TW522240B - Test fixture for testing backplanes or populated circuit boards - Google Patents

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52224〇 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 A7 B7 i、發明說明（1 ) 相關申請之交又參考 本申請案為1997年6月26曰申請的美國專利申請 〇8/883,552號之部份延續。 發明背景 本發明有關印刷電路板之測試，本發明具有在一格 型式上具有測試探針型之已決定測試裝置相關的特定功用 ,其中一平移端子配件將電流從一進行測試的板上的一格 外型式平移到一測試器的通道，其中該通道接觸部係呈格 型式排列。本發明之一特殊功用請見··便於在一電路板（ 常稱為底板或中板）上安裝之電連接器的電測試領域，這 些連接器常受延伸超過電接觸柱端點之一個側壁所圍繞。 .本發明包括一大面積探針板，其中具有緊固至平移配件的 頂板之多數彈簧探針，以提供底板上的連接器與平移配件 的平移端子間之測試訊號作撓順性水平平移。 相關習知技藝之簡單描述 用以檢查印刷電路板之自動測試設備向來包含採用“ 釘床”測試裝置，該測試裝置可在測試期間安裝有電路板 。一典型測試裝置係包括大量釘狀測試探針，其配置方式 係在測試設備中載有彈簧的接觸部與測試中電路板（亦稱 為測試中單元或UUT)上的指定測試點之間作電接觸。印 刷電路板上配置的任何特定電路係可能與其他電路不同， 因此’必須在測試裝置中對於該特定電路板定製用以接觸 在板上的測試點之測試探針的配置，板設計及製造資料係 決定測試裝置將測試何項特定板特徵。常如下述製造“已 本紙張尺度適用中國國家標準（Cns)A4規格（210 X 297公釐） .--------^訂------,---線 j (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 4 涇齊郎智慧时產局員X·消費合作社印製 522240 A7 _ B7 五、發明說明（2 ) 決定”格測試裝置··在數個剛性且非傳導板（如Lexan⑧）中 鑽δ又孔型、以適當扣件及固定件組裝該等板以將該等板維 持在一平行對準位置，然後將測試端子或探針安裝在已鑽 製的孔中。各板具有一獨特孔型式，故僅能***測試端子 而在UUT上的一獨特特徵與一獨特測試器格通道之間提供 xy與ζ平移。電路板接著位於配件中而與測試探針陣列 呈精確對準。測試期間，配件中的端子與測試中電路板上 的測試電路變成彈簧壓力接觸，然後電測試訊號經由配件 而平移於電路板與測試器之間，使得電路板上電路中偵測 各種測試點間之連續性或缺乏連續性之一高速電子測試分 析器係可進行實際測試。 過去已用各種方式使測試中電路板及測試探針成為 壓力接觸以供測試。一類該等測試裝置為“接線式”測試裝 置或“專用”測試裝置，其中測試探針係各別接線以分離用 以將測試訊號從探針傳送到外部電子控制測試分析器之介 面接觸部。這些接線的測試裝置常稱為‘‘真空測試裝置”， 因為測試期間係施加真空至測試裝置殼體内部以壓縮電路 板而與測試探針相接觸。亦可利用真空以外的機械裝置來 製成具有相似構造之特製接線測試裝置，以在測試期間施 加將電路板壓縮成與探針接觸所需簧力。 習知用以將一測試器的電子通道連接至測試中單元 的一底板之方法為：包含排列在一鑽孔探針板中以配合測 試中單元上的測試點型式之一系列載有彈簧接觸部之專用 裝置。彈簧探針係接線而***或以其他方式接觸測試器通 本紙張尺度刺+國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公爱） --II----I I I I I ·1111111 ^· —--— II--*5^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 522240 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 A7 ___ B7 _ 五、發明說明（3 ) 道之傳送點或連接器，專用測試裝置之一優點為：藉由改 變長度的彈簧探針而可測試不均勻型式之接觸部，故包括 不同南度的接觸部。專用的測試器構造對於待測試產品可 有適當通道數量，故通常可極有效率地使用通道，但專用 測試器具有數項缺點，尤以成本為甚。專用裝置之接線複 雜性以及載有彈簧接觸部之較高材料成本使得對於大型高 點數底板之專用裝置極為昂貴，對於開放及短型之底板測 試係需接觸各網（net)之所有節點，這亦與（負荷板測試_ loaded board test)專用裝置不同且亦稱為電路中或功能性 測試，每網係僅需一測試點。一底板對於開放及短型測試 可月b有一萬個測試點且僅有一千個網。並且，無法容易地 接受測試中單元之修改變更，且專用裝置的維修及可靠度 係略低於已決定的平移格配件。 另一類測試裝置為所謂‘‘格型裝置，，測試裝置（亦稱為“ 已決定’’的裝置），其中電路板上的測試點的隨機型式係與 平移端子相接觸，而將測試訊號傳送到在測試器中呈格狀 型式排列之載有彈簧介面端子，這些格型測試器中，裝置 結構大致較不複雜且比特製的接線測試裝置具有更低造價 ;但格系統中，格介面及測試電子裝置明顯較複雜且昂貴 典型格測試器可能有數千個開關及通道，各通道可 能有數個開關、且可標示位址並在“格，，中作為座標，測試 益通常有包含該格之載有彈簧的接觸部，裝置通常包含剛 性平移端子，其將電流從格通道導至υυτ，利用此方式， 摊χ 297 公爱） 6 > --------^------,--- (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 522240

登齊印一曰慧讨查笱員1.消費合作社印制衣 五、發明說明（4 ) 測試器的電腦可經由該裝置而測試在11111：中之連續性與隔 離。當此測試器上測試一裸板時，一平移配件係支撐並引 導在一格底座中載有彈簧探針之一剛性型式與測試中板上 的測試點的格外型式之間傳導的剛性端子。習知技藝中， 格配件（所謂傾斜端子）作為平移端子，傾斜端子為安裝身 為在平移配件部份之平移板的對應預鑽孔中之直線狀實心 端子。傾斜端子可在各方向中傾斜以將分離的測試訊號從 板上測試點的格外隨機型式平移到格底座中測試探針上的 格型式。 對於萬用格測試器之已決定配件（亦稱為平移配件）係 提供一種適合多種底板測試需求之較低成本替代方式，但 是’平移配件相較於專用配件係更少用於測試底板，主要 因為具有獨特的軟體需求且超出一般目的的測試裝置軟體 之能力。平移配件經由採用常為杯型尖端之剛性端子以測 試底板。平移配件常依賴格中載有彈蒉的接觸部以提供可 靠電連接所需之接觸力。因此，測試中單元上的接觸高度 之任何差異必須與格及測試中單元間之剛性端子接觸的對 應的伸長或縮短相配合。 平移配件在可用以測試底板時係提供數項優點，若 已知具有大幅較低組裝人工量及組件部份的較低成本，則 平移配件可為相比較的專用測試裝置之2〇至40%造價，其 亦易較輕且需要較少維修。但是，平移配件相較於專用裝 置係有數項缺點，本質上，格基礎的配件常有低的測試器 通道利用率，通常，在格基底中存在極多的未使用通道， 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（21〇 X 297公釐） I I « ^----I I I I ^---------^ (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522240 A7 __ B7 五、發明說明（5 ) 而亦有兩額外問題，其中平移端子無法一直往上抵達覆緣 連接器内，且具有多重端子高度之平移配件係難以設計及 組裝故需要許多特製元件及顯著的工程配合。此外，必須 對各板設計重新設定配件用以產生鑽銼之軟體。 譬如美國專利5,493,230號及美國專利4,721，908號中 可發現習知技藝裝置之進一步細節。 可知上述類型的習知技藝測試裝置並不適合測試連 接器中安裝的接觸柱，連接器係有延伸過接觸柱端點之側 壁。因此，常難以利用習知技藝裝置在接觸柱與平移端子 之間達成良好穩定電連接。此外，由於與測試器的均勻格 作接觸所需的傾斜，平移端子當接觸該等接觸柱時係極少 與接觸柱呈同軸，因為接觸柱在連接器中常極緊密分佈， 故造成平移端子意外電連接至錯誤的接觸柱及/或彼此錯 誤接觸，而可造成錯誤測試結果、損害電路板、及/或損 害測試裝置。並且，對於習知技藝裝置，需鑽設數層Lexan(g) 以將剛性測試探針支撐並引導至接觸尖端的水位高度。此 外，需要在連接器側壁的鑽孔兩側上提供間隙槽，此等技 術雖旎略降低平移端子與錯誤接觸柱、或彼此之間、及連 接器側壁發生意外連接之風險，但此鑽設卻犧牲側向結構 剛性，常在測試程序期間造成不正確開啟及短路，此外， 此等技術係增高成本。 本發明之一目的因而提供一種用於測試印刷電路板 之系統’其中克服本發明的上述及其他目的。 本發明的一更特定目的係提供一改良的測試裝置總 --------_—；—--------•訂------’—線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

^齊印.£曰ft讨轰苟員1.消費合阼fi印製 522240 A7 隹一------—__B7_____ 五、發明說明（6 ) 成’尤用於測試在具有延伸超過接觸柱尖端的側壁之連接 器中安裝有接觸柱之底板、或其他已插件的電路板構造。 本發明另一目的係提供一種測試裝置以測試相連基 板、用以安裝積體電路之基板、或積體電路***器。 發明概論 根據本發明，提供一種用以電性測試連接器之系統 ’其中具有部份圍繞一側壁而界定與柱尖端或端點相鄰的 一開口之接觸柱（亦即連接器端子）。一實施例中，本發明 包含一測試裝置，其具有多數相隔平移板且有在板中校準 之孔’以在一格型式中容納並支撐平移端子。包含多數可 滑式安裝的導電端子之一導塊總成係位於測試訊號頂板上 ，其導電端子的尖端或端點係與該裝置的平移端子的尖端 或端點相對齊，導塊係由機械裝置（譬如壓配合入裝置頂 板的配接孔中的柱等）固定式配置於測試裝置上，導塊導 電端子呈一體式，且其相對端點呈凹形終止而分別與該裝 置的平移端子尖端及接觸端子尖端相配接。 因為本發明中，導塊導電端子係與平移端子及接觸 柱相接合、且大致與接觸柱呈同轴對準，可在平移端子與 接觸柱間比起習知技藝維持更佳且更可靠之電接觸。此外 ’本發明顯著消除平移配件與錯誤接觸柱、彼此間、及與 連接器側壁意外連接之危險。更有利情形中，本發明不再 需要採用習知技藝之排序與引導結構，故不再需要構成及 利用此等結構之相關費用及時間。 本發明之第二及最佳實施例中，一大面積探針板係 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） — — — — — — —— — — — — — ·1111111 ^ ·11111111 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 9 522240 A7

五、發明說明（7 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 實鱧緊ID至-平料件，此實施例中，大面積探針板係取 代第一實施例之導塊總成，大面積探針板可採用多種長度 及強力彈簧探針以往上進入底板上的連接部中，且可有額 外的排序間隙板以在底板上作為阻礙，係特製大面積探針 板以配合測试中早元的底板，而使平移配件皆位於一水平 位置上且設計上並不複雜，大面積探針板内含的彈蒉探針 對於測試中單元之接觸係與探針板相平行且垂直。 圖式簡單說明 可由下列詳述及參照圖式而得知本發明的以上及其 他特徵，其中類似編號代表類似元件，且其中： 第1圖為根據本發明之導塊/測試裝置系統的第一實施 例之示意剖視圖； 第2圖為第1圖的導塊元件之俯視圖，其中為清楚起 見已移除導塊的導電端子； 第3圖為類似第2圖的俯視圖，且包含導塊元件中之 導電端子； 第4圖為第1圖的導塊元件之導電端子之側視圖； 第5圖為第3圖的導塊元件之仰視圖； 第6圖第1圖的部份放大示意圖； 第7圖為測試裝置的替代較佳實施例之示意分解剖視 圖；及 第8圖為本發明之第二替代實施例測試裝置之示意分 解剖視圖。 較佳實施例之詳細描述 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 10 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

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經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 請參照第1-6圖，本發明的系統之第一實施㈣係包 括一格底座1〇，其具有以二維格型式排列之-載有彈著測 試探針12陣列，第1圖示意的測試探針較佳包含譬如可在 100雄爾中〜對齊之均勻相隔行列的測試探針之—正交陣 列測試探針12的載有彈簧之柱塞係可均勾地在探針陣列 上突出格底座頂表面、或恰配置其下方。一平移配件。係 支撐-個安裝有-底板連接器52之測試中習知印刷電路板 16(亦稱為測试中單元*υυτ)。本文所述的υυτ最常為一 底板或中板、或具有連接器之印刷電路板（對於電組件或 總成作為相連基板，常為較小的印刷電路）。底板測試雖 為本發明的主要應用，本發明可用於需使覆緣接觸部的一 不均勻型式平移至測試通道的一格陣列之任何測試應用， 可適用於測試組件及在基板中的一腔或凹部内具有可測試 接觸部之相連基板。如下詳述，平移配件在測試中的板16 之連接器52的柱56與格底座1〇的測試探針12之間作為一介 面’底板採用多數連接器，其中插有包含一系統之電子總 成’最常用的連接器具有非傳導性覆緣（常為塑膠）以對齊 配接連接器並避免損及壓及焊入基板之較脆弱的電接觸端 子。一外部電子測試分析器20係經由平移配件15中之測試 探針22(可有數型）而電連接至測試中板的柱56，柱56以下 文詳述方式連接至格底座10、平移配件、及導塊總成50。 連接器52包含安裝在板16—側68之多數導電長形接 觸柱（共同標為56)、且可譬如由導電軌跡（未圖示）連接至 板16的各種組件（未圖示）。柱56通常由表面68延伸往平移 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 11 ^--------^---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 522240 A7 -------B7 五、發明說明（9 ) 配件15的最外平移板26、且由柱56安裝的板16側68之一遮 蔽侧壁54所部份圍繞。側壁54通常包含一模製塑膠絕緣地 遮蔽部’其界定與外排的柱56相鄰之一開口 120、且由板16 表面68延伸至超過柱56遠端〇之一點。 測試分析器20包含電子詢答電路，以對於測試中板16 的連接器52柱56作電子詢答（刺激）而決定板16及/或連接 器52是否適當運作。由於詢答產生之電子反應訊號係與由 板反應刺激及/或完美主板測試、或一電子資料庫（稱為網 表列（netlist))獲得的所儲存參照結果相比較。若反應訊號 及參考結果相符合，則可認定有良好的UUT及/或連接器52 〇 此實加例中之電子詢答電路可包含多數印刷電路卡（ 有時稱為“開關卡，，），其中具有電子組件及印刷電路以進 行電子測試，測試程序中所用之各測試探針在圖中係經由 導向分析器20之一對應開關24聯結至測試電子裝置，可瞭 解第1圖雖僅顯示六個此等開關24,依照柱56及測試中板16 其他測試點之數量，可用任何開關數而不背離本發明之此 實施例》 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 平移配件15係包括一系列垂直相隔分佈及平行的平 移板26、28、30、32，其可包括一頂（最外）板26、與頂板 26下面相隔短距離之一上板28、一或多個中間板3〇、及平 移配件底部之一向格板32。平移板係由將配件15固持為一 剛性單元之剛性柱70支撐在平行、垂直相隔位置，配件15 亦包括延伸過平移板中的孔（未圖示）之一標準平移端子陣 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 12 A7

522240 $、發明說明（10 ) 列（譬如以22不意的傾斜端子）。為簡單起見第！囷僅顯示 六個平移端子，但應瞭解可依照柱56及板16上測試之其他 接觸點（未圖示）數量而用任何此等平移端子22數。延伸過 配件15的底座板32之傾斜端子係與格底座1〇中之測試探針 12的格型式相對齊，傾斜端子頂部係延伸過最外板％以接 觸並接合所需的導塊總成50之導電端子（共同編為6〇)。傾 斜端子22較佳為直線狀實心導電端子且延伸過一端子扣持 裝置34。扣持裝置較佳包含1996年6月14日發證予該申請 的受讓人名為“平移配件中之測試探針的扣持，，的共同審查 中申請08/662,671號（該共同審查中申請係以提及方式併入 本文中）之一型塑膠篩，但是若實施例14適當修改，可用 其他型平移端子扣持裝置而不背離本發明。如該共同審查 中申請所揭示，塑膠篩扣持裝置34較佳位於平移端子15的 最低板30、32之間，且包括多數空隙開口可供平移端子22 穿透。該塑膠篩扣持裝置34之塑性係沿平移端子22圓周施 加足以將平移端子扣持在測試裝置15内之一部份壓縮力。 亦可用譬如乳膠片等平移端子扣持之其他方法，平移配件 係在均勻且規律格型式排列的測試器通道陣列（其中在測 試中單元上的可測試點係有不均勻配置）之間提供電收縮 。美國專利5,729，146號更尤有關一種平移配件，其中揭 示以提及方式併入本文中。 係由一導塊50來完成第一實施例之系統，導塊5〇直 接位於柱56的遠端下方且其較佳型式包含一矩形模製或加 工的塑膠塊76 ’且相較於連接器52的開口 120具有小尺寸 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210x 297公爱） I I --------^---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 13 52224〇

五、發明說明（11 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 。因此，導塊的尺寸可***開口 12〇内以使表面8〇夠接近 柱56而在端子60延伸時（至少部分到‘‘上，，位置，亦即如第6 圖所示）使端子60接觸並接合柱56遠端。塊76亦包括整體 成形的矩形腳72、74、82、104，該等腳72、74、82、1〇4 包括各圓柱部90、92、94、106以安裝入配件最外板26中 形成的配合孔（107虛線所示）中，而將導塊76可移除式附 接至最外板26。如第2及5圖所示，腳72、74、84 ' 104呈 交錯狀以使導塊彼此緊密安裝。 多數圓柱形導電端子60(包含一導電可加工金屬，如 鑛有鈹銅或半硬黃銅之金）係可滑式安裝在各圓柱孔中（共 同標為96)。端子60較佳比孔96更長約150-170密爾，且各 端子60包含相對的頂62及底64端（其尺寸相較於孔96及端 62及64其間的中央部1〇2係略為過大），以使端子6〇在孔96 中滑動同時防止掉出孔96外。較佳，此實施例中，端子6〇 包含一件式端子，端62、64具有1.524公厘的最大直徑， 而中央部102具有1.372公厘直徑。端子62、64較佳但非必 然推拔成1.372公厘，端子60係以壓入配合而裝填入塊76 中。另外，端子60可包含兩件式端子，此情形中，端子可 從相對側裝填入塊76中、然後配合在一起。各端子60亦包 含頂98及底109凹部（亦即凹面），凹部98、109適可（亦即 具有適當尺寸及形狀）分別接合並配接接觸柱56遠端及平 移端子22的頂部。並且，較佳，端子60的數量及構造係符 合需由裝置測試之柱56的數量及構造。可改變導塊總成之 尺寸、形狀、方向、構造及端子數，亦即容納不同的待測 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐）

14 522240 Α7 Β7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 五、發明說明（12 ) 試連接器。 使用時，導總成50係壓入配合在測試裝置頂板26的 適當位置中，然後待測試板係位於測試器中而與測試裝置 相鄰。平移端子22的頂部係接觸並接合頂凹部1〇9或導電 端子60。經由平移端子22以載有彈簧的探針12將壓縮力施 加至端子60，使得端子60在孔96中往上滑，故端子60頂部 62在連接器52開口 120内側之導總成76頂面部80上方延伸 約150-170密爾，且端子60的凹部98係接觸並接合接觸柱56 遠端。各端子60在接觸該等柱56時係與各一個接觸柱56概 呈同軸且相配接。接著可經由開關24、測試探針12、平移 端子22及該裝置的導塊端子60而在接觸柱56與分析器2〇之 間傳送電子測試訊號及反應。實施例14雖已描述為包含特 定測試裝置型（亦即測試分析器20、開關24、格底座1〇 , 且測試裝置15包含多數相隔平移板），若適當修改時，實 施例14可利用其他類型及構造的測試裝置而不背離本發明 ，亦可有其他修改，譬如，導塊端子6〇雖已描述為皆有相 Π長度及直位，若柱56具有彼此不同的長度，可修改裝置 使得端子6G具有彼此不同長度，而平移料22以上述方式 施力至端子6G時使端子6〇接觸並接合柱％遠端，本發明亦 可有利地配合用以測試其他預設組件及/或作為電路中測 試。 、 -較佳實施例中，測試裝置12G可示於第7圖中，測 試裝置包括-大面積探針板122，其由螺絲124或其他適+ 緊固裝置實趙固接至平移配件126。通常，螺絲通過探: 本紙張尺度翻f"關家標準（CNS)A4規格（21; χ 297公釐） 裝·-------訂---------線 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 15 522240 A7 B7 經濟部智慧財產局員工消費合作社印制衣 五、發明說明（13 ) 板122並進入平廣配件126的墊高部（Stand offs)128。探針 板122包含在彼此頂上堆疊形成探針板122之多數較薄板 130，可根據底板或待測試的測試中單元132之高度需求而 採用任何板130數。第7及8圖雖顯示一印刷電路板或具有 覆緣連接器之底板，可瞭解本發明之測試裝置係同樣適合 測試其他型相連基板或該技藝習知用以安裝積體電路或積 體電路***器之基板。 探針板122具有多數鑽過板130之孔行列以容納彈簧 探針134及136，探針板122可容納多種長度及強力彈簧探 針以往上進入連接器138及140中而接觸連接器的連接器端 子142及144。圖中之彈簧探針雖位於探針板122中，瞭解 可用其他型測試探針譬如直線狀實心探針。如第8圖所示 ’探針板可有位於探針板122上對於排序間隙之額外特製 較小板146，為底板132上的阻礙。板146的精確尺寸與構 造取決於特定構造及底板上的連接器，板146係由將板146 與探針板142對準及連接作用之彈簧探針134的容槽附接至 探針板142。 係特製第7及8圖中的探針板122及裝置120之排序間 隙板146以配合測試中單元，而使平移配件126皆處於準位 置上且有不複雜的設計。彈簧探針134及136對於底板132 之接觸係與探針板相平行且垂直，第7及8圖的測試裝置產 生的優點為··可採用盡量減少組裝、材料及工程成本並供 x-y空間中之UUT測試點位置簡單平移至格通道148的x-y 座標之任何標準的平移配件。測試裝置120不再需要測試 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) ;% -訂·. •線- 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（21〇 x 297公釐） 16 522240

五、發明說明（Μ ) 探針的接線’馬該裝置之維修保養遠比習知專用配件更容 易’因為探針板可易於自可供接近所有配件組件之平移配 件相分離。測試裝置12〇的再度加工亦大幅更簡單而在裝 置底側上不具有一套接線。測試裝置120可使格測試器用 以測試底板，過去係需要專用的配件。另一優點為：探針 板120中之彈簧探針並未將一側負荷施加至連接器端子142 及144’而當連接器及其端子收縮配合入更小電子總成中 時係變得益加重要。探針板120亦提供一穩定平台以在測 試期間承受且傳送壓縮。 亦可有進一步修改，因此，本發明不應視為僅限於 上文所用的特定實施例及方法，而應該視為僅由下文申請 專利範圍界定之廣泛範圍。 -------------裝--------訂· (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)

-線 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 17 本纸張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 522240 A7 B7 五、發明說明（l5 ) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印剩衣 10.. .格底座 12.. .測試探針 15，126…平移配件 16.. .測試中板 20…測試分析器 22.. .平移端子 24…開關 26···頂（最外）板 26.. .頂板 2 8...上板 32.. .最低板 30.. .中間板 34.. .端子扣持裝置 50.. .導塊總成 52.. .底板連接器 54.. .遮蔽側壁 56…柱 60.. .導電端子 62.64.. .頂，底端 6 8…側 元件標號對照 70.. .剛性柱 72,74,82，104...矩形.腳 76···塑膠塊（導總成） 80···表面（頂面部） 90,92,94，106...圓柱部 9 6.. ·圓才t孑L 98."凹部 102.. .中央部 109···頂凹部 120…測試裝置 122.. .探針板 124.. .螺絲 128.. .墊高部 130…較薄板 132…測試中單元 134.136.. .彈簧探針 138，140··.連接器 142，144...連接器端子 146…排序間隙板 148.. .格通道 本紙張尺度適用中國國家標準（CNS)A4規格（210 X 297公釐） 18

Claims (1)

1. A8B8C8D8 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 522240 六、申請專利範圍 1 · 一種測試裝置，用以測試一相連基板，包含： 一平移配件’具有多數相隔的平移板，其適可容 納並支撐多數平移端子；及 一探針板，剛性連接至平移配件之一頂板，該探 針板具有位於延伸過探針板的孔中之多數測試探針， 該等測試探針係與平移端子作電接觸，以將測試訊號 從該相連基板平移至位於該平移配件下方之一格底座 〇 2·如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該等測試探針 係為變化高度之彈簧探針。 3·如申請專利範圍第丨項之測試裝置，其中該等探針板包 括位於該探針板的一上表面之至少一排序間隙探針板 〇 4·如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該探針板包含 彼此堆疊之多數各別薄探針板。 5·如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該等平移端子 及該等測試探針為直線狀實心端子。 6.如申請專利範圍第5項之測試裝置，其中該等平移端子 的一部份係通過該等平移板呈一角度傾斜。 7·如申請專利範圍第1項之測試裝置，其中該等測試探針 彼此相平行且與該探針板相垂直。 8. —種用以測試印刷電路板的底板之測試裝置，其具有 多數覆緣連接器且包含： 一平移配件，具有多數相隔的平移板，其適可容 —尺度適用^^標準（CNS)A4規格⑽x 297公爱）

   522240 A8B8C8D8 六、申請專利範圍 納並支撐多數平移端子； 一探針板’剛性連接至該平移配件之一頂板； 多數測試探針，位於延伸過該探針板的孔中且與 該等平移端子作電接觸，·及 一格底座，位於具有與該等平移端子作電接觸之 • 多數彈簧探針的平移配件下方。 • 9·如申請專利範圍第8項之測試裝置，其中該等彈簧探針 春係有變化高度。 1〇_如申請專利範圍第8項之測試裝置，其中該探針板包括 位於該探針板的一上表面之至少一排序間隙探針板。 11·如申請專利範圍第8項之測試裝置，其中該探針板包含 彼此堆疊之多數薄探針板。 12·如申請專利範圍第i丨項之測試裝置，其中該等平移端 子的一部份係通過該等平移板呈一角度傾斜。 13.如申請專利範圍第8項之測試裝置，其中該等彈簧探針 彼此相平行且與該探針板相垂直。 ^--------^---------^ (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印^^