JPS6344726A - エキシマレ−ザを用いたステツパの照明光学装置 - Google Patents

エキシマレ−ザを用いたステツパの照明光学装置

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JPS6344726A
JPS6344726A JP61189326A JP18932686A JPS6344726A JP S6344726 A JPS6344726 A JP S6344726A JP 61189326 A JP61189326 A JP 61189326A JP 18932686 A JP18932686 A JP 18932686A JP S6344726 A JPS6344726 A JP S6344726A
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JP
Japan
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optical
excimer laser
illumination
different
stepper
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JP61189326A
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Norihisa Ito
徳久 伊藤
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Lasers (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「技術分野」 本発明は、超LSIの製造に用いられるステッパ(こ開
し、特にその照明光′4糸lこ関する。
「従来技術およびその問題点」 ステッパは周知のように、レチクルパターンをウェハ上
に照射するもので、その照明光源は、LSIの最小線1
福の縮小に伴ない、徐々に短波長のものが用いられるに
至っている。すなわち一般に量産ラインでのウェハ上の
解像度Rは、日=C入/NA            
  ■C・・・係数 入・・・照明光源の波長 NA・・・対物レンズの開口数 て与えられる。Cは、0.6〜0.8程度とされ、■産
うインでは0.8程度である。またNハは、投影レンズ
によって定まる定数で、現在は0.3〜0,5程度であ
つ、これを大きくする努力がなされている。したがって
解像度量を上げるために残されたもう一つの方法は、光
源の波長λを小さくすることである。
そこで従来は、照明光源として超高圧水銀灯の9線(λ
・436nm)が主に用いられ、さらにh線(λ・40
4nm) 、あるいは1線(λ・365nm)が開発さ
れつつある。しかし1線を用いたところで、0式でC=
0.8.NA=0.4とすると、解像度日は0.73u
m程度であり、現在開発中の4MORAMには適用可能
であっても、最小線幅として0.5um以下が要求され
る次世代の16MDRAMには側底対応できない。
このような背景から既に、照明光源としてにrFのエキ
シマレーザ(波長λ・249nm) %用いたステッパ
の照明光学系か提案されている。
ところで、このような短波長の1明光源を用いた場合の
問題点は、レンズ系による光の畷収、発熱の他、い乃1
にしてパーシャルコヒーレント照明を実現するかにある
。コヒーレント照明とは、周知のように対物レンズの人
!)を瞳に光源のf:5.像ができる状態ヲいうか、こ
のようなコヒーレント照明をステッパに用いると、 ■ウェハ上に干渉縞が強く出過ぎる、 ■スペックルパターンによる細かい縞がでる、という問
題があり、次世代LSIの微細線幅の露光を行なうステ
ッパとしては、使用に耐えない。
第6図は、コヒーレント照明、およびパーシャルコヒー
レント照明を説明するため、入射0菫の大きざDepと
、その中にてきる光源像の大きさDscとを描いたもの
で、光源内の異なる二点間の相関がないと仮定したとき
、すなわち光源像直径DSO内の異なる二点での光が相
互にインコヒーレントであるとき、 σ= D so/ D epとすると、σ=0のとき、
つまり光源像の大きさDsoが○のときが、コヒーレン
ト照明、 σ=0.5〜0.7のときが最も好ましいパーシャルコ
ヒーレント照明とされている。なおσ=(1)のときは
インコヒーレント照明である。
エキシマレーザを用いた場合、その光源は、マクロ(こ
みて点光源であるから、そのままではパーシャルコヒー
レント照明とはならず、コヒーレント照明となってしま
う。特に紫外光透過ガラス材の制約から結像光学系の色
収差を無補正とした場合、波長幅を極端に狭くする必要
があり、このためレーザ光源側で注入同期等の技術を用
いた場合には、なおざらのことコヒーレント照明になっ
てしまう、そこで、米国AT&Tベル研宛所は、198
6年3月に開かれた5PIEにおいて、スキャンミラ一
方式を提案している。このスキャンミラ一方式は、本来
点光源であるエキシマレーザ光を、見掛は上、第4図の
Dsoの範囲において二次元的に振る(スキャンする)
ことにより、パーシャルコヒーレント照明を実現しよう
とするものであり、光路中においたスキャンミラーを二
次元的に駆動することで、これそ実現している。
ところが本発明者の解析によると、このスキャンミラ一
方式は、ミラースキャン中の各瞬間を捕えると、コヒー
レント照明であって、これを時間積分することにより、
すなわち干渉縞やスペックルパターンの強度和をとるこ
とにより、平均化しているに過ぎない。
「発明の目的」 本発明は、ステッパの照明光源としてエキシマレーザを
用いた場合に、より完全なパーシャルコヒーレント照明
を実現できる照明光学系を得ることを目的とする。
「発明の概要」 本発明は、光路長の異なる多数の光学要素の集合体より
なるランダム位相体を用いてエキシマレーザ光を位相の
異なるレーザ光の集合体とすることにより、パーシャル
コヒーレント照明を実現するという発想に基づいてなさ
れたものである。
すなわち本発明は、レチクルパターンに入射するエキシ
マレーザの光路中に、光路長の異なる多数の光学要素の
集合体であって、各々の光学要素から出射するレーザ光
の位相が異なるランダム位相体を挿入したことを特徴と
している。
多数の光学要素から出射する光(レーザ光)の位相を異
ならせるには、 ■屈折率の異なる材料から形成した多数の光学要素を用
いる、 ■光学要素の長さを異ならせる、 の二つの方法があるが、後者の方が紫外域では実現が容
易である。
ランダム位相体を出たレーザ光は、位相の異なるレーザ
光の集合体であるから、−瞬、−瞬をとっても、パーシ
ャルコヒーレントが実現されてあり、したがって干渉縞
やスペックルパターンは生しない。
「発明の実施例」 以下図示実施例について本発明を説明する。第1図は本
発明によるステッパの照明光学装百ヲ示すものである。
にr+=のエキシマレーザ11を出たレーザビーム12
は、集光レンズ13を経て光源像14を作り、さらにコ
ヒ−レンズ15を経て平行光とされた後、本発明の特徴
とするランダム位相体30、リレーレンズ16、固定ミ
ラー17、コシデシサレシズ18、レチクルバクーン]
9、および結像レンズ2oを経でウェハ21上に照射さ
れる。
ランダム位相体30は、例えば第2図、菌3図に示すよ
うに、多数の光ファイバ23の集合体(光フアイババン
ドル)から構成し、あるいは第4図、第5図のように、
複屈折性を有する光学材質で、光路長の異なる多数のメ
ツシュ24の集合体から構成することができる。
第2図、第3図に示す光ファイバ23の集合体からなる
ランダム位相体30は、多数の光ファイバ31を束ねて
なっておつ、全体としてレーザピームコ2の径に対応す
る径を有している。そして各光ファイバ31の長さは、
これらの光ファイバ3]がら出射されるレーザど−ム1
2aの位相が異なり、全体としてパーシャルコヒーレン
ト照明が得られるように設定されている。各光ファイバ
31の長さは、理想的にはすべで異なっているのが良い
が、実際にはそこ迄の必要はなく、回し長さの光ファイ
バ3]が含まれていたとしても、統計的(こみで異なる
長さの光ファイバ31がランダム位相体30を構成して
いればよい。
理想的な場合を説明すると、各光ファイバ31を通過す
るレーザビーム12aの位相を○から例えば200T[
2異ならせる場合、各光ファイバ31の長さをしく固定
長)十βiとしたとき、ρ1・0.(最小長ざのもの)
〜 、&1=I00λ/(n−1)、  (最大長さのもの
)(λはエキシマレーザの波長、nは光ファイバの屈折
率) に長ざを分布させた光ファイバ31を用いるとよい。
光ファイバ3]を出たレーザビーム12aは、面光源と
みなせる光源となり、これが結像レンズ20の入射lに
結像するため、理想的なパーシャルコヒーレント照明が
得られる。
次に、第4図、第5図に示すランタム位相体30につい
て説明する。この実施例のランダム位相体30は、複屈
折性を有する光学結晶から形成するもので、多数のメツ
シュ32の集合体からなっている。これらのメツシュ3
2はその光学軸を照明系の光軸に垂直な面内に置いてあ
り、しかもその厚さか、メツシュ毎にランダムとなるよ
うに設定されでいる。このようなメツシュ32を有する
う〕ダム位相体301さ、例えばランダムなマスキング
と、ランダムなエツチング時間の制御により製造するこ
とか可能である。
いま光学結晶の異常光線に対する屈折率をNe、常光線
に対する屈折率%NOとすると、各メツシュ32の厚さ
をDo(固定長)+diとしたとき、各メツシュでの異
常光線と常光線の位相差をOから21迄異ならせる場合
、 dl・0.(最小位相差のもの)〜 cli=λ/(Ne−No) 、 (最大位相差のもの
)に厚ざを分布させたランダム位相体を用いるとよい、
この実施例によるランダム位相体30は、光ファイバに
よる場合と同様な厚み(長さ)変化による位相変化に加
えで、複屈折性による位相面の回転をランダムに付加す
ることにより、偏光状態も異ならせて、2次光源面内の
ランダム牲をざらに完全なものとすることができる。
「発明の効果」 以上のように本発明の照明光学装=によると、エキシマ
レーザを用いたステッパにおいて、各瞬間をとらえても
、パーシャルコヒーレントな照明か得られる。よってエ
キシマレーザによっでウェハ上に0.5um程度の極細
線幅を描く場合に問題となるウェハ上での干渉縞やスペ
ックルパターンの発主を押え、次世代超LSIの製造に
関する問題点の一つを除くことかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明によるステッパの照明光学装置の実施例
を示す光学系統図、第2図はランダム位相体として示す
光フアイババンドルの拡大模式斜視図、第3図は光フア
イババンドルを長さを異ならせて作成する場合の長さの
設定を示す模式側面図、第4図はランダム位相体の他の
実施例を示す拡大模式平面図、第5図はその模式断面図
、第6図は入射l童と光源の像の大きざの関係を示す、
パーシャルコヒーレント照明を説明するための平面図で
ある。 ]1・・・エキシマレーザ、]2.12a・・・レーザ
ビーム、13・・・集光レンズ、15・・・コリメート
レンズ、16・・・リレーレンズ、18・・・コンデン
サレンズ、19・・・レチクルパターン、20・・・結
像レンズ、21・・・ウェハ、30・・・・・・ランダ
ム位相体、31・・・光ファイバ、32・・・メツシュ
。 第3図 第6図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)レチクルパターンをウェハ上に照射するステッパ
    であって、その照明光としてエキシマレーザを用いたス
    テッパの照明光学装置において、レチクルパターンに入
    射するエキシマレーザの光路中に、光路長の異なる複数
    の光学要素の集合体であって、各々の光学要素から出射
    するレーザ光の位相が異なるランダム位相体を挿入した
    ことを特徴とするエキシマレーザを用いたステッパの照
    明光学装置。
  2. (2)特許請求の範囲第1項において、ランダム位相体
    は、多数の光ファイバの集合体であって、各々の光ファ
    イバから出射するレーザ光の位相が異なっているエキシ
    マレーザを用いたステッパの照明光学装置。
  3. (3)特許請求の範囲第1項において、ランダム位相体
    は、複屈折性を有する光学材質から構成された光路長の
    異なる多数のメッシュからなり、各マのメッシュから出
    射するレーザ光の位相と偏光状態が異なっているエキシ
    マレーザを用いたステッパの照明光学装置。
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