KR900008299A - 조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치 - Google Patents

조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR900008299A
KR900008299A KR1019890016128A KR890016128A KR900008299A KR 900008299 A KR900008299 A KR 900008299A KR 1019890016128 A KR1019890016128 A KR 1019890016128A KR 890016128 A KR890016128 A KR 890016128A KR 900008299 A KR900008299 A KR 900008299A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
lens
light source
light beam
light beams
Prior art date
Application number
KR1019890016128A
Other languages
English (en)
Other versions
KR930002513B1 (ko
Inventor
미노루 다나까
요시따다 오시다
야스히로 요시따께
데쯔조 다니모또
Original Assignee
미다 가쓰시게
가부시끼가이샤 히다찌 세이사꾸쇼
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 미다 가쓰시게, 가부시끼가이샤 히다찌 세이사꾸쇼 filed Critical 미다 가쓰시게
Publication of KR900008299A publication Critical patent/KR900008299A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930002513B1 publication Critical patent/KR930002513B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/09Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70566Polarisation control
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70483Information management; Active and passive control; Testing; Wafer monitoring, e.g. pattern monitoring
    • G03F7/7055Exposure light control in all parts of the microlithographic apparatus, e.g. pulse length control or light interruption
    • G03F7/70583Speckle reduction, e.g. coherence control or amplitude/wavefront splitting

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 실시예에서 엑사이머노풀장치의 노출 조명계를 도시한 도면,
제2도는 축소렌즈의 눈동자면내의 렌즈스포트상의 주사배열 상황을 도시한 도면,
제3도는 본 발명의 1실시예의 균일빔 노출수단의 구성을 상세하게 도시한 도면.

Claims (23)

  1. 지향성이 높은 광원에서 발사한 광속의 강도분포를 선형인 분포로 변환함과 동시에 이 광속을 여러개의 광속으로 분리하고, 이들 분리된 광속을 간섭하지 않도록 피조사물체상의 바라는 영역에서 중합시켜서 균일한 조도분포로 조명하는 것을 특징으로 하는 조명방법.
  2. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사한 광속에 대해서 바라는 영역을 선형의 강도분포로 변환하는 실효적 진폭분포 제어수단, 상기 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 실효적 진폭분포제어수단 및 광속분리 수단에 의해서 선형인 강도분포로 변환되어 분리된 여러개의 광속을 피조사물체상에 중합시키는 중첩수단을 마련하고, 피조사물체상의 바라는 영역에서 균일한 조도분포를 얻도록 구성 한 것을 특징으로 하는 조명 장치.
  3. 특허청구의 범위 제2항에 있어서, 상기 광속분리수단에 의해서 분리되는 각 광속에 대해서의 피조사물체에 이르는 광로길이로 코히어런스길이 이상의 차를 갖도록 형성한 것을 특징으로 하는 조명장치.
  4. 특허청구의 범위 제2항에 있어서, 상기 실효적 진폭분포제어수단은 투과 또는 반사매체상에 형성되어 장소에 따라 칫수가 다른 미세패턴과 상기 매체를 투과 또는 반사한 광의 일부분을 선택하는 수단을 갖는 것을 특징으로 하는 조명장치.
  5. 특허청구의 범위 제4항에 있어서, 상기 미세패턴은 일정피치로 배열한 한쪽 방향을 향한 선형상의 패턴으로 형성한 것을 특징으로 하는 조명장치.
  6. 특허청구의 범위 제4항에 있어서, 상기 미세패턴은 일정피치로 배열한 2차원적으로 배열한 정형패턴으로 형성한 것을 특징으로 하는 조명장치.
  7. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사된 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 광속분리수단에 의해서 분리된 여러개의 광속에 대해서 각 광속의 광로길이가 서로 코히어런스길이 이상으로 형성됨과 아울러 동시에 서로 회전시킨 상태로 피조사물체상에서 중합시키는 중첩수단을 마련한 것을 특징으로 하는 조명 장치.
  8. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사된 광속에 대해서 바라는 영역을 선형의 강도분포로 변환하는 실효적 진폭분포 제어수단, 상기 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 실효적 진폭 분포제어수단 및 광속분리수단 의해서 선형이 강도분포로 변환되어 분리된 여러개의 광속을 일정한 면상에서 중합시키는 중첩수단, 상기 일정한 면을 입사측의 광원면으로 하는 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈, 상기 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈의 투과광을 피조사물체상으로 유도하는 집광렌즈를 구비한 것을 특징으로 하는 조명장치.
  9. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사된 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 광속분리수단에 의해서 분리된 여러개의 광속에 대해서 각 광속의 광로길이가 서로 코히어런스길이 이상으로 형성됨과 동시에 서로 회전시킨 상태로 일정한 면 상에서 중합시키는 중첩수단, 상기 일정한 면을 입사 측의 광원면으로 하는 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈, 상기 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈의 투과광을 피조사물체상으로 유도하는 집광렌즈를 구비한 것을 특징으로 하는 조명장치.
  10. 지향성이 높은 광원에서 발사한 광속의 강도분포를 선형인 분포로 변환함과 동시에 이 광속을 여러개의 광속으로 분리하고, 이들 분리된 광속을 간섭하지 않도록 레티클상의 바라는 영역에서 중합시켜서 균일한 조도분포로 조명하고, 상기 레티클상의 회로패턴을 투영렌즈에 의해 기판상에 축소투영하는 것을 특징으로 하는 투영식 노출방법.
  11. 특허청구의 범위 제10항에 있어서, 상기 광속은 자외선 레이저광인 것을 특징으로 하는 투영식 노출방법.
  12. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사한 광속에 대해서 바라는 영역을 선형의 강도분포로 변환하는 실효적 진폭분포제어수단, 상기 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 실효적 진폭분포제어수단 및 장속분리수단에 의해서 선형인 강도분포로 변환되어 분리된 여러개의 광속을 레티클상에서 중합시키는 중첩수단을 마련하고, 레티클상의 바라는 영역에서 균일한 조도분포를 얻도록 구성한 조명 장치를 마련하고, 상기 조명장치에 의해 조명된 레티클상의 회로패턴을 기판상에 축소투영하는 투영렌즈를 마련한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  13. 특허청구의 범위 제12항에 있어서, 상기 광원은 엑사이머레이저광원으로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노줄장치.
  14. 특허청구의 범위 제12항에 있어서, 상기 투영렌즈를 석영렌즈로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  15. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사된 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 광속분리수단에 의해서 분리된 여러개의 광속에 대해서 각 광속의 광로길이가 서로 코히어런스길이 이상으로 형섬됨과 동시에 서로 회전시킨 상태로 레티클상에서 중합시키는 중첩수단을 갖는 조명장치를 마련하고, 상기 조명장치에 의해 조명된 레티클상의 회로 패턴을 기판상에 축소투영하는 투영렌즈를 마련한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  16. 특허청구의 범위 제15항에 있어서, 상기 광원은 엑사이머레이저광원으로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  17. 특허청구의 범위 제15항에 있어서, 상기 투영렌즈를 석영렌즈로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  18. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사한 광속에 대해서 바라는 영역을 선형의 강도분포로 변환하는 실효적 진폭분포제어수단, 상기 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 실효적 진폭분포제어수단 및 광속분리수단에 의해서 선형인 강도분포로 변환되어 분리된 여러개의 광속을 일정한 면 상에서 중합시키는 중첩수단, 상기 일정한 면을 입사측의 광원면으로 하는 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈, 상기 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈의 투과광을 레티클상으로 유도하는 집광렌즈를 구비한 조명장치를 마련하고, 상기 조명장치에 의해 조명된 레 티클 상의 회로패턴을 기판상에 축소투영하는 투영렌즈를 마련한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  19. 특허청구의 범위 제18항에 있어서, 상기 광원은 엑사이머레이저광원으로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  20. 특허청구의 범위 제18항에 있어서, 상기 투영렌즈를 석영렌즈로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  21. 지향성이 높은 광원, 상기 광원에서 발사된 광속에 대해서 여러개의 광속으로 분리하는 광속분리수단, 상기 광속분리수단에 의해서 분리된 여러개의 광속에 대해서 각 광속의 광로길이가 서로 코히어런스길이 이상으로 형성됨과 동시에 서로 회전시킨 상태로 일정한 면 상에서 중합시키는 중첩수단, 상기 일정한 면을 입사측의 광원면으로 하는 로트렌즈 또는 플라이아이렌즈, 상기 로트렌즈 또는 플라이 아이렌즈의 투과광을 레티클상으로 유도하는 집광렌즈를 구비한 조명장치클 마련하고, 상기 조명장치에 의해 조명된 레티클 상의 회로패턴을 기판상에 축소투영하는 투영렌즈를 마련한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
  22. 특허청구의 범위 제21항에 있어서, 상기 광원은 엑사이머레이저광원으로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노줄장치.
  23. 특허청구의 범위 제21항에 있어서, 상기 투영렌즈를 석영렌즈로 형성한 것을 특징으로 하는 투영식 노출장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019890016128A 1988-11-24 1989-11-08 조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치 KR930002513B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP63-294520 1988-11-24
JP88-294520 1988-11-24
JP63294520A JP2732498B2 (ja) 1988-11-24 1988-11-24 縮小投影式露光方法及びその装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900008299A true KR900008299A (ko) 1990-06-04
KR930002513B1 KR930002513B1 (ko) 1993-04-03

Family

ID=17808843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019890016128A KR930002513B1 (ko) 1988-11-24 1989-11-08 조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5016149A (ko)
JP (1) JP2732498B2 (ko)
KR (1) KR930002513B1 (ko)

Families Citing this family (43)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5465220A (en) * 1992-06-02 1995-11-07 Fujitsu Limited Optical exposure method
US5307207A (en) * 1988-03-16 1994-04-26 Nikon Corporation Illuminating optical apparatus
US5253110A (en) * 1988-12-22 1993-10-12 Nikon Corporation Illumination optical arrangement
US5153773A (en) * 1989-06-08 1992-10-06 Canon Kabushiki Kaisha Illumination device including amplitude-division and beam movements
US5638211A (en) 1990-08-21 1997-06-10 Nikon Corporation Method and apparatus for increasing the resolution power of projection lithography exposure system
US7656504B1 (en) 1990-08-21 2010-02-02 Nikon Corporation Projection exposure apparatus with luminous flux distribution
US6710855B2 (en) * 1990-11-15 2004-03-23 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
US5719704A (en) 1991-09-11 1998-02-17 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6252647B1 (en) 1990-11-15 2001-06-26 Nikon Corporation Projection exposure apparatus
US6967710B2 (en) 1990-11-15 2005-11-22 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
US6885433B2 (en) * 1990-11-15 2005-04-26 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
US6897942B2 (en) * 1990-11-15 2005-05-24 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method
JP3200894B2 (ja) 1991-03-05 2001-08-20 株式会社日立製作所 露光方法及びその装置
US5359458A (en) * 1991-08-01 1994-10-25 Scitex Corporation Ltd. Scanner
US6078380A (en) * 1991-10-08 2000-06-20 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method involving variation and correction of light intensity distributions, detection and control of imaging characteristics, and control of exposure
JP2946950B2 (ja) * 1992-06-25 1999-09-13 キヤノン株式会社 照明装置及びそれを用いた露光装置
US6404482B1 (en) 1992-10-01 2002-06-11 Nikon Corporation Projection exposure method and apparatus
US5815248A (en) * 1993-04-22 1998-09-29 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and method having a wavefront splitter and an optical integrator
JPH07226559A (ja) * 1994-02-09 1995-08-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd レーザ照射装置
US5695274A (en) * 1994-03-23 1997-12-09 Olympus Optical Co., Ltd. Illuminating optical system for use in projecting exposure device
JPH0837139A (ja) * 1994-07-21 1996-02-06 Sony Corp 露光照明装置
US5646791A (en) * 1995-01-04 1997-07-08 Visx Incorporated Method and apparatus for temporal and spatial beam integration
US5801821A (en) * 1995-06-30 1998-09-01 Intel Corporation Photolithography method using coherence distance control
US5734504A (en) * 1995-12-14 1998-03-31 Lockheed Martin Corporation Multi-beam illuminator laser
JPH10233030A (ja) * 1997-02-20 1998-09-02 Sony Corp 光ディスク原盤製造装置および製造方法
US5948291A (en) * 1997-04-29 1999-09-07 General Scanning, Inc. Laser beam distributor and computer program for controlling the same
US6238063B1 (en) * 1998-04-27 2001-05-29 Nikon Corporation Illumination optical apparatus and projection exposure apparatus
FR2781707B1 (fr) * 1998-07-30 2000-09-08 Snecma Procede d'usinage par laser excimere de trous ou de formes a profil variable
US6369888B1 (en) 1999-11-17 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for article inspection including speckle reduction
JP2001308455A (ja) * 2000-04-24 2001-11-02 Ando Electric Co Ltd 波長可変光源及び光部品損失計測装置
EP1280007B1 (en) * 2001-07-24 2008-06-18 ASML Netherlands B.V. Imaging apparatus
TW529172B (en) * 2001-07-24 2003-04-21 Asml Netherlands Bv Imaging apparatus
JP4347546B2 (ja) * 2002-06-28 2009-10-21 株式会社 液晶先端技術開発センター 結晶化装置、結晶化方法および光学系
US7418016B2 (en) * 2003-02-13 2008-08-26 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for modifying the spread of a laser beam
DE10335670A1 (de) * 2003-08-04 2005-03-03 Carl Zeiss Sms Gmbh Kohärenzminderer
US7206132B2 (en) * 2004-08-06 2007-04-17 Visx, Incorporated Lenslet array for beam homogenization
DE102008054582A1 (de) * 2007-12-21 2009-07-09 Carl Zeiss Smt Ag Mikrolithographische Projektionsbelichtungsanlage
JP5157961B2 (ja) * 2009-02-27 2013-03-06 ウシオ電機株式会社 光源装置
JPWO2011010560A1 (ja) * 2009-07-24 2012-12-27 株式会社ニコン 照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法
CN102454939A (zh) * 2010-10-30 2012-05-16 东莞市松毅电子有限公司 一种区域光源匀光透镜组
US9958687B2 (en) 2014-10-31 2018-05-01 Everready Precision Ind. Corp. Apparatus of structured light generation
US9322962B1 (en) * 2014-10-31 2016-04-26 Everready Precision Ind. Corp. Structured light generation device
JP6500107B2 (ja) * 2014-12-15 2019-04-10 エーエスエムエル ホールディング エヌ.ブイ. 光学瞳対称化のための方法および装置

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4109304A (en) * 1976-02-23 1978-08-22 Khvalovsky Vladimir Vasilievic Device for coherent lighting of objects
JPS54111832A (en) * 1978-02-22 1979-09-01 Hitachi Ltd Exposure device
FR2465241A1 (fr) * 1979-09-10 1981-03-20 Thomson Csf Dispositif illuminateur destine a fournir un faisceau d'eclairement a distribution d'intensite ajustable et systeme de transfert de motifs comprenant un tel dispositif
JPS5919332A (ja) * 1982-07-23 1984-01-31 Rikagaku Kenkyusho レ−ザ−ビ−ムの照射法
JPS6225483A (ja) * 1985-07-25 1987-02-03 Canon Inc 照明装置
JPS6344726A (ja) * 1986-08-12 1988-02-25 Norihisa Ito エキシマレ−ザを用いたステツパの照明光学装置
JPS63114186A (ja) * 1986-10-30 1988-05-19 Canon Inc 照明装置
JPS63133522A (ja) * 1986-11-25 1988-06-06 Nikon Corp 露光装置
JPH0786647B2 (ja) * 1986-12-24 1995-09-20 株式会社ニコン 照明装置
JPS63173322A (ja) * 1987-01-13 1988-07-16 Toshiba Corp 半導体露光装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02142111A (ja) 1990-05-31
JP2732498B2 (ja) 1998-03-30
US5016149A (en) 1991-05-14
KR930002513B1 (ko) 1993-04-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR900008299A (ko) 조명방법 및 그 장치와 투영식 노출방법 및 그 장치
KR920020229A (ko) 투영노광방법 및 그 사용시스템
DE69326630T2 (de) Beleuchtungsvorrichtung für einen Projektionsbelichtungsapparat
EP1646073A4 (en) LIGHTING METHOD, EXPOSURE METHOD, AND DEVICE THEREFOR
KR960001905A (ko) 조명 광학 장치 및 그를 사용하는 주사형 노광 장치
DE69219907D1 (de) Homogenisieranordnung für Laserstrahlung und dieselbe enthaltendes abbildendes Lidarsystem
CA2390781A1 (en) Line generator optical apparatus
KR970062818A (ko) 펄스폭 신장광학계 및 이러한 광학계를 갖춘 노광장치
KR950034479A (ko) 조명광학계
ATE89671T1 (de) Kombinierte hellfeld-dunkelfeldauflichtbeleuchtungseinrichtung.
JP2005236088A5 (ko)
KR950024024A (ko) 투영노광장치 및 이를 이용한 디바이스 제조방법
USRE34634E (en) Light illumination device
JP2000021712A5 (ko)
KR970002477A (ko) 변형노광장치 및 노광방법
JP2875143B2 (ja) 投影露光装置
KR940020476A (ko) 노광 장치 및 노광 방법(Exposure apparatus)
JPH01114035A (ja) 露光装置
KR950012568A (ko) 노광 장치
JPS57181537A (en) Light pattern projector
KR970007502A (ko) 조명장치 및 그 장치를 구비한 투영 노광장치
KR950001868A (ko) 조명장치 및 동장치를 사용하는 노광장치
KR970022395A (ko) 조명광학계
JPS60168133A (ja) 照明光学装置
JPS639186A (ja) 照明光学装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070403

Year of fee payment: 15

LAPS Lapse due to unpaid annual fee