JPH05302938A - プリント配線板の検査治具 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 プローブの触針の細径化と損傷防止に対応で
き，かつガイド孔の穿設が容易で，プローブの他端と検
査器との電気的接触が容易なプリント配線板の検査治具
を提供すること。 【構成】 ガイド板８にスライド可能に装着したコンタ
クトピン３と，ピンボード８８に固定したプローブ１と
よりなる。プローブ１は，触針２を有する。触針２は，
コンタクトピン３の頭部に当接させ，コンタクトピン３
の先端を配線回路７１に当接させて，検査する。プロー
ブ１と検査器１８との間には中継端子盤４０を設け，中
継端子盤４０のコネクタ端子４１とプローブ端子１６と
を接触させる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は，プリント配線板の検査
治具，特に高密度配線回路の検査に対して優れた効果を
発揮するプローブ回りの構成と，電気的な判定回路を有
する検査器との接続を容易にする端子構造に関する。

【０００２】

【従来技術】プリント配線板における配線回路を，電気
導通の有無により検査する方法，及びその装置として
は，種々のものが提案されている（例えば，特公平２−
４４０３５号公報，特開昭５６−１１００６０号公
報）。そして，従来用いられている，プリント配線板の
検査治具としては，図９及び図１０に示すごとく，プリ
ント配線板７の配線回路７５に対して，プローブ９の触
針９２を当接させることにより，電気導通の有無を検査
するものである。

【０００３】該検査治具は，プローブの先端のガタツキ
を防止するためのガイド板８と，プローブ９を保持する
ためのピンボード８８と，両者を貫通させて装着したプ
ローブ９とよりなる。プローブ９は，図１０にも示すご
とく，パイプ状のソケット９１と触針９２とを有する。
ソケット９１は，ピンボード８８の貫通孔８８１内に挿
通固定されている。

【０００４】一方，触針９２はガイド板８のガイド孔８
１内に，進退可能に挿通されている。そして，触針９２
は，その上部にプランジャー９２０を有する。該プラン
ジャー９２０は，チューブ２５の内腔内に，スプリング
バネ（図示略）を介して，進退可能に装着されている。

【０００５】上記プローブ９の上端は，電気導通を検出
するための検査器に電気的に接続されている。なお，ガ
イド板８は，ソケット９１の下端を配置するための凹部
８２を有する。また，上記プローブ９は，被検査体とし
てのプリント配線板７の配線回路７５に対応した位置に
設けてある。また，ガイド板８とピンボード８８とは一
体的に固定してある。

【０００６】そして，配線回路の電気導通の検査に当た
っては，プリント配線板７の上下より，上記ガイド板８
及びピンボード８８を下降及び上昇させ，プローブ９の
触針９２を配線回路７５の触針用パッド（以下省略）に
当接させる。このとき，当該配線回路７５が断線又はシ
ョートを生じていない場合には，正常な電気導通が得ら
れる。これにより，各配線回路７５の良否が判定でき
る。

【０００７】また，上記において触針９２の先端９２１
を配線回路７５に当接させた際には，触針９２はガイド
板８のガイド孔８１に沿ってソケット９１側へ後退し，
そのプランジャー９２０がソケット９１内に侵入する。
これは，触針９２の先端９２１を保護するためである。
なお，図９において，符号８７，８８６はノックピン８
９１の挿入穴，８７１，８８５は，位置決めピン８９２
の挿入穴である。

【０００８】

【解決しようとする課題】しかしながら，上記従来の検
査治具には，次の問題がある。即ち，近年は，プリント
配線板における配線回路の高密度化が進み，配線回路の
端部であるパッドのピッチがますます狭くなっている。
例えば，このピッチは，従来は０．５ｍｍ程度であった
が，高密度配線回路においては０．３ｍｍと狭くなって
いる。

【０００９】そこで，これに対応するため，プローブ９
の配列ピッチを狭くする必要があるため，プローブ自体
の大きさ（直径）も小さくする必要がある。そして，現
在使用されているプローブ９においても，そのソケット
９１の外径は約１ミリであり，また触針９２の直径は
０．５ｍｍと細径である。

【００１０】また，従来の検査治具においては，検査に
当たって，触針９２の先端９２１を直接に配線回路７５
に当接させている。また，その当接の際には，上記のご
とく，触針９２がガイド板８のガイド穴８１内をスライ
ドして後退する。そして，検査後は，触針９２は，ソケ
ット９１内に設けたスプリングバネによって，再び元の
位置へ突出させられる。そのため，触針９２は，検査の
度毎にガイド孔８１内を摺動することになる。

【００１１】それ故，触針９２が摩耗し易い。また，こ
の摩耗を防止するためガイド孔８１の径を大きくする
と，触針９２との間のクリアランスが大きくなり，触針
９２の先端９２１がガタつき，検査不良を生ずることが
ある。また，触針９２は，ピンボード８８に固定された
ソケット９１内に挿入されている。そのため，ソケット
９１と触針９２とガイド孔８１の軸芯は同一にしなけれ
ばならない。それ故，上記ガイド孔８１は，細径の触針
９２を円滑にスライドさせるために，上記軸芯が一致す
るように寸法精度良く，穴明けを行う必要がある。

【００１２】また，触針９２は，ソケット９１内とガイ
ド孔８１内を，同軸線状にスライドすると共に，その先
端９２１が配線回路７５と直接に当接するため，上記軸
芯ズレと当接による損傷を受け易い。上記のごとく，従
来の検査治具においては，配線回路の高密度化に伴っ
て，特にプローブの触針９２の細径化と損傷，ガイド孔
８１の穴明精度等に問題がある。

【００１３】一方，プローブの他端は，リード線その他
によって，電気的な判定回路を有する検査器に電気的に
接続されなければならない。すなわち，プローブの他端
は，コネクタその他の機械的接触又は半田付け等による
物理的な溶着方法等によって，電気信号を取り出す構造
が必要である。そして，それを効率的に実施するために
は，プローブの電気的取出口である他端（以下「他端」
と略称）は一定値以上の間隔を有することが望ましく，
更に願わくば一定の間隔に加えて一定の配列を有するこ
とが望ましい。

【００１４】他方，プローブの触針の先端は，パッドに
当接させなければならないから，触針の配置は検査対照
のプリント配線板毎に全く異なったものとならざるを得
ない。また，配線回路の高密度化に伴い，触針の間隔は
非常に小さなものとなり，プローブの他端と，検査器と
接続するためのリードワイヤとの電気的接続はますます
難しくなってくる。

【００１５】他方プローブ他端の配置を触針の配置とは
異なったものとして，電気的接続を容易にしようとすれ
ば，上記の軸芯はガイド板及びピンボードに対して垂直
とすることができなくなり，ガイド孔及び貫通孔等の加
工は極めて困難なものとなる。本発明はかかる従来の問
題点に鑑み，プローブの細径化と損傷防止に対応でき，
かつガイド孔の穿設を容易にすると共に，プローブの他
端の電気的接続を容易にできる，プリント配線板の検査
治具を提供しようとするものである。

【００１６】

【課題の解決手段】本発明は，プリント配線板における
配線回路を電気導通の有無により検査する検査治具であ
って，該検査治具は，ガイド板と，ピンボードと，上記
配線回路と当接させるためのコンタクトピンと，該コン
タクトピンに当接させるための触針を有するプローブと
よりなり，かつ上記コンタクトピンは上記ガイド板に進
退可能に装着され，上記プローブの他端にはプローブ端
子を有し，該プローブ端子と検査器との間には，両者を
電気的に中継接続する中継端子盤を有し，該中継端子盤
は上記プローブ端子と接触させるコネクタ端子を有し，
またプローブ端子とコネクタ端子は互いに対向する位置
関係にあることを特徴とするプリント配線板の検査治具
にある。

【００１７】本発明において最も注目すべきことの１つ
は，上記従来例の前記プローブをいわば２組に分割し，
コンタクトピンとプローブとに構成したこと，そしてコ
ンタクトピンを配線回路に当接させ，一方プローブの触
針はコンタクトピンに当接させるよう構成したことであ
る。

【００１８】即ち，プリント配線板と対面するガイド板
には進退可能にコンタクトピンを装着し，上記ガイド板
に面するピンボードにはプローブを固定する。そして，
該プローブは，その一例としてソケット内に，弾性的に
進退可能に触針を内蔵させた構造とすることが好まし
い。

【００１９】これにより，プローブをコンタクトピンに
当接させるときに，触針が進退してその当接力を吸収
し，プローブ先端の損傷を防止できる。このように，触
針をソケット内に内蔵させる手段としては，触針をチュ
ーブ内に弾性的に保持し，これらをソケット内に装着す
る手段がある（図４，５参照）。また，ソケット内に，
直接に触針を挿入して弾性的に保持させる手段もある。
上記弾性的に保持する手段としては，スプリングバネが
ある。また，プローブは，単にコンタクトピンとコネク
タ端子をつなぐものであってもよい。

【００２０】また，コンタクトピンはガイド板のガイド
孔に進退可能に装着する。コンタクトピンは，配線回路
に当接させる先端を有すると共に，その反対側に触針を
当接させる当接部を有する。該当接部は，コンタクトピ
ンの本体よりも大きな径を有する頭部を有することが好
ましい。また，該当接部には，触針の当接を確実にする
ために，曲面凹部を設けることが好ましい（図６参
照）。

【００２１】また，本発明の検査治具においては，ガイ
ド板及びピンボードに本発明に関する上記構成のコンタ
クトピン及びプローブを設けると共に，プリント配線板
の配線回路が高密度でない部分を検査するために，上記
従来例と同様の比較的大径のプローブピンを併設するこ
ともできる。

【００２２】本発明において注目すべきもう一つのこと
は，プローブの他端には，端子構造を有するプローブ端
子を設け，該プローブ端子と検査器との間には，両者を
電気的に中継接続する中継端子盤を設けたこと，更にこ
の中継端子盤は上記プローブ端子と接続させるコネクタ
端子を有し，プローブ端子とコネクタ端子とは互いに対
向する位置関係にあるようにしたことである（図１参
照）。プローブの他端（触針の反対側の端部）であるプ
ローブ端子と中継端子盤のコネクタ端子とは，互いに機
械的な接触によって電気的導通を確実なものにするよう
な構造，例えばオス・メスの関係を形成するような端子
形状にすることもできる。

【００２３】また，プローブ端子とコネクタ端子の結合
状態において，一定の接触押圧を確保するように，コネ
クタ端子側は進退可能に弾力的に支持することが好まし
い。また，プローブ端子とコネクタ端子とは空間的に相
対向するように配置される。この両端子の配置はプロー
ブ端子とコネクタ端子の接続を容易にするような配列で
あり，コンタクトピンの配置間隔とは異なっている。更
にコネクタ端子の配列すなわちプローブ端子の配列は，
コンタクトピンの配列すなわちプリント配線板の種類に
左右されずに，一定の間隔を有する配列とすることが好
ましい。

【００２４】このために，プローブの軸芯はガイド板及
びピンボードに必ずしも垂直ではなく，コンタクトピン
の位置とコネクタ端子の位置に対応した傾斜を有するよ
うなプローブの構造とする（図１）。これにより，両者
は常に一定の位置関係に設計することができ，コネクタ
端子を設けた中継端子盤に汎用性を持たせることがで
き，コスト安となる。中継端子盤と検査器とはリードワ
イヤ等によって電気的に接続することができる。

【００２５】

【作用及び効果】本発明の検査治具においては，ガイド
板にコンタクトピンを，ピンボードにプローブを設け，
コンタクトピンをプリント配線板の配線回路に当接さ
せ，プローブの触針はコンタクトピンに当接させるよう
構成している。即ち，本発明においては，ガイド孔内を
スライドして配線回路に当接する部分（コンタクトピ
ン）と，電気導通の検出端であるプローブとを２つに分
けた構成としている。

【００２６】そのため，コンタクトピンとプローブとは
互いに独立した進退移動が可能である。それ故，ピンボ
ードに設けたプローブと，その触針と，コンタクトピン
が進退するガイド板のガイド孔との３つの軸芯を，高精
度で一致させる必要がない。

【００２７】したがって，ガイド孔の軸芯の孔明けは，
プリント配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良
く，従来のごとく高精度が要求されず，穿設容易であ
る。また，ガイド孔はコンタクトピンのみの円滑スライ
ドを可能とすれば良いので，細径のものを設けることが
でき，コンタクトピンのガタつきも小さくすることがで
きる。また，コンタクトピンが摩耗した際には，容易
に，しかも安価に交換することができる。

【００２８】また，プローブは，直接に配線回路に当接
させないので，従来のごとく損傷を受けることがない。
また，コンタクトピンは，配線回路に直接当接しガイド
孔内をスライドするが，従来のごとく，ピンボードの孔
内を進退することがないので，軸芯ズレ等により損傷を
受けることがない。

【００２９】また，上記のごとく，コンタクトピンとプ
ローブとに分割構成し，検査時における両者の進退に無
理を生じないようにしたので，両者を細径化することも
できる。そのため，高密度配線回路の検査も容易であ
る。また，プローブは，０．１〜０．３ｍｍという細い
内径のソケット内に，弾性的に，進退可能に装着した構
成である。そのため，高価な精密部品であるが，上記の
ごとく損傷がないため，検査治具もコスト安となる。し
たがって，本発明によれば，プローブの触針の細径化と
損傷防止に対応でき，かつガイド孔の穿設が容易であ
る。

【００３０】また，本発明では，プローブ端子と検査器
との間に中継端子盤を設け，該中継端子盤には上記プロ
ーブ端子を接触させるコネクタ端子を設けている。その
ため，前記コネクタピンに当接させるプローブの触針
と，上記プローブ端子とはその軸芯を一致させる必要が
なく，プローブは曲折させることもできる（図１参
照）。

【００３１】それ故，プリント配線板の配線回路に当接
させるコネクタピンが密集し，それに伴って上記触針が
密集しても，プローブ端子は密集配置する必要がない。
そのため，プローブ端子とコネクタ端子との位置は，例
えば等間隔に汎用性を持たせて，配置することができ
る。また，ピンボードの検査器側の面積はガイド板側の
面積より広くすることも可能である。

【００３２】それ故，プローブ端子の端子間隔はコンタ
クトピン間隔に制約されず，プローブ端子とコネクタ端
子の端子配列の標準化が可能であり，両者の電気的接触
が容易となる。また，中継端子盤そのものの標準構造化
が可能である。

【００３３】したがって，本発明によれば，コンタクト
ピン及びプローブの細径化と損傷防止に対応でき，かつ
ガイド孔の穿孔を容易にすると共に，プローブの他端と
検査器との電気的接触を容易にできるプリント配線板の
検査治具を提供することができる。

【００３４】

【実施例】本発明の実施例にかかる，プリント配線板の
検査治具につき，図１〜図８を用いて説明する。本実施
例の全体の構成を，コンタクトピン３を配線回路７１に
当接させ，プローブ１の他端１６に配線回路の電気的導
通状態を伝達する検出部と，該プローブ他端１６から，
中継端子盤４０を経て該電気的導通状態を検査器１８に
伝える中継部とに分けて説明する。

【００３５】まず，本実施例における検出部は，図１〜
図３に示すごとく，ガイド板８とピンボード８８と，配
線回路７１と当接させるためのコンタクトピン３と，該
コンタクトピン３に当接させるための触針２を内蔵した
プローブ１とよりなる。また，上記コンタクトピン３
は，上記ガイド板８に進退可能に装着され，また上記触
針２はプローブ１のソケット１１内に弾性的に進退可能
に内蔵されている。

【００３６】上記配線回路７１は，プリント配線板７に
おいて高密度配置されたものである。なお，本例の検査
治具においては，配列ピッチが大きい配線回路７５に対
して検査するための，従来と同様のプローブ９が装着し
てある。上記ガイド板８とピンボード８８とは，従来と
同様にノックピン８９１により，脱着可能に，一体的に
結合されている。ガイド板８は，図１〜３，図７，図８
に示すごとく，コンタクトピン３を，進退可能に装着す
るための多数のガイド孔８５と，開口溝８６を有する。

【００３７】また，ピンボード８８は，図２，３に示す
ごとく，プローブ１のソケット１１を挿通固定するため
の貫通孔８８２を有する。また，ソケット１１は，中間
ピンボード８８８，他端ピンボード８８９の各貫通孔８
８２を挿通している。他端ピンボード８８９は，後述す
るごとく，プローブ１の他端１６を支持している。上記
コンタクトピン３は，図２，図３，図６に示すごとく，
配線回路７１に当接させるための先端３１と，触針２を
当接させるための当接部としての，頭部３２を有する。
また，該頭部３２は，曲面凹部３２１を有する（図
６）。

【００３８】また，プローブ１は，図２〜図５に示すご
とく，ソケット１１とその中へ進退可能に挿通した触針
２とからなる。ソケット１１は，図４に示すごとく，中
空パイプであり，触針２の挿入側にフランジ１１０を有
する。

【００３９】一方，触針２は，図４，図５に示すごと
く，チューブ２５内に進退可能に装着されている。即
ち，触針２は，図５に示すごとく，上部に触針２とほぼ
同径のガイド柱２２を有し，両者の間には細径の連結部
２１を有する。そして，チューブ２５の中に，まずスプ
リングバネ２３を入れ，次いで上記触針２を挿入した
後，上記触針の連結部２１の外側部分において，チュー
ブ２５のかしめを行い，かしめ部２５１を形成する。

【００４０】これにより，触針２は，チューブ２５内に
おいて，上記スプリングバネ２３により弾性的に，進退
可能に装着される。なお，符号２５２は，チューブ２５
の上端部に設けた，スプリングバネ２３の上端を当接さ
せるためのかしめ部である。そして，このように構成し
た触針２は，上記図４に示すごとく，ソケット１１の中
空部１１１内へ挿入する。このとき，触針２を保持した
チューブ２５の上端は，ソケット１１のかしめ部１１３
に当接する。

【００４１】更に，上記のごとく構成したプローブ１
は，図１〜図３に示すごとく，ピンボード８８，中間ピ
ンボード８８８，他端ピンボード８８９の各貫通孔８８
２内へ，挿入し，固定する。そして，プローブ１の触針
２は，コンタクトピン３と対向した位置にあり，一方プ
ローブ端子１６は中継端子盤４０のコネクタ端子４１と
対向した位置にある。また，触針２の間隔は，コンタク
トピン３のそれと同じである。しかし，プローブ端子１
６の間隔はコンタクトピンのそれとは，無関係に，コネ
クタ端子４１に対向して一定間隔である。それ故，プロ
ーブ１は図１に示すごとく，斜状に配置されている。

【００４２】次に上記検出部の作用効果につき説明す
る。即ち，プリント配線板７における配線回路７１の良
否を電気導通により検査するに当たっては，図１〜図３
に示すごとく，各配線回路７１に対してガイド板８及び
ピンボード８８を，上下方向より接近させ，ガイド板８
をプリント配線板７に対面させる。このとき，両者の当
接前においては，コンタクトピン３は，図２に示すごと
く，ガイド板８よりも突出した状態にある。また，コン
タクトピン３の頭部３２には，プローブ１の触針２の先
端２０が当接している。

【００４３】そして，ガイド板８がプリント配線板７に
当接し，コンタクトピン３の先端３１が配線回路７１に
当接するときには，コンタクトピン３はガイド孔８５内
をスライド上昇する。そして，図３に示すごとく，コン
タクトピンの先端３１はガイド板８の下面とほぼ同じ位
置に来る。このとき，コンタクトピン３の頭部３２は，
触針２をプローブ１の方向に押圧する。そのため，触針
２は，上記スプリングバネ２３（図５）の付勢力に抗し
て，チューブ２５内に侵入する。

【００４４】このように，コンタクトピン３の先端３１
が，配線回路７１と当接した後，プローブ１のプローブ
端子１６，後述する中継端子盤４０，リードワイヤ１５
を介して，プローブ１，触針２，コンタクトピン３に電
流を通じ，配線回路７１の良否を従来と同様に判断する
（図１）。また，検査終了後は，ガイド板８等をプリン
ト配線板７より遠ざける。そのため，コンタクトピン３
は，触針２のスプリングバネ２３の付勢力により，図２
に示すごとく突出する。

【００４５】なお，図１に示した従来のプローブ９は，
前記従来例と同様に作動する。上記のごとく，本例の検
査治具においては，コンタクトピン３をガイド板８に進
退可能に装着し，またプローブ１はピンボード８８に固
定すると共に該プローブ１内に進退可能に触針２を装着
している。

【００４６】そのため，コンタクトピン３の進退と，触
針の進退とは独立した状態にある。それ故，従来のごと
く，ピンボード８８に固定したプローブ１と，その内部
に挿入した触針２と，該触針が進退するガイド板のガイ
ド孔８５との３つの軸芯を高精度で一致させる必要がな
い。即ち，本例においては，コンタクトピン３の軸芯と
触針２の軸芯とに位置ずれが生じていても，両者が当接
しておれば支障がない（図２，３）。

【００４７】また，そのため，ガイド孔８５はプリント
配線板の配線回路に一致させて穿設すれば良い。したが
って，ガイド孔８５及びピンボード８８の孔の軸芯に関
する穴明け精度は高精度が要求されず，穿設容易であ
る。また，ガイド孔８５は，コンタクトピン３のみの円
滑スライドを可能とすれば良いので，細径のものを設け
ることができ，ガタつきもない。

【００４８】また，プローブ１は，その触針２を直接に
配線回路７１に当接させないので，従来のごとく，損傷
を受けることがない。また，コンタクトピン３は配線回
路７１に直接当接し，ガイド孔８５内をスライドする
が，従来のプローブの触針のごとく，ガイド孔８５内と
プローブのソケット内の両方を直線状に進退することが
ない。そのため，両者間の軸芯ずれ等による損傷を受け
ることもない。

【００４９】更に，コンタクトピン３とプローブ１とに
分割構成し，検査時における両者の進退に無理を生じな
いようにしたので，両者をそれぞれ細径化することがで
きる。本例においては，上記コンタクトピン３の直径は
０．２７ｍｍ，プローブ１のソケットの外径は０．４５
ｍｍ，内径は０．２７ｍｍ，触針２の外径は０．１５ｍ
ｍである。また，本例のコンタクトピン３においては，
その頭部３２に曲面凹部３２１を設けたので，該頭部３
２に触針２の先端２０を確実に当接させておくことがで
きる。

【００５０】次に，本実施例における中継部について，
主として図１，図２を用いて説明する。本実施例の中継
部は，まずプローブ１の他端（触針のない端部）にプロ
ーブ端子１６を有し，該プローブ端子１６と検査器１８
との間には，両者を電気的に中継接続する中継端子盤４
０を有する。該中継端子盤は上記プローブ端子１６と接
触させるコネクタ端子４１を有し，プローブ端子１６と
コネクタ端子４１は互いに対向する位置関係にある。

【００５１】プローブ端子１６は，配線回路７５の配置
状態に依存しない，一定の予め定められた配列と座標位
置を有する。プローブ端子１６と対向するコネクタ端子
４１も同様である。またプローブ端子１６とコネクタ端
子４１とは両者を当接させたときに安定した電気的導通
を得るために，雌雄相補う形状とする。また，コネクタ
端子１６は触針２と同様に，進退可能に弾力性を有する
スプリングコネクターとする。コネクタ端子４１と検査
器１８との間には，リードワイヤ１５が接続されてい
る。

【００５２】このような構成とすることにより，中継端
子盤４０の構造は，プリント配線板７の配線回路７５に
おけるパターンが変わっても，その変更を要しない一定
の標準構造とすることができる。これらのことは，従来
のプローブの機能をコンタクトピン３とプローブ１とに
分割したことによって，実現できたことである。

【００５３】このように構成することにより，前記検査
時には中継端子盤４０を，他端ピンボード８８９側に押
圧し，プローブ端子１６とコネクタ端子４１を一括して
接触させる。これにより，中継端子盤４０を介して，プ
ローブ１と検査器１８との電気的導通が可能となる。即
ち，検査対象であるプリント配線板７が変わった場合
は，プリント配線板７に対応するプローブ部分（プロー
ブ１，ガイド板８，ピンボード８８９等が一体となった
もの）を交換するだけでよく，プローブ１と検査器１８
との間の電気的な接続作業からは開放される。この場合
プローブ端子１６とコネクタ端子４１との電気的導通は
コネクタ端子４１をスプリングコネクターとすることに
より，一層確実なものとすることができる。

【００５４】以上のごとく，本例によれば，プローブ１
の触針２の細径化と損傷防止に対応でき，かつガイド孔
８５の穿孔を容易に行うことができる。また，プローブ
１の他端のプローブ端子１６と検査器１８との電気的接
触を容易にできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施例１における，検査治具の全体説明図。

【図２】実施例１における，検査前の状態の，コンタク
トピン及びプリント配線板周りの断面図。

【図３】実施例１における，検査時点のコンタクトピン
及びプリント配線板周りの断面図。

【図４】実施例１のプローブにおける，ソケット及び触
針の展開正面図。

【図５】実施例１における，プローブの先端部分の断面
図。

【図６】実施例１における，コンタクトピンの正面図。

【図７】実施例１における，ガイド板の平面図。

【図８】図７のＡ−Ａ線矢視断面図。

【図９】従来例における検査治具の全体説明図。

【図１０】従来例における検査治具のプローブ周りの説
明図。

【符号の説明】

１．．．プローブ， １１．．．ソケット， １５．．．リードワイヤー， １６．．．プローブ端子， １８．．．検査器， ２．．．触針， ２３．．．スプリングバネ， ２５．．．チューブ， ３．．．コンタクトピン， ３１．．．先端， ４０．．．中継端子盤， ４１．．．コネクタ端子， ７．．．プリント配線板， ７１．．．高密度ピッチの配線回路， ７５．．．通常配線ピッチの配線回路， ８．．．ガイド板， ８５．．．ガイド孔， ８８．．．ピンボード，

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 プリント配線板における配線回路を電気
   導通の有無により検査する検査治具であって，該検査治
   具は，ガイド板と，ピンボードと，上記配線回路と当接
   させるためのコンタクトピンと，該コンタクトピンに当
   接させるための触針を有するプローブとよりなり，かつ
   上記コンタクトピンは上記ガイド板に進退可能に装着さ
   れ，上記プローブの他端にはプローブ端子を有し，該プ
   ローブ端子と検査器との間には，両者を電気的に中継接
   続する中継端子盤を有し，該中継端子盤は上記プローブ
   端子と接触させるコネクタ端子を有し，またプローブ端
   子とコネクタ端子は互いに対向する位置関係にあること
   を特徴とするプリント配線板の検査治具。