と直交する方向に配列され前記行電極との交点において表示セルを形成する複数の列電極を備え、行方向に並ぶ互いに発光色の異なる3色の表示セルで1画素を構成しかつ同一発光色の表示セルが列方向に並んで配列され、前記列電極各々が表示エリア内で列方向に分割され、分割画面における行単位の表示セルの同時選択が可能に構成されたディスプレイパネルの分割された列電極間の線欠陥を検査するディスプレイパネルの検査装置であって、
前記上下分割画面の内の一方の分割画面内の1の発光色のセルのみを発光させる発光手段と、
非発光画面となる他方の分割画面を検出するイメージセンサと、
前記イメージセンサから出力されたビデオ信号に基づいて、前記他方の分割画面内の表示セル列に対応した列方向の明線を検出し、明線が検出された表示セル列に対応する分割された列電極間に電極ショートが発生したものと判定する判定手段と、
を備えることを特徴とするディスプレイパネルの表示検査装置。
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-
2002
- 2002-08-01 JP JP2002224511A patent/JP2004069307A/ja not_active Abandoned
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JPWO2007034611A1 (ja) * | 2005-09-21 | 2009-03-19 | 富士通テン株式会社 | 表示装置、その検査方法およびその製造方法並びに表示パネルの検査方法および製造方法 |
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