KR20060062429A - 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법 - Google Patents

동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20060062429A
KR20060062429A KR1020040101265A KR20040101265A KR20060062429A KR 20060062429 A KR20060062429 A KR 20060062429A KR 1020040101265 A KR1020040101265 A KR 1020040101265A KR 20040101265 A KR20040101265 A KR 20040101265A KR 20060062429 A KR20060062429 A KR 20060062429A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
signal
memory device
read command
dll
output
Prior art date
Application number
KR1020040101265A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100608372B1 (ko
Inventor
이현우
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020040101265A priority Critical patent/KR100608372B1/ko
Priority to US11/194,934 priority patent/US7251191B2/en
Priority to TW094126115A priority patent/TWI281674B/zh
Priority to JP2005295961A priority patent/JP4854258B2/ja
Publication of KR20060062429A publication Critical patent/KR20060062429A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100608372B1 publication Critical patent/KR100608372B1/ko
Priority to US11/774,657 priority patent/US7466622B2/en
Priority to US12/269,163 priority patent/US7649802B2/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/409Read-write [R-W] circuits 
    • G11C11/4096Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/21Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
    • G11C11/34Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
    • G11C11/40Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
    • G11C11/401Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
    • G11C11/4063Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
    • G11C11/407Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
    • G11C11/4076Timing circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1063Control signal output circuits, e.g. status or busy flags, feedback command signals
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1051Data output circuits, e.g. read-out amplifiers, data output buffers, data output registers, data output level conversion circuits
    • G11C7/1066Output synchronization
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/10Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
    • G11C7/1072Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers for memories with random access ports synchronised on clock signal pulse trains, e.g. synchronous memories, self timed memories
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C7/00Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C7/22Read-write [R-W] timing or clocking circuits; Read-write [R-W] control signal generators or management 
    • G11C7/222Clock generating, synchronizing or distributing circuits within memory device
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C2207/00Indexing scheme relating to arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
    • G11C2207/22Control and timing of internal memory operations
    • G11C2207/2254Calibration

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Databases & Information Systems (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시에 따라 외부 리드 커맨드에 응답하여 발생되는 동기식 메모리장치의 내부 리드 커맨드의 발생 시점을 다르게 한 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법이 개시된다. 즉, 카스 레이턴시가 2N+2(N=0, 1, 2,..)일 때 발생하는 내부 리드 커맨드의 발생 시점은, 카스 레이턴시가 2N+1일 때 발생하는 상기 내부 리드 커맨드의 발생시점보다 1tCK 지연되며, 여기서 1tCK는 상기 동기식 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 주기이다.

Description

동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법{Method for controlling the timing of outputting data from synchronous memory device}
도 1a~1e는 본 발명의 전체 개략도이다.
도 2는 도 1a~1e에 도시된 전체 회로의 동작을 설명하는 파형도이다.
도 3은 도 1e의 카운터 회로에 사용된 출력 인에이블 신호 발생부의 일예이다.
도 4는 도 1c에 도시된 분주기의 일예이다.
도 5는 도 4에 도시된 2분주 회로의 일예이다.
도 6은 도 1a에서 설명한 리드 커맨드 발생기의 구체적인 일예이다.
본 발명은 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법에 관한 것으로, 특히 카스 레이턴시에 따라 동기식 메모리 장치의 데이타 출력시점을 조절하는 방법에 관한 것이다.
일반적으로, DDR SDRAM 등과 같은 메모리 장치는 카스 레이턴시에 따라 데이타 출력 드라이버의 동작을 제어하는 복수개의 제어 신호(예컨대, 도 1e에서 설명 되는 OE00, OE10, OE30, OE50, ,,,)를 발생시킨다. 종래의 경우, 이러한 복수개의 제어 신호는 순차적으로 발생하는 것이 일반적이다. 즉, OE00, OE10, OE20, OE30, OE40,...순서로 발생한다. 참고로, OE20는 OE10보다 1tCK (1tCK는 내부클락신호의 주기) 부지연되어 발생하는 신호이고, OE30은 OE20보다 1tCK 지연되어 발생하는 신호이고, OE40은 OE10보다 1tCK 지연되어 발생하는 신호이다. 위에서 알 수 있듯이, OE00와 OE10는 1tCK의 시간차를 두고 발생하며, OE10와 OE20도 1tCK의 시간차를 두고서 발생함을 알 수 있다. 즉, 인접한 OE 신호간의 시간차는 1tCK이다. 그런데, 메모리 장치의 내부 동작 주파수가 높아질수로 1tCK는 감소한다. 1tCK의 시간이 감소함에 따라, 1tCK의 시간차를 두고서 순차적으로 발생하는 상기 제어 신호(OE 신호)들간에 충돌이 일어날 수 있으며, 이는 메모리 장치의 데이타 출력의 오동작을 초래할 수 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, 동작 주파수가 증가하는 경우, 2tCK 마다 상기 제어 신호(OE 신호)들을 발생시켜 데이타의 출력시점을 제어하는 방법을 제안한다.
또한, 본 발명은 카스 레이턴시가 홀수인 경우에는 상기 2tCK 마다 발생한 제어신호중의 하나를 선택하여 데이타를 출력하고, 카스 레이턴시가 짝수인 경우에는 리드 커맨드의 인가 시점을 1tCK 지연시켜 카스 레이턴시가 홀수인 경우와 동일하게 동작하도록 하는 방법을 제안한다.
또한, 본 발명은 상기 2tCK 마다 발생하는 제어 신호를 생성하기 위하여 DDR 클락신호를 2분주한 신호를 이용하는 방법을 제공한다.
본 발명에 따른 실시예인 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법은, 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시에 따라 외부 리드 커맨드에 응답하여 발생되는 동기식 메모리장치의 내부 리드 커맨드의 발생 시점을 상기 카스레이턴시가짝수인지 홀수인지 여부에 따라 다르게 한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 실시예에서, 카스 레이턴시가 2N+2(N=0, 1, 2,..)일 때 발생하는 내부 리드 커맨드의 발생 시점은, 카스 레이턴시가 2N+1일 때 발생하는 상기 내부 리드 커맨드의 발생시점보다 1tCK 지연되며, 여기서 1tCK는 상기 동기식 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 주기이다.
또한, 본 발명의 실시예는 내부 리드 커맨드에 응답하여 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 드라이버의 인에이블 시점을 조절하기 위한 복수개의 제어 신호를 출력한다. 이 경우, 복수개의 제어 신호 각각은 2tCK 주기로 발생하며, 카스 레이턴시에 따라 상기 복수개의 제어 신호중의 하나가 선택된다.
본 발명에 따른 다른 실시예인 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법은 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시가 2N+2(N은 0, 1, 2,..)인 경우의 데이타 출력 시점을 제어하는 제 1 제어 신호와 상기 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시가 2N+1인 경우의 데이타 출력 시점을 제어하는 제 2 제어 신호는 동일한 제어 신호인 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 실시예에서, 카스 레이턴시가 2N+2일 때 외부 리드 커맨드 를 수신하여 상기 메모리장치내에서 사용되는 제 1 내부 리드 커맨드를 발생시키는 시점은, 상기 카스 레이턴시가 2N+1일 때 상기 외부 리드 커맨드를 수신하여 제 2 내부 리드 커맨드를 발생시키는 시점보다 1tCK 지연된다. 여기서, 1tCK는 상기 동기식 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 주기이다.
본 발명의 다른 실시예에서, 제 1 내부 리드 커맨드 생성후부터 상기 제 1 제어 신호가 발생하기 까지의 시간은 상기 제 2 내부 리드 커맨드 생성후부터 상기 제 2 제어 신호가 발생하기 까지의 시간과 동일하다.
(실시예)
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 1a는 본 발명에 따른 리드 커맨드 발생기를 도시한다.
도 1a에서, CLKb는 반전된 외부클락신호를 나타내고, casb 는 컬럼 어드레스 스트로브 바 신호를 나타내고, we는 라이트 인에이블신호를 나타내고, ras는 로우 어드레스 스트로브 신호를 나타내고, csb는 칩셀렉트 바 신호를 나타내고, pwrup은 파워 업 신호를 나타내고, RD_COMMAND는 외부의 리드 커맨드에 의하여 발생된 내부 리드 커맨드를 나타낸다. 특히, CL_3579는 카스 레이턴시를 나타내며, CL=3, 5, 7, 9 중의 하나가 인가됨을 나타낸다. 여기서, 카스 레이턴시란 외부 리드 커맨드가 인가된 후부터 데이타가 출력되기까지의 시간을 클락의 수로 나타낸 것이다.
도 1a의 리드 커맨드 발생기는 상기의 외부 신호를 수신하여 메모리 장치의 내부에서 사용하는 리드 커맨드를 생성하며, 도 1a의 구체적인 회로는 도 6에 도시 되어 있으며, 이에 대하여는 후술된다.
도 1b는 리드 커맨드(RD_COMMAND)를 수신하여 리드 데이타의 출력 시점을 조절하는 제어 신호인 내부 카운터 신호(OE00)를 발생하는 카운터 신호 발생기이다. 즉, 내부 카운터 신호(OE00)은 리드 데이타를 메모리 장치의 외부로 전송하기 위하여 사용되는 출력 인에이블 신호이다. 내부 카운터 신호(OE00)의 파형은 도 2에 도시되어 있다. 후술되겠지만, 내부 카운터 신호(OE00)를 이용하여 또 다른 복수개의 내부 카운터 신호(OE10, OE30, OE50,...)을 발생시킨다(도 1e 참조). 이들 내부 카운터 신호(OE10, OE30, OE50,...)는 출력 드라이버의 동작 시점을 조절함으로써, 출력 드라이버에 저장된 데이타의 출력 시점을 조절한다. 여기서, 내부 카운터 신호(OE10, OE30, OE50, OE70,..)은 DLL 클락의 라이징 에지에 동기되어 발생하는 신호이고, 후술되는 내부 카운터 출력신호(OE35, OE55, OE75, OE95)은 DLL 클락의 폴링 에지에 동기되어 발생하는 신호이다. 본 발명에서, 내부 카운터 신호(OE00)가 인가된 후, 순차적으로 발생하는 도 1b의 내부 카운터 신호(OE10, OE30, OE50,..)중에서 인접한 신호들간의 시간차는 2tCK이다. 즉, 내부 카운터 신호(OE10)와 내부 카운터 신호(OE30)간의 시간차는 2tCK이고, 내부 카운터 신호( OE30)와 내부 카운터 신호(OE50)간의 시간차도 2tCK이다.
도 1c는 분주기를 도시한다.
도 1c의 분주기는 메모리 장치의 DLL 회로로부터 출력되는 라이징 DLL 클락(RCLK_DLL)과 폴링 DLL 클락(FCLK_DLL)을 수신한다. 분주기는 입력신호의 주파수를 2분주한다. 따라서, 분주기의 출력신호(RCLK_DLL_2X, FCLK_DLL_2X)의 주기는 입력신호(RCLK_DLL, FCLK_DLL)의 주기의 2 배이다. 참고로, 도 1c의 구체적인 회로는 도 4에 도시되어 있다.
도 1d는 카스 레이턴시(Cas Latency)에 따라 분주기의 출력신호를 일정 시간 지연하는 지연 회로를 나타낸다.
도 1d에서, CL45는 카스 레이턴시가 CL=4 또는 CL=5인 경우를 나타내고, CL67는 CL=6 또는 CL=7인 경우를 나타내고, CL89는 CL=8 또는 CL=9인 경우를 나타낸다. 지연부의 출력신호(RCLK_DLL_OE1, RCLK_DLL_OE3, RCLK_DLL_OE5, RCLK_DLL_OE7, RCLK_DLL_OE35, RCLK_DLL_OE55, RCLK_DLL_OE75)는 입력신호(RCLK_DLL_2X, FCLK_DLL_2X)를 일정 시간 지연시켜 발생시킨 신호이다. 이들 신호에 대해서는 도 2에서 보다 상세히 설명한다.
도 1e는 복수개의 출력 인에이블 신호 발생부로 구성된 카운터를 나타낸다.
출력 인에이블 신호 발생부(11)는 도 1b의 출력신호인 내부 카운트 신호(OE00)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE1)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE10)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(12)은 출력 인에이블 신호 발생부(11)의 출력신호인 카운트 신호(OE10)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE3)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE30)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(13)은 출력 인에이블 신호 발생부(12)의 출력신호인 카운트 신호(OE30)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE5)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE50)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(14)은 출력 인에이블 신호 발생부(13)의 출력신호인 카운트 신호(OE50)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE5)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE70)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(15)은 출력 인에이블 신호 발생부(14)의 출력신호인 카운트 신호(OE70)와 도 1c에 도시된 분주기로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_2X)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE90)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(16)은 출력 인에이블 신호 발생부(12)의 출력신호인 카운트 신호(OE30)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE35)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE35)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(17)은 출력 인에이블 신호 발생부(16)의 출력신호인 카운트 신호(OE35)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE55)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE55)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(18)은 출력 인에이블 신호 발생부(17)의 출력신호인 카운트 신호(OE55)와 도 1d에 도시된 지연부로부터 출력된 지연신호(RCLK_DLL_OE75)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE75)를 출력한다.
출력 인에이블 신호 발생부(19)은 출력 인에이블 신호 발생부(18)의 출력신호인 카운트 신호(OE75)와 도 1c에 도시된 분주기로부터 출력된 지연신호(FCLK_DLL_2X)와 리셋신호(RSTZ)를 수신하며, 카운트 신호(OE95)를 출력한다. 도 1e의 출력 인에이블 신호 발생부의 구체적인 회로는 도 3에 도시되어 있으며, 이에 대하여는 후술된다.
전술한 바와같이, 도 1e의 출력신호(OE10, OE30, .., OE95)는 메모리 장치의 출력 드라이버에 저장된 데이타의 출력 시점을 조절하는 신호로서, 카스 레인턴시에 따라 이들 신호중의 하나가 선택되어 상기 출력 드라이버의 인에이블 시점을 결정한다. 여기서, 출력신호(OE30)는 출력신호(OE10)보다 2tCK-α 부지연되어 출력되고, 출력신호(OE50)는 출력신호(OE30)보다 2tCK-α 부지연되어 출력된다. 나머지의 경우도 동일하다. 참고로, 출력신호(OE10, OE30, OE50, OE70, OE90)은 DLL 클락의 라이징 에지에 기초하여 발생하는 신호이고, 출력신호(OE35, OE55, OE75, OE95)은 DLL 클락의 폴링 에지에 기초하여 발생하는 신호이다. 출력신호(OE35)와 출력신호(OE55)는 2tCK 간격을 두고 발생하며, 나머지 경우도 동일하다.
도 2는 도 1a~1e에 도시된 전체 회로의 동작을 설명하는 파형도이다.
도 2에서, RCLK_DLL은 DLL 회로에서 출력된 라이징 DLL 클락을 나타내고, CLK는 외부클락신호를 나타내고, RD_COMMAND는 리드 커맨드 발생기에서 생성된 내부 리드 커맨드 신호이다. 신호(RCLK_DLL_OE1, RCLK_DLL_OE3, RCLK_DLL_OE5, RCLK_DLL_OE7)는 도 1d의 지연 회로로부터 출력되는 신호를 나타내며, 신호(RCLK_DLL_2X)는 RCLK_DLL 를 2분주한 신호이다.
도 2는 카스 레이턴시가 9인 경우의 동작을 설명하는 파형도이다.
CL=9이므로, 리드 커맨드가 인가된 다음 9클락 후에 데이타가 외부로 출력하여야 한다. 설명의 편의를 위하여, 리드 커맨드가 인가되는 외부클락신호(CLK)의 라이징 에지를 0으로 표시하였다. 그리고, 순차적으로 발생하는 외부클락신호의 라이징 에지를 도면과 같이 1, 2, 3, ...으로 표시하였다. 따라서, CL=9인 경우, 데이타는 9번째 외부클락신호(CLK) 이후에 출력될 것이다. 본 발명에서, 카스 레이턴시에 맞추어 데이타를 출력하기 위하여, 동기식 메모리 장치는 DLL 회로에서 발생된 DLL 클락(RCLK_DLL)을 사용한다. 참고로, 본 발명에서 사용되는 DLL 클락(RCLK_DLL)은 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 라이징 에지에 동기되어 라이징되는 신호를 나타내고, DLL 클락(FCLK_DLL)은 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 폴링 에지에 동기되어 라이징되는 신호를 나타낸다.
도시된 바와같이, DLL 클락(RCLK_DLL)은 외부클락신호(CLK)에 대하여 네거티브 딜레이를 갖는다. 주지된 바와같이, DLL 클락(RCLK_DLL)이 외부클락신호(CLK)에 대하여 네거티브 딜레이 갖는 이유는 외부로부터 리드 커맨드가 인가된 후 데이타가 출력하기 까지의 지연시간을 상쇄하기 위함이다. 도 2에서, DLL 클락(RCLK_DLL)에 표시된 숫자는 외부클락신호(CLK)의 라이징 에지에 대응하는 부분을 나타낸다.
도 2에서 알 수 있듯이, 리드 커맨드(RD_COMMAND)에 응답하여 내부 카운터 신호(OE00)가 발생된다(도 1b 도 6 참조). 카운터 신호(OE10)는 카운터 신호(OE00)와 신호(RCLK_DLL_OE1)에 의하여 생성된 신호이다. 카운터 신호(OE30)는 카운터 신호(OE10)와 신호(RCLK_DLL_OE3)에 의하여 생성된 신호이다. 카운터 신호(OE50)는 카운터 신호(OE30)와 신호(RCLK_DLL_OE5)에 의하여 생성된 신호이다. 카운터 신호(OE70)는 카운터 신호(OE50)와 신호(RCLK_DLL_OE7)에 의하여 생성된 신호이다. 카운터 신호(OE90)는 카운터 신호(OE70)와 신호(RCLK_DLL_2X)에 의하여 생성된 신호이며, DLL 클락(RCLK_DLL)의 9번째 라이징 에지에 맞추어 카운터 신호 (OE90)를 출력한다.
동작에 있어서, 예컨대, 카스 레이턴시가 9인 경우, 카운트 신호(OE90)가 인에이블되면, 데이타 출력 드라이버(도시되지 않음)가 인에이블된다. 도시된 바와같이, 데이타 출력 드라이버로부터 출력되는 데이타는 리드 커맨드가 인가된 후부터 9번째 외부클락(CLK)에 동기되어 출력된다. 즉, 카운터 신호(OE90)가 하이 레벨로 인에이블되어 있는 동안 출력 드라이버가 인에이블되므로, 일정 시간 후 데이타가 외부로 출력된다. 이 때, 외부로 출력되는 데이타는 도시된 바와같이 리드 커맨드가 인가된후 9번째 외부클락신호(CLK) 이후부터 출력된다.
이하, 도 3~7에 도시된 각 회로의 구성을 설명한다.
도 3은 도 1e의 카운터 회로에 사용된 출력 인에이블 신호 발생부의 일예이다.
도 3에서, RSTZ는 리셋 신호를 나타내고, IN은 각 출력 인에이블 신호 발생부에 인가되는 신호(OE00, OE10, OE30, OE50, OE70, OE35, OE55, OE75)중의 하나를 나타내며, CLK는 각 출력 인에이블 신호 발생부에 인가되는 신호(RCLK_DLL_OE1, RCLK_DLL_OE3, RCLK_DLL_OE5, RCLK_DLL_OE7, RCLK_DLL_OE35, RCLK_DLL_OE55, RCLK_DLL_OE75, RCLK_DLL_2X, FCLK_DLL_2X)중의 하나를 나타내고, OUT는 각 출력 인에이블 신호 발생부의 출력을 나타낸다. 여기서, 신호(RCLK_DLL_2X, FCLK_DLL_2X)는 각각 DLL 클락(RCLK_DLL)과 DLL 클락(FCLK_DLL)에 대하여 2 배의 주기를 갖는 신호로 이들 신호는 도 4에서 설명될 것이다.
동작에 있어서, CLK 신호가 로우 레벨인 경우 IN 신호를 수신하여 래치하고, CLK 신호가 하이 레벨인 경우, 래치된 IN 신호를 출력한다. 참고로, 정상 동작중에는 RSTZ는 하이 레벨을 유지한다.
도 4는 도 1c에 도시된 분주기의 일예이다.
도시된 바와같이, 라이징 DLL 클락(RCLK_DLL)은 2분주회로(41)에 인가되어 주기가 2배인 신호(RCLK_DLL_2X)로 출력된다. 폴링 DLL 클락(FCLK_DLL) 또한 2분주회로(42)에 인가되어 주기가 2배인 신호(FRCLK_DLL_2X)로 출력된다. 도 4의 2분주회로(41, 42)의 구체적인 일예는 도 5에 도시되어 있다.
도 5는 도 4에 도시된 2분주 회로의 일예이다. 도 5에서, 분주기(51)는 입력 신호의 주기를 2배로 증가시키는 회로이고, 지연부(52)는 입력신호를 일정 시간 지연시킨다. 여기서, 도 5의 출력신호(DLL_CLK_2X)는 도 4의 출력신호(RCLK_DLL_2X, FCLK_DLL_2X)을 의미하고, 도 5의 입력신호(DLL_CLK)는 도 4의 입력신호(RCLK_DLL, FCLK_DLL)를 나타낸다. 당업자는 도 5의 일예이외에도 입력신호의 주기를 2배로 증가시키는 회로를 다양하게 구현하여 도 4에 적용할 수 있다.
도 6은 도 1a에서 설명한 리드 커맨드 발생기의 일예이다.
도시된 바와같이, 리드 커맨드 발생기는 외부 신호(casb, we, ras, csb)를 수신 및 조합하여 리드 커맨드 신호를 생성한다.
동작에 있어서, 카스 레이턴시가 홀수인 경우(즉, CL=3, CL=5, CL=7 또는 CL=9 등), 스위치 소자(63)이 턴온된다. 따라서, 외부 신호에 의하여 결정되는 리드 커맨드는 스위치 소자(63)를 통과하여 메모리 장치의 내부로 인가된다. 메모리 장치로 인가되는 내부 리드 커맨드가 "RD_COMMAND"이다.
반면에, 카스 레이턴시가 짝수인 경우(즉, CL=5, CL=6, CL=8 등), 스위치 소자(62)가 턴온된다. 그리고, 외부 신호에 의하여 결정된 리드 커맨드는 지연부(61)에서 일정 시간 지연된 후 스위치 소자(62)를 통과하여 메모리 장치의 내부로 인가된다. 지연부(61)는 외부클락신호(CLK, CLKb)에 의하여 제어되며, 지연부(61)의 지연시간은 1tCK이다. 여기서, tCK는 외부클락신호(CLK)의 주기를 나타낸다.
도 6에서 알 수 있듯이, 도 6의 개시된 리드 커맨드 발생기는 카스 레이턴시가 홀수인 경우에는 외부로부터 인가된 리드 커맨드를 메모리 장치의 내부로 직접 전달하고, 카스 레이턴시가 짝수인 경우에는 1tCK 지연시킨 다음 메모리 장치의 내부로 전달한다.
예컨대, CL=4의 경우는 1tCK 지연시켜 리드 커맨드를 인가한다. 따라서, 내부적으로는 CL=3인 경우와 동일하게 동작한다. 예컨대, 메모리 장치의 CL이 4인경우, 도 6의 의하여 내부 리드 커맨드(RD_COMMAND)는 1tCK 지연되어 인가된다. 따라서, 메모리 장치 내부에서는 CL이 3 인 경우와 동일하게 동작할 것이다. 따라서, CL=4인 경우에도 내부 카운터 신호(OE30)에 동기시켜 데이타를 출력할 수 있다. 이처럼, 본 발명에서는 CL이 짝수인 경우에는 내부 리드 커맨드(RD_COMMAND)의 발생을 1tCK 지연시켜 출력함으로써, CL이 홀수인 경우와 동일한 동작 타이밍을 가질 수 있도록 하였다. 그 결과, 종래의 경우와 달리, 2tCK 주기로 발생하는 내부 카운터 신호(OE10, OE30, OE50,...)만으로도 CL=2, 4, 6.. 등의 동작을 가능하게 하였다. 즉, 본 발명의 경우, 2tCK 마다 발생하는 카운타 신호(OE10, OE30, OE50, ...)를 사용하더라도 카스 레이턴시가 2, 3, 4, 5, 6, 7,..인 모든 경우에 대하여 데이타 출력 시점을 조절할 수 있음을 알 수 있다.
이상에서 알 수 있듯이, 1tCK 간격으로 내부 카운터 신호를 발생하던 종래의 기술은 메모리 장치의 동작 주파수가 증가함에 따라 내부 카운터 신호의 중첩 현상이 발생될 가능성이 높았다. 내부 카운터 신호의 중첩은 데이타 출력 시점의 오동작을 유발시킨다. 그러나, 본 발명의 경우 2tCK 간격으로 내부 카운터 신호를 생성함으로써 메모리 장치의 동작 주파수가 높아지더라도 안정된 데이타 출력 동작이 가능하다. 본 발명은 메모리 장치의 동작 주파수가 증가하는 경우 그 효과가 더욱 클 것이다.
이상에서 알 수 있는 바와같이, 본 발명은 2클락 주기로 발생하는 제어 신호를 이용하여 데이타 출력 드라이버를 제어하는 방법을 제공함으로써 메모리 장치의 동작 주파수가 증가하는 경우에도 카스 레이턴시에 맞추어 데이타를 출력시킬 수 있다.

Claims (8)

  1. 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법에 있어서,
    상기 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시에 따라 외부 리드 커맨드에 응답하여 발생되는 상기 동기식 메모리장치의 내부 리드 커맨드의 발생 시점을 상기 카스 레이턴시가 홀수인지 짝수인지 여부에 따라 다르게 한 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 카스 레이턴시가 2N+2(N=0, 1, 2,..)일 때 발생하는 내부 리드 커맨드의 발생 시점은, 상기 카스 레이턴시가 2N+1일 때 발생하는 상기 내부 리드 커맨드의 발생시점보다 1tCK 지연되며,
    상기 1tCK는 상기 동기식 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 주기인 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 내부 리드 커맨드에 응답하여 상기 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 드라이버의 인에이블 시점을 조절하기 위한 복수개의 제어 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 복수개의 제어 신호 각각은 2tCK 주기로 발생하는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 카스 레이턴시에 따라 상기 복수개의 제어 신호중의 하나가 선택되는 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  6. 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법에 있어서,
    상기 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시가 2N+2(N은 0, 1, 2,..)인 경우의 데이타 출력 시점을 제어하는 제 1 제어 신호와 상기 동기식 메모리 장치의 카스 레이턴시가 2N+1인 경우의 데이타 출력 시점을 제어하는 제 2 제어 신호는 동일한 제어 신호인 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 카스 레이턴시가 2N+2일 때 외부 리드 커맨드를 수신하여 상기 메모리장치내에서 사용되는 제 1 내부 리드 커맨드를 발생시키는 시점은, 상기 카스 레이턴시가 2N+1일 때 상기 외부 리드 커맨드를 수신하여 제 2 내부 리드 커맨드를 발생시키는 시점보다 1tCK 지연되며,
    상기 1tCK는 상기 동기식 메모리 장치에 인가되는 외부클락의 주기인 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 1 내부 리드 커맨드 생성후부터 상기 제 1 제어 신호가 발생하기 까지의 시간은 상기 제 2 내부 리드 커맨드 생성후부터 상기 제 2 제어 신호가 발생하기 까지의 시간과 동일한 것을 특징으로 하는 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법.
KR1020040101265A 2004-12-03 2004-12-03 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법 KR100608372B1 (ko)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040101265A KR100608372B1 (ko) 2004-12-03 2004-12-03 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법
US11/194,934 US7251191B2 (en) 2004-12-03 2005-08-02 Method for controlling time point for data output in synchronous memory device
TW094126115A TWI281674B (en) 2004-12-03 2005-08-02 Method for controlling time point for data output in synchronous memory device
JP2005295961A JP4854258B2 (ja) 2004-12-03 2005-10-11 同期式メモリ装置のデータ出力時点調節方法
US11/774,657 US7466622B2 (en) 2004-12-03 2007-07-09 Method for controlling time point for data output in synchronous memory device
US12/269,163 US7649802B2 (en) 2004-12-03 2008-11-12 Method for controlling time point for data output in synchronous memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020040101265A KR100608372B1 (ko) 2004-12-03 2004-12-03 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20060062429A true KR20060062429A (ko) 2006-06-12
KR100608372B1 KR100608372B1 (ko) 2006-08-08

Family

ID=36666291

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020040101265A KR100608372B1 (ko) 2004-12-03 2004-12-03 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법

Country Status (4)

Country Link
US (3) US7251191B2 (ko)
JP (1) JP4854258B2 (ko)
KR (1) KR100608372B1 (ko)
TW (1) TWI281674B (ko)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100746229B1 (ko) * 2006-07-07 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
US9424941B2 (en) 2014-01-15 2016-08-23 SK Hynix Inc. Semiconductor memory device with sense amplifyer groups and method of operation the same

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100608372B1 (ko) * 2004-12-03 2006-08-08 주식회사 하이닉스반도체 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법
KR100857450B1 (ko) * 2007-08-10 2008-09-10 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 출력 인에이블 신호 생성 회로 및방법
CN103871444A (zh) * 2012-12-14 2014-06-18 上海华虹宏力半导体制造有限公司 非挥发性存储器的读时序产生电路

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4286933B2 (ja) * 1998-09-18 2009-07-01 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
JP2000163961A (ja) * 1998-11-26 2000-06-16 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体集積回路装置
KR100499623B1 (ko) 1998-12-24 2005-09-26 주식회사 하이닉스반도체 내부 명령신호 발생장치 및 그 방법
KR100304705B1 (ko) 1999-03-03 2001-10-29 윤종용 포스티드 카스 레이턴시 기능을 가지는 동기식 반도체 메모리 장치 및 카스 레이턴시 제어 방법
JP4190662B2 (ja) * 1999-06-18 2008-12-03 エルピーダメモリ株式会社 半導体装置及びタイミング制御回路
JP4045064B2 (ja) * 2000-03-30 2008-02-13 富士通株式会社 半導体記憶装置
US6918016B1 (en) * 2001-07-17 2005-07-12 Advanced Micro Devices, Inc. Method and apparatus for preventing data corruption during a memory access command postamble
JP4308461B2 (ja) * 2001-10-05 2009-08-05 ラムバス・インコーポレーテッド 半導体記憶装置
KR100425472B1 (ko) 2001-11-12 2004-03-30 삼성전자주식회사 동기식 반도체 메모리 장치의 출력 제어 신호 발생 회로및 출력 제어 신호 발생 방법
JP4434568B2 (ja) * 2002-11-14 2010-03-17 株式会社ルネサステクノロジ 半導体記憶装置
KR100468776B1 (ko) 2002-12-10 2005-01-29 삼성전자주식회사 클락 지터의 영향을 감소시킬 수 있는 동기식 반도체메모리장치
KR100522433B1 (ko) * 2003-04-29 2005-10-20 주식회사 하이닉스반도체 도메인 크로싱 회로
JP4354284B2 (ja) * 2004-01-20 2009-10-28 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 メモリ制御装置およびメモリ制御システム
KR100608372B1 (ko) * 2004-12-03 2006-08-08 주식회사 하이닉스반도체 동기식 메모리 장치의 데이타 출력 시점 조절 방법

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100746229B1 (ko) * 2006-07-07 2007-08-03 삼성전자주식회사 반도체 메모리 장치
US7590013B2 (en) 2006-07-07 2009-09-15 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory devices having variable additive latency
US9424941B2 (en) 2014-01-15 2016-08-23 SK Hynix Inc. Semiconductor memory device with sense amplifyer groups and method of operation the same

Also Published As

Publication number Publication date
TW200620322A (en) 2006-06-16
US20090073787A1 (en) 2009-03-19
US20080016261A1 (en) 2008-01-17
JP2006164491A (ja) 2006-06-22
US7466622B2 (en) 2008-12-16
US7251191B2 (en) 2007-07-31
US20050265118A1 (en) 2005-12-01
US7649802B2 (en) 2010-01-19
KR100608372B1 (ko) 2006-08-08
JP4854258B2 (ja) 2012-01-18
TWI281674B (en) 2007-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7710799B2 (en) Circuit for generating data strobe in DDR memory device, and method therefor
US7864623B2 (en) Semiconductor device having latency counter
US8115529B2 (en) Device and control method of device
US7233533B2 (en) Method for controlling data output timing of memory device and device therefor
US7715272B2 (en) Semiconductor device having latency counter
US6151271A (en) Integrated circuit memory devices having data selection circuits therein which are compatible with single and dual rate mode operation and methods of operating same
US7345950B2 (en) Synchronous semiconductor memory device
US20020172314A1 (en) Phase splitter using digital delay locked loops
US6982924B2 (en) Data output control circuit
US7629822B2 (en) Delay locked loop in semiconductor memory device and method for generating divided clock therein
US7843743B2 (en) Data output circuit for semiconductor memory apparatus
JP4061029B2 (ja) 半導体メモリ装置、バッファ及び信号伝送回路
US7649802B2 (en) Method for controlling time point for data output in synchronous memory device
KR100875671B1 (ko) 프리차지신호 생성장치를 구비하는 반도체메모리소자 및그의 구동방법
KR20130046122A (ko) 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
KR20080063877A (ko) 반도체 메모리 소자
KR101096222B1 (ko) 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법
JP2004258888A (ja) 半導体集積回路
KR20060075612A (ko) 반도체 장치
KR20010055904A (ko) 더블 데이터 레이트 싱크로너스 디램

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20120625

Year of fee payment: 7

LAPS Lapse due to unpaid annual fee