KR20210111976A - Pcb 검사지그의 커넥터 어셈블리 - Google Patents

Pcb 검사지그의 커넥터 어셈블리 Download PDF

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Abstract

본 발명은 PCB의 전기적 검사를 수행하는 PCB 검사지그의 상/하부 지그 각각의 일측에 형성되고 외부의 테스트 유닛과 연결되는 다수개의 컨택트 니들과, 상기 상/하부 지그 각각의 타측에 형성되고 상기 PCB의 접점에 접촉되는 다수개의 검사 니들 간을 전기적으로 연결하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리에 관한 것으로서, 각각의 일단부가 상기 다수개의 검사 니들에 연결되는 다수개의 제 1 도전성 와이어로 이루어진 제 1 커넥터부 및 제 1 기판유닛과, 상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 폭을 갖고 상기 제 1 기판유닛의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되며 각각의 일단부에 상기 다수개의 제 1 도전성 와이어의 타단부가 연결되는 제 1 배선부를 포함하는 미들 커넥터부 및 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되고, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들에 연결되는 제 2 커넥터부를 포함여 이루어진다.
상기와 같은 본 발명에 의하면, PCB 검사지그의 컨택트 니들과 검사 니들 간의 연결 작업을 보다 용이하게 할 수 있으므로 작업성이 현저하게 향상된다.
또한, 컨택트 니들과 검사 니들 간에 임피던스가 낮은 신호 전달 루트를 제공하여 이를 통해 전달되는 전기적 신호의 손실을 최소화함으로써 검사 신뢰도가 현저하게 향상된다.

Description

PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리{Connector assembly of printed circuit board inspection jig}
본 발명은 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 PCB 검사지그의 컨택트 니들과 검사 니들 간의 연결 작업을 보다 용이하게 하면서도 임피던스가 낮은 신호 전달 루트를 제공할 수 있는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리에 관한 것이다.
일반적으로 전자 회로 제조기술이 지속적으로 발전하고 배선회로가 주를 이루는 PCB 기판은 다양성(크기, 두께, 회로폭, 표면처리, 연성, 경성, 연경성 조합) 형태로 제조되어 지고 있다.
이와 같은 PCB 기판이 다양성에 따라 검사설비, 검사부품의 제조기술도 PCB 기판의 품질 신뢰성을 향상시키기 위하여 발전하고 있으나, 설비에 맞는 검사 지그와 부품에 맞는 조립기술은 크게 변화가 없는 추세이다.
도 1은 종래 PCB 검사지그의 검사 니들과 컨택트 니들 간의 연결구조를 설명하기 위한 개략적인 도면이다.
도 1을 참조하면, PCB 검사지그(1')는 PCB(10')에 형성된 접점(11')의 도통 상태 및 저항값을 측정하여 PCB의(10') 전기적 검사를 수행하기 위한 것으로서, 상/하부 지그(20', 30')로 이루어지고, 상/하부 지그(20', 30') 각각의 일측에는 외부의 테스트 유닛(40')과 연결되는 다수개의 컨택트 니들(21', 31')이 형성되고, 상/하부 지그(20', 30') 각각의 타측에는 PCB(10')에 형성된 접점(11')에 접촉되는 다수개의 검사 니들(22', 32')이 형성된다.
여기서, PCB(10')에 형성된 접점(11')에 접촉되는 다수개의 검사 니들(22', 32')은 컨택트 니들(21', 31')에 비해 매우 작은 직경을 가질 뿐 아니라 상호 간의 피치가 매우 좁게 형성되며, 확대도에 도시된 바와 같이, 상/하부 지그(20', 30')에 형성된 검사 니들(22', 32')을 PCB(10')에 형성된 접점(11')의 상하부에 접촉하여 외부에 설치된 테스트 유닛(40')과 PCB(10')에 형성된 접점(11') 간에 폐회로를 형성하여 테스트 유닛(40')을 통해 하부 지그(30')로 전달된 전기적 신호를 상부 지그(20')를 통해 다시 테스트 유닛(40')으로 전달 받음으로써, PCB(10')에 형성된 접점(11')의 도통 여부 및 저항값을 측정하게 된다.
한편, 종래에는 상/하부 지그(20', 30')에 형성된 다수개의 컨택트 니들(21', 31')과 검사 니들(22', 32') 간을 전기적으로 연결하는 연결수단으로 도전성 와이어(50')를 사용해왔다.
그러나, 이러한 도전성 와이어(50')는 컨택트 니들(21', 31')과 검사 니들(22', 32') 간을 상호 연결해야 하는데, 검사 니들(22', 32')의 직경이 컨택트 니들(21', 31')의 직경 보다 매우 작을 뿐 아니라 상호 간의 피치가 매우 좁게 형성되어 있어 검사 니들(22', 32')의 직경과 동일한 직경을 가지는 것을 사용할 수 밖에 없다.
이로 인해 매우 작은 직경을 가지는 도전성 와이어(50')를 다수개의 검사 니들(22', 32')과 다수개의 컨택트 니들(21', 31')에 연결하는 작업이 매우 난해하여 작업성이 현저하게 저하될 뿐 아니라 작업 과정에서 쉽게 단선이 발생되어 PCB 검사지그(1')의 불량 발생의 원인으로 작용하게 된다.
또한, 직경이 매우 작은 도전성 와이어(50')는 상대적으로 임피던스가 높으므로 컨택트 니들(21', 31')로부터 검사 니들(22', 32')로 전달되는 전기적 신호가 도전성 와이어(50')를 통해 전달되는 과정에서 크게 손실되어 PCB(10')의 정확한 검사 결과를 도출할 수 없으므로 검사 신뢰도가 현저하게 저하되는 문제점이 발생한다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 PCB 검사지그의 컨택트 니들과 검사 니들 간의 연결 작업을 보다 용이하게 하면서도 임피던스가 낮은 신호 전달 루트를 제공할 수 있는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따르면, PCB의 전기적 검사를 수행하는 PCB 검사지그의 상/하부 지그 각각의 일측에 형성되고 외부의 테스트 유닛과 연결되는 다수개의 컨택트 니들과, 상기 상/하부 지그 각각의 타측에 형성되고 상기 PCB의 접점에 접촉되는 다수개의 검사 니들 간을 전기적으로 연결하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리에 있어서, 각각의 일단부가 상기 다수개의 검사 니들에 연결되는 다수개의 제 1 도전성 와이어로 이루어진 제 1 커넥터부 및 제 1 기판유닛과, 상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 폭을 가지고 상기 제 1 기판유닛의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되며 각각의 일단부에 상기 다수개의 제 1 도전성 와이어의 타단부가 연결되는 제 1 배선부를 포함하는 미들 커넥터부 및 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되고, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들에 연결되는 제 2 커넥터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리가 제공된다.
여기서, 상기 제 2 커넥터부는 상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 직경을 갖고, 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되며, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들 간에 연결되는 다수개의 제 2 도전성 와이어로 이루어지는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 제 2 커넥터부는 제 2 기판유닛 및 상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 폭을 갖고, 상기 제 2 기판유닛의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되되, 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되고, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들에 연결되는 제 2 배선부 및 상기 제 2 기판유닛의 일단부에 결합되고, 상기 제 1 기판유닛의 타단부를 상기 제 2 기판유닛의 일단부에 착탈 가능하게 결합시키는 커넥터유닛을 포함하는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 다수개의 제 1 배선부는 이웃하는 일단부가 상기 제 1 기판유닛의 길이 방향에 대해 일정 간격 이격되게 배치되는 것을 특징으로 한다.
상기와 같은 본 발명에 의하면, PCB 검사지그의 컨택트 니들과 검사 니들 간의 연결 작업을 보다 용이하게 할 수 있으므로 작업성이 현저하게 향상된다.
또한, 컨택트 니들과 검사 니들 간에 임피던스가 낮은 신호 전달 루트를 제공하여 이를 통해 전달되는 전기적 신호의 손실을 최소화함으로써 검사 신뢰도가 현저하게 향상된다.
도 1은 종래 PCB 검사지그의 검사 니들과 컨택트 니들 간의 연결구조를 설명하기 위한 개략적인 도면.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리가 PCB 검사지그에 설치된 상태를 보여주는 개략적인 도면.
도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리가 PCB 검사지그에 설치된 상태를 보여주는 개략적인 도면.
도 4는 도 3의 A 부분을 개략적으로 도시한 사시도.
도 5는 도 3의 A 부분을 개략적으로 도시한 분해사시도.
도 6은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리의 미들 커넥터부를 개략적으로 도시한 것.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다. 도면들 중 동일한 구성요소들은 가능한 어느 곳에서든지 동일한 부호들로 나타내고 있음에 유의해야 한다. 또한 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있는 공지기능 및 구성에 대한 상세한 설명은 생략한다.
도 2는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리가 PCB 검사지그에 설치된 상태를 보여주는 개략적인 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 제 1 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리(1)는 PCB의 전기적 검사를 수행하는 PCB 검사지그(TJ)의 상/하부 지그(UTJ, LTJ) 각각의 일측에 형성되고 외부의 테스트 유닛(TU)과 연결되는 다수개의 컨택트 니들(CN)과, 상/하부 지그(UTJ, LTJ) 각각의 타측에 형성되고 컨택트 니들(CN) 보다 작은 직경을 가지며 PCB(S)의 접점(CP)에 접촉되는 다수개의 검사 니들(IN) 간을 전기적으로 연결하는 것으로서, 제 1 커넥터부(10), 미들 커넥터부(20) 및 제 2 커넥터부(30)를 포함한다.
제 1 커넥터부(10)는 다수개의 검사 니들(IN)과 미들 커넥터부(20)를 전기적으로 연결하기 위한 것으로서, 다수개의 검사 니들(IN)과 동일한 직경을 가지고, 각각의 일단부가 다수개의 검사 니들(IN)에 연결되며 각각의 타단부가 미들 커넥터부(20)에 연결되는 다수개의 제 1 도전성 와이어(13)로 이루어진다.
미들 커넥터부(20)는 제 1 커넥터부(10)와 제 2 커넥터부(30)를 전기적으로 연결하기 위한 것으로서, 일정 폭과 길이를 가지는 제 1 기판유닛(21)과, 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 폭을 가지고 제 1 기판유닛(21)의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되며 각각의 일단부가 제 1 도전성 와이어(13)의 타단부에 연결되는 제 1 배선부(22)를 포함하여 이루어진다.
여기서, 제 1 기판유닛(21)은 제 1 배선부(22)의 형성 영역을 제공하는 것으로서, 연성 재질로 이루어진 플렉시블 기판 또는 경성 재질로 이루어진 플랫 기판 중 선택된 어느 하나가 사용될 수 있다.
그리고, 제 1 배선부(22)는 제 1 기판유닛(21)의 일면에 도전성 물질이 코팅되는 도전성 패턴의 형태로 형성될 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 제 1 기판유닛(21)의 일면에 형성되어 제 1 커넥터부(10)와 제 2 커넥터부(30)를 전기적으로 연결할 수 있는 수단이면 어느 것이든 가능하다.
제 2 커넥터부(30)는 미들 커넥터부(20)와 다수개의 컨택트 니들(CN) 간을 전기적으로 연결하기 위한 것으로서, 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 직경을 갖고, 각각의 일단부가 다수개의 제 1 배선부(22)의 타단부에 연결되며, 각각의 타단부가 다수개의 컨택트 니들(CN)에 연결되는 다수개의 제 2 도전성 와이어(33)로 이루어진다.
위와 같이, 본 발명은 미들 커넥터부(20)에 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 폭을 갖는 도전성 패턴으로 이루어진 제 1 배선부(22)를 형성하여, 작은 직경을 갖는 제 1 도전성 와이어(13)가 검사 니들(IN)과 미들 커넥터부(20) 간을 전기적으로 연결하고, 보다 큰 직경을 갖는 제 2 도전성 와이어(33)가 미들 커넥터부(20)와 컨택트 니들(CN) 간을 연결하게 된다.
즉, 본 발명은 미들 커넥터부(20)를 통해 미들 커넥터부(20)와 다수개의 컨택트 니들(CN) 간을 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 직경을 갖는 제 2 도전성 와이어(33)로 연결함에 따라 종래 검사 니들과 동일한 직경을 갖는 도전성 와이어를 컨택트 니들(CN)에 연결하는 것에 비해 연결 작업을 보다 용이하게 할 수 있어 작업성이 현저하게 향상된다.
또한, 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 폭을 갖는 제 1 배선부(22)와 제 2 도전성 와이어(33)를 통해 컨택트 니들(CN)과 검사 니들(IN) 간에 임피던스가 높은 제 1 도전성 와이어(13)를 통한 신호 전달 루트를 최소화하고, 임피던스가 낮은 신호 전달 루트를 제공함으로써 전달되는 전기적 신호의 손실이 최소화되어 검사 신뢰도가 현저하게 향상된다.
아울러, 매우 작은 직경을 갖는 제 1 도전성 와이어(13)를 통한 신호 전달 루트가 최소화됨에 따라 단선 발생 위험이 현저하게 감소하게 된다.
도 3은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리가 PCB 검사지그에 설치된 상태를 보여주는 개략적인 도면이고, 도 4는 도 3의 A 부분을 개략적으로 도시한 사시도이고, 도 5는 도 3의 A 부분을 개략적으로 도시한 분해사시도이다.
도 3 내지 도 5를 참조하면, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리는 본 발명의 제 1 실시예와 비교하여 제 2 커넥터부의 구성이 상이할 뿐, 나머지 구성은 본 발명의 제 1 실시예와 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
본 발명의 제 2 실시예에서, 제 2 커넥터부(30)는 제 2 기판유닛(31), 제 2 배선부(32) 및 커넥터유닛(34)을 포함한다.
제 2 기판유닛(31)은 제 2 배선부(32)의 형성 영역을 제공하는 것으로서, 일정 폭과 길이를 가지고, 후술하는 제 2 배선부(32)의 단부를 미들 커넥터부(20)의 제 1 배선부(22)의 단부와 다수개의 컨택트 니들(CN)에 용이하게 연결할 수 있도록 연성 재질로 이루어진 플렉시블 기판이 사용된다.
제 2 배선부(32)는 제 1 도전성 와이어(13)의 직경보다 큰 폭을 가지고 제 2 기판유닛(31)의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되되, 각각의 일단부가 다수개의 제 1 배선부(22)의 타단부에 연결되며, 각각의 타단부가 다수개의 컨택트 니들(N)에 연결된다.
그리고, 제 2 배선부(32)는 제 2 기판유닛(31)의 일면에 도전성 물질이 코팅되는 도전성 패턴의 형태로 형성될 수 있으나, 본 발명은 이에 한정되는 것은 아니며, 제 2 기판유닛(31)의 일면에 형성되어 미들 커넥터부(20)와 다수개의 컨택트 니들(CN)간을 전기적으로 연결할 수 있는 수단이면 어느 것이든 가능하다.
커넥터유닛(34)은 제 2 커넥터부(30)에 미들 커넥터부(20)를 착탈 가능하게 결합시키기 위한 것으로서, 몸체(34a)와 체결판(34b)을 포함한다.
몸체(34a)는 일단부 하면에 제 2 기판유닛(31)의 일단부가 솔더링 접합되고, 타단부 상면이 개방되어 미들 커넥터부(20)의 제 1 기판유닛(21)이 안착되는 안착공간(R)을 제공한다.
그리고, 안착공간(R)이 형성된 몸체(34a)의 타단부 일측에는 도면에 도시하진 않았으나, 안착공간(R)에 안착되는 제 1 기판유닛(21)과 몸체(34a)의 일단부 하면에 솔더링 접합되는 제 2 기판유닛(31)의 일단부를 전기적으로 연결하는 구조가 형성된다.
체결판(34b)은 판상의 부재로서, 양단부가 몸체(34a)의 대향하는 양측에 회동 가능하게 결합되고, 안착공간(R)에 수용되는 제 1 기판유닛(21) 방향으로 회동하여 제 1 기판유닛을 가압하여 고정하거나, 반대 방향으로 회동되어 제 1 기판유닛을 가압 해제하는 역할을 한다.
위와 같이, 본 발명의 제 2 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리(1)는 제 2 커넥터부(30)를 플렉시블한 기판의 형태로 제공함에 따라 연결 작업시 다수개의 도전성 와이어와 같이 일일이 정렬하는 작업이 요구되지 않으므로 제 2 커넥터부(30)를 미들 커넥터부(20)와 다수개의 컨택트 니들(CN)에 연결하는 연결작업을 보다 용이하게 수행할 수 있게 된다.
그리고, 도전성 와이어를 사용하지 않음에 따라 연결 작업 중에 도전성 와이어가 단선되는 문제가 발생하지 않게 된다.
또한, 검사 대상 PCB 기판의 종류에 따라 다수개의 검사 니들(IN)과 미들 커넥터부(20)의 제 1 배선부(22) 간의 연결부위가 가변될 수 있는데, 본 발명은 커넥터유닛(34)을 통해 미들 커넥터부(20)를 착탈 가능하게 결합시킬 수 있으므로 검사 대상 PCB 기판의 검사를 위한 제 1 커넥터부(10)와 미들 커넥터부(20)의 연결 조합을 여러 개 준비하여 검사 대상 PCB 기판의 종류가 바뀌더라도 제 1 커넥터부(10)와 미들 커넥터부(20)의 연결 조합만을 교체하여 신속하게 대응할 수 있다.
도 6은 본 발명의 제 3 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리의 미들 커넥터부를 개략적으로 도시한 것이다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 제 3 실시예에 따른 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리(1)는 본 발명의 제 1 실시예 및 제 2 실시예와 비교하여 미들 커넥터부(20)의 제 1 시그널 유닛(22)의 형성 구조에 차이가 있을 뿐, 나머지 구성은 본 발명의 제 1 실시예 및 제 2 실시예와 동일하므로 이에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
본 발명의 제 3 실시예에 따른 미들 커넥터부(20)는 도시된 바와 같이, 다수개의 검사 니들(IN)과 연결되는 다수개의 제 1 배선부(22)의 이웃하는 일단부가 제 1 기판유닛(21)의 길이 방향에 대해 일정 간격 이격된 전/후방에 배치되는 것을 특징으로 한다.
위와 같이, 본 발명은 미들 커넥터부(20)의 다수개의 제 1 배선부(22)의 이웃하는 일단부가 제 1 기판유닛(21)의 길이 방향에 대해 일정 간격 이격된 전/후방에 배치됨에 따라 다수개의 제 1 배선부(22) 간의 피치 간격을 보다 넓게 제공할 수 있게 된다.
이에 따라, 본 발명은 매우 작은 직경을 가지는 제 1 커넥터부(10)의 제 1 도전성 와이어(13)를 미들 커넥터부(20)에 보다 용이하게 연결할 수 있게 된다.
비록 본 발명이 상기 바람직한 실시 예들과 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서, 첨부된 특허 청구범위는 본 발명의 요지에 속하는 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.
1 : 커넥터 어셈블리 10 : 제 1 커넥터부
13 : 제 1 도전성 와이어 20 : 미들 커넥터부
21 : 제 1 기판유닛 22 : 제 1 배선부
30 : 제 2 커넥터부 31 : 제 2 기판유닛
32 : 제 2 배선부 33 : 제 2 도전성 와이어
34 : 커넥터유닛 34a : 몸체
34b : 체결판

Claims (4)

  1. PCB의 전기적 검사를 수행하는 PCB 검사지그의 상/하부 지그 각각의 일측에 형성되고 외부의 테스트 유닛과 연결되는 다수개의 컨택트 니들과, 상기 상/하부 지그 각각의 타측에 형성되고 상기 PCB의 접점에 접촉되는 다수개의 검사 니들 간을 전기적으로 연결하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리에 있어서,
    각각의 일단부가 상기 다수개의 검사 니들에 연결되는 다수개의 제 1 도전성 와이어로 이루어진 제 1 커넥터부와;
    제 1 기판유닛과, 상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 폭을 가지고 상기 제 1 기판유닛의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되며 각각의 일단부에 상기 다수개의 제 1 도전성 와이어의 타단부가 연결되는 제 1 배선부를 포함하는 미들 커넥터부와;
    각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되고, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들에 연결되는 제 2 커넥터부를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 커넥터부는
    상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 직경을 갖고, 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되며, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들 간에 연결되는 다수개의 제 2 도전성 와이어로 이루어지는 것을 특징으로 하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 2 커넥터부는
    제 2 기판유닛과;
    상기 제 1 도전성 와이어의 직경보다 큰 폭을 갖고, 상기 제 2 기판유닛의 일면에 다수개가 일정 간격 이격되게 형성되되, 각각의 일단부가 상기 다수개의 제 1 배선부의 타단부에 연결되고, 각각의 타단부가 상기 다수개의 컨택트 니들에 연결되는 제 2 배선부와;
    상기 제 2 기판유닛의 일단부에 결합되고, 상기 제 1 기판유닛의 타단부를 상기 제 2 기판유닛의 일단부에 착탈 가능하게 결합시키는 커넥터유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 다수개의 제 1 배선부는 이웃하는 일단부가 상기 제 1 기판유닛의 길이 방향에 대해 일정 간격 이격되게 배치되는 것을 특징으로 하는 PCB 검사지그의 커넥터 어셈블리.
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KR20070062107A (ko) * 2005-12-12 2007-06-15 삼성전자주식회사 연성 인쇄 회로 기판, 커넥터, 커넥터 결합 어셈블리 및이들을 포함하는 액정 표시 장치
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KR102044231B1 (ko) * 2018-07-09 2019-11-13 바이옵트로 주식회사 스캔 보드가 구비된 검사 장치

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