KR20160078517A - 나노구조 프로세싱을 위한 도전성 보조층의 증착과 선택적 제거 - Google Patents

나노구조 프로세싱을 위한 도전성 보조층의 증착과 선택적 제거 Download PDF

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KR20160078517A
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요나스 베리
빈센트 데스마리스
모하마드 샤피쿨 카비르
아민 무하마드
다비드 브루드
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스몰텍 에이비
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Abstract

본 발명은 기판의 상부 표면상에 도전성 보조층(conducting helplayer)을 증착하는 단계; 도전성 보조층 상에 촉매의 패턴화된 층을 증착하는 단계; 촉매의 층 상에 하나 이상의 나노구조들을 성장시키는 단계; 및 하나 이상의 나노구조들 사이 및 주위에 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함하는 하나 이상의 나노구조들을 제조하는 방법에 관한 것이다. 또한 하나 이상의 절연 영역에 의해 분리된 하나 이상의 노출된 금속 아일랜드를 포함하는 기판; 하나 이상의 노출된 금속 아일랜드 또는 절연 영역의 적어도 일부를 덮는 기판상에 배치된 도전성 보조층; 도전성 보조층 상에 배치된 촉매층; 및 촉매층 상에 배치된 하나 이상의 나노구조들을 포함하는 디바이스에 관한 것이다.

Description

나노구조 프로세싱을 위한 도전성 보조층의 증착과 선택적 제거{Deposition and Selective Removal of Conducting Helplayer for Nanostructure Processing}
본 발명은 나노구조들의 화학적기상증착(CVD)의 분야에 관한 것으로, 더욱 구체적으로 나노구조들의 성장 동안 플라즈마-유발 손상들을 감소 또는 제거하여 도전성 표면들과 절연 표면들 모두에서 나노구조들의 자가-정렬 성장을 가능하게 하는 것이다.
본 명세서에 기술된 기술은 탄소 나노구조들(예를 들어, 탄소 나노튜브, 탄소나노섬유 및 탄소 나노와이어)과 같은 나노구조들에 관한 것이나 이에 제한되지 않는다. 이런 나노구조들은 높은 열 및 전기 전도성 때문에 최근 수년간 관심을 받고 있다.
탄소 나노튜브들은 아크 방전 방법, 레이저 제거 또는 화학적기상증착(CVD)으로 제조될 수 있다. 촉매는 나노구조들의 성장을 얻도록 CVD 프로세싱에 사용된다. 2개의 가장 빈번하게 사용된 CVD 방법은 열 CVD와 플라스미드-강화 CVD(즉, 플라스미드 CVD)이다. 열 CVD에서, 나노구조들의 형성에 필요한 에너지는 열 에너지이다. 플라즈마 CVD에서, 나노구조들의 형성에 필요한 에너지는 플라즈마이다. 플라즈마 CVD는 열 CVD에서 사용된 것보다 더 낮은 온도에서 나노구조들을 성장시킬 수 있다. 플라즈마 CVD에서 더 낮은 성장 온도는 나노구조들이 성장하는 기판은 과도한 온도에서 주로 손상되기 때문에 현저한 장점이다.
라디오-주파수 플라즈마 CVD, 유도-결합 플라즈마 CVD 및 직류 플라즈마 CVD를 포함하는 여러 형태의 플라즈마 CVD가 존재한다. 직류 플라즈마 CVD(DC-CVD)는 기판 표면에 밀접한 전기장이 성장하는 나노구조들의 정렬을 가능하게 하기 때문에 종종 바람직하다. 일부 예들에서, 전기장은 기판에 실질적으로 직각인 나노구조 정렬을 만든다. 일부 예들에서, 직각 방향으로부터 다른 각 편차와의 정렬은 원하는 대로 얻을 수 있다.
도 1a-1e는 나노구조들이 기판상에 성장될 수 있는 다양한 구조를 도시한다. 도 1a는 도전성 기판(100)상의 패턴화된 촉매층(102 및/또는 104)으로부터 성장하는 나노구조들(106 및/또는 108)을 위한 구조를 도시한다. 나노구조(106)는 소형 촉매 도트(102) 상에서 성장하는 단일 나노구조인 반면, 나노구조(108)는 대형 촉매 영역(104) 상에서 성장하는 나노구조들의 "포레스트"(여러 개의 밀접하게 이격된 나노구조들)이다. 도 1b는 절연성 기판(110) 상에 증착된 연속적인 금속 하부층(112) 상에 패턴화된 촉매층들(102 및/또는 104)으로부터 나노구조들(106 및/또는 108)을 성장시키기 위한 구조를 도시한다. 소형 촉매 도트(102)는 개별 나노구조(106)를 형성하는 반면, 대형 촉매 영역(104)은 나노구조들(108)의 "포레스트"(여러 개의 밀접하게 이격된 나노구조들)를 형성한다. 나노구조들을 성장시키는 DC-CVD를 사용하는 이런 두 구조는 비교적 수월하다.
그러나, 패턴화된 촉매층들(102 및/또는 104)이 절연체(110) 상에(도 1c에 도시됨) 또는 절연체(110) 위의 절연된 금속 아일랜드(114) 상에(도 1d에 도시됨) 직접 증착되는 경우 문제들은 발생한다. 이 문제들은 금속 아일랜드 주위에 절연 영역이 있는 경우, 심지어 금속 아일랜드가 기판의 다른 부분들에 전기적으로 연결되는 경우에도 가장 빈번하게 발생할 것이다. 전기 아크는 성장 공정 동안 발생할 것이고 스퍼터링 때문에 성장 구조에 손상을 일으킬 것이다. 아크는 아크에 의해 발생한 과전압에 의해 성장 구조들에 연결된 전자 디바이스들을 손상시킬 수 있다. 도 2는 아킹 때문에 기판상에 발생한 손상의 한 예를 도시한다. 이런 과전압들은 디바이스들이 최상부 금속 층들에 전기적으로 연결되기 때문에 디바이스들이 여러 재료층들 아래 묻히는 경우에도 디바이스들을 손상시킬 수 있다. 미국특허 5,651,865는 DC 플라즈마에서 다른 도전성 표면상에 절연 지역을 갖는 것과 관련된 문제들의 상세한 설명을 제공한다.
아크와 관련된 문제들을 줄이기 위해 DC 전원공급장치의 개선들을 기술하는 일부 제안된 해결책들이 있다. 예를 들어, 미국특허 5,576,939 및 미국특허 6,943,317은 아크의 개시시에 전원의 극성을 차단하거나 뒤집는 방법들을 기술한다. 미국특허 5,584,972는 전원공급장치와 전극들 사이의 인덕터와 다이오드를 연결하는 것을 기술한다. 미국특허 7,026,174는 아킹을 줄이기 위해 바이어스 전압에 웨이퍼를 놓는 것을 기술한다. 미국특허 5,651,865는 절연 지역들을 가진 샘플들 상에 나노구조 성장을 가능하게 할 수 없는 다른 도전성 표면으로부터 임의의 절연체를 우선적으로 스퍼터하기 위한 플라즈마 전압의 주기적 극성 변화를 개시한다.
패턴화된 금속 하부층 상에 나노섬유를 제조하기 위한 방법들은 일부 출원, 예를 들어, 미국특허 6,982,519에서 도시되었다. 개시된 방법들은 패턴화된 촉매층을 사용하는 연속적인 금속 하부층 상에 나노섬유를 성장시키고 광학 리소그래피를 사용하여 금속 하부층을 패터닝하는 단계로 이루어진다. 개시된 방법은 성장을 위한 연속적인 금속 하부층을 필요로 하고 금속 하부층의 패터닝은 이후에 만들어진다.
미국특허 6,982,519에 개시된 이 기술은 수평 금속 도체(116)(예를 들어, 도 1e)는 화학적 기계적 연마를 사용하여 층간 절연막에 있는 홈들에 형성되는 집적 회로에서 배선 층들의 표준(CMOS) 프로세싱과 융화될 수 없다. 연마 후, 바이어스의 다음 층들(수직 배선)은 배선층의 상부와 옆에 형성된다. 따라서 배선들의 임의의 패터닝(패턴화된 금속 하부층들을 얻기 위함)은 바이어스의 다음 층의 제조 이전에 이루어져야 한다.
미국특허 6,982,519에 기술된 방법들로, 절연 기판상에 나노구조들을 직접 성장시키는 것은 불가능하며 리소그래피 후 나노구조들 사이에 금속이 잔존하게 될 것과 같이 기판은 절연상태로 남게 될 것이다. 일부 응용분야에서, 예를 들어, 절연체들(연속적인 금속 층이 요구되지 않음)로부터 열 전달에서 나노구조가 덮인 표면을 절연(예를 들어, 도 1c에서 절연 표면(110) 상에 나노구조들을 성장시킴)하는 것이 바람직하다.
게다가, 존재하는 금속 아일랜드(도 1d에 도시됨) 상에 나노구조들을 성장시키는 것이 편리하고 문제는 도 2에 도시된 SEM 사진에 도시된 대로 플라즈마-유발 칩 손상에 의해 실증된다.
도 1e에 도시된 구조는 패턴화된 금속 하부층(116)의 약간 아래 놓인(또는 디바이스가 배향된 방식에 따라 위에 놓인) 바이어스(118)(수직 배선)를 포함한다. 패턴화된 금속 하부층(116)(수평 배선) 또는 임의의 존재하는 전통적인-형태의 바이어스(118)(수직 배선) 상에 직접 나노구조를 형성하는 것이 바람직할 수 있다.
미국특허 6,982,519에 의해 언급되지 않은 다른 문제는 집적 회로의 제조에 사용된 모든 금속들이 나노구조의 성장을 위해 사용된 플라즈마 기체들과 융화되지 않는 것이다. 예를 들어, 미국출원 공개공보 2008/00014443은 해로운 화학 반응이 존재하기 때문에 아세틸렌-함유 플라즈마에서 구리를 사용하는 것이 불가능하다는 것을 언급한다.
미국특허 공개공보 2007/0154623은 상호작용을 막기 위해 유리 기판과 촉매 사이에 버퍼층을 사용하기 위한 방법을 기술한다. 미국출원 공개공보 2007/0259128은 탄소 나노튜브의 위치 밀도(site density)를 제어하기 위해 간층(interlayer)을 사용하는 방법을 기술한다. 이런 출원은 이미 패턴화된 하부층들 상에 나노구조 성장 또는 아크 제거에 대한 요구를 충족하지 못한다.
금속 하부층에 의해 단지 부분적으로 덮인 칩 상에 나노구조를 성장시킬 때, 촉매 입자들 밖에 기생 성장이 때때로 존재한다. 이것이 칩 표면을 따라 원치 않는 누설 전류를 일으킬 수 있다.
따라서, 민감한 전자 디바이스들의 아크 유발 칩 손상과 과전압 손상의 문제 또는 사용된 재료들의 불융화성, 플라즈마 성장 프로세싱 동안 기생 성장에 의한 문제들을 갖지 않은 미리 패턴화된 금속 하부층 상에 나노구조들을 성장시키는 방법의 요구가 존재한다. 다양한 실시예들에서, 본 명세서에 기술된 기술은 이런 프로세싱 관련 문제들의 일부 또는 전부를 해결할 수 있다.
본 발명에 대한 배경기술의 논의는 본 발명의 내용을 설명하기 위해 포함된다. 이것은 언급된 모든 재료들이 발행되고, 공지되거나 청구항 중 어떤 것의 우선일에 일반적인 상식의 일부인 것을 허용하는 것으로 생각되지 않는다.
본 명세서에 기술된 기술은 나노구조들의 화학적기상증착(CVD)의 분야에 관한 것으로, 더욱 구체적으로 나노구조들의 성장 동안 플라즈마-유발 손상들을 감소 또는 제거하여 도전성 표면들과 절연 표면들 모두에서 나노구조들의 자가-정렬 성장을 가능하게 하는 것이다.
한 태양에서, 하나 이상의 나노구조들을 제조하는 방법은 기판의 상부 표면상에 도전성 보조층(conducting helplayer)을 증착하는 단계; 도전성 보조층 상에 촉매의 패턴화된 층을 증착하는 단계; 촉매의 층 상에 하나 이상의 나노구조들을 성장시키는 단계; 및 하나 이상의 나노구조들 사이 및 주위에 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함한다.
일부 실시예들에서, 촉매의 층은 증착된 후 패턴화된다. 일부 실시예들에서, 기판은 기판의 상부 표면과 동일한 공간에 있고 도전성 보조층으로 덮인 금속 하부층을 추가로 포함한다. 일부 실시예들에서, 금속 하부층이 패턴화된다. 일부 실시예들에서, 금속 하부층은 Cu, Ti, W, Mo, Pt, Al, Au, Pd, P, Ni 및 Fe로부터 선택된 하나 이상의 금속을 포함한다. 일부 실시예들에서, 금속 하부층은 TiN, WN 및 AlN으로부터 선택된 하나 이상의 도전성 합금을 포함한다. 일부 실시예들에서, 금속 하부층은 하나 이상의 도전성 폴리머를 포함한다. 일부 실시예들에서, 기판은 반도체이다. 일부 실시예들에서, 기판은 절연체이다. 일부 실시예들에서, 기판은 상부에 적어도 하나의 도전성 층을 가진 절연체를 포함한다. 일부 실시예들에서, 증착들 중 임의의 것은 증발, 도금, 스퍼터링, 분자빔 에피택시, 펄스 레이저 증착, CVD 및 스핀 코팅으로부터 선택된 방법에 의해 수행된다. 일부 실시예들에서, 하나 이상의 나노구조들은 탄소, GaAs, ZnO, InP, InGaAs, GaN, InGaN, 또는 Si를 포함한다. 일부 실시예들에서, 하나 이상의 나노구조들은 나노섬유, 나노튜브 또는 나노와이어를 포함한다. 일부 실시예들에서, 도전성 보조층은 반도체, 도전성 폴리머 및 합금으로부터 선택된 재료를 포함한다. 일부 실시예들에서, 도전성 보조층은 1nm 내지 100 마이크론 두께이다. 일부 실시예들에서, 하나 이상의 나노구조들은 플라즈마에서 성장된다. 일부 실시예들에서, 도전성 보조층의 선택적 제거는 식각에 의해 완성된다. 일부 실시예들에서, 식각은 플라즈마 건식각이다. 일부 실시예들에서, 식각은 전기화학적 식각이다. 일부 실시예들에서, 식각은 광화학적 열분해 식각이다. 일부 실시예들에서, 식각은 열분해 식각이다. 일부 실시예들에서, 이 방법은 도전성 보조층과 촉매의 층 사이의 추가층을 증착하는 단계를 더 포함한다.
한 태양에서, 디바이스는 하나 이상의 절연 영역에 의해 분리된 하나 이상의 노출된 금속 아일랜드를 포함하는 기판; 하나 이상의 노출된 금속 아일랜드 또는 절연 영역의 적어도 일부를 덮는 기판상에 배치된 도전성 보조층; 도전성 보조층 상에 배치된 촉매층; 및 촉매층 상에 배치된 하나 이상의 나노구조들을 포함한다. 일부 실시예들에서, 나노구조들은 배선들이다.
한 태양에서, 하나 이상의 나노구조들을 제조하는 방법은 기판의 상부 표면상에 금속 하부층을 증착하는 단계; 금속 하부층 상에 촉매층을 증착하는 단계; 촉매층 상에 절연층을 증착하는 단계; 절연층 상에 도전성 보조층을 증착하는 단계; 도전성 보조층으로부터 촉매층까지 절연층을 통해 비아홀들을 형성하는 단계; 비아홀들을 통해 촉매층 상에 하나 이상의 나노구조들을 성장시키는 단계; 및 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함한다.
한 태양에서, 하나 이상의 나노구조들을 포함하는 디바이스는 기판의 상부 표면상에 금속 하부층을 증착하는 단계; 금속 하부층 상에 촉매층을 증착하는 단계; 촉매층 상에 절연층을 증착하는 단계; 절연층 상에 도전성 보조층을 증착하는 단계; 도전성 보조층으로부터 촉매층까지 절연층을 통해 비아홀들을 형성하는 단계; 비아홀들을 통해 촉매층 상에 하나 이상의 나노구조들을 성장시키는 단계; 및 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함하는 공정에 의해 제조된다.
한 태양에서, 하나 이상의 나노구조들을 제조하는 방법은 노출된 패턴화된 금속 하부층 또는 노출된 절연층을 포함하는 기판상에 도전성 보조층을 증착하는 단계; 도전층 위에 배치되거나 노출된 절연층 아래에 배치되는 촉매층으로부터 나노구조들을 성장시키는 단계; 및 식각에 의해 도전성 보조층의 전부 또는 일부를 선택적으로 제거하는 단계를 포함한다.
상기 방법과 디바이스는 다음 장점들의 하나 이상을 제공할 수 있다.
일부 실시예들에서, 상기 방법은 하나 이상의 미리-패턴화된 금속 하부층(들)뿐만 아니라 전기적으로 절연된 기판들 상에서 나노구조들의 성장을 가능하게 한다. 상기 방법은 기판들에 포함된 전기 민감성 디바이스들에 대한 아크 손상에 대해 보호를 제공할 수 있다. 금속 하부층(들) 또는 절연층(들)과 융화할 수 없는 기체들을 함유하는 성장 플라즈마에 대한 제한이 제거될 수 있다.
일부 실시예들에서, 상기 방법은 기판의 상부 표면을 덮는 연속적인 전기적으로 도전성인 보조층을 증착하고, 보조층 위에 촉매층을 증착(및/또는 패터닝)하는 단계, 촉매층 상에 나노구조들을 성장시키는 단계 및 나노구조들로 덮이지 않은 영역에 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함한다. 상기 방법은 패턴화된 촉매-보조층 스택 상에 성장하는 자가-정렬된 섬유들을 형성할 수 있다. 성장을 위한 우수한 접지는 성장 공정 동안 연속적인 도전성 보조층에 의해 이루어지고, 이것이 아킹 문제를 제거한다. 따라서, 상기 방법은 나노구조들이 성장된 후 도전성 보조층을 제거하는 것이 쉽기 때문에 이미 패턴화된 금속 하부층(들) 또는 절연층(들) 상에 구체적으로 지정된 위치에서 나노구조들 성장시키는 것을 가능하게 한다.
일부 실시예들에서, 나노구조들은 절연층을 통해 성장되며, 상기 방법은 기판상에 촉매층을 증착(도체화 또는 절연화하는 단계)하는 단계, 촉매층 상에 절연층을 증착하는 단계, 절연층 위에 연속적인 패턴화된 도전성 보조층을 증착하는 단계, 절연층을 통해 촉매층까지 비아홀을 형성하기 위해 절연층의 일부 부분을 선택적으로 제거하는 단계, 촉매층으로부터 나노구조들을 성장시키는 단계 및 마지막으로, 나노구조들로 덮이지 않은 영역에서 도전성 보조층을 선택적으로 제거하는 단계를 포함한다.
본 명세서에 기술된 기술의 다른 장점은 칩 표면상의 모든 전기 커넥터들이 서로 단락되고 접지되기 때문에 기판상에 민감한 전기 디바이스들이 플라즈마의 고전압으로부터 보호된다는 것이다. 본 명세서에 기술된 기술은 실질적으로 모든 아크를 제거하나, 비록 일부 스파크(예를 들어, 기판 프로세싱 동안 정전기에 의해 발생)가 존재하는 경우 스파크들의 손상 효과는 현저하게 감소한다.
세 번째 장점은 (가능하면 패턴화된)나노구조들의 성장 동안 플라즈마로부터 보호된다. 이것은 성장을 위해 사용된 기체들과 융화할 수 없는 금속 하부층(들) 또는 절연층(들) 상에서 나노구조들이 성장할 때 중요하다. 예를 들어, 아세틸렌-함유 플라즈마를 사용하는 구리 표면상의 성장은, 이런 재료들은 항상 융화할 수 없기 때문에, 나노구조의 성장 동안 해로운 효과들을 발생시킨다. 본 명세서에 기술된 방법들을 사용함으로써, 플라즈마 기체들과 기판들 또는 금속 하부층들 사이의 융화성에 대한 이런 제한들이 제거될 수 있다.
네 번째 장점은 촉매 외부의 기생 성장을 피한다는 것이다.
도전성 보조층의 제거가 자가-정렬 공정이기 때문에, 개개의 나노구조들은 절연상태로 남을 수 있는 절연층/기판상에 또는 절연층/기판을 통해 성장할 수 있다. 이것은 도전성 보조층 재료는 보조층이 촉매층 위에 증착되는 경우 나노구조들 바로 아래 머물거나 보조층이 촉매층 이외의 층(촉매층과 기판 위에 증착된 절연층)에 위치하는 경우 완전히 제거되도록 도전성 보조층을 선택적으로 제거하여 완성된다.
다른 특징들과 장점들은 상세한 설명과 도면 및 청구항으로부터 명백해질 것이다.
본 발명의 내용 중에 포함되어 있음
도 1a-1e는 기판들 상에 나노구조들을 성장시키기 위한 예시적 구조를 도시한다.
도 2는 스파크에 의해 손상된 칩 표면을 나타내는 SEM(스캐닝 전자 현미경) 이미지이다.
도 3a-3e는 본 명세서에 기술된 기술에 따라 나노구조들을 제조하기 위한 예시적 공정을 도시한다.
도 4a-4b 및 5a-5b는 본 명세서에서 개시된 기술의 다른 실시예를 도시한다.
도 6은 (부분적으로) 절연된 표면들 상에 나노구조들을 성장시키기 위한 예시적 공정의 흐름도이다.
도 7a-7b는 본 명세서에 기술된 기술을 사용하여 제조된 예시적 광 도파관 구조를 도시한다.
도 8a-8b는 절연층을 통해 나노구조들을 성장시키기 위한 예시적 공정을 도시한다.
도 9a-9b는 패턴화된 금속 하부층, 연속적인 도전성 보조층 및 성장된 나노섬유를 가진 패턴화된 촉매층을 가진 예시적 디바이스를 나타내는 SEM 이미지들이다.
도 10은 보조층이 선택적으로 제거된 동일한 예시적 디바이스를 나타내는 SEM 이미지이다.
도 11a-11b는 각각 보조층 제거 전과 후, 하부층으로서 구리를 가진 예시적 디바이스들의 SEM 이미지들이다.
도 12는 미세구조들/나노구조들이 절연층에서 비아홀들을 통해 성장하는 예시적 디바이스의 SEM이미지이다.
본 명세서에 기술된 기술은, 예를 들어, 나노구조들(즉, 나노미터 정도의 적어도 1 치수를 가진 기판들)의 성장의 플라즈마 프로세싱에 관한 것이다. 일부 실시예들에서, 기술은, 마이크로미터 또는 밀리미터 크기 범위로 나노미터 범위 이외의 피쳐 크기를 가진 구조들의 프로세싱에 사용된다.
"기판"은 나노구조들의 성장을 위해 다른 층들이 증착될 수 있는 임의의 층 또는 층들의 표시이다. 기판들은 디바이스들 또는 금속층들 또는 절연체들을 함유하는 반도체들을 포함할 수 있다. 반도체들은 도핑되거나 도핑되지 않은 실리콘, 실리콘 카바이드, II-VI 또는 III-V 재료(GaAs, InP, InGaAs 등) 또는 반도체성 폴리머들을 포함할 수 있다. 기판은 유리 또는 인듐-주석-산화물(ITO)과 같은 투명하고, 도전성이거나 절연성 재료일 수 있다. 기판은 폴리머 층들 또는 인쇄회로기판(PCBs)을 포함할 수 있다. 기판은 평평할 필요가 없고 주름진 구조들을 포함할 수 있다.
"금속 하부층"은 보조층이 노출된 금속 아일랜드(예를 들어, 배선 또는 바이어스) 및/또는 기판과 상부의 노출된 절연층 사이에 배치된 연속적인 도전층을 포함하는 기판 구조상에 증착되기 전에 기판 구조의 상부 표면상에 이미 존재하는 임의의 금속을 포함할 수 있다. 금속 하부층은 Cu, Ti, W, Mo, Pt, Al, Au, Pd, Pt, Ni, Fe 등과 같은 주기율표로부터의 다른 금속들 중 임의의 금속 및/또는 금속 합금 또는 이의 조합을 포함할 수 있다. 금속 하부층은 TiN, WN, AlN과 같은 하나 이상의 도전성 합금을 포함할 수 있다. 금속 하부층은 하나 이상의 도전성 폴리머를 포함할 수 있다. 금속 하부층은 상기 도전성 금속들의 임의의 조합을 포함할 수 있다.
"촉매"는 화학 반응을 촉진하기 위한 금속, 합금 또는 재료 스택이다. 한 예시적 촉매는 니켈로 덮인 실리콘이다. 촉매층은 금 층 및 상부의 Si/Ni 층 사이에 배치된 텅스텐 층과 같은 장벽층을 포함할 수 있다. 촉매는 Ni, Fe, Pt, Pd와 같은 순수 금속 또는 NiFe, NiCr, NiAlFe 등과 같은 금속 합금일 수 있다.
"절연체"는 실리콘 이산화물, 실리콘 질화물 또는 HfO, ZrO 등과 같은 하이-k 재료들, 알루미늄 산화물, 소결된 복합물들, 폴리머들, 레지스터들(예를 들어, SU8), 다른 형태의 폴리아마이드, 소위 로우-k 재료인 ITO 또는 층간 절연체(ILD)와 같은 임의의 전기 절연 재료일 수 있다.
"증착된"은 증발된, 도금된, 스퍼터된 또는 열 또는 플라즈마-강화 CVD와 같은 화학적기상증착, 분자빔 에피택시(MBE), 펄스 레이저 증착(PLD) 또는 스핀 코팅에 의해 증착된 것 중 하나 이상을 의미한다.
"나노구조"는 나노미터 정도의 적어도 1 치수를 가진 구조이다. 나노구조들은 탄소의 나노섬유, 나노튜브 또는 나노와이어, GaAs, ZnO, InP, GaN, InGaN, InGaAs, Si 또는 다른 금속을 포함할 수 있다.
도 3a는 실리콘 칩과 같은 부분적으로 가공된 기판을 도시한다. 본 명세서에 기술된 기술은 기판에 삽입된 배선(116) 및 바이어스(118)(패턴화된 금속 하부층)에 의해 형성된 금속 아일랜드 상에 나노구조들을 성장시키기 위해 절연 기판(110)에 사용된다. 바이어스(118) 및 배선(패턴화된 금속 하부층)(116)은 트렌치들을 식각하고 트렌치들에 있는 금속들을 증착하는 단계를 포함하는 소위 다마신 공정(Damascene process)인 표준 웨이퍼 프로세싱 방법에 따라 제조될 수 있다. 화학적 기계적 연마(CMP)는 기판과 배선의 평평한 상부 표면을 얻기 위해 사용될 수 있다.
도 3e에 도시된 구조들을 제조하기 위해서, 도 6에 도시된 대로 여러 단계가 수행된다. 먼저, 연속적인 도전성 보조층(120)은 기판(110)상에 증착되고(단계 200) 도 3b의 구조를 얻기 위해 패턴화된 금속 하부층(116 및 118)이 기판(110)에 삽입된다. 임의의 전기 도전성 재료가 보조층(120)으로 사용될 수 있다. 도전성 재료들의 예들은 W, Mo 등과 같은 원소들의 주기율표로부터 전기 도전성 원소, 티타늄 질화물과 같은 도전성 합금, 도핑된 실리콘과 같은 반도체들 또는 도전성 폴리머들을 포함한다. 보조층을 위한 재료는 금속 하부층과 보조층을 분리하는 버퍼층이 먼저 증착되지 않는 한 패턴화된 금속 하부층의 재료와 달라야 한다. 기술된 실시예에서, 텅스텐 층은 연속적인 도전성 보조층(120)으로 사용되었다.
도전성 보조층의 두께는 약 1nm 내지 100㎛, 바람직하게는 약 1nm 내지 100nm일 수 있다. 한 실시예에서, 50nm 층의 텅스텐이 사용된다. 일부 실시예들에서, 단지 하나의 보조층만이 사용된다. 그러나, 본 명세서에 기술된 기술은 재료의 한 층을 가진 보조층만을 갖도록 제한되지 않으며, 보조층은 분리, 접착, 식각 선택성을 향상시키기 위해 여러 층들을 포함할 수 있거나 식각 정지층, 전해도금을 위한 씨드층 또는 보호층으로 작용할 수 있다. 또한, 펠티에 재료들과 같은 높거나 낮은 열 전도성을 가진 층들과 같은 열 조절을 위한 층들이 포함될 수 있다.
본 명세서에 기술된 기술은 보조층으로서 여러 다른 재료들과 사용될 수 있다. 나노구조들이 보조층의 식각 동안 자가-정렬 마스크 층으로 사용되도록 보조층 재료와 식각 변수들을 선택하는 것이 중요하다. 보조층 재료의 선택은 보조층 아래 놓인 재료에 의존할 수 있다. 보조층은 촉매일 수 있는데, 이는 선택적 제거 공정이 성장된 나노구조들 사이의 임의의 원치 않는 촉매 나머지를 제거하는데 사용될 수 있기 때문이다.
패턴화된 촉매층들(102 및/또는 104)은 나노구조들이 성장하게 될 곳을 형성한다. 촉매는 니켈, 철, 백금, 팔라듐, 니켈-실리사이드, 코발트, 몰리부덴 또는 이의 합금일 수 있거나 다른 재료들(예를 들어, 실리콘)과 결합될 수 있다. 촉매는, 본 명세서에 기술된 기술이 나노구조들을 위한 촉매-제거 성장 공정에 사용될 수 있기 때문에, 선택적일 수 있다. 소형 촉매 도트(102)를 포함하는 패턴화된 촉매층은 개개의 나노구조를 형성할 것이고, 대형 촉매 지역(104)을 포함하는 패턴화된 촉매층은 나노구조들의 "포레스트"를 형성할 것이다.
촉매층을 패턴화하기 위해서(도 6의 단계(220)), 레지스트에 의한 표준 에치-백 또는 리프트-오프 프로세싱이 사용될 수 있다. UV광 또는 전자빔은 레지스트 층을 패턴화하는데 사용될 수 있다. 나노임프린트 리소그래피 또는 레이저 라이팅과 같은 다른 수단도 레지스트(또는 촉매를 직접)를 패턴화하는데 사용될 수 있다. 촉매층은 레지스트를 사용하지 않는 방법, 예를 들어, 자가-결합 화학적 방법(self-assembled chemical methods)으로 패턴화될 수 있다. 촉매 입자들이 어레이는 랭뮤어-블로젯 막(Langmuir-Blodgett films), 촉매(나노-) 입자들과 용액을 웨이퍼 상에 회전하거나 고온에서 어닐링 동안 촉매 입자들로 변형되는 연속적인 촉매 막을 증착하는 것을 사용하여 표면상에 형성될 수 있다. 여러 이런 기술들은 평평하지 않은 표면들 상에 촉매층을 형성시키고 성장 위치 밀도(단위 면적당 성장 위치의 수)를 제어하기 위해 사용될 수 있다.
나노구조들의 성장 동안, 도전성 보조층은 기판 홀더의 전위 또는 일부 다른 적절한 접지 전위에 전기적으로 접지 또는 연결될 수 있다. 나노구조들(106 및/108)은 플라즈마, 특히 DC-플라즈마에서 성장될 수 있다(도 6의 단계 230). 나노구조 성장을 위해 사용된 플라즈마 기체들은 암모니아, 수소, 아르곤 또는 질소와 같은 다른 기체들과 함께 아세틸렌, 일산화탄소, 메테인 또는 고급 탄화수소와 같은 임의의 탄소 운반 전구체일 수 있다. 성장 온도는 800℃ 미만이 바람직하다. 약 0.1 내지 250Torr 및 바람직하게는 약 0.1 내지 100Torr 범위의 압력이 사용될 수 있다. 플라즈마 전류는 10mA 내지 100A 및 바람직하게는 약 10mA 내지 1A일 수 있다.
일부 실시예들에서, RF-플라즈마 또는 열 CVD가 나노구조들을 성장시키는데 사용될 수 있고, 본 명세서에 사용된 기술은 특히 DC-바이어스를 가진 RF-플라즈마에 대한 응용분야를 가진다. 일부 실시예들에서, 본 명세서에 기술된 기술은 기체상(플라즈마 없음)과 액체상에서 성장된 나노구조들에 대한 응용분야를 가진다.
본 명세서에 기술된 기술에 따른 일부 실시예들에서, 성장 단계(들) 후, 도전성 보조층은 식각에 의해 선택적으로 제거된다(도 6의 단계 240). 식각 방법과 식각 기체들(건식 식각의 경우) 또는 식각액(습식 식각의 경우)은 나노구조들과 도전성 보조층의 재료에 따라 선택된다. 예를 들어, 탄소 나노섬유 아래 위치된 텅스텐을 포함하는 보조층은 불소-함유 플라즈마를 사용하는 플라즈마 건식 식각에 의해 제거되는 것이 바람직할 수 있다. 이 조합의 장점은 나노구조들과 촉매 입자들에 대한 상대적 민감성이다.
다른 비등방성 식각 방법, 습식(등방성) 식각, 열분해, 전기화학적 식각 또는 광화학적 식각과 같은 다른 식각 방법이 사용될 수 있다. 식각-정지층을 사용하거나 식각 시간을 변형시킴으로써, 충분하게 강한 식각이 수행될 수 있다. 도전성 보조층과 금속 하부층 사이의 상대적 선택성을 가진 식각액 또는 식각 기체를 선택하는 것이 유리할 수 있다.
자가-정렬 선택적 제거 공정을 사용하여 특정 위치상에서 도전성 보조층(120)을 제거한 후, 최종 구조는 촉매층(122)과 나노구조들(106 및/또는 108)의 나머지 아래 도전성 보조층(124)의 나머지로 구성될 것이다(도 3e 참조).
본 명세서에 기술된 방법으로, 도 3e에 나타낸 대로, 분리된 금속 아일랜드(116) 상에 또는 절연성 기판(110) 상에 직접 개개의 나노구조들(106) 또는 나노구조들의 "포레스트"를 제조할 수 있다.
금속 하부층이 기판의 나머지와 동일한 높이에 있지 않은 경우 나노구조들을 형성하는 것도 가능하다. 도 4a는 절연성 기판(110)의 상부에 증착된 분리된 금속 아일랜드(114)를 기술한다. 연속적인 도전성 보조층(120)은 기판 표면(단계 200) 위에 및 이를 덮도록(over and covering) 증착되고 패턴화된 촉매층(102 및/또는 104)은 연속적인 도전성 보조층 상에 증착된다(단계 220). 나노구조들의 성장(단계 230)과 보조층의 자가-정렬된 선택적 제거(단계 240) 후, 구조는 도 4b에 도시된 대로 나타날 것이다.
도 5a 및 5b에서, 다른 방법에 의해 형성된 최종 구조가 도시된다. 먼저, 연속적인 도전성 보조층(120)이 기판의 상부 표면을 전체에 증착되고(단계 200), 나노구조들에 직각인 방향으로 전기 도전을 허용하기 위해 일부 선택적인 패턴화된 층(126)이 보조층(120) 상에 증착된다(단계 210). 마지막으로 패턴화된 촉매(102 및/또는 104)가 선택적 층 또는 보조층 상에 증착된다(단계 220). 성장 공정(단계 230) 이후, 보조층이 이전 단락에서 기술한 대로 선택적으로 제거된다(단계 240). 본 명세서에 기술된 다른 방법과 같이, 나노구조 성장 이후 리소그래피가 필요하지 않다. 상부에 나노구조들(106 및/또는 108) 및 하부에 보조층(124)의 나머지를 가진 분리된 아일랜드(선택적인 패턴화된 층(126)은 도 5a 및 5b에 도시된 방법에 의해 제조된다.
다른 실시예에서, 도 8a-8c는 촉매층의 상부에 증착된 절연성 재료 층에 형성된 비아홀들을 통해 나노구조들을 성장시키는 방법을 도시한다. 먼저 촉매층(102 및/또는 104)을 도전성 기판(100) 상에 증착한다. 그러나 이 경우 기판은 절연성 기판일 수도 있다. 절연층(110)을 기판상과 촉매층 상에 증착한다. 패턴화된 도전성 보조층(134)을 절연층(110)의 상부에 증착한다. 일부 실시예들에서, 연속적인 도전성 보조층을 먼저 절연층의 상부에 증착할 수 있고 다양한 적절한 방법에 의해 패턴화될 수 있다. 구멍들은 촉매층에 비아홀(136)을 형성하기 위해 절연층(110)을 선택적으로 식각하여 형성한다. 촉매층(102 및/또는 104) 상에 나노구조들(106 및/또는 108)을 형성하기 위해 나노구조들의 성장을 수행한다. 패턴화된 도전성 보조층(134)은 선택적으로 제거되는데(도 6의 단계 240), 즉, 이 경우에는 완전히 제거된다.
필요한 경우, 도전성 보조층 아래 재료들의 하나는 적절한 상대 민감성을 가진 식각액을 사용하여 식각될 수 있다. 예를 들어, 실리콘 산화물은 습식 또는 건식 식각을 사용하여 식각될 수 있다. 따라서 촉매 및 나노구조 층들은 추가 프로세싱을 위한 마스크로 작동한다.
응용분야의 예들
본 명세서에 기술된 기술의 중요한 응용분야는 컴퓨팅 디바이스들에 사용될 수 있는 집적 회로들에서 배선 및/또는 열 상승장치(thermal elevators)를 제조하기 위한 것이다. 나노구조들은 집적회로 칩 내부에 또는 집적회로 칩에 대해/로부터 열과 전기를 운반하는데 사용된다. 사용된 성장 방법들과 디바이스들은 연마에 의해 금속들을 패너팅하는 것을 포함하는 현재 프로세싱 표준과 융합되고 사용된 금속들과 융합된다. 또한, 집적 회로들(여러 디바이스 층들)의 3-차원 스태킹은 배선으로서 본 명세서에 기술된 방법들로 제조된 나노구조들을 사용할 수 있다. 예를 들어, 비아홀 배선 구조들을 형성하기 위해 본 발명을 사용하는 한 방법이 도 8a-8c에 기술된다. 도 12는 탄소 나노구조들이 본 명세서에 기술된 기술과 방법을 사용하여 제조된 예시적 디바이스로 산화물 절연체에서 비아홀들을 통해 성장되는 디바이스의 SEM 미세그래프를 도시한다. 도 12에서, 밝은 평면 영역이 절연 영역이고 이 영역의 나머지에서, 수직으로 성장된 나노구조들이 보인다.
다른 응용분야는 기생 성장의 제거이다. 금속 하부층(즉, 패턴화된 금속 하부층)에 의해 단지 부분적으로 덮인 칩 상에 나노구조들을 성장시킬 때, 때때로 촉매 입자들 외부에 기생 성장이 있다. 이것은 본 명세서에서 기술된 대로 연속적인 금속 보조층을 사용하여 피할 수 있다.
본 명세서에 기술된 기술은 나노구조들의 성장 동안 금속 하부층과 다른 노출된 금속들을 플라즈마로부터 보호하는데 사용될 수 있다. 이것은 특히 나노구조 성장을 위해 사용된 기체들과 융합되지 않는 금속 하부층 상에 나노구조들을 성장시킬 때 중요하다. 한 예는 구리와 아세틸렌은 서로 반응할 것이기 때문에, 아세틸렌-함유 플라즈마를 사용하는 구리 표면상의 나노구조 성장이다. 도전성 보조층은 산소 또는 다른 재료들이 금속 하부층에 도달하는 것을 막기 위한 확산 장벽으로 작동할 수 있기 때문에, 원치 않는 산화/화학적 반응/확산은 예방될 수 있다. 예를 들어, 알루미늄 하부층(존재하는 경우)은 보조층에 의해 산화에 대해 보호될 수 있다. 게다가, 오염물들(예를 들어 금속 이온들)은 본 명세서에 기술된 방법을 사용하여 생산된 나노구조들에서 감소될 수 있다.
본 명세서에 기술된 기술은 나노구조 성장 동안 플라즈마에서 높은 전압 아크로부터 기판에서 임의의 민감한 전기 디바이스들을 보호하는데 사용될 수 있다. 결국, 플라즈마에 어떤 아크가 있는 경우, 결과로 받은 손상은 기판 표면상의 모든 커넥터들은 함께 단락되고 도전성 보조층에 의해 접지되기 때문에 현저하게 감소할 것이다. 이런 정전기 방전(ESD) 보호는 실험실에서 웨이퍼를 처리하기거나 다른 실험실로 부분적으로 마무리된 웨이퍼를 운반하는데 중요하다.
본 명세서에 기술된 방법들은 금속이 나노구조들의 바로 아래 영역을 제외하고 남지 않도록 플라즈마 식각에 의해 보조층의 자가-정렬 제거에 의해 절연 표면상에 열 범프(thermal bumps)를 제조하는데 사용될 수 있다.
본 명세서에 기술된 기술은 광학적으로 부분적으로 투명한, 투명한 또는 투명하지 않은 막을 제조하면서 전기 도전성 폴리머 막과 코팅을 제조하는데 사용될 수 있다. 응용분야는 디스플레이, 터치스크린, 정전기 분산(ESD) 및 쉴딩 등에서 전극층들과 같은 제품들을 제조하는데 것일 수 있다.
또한, 본 명세서에 기술된 대로 형성된 나노구조들의 기계적 특성들은 절연체들에 기계적 안정성을 제공하기 위해 사용될 수 있다. 연속적인 금속 하부층이 필요하지 않은 것이 유리한데, 이는 도전성 보조층은 자가-정렬 공정에서 플라즈마 식각에 의해 선택적으로 제거된다(나노구조들 바로 아래 제외).
비등방성 도전성 막의 한 예인 열 계면 재료들(TIMs)은 본 발명에서 기술된 기술을 하여 제조될 수 있다. 이런 경우, 나노구조들의 한 층은 열 도전성을 증가시키는 것을 돕도록 설계된 폴리머의 고무에 삽입된다. 폴리머는 보조층 제거 후 나노섬유 상에 먼저 회전되고 (그 안에 삽입된 나노구조들로) 올려진다. 폴리머 막 아래 연속적인 금속 막(선택적으로 제거된 후)이 없기 때문에, 폴리머 막에서 다른 평행 나노구조들을 단락시킬 위험이 없다.
도전성 보조층은 또한 이것이 Au, Cu, Al, Ni 등과 같은 금속을 증착하기 위한 다음 프로세싱 단계인 경우, 전해도금, 무전해도금 또는 갈바닉 도금에 필수적인 전류를 모든 나노구조들에 공급할 수 있다.
다른 응용분야는 부분 절연성 기판들 상에 직접 화학적 프로브들을 제조하는 것이다. 이것은 표준 실리콘 집적회로에 직접 수행될 수 있다.
본 명세서에 기술된 기술은 CMOS, Bi-CMOS, Bi-polar, 또는 HEMT 등과 같은 트랜지스터를 위한 소스, 드레인 및 게이트 금속 컨택 포인트를 제조하는데 사용될 수 있다. 이런 구조의 변형은 특정 트랜지스터 레이아웃을 위해 고려될 수 있다. 응용분야는 액정을 가진 디바이스들을 포함한다.
일부 응용분야는 보조층은 원하는 경우 단지 한 방향으로만 제거될 수 있다는 특성을 이용한다. 적절하게 설계된 기판 구조상에 비등방성 식각을 사용하면 보조층을 수직 표면들 상에 남길 수 있으나 수평 표면들로부터 제거할 것이다. 도 7a 및 7b에 도시된 대로, 도파관 재료(130)는 적절한 기판(128)상에 증착된다. 기판(128)과 도파관 재료(130)는 상부 표면뿐만 아니라 측벽 상의 보조층(120)으로 덮인다. 비등방성 식각에 의해, 상부 표면상의 보조층은 선택적으로 제거되어, 측벽을 손상시키지 않는다. 그 결과, 다른 투명 상부 표면과 금속화된 측벽(132) 상에 성장된 개개의 나노섬유(106)를 가진 구조가 형성된다. 이런 구조는 흡수된 광을 도파관(130)(보조층 코팅된 측벽을 가진 구조로 구성됨) 속에 연결하기 위한 광 흡수기로서 유용하다.
본 명세서에 기술된 기술은 프로세싱 방법을 다시 하는 방식을 제공한다. 이것은 가공된 웨이퍼들이 나노구조들을 제거하고 공정을 다시 시작하기 위해 화학적 기계적 연마(CMP)로 나노구조들을 제거함으로써 프로세싱 문제들/고장의 경우에 다시 할 수 있다는 것을 의미한다.
본 기술은 볼 그리드 어레이(BGA), 플립 칩(FC) 모듈, CSP, WLP, FCOB, TCB 등, IC 타입, RFID 태그, CMOS, BiCMOS, GaAS, HEMT AlGAAs, MMIC, MCM, LCD, 디스플레이, 모바일 핸드셋, ASIC 칩, 메모리 디바이스, MCU 및 집적 패시브 구성요소 등과 같은 부착 기술들에 사용할 수 있다.
예시적 디바이스
원리를 설명하기 위해서, 패턴화된 금(하부)층(아래 티타늄 접착-향상층을 가짐)을 다른 절연성 산화물 표면상에 (표준 리소그래피 기술을 사용하여) 형성하였다. 패턴화된 금속 하부층에 촉매를 직접 위치시키는 것은 성장하는 동안 큰 플라즈마-유발 손상을 일으킬 수 있기 때문에 바람직하지 않다. 대신에, 텅스텐 보조층(50nm)을 칩 표면 전체에 스퍼터하였다. 그런 후에, 패턴화된 촉매층(Si 10 nm 및 Ni 10 nm)을 표준 리프트 오프 공정에 의해 (패턴화된 금속 하부층과 정렬되게) 형성하였다. 성장 후, 구조들은 도 9a 및 9b에 도시되는 것으로 보인다. 이런 실시예에서, 성장 온도는 약 700℃이었고, 플라즈마는 약 4 Torr의 압력에서 C2H2 및 NH3 기체(각각 20 및 100 sccm)의 혼합물에서 생성되었다. 플라즈마 전류는 20mA로 설정하였고 성장 시간은 약 60분이었다. 이런 구체적인 예에서, 나노섬유의 막("포레스트")이 성장 공정 후 얻었으나, 개개의 수직으로 정렬된 나노섬유가 촉매 지역이 더 적게 만들어지는 경우 형성하도록 촉매를 패턴화하였다.
도전성 보조층은 불소-함유 플라즈마(압력 10mTorr, 기체 흐름 20 sccm CF4)에서 플라즈마 식각과 플라즈마 식각 CVD 프로세싱 챔버에서 종점 탐지를 사용하여 제거하였다.
상기 방법의 실행가능성은 프로세싱(도 9a 및 9b) 전과 프로세싱 후(도 10)에 찍은 SEM 사진들에 의해 도시될 수 있다. 섬유는, 보조층이 제거되었다는 사실에도 불구하고, 필수적으로 동일하게 보인다. 한편 보조층의 자가-정렬 선택적 제거가 완성되었고, 기판에 남아있는 섬유 바로 아래 보조층의 단지 일부만 남겼다. 영역의 나머지로부터 보조층의 완전한 제거는 전기적 측정에 의해 입증되었다. 최소 기생 성장은 분리된 금속 아일랜드 외부에서 보인다. 하부층으로 알루미늄을 가진 유사한 예시적 디바이스가 도 1a에 도시되고 하부층으로 구리를 가진 유사한 예시적 디바이스가 도 1b에 각각 도시된다.
따라서, 패턴화된 금속 하부층 상에(그렇지 않으면 절연성 칩 표면상에) 나노섬유들을 성장시키는 목표는 플라즈마-유발 칩 손상 없이 성취되었다.
도 12는 탄소 나노구조들이 본 명세서에 기술된 기술과 방법을 사용하여 제조된 예시적 디바이스로서 산화물 절연체에서 비아홀들을 통해 성장하는 예시적 디바이스의 SEM 미세그래프를 도시한다. 도 12에서, 밝은 평면 영역이 절연 영역이고 이 영역의 나머지에서, 수직으로 성장된 나노구조들이 보인다. 따라서 절연층에서 비아홀들을 통해 나노섬유들을 성장시키는 목표는 성취된다.
본 명세서에서 인용된 모든 특허와 다른 참조문헌의 내용은 모든 목적을 위해 전문이 참조로 포함된다.
본 명세서는 많은 구체적인 실시예 세부내용을 포함하지만, 이들은 어떠한 발명 또는 청구항들의 범위를 제한하는 것으로 해석되지 않으며, 오히려 특정 발명의 특정 실시예에 대해 특이적일 수 있는 특징들의 설명으로 해석되어야 한다. 개개의 실시예들의 내용에서 본 명세서에서 기술된 어떤 특징들은 한 실시예에서 조합으로 실시될 수 있다. 반대로, 한 실시예의 내용에 기술된 다양한 특징들은 여러 실시예들에서 개별적으로 또는 임의의 적절한 하부조합에서 실시될 수 있다. 또한, 비록 특징들이 특정 조합으로 및 최초에 청구한 대로 작동하도록 기술될 수 있지만, 청구된 조합으로부터 하나 이상의 특징들이 일부 경우에 조합으로부터 배제될 수 있고, 청구된 조합은 하부 조합 또는 하부 조합의 변형일 수 있다.
100 - 도전성 기판
102 - 개개의 나노구조들의 성장을 지원하도록 패턴화된 촉매층
104 - 나노구조들의 "포레스트"(여러 개의 밀접하게 이격된 나노구조들)의 성장을 지원하도록 패턴화된 촉매층
106 - 개개의 나노구조
108 - 나노구조들의 "포레스트"(여러 개의 밀접하게 이격된 나노구조들)
110 - 절연성 기판
112 - 연속적인 금속 하부층
114 - 절연체의 상부 상의 패턴화된 금속 하부층
116 - 절연성 기판의 상부 표면(연마 후 플랫 칩)과 동일한 높이인 상부 표면을 가진 패턴화된 금속 하부층
118 - 비아(수직 배선)
120 - 연속적인 도전성 보조층
122 - 촉매층의 나머지(자가-정렬 식각 후)
124 - 도전성 보조층의 나머지(자가-정렬 식각 후)
126 - 선택적 층
128 - 도파관을 위한 기판
130 - 도파관 재료
132 - 도전성 보조층의 잔존 수직 측벽
134 - 패턴화된 도전성 보조층
136 - 절연체를 통과하는 비아홀
200 - 도전성 보조층을 증착하는 단계
210 - 선택적 추가층을 증착하는 단계
230 - 나노구조들을 성장시키는 단계
240 - 보조층의 선택적 및 자가-정렬 제거 단계
여러 도면에서 유사한 참조번호들과 표시는 동일한 요소들을 나타낸다.

Claims (13)

  1. 상부 표면을 가진 기판;
    상기 기판의 상부 표면 상에 배열된 절연층으로, 상기 절연층은 절연층에 형성된 적어도 하나의 통과(through-going) 홀을 가지는 것인 절연층; 및
    상기 적어도 하나의 홀을 통해 상기 기판의 상부 표면으로부터 성장한 적어도 하나의 나노구조를 포함하는 집적 회로.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 기판의 상부 표면 및 상기 적어도 하나의 나노구조 사이에 배열된 촉매층을 추가로 포함하며, 상기 적어도 하나의 나노구조는 상기 촉매층으로부터 성장하는 것인 집적 회로.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 기판의 상부 표면이 도전성인 집적 회로.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 기판의 상부 표면이 비-도전성인 집적 회로.
  5. 제 1 항에 있어서,
    나노구조 포레스트에서 성장한 다수의 나노구조를 포함하며,
    상기 절연층은 상기 나노구조 포레스트를 둘러싸는 홀을 가지는 것인 집적 회로.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 절연층의 적어도 하나의 홀의 벽 및 상기 홀을 통해 성장한 상기 적어도 하나의 나노구조 사이에 분리가 존재하는 것인 집적 회로.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 나노구조는 금속층으로 코팅되는 것인 집적 회로.
  8. 상부 표면을 가진 기판을 제공하는 단계;
    상기 기판의 상부 표면 상에 촉매층을 증착하는 단계;
    상기 촉매층 상에 보조층을 증착하는 단계;
    상기 보조층을 선택적으로 제거하여 나노구조 성장을 위한 적어도 하나의 의도된 위치에서 상기 촉매층을 노출시키는 단계; 및
    상기 적어도 하나의 의도된 위치에서 상기 촉매층으로부터 적어도 하나의 나노구조를 성장시키는 단계를 포함하는 집적 회로를 제조하는 방법.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 적어도 하나의 나노구조 주위의 상기 보조층을 제거하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 제거하는 단계는 마스크로 상기 적어도 하나의 나노구조를 사용하여 상기 보조층을 식각하는 단계를 포함하는 것인 방법.
  11. 제 8 항에 있어서,
    보조층 및 촉매층 사이에 추가적인 층을 증착하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법.
  12. 제 8 항에 있어서,
    상기 증착된 촉매층은 연속적인 촉매층이며; 및
    상기 방법은 상기 연속적인 촉매층을 패터닝하여 상기 나노구조 성장을 위한 적어도 하나의 의도된 위치를 형성하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법.
  13. 제 8 항에 있어서,
    성장된 나노구조의 상부 상에 금속층을 증착하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법.
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