NL8502385A - DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC DEVICES. - Google Patents

DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC DEVICES. Download PDF

Info

Publication number
NL8502385A
NL8502385A NL8502385A NL8502385A NL8502385A NL 8502385 A NL8502385 A NL 8502385A NL 8502385 A NL8502385 A NL 8502385A NL 8502385 A NL8502385 A NL 8502385A NL 8502385 A NL8502385 A NL 8502385A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
voltage
output
generator
frequency divider
frequency
Prior art date
Application number
NL8502385A
Other languages
Dutch (nl)
Original Assignee
Sony Tektronix Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP59208791A external-priority patent/JPS6187429A/en
Priority claimed from JP20879284A external-priority patent/JPS6186664A/en
Application filed by Sony Tektronix Corp filed Critical Sony Tektronix Corp
Publication of NL8502385A publication Critical patent/NL8502385A/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2601Apparatus or methods therefor
    • G01R31/2603Apparatus or methods therefor for curve tracing of semiconductor characteristics, e.g. on oscilloscope
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)

Description

* - 1 -* - 1 -

Inrichting voor het meten van de karakteristieken van elektronische inrichtingen.Device for measuring the characteristics of electronic devices.

De onderhavige uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het meten van de karakteristieken van elektronische inrichtingen, zoals transistors, dioden, enz.The present invention relates to a device for measuring the characteristics of electronic devices, such as transistors, diodes, etc.

5 Een inrichting voor het doormeten van elek tronische inrichtingen, veelal kromme-tekenaar genoemd, is nuttig voor het meten van de!karakteristieken van elektronische inrichtingen, zoals transistors, diodes, enz. Een kenmerkende inrichting voor het doormeten van 10 elektronische inrichtingen is weergegeven in fig. 1, waarin een voedingsketen 10 voor collectorspanning een variabele transformator bevat voor het verhogen of verlagen van een wisselspanning vanuit een uitwendige lijnspanningsbron, teneinde een sinusvormige spanning te 15 verkrijgen met een gewenste amplitude. De sinusvormige spanning wordt toegevoerd aan een primaire wikkeling van een transformator 12, die een secundaire wikkeling heeft met een aantal aftakkingen. Een kies/gelijkrichtketen 14 kiest ëën van de aftakkingen uit in afhankelijkheid van 20 het meetbereik en richt de sinusvormige spanning afkomstig van die aftakking.gelijk. De gelijkgerichte spanning vanuit de kies/gelijkrichtketen 14 wordt via een begrenzingsweerstand 16 toegevoerd aan een collector van een transistor 18 die de inrichting onder test vormt.A device for measuring electronic devices, often referred to as a curve-marker, is useful for measuring the characteristics of electronic devices, such as transistors, diodes, etc. A typical device for measuring electronic devices is shown in FIG. 1, wherein a collector voltage supply circuit 10 includes a variable transformer for increasing or decreasing an AC voltage from an external line voltage source, to obtain a sinusoidal voltage of a desired amplitude. The sinusoidal voltage is applied to a primary winding of a transformer 12, which has a secondary winding with a number of taps. A selector / rectifier circuit 14 selects one of the taps depending on the measuring range and equally directs the sinusoidal voltage from that tapping. The rectified voltage from the selector / rectifier circuit 14 is applied through a limiting resistor 16 to a collector of a transistor 18 which forms the device under test.

25 De weerstandswaarde van de weerstand 16 wordt in overeenstemming met het meetbereik gewijzigd. De laagste klem van de secundaire wikkeling van de transformator 12 is via een stroomdetectieweerstand 20 met een emittor van een transistor 18 verbonden, die geaard is. Een basis 30 van de transistor 18 ontvangt een stapvormig voorspannings-signaal vanuit een voorspanningstoevoerketen 22. De transistor onder test kan als een gebruikelijk basistype of gebruikelijk collectortype met de kromme-teken-inrichting verbonden zijn, in plaats van een gebruikelijk 35 emittortype, zoals in fig. 1 is weergegeven. Een spannings- ©502385 - 2 - detectieketen 24 met een hoge ingangsimpedantie detecteert een spanning V^, tussen de collector en de emittor van de transistor 18, deelt de gedetecteerde spanning door een geschikte faktor en voert de gedeelde spanning via een 5 versterker 26 toe aan de horizontale afbuigplaat van een elektronenstraalbuis 28 die als weergeefinrichting dienst doet. Een spanningsdetectieketen 30 met een hoge ingangs-impedantie detecteert een spanning over de stroomdetectie-weerstand 20, die overeenstemt met een collectorstroom 10 Iq van de transistor 18 en voert de gedetecteerde spanning via een gelijkrichter 32 toe aan een vertikale afbuigplaat van de elektronenstraalbuis 28. Bijgevolg zal de kromme van de transistor 18 op de elektronenstraalbuis 28 worden weergegeven. Opgemerkt dient te worden, dat 15 een zuiver sinusvormige spanning uit slechts ëên frequentiecomponent bestaat en geen ruis toevoert aan elk van de meetketens' van de inrichting. Bovendien is het eenvoudig elke keten van de meetinrichting te ontwerpen voor een zuiver sinusvormige spanning.The resistance value of the resistor 16 is changed according to the measuring range. The lowest terminal of the secondary winding of the transformer 12 is connected through a current sensing resistor 20 to an emitter of a transistor 18 which is grounded. A base 30 of the transistor 18 receives a stepped bias signal from a bias supply circuit 22. The transistor under test may be connected to the curve drawing device as a conventional base type or collector type, rather than a conventional emitter type, as in Fig. 1 is shown. A voltage input circuit 50 with a high input impedance detects a voltage V1 between the collector and the emitter of the transistor 18, divides the detected voltage by a suitable factor and supplies the shared voltage through an amplifier 26 to the horizontal deflection plate of an electron beam tube 28 serving as a display device. A voltage input circuit 30 with a high input impedance detects a voltage across the current detection resistor 20, which corresponds to a collector current 10 Iq of the transistor 18, and applies the detected voltage through a rectifier 32 to a vertical deflection plate of the electron beam tube 28. Consequently the curve of the transistor 18 will be displayed on the electron beam tube 28. It should be noted that a purely sinusoidal voltage consists of only one frequency component and does not supply noise to any of the measuring circuits of the device. Moreover, it is easy to design each circuit of the measuring device for a purely sinusoidal voltage.

20 De conventionele meetinrichting die in fig.The conventional measuring device shown in fig.

1 is weergegeven heeft vele nadelen. Zo gebruikt bijvoorbeeld de collectorvoedingsketen 10 de uitwéndige lijnspanning direkt, omdat de golfvorm van de lijnspanning hoofdzakelijk sinusvormig is. Bovendien is de golfvorm 25 van de uitwendige lijnspanning niet een zuivere sinusgolf, hetgeen wil zeggen dat zij niet een symmetrische, zich herhalende golfvorm is en verschillende vervangingen bevat. De zich herhalende golfvorm, die met andere woorden aan de inrichting onder test. wordt toegevoerd is geen zuivere 30 sinusgolfvorm en is evenmin symmetrisch, zodat een voorwaartse optekening van de karakteristieke kromme, die op de elektronenstraalbuis 28 wordt weergegeven (gedurende de oplopende periode van de gelijkgerichte sinusvormige spanning1 verschillend van de achterwaartse optekening 35 daarvan (gedurende de dalende periode van de gelijkgerichte sinusvormige spanning).. Daardoor kan de karakteristiek van de inrichting onder test niet nauwkeurig gemeten worden. Dit verschijnsel wordt in de onderhavige beschrijving de weergavevertekening genoemd. Bovendien is de 40 piekamplitude van de lijnspanning niet correct en varieert - 3 - deze binnen een van tevoren bepaald bereik. Ten gevolge van deze variatie varieert de piékamplitude van de zich herhalende golfvormspanning, die aan de inrichting onder test moet worden toegevoerd in reactie op de lijnspanning 5 en kan een correcte meting niet worden uitgevoerd.1 has many drawbacks. For example, the collector power supply circuit 10 uses the external line voltage directly because the waveform of the line voltage is substantially sinusoidal. In addition, the external line voltage waveform 25 is not a pure sine wave, that is, it is not a symmetrical, repeating waveform and contains various substitutions. The repeating waveform, which in other words tests the device. is not a pure sine waveform, nor is it symmetrical, so that a forward recording of the characteristic curve displayed on the electron beam tube 28 (during the ascending period of the rectified sinusoidal voltage1 is different from the backward recording 35 thereof (during the descending period of the rectified sinusoidal voltage) .. Therefore, the characteristic of the device under test cannot be accurately measured.This phenomenon is referred to in the present description as the display bias.In addition, the 40 peak amplitude of the line voltage is incorrect and varies - 3 - a predetermined range As a result of this variation, the peak amplitude of the repetitive waveform voltage to be applied to the device under test varies in response to the line voltage 5 and correct measurement cannot be performed.

Indien een digitale opslagketen aan de in fig. 1 weergegeven meetapparatuur wordt toegevoegd door aanvullende ketens op te nemen tussen de spanningsdetector 24 en de versterker 26 en tussen de spanningsdetector 20 10 en de versterker 32, waarbij de aanvullende ketens uit een analoog-digitaalomzetter, een digitaal geheugen en een digitaal-analoogomzetter bestaan, de uitgangen van de analoog-digitaalomzetters beïnvloed kunnen worden door een rimpel op de energievoedingsketen, aangezien een klok-15 frequentie door de analoog-digitaalomzetter onafhankelijk is van de lijnspanningsfrequentie. Bijgevolg kan de nauwkeurigheid van de meting afnemen. Om de klokfrequentie voor de analoog-digitaalomzetter te synchroniseren met de lijnspanningsfrequentie kan een aanvullende fase-20 besturingsketen nodig zijn waardoor de meetinrichting kostbaar wordt.If a digital storage circuit is added to the measuring equipment shown in Fig. 1 by including additional circuits between the voltage detector 24 and the amplifier 26 and between the voltage detector 20 and the amplifier 32, the additional circuits from an analog-to-digital converter, a digital memory and a digital-to-analog converter exist, the outputs of the analog-to-digital converters may be affected by a ripple on the power supply chain, since a clock-15 frequency by the analog-to-digital converter is independent of the line voltage frequency. Consequently, the accuracy of the measurement may decrease. In order to synchronize the clock frequency for the analog-to-digital converter with the line voltage frequency, an additional phase-20 control circuit may be required, which makes the measuring device expensive.

Om de bovengenoemde nadelen van de bekende techniek te overwinnen bevat een meetinrichting volgens de onderhavige uitvinding een pulsgenerator voor het 25 genereren van een puls in synchronisms met de wissellijn-spanning, waarbij de pulsfrequentie hoger is dan de lijnfrequentie, een frequentiedeler voor het delen van de frequentie van de uitgangspuls van de pulsgenerator, een generator voor een zich herhalende golfvorm voor het 30 genereren van een zich herhalende golfvormige spanning in fase met de lijnspanning in reactie op de uitgangspulsen van de frequentiedeler, een spanningstoevoerinrichting voor het toevoeren van de zich herhalende golfvormige spanning vanuit de generator voor een zich herhalende golfvorm aan 35 een inrichting onder test, en een weergeefinrichting voor het weergeven van een karakteristieke kromme in reactie op een spanning over de inrichting onder test en een stroom, die door de inrichting onder test vloeit.To overcome the above-mentioned drawbacks of the known art, a measuring device according to the present invention comprises a pulse generator for generating a pulse in synchronisms with the alternating line voltage, the pulse frequency being higher than the line frequency, a frequency divider for dividing the frequency of the pulse generator output pulse, a repeating waveform generator for generating a repeating waveform voltage in phase with the line voltage in response to the output pulses of the frequency divider, a voltage supply device for supplying the repeating waveform voltage from the repeating waveform generator to a device under test, and a display device for displaying a characteristic curve in response to a voltage across the device under test and a current flowing through the device under test.

Aangezien de generator voor de zich herha-40 lende golfvorm een zich herhalende golfvormige spanning 8502385 - 4 - genereert, zoals een sinusvormige spanning, is deze golf-vormige spanning symmetrisch en bevat zij geen vervormings-component in vergelijking met de golfvorm van de lijnspanning. Bijgevolg kan de weergeefvervorming verbeterd 5 worden.Since the repeating waveform generator generates a repeating waveform voltage 8502385-4, such as a sinusoidal voltage, this waveform voltage is symmetrical and contains no distortion component compared to the line voltage waveform. Consequently, the display distortion can be improved.

De gegenereerde zich herhalende golfvormige spanning is onafhankelijk van de lijnspanning, zodat de zich herhalende golfvormige spanning niet door de piek-spanningsvariatie van de lijnspanning beïnvloed wordt en 10 een correcte meting zal worden uitgevoerd. Aangezien de zich herhalende golfvormige spanning vanuit de generator voor de zich herhalende golfvorm in fase is met de lijnspanning, dankzij de pulsgenerator en de frequentiedeler, wordt elke keten voor het ontvangen van de zich herhalende 15 golfvormige spanning niet door de rimpel, de fasevariatie enz., van de lijnspanning beïnvloed.The generated repetitive waveform voltage is independent of the line voltage, so that the repetitive waveform voltage is not affected by the peak voltage variation of the line voltage and correct measurement will be performed. Since the repeating waveform voltage from the repeating waveform generator is in phase with the line voltage, thanks to the pulse generator and the frequency divider, each circuit for receiving the repeating waveform voltage is not affected by the ripple, phase variation, etc. , of the line voltage affected.

De meetinrichting volgens de uitvinding kan verder een analoog-digitaalomzétter bevatten voor het omzetten van de spanning over de inrichting onder test 20 en de stroom die door de inrichting onder test vloeit in digitale signalen in reactie op de uitgangspuls van de pulsgenerator of de frequentiedeler en een geheugenketen voor het opslaan van de digitale uitgangssignalen vanuit de analoog-digitaalomzetter. In dit geval wordt de 25 analoog-digitaalomzetter niet beïnvloed door de variatie van de lijnspanning, omdat de omzetter steekproeven neemt van de spanning en de stroom van de inrichting onder test in synchronisme met de lijnspanning. Bovendien kunnen de uitgangssignalen van de pulsgenerator en de frequentiedeler 30 voor zowel de generator voor de ziCh herhalende golfvorm als voor de analoog-digitaalomzetter gebruikt worden, zodat de meetapparaat eenvoudig en goedkoop van Constructie wordt.The measuring device according to the invention may further include an analog-to-digital converter for converting the voltage across the device under test 20 and the current flowing through the device under test into digital signals in response to the output pulse of the pulse generator or frequency divider and a memory circuit for storing the digital output signals from the analog-to-digital converter. In this case, the analog-to-digital converter is not affected by the variation of the line voltage, because the converter takes samples of the voltage and current of the device under test in synchronism with the line voltage. In addition, the output signals of the pulse generator and the frequency divider 30 can be used for both the repetitive waveform generator and the analog-to-digital converter, making the measuring device simple and inexpensive in Construction.

Het is dienovereenkomstig een doel van de 35 uitvinding te voorzien in een inrichting, die karakteristieken van elektronische inrichtingen op nauwkeurige wijze meet.Accordingly, it is an object of the invention to provide a device that accurately measures characteristics of electronic devices.

Het is een verder doel van de uitvinding te voorzien in een elektrische inrichting voor het doormeten 40 en elektronische inrichtingen, die vervorming kan elimineren - 5 - uit een weergegeven karakteristieke kromme van een inrichting onder test.It is a further object of the invention to provide an electrical measuring device 40 and electronic devices which can eliminate distortion from a displayed characteristic curve of a device under test.

Het is een verder doel van de uitvinding te voorzien in een inrichting voor het doormeten van elektro-5 nische inrichtingen die beïnvloedingen van een lijnspanning vanuit een digitaliseringsketen van de inrichting elimineert.It is a further object of the invention to provide a device for measuring electronic devices which eliminates influences of a line voltage from a digitizing circuit of the device.

Het is een verder doel van de uitvinding te voorzien in een generator voor een zich herhalende 10 golfvorm, die herhaaldelijk een symmetrische en stabiele golfvorm genereert.It is a further object of the invention to provide a repeating waveform generator which repeatedly generates a symmetrical and stable waveform.

Andere doeleinden en voordelen van de onderhavige uitvinding zullen voor degene met normale vakkennis van deze techniek duidelijk worden uit de thans volgende 15 beschrijving, die aan de hand van de bijgaande tekeningen wordt gegeven.Other objects and advantages of the present invention will become apparent to those of ordinary skill in the art from the following description given with reference to the accompanying drawings.

In de tekeningen toont: fig. 1 een blokschema van een bekende inrichting voor het doormeten van elektronische inrichtingen; 20 fig. 2 een schema van een deel van een eerste voorkeursuitvoering van de uitvinding ter toelichting van een generator voor een zich herhalende golfvorm, die daarin gebruikt wordt; fig. 3 een tijdgrafiek voor het toelichten 25 van de werking van de generator van de zich herhalende golfvorm, die in fig. 2 is weergegeven; fig, 4 een blokschema van een deel van een tweede voorkeursuitvoering van de uitvinding, waarin de eerste uitvoeringsvorm is toegepast op een inrichting voor 30 het doormeten van elektronische inrichtingen met een digitale geheugenfunktie; en fig. 5 een blokschema. van een verder deel van een tweede uitvoeringsvorm van de uitvinding.In the drawings: Fig. 1 shows a block diagram of a known device for measuring electronic devices; FIG. 2 is a schematic diagram of part of a first preferred embodiment of the invention to explain a repeating waveform generator used therein; FIG. 3 is a timing chart for explaining the operation of the repeating waveform generator shown in FIG. 2; Fig. 4 is a block diagram of part of a second preferred embodiment of the invention, in which the first embodiment is applied to a device for measuring electronic devices with a digital memory function; and Fig. 5 is a block diagram. of a further part of a second embodiment of the invention.

In fig, 2 is een schema weergegeven van 35 een deel van een eerste voorkeursuitvoeringsvorm van de uitvinding. Een li.jnwisselspanning wordt via een energie-schakelaar 30 toegevoerd aan een primaire wikkeling van een transformator 40, die voorzien is van een energievoe-dingsketen 36. Een aantal secundaire wikkelingen van de 40 transformator 40 is met gelijkspanningsregelketens (niet v - 6 - weergegeven) van de energietoevoerketen 36 verbonden voor het genereren van ingestelde gelijkspanningen voor elke van de ketens in de meetinrichting voor elektronische inrichtingen. Een wisselspanning over de secundaire wikke-5 ling op de laagste plaats van de transformator 40 wordt door weerstanden 42 en 44 gedeeld. Een spanningsvergelij-kingsinrichting 46 vergelijkt de gedeelde wisselspanning met aardspanning voor het opwekken van een pulssignaal fT,Fig. 2 shows a diagram of part of a first preferred embodiment of the invention. A line AC voltage is supplied through a power switch 30 to a primary winding of a transformer 40, which is provided with an energy supply circuit 36. A number of secondary windings of the 40 transformer 40 are shown with DC control circuits (not v - 6). ) of the power supply circuit 36 connected to generate set DC voltages for each of the circuits in the electronic device measuring device. An AC voltage across the secondary winding at the lowest location of transformer 40 is divided by resistors 42 and 44. A voltage comparator 46 compares the divided AC voltage to ground voltage to generate a pulse signal fT,

Li waarvan het niveau iedere keer wordt omgekeerd, wanneer 10 de lijnspanning de aardspanning passeert. Opgemerkt dient te worden, dat dit pulsvormige signaal fL een referentie-signaal is met dezelfde frequentie en fase als de lijnspanning .Li whose level is reversed each time when the line voltage passes the earth voltage. It should be noted that this pulse-shaped signal fL is a reference signal with the same frequency and phase as the line voltage.

Een oscillatiéfrequentie van een oscillator 15 met variabele frequentie (door middel van spanning bestuurde oscillator VCO) 50 is 2n (n is een positief geheel getal) maal zo groot als die van het pulssignaal fT, 12 bijv. 4096 (= 2 ) maal zo groot als die van het pulssignaal fL· Een uitgangssignaal (4096 fL) vanuit de VCO 50 wordt 20 toegevoerd aan een klokaansluiting van een teller 52, die als frequentiedeler werkzaam is. De frequentiedeler 52 deelt de frequentie van het uitgangssignaal vanuit de VCO 50 voor het opwekken van signalen 16f, 8f, 4?, 2f en f, welke frequenties zestien, acht, vier, twee resp. een maal 25 zo. groo.t, zijn als het. pulssignaal f^. De strepen van "16f, "8f" , "4f" en "2f" geven :aan dat de signalen in fase zijn omgekeerd ten opzichte van ingangssignaal voor de frequentiedeler 52. Een fasevergelijker 48 vergelijkt de fase van het pulssignaal f^ met die van het uitgangs-30 pulssignaal f vanuit de frequentiedeler 52 en bestuurt de oscillatiefrequentie van de VCO 50 zodanig, dat de fase van de pulssignalen fL en f aan elkaar gelijk zijn. Op deze wijze bestaat een fasegrendellus uit de fasevergelijker 48, de VCO 50 en de frequentiedeler 52, en elke van 35 de uitgangspulsen van de frequentiedeler 52 is gesynchroniseerd met de lijnwisselspanning.An oscillation frequency of a variable frequency oscillator 15 (voltage controlled oscillator VCO) 50 is 2n (n is a positive integer) times greater than that of the pulse signal fT, 12 e.g. 4096 (= 2) times greater as that of the pulse signal fL · An output signal (4096 fL) from the VCO 50 is applied to a clock terminal of a counter 52, which acts as a frequency divider. The frequency divider 52 divides the frequency of the output signal from the VCO 50 to generate signals 16f, 8f, 4, 2f and f, which frequencies are sixteen, eight, four, two, respectively. once 25 Sun. groo.t, its like it. pulse signal f ^. The dashes of "16f," 8f "," 4f "and" 2f "indicate that the signals are inverted in phase from the input signal for frequency divider 52. A phase comparator 48 compares the phase of the pulse signal f ^ to that of the output 30 pulse signal f from the frequency divider 52 and controls the oscillation frequency of the VCO 50 such that the phase of the pulse signals fL and f are equal to each other. In this way, a phase lock loop consists of the phase comparator 48, the VCO 50 and the frequency divider 52, and each of the output pulses from frequency divider 52 is synchronized with the line AC voltage.

Een codeerketen voor het coderen van de uitgangspulsen vanuit de frequentiedeler 52 bevat vier exclusieve OF (XOF) poorten 54-60, waarin XO.R poort 54 40 het pulssignaal I6f en 2f ontvangt, de XOR poort 56 puls- 8502 385 - 7 - 8f en 2f, de XOR poort 58 de pulssignaal 4f en 2f, en de XOR poort 60 de pulssignalen 2f en f. Op deze wijze wordt de fase van het uitgangspulssignaal S vanuit de XOR poort 60 over 90° vertraagt ten opzichte van het pulssignaal f, 5 namelijk het signaal fL, en de uitgangspulsen A-C daarvan vormen een driebits digitaal signaal, dat opeenvolgend verandert van "000" in "111" en van "111" in "000" voor elke negentig graden (kwart periode) van het pulssignaal S. Een fasebetrekking van deze signalen is in fig. 3 weer-10 gegeven.An encoding circuit for encoding the output pulses from the frequency divider 52 includes four exclusive OF (XOF) gates 54-60, in which XO.R gate 54 40 receives the pulse signal I6f and 2f, the XOR gate 56 pulse-8502 385-7-8f and 2f, the XOR gate 58 the pulse signals 4f and 2f, and the XOR gate 60 the pulse signals 2f and f. In this manner, the phase of the output pulse signal S from the XOR gate 60 is delayed by 90 ° with respect to the pulse signal f, namely the signal fL, and the output pulses AC thereof form a three-bit digital signal, which changes successively from "000". in "111" and from "111" in "000" for every ninety degrees (quarter period) of the pulse signal S. A phase relationship of these signals is shown in FIG.

Een analoogmultiplexer (MUX) 62 verbindt als een eerste kiesmiddel een ingangsklem I met êên van de uitgangsklemmen 0-7 op selectieve wijze in reactie op de digitale signalen A-C vanuit de XOR poorten 54-58. De 15 uitgangsklem O wordt met andere woorden uitgekozen, wanneer de signalen de kiesaansluitingen A-C "000" zijn, de uitgangsaansluiting 1 is gekozen onder "001" en de uitgangs-aansluiting 2 wordt gekozen onder "010". Op analoge wijze worden de uitgangsaansluitingen 3, 4, 5, 6 en 7 respectie-20 velijk gekozen onder "011", "100", "110" en "111". De uitgangsaansluitingen 0-7 van de multiplexer 62 worden op respectievelijke wijze verbonden met êên van de aansluitingen van de weerstanden 64-78 waarbij de andere aansluitingen verbonden zijn met een ingangsklem van een integrator. 25 Deze integrator bevat een operationele versterker 80 met een geaarde, niet inverterende ingangsaansluiting en een condensator 82, die tussen inverterende ingangsaansluiting en een uitgangsaansluiting van de operationele versterker 80 is verbonden. Op deze wijze is de integrator een 30 Miller integrator waarvan de ingangsweerstand degene van de weerstanden 64-78 is, die is uitgekozen door de multiplexer 62, De waarden van de weerstanden 64-78 zijn bijvoorbeeld op respectievelijke wijze 15,0 k.Ohm, 16,9 k.Ohm, 29,1 k.Ohm, 23,7 k.Ohm, 31,6 k.Ohm, 51,1 k.Ohm, en 54,4 k.Ohm, 35 waarbij de waarde van de condensator 82 gelijk is aan 0,1 ^F,An analog multiplexer (MUX) 62, as a first selector, connects an input terminal I to one of the output terminals 0-7 selectively in response to the digital signals A-C from the XOR gates 54-58. In other words, the output terminal O is selected when the signals are the selector terminals A-C "000", the output terminal 1 is selected under "001" and the output terminal 2 is selected under "010". Analogously, the output terminals 3, 4, 5, 6 and 7 are selected respectively under "011", "100", "110" and "111". The output terminals 0-7 of the multiplexer 62 are respectively connected to one of the terminals of the resistors 64-78, the other terminals being connected to an input terminal of an integrator. This integrator includes an operational amplifier 80 with a grounded, non-inverting input terminal and a capacitor 82, which is connected between an inverting input terminal and an output terminal of the operational amplifier 80. In this way, the integrator is a Miller integrator whose input resistance is the one of resistors 64-78 selected by the multiplexer 62. For example, the values of resistors 64-78 are 15.0 kOhm, respectively. 16.9 kohm, 29.1 kohm, 23.7 kohm, 31.6 kohm, 51.1 kohm, and 54.4 kohm, 35 where the capacitor value 82 equals 0.1 ^ F,

Een uitgangssignaal Q van de integrator wordt via een piekwaardedetector toegevoerd aan een spanningsvergelijker 84. Deze piekdetector bestaat uit een 40 diode 86, condensator 88, weerstanden 90 en 92. De - 8 - spanningsvergelijker 84 vergelijkt de piekwaarde van het uitgangssignaal Q vanuit de integrator met een referentie-spanning V_,™f en een verschiluitgangsspanning daarvan wordt door de weerstanden 94 en 96 gedeeld en toegevoerd 5 aan een inverterende versterker 98 en een niet inverterende versterker 100. De waarden van een ingangsweerstand 102 en een terugkoppelweerstand 104 zijn onderling gelijk. Uitgangsspanningen vanuit de versterkers 98 en 100 worden aan de ingangsklem I van de multiplexer 62 toegevoerd 10 via een elektronische schakelaar 106 en een tweede kies-middel, dat door het pulssignaal S wordt bestuurd. Deze ketenelementen 54-82 en 106 vormen een omzetter.An integrator output Q is applied through a peak value detector to a voltage comparator 84. This peak detector consists of a 40 diode 86, capacitor 88, resistors 90, and 92. The -8 voltage comparator 84 compares the peak value of the output signal Q from the integrator with a reference voltage V_, ™ f and a differential output voltage thereof is divided by the resistors 94 and 96 and applied to an inverting amplifier 98 and a non-inverting amplifier 100. The values of an input resistor 102 and a feedback resistor 104 are the same. Output voltages from the amplifiers 98 and 100 are applied to the input terminal I of the multiplexer 62 via an electronic switch 106 and a second selector controlled by the pulse signal S. These chain elements 54-82 and 106 form a converter.

Zoals in fig. 3 is weergegeven voert de schakelaar 106 een uitgangssignaal vanuit de niet inver-15 terende versterker 100 toe aan de ingangsklem I van de multiplexer 62 gedurende het eerste kwart van de periode tussen de tijdstippen Tg en T^, Aangezien dit eerste kwart van de periode gelijkelijk door acht wordt gedeeld en de weerstanden 64-78 in opeenvolging zijn uitgekozen 20 in overeenstemming pulssignalen A-C, is het uitgangssignaal Q van de integrator een kwart van een sinusgolf. In een bestek tussen de tijdstippen T^ en T2 wordt de uitgangs-spanning van de invertereride versterker 98 toegevoerd aan de ingangsklem I van de multiplexer 62. Deze waarde 25 wordt gelijkelijk door acht gedeeld en de weerstanden 78-64 worden opeenvolgend gekozen. De keten werkt op overeenkomende wijze als eerder beschreven is en het uitgangssignaal Q van de integrator kan een zich herhalende sinusvormige spanning zijn, die in fase is met het lijnfrequen-30 tiesignaal. Aangezien de ingangsspanning door de integrator bestuurd wordt door de piekdetector 86-92 en de spanningsvergelijker 82 teneinde de piekamplitude van de sinusvormige spanning Q constant te houden, kan deze ampltiude niet worden beïnvloed door de verandering van de frequentie 35 en amplitude van de lijnspanning,As shown in FIG. 3, the switch 106 supplies an output from the non-inverting amplifier 100 to the input terminal I of the multiplexer 62 during the first quarter of the period between times Tg and T T, since this first quarter of the period is divided equally by eight and the resistors 64-78 are successively selected in accordance with pulse signals AC, the integrator output Q is a quarter of a sine wave. In a specification between the times T ^ and T2, the output voltage of the inverterer amplifier 98 is applied to the input terminal I of the multiplexer 62. This value 25 is divided equally by eight and the resistors 78-64 are selected sequentially. The circuit operates in a similar manner as previously described, and the integrator output Q may be a repeating sinusoidal voltage in phase with the line frequency signal. Since the input voltage is controlled by the integrator by the peak detector 86-92 and the voltage comparator 82 in order to keep the peak amplitude of the sinusoidal voltage Q constant, this amplitude cannot be influenced by the change of the frequency 35 and amplitude of the line voltage,

De uitgangsspanning Q van de integrator wordt aan de primaire wikkeling van de transformotr 12 toegevoerd via een elektronische schakelaar 108 en een versterker 110 met variabele versterking (die een laag doorlatend 40 filter bevat voor het elimineren van harmonische vervorming).The integrator output voltage Q is supplied to the primary winding of the transformer 12 through an electronic switch 108 and a variable gain amplifier 110 (which includes a low-pass filter to eliminate harmonic distortion).

- 9 -- 9 -

De op de secundaire wikkeling van de transformator 12 vol+ gende trap kan dezelfde zijn als de in fig. 1 weergegeven keten. In de keten van fig. 2 vergelijken vergelijkers 112 en 114 de uitgangsspanning vanuit de fasevergelijker 48 5 met referentiespanningen, die door de weerstanden 116-120 gedeeld zijn. De vergelijker 112 bepaalt met andere woorden of de uitgangsspanning van de fasevergelijker 48 lager is dan een van tevoren bepaalde bovengrensspanning of niet en de vergelijker 114 bepaalt of de uitgangsspanning van 10 de fasevergelijker 48 hoger is dan een van tevoren bepaalde benedengrensspanning of niet. Wanneer de uitgangsspanning van de fasevergelijker 48 gelijk is aan of hoger dan de van tevoren bepaalde benedengrensspanning en gelijk is aan of lager dan de van tevoren bepaalde bovengrensspanning, 15 kiest de schakelaar 108 de versterker 80. In het andere geval kiest de schakelaar 108 aarde. Wanneer bijgevolg het faseverschil tussen de sinusvormige spanning Q, die door de omzetter wordt opgewekt en de lijnspanning groter is dan een van tevoren bepaalde waarde, wordt verhinderd 20 dat de sinusvormige spanning Q wordt toegevoerd aan de volgende trap ter vermijding van een incorrecte meting.The stage subsequent to the secondary winding of the transformer 12 may be the same as the circuit shown in FIG. In the circuit of FIG. 2, comparators 112 and 114 compare the output voltage from the phase comparator 48 to reference voltages divided by the resistors 116-120. In other words, comparator 112 determines whether the output voltage of phase comparator 48 is lower than a predetermined upper limit voltage or not, and comparator 114 determines whether the output voltage of phase comparator 48 is higher than a predetermined lower limit voltage or not. When the output voltage of the phase comparator 48 is equal to or higher than the predetermined lower limit voltage and equal to or lower than the predetermined upper limit voltage, switch 108 selects amplifier 80. Otherwise, switch 108 selects ground. Accordingly, when the phase difference between the sinusoidal voltage Q generated by the converter and the line voltage exceeds a predetermined value, the sinusoidal voltage Q is prevented from being applied to the next stage to avoid incorrect measurement.

In de keten van fig. 2 kan de voorste trap van de spanningsvergelijker 84 een gemiddelde detector of een RMS (root-mean-square] detector zijn in plaats van de 25 piekdetector, De inverterende en niet inverterende uit gangssignalen vanuit de spanningsvergelijker 84 kunnen direkt aan de schakelaar 106 worden toegevoerd. Bovendien kan één cyclus van de sinusvormige spanning Q bestaan uit meer dan tweeëndertig componenten door het verhogen van 30 het aantal weerstanden in de omzetter en het wijzigen van de constructies van de coderingsketen 54-60 en de multiplexer 62.In the circuit of Figure 2, the front stage of the voltage comparator 84 may be an average detector or an RMS (root-mean-square] detector instead of the peak detector. The inverting and non-inverting output signals from the voltage comparator 84 may be in addition, one cycle of the sinusoidal voltage Q may be comprised of more than thirty-two components by increasing the number of resistors in the converter and changing the constructions of the encoding circuit 54-60 and the multiplexer 62.

Zoals uit het bovenstaande begrepen kan worden, kan de onderhavige uitvinding een sinusvormige 35 spanning genereren met minder vervorming en.de van tevoren bepaalde amplitude in synchronisme met de lijnspanning, ongeacht de golfvorm van de lijnspanning. Op deze wijze kan de uitvinding de weergavevervorming elimineren, wordt zij niet beïnvoed door de rimpel van de lijnspanning en 40 kan zij een elektronische inrichting exact doormeten.As can be understood from the above, the present invention can generate a sinusoidal voltage with less distortion and the predetermined amplitude in synchronism with the line voltage, regardless of the line voltage waveform. In this way, the invention can eliminate the display distortion, it is not influenced by the ripple of the line voltage and it can measure an electronic device exactly.

- 10 -- 10 -

Fig. 4 en 5 tonen blokschema's van een tweede uitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding, waarin de keten van fig. 5 uitgangssignalen ontvangt vanuit de keten van fig. 4 en de elektronische meetinrichting 5 bestaat uit de ketens van fig. 4 en 5. Deze tweede uitvoeringsvorm is dat een digitale geheugenfunktie wordt toegepast op de eerste uitvoeringsvorm, die in fig. 2 is weergegeven.Fig. 4 and 5 show block diagrams of a second embodiment of the present invention, in which the circuit of Fig. 5 receives outputs from the circuit of Fig. 4 and the electronic measuring device 5 consists of the circuits of Figs. 4 and 5. This second embodiment is that a digital memory function is applied to the first embodiment shown in FIG.

De constructie en de werking van de keten-10 elementen en blokken 34 t/m 52 zijn dezelfde als de elementen en blokken die met overeenkomende referenties in fig. 2 zijn aangeduid, maar. de frequentiedeler 52 wekt verder een pulssignaal 2048f op, maar met de halve frequentie van de uitgangspuls vanuit de VCO 50. Een 15 herhalingsgolfvormgenerator 154 stemt overeen met de generator, die uit de ketenelementen 54 t/m 106 van fig. 2 bestaat. Op deze wijze genereert de herhalingsgolfvormgenerator 154 de sinusvormige spanning met dezelfde frequentie en fase als de lijnwisselspanning en een constante 20 amplitude, ongeacht de amplitude van de lijnwisselspanning.The construction and operation of the circuit-10 elements and blocks 34 to 52 are the same as the elements and blocks indicated by corresponding references in Figure 2, but. the frequency divider 52 further generates a pulse signal 2048f, but at half the frequency of the output pulse from the VCO 50. A repetition waveform generator 154 corresponds to the generator consisting of the circuit elements 54 to 106 of FIG. 2. In this way, the repetition waveform generator 154 generates the sinusoidal voltage with the same frequency and phase as the line AC voltage and a constant amplitude, regardless of the amplitude of the line AC voltage.

De sinusvormige spanning vanuit de herhalingsgolfvormgenerator 154 wordt aan de primaire wikkeling van de transformator 12 toegevoerd via de versterker 156 met veranderlijke versterking en een geschikte analoog-25 vermenigvuldiger, De zijde van de secundaire wikkeling van de transformator 12 is analoog aan de in fig. 1 weergegeven bekende techniek, waarin een kies-gelijkrichtketen 14 de schakelaar en de diode bevat, De kies—gelijkrichtketen 14 kiest ëën van de aansluitingen van de secundaire wikke-30 ling en richt de sinusvormige spanning van de uitgekozen aansluiting gelijk. De gelijkgerichte spanning vanuit de kies-gelijkrichtketen 14 wordt via de begrenzingsweerstand 16 toegevoerd aan de collector van de transistor 18 als inrichting onder test. De transformator 12 en de kies-35 gelijkrichtketen 14 zijn werkzaam als spanningstoevoer- middelen, De aansluiting van de laagste stand van de secundaire wikkeling van de transformator 12 wordt via de stroomdetectieweerstand 20 met de geaarde emittor van de transistor 18 verbonden. De basis van de transistor 18 40 ontvangt het voorspanningssignaal vanuit de voorspannings- - 11 - toevoerketen 22, dat als een stapfunktfe verandert in synchronisme met de uitgangspuls f vanuit de frequentie-deler 52. De transistor 18 onder test is als het gemeenschappelijke emittortype met de meetinrichting voor 5 elektronische inrichtingen verbonden, namelijk de kromme-tekeninrichting in fig. 4, maar zij kan als gemeenschappelijke basistype of gemeenschappelijk collectortype verbonden worden. Een spanningsdetectieketen 124 met een hoge ingangsimpedantie detecteert de collector-emittor-10 spanning VCE van de transistor 18 en deelt de gedetecteerde spanning V^E door een geschikte faktor. Een spanningsdetectieketen 130 met een hoge ingangsimpedantie detecteert de spanning over de weerstand 20, namelijk de collector-stroom Ic. De spanningsdetectieketen 124 kan bestaan uit 15 de schakelaar, de spanningsdelers en de bufferversterker, en de spanningsdetectieketen 130 kan de differentieel-versterker zijn.The sinusoidal voltage from the repetitive waveform generator 154 is supplied to the primary winding of the transformer 12 through the variable gain amplifier 156 and a suitable analog multiplier. The side of the secondary winding of the transformer 12 is analogous to that shown in FIG. 1. Prior art shown in which a select rectifier circuit 14 includes the switch and the diode. The select rectifier circuit 14 selects one of the terminals of the secondary winding and rectifies the sinusoidal voltage of the selected terminal. The rectified voltage from the selector rectifier circuit 14 is supplied through the limiting resistor 16 to the collector of the transistor 18 as a device under test. The transformer 12 and the selector 35 rectifier circuit 14 act as voltage supply means. The terminal of the lowest position of the secondary winding of the transformer 12 is connected to the grounded emitter of the transistor 18 via the current detecting resistor 20. The base of the transistor 18 40 receives the bias signal from the bias-supply circuit 22, which changes as a step function in synchronism with the output pulse f from the frequency divider 52. The transistor 18 under test is as the common emitter type with the measuring device for 5 electronic devices, namely the curve drawing device in Fig. 4, but it can be connected as common basic type or common collector type. A high input impedance voltage detecting circuit 124 detects the collector-emitter-10 voltage VCE of the transistor 18 and divides the detected voltage V-E by an appropriate factor. A voltage detection circuit 130 with a high input impedance detects the voltage across the resistor 20, namely the collector current Ic. The voltage detecting circuit 124 may consist of the switch, the voltage dividers and the buffer amplifier, and the voltage detecting circuit 130 may be the differential amplifier.

Deze uitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding bevat een analoog-digitaal (Λ/D) omzetter 20 voor het omzetten van de door de spanningsdetectoren 124 en 130 gedetecteerde spanningen in digitale signalen. Opgemerkt dient te worden, dat de detector 130 de in de spanning omgezette stroom detecteert. De A/D Omzetter kan bestaan uit steekproef/houd (S/H) ketens en een A/D 25 omzetter. De steekproef/houdketens 158 respectievelijk 160 nemen steekproeven van de uitgangsspanningen vanuit de spanningsdetectoren 124 en 130 en houden de steekproef-spanningen vast in reactie op de uitgangspuls 1024f vanuit de frequentiedeler 52. Aangezien êên periode van 30 de sinusgolfgenerator afkomstig uit de herhalingsgolfvorm-generator 154 gelijk is aan 1/f, nemen de steekproef/houdketens 158 en 160 steekproeven in 1024 punten binnen ëën periode. Een elektronische schakelaar 162 kiest de steekproef /houdketens 158 en 160 op afdichtende wijze in 35 elke halve periode van de uitgangspuls 1.024f vanuit de frequentiedeler 52, en het uitgangssignaal vanuit de schakelaar 162 wordt aan de A/D omzetter 164 toegevoerd. Aangezien schakelaar 162 de steekproef/houdketens 158 en 160 afwisselend kiest, ontvangt, de A/D omzetter 164 als 40 kloksignaal de uitgangspuls 2048f (met de dubbele frequen- 850 2 3 8 5 - 12 - tie van de puls I024f) vanuit de frequentiedeler 152 en zet de analoge spanningen vanuit de steekproefvasthoud-ketens 158 en 160 afwisselend om in digitale signalen. Opgemerkt dient te worden dat de beide pulsen I024f en 5 2048f met de lijnwisselspanning zijn gesynchroniseerd.This embodiment of the present invention includes an analog-digital (Λ / D) converter 20 for converting the voltages detected by the voltage detectors 124 and 130 into digital signals. It should be noted that detector 130 detects the current converted to voltage. The A / D Converter can consist of sample / hold (S / H) chains and an A / D 25 converter. The sample / hold circuits 158 and 160, respectively, sample the output voltages from the voltage detectors 124 and 130 and hold the sample voltages in response to the output pulse 1024f from the frequency divider 52. Since one period of the sine wave generator comes from the repetition waveform generator 154 equals 1 / f, the sample / hold chains take 158 and 160 samples in 1024 points within one period. An electronic switch 162 sealingly selects sample / hold circuits 158 and 160 in each half period of the output pulse 1.024f from the frequency divider 52, and the output signal from the switch 162 is applied to the A / D converter 164. Since switch 162 alternately selects sample / hold circuits 158 and 160, the A / D converter 164 receives as a 40 clock signal the output pulse 2048f (with the double frequency 850 2 3 8 5 - 12 - pulse of the pulse I024f) from the frequency divider 152 and alternately converts the analog voltages from the sample holding circuits 158 and 160 into digital signals. It should be noted that both pulses I024f and 5 2048f are synchronized with the line AC voltage.

Het digitale uitgangssignaal vanuit de A/D omzetter 164 wordt in een geheugenketen 166 van fig. 5 opgeslagen in overeenstemming met een adressignaal vanuit een besturingsketen 168. De besturingsketen 168 bestuurt 10 een inleesmodus en een uitleesmodus van de geheugenketen 166, genereert een inleesadressignaal in de inleesmodus door het tellen van de uitgangspuls 2048f vanuit de spanningsdeler 52 en genereert een uitleesadressignaal in de uitleesmodus door het tellen van éen kloksignaal vanuit 15 een uitleesklokgenerator 170, Op deze wijze wordt het uitgangssignaal (VCE) vanuit de steekproef/vasthoudketen 158 opgeslagen in bijvoorbeeld de oneven adresplaatsen van het geheugen 166 en het uitgangssignaal (Ic) vanuit de steekproef/houdketen 160 wordt opgeslagen in bijvoorbeeld 20 de even adresplaatsen daarvan in de inleesmodus. Zoals eerder is beschreven is de spanning, die aan de inrichting onder test 18 wordt toegevoerd, in fase met de lijnwisselspanning, maar de amplitude en de golfvorm ervan zijn onafhankelijk van de lijnwisselspanning. Bovendien werken 25 de steekproef/houdketens 158 en 160f de elektronische schakelaar 162 en de A/D omzetter 164 in synchronisme met de lijnwisselspanning. Bijgevolg slaat de geheugenketen 166 de digitale waarden op, die de karakteristieken van de inrichting onder test weergeven, zonder daarbij beïnvloed 30 te worden door de spannings- en/of faseverandering van de lijnspanning en de golfvorm daarvan.The digital output from the A / D converter 164 is stored in a memory circuit 166 of FIG. 5 in accordance with an address signal from a control circuit 168. The control circuit 168 controls a read-in mode and a read-out mode from the memory circuit 166, generates a read-in address signal in the read-in mode by counting the output pulse 2048f from the voltage divider 52 and generates a read-out signal in the read-out mode by counting one clock signal from a read-out clock generator 170, In this manner, the output signal (VCE) from the sample / hold circuit 158 is stored in, for example, the odd address locations of the memory 166 and the output signal (Ic) from the sample / hold circuit 160 is stored in, for example, its even address locations in the read-in mode. As described previously, the voltage applied to the device under test 18 is in phase with the line AC voltage, but its amplitude and waveform are independent of the line AC voltage. In addition, the sample / hold circuits 158 and 160f operate the electronic switch 162 and the A / D converter 164 in synchronism with the line AC voltage. Consequently, the memory circuit 166 stores the digital values, which represent the characteristics of the device under test, without being affected by the voltage and / or phase change of the line voltage and its waveform.

In de uitleesmodus vergrendelt een grendel-keten 172 de inhoud van de even adresplaatsen van de geheugenketen 166 opeenvolgend in reactie op het minst 35 significante bit LSB van het adressignaal, en de grendelketen 174 grendelt de inhoud van de oneven adresplaatsen van de geheugenketen 166 opeenvolgend in reactie op het LSB van het adressignaal, geïnverteerd door een invertor 176. Aangezien de grendelketen 178 de inhoud van de 40 grendelketen 172 tegelijkertijd grendelt met de grendel- - 13 - bewerking van de grendelketen 174, ontvangen de digitaal-analoogorazetters 180 en 182 tegelijkertijd de digitale waarde Ic van de grendelketen 178 respectievelijk de digitale waarde V-,^ van de grendelketen 174 en zetten 5 hem in analoge signalen om. Deze analoge signalen worden toegevoerd aan de vertikale en horizontale afbuigplaten van de elektronenstraalbuis 28 via versterkers 26 en 32 voor het weergeven van de Ic-V™ karakteristiek van de inrichting onder test 18. Het digitale signaal dat vanuit 10 de geheugenketen 166 is uitgelezen, kan aan een computer of dergelijke worden toegevoerd om het te bewerken.In the readout mode, a latch circuit 172 locks the contents of the even address locations of the memory chain 166 sequentially in response to the least significant bit LSB of the address signal, and the latch circuit 174 locks the contents of the odd address locations of the memory chain 166 sequentially. response to the LSB of the address signal inverted by an inverter 176. Since the latch circuit 178 locks the contents of the latch circuit 172 simultaneously with the latch operation of the latch chain 174, the digital analog converters 180 and 182 simultaneously receive the digital value Ic of the latch circuit 178 and the digital value V1, l of the latch circuit 174 and convert it into analog signals. These analog signals are applied to the vertical and horizontal deflection plates of the electron beam tube 28 through amplifiers 26 and 32 to display the Ic-V ™ characteristic of the device under test 18. The digital signal read from the memory circuit 166 may be be fed to a computer or the like for editing.

Hoewel in het bovenstaande voorkeursuitvoeringsvormen van de uitvinding zijn weergegeven en beschreven, zal het voor de vakman duidelijk zijn, dat 15 vele veranderingen en wijzigingen daarin kunnen worden aangebracht zonder buiten het kader van de uitvinding te treden. Bijgevolg dient de omvang van de onderhavige Uitvinding aan de hand van de thans volgende conclusies bepaald te worden.Although preferred embodiments of the invention have been illustrated and described above, it will be apparent to those skilled in the art that many changes and modifications can be made therein without departing from the scope of the invention. Accordingly, the scope of the present invention is to be determined from the following claims.

- conclusies *·- conclusions *

Claims (12)

1. Inrichting voor het meten van de karakteris tieken van elektronische inrichtingen, voorzien van: een pulsgenerator voor het genereren van een puls in synchronisme met een lijnwisselspanning, waar-5 bij een frequentie van de puls hoger is dan die van de lijnwisselspanning; een frequentiedeler voor het delen van de frequentie van de uitgangspuls van de pulsgenerator; een herhalingsgolfvormgenerator voor het 10 genereren van een sinusvormige spanning in fase met de lijnwisselspanning in reactie op uitgangspulsen vanuit de genoemde frequentiedeler; en spanningstoevoermiddelen voor het toevoeren van de sinusvormige spanning aan de elektronische inrich-15 ting; waarin de karakteristiek van deze elektronische inrichting gemeten wordt in overeenstemming met de aan de elektronische inrichting aangelegde spanning en de stroom die door de elektronische inrichting vloeit.1. An apparatus for measuring the characteristics of electronic devices, comprising: a pulse generator for generating a pulse in synchronism with a line AC voltage, wherein a frequency of the pulse is higher than that of the line AC voltage; a frequency divider for dividing the frequency of the output pulse of the pulse generator; a repetition waveform generator for generating a sine wave voltage in phase with the line AC voltage in response to output pulses from said frequency divider; and voltage supply means for supplying the sinusoidal voltage to the electronic device; wherein the characteristic of this electronic device is measured in accordance with the voltage applied to the electronic device and the current flowing through the electronic device. 2. Inrichting volgens conclusie 1, m e t het kenmerk, dat de pulsgenerator bevat: een generator voor een signaal van variabele frequentie; en een fasevergelijker voor het vergelijken van 25 êën van de uitgangspulsen vanuit de frequentiedeler met de lijnwisselspanning en het besturen van een oscillatie-frequentie van de generator voor een signaal van variabele frequentie in reactie op het vergelijkingsresultaat.2. Device according to claim 1, characterized in that the pulse generator comprises: a variable frequency signal generator; and a phase comparator for comparing 25 one of the output pulses from the frequency divider to the line AC voltage and controlling an oscillation frequency of the generator for a variable frequency signal in response to the comparison result. 3, Inrichting volgens conclusie 1, m e t het 30 kenmerk, dat de herhalingsgolfvormgenerator bevat: omzetmiddelen voor het omzetten van een ingangssignaal in een sinusvormige spanning in reactie op de uitgangspulsen vanuit de frequentiedeler; en een spanningsvergelijker voor het vergelijken 35 van een spanning die overeenstemt met de sinusvormige spanning vanuit de omzetter met een referentiespanning * - 15 - voor het opwekken van het ingangssignaal voor de omzetter.3. Device according to claim 1, characterized in that the repetition waveform generator comprises: converting means for converting an input signal into a sinusoidal voltage in response to the output pulses from the frequency divider; and a voltage comparator for comparing a voltage corresponding to the sinusoidal voltage from the converter with a reference voltage * - 15 - for generating the input signal for the converter. 4. Inrichting volgens conclusie 3, m e t het kenmerk, dat de omzetter bevat: een codeur voor het coderen van de uitgangs-5 pulsen vanuit de frequentiedeler; een multiplexer voor het selectief verbinden van een ingangsklem daarvan met ëên van de uitgangsklemmen daarvan in reactie op uitgangssignalen vanuit de codeur, waarbij de genoemde ingangsklem het ingangssignaal voor 10 de omzetter ontvangt? een aantal weerstanden, die op respectievelijke wijze één klem met de uitgangsklem van de multiplexer verbonden hebben; en een integrator met een ingangsklem, die met 15 de andere aansluitingen van het genoemde aantal weerstanden is verbonden.4. Device as claimed in claim 3, characterized in that the converter comprises: an encoder for encoding the output pulses from the frequency divider; a multiplexer for selectively connecting an input terminal thereof to one of its output terminals in response to outputs from the encoder, said input terminal receiving the input signal for the converter? a plurality of resistors which have one terminal connected to the multiplexer output terminal, respectively; and an integrator with an input terminal connected to the other terminals of said plurality of resistors. 5. Inrichting volgens conclusie 3, gekenmerkt door een piekdetector, die verbonden is tussen de omzetter en de spanningsvergelijker.Device according to claim 3, characterized by a peak detector, which is connected between the converter and the voltage comparator. 6. Inrichting volgens conclusie 1, geken merkt door een spanningsdetector voor het detecteren van de spanning, die aan de genoemde elektronische inrichting wordt toegevoerd; en 25 een stroomdetector voor het detecteren van de stroom, die door de genoemde elektronische inrichting vloeit.The device according to claim 1, characterized by a voltage detector for detecting the voltage applied to said electronic device; and a current detector for detecting the current flowing through said electronic device. 7. Inrichting volgens conclusie 6, gekenmerkt door een weergeefinrichting voor het weergeven 30 van de karakteristieken van de genoemde elektronische inrichting in overeenstemming met uitgangssignalen vanuit de spanningsdetector en de stroomdetector,7. Device according to claim 6, characterized by a display device for displaying the characteristics of said electronic device in accordance with output signals from the voltage detector and the current detector, 8. Inrichting volgens conclusie 6, gekenmerkt door opslagmiddelen voor het opslaan van de 35 uitgangssignalen vanuit de spanningsdetector en de stroom- - 16 - detector.8. Device as claimed in claim 6, characterized by storage means for storing the output signals from the voltage detector and the current detector. 9. Inrichting volgens conclusie 8, m e t het kenmerk, dat de opslagmiddelen bevatten: analoog-digitaalomzetmiddelen voor het 5 omzetten van de uitgangssignalen van de spanningsdetector en de stroomdetector in digitale signalen in reactie op de uitgangspulsen vanuit de frequentiedeler; en een geheugen voor het opslaan van een uitgangssignaal vanuit de analoog-digitaalomzetmiddelen.9. Device as claimed in claim 8, characterized in that the storage means comprise: analog-digital converting means for converting the output signals of the voltage detector and the current detector into digital signals in response to the output pulses from the frequency divider; and a memory for storing an output signal from the analog-to-digital converter means. 10. Inrichting volgens conclusie 9, geken merkt door: digitaal-analoogomzetmiddelèn voor het omzetten van de digitale signalen, die in het geheugen zijn opgeslagen, in analoge signalen, en 15 een weergeefinrichting voor het weergeven van de karakteristiek van de elektronische inrichting in overeenstemming met de analoge signalen vanuit de digitaal-analoogomzetmiddelen. 1 Sinusgolfgenerator, gekenmerkt 20 door: een generator voor een signaal van variabele frequentie; een frequentiedeler voor het vormen van een aantal gedeelde uitgangssignalen door het delen van 25 een uitgangsfrequentie van de genoemde generator voor een signaal met variabele frequentie; een fasevergelijker voor het vergelijken van ëên van de gedeelte uitgangssignalen vanuit de frequentiedeler met de lijnwisselspanning en het besturen 30 van een oscillatiefrequentie van de generator voor een signaal van variabele frequentie in reactie op het vergelijkingsresultaat; omzetmiddelen voor het omzetten van een uitgangssignaal in een sinusvormige spanning in reactie 35 op de gedeelte uitgangssignalen vanuit de frequentiedeler; en een spanningsvergelijker voor het verge- -1 - 17 - lijken van een spanning die met de sinusgolfspanning overeenstemt vanuit de omzetmiddelen met een referentie-spanning voor het genereren van het ingangssignaal voor de omzetmiddelen.10. Device as claimed in claim 9, characterized by: digital-analog converting means for converting the digital signals stored in the memory into analog signals, and a display device for displaying the characteristic of the electronic device in accordance with the analog signals from the digital-analog converting means. 1 Sine wave generator, characterized by: a variable frequency signal generator; a frequency divider for forming a plurality of shared output signals by dividing an output frequency of said variable frequency signal generator; a phase comparator for comparing one of the portion of output signals from the frequency divider to the line AC voltage and controlling an oscillation frequency of the generator for a variable frequency signal in response to the comparison result; converting means for converting an output signal into a sinusoidal voltage in response to the portion of output signals from the frequency divider; and a voltage comparator for comparing -1-17 to a voltage corresponding to the sine wave voltage from the converting means to a reference voltage for generating the input signal to the converting means. 12. Sinusgolfgenerator volgens conclusie 11, met het kenmerk, dat de omzetmiddelen bevatten: een codeur voor het coderen van de gedeelde uitgangssignalen vanuit de frequentiedeler; een multiplexer voor het selectief ver-10 binden van een uitgangsklem daarvan met êên van de üit- gangsklemmen ervan in reactie op de uitgangssignalen vanuit de codeur, welke ingangsklem het ingangssignaal voor de omzetmiddelen ontvangt; een aantal weerstanden waarvan op respec-15 tievelijke wijze één klem verbonden is met de uitgangsklem-men van de multiplexer; en een integrator met een ingangsklem die verbonden is met de andere klemmen van het genoemde aantal weerstanden.Sine wave generator according to claim 11, characterized in that the converting means comprise: an encoder for encoding the shared output signals from the frequency divider; a multiplexer for selectively connecting an output terminal thereof to one of its output terminals in response to the output signals from the encoder, which input terminal receives the input signal for the converting means; a plurality of resistors, one terminal of which is connected to the output terminals of the multiplexer, respectively; and an integrator with an input terminal connected to the other terminals of said plurality of resistors. 13. Sinusgolfgenerator volgens conclusie 11 verder g e ^k e nm e r k t door een piekdetector, die verbonden is tussen de omzetmiddelen en de genoemde span-ningsvergelijker.13. Sine wave generator according to claim 11, further characterized by a peak detector connected between the converting means and said voltage comparator.
NL8502385A 1984-10-04 1985-08-30 DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC DEVICES. NL8502385A (en)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20879284 1984-10-04
JP59208791A JPS6187429A (en) 1984-10-04 1984-10-04 Generating circuit of repetitive voltage
JP20879184 1984-10-04
JP20879284A JPS6186664A (en) 1984-10-04 1984-10-04 Apparatus for measuring element

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL8502385A true NL8502385A (en) 1986-05-01

Family

ID=26517045

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL8502385A NL8502385A (en) 1984-10-04 1985-08-30 DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC DEVICES.

Country Status (5)

Country Link
CA (1) CA1242813A (en)
DE (1) DE3533636C2 (en)
FR (1) FR2571501B1 (en)
GB (1) GB2165363B (en)
NL (1) NL8502385A (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0721526B2 (en) * 1987-08-18 1995-03-08 ソニ−・テクトロニクス株式会社 Element measuring device
CN108508342B (en) * 2018-05-28 2020-07-17 中国科学院上海微***与信息技术研究所 IGBT short circuit overcurrent detection circuit

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2980853A (en) * 1958-04-28 1961-04-18 Ryan Aeronautical Co Component output characteristic tracer
DE3144040A1 (en) * 1981-11-05 1983-05-19 Elektronikus Mérökészülékek Gyára, 1631 Budapest Circuit arrangement for generating a dependent and an independent variable and digital quantities corresponding to parameter values and for the digital processing thereof
FR2555758B1 (en) * 1983-11-25 1986-09-26 Ecole Nale Sup Electro Applica APPARATUS FOR MEASURING STATIC CHARACTERISTICS OF TRANSISTORS AND DIODES

Also Published As

Publication number Publication date
CA1242813A (en) 1988-10-04
GB2165363A (en) 1986-04-09
FR2571501A1 (en) 1986-04-11
FR2571501B1 (en) 1989-01-20
DE3533636A1 (en) 1986-04-10
DE3533636C2 (en) 1995-04-06
GB8522462D0 (en) 1985-10-16
GB2165363B (en) 1989-01-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4782290A (en) Apparatus for measuring characteristics or electronic devices
US5889435A (en) On-chip PLL phase and jitter self-test circuit
AU612574B2 (en) Gain switching device with reduced error for watt meter
EP0321963A1 (en) Impedance measuring apparatus
US4728884A (en) Infinite dynamic range phase detector
NL8502385A (en) DEVICE FOR MEASURING THE CHARACTERISTICS OF ELECTRONIC DEVICES.
US3040983A (en) Pulse-train ratio apparatus
US3713022A (en) Capacitance measurement by phase-controlled sampling
US5093627A (en) Impedance and transfer characteristic measuring apparatus
CA1248600A (en) Sine-wave generator
JPS6186664A (en) Apparatus for measuring element
JP2627758B2 (en) Signal generator
US4066959A (en) Electronic volt-square-hour metering method and apparatus
KR101074981B1 (en) Current-voltage conversion circuit
RU2006886C1 (en) Method and device for geoelectric prospecting
JPH0349215B2 (en)
US3229204A (en) Phase meter calibrator
JPH05264753A (en) Delay time measuring device
SU884080A1 (en) Controllable delay line
RU2020745C1 (en) Nonelectric-quantity-to-digital-code converter
JPH0530092B2 (en)
CA1224845A (en) Method of measuring a frequency domain characteristic
SU1619193A1 (en) Meter of coefficient of harmonics
SU1056151A1 (en) Voltage calibrator
SU1402951A1 (en) Device for measuring the mean square value of a.c.voltage

Legal Events

Date Code Title Description
BA A request for search or an international-type search has been filed
BB A search report has been drawn up
BC A request for examination has been filed
BV The patent application has lapsed