TW486761B - Electroplating apparatus and electroplating method - Google Patents

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Tetsuo Matsuda
Hisashi Kaneko
Koji Mishima
Natsuki Makino
Junji Kunisawa
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Toshiba Corp
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Description

486761 五、發明說明(1) 發明之背景 本發明係關於一種銅之電鍍處理,主要係關於一種對半 導體基板等之單晶圓處理(single wafer processing)的 電解裝置及電解方法。 自古以來在電鍍工業中常被使用之銅的電解,作為近年 半導體之多層配線用製程倍受囑目。此係因使用電阻率低 之銅成為半導體的多層配線材料。進一步由電鍍產生之成 膜因段差被覆生(step coverage)優,與配線形成製程 (damascene P r o c e s s )之整合佳,或,可比濺鍍性更快速 且便宜之成膜,亦成為導入電鍍製程的理由。 然而,在鍍銅中必須考慮形成於陽極表面之r黑膜」所 謂的黑色薄膜。此黑膜係鍵液中之氧或氯與陽極材剩^的含 ^ ^(phosphorous containing copper)之銅、匕合 物。若於被處理基板進行電鍍,藉通電而於陰極即被處理 基板可形成銅,於.陽極可形成黑膜。 黑膜在電鍍液中只要'被通電即會安定,但—旦停止通 電’從電鍍液拉起陽極’則會引起從陽極之脫^電鐘液 之溶解等’而消失。若黑膜於陽極表面部分地消失,在被 處理基板即晶圓上之成膜均一性會明顯降低,或於膜之表 面形成析出物(precipitation)等的弊端會被看出。、 於是’實際上不使用電解裝置的時間,^超過一定時 間,使用檔片而通電,故意形成黑膜。此稱為「空電解 (anode burn-in)」。此空電解係為使鍍銅之性填入性 能(filling performance),膜厚之均一性等,安定、而不
O:\71\71336.ptd 486761 五、發明說明(2) 可欠缺者。 進一步,即使在非溶解性之陽極等不形成黑膜之陽極 中,亦會造成電流施加之陽極氧化反應,藉此,陽極表面 在通電時與長期放置後,狀態不同。因此,不因有無黑膜 而必須有空電解。 於是,電鍍於被處理晶圓經一定時間中斷後,在其次製 程之晶圓電鍍前,必須對檔片進行空電解,電解裝置之利 用效率會明顯下降。 以下,舉出半導體工業最廣被使用之杯式電解裝置為 例,表示空電解之例與其缺點。圖1係以鍍銅為主目的之 杯體式電解裝置的斷面圖。如圖1所示,本裝置包括:充 滿於杯體1且進行循環的電鍍液2,設於杯體1内之陽極3、 與陽極3對向之晶圓4表面賦予負電位的電極5,可防止電 鍍液2接觸於電極5之彌封材6,對晶圓4與陽極3供給電流 之電源7。 一般使用來作為電鍍液者為硫酸銅、硫酸、鹽酸之混合 水溶液。結束晶圓之處理,而晶圓4進行待避,陽極3無電 流流動。在此狀態下陽極3係曝露於電鍍液2。或,從杯體 1排出電鑛液2時,係曝露於大氣中。任一者之情況下形成 於陽極3表面之黑膜係隨時間而進行變質。因此,裝置製 造商推薦例如圖2及3所示之維護。 從圖2及3明顯可知,電鍍終了後電解裝置會呈待機狀 態,為再開動電鍍,至可電鍍之狀態的準備時間乃成為必 須。如此地電解裝置之實質晶圓處理能力在LS I工廠係常
O:\71\71336.ptd 第6頁 486761 五、發明說明(3) 造成浪費,招致LSI之製造成本 1 驟係在於LSI製程步驟的後二二1配線步 定流量出來,而是斷碎砧士 i廠内之曰曰®並非經常-上說明般的空電解^ :曰;流動出來。因此,如以 "3左右,成為很題占。有電解農置之稼動時間的 發明之簡單說明 Ί ^ f之目的在於提供一矛重可削》咸空電解所需之時Η 亚能提高產能之電解裝置及電解方法。 、巧, ,達成上述目的,本發明之第i態樣的 =如下:固持具,乃固持一成為陰極之被處王//係声具 :極,為係設於與前述固持具相異之位置;陽纟,盆;= 2於:述固持具之被處理基板的被鍍面與以 任-者亦實質上可以面對面對向;移動機·,c 场極在前述被處理基板固持具與虛擬陰極之間移動二述 源丄其係介由一連接於前述虛擬陰極與前述陽極$間电 於前述虛擬陰極與前述陽極之間充滿電解質,二、、且 擬陰極與前述陽極之間供給電流。 、引这虛 本發明之第2態樣的電解裝置,係具備如下. 解質之杯體;於前述杯體之底部所具備之陽極;I样兩/, =前述杯體之上部’以使被處理基板之電心對向^前 这陽極的方式’固持被處理基板;虛擬陰極,其 > 陽極與被處理基板之間依需求而介入之方武点^糸 uT y 移動機構,其係使前述虛擬陰極當被處理基板泰 ^、艮 避,當被處理基板電鍵停止時實質上以面$面極
1^· 486761 五、發明說明(4) " " 1一 ί白’ 4源’其係剷述虛擬陰極與前述陽極之間連接。 本發明之第3態樣的電解方法,係具備如下步驟··準備 虛擬陰極;使平板狀之陽極介由電解質而與虛擬陰極實質 上以面對面平行,且以無通電之狀態對向;在使陽極與虛 擬,極對向之步驟後,於陽極與虛擬陰極之間流通電^ ; 於陽極與虛擬陰極之間流通電流的步驟後,使成為陰極之 被處理基板介由電解質而對向,於被處理基板上形成鍍 膜。 又 在本發明中,係在陽極,實質上與此面對面且平行對向 而設置的虛擬陰極(dummy cathode)之間充滿電解質 (electrolytic agent)而供給電流,俾可抑制黑膜之變 貝。不須多餘之空電解(an〇de burn - in)處理,故可提古 產能。 回 在鍍銅中,黑膜之形成很明顯,本發明之效果很大。電 鍍再開始之前或斷續地實施施加於陽極之電流,可抑制^ 力之消耗、陽極之溶解。尤其,在電鍍於被處理基板之$ 施加電流於前述陽極,俾使電鍍於被處理基板之 呈最大限安定化。 、
若具備一可使虛擬陰極與陽極實質上均形成平板,且可 固持互相平行之機構,流通於陽極之電流密度呈均一; 可使陽極上所形成之黑膜均一化。藉此,可實現在被處理 基板全面同一之鍍膜成長速度,成膜特性於陽極使用含 磷之銅,黑膜之形成會產生安定化,發明之效果彳艮顯著。 圖式之簡單說明
第8頁 486761 五、發明說明(5) 示:知杯體式電解裝置的概略構成之斷面圖。 圖2係表不電鍍液循環停止期間與循環再開前必 護項目的關係圖表。 、之、准 圖3係表示電鍍電流停止期間與通電再開 項目的關係圖表。 ^ <、、隹濩 圖圖4係本發明第!實施例之含浸式電解裝置的概略構成 圖5係說明一使第!實施例之陽極與陰極(或基板固 平行固持之機構的模式斷面圖。 、/、) 圖6係於第i實施例中,表示各種電鑛間隔 之通電條件的電鍍膜性能之圖表。 蛱陰極 圖7A-7G係圖6之虛擬陰極的各種通電條件的時間圖。 圖8A及8B係本發明第2實施例之杯體式電解裝置的概略 構成,及階段性表示空電解方法之模式斷面圖。 圖9A及⑽係第2實施例變形例之杯體式電解裝置的概略 構成,及階段性表示空電解方法的模式斷面圖。 發明之詳細說明 以下,參照圖面說明本發明之實施例。 [第一實施例] 第1實施例之要點係從電鍍位置或電鍍液之位置使陽極 待避,使用一設於待避處之虛擬陰極而進行電解作用。 在第1實施例中,係說明有關含浸(impregnati〇n)式之 電解裝置。所謂含浸係液體以外之固體或固體液體混合 物,進一步氣體之混合物等的含浸體固持電鍍液之狀態。
486761 五、發明說明(6) 電錢液係比單獨存在於容器中時更受到空間上移動之限 制。藉由含浸體接觸於被處理基板,電鍍液會作用於被處 理基板。 又’含浸體之一部分亦可不接觸被處理基板,但,在此 情形下,亦可為含浸體與被處理基板之接觸部分附近電鍍 液t、、々至被處理基板的狀態(例如表面張力)。如此之狀態 亦可依據欲實施之技術目的而容許認可,又,另外,就實 施技術之目的不妥的話亦可避免之。 圖4係本發明第1實施例之電鍍裝置概略構成的斷面圖。 如圖4所示’於支持台1〇2上載置朝上之晶圓(被處理基板) 1 〇 1。aa圓1 0 1係於s i基板上以濺鑛法依序堆積3 〇 nm之Ta 膜及10 0 nm之Cu膜,故,Cu膜乃朝上。於晶圓1〇1表面係 連接一賦予陰極電位之陰極接點1〇3。在晶圓ι〇ι上之陰極 =1 03的内㈣有一可使陰極接點丄〇3與電鑛 彌 封材1 0 4。 朝,圓101之表面對向,配置著:含電鍍液(電解質)之 乙烯醇)所構成的含浸泡棉106、接著含浸泡綿106 之,板含磷銅製的陽極105。陽極係連接於電源⑴。 %極1 〇 5及含浸泡端1 n r άτ ϋ< .π X 手臂(移動機構)107的動作 而移動,没於與電鍵七# u ^ ^ 敕1 ΙΑ乃不同處之待機位置B乃可使陽 極1 0 5及含浸泡綿1 〇 6待避。 於待機位置Β係設有一内部可夯、、案兩 ιηβ 、社土 ^ 1」兄滿電鍍液110之容器 1 ϋ 8。進一步於容器1 q 8内係設詈冬厪 ^ , 1 , χίπη ^ 、屬衣的虛擬陰極(dummy cathode)l〇9。在電鍍位置a,且於雷缺 乂 1 %私鍍於晶圓1 〇 1之前,
第10頁 486761 五、發明說明(7) 待機位置B之陽極1 0 5與虛擬陰極1 0 9之間使電流流動。 此步驟係亦可於被處理基板等待等裝置在待機狀態時進 行。又,亦可於被處理基板電鍵處理前後之步驟,例如基 板搬送或乾燥等之步驟的最中間進行,故不會招致裝置產 能(被處理基板處理能力)的降低。 將第1實施例所使用之鍍銅的標準條件記載於下。電鍍 液1 1 0之組成為硫酸銅五水和物(c 〇 p p e r s u 1 f a t e pentahydrate)(CuS04 · 5H20) : 250 g/1、硫酸(H2S04): 180 g/1、鹽酸(HC1) :60 mg/1,進一步就電鍍液之pH 值、電鍍液之安定性、陽極之保護、形成膜之表面平滑化 (smoothing)、形成膜之結晶粒控制等各種目的,可添加 聚合物,錯體形成物(complex compound)等之添加物。 又,於手臂1 0 7宜設有一機構,其係平行固持於被處理 基板1 0 1與陽極1 0 5,以及陽極1 〇 5與虛擬陰極1 0 9之間。虛 擬陰極與陽極均為平板,故若具備一可互相固持平行之機 構,流動於陽極之電流密度乃呈均一,可使形成於陽極之 黑膜均一化。藉此,可實現在被處理基板全面同一鍍膜成 長速度、成膜特性。 平行固持於被處理基板1 〇 1與陽極i 0 5之間的機構,例如 只要如圖5般構成即可。圖5係於圖4之A點垂直於紙面方向 的斷面。於設置支持台1〇2之支持板丨12設有一對的位置導 出銷114,固持陽極1〇5之固持具116介由萬向接頭118而連 接於手臂1 0 7。固持具1 1 6從上部降下,若以位置導出銷 1 1 4而安置於所規定的平面,可使陽極丨〇 5與被處理基板
O:\71\71336.ptd 第11頁 486761 五、發明說明(8) 1 〇 1之對向面平行,陽極1 0 5與虛擬陰極1 〇 9之間亦可同樣 地構成。 又,含浸泡綿1 06除PVA以外,亦可將多孔質陶瓷、多孔 質鐵氟龍、聚丙烯等編織成纖維狀或加工成紙狀,或,亦 可為凝膠化矽氧化物(silica gel)或海菜(agar)等的不定 形物。 多孔質或空隙之大小並非規定成一定,可依液體之黏 度’在含浸體與液體之間產生的潤濕性,表面張力等而變 化。含浸體基本上只要可固持液體,而其液體可受到空間 移動的制約(例如,以無容器的狀體而液體大部分不會流 出)即可。__________________________________ — — __________________________________________ ____________________ — 又,在第1實施例中,係就電鍍液固持之容易性而使用 含浸電鍍法,但未必須要含浸泡綿,如前述般,亦可利用 表面張力而於被處理基板表面與含浸泡綿表面之間設有狹 窄的間隙以固持電鍍液。圖4係彌封材丨〇 4兼具間距子。 使含浸泡绵1 0 6密接於晶圓之導電體層,俾從含浸泡綿 1 〇 6將電鍍液供給至導電體層的表面。繼而,從電源朝陽 +=105供給電流密度2〇 mA/cm2之電流。若對陽極1〇5供給 電流’電氣連接於陰極接點丨0 3之導電體層表面可形成鍍 銅薄膜。 =晶圓上形成鑛銅薄膜後,藉手臂丨〇 7可使含浸泡綿丨〇 6 及陽極1 0 5移動至待避位置b,而浸潰於杯體丨〇 8内之電鍍 液1 1 0中’電流會流動於陽極丨〇 5與虛擬陰極丨〇 9之間。此 時,虛擬陰極與晶圓丨〇 1之大小略相同。
486761 五、發明說明(9) 又,在本實施例中,使用手臂1 0 7而使陽極1 0 5移動至退 避位置B,但移動裝置不限於手臂,亦可以人手移動陽極 105 ° 供給於待避位置B中之陽極1 0 4與虛擬陰極1 0 9之間的電 流條件,一面做各種改變一面評估於8英吋晶圓之銅電解 鍍膜厚的均一性與溝或孔之埋入特性。將所形成之銅電解 鍍膜的評估結果表示於圖6。又,圖6中對陽極之通電條件 (電流密度)圖示於圖7A〜7G。 試料編號1〜4係表示未通電於虛擬電極時,只改變晶圓 間之間隔時間。在圖7 A〜7 G中,方便上將晶圓(陰極)電鍍 時之陽極電流密度(Ian)與使用虛擬陰極之空電解時的陽極 電流密度(Ian)表示於相同的時間流程圖上。所謂第1電鍍 係於葉片式電鍍中對於任意之1晶圓的電鍍,第2電鍍係對 於其次之晶圓的電鍍。間隔時間係第1與第2之電鍍之間的 時間。從圖6明顯可知,即使僅3 0分鐘之製程間隔,膜厚 均一性或埋入性能會變差。又,隨著間隔時間變長,於電 鍍表面之異常析出物會變多。 試料編號5係使間隔為3 6 0分鐘,而與對晶圓之電鍍條件 相同的條件連續通電於虛擬陰極者。膜厚均一性或埋入性 能係當然在最佳的部分,但,虛擬電鍍液之劣化會提早, 電力消耗亦變大。 試料編號6係使間隔為3 6 0分鐘,以1 mA/cm2連續通電於 虛擬陰極者,但,膜厚之均一性比試料編號5為差,但可 得到相當佳的結果。
O:\71\71336.ptd 第13頁 486761 五、發明說明(10) 試料編號7係使間隔為36〇分鐘,最初不通電於虛擬電 極,而從晶圓電鍍再開始之2分鐘前以i mA/cm2 :合性、埋入性能為良好,但表面之異常析出 物會產生少許。 士試料編號8係使間隔時間為36〇分鐘,最初以i mA/^2 縯通電於虛擬電極,從晶圓電鍍再開始之5分鐘前以2〇 二C:(與晶圓電鍍同—條件)進行通電者。亦可得到歸類 於琅佳之部分的結果。 試料編號9係使間隔時間為36〇分鐘,而以“分鐘益通 電^ 15分鐘20 niA/c#之反覆進行通電於虛擬電極。埋入 :能或異常析出物之點些許變差’但可抑制膜厚之參差不 戶1 ° 試料編號10係使間隔時間為3 6 0分鐘,最初不通電於 ,而從晶圓電錄再開始之5分鐘前,以2〇 ^ Γ m #以齊雖些許A &可得到大致良好的 間隔為3 6 0 0分鐘,^^ 通電於虛擬陰極者。 部分’但虛擬電鍍液 以與電鍍於晶圓條 膜厚均一性或埋入 的劣化會提早,電 試料編號1 1係使 件相同之條件連續 性能當然歸於最佳 力消耗亦大。
試料編號1 2係使間隔為3 6 0 0分鳍,、
續通電於虛擬電極,從晶圓電鍍再開私取初以1 mA/cm2連 mA/cm2(與晶圓電鍍同一條件)進行通+之5分鐘刖以20 佳部分之結果。 、电。此亦可歸屬於最
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發明說明(11) 〜 -~____ ____ 係 實 又彳欠電鍍再開始前之5分义 .9 當葉片式之晶圓電:再刀,:士’或2分鐘前之連續通電, 際上到達進行電錢時,ΐ圓電錢裝置安農;: 乃很多,抓宏# &甘 白1又為止的日守間為1〜1 〇分铲从 間而通電於虛擬電極, 1〜1〇分鐘之空载時 如此,連續或斷續地:ίι作業之效率化。 擬陰極的通電,可維持膜:之;= 置Β之虛 二,給於陽極之電流或斷續地供給, =之S,減 陽極之溶解。 卩%力之消耗、 斷續之電流供給未必限定於圖7D、7Ε、π、7 件,而即使例如毫秒單位之脈沖亦可確認效果。不之條 料編號6/供給極低至i mA/cm2之電流時亦可看出效果如試 但,此係為防止預先形成之黑膜的脫落,未必須要济細/ 大的電流。此時之虛擬陰極與陽極間之電位差係:經很 0. 3 V。 他至約 電流密度未必須要與晶圓電鍍時同等,即使低電流穷 亦有效果。然而,若在晶圓製程之前以高電流密度進行^ 電’可得到更高之效果。電流不限於直流而即使為脈沖亦 有效果,且,電流值亦可提高晶圓電鍍時之電流密度。 [第2實施例] 即使在習知技術所述之杯體式電解液裝置中,亦可適用 本發明。不使用成為檔片之晶圓,而於進行晶圓電鍍之杯 體内部導入虛擬陰極,藉在此虛擬陰極與陽極之間的通 電,而使黑膜安定化。 486761 五、發明說明(12) 圖8 A及8 B係表示本發明第2實施例之杯體式電解裝置構 成的斷面圖。圖8 A係對晶圓2 0 4實施電解時之構成,基本 上與圖1習知杯體式電解之構成相同。亦即,於杯體2〇ι内 設有:陽極2 0 3、充滿於杯體2 0 1且進行循環之電鍵液 2 0 2 ’在與陽極2 0 3相向之晶圓2 04表面賦予負電位的電極 205,可防止電鍍液2 0 2接觸於電極2 0 5之彌封材2 0 6,可對 晶圓2 0 4與陽極2 0 3施加特定電流之可變電源2 〇 7。晶圓2 〇 4 可以金屬製之固持具2 0 9來固持。 於晶圓電鐘製程前後之晶圓搬送時,晶圓2 〇 4係藉固持 具209及固持具控制機構21〇朝上向提高,進行“ο度反 轉。以此狀態電鍍終了之晶圓2 04被卸載,重新進行電穿 之晶圓2 0 4被裝載。 在第2實施例中,晶圓固持具2〇9兼具虛擬陰極,且以曰 圓2 0 4被卸載之狀態(亦可以裝載晶圓2 〇 4之狀態),降下2 杯體201的上面,接觸於電鍍液2〇2(圖88)。至其次之b曰 電鑛開始的待機時,於虛擬陰極2 0 9與陽極2 〇 3之間介曰 鍍液m而流動電流。此時,可變電源207係以流 之虛擬電鍍電流(老化(burn in)電流)的方式調整, 關2 0 8連接於虛擬陰極2 〇 9。 ^ 又、,所謂接觸液係隨時間而徐緩提高電鍍液面,而 於(或虛擬陰極)者,為在晶圓與電鍍液表面之間不 泡’經常所使用的方法。 乳 又’在第2實施例中,係使用晶圓固持具2 〇 9作為虛擬— 極’但具備專用之虛擬陰極,於被處理基板203之電鍍膜κ
第16頁 486761 五、發明說明(13) 形成時,亦可使此虛擬陰極藉移動機構待避。圖9 A及9 B係 表示如此之變形例。 虛擬陰極2 1 1係以編織網狀金屬或金屬線之易彎帶所形 成,且圖9 A之晶圓電鍍時,受移動鋼絲(移動機構)2 1 2所 牽引,以輥2 1 3所導引而退避於杯體2 0 1之外部。 當陽極2 0 3之空電解時,如圖9 B所示,虛擬電極2 1 1係實 質上與陽極203面對面且平行之方式導入於杯體201内,在 虛擬電極2 1 1與陽極2 0 3之間所希望的電流從可變電源2 0 7 介由開關2 0 8而供給。 在圖9 B中,係描繪晶圓2 0 4接觸液體之狀態,但,晶圓 2 0 4係當然亦可從電鍍液2 1 0離開,成為卸載之狀態。 又,本發明不限於上述實施例。例如在陽極與虛擬陰極 之間充滿晶圓電鍍所使用之電鍍液本身,但,不須使用與 電鍍膜形成相同之電鍍液,除了其他之電鍍液,亦可充滿 添加劑或金屬濃度不同的電解液。 此處所示之製程條件,係說明發明之實施例權宜上之標 準條件。電鍍金屬當然各參數只要在不超出本發明主旨的 範圍,亦可做適當變更。 如以上說明般,若依本發明,電鍍待機期間中,在陽極 與實質上以面對面且平行對向的虛擬陰極之間充滿電解質 而供給電流。藉此,可抑制黑膜之變質,不須多餘之空電 解處理,電鍍處理之產能可提高。
O:\71\71336.ptd 第17頁 486761 圖式簡單說明
第18頁

Claims (1)

  1. 486761 六、申請專利範圍 1. 一種電解裝置,係具備如下: 固持具,乃固持一成為陰極之被處理基板; 虛擬陰極,其係設於與前述固持具相異之位置; 陽極,其係固持於前述固持具之被處理基板的被鍍面 與前述虛擬陰極之任一者亦實質上可以面對面對向; 移動機構,其係使前述陽極在前述被處理基板固持具 與虛擬陰極之間移動;及 電源,其係介由一連接於前述虛擬陰極與前述陽極之 間,且於前述虛擬陰極與前述陽極之間充滿電解質,可對 前述虛擬陰極與前述陽極之間供給電流。 2 . 根據申請專利範圍第1項之電解裝置,其中於前述可 移動之陽極的被處理基板固持具或與前述虛擬電極之對向 面,具備一用以含有前述電解質之含浸體。 3. 根據申請專利範圍第2項之電解裝置,其中前述含浸 體對向於一固持於固持具之被處理基板時,被處理基板與 含浸體之間進一步具有一規定間距的間距子。 4. 根據申請專利範圍第3項之電解裝置,其中前述間距 係藉電解質之表面張力於被處理基板與含浸體之間充滿前 述電解質的距離。 5. 根據申請專利範圍第1項之電解裝置,其中進一步具 備一可收藏前述虛擬陰極且固持電解質之杯體。 6. 根據申請專利範圍第1項之電解裝置,其中前述虛擬 陰極與陽極實質上均為平板,且進一步具備一可使前述虛 擬陰極與陽極互相固持平行之機構。
    O:\71\71336.ptd 第19頁 /、、申請專利範圍 7·根據申請專利範圍第!項之電解裝置,其中前述陽 係以含有磷之鋼所形成。 炫 8· 一種電解裝置,係具備如下: 可裝滿電解質之杯體; 於前述杯體之底部所具備之陽極; 電 求 固持具,乃於前述杯體之上部,以使被處理基板之 面對向於前述陽極的方式,固持被處理基板; 而介fί Ϊ I其係於前述陽極與被處理基板之間依需 J "入之万式成為可移動; 移動機構,其係使 退避,當被處理基板電 極對向; 剷述虛擬陰極當被處理基板電鍍時 錢兮止日才實質上以面對面與前述陽 其係於前述虛擬陰極 9·根據申請專利範圍楚桎〃則述%極之間連接。 理基板固持具乃作用成 af之電解裝置,其令前述被處 η.根據申請述虛擬陰極。 擬陰極係由網狀金屬或所編項之電解裝置,其中前述虛 極,且當被處理基板電鍍昉織之金屬線所構成之易彎陰 電鍍停止時導入於杯體内而於杯體外,當被處理基板 11·根據申請專利範圍”則述陽極對向。 可使前述虛擬電極與前述陽員之電解裝置,其中包括一 12.根據申請專利範圍第S實質上固持平行之機構。 極係以含有磷之鋼所形成。項之電解裝置,其中前述陽 13· 一種電解方法,係氧 〜、傷如下步驟·· 486761 六、申請專利範圍 準備虛擬陰極; 使平板狀之陽極介由電解質而與虛擬陰極實質上以面 對面平行,且以無通電之狀態對向; 在使陽極與虛擬陰極對向之步驟後,於陽極與虛擬陰 極之間流通電流;及 於陽極與虛擬陰極之間流通電流的步驟後,使成為陰 極之被處理基板介由電解質而對向,於被處理基板上形成 鍵膜。 14. 根據申請專利範圍第1 3項之電解方法,其中前述鍍 膜係含有銅。 15. 根據申請專利範圍第1 3項之電解方法,其中於前述 陽極與虛擬陰極之間流通電流的步驟,係包括一使比為了 前述被處理基板之電鍍流通之電流還小的電流流通之步 驟。 16. 根據申請專利範圍第1 3項之電解方法,其中於前述 陽極與虛擬陰極間流通之電流的步驟,係包括如下步驟: 於前述被處理基板電鍍前特定的時間,流通與前述被處理 基板之電鍍電流略同等的電流。 17. 根據申請專利範圍第1 6項之電解方法,其中前述特 定的時間為1分以上,1 0分以内。 18. 根據申請專利範圍第1 3項之電解方法,其中前述陽 極與虛擬陰極間流通電流之步驟,係包括如下步驟:最初 流通一比前述被處理基板之電鍍電流還少的電流,於被處 理基板之電鍍前特定的時間,流通與被處理基板之電鍍電
    O:\71\71336.ptd 第21頁 486761 六、申請專利範圍 流略同等的電流。 19. 根據申請專利範圍第1 8項之電解方法,其中前述特 定的時間為1分以上,1 0分以内。 20. 根據申請專利範圍第1 3項之電解方法,其中包含交 互反覆如下步驟··使前述陽極與虛擬電極以無通電的狀態 對向之步驟及於前述陽極與虛擬陰極間流通電流之步驟。
    O:\71\71336.ptd 第22頁
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Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4540981B2 (ja) * 2003-12-25 2010-09-08 株式会社荏原製作所 めっき方法
WO2005083159A2 (en) * 2004-02-23 2005-09-09 E.I. Dupont De Nemours & Company Apparatus adapted for membrane mediated electropolishing
US7312149B2 (en) * 2004-05-06 2007-12-25 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Copper plating of semiconductor devices using single intermediate low power immersion step
JP2005320571A (ja) * 2004-05-07 2005-11-17 Ebara Corp メッキ装置の電極構造
US7144637B2 (en) * 2004-07-12 2006-12-05 Thomae Kurt J Multilayer, corrosion-resistant finish and method
JP5234844B2 (ja) * 2010-09-10 2013-07-10 Jx日鉱日石金属株式会社 電気銅めっき方法、電気銅めっき用含リン銅アノード及びこれらを用いてめっきされたパーティクル付着の少ない半導体ウエハ
US9903038B2 (en) 2015-07-22 2018-02-27 Dipsol Chemicals Co., Ltd. Zinc alloy plating method
CN113737254B (zh) * 2021-08-03 2024-01-23 昆山沪利微电有限公司 一种电镀VCP生产线中Dummy板的回收装置及方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3534605B2 (ja) * 1998-03-27 2004-06-07 大日本スクリーン製造株式会社 基板メッキ装置
US6071388A (en) * 1998-05-29 2000-06-06 International Business Machines Corporation Electroplating workpiece fixture having liquid gap spacer
JP2000087300A (ja) 1998-09-08 2000-03-28 Ebara Corp 基板メッキ装置
US6365017B1 (en) * 1998-09-08 2002-04-02 Ebara Corporation Substrate plating device
JP2000087299A (ja) * 1998-09-08 2000-03-28 Ebara Corp 基板メッキ装置
JP3053016B2 (ja) * 1998-10-15 2000-06-19 日本電気株式会社 銅のメッキ装置及びメッキ方法
US6355147B1 (en) * 1999-12-10 2002-03-12 Sandia Corporation Porous electrode apparatus for electrodeposition of detailed metal structures or microelectronic interconnections

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