KR930001586Y1

KR930001586Y1 - 테스트 보드의 접속핀 접속장치

Info

Publication number: KR930001586Y1
Application number: KR2019900004507U
Authority: KR
Inventors: 곽덕주
Original assignee: 금성일렉트론 주식회사; 문정환
Priority date: 1990-04-13
Filing date: 1990-04-13
Publication date: 1993-04-03
Also published as: KR910018712U

Abstract

내용 없음.

Description

테스트 보드의 접속핀 접속장치

제1도는 종래의 접속핀 접속 장치의 구성도.

제2도는 본 고안 장치에 따른 테스트 보드의 구성도.

제3도는 본 고안에 따른 P.C.B도.

제4도는 본 고안에 따라 접속핀 접속장치의 구성도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 자동시험기(I.C 핸들러) 2 : 접속핀 요부

3 : 접속핀철부 4 : P. C. B

5 : 테스트 보드 6 : 연결핀

7 : 연결핀소켓 8 : 와셔

9 : 볼트 10 : 넛트

본 고안은 집적회로(I.C)의 전기적 특성을 자동시험기(I.C. 핸들러)를 사용하여 시험시 테스트 보드를 자동시험기에 접속하기 위한 접속핀(interface pin)의 접속 방법에 관한 것으로, 특히 소모가 많은 접속핀의 소모량을 극소화할 수 있도록 한 접속핀의 접속방법에 관한 것이다.

종래의 접속핀 접속방법은 제1도에서 도시된 바와 같이 집적회로 자동시험기(I. C. 핸들어)에 접속핀 요부가 바깥으로 장착되어 있고, 이 접속핀 요부는 자동시험기 내부에서 연속적으로 공급되는 집적회로(I.C.)(1a)의 각 핀에 접촉하기 위한 접촉스프링(1b)에 각각 연결되어 있다.

전기적 특성시험(electrical test)를 위한 주변회로의 전자부품이 장착되어 있는 테스트 보드에는 IC의 각핀으로 접속되어야 할 접속단자가 테스트 보드의 도체선(CONDUCTOR pattern line)을 통해 외부로 돌출되어 있는 접속핀 요부로 연결되어 고정 장착되어 있다.

상기와 같은 구성을 가진 종래 고안은, 접속핀 철부가 외부로 돌출되어 장착되어 있는 테스트 보드를 자동시험기의 외부로 돌출 장착되어 있는 접속핀 요부에 삽입하게 되면 자동시험기 내부에서 연속적으로 공급되는 집적회로의 핀과 연결된 상태가 된다.

이 상태에서 테스트 시스템에서 나오는 각종 전기적 소스 및 측정모듈(Measure Modle)이 동작하여 케이블(11)을 통해 테스트 보드 접속용 콘넥터(12)을 거쳐 테스트 보드의 주변회로와 함께 전기적 시험을 실시하게 된다.

종래의 접속핀 접속장치에 있어서, 테스트 보드상의 접속핀 철부는 보드에 완전히 고정되어 설치되어 있어서 핀수가 많은 집적회로는 각 테스트 보드당 핀 수 만큼의 접속핀이 필요하게 되고 동일 보드를 3자 이상 만드므로 연간 엄청난 양의 고가의 접속핀을 필요로 할 뿐만 아니라 일부 접속핀이 망가지는 경우 수리가 거의 불가능하여 테스트 보드 자체를 못쓰게 되는 문제점이 있었다.

상기와 같은 불이익을 해결하기 위한 본 고안은 제2도를 참고로 살펴보면, 접속핀 철부가 장착된 P.C.B와 테스트 보드로 구성된 접속방법으로서, 접속핀 철부가 장착된 P.C.B는 각 접속핀 철부에서 연결된 도체선을 통해 테스트 보드와 연결하기 위한 연결핀(6) 및 소켓(7)에 의해 테스트 보드(5)의 도체선에 연결되어 있다.

또한 P.C.B(4)를 테스트 보드(5)에 고정시키기 위해 P.C.B(4)의 가장자리에 구멍(4a)을 뚫고 테스트의 구멍과 일치하는 테스트 보드(5)위치에도 구멍(5A)을 뚫어 일치하는 구멍(4a)(5a)에 체결구(9)를 끼우고 이를 협지구(10)로서 고정하였으며, 테스트 보드(5)와 P.C.B(4) 사이에 약간의 간격을 두기 위하여 테스트 보드(5)와 접속핀 철부가 장착된 P.C.B(4) 사이로 와셔(8)를 삽입하였다.

또한 테스트 보드(5)에 직접 접속핀을 고정할 경우를 대비하여 테스트 보드(5)는 직접 접속하여 납땜이 가능하도록 구멍(5b) 및 도체선을 배치헤 두었다.

상기와 같이 구성된 테스트 보드의 접속핀 연결장치는 접속핀 철부(3)가 고정되어 장착된 P.C.B(4)와 테스트 보드(5)간에 연결핀(6)으로 접속되어 있고 P.C.B(4)를 고정하기 위하여 체결구(9)로서 볼트를 끼우고 협지구(10)로서 너트(10)를 체결구(9)에 채우면 테스트 보드(5)와 P.C.B(4)가 일체형으로 연결되고 장착 테스트 보드의 철부(3)는 자동시험기(I.C. 핸들러)(1)의 접속핀 요부(2)에 삽입되어 전기적으로 연결된 상태가 된다.

자동시험기(1)의 접속핀 요부는 내부의 집적회로핀 접촉스프링(1b)에 각각 연결되어 자동시험기 외부에서 연속적으로 공급되는 집적회로(I.C)(1a)를 1개씩 접촉스프링에 각 핀이 접촉되도록 하여 시험기간동안 테스트 시스템에서 발생하는 각종 종류 직류 및 교류신호를 케이블(1)을 통해 테스트 보드 접속용 콘넥터(12)을 거쳐 테스트 보드(5)의 주변회로를 통한 후 접속핀(1b)을 거쳐 집적회로(I.C.)의 입력단에 공급한다.

또한 집적회로(IC)의 출력단에서 발생하는 각종 직류 및 교류신호를 접속핀(1b)을 거쳐 테스트보드의 주변회로를 거쳐 테스트 보드 접속용 콘넥터(12)를 거친 후 케이블(11)을 통하여 테스트 시스템의 측정 모듈에서 측정하게 된다.

상기와 같은 구성을 가진 본 고안은 테스트 보드(5)를 제작할 경우 P.C.B(4)의 고정용 체결구(9), 협지구(10)를 풀어 다른 IC제품을 시험하기 위한 테스트 보드에도 사용이 가능하므로 스텐다드로 제작된 접속핀철부 장착 P.C.B를 몇개만 만들어 두면 IC별로 제작되는 테스트 보드에 호환성이 있게 사용할 수 있을 뿐만 아니라 이로인해 연간 소모되는 엄청난 양의 접속핀의 소비를 줄일 수 있고, 접속핀의 마모나 파괴시 즉시 다른 것으로 교환할 수 있고 보수유지가 용이한 이점이 있을 뿐만 아니라 직접 접속이 필요할 때를 대비하여 직접 접속후 납땜이 가능하도록 하였다.

Claims

IC 양산 테스트시 테스트 보드의 접속핀 접속장치에 있어서, 접속핀이 장착된 P.C.B(4)와 일치하는 위치에 각각의 구멍(4a)(5a)를 형성하고 이들의 구멍(4a)(5a)사이에 간격유지용 와셔(8)를 끼우고, 상기의 일치하는 구멍에 체결구(9)를 삽입하여 협지구(10)로 고정하여 그 P.C.B(4)와 테스트 보드(5)가 분리 결합되도록 구성한 것을 특징으로 하는 테스트 보드의 접속핀 접속장치.