CN110865295A - 一种板载ic管脚信号测试治具 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种板载IC管脚信号测试治具，包括顶部约束平板、固定柱和探针约束平台；顶部约束平板的底端中部通过固定柱连接探针约束平台，顶部约束平板上设有若干探头连接环，所述探针约束平台固定有若干接触式探针。测试治具的一端通过探头连接环连接外部测量仪器的探头，另一端通过接触式探针连接IC管脚，使得外部测量仪器的探头通过探头连接环和接触式探针连接IC管脚，实现对IC管脚信号的测试。本发明采用带有固定孔和探头连接环的顶部约束平板及探针约束平台的固定技术，提高了测量仪器探头与IC管脚连接的牢固性。采用接触式探针连接外部的IC管脚，与现有技术相比，能够避免现有技术容易卡住多只管脚导致短接的问题。

Description

一种板载IC管脚信号测试治具
技术领域
本发明涉及仪器仪表领域，尤其涉及一种板载IC管脚信号测试治具。
背景技术
IC(Integrated Circuit，集成电路)是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构；其中所有元件在结构上已组成一个整体，使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。
对于已贴片至PCB(Printed Circuit Board，印制电路板)上的IC，尤其是QFP形式封装的IC，其管脚数量多、尺寸小、中心距短，无法直接使用测量仪器的探头连接管脚进行信号测量。
对于单只管脚，尚可通过示波器等测量仪器探头的探针进行点触式测量。当需要对多只管脚进行信号测量时，必须借助其他连接装置连接IC管脚与测量仪器的探头。
现在已有的技术多为与“Cleqee-P5003迷你飞机测试钩”类似的单根夹持型连接装置。该类型的连接装置存在以下问题：
1)容易卡住多于一只管脚，导致对IC造成电气上的损坏。
2)连接装置的金属夹子碰撞到IC管脚后，容易造成夹子变形、折断，而使连接装置损坏至不可使用。
3)连接不牢固，容易使夹子脱落，导致对PCB上电气元器件造成损坏。
发明内容
本发明针对现有技术存在的问题，提供一种板载IC管脚信号测试治具，应用于PCB上IC管脚与测量仪器探头之间的连接，解决现有测试治具采用金属夹子夹持IC管脚，容易卡住多于一只管脚，以及部件易损坏、连接不牢固的问题。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下：
本发明实施例提供一种板载IC管脚信号测试治具板载IC管脚信号测试治具，包括顶部约束平板、固定柱和探针约束平台；
所述顶部约束平板的底端中部通过固定柱连接所述探针约束平台，所述顶部约束平板上设有若干探头连接环，所述探针约束平台固定有若干接触式探针；所述探头连接环的一端连接外部测量仪器的探头，另一端与接触式探针的一端连接，所述接触式探针的另一端连接IC管脚。
进一步，所述接触式探针包括探针封管，所述探针封管内部包括用弹簧隔离的顶端连接器和底端连接器，所述顶部连接器的顶端设有上探针头，所述底部连接器的底端设有下探针头。
进一步，所述顶部约束平板开设有固定孔，用于配合所述固定柱和外部PCB板的安装孔以固定测试治具。
进一步，所述探头连接环与接触式探针通过杜邦线连接。
进一步，所述接触式探针与IC管脚的数量相同，每一接触式探针分别对应一IC管脚。
进一步，所述顶部约束平板、固定柱和探针约束平台均为有机玻璃材质。
进一步，所述顶部约束平板和探针约束平台的厚度大于等于3mm。
本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具，一端通过探头连接环连接外部测量仪器的探头，另一端通过接触式探针连接IC管脚，使得外部测量仪器的探头通过探头连接环和接触式探针连接IC管脚，实现对IC管脚信号的测试。本发明采用带有固定孔和探头连接环的顶部约束平板及探针约束平台的固定技术，能够强化测量仪器探头与IC管脚之间连接的牢固性。采用接触式探针连接外部的IC管脚，与现有技术采用金属夹子夹持IC管脚相比，能够避免现有技术容易卡住多只管脚导致短接的问题。与现有技术采用的金属夹子使用时易变形或折断相比，本发明提供的测试治具使用时不易损坏，提高了测试治具的可靠性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具的正视图；
图2为本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具的俯视图；
图3为本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具的底部视图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
1、顶部约束平板，2、固定柱，3、探头连接环，4、接触式探针，5、第一探针约束平台，6、第二探针约束平台，7、固定孔。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
针对现有测试治具采用金属夹子夹持IC管脚，容易卡住多于一只管脚，以及现有测试治具易损坏、连接不牢固的问题，本发明实施例提供了一种板载IC管脚信号测试治具，图1为本发明实施例提供的一种板载IC管脚信号测试治具的正视图，图2为本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具的俯视图；图3为本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具的底部视图；参照图1～图3，该测试治具包括顶部约束平板1、固定柱2和探针约束平台；
所述顶部约束平板1的底端中部通过固定柱2连接所述探针约束平台，所述顶部约束平板1上设有若干探头连接环3，所述探针约束平台固定有若干接触式探针4；所述探头连接环3的一端连接外部测量仪器的探头，另一端与接触式探针4的一端连接，所述接触式探针4的另一端连接IC(Integrated Circuit，集成电路)管脚。
具体地，本发明实施例提供一种板载IC管脚信号测试治具，用以连接外部测量仪器的探头和IC管脚。
参照图1，测试治具从上至下依次设置有顶部约束平板1、固定柱2和探针约束平台，顶部约束平板1的底端中部通过固定柱2连接探针约束平台。探针约束平台包括第一探针约束平台5和第二探针约束平台6，如图1所示，固定柱2上端连接顶部约束平板1的下表面中部，下端贯穿第一探针约束平台5连接第二探针约束平台6的上表面中部。
进一步地，该测试治具工作时，探头连接环3的上端内环连接外部测量仪器的探头，探头连接环3的下端与接触式探针4的上端连接，接触式探针4的下端连接IC管脚。使得外部测量仪器的探头通过探头连接环3和接触式探针4连接IC管脚，实现对IC管脚信号的测试。
本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具，一端通过探头连接环连接外部测量仪器的探头，另一端通过接触式探针连接IC管脚，使得外部测量仪器的探头通过探头连接环和接触式探针连接IC管脚，实现对IC管脚信号的测试。本发明采用带有探头连接环的顶部约束平板及探针约束平台的固定技术，能够强化测量仪器探头与IC管脚之间连接的牢固性。采用接触式探针连接外部的IC管脚，与现有技术采用金属夹子夹持IC管脚相比，能够避免现有技术容易卡住多只管脚导致短接的问题。与现有技术采用的金属夹子使用时易变形或折断相比，本发明提供的测试治具使用时不易损坏，提高了测试治具的可靠性。
基于上述实施例的内容，作为一种可选实施例，所述接触式探针4包括探针封管，所述探针封管内部包括用弹簧隔离的顶端连接器和底端连接器，所述顶部连接器的顶端设有上探针头，所述底部连接器的底端设有下探针头。
现有的连接装置采用金属夹子夹持IC管脚，存在连接不牢固，夹子易脱落，导致PCB上的电气元器件损坏的问题，针对这一问题，基于上述任一实施例，本发明提供的顶部约束平板1开设有固定孔7，用于配合固定柱2和外部PCB板的安装孔以固定测试治具。
可选的，所述探头连接环3与接触式探针4通过杜邦线连接。其中，杜邦线是可用于实验板的引脚扩展，能够非常牢靠地和插针连接，无需焊接，可以快速进行电路试验。
基于上述实施例的内容，作为一种可选实施例，所述接触式探针4与IC管脚的数量相同，每一接触式探针4分别对应一IC管脚。
具体地，本发明实施例中，测试治具布置有与IC管脚数量相同的接触式探针。测试治具工作时，每一接触式探针分别对应连接一个IC管脚，使得该测试治具能够达到一次安装即可测试IC全部管脚信号的效果。
基于上述实施例的内容，作为一种可选实施例，所述顶部约束平板1、固定柱2和探针约束平台均为有机玻璃材质。
具体地，本实施例中，顶部约束平板1、固定柱2和探针约束平台均采用透明的有机玻璃，以便于测试人员看清接触式探针与IC管脚是否有效连接。
可选的，顶部约束平板1和探针约束平台的厚度大于等于3mm。固定柱2的边长设置为5mm以上为宜，以确保测试治具的牢固性。其他部件的尺寸以IC管脚信号测试的实际需求为准进行设置。
可以理解的是，探头连接环3和接触式探针的数量、间距以实际需求为准进行布置。且探头连接环3和接触式探针的数量相同，测试治具工作时，每一探头连接环3的底端分别对应连接一个接触式探针4。
本发明实施例提供的板载IC管脚信号测试治具，一端通过探头连接环连接外部测量仪器的探头，另一端通过接触式探针连接IC管脚，使得外部测量仪器的探头通过探头连接环和接触式探针连接IC管脚，实现对IC管脚信号的测试。本发明采用带有固定孔和探头连接环的顶部约束平板及探针约束平台的固定技术，能够强化测量仪器探头与IC管脚之间连接的牢固性。采用接触式探针连接外部的IC管脚，与现有技术采用金属夹子夹持IC管脚相比，能够避免现有技术容易卡住多只管脚导致短接的问题。与现有技术采用的金属夹子使用时易变形或折断相比，本发明提供的测试治具使用时不易损坏，提高了测试治具的可靠性。
需要说明的是，在本发明实施例的描述中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明的具体含义。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，包括顶部约束平板、固定柱和探针约束平台；
所述顶部约束平板的底端中部通过固定柱连接所述探针约束平台，所述顶部约束平板上设有若干探头连接环，所述探针约束平台固定有若干接触式探针；所述探头连接环的一端连接外部测量仪器的探头，另一端与接触式探针的一端连接，所述接触式探针的另一端连接IC管脚。
2.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述接触式探针包括探针封管，所述探针封管内部包括用弹簧隔离的顶端连接器和底端连接器，所述顶部连接器的顶端设有上探针头，所述底部连接器的底端设有下探针头。
3.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述顶部约束平板开设有固定孔，用于配合所述固定柱和外部PCB板的安装孔以固定测试治具。
4.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述探头连接环与接触式探针通过杜邦线连接。
5.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述接触式探针与IC管脚的数量相同，每一接触式探针分别对应一IC管脚。
6.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述顶部约束平板、固定柱和探针约束平台均为有机玻璃材质。
7.根据权利要求1所述的板载IC管脚信号测试治具，其特征在于，所述顶部约束平板和探针约束平台的厚度大于等于3mm。
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