TW452989B - Wiring substrate for conductive contact unit - Google Patents
Wiring substrate for conductive contact unit Download PDFInfo
- Publication number
- TW452989B TW452989B TW89111748A TW89111748A TW452989B TW 452989 B TW452989 B TW 452989B TW 89111748 A TW89111748 A TW 89111748A TW 89111748 A TW89111748 A TW 89111748A TW 452989 B TW452989 B TW 452989B
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- conductive
- conductive contact
- conductive paths
- contact unit
- wiring substrate
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R12/00—Structural associations of a plurality of mutually-insulated electrical connecting elements, specially adapted for printed circuits, e.g. printed circuit boards [PCB], flat or ribbon cables, or like generally planar structures, e.g. terminal strips, terminal blocks; Coupling devices specially adapted for printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures; Terminals specially adapted for contact with, or insertion into, printed circuits, flat or ribbon cables, or like generally planar structures
- H01R12/50—Fixed connections
- H01R12/59—Fixed connections for flexible printed circuits, flat or ribbon cables or like structures
- H01R12/65—Fixed connections for flexible printed circuits, flat or ribbon cables or like structures characterised by the terminal
- H01R12/67—Fixed connections for flexible printed circuits, flat or ribbon cables or like structures characterised by the terminal insulation penetrating terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
- G01R1/07378—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch using an intermediate adapter, e.g. space transformers
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Description
452989 :f Λ. 5 ψ ί '才
L A7 B7 五、發明說明(1 ) (技術領域) 本發明係關於一種適用於能進行多點同時檢查地並聯 地配設複數導電性接點之導電性接點單元的導電性接點單 元用配線基板。 (背景技術) 以往,欲進行液晶面板之點燈檢查或陣列基板檢查, 在結合用以實裝作爲該面板點燈驅動用L S I之I C晶片 的ΤΑ B及P C B (實裝印刷電路基板之前過程來檢查液 晶面板時,有使用具有與依液晶面板之晶格的配線圖案之 連接電極數相同數之導電性接點的導電性接點單元之情形 。在此等導電性接點單元,使用相同ΤΑ B或同等ΤΑ B 之配線基板,來進行上述檢查。 然而,在上述之液晶面板,近年來被要求依顯示之高 精細化之窄間距化。對應於此種高精細化,即使在上述導 電性接點單元之接點的窄間距化成爲必需,因.而在其配線 基板之配線圖案也需要高精度化。對於此種高精度化之要 求,在以往之T A B方式上在其細密化上有界限之問題。 (發明之揭示) 解決此等課題,爲了實現導通路徑之高精度化成爲可 能的配線基板,在本發明之導電性接點單元用配線基板, 屬於能進行多點同時檢査地用以電氣式地連接配設複數導 電性接點的導電性接點單元之該複數導電性接點與外部電 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 χ 297公釐) ,-------I ---I I * I — I I I I I --I I--I-- (請先w讀背面之注意i項再填寫本頁> -4- 45298 9 A7 B7 五、發明說明(2) 路之間的導電性接點單元之配設基板,其特徵爲:在玻璃 基板,形成對應於上述複數導電性接點之複數導電路徑’ 同時在上述導通路徑之其中一方端部形成用以接觸上述導 電性接點之接點用墊。 依照此構成,由於在玻璃基板形成導通路徑,因此在 配設複數導通路徑時可成爲窄間距化。對於形成在T A B 等之薄膜時不容易受到依溫度差之熱脹影響,可提高高精 度化。 又,由於檢查時之發生信號用I C晶片,以C 0 G實 裝技術實裝在上述導通路徑之間,而在檢査用實裝I C晶 片時,由於可將I C晶片直接實裝在配線基板,因此可以 節省空間,同時玻璃上之墊比TAB帶之墊不容易破損, 故可得到導通之安定化。 (實施發明所用之最佳形態) 第1圖係表示本發明所適用之多點同時檢查用導電性 接點單元的整體斜視圖。圖之導電性接點單元係適用於液 晶面板2之檢查,使用於設於液晶面板2與未圖示之外部 電路之間而用以電氣式地連接兩者間;該單元本體3係多 層地積層板所形成。在單元本體部3互相並排地配設有貫 穿各板之厚度方向所形成的複數保持孔,同時在各保持孔 內’同軸地收容分別出沒在單元本體3之上下方向的一對 導電性針狀體4 a ,4 b及彈性蓄勢彈壓該針狀體的抗壓 螺旋彈簧(未圖示)。 {請先閱讀背面之注意事項再瑱寫本頁> 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -5- 45298 A7 B7 五、發明說明(3) 在圖之導電性接點單元,係在該圖之上面重疊有配線 基板5。配線基板5係在玻璃基板形成配線圖案所成。在 該配線基板5 ,連接有作爲連接於未圖示之外部電路的外 部電路連接用配線構件之外部連接用F P C (撓性印刷電 路配線板)6。 如表示於從正面觀看配線基板5之第1圖之下面的圖 式之第2圖所示,形成有互相並排地所配設的複數條導通 路徑7,8,同時在此等導通路徑7,8之間實裝有I C 晶片9。如此實裝I C晶片9 ,對於與實裝於被成品化之 液晶面板之I C晶片相同者而較理想,爲了藉由依該I c 晶片之相同信號進行液晶面板2之I C晶片實裝前之完成 檢查。 在朝I C晶片9之圖中上方延伸的導通路徑7之延伸 方向端部,能與突出於第1圖上方之各導電性針狀體4 a 接觸地,各接點用墊7 a形成在各該對應之位置。在朝 I C晶片9之圖下方延伸的導通路徑8之延伸方向端部。 形成連接有上述外部連接用F P C 6的配線圖案之端部。 在該端部也可以形成容易地連接配線圖案所用的連接用墊 。又,上述I C晶片9係以C 0 G實裝技術被實裝較理想 〇 如此,由於在玻璃基板所成之配線基板5形成配線圖 案(導通路徑7,8),因此可將導通路徑7之並排方向 的間距儘量變窄小。由此,對於在以往之TAB方式之薄 膜上形成配線圖案者,可將間距形成更窄小,也可充分地 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) A _ lllllllllllll I I I I I 1 I illlllf (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
45298 S A7 B7 五、發明說明(4) t 奢 t ri L· 對應於例如使用於被高精細化之液晶面板之檢査的情形。 又由於玻璃上之墊者比TAB帶之墊不容易破損,故可得 到導通之安定化。 在上述圖示例中,表示在導通路徑7,8之間實裝 I C晶片9之一例子,惟依照本發明,由於藉C ◦ G實裝 技術可實裝I C晶片等,因此可增大實裝圖案之變化。又 ,欲實裝I C晶片時,由於進行直接實裝,因此可提高省 空間化。 在本發明中,並不一定實裝I c晶片等,如第3圖及 第4圖所示地配線基板5僅形成配線圖案者也可以。在表 示於第3圖者*在配線基板5之面,以互相並排配設之狀 態地形成有複數條導通路徑1 1 ,藉將各間距形成較大, 可儘量擴大各接點用墊1 1 a之寬度。由此,由於可增大 導電性針狀體4 a之接觸位置精度之容許値,因此可得到 安定之導通。 在表示於第4圖者,對應於液晶面板2側之各墊之間 距(各導電性針狀體4 a之間距)較窄》且外部連接用 F P C 6側之各配線間距較廣之情形,在途中變化各導通 路徑1 2之間距來形成配線圖案者。如此在進行導通路徑 1 2之間距變更時,由於在玻璃基板形成配線圖案,因此 可高精度地加工,而可適當地對應。又,與上述各圖示例 同樣地形成有接點用墊1 2 a。 依照本發明,由於配線基板係玻璃基板所形成,配線 圖案幾乎不會受到依使用氣氛之溫度變化等所產生的配線 (請先Η讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) 4 52 98 S ΚΙ ____B7五、發明說明(5 ) 基板之伸縮變化的影響,因此,可維持配線圖案之高精度 形成狀態=對於在銅使用焊錫或鍍錫之T A B係在細密化 上有界限,若設置專用墊則有與鄰接墊成爲短路之虞,而 依照可高精細化之本發明構造,則可設置比配線圖案更寬 廣之專用墊,可增加接點之接觸可能範圍,並可提高接觸 可靠性。因此,可將配線圖案之配線寬儘量變細,同時可 形成高精度之配線圖案,並可增大生產線佈置之設計寬度 ,可適用於各種檢查對象。 (產業上之利用可能性) 如此依照本發明,由於在玻璃基板以窄間距可形成複 數導通路徑,因此對於形成在TAB等之薄膜之情形不容 易受到因溫度差所產生之熱脹之影響,可維持導通路徑之 高精細化,可較理想地對應於檢査對象之高精細化,同時 由於可自由地設計導通路徑之形狀,因此可形成各種配線 圖案,並可對應於各種檢查對象。又由於藉C O G實裝技 術可將I C晶片直接實裝於配線基板,因此可成爲省空間 化。又,由於在TAB之場合在薄膜〔聚醯亞胺)進行銅 及焊錫或鍍錫,因此,柔軟或基材之剛性或平面度變差, 與接點之接觸不安定,而在本發明,由於在玻璃基板以鋁 形成圖案,因此平面度也優異,接觸成爲安定化,同時減 少接點之凹陷,而配線圖案也不容易損傷,故可提高耐久 性。 --— If· ! I 訂·-----I I (锖先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中圉國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -8 - A7 B7 五'發明說明(6) (圖式之簡單說明) 第1圖係表示本發明所適用之多點同時檢查用導電性 接點單元的整體斜視圖。 第2圖係表示本發明所適用之配線基板之配線圖案的 正面圖。 第3圖係表示第二實施形態之對應於第2圖的圖式。 第4圖係表示第三實施形態之對應於第2圖的圖式。 (記號之說明) 1 :導電性接點單元 2:液晶面板 3 :單元本體 4 a ’ 4 b :導電性針狀體 5 .配線基板 6:外部連接用FPC 7,8 :導通路徑 7 a :接點用墊 9 : I C晶片 1 1 :導通路徑 1 1 a ·接點用楚 1 2 :導通路徑 1 2 a :接點用墊 丨!丨1·1丨裝!|訂· — (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) L· 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 x 297公釐) -9-
Claims (1)
- 4 5298 ABCD 六、申請專利範圍 1 ·~種導電性接點單元用配線基板,屬於能進行多 點同時檢查地用以電氣式地連接配設複數導電性接點的導 電性接點單元之該複數導電性接點與外部電路之間的導電 性接點單元之配線基板,其特徵爲:在玻璃基板,形成對 應於上述複數導電性接點之複數導通路徑,同時在上述導 通路徑之其中一方端部形成用以接觸上述導電性接點之接 點用墊。 2 ·如申請專利範圍第1項所述的導電性接點單元用 配線基板,其中檢查時之發生信號用I C晶片,以COG 實裝技術實裝在上述導通路徑之間。 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁) ,1Τ 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS )厶4規<格(210X297公釐) -10-
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17231699 | 1999-06-18 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW452989B true TW452989B (en) | 2001-09-01 |
Family
ID=15939666
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW89111748A TW452989B (en) | 1999-06-18 | 2000-06-15 | Wiring substrate for conductive contact unit |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
AU (1) | AU5427100A (zh) |
TW (1) | TW452989B (zh) |
WO (1) | WO2000079289A1 (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110471201B (zh) * | 2019-08-14 | 2022-06-03 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 压接治具 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0532773Y2 (zh) * | 1987-03-30 | 1993-08-20 | ||
JPH10239352A (ja) * | 1997-02-27 | 1998-09-11 | Mitsubishi Materials Corp | プローブ装置 |
JPH11119245A (ja) * | 1997-10-20 | 1999-04-30 | Citizen Watch Co Ltd | 液晶表示パネル |
-
2000
- 2000-06-15 TW TW89111748A patent/TW452989B/zh active
- 2000-06-15 WO PCT/JP2000/003902 patent/WO2000079289A1/ja active Application Filing
- 2000-06-15 AU AU54271/00A patent/AU5427100A/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AU5427100A (en) | 2001-01-09 |
WO2000079289A1 (fr) | 2000-12-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7545649B2 (en) | Double sided flexible printed circuit board | |
KR20040110094A (ko) | 프로브 카드 | |
US20130083505A1 (en) | Wiring board, connector and electronic apparatus | |
US8436636B2 (en) | Methods and apparatuses for testing circuit boards | |
US6300998B1 (en) | Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel | |
US7269025B2 (en) | Ballout for buffer | |
KR100266892B1 (ko) | 표시 장치용 전기 회로 기판 | |
JP4115484B2 (ja) | 液晶パネル用検査装置 | |
JP3645172B2 (ja) | 半導体集積回路装置搭載用基板 | |
TW452989B (en) | Wiring substrate for conductive contact unit | |
US9414490B2 (en) | Electrical circuit board trace pattern to minimize capacitor cracking and improve reliability | |
KR100393938B1 (ko) | 반도체 집적회로의 검사장치 | |
US7839150B2 (en) | Detecting device for detecting electrical connection between pads of a package substrate | |
CN102097158A (zh) | 一种各向异性导电膜结构 | |
KR100385650B1 (ko) | 수직형 프로브카드 및 그것에 이용되는 기판 | |
KR101537805B1 (ko) | 극 미세피치를 갖는 패널 검사용 프로브유닛 | |
KR200458562Y1 (ko) | 필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치 | |
US20090279037A1 (en) | Liquid Crystal Display Apparatus and Method for Manufacturing Liquid Crystal Display Apparatus | |
CN115527441B (zh) | 柔性显示面板以及终端装置 | |
WO2023276769A1 (ja) | スキャナ装置、及び電気検査装置 | |
KR100578312B1 (ko) | 다이렉트 인터페이스 구조를 갖는 인쇄회로기판 및 그를채용한 액정 디스플레이 장치 | |
JP2010054487A (ja) | プローバ装置 | |
KR20000045926A (ko) | 다층 인쇄회로기판의 임피던스 테스트 쿠폰 | |
JP2006023265A (ja) | 検査プローブ | |
JP2000028642A (ja) | コンタクトプローブ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent |