KR19990017113A

KR19990017113A - 인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법

Info

Publication number: KR19990017113A
Application number: KR1019970039899A
Authority: KR
Inventors: 배연식
Original assignee: 구자홍; 엘지전자 주식회사
Priority date: 1997-08-21
Filing date: 1997-08-21
Publication date: 1999-03-15
Also published as: KR100270519B1

Abstract

본 발명은 인쇄회로기판(PCB) 검사시 부품 검사(In Circuit Tester : ICT)와 기능 검사(Function Tester : FT)를 하나의 통합된 콤비네이션 테스터(Combination Tester)로 검사 토록하여 인쇄회로기판의 검사시 용이성을 제공해주고 고정물 지그(Jig)의 제작 및 관리가 용이해지도록 한 인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로, 이러한 본 발명은 부품 검사와 기능 검사를 병행할 수 있는 콤비네이션 테스터를 구비하고, 검사할 인쇄회로기판이 감지되면 상/하 지그를 업/다운시켜 인쇄회로기판을 정해진 위치로 이동시키고, 인쇄회로기판이 부품 검사를 위한 위치에 정상적으로 이동하면 스위치 매트릭스를 부품 검사 단자에 접속시키고 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트 상태를 검사하여 부품을 검사하며, 부품 검사가 종료되면 스위치 매트릭스를 절환시켜 고정물 지그의 에어용 핀에 스위치 단자를 접속시키고 전원 및 신호를 인가하여 각 부품의 기능을 테스트한 후 인쇄회로기판의 기능이 정상/불량으로 판정되고 부품 검사시 불량으로 판정된 경우 인가한 전원을 오프하고 검사를 종료하고 검사한 인쇄회로기판을 반출시킴으로써 용이하게 인쇄회로기판을 검사하게 되는 것이다.

Description

인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법

본 발명은 인쇄회기판(PCB) 검사시 부품 검사(In Circuit Tester : ICT)와 기능 검사(Function Tester : FT)를 하나의 통합된 콤비네이션 테스터(Combination Tester)로 검사 토록하여 인쇄회로기판의 검사시 용이성을 제공해주고 아울러 고정물 지그(Jig)의 제작 및 관리가 용이해지도록 한 인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법을 제공하고자 한 것이다.

본 발명은 인쇄회로기판(PCB)의 검사에 관한 것이다.

일반적으로, 인쇄회로기판(PCB)의 검사 공정은 일차적으로 부품 검사기(ICT)에 의해 부품의 쇼트 및 오픈 상태를 검사하고, 다음 검사 공정인 기능 검사기(FT)에서 각 부품의 기능을 테스트하게 된다.

도1은 상기와 같이 부품 검사기와 기능 검사기를 통해 인쇄회로기판을 검사하는 종래 인쇄회로기판 검사 라인을 개략적으로 도시한 것이다.

먼저, 생산 라인에서 테스트할 인쇄회로기판(PCB)은 첫 번째 검사 항목인 부품 검사를 위해 부품 검사기(1)의 소정 위치로 이동하게 되며, 상기 인쇄회로기판이 정해진 위치에 도착하면 부품 검사기(1)에 의해 부품의 누락, 오삽, 스펙, 오픈/쇼트 등의 부품 검사가 이루어지며, 이때 상기 검사한 모든 항목이 정상적이면 다음 검사 항목인 기능 검사를 위해 다시 인쇄회로기판(PCB)은 라인을 통해 이동을 하여 기능 검사기(2)의 정해진 위치로 이동을 한다.

그리고 인쇄회로기판이 정해진 위치로 이동이 완료되면 기능 검사기(2)에 의해 실제로 인쇄회로기판에 전원 및 신호가 인가되어 PCB가 정상적으로 동작하는지를 검사하게 된다. 아울러 기능 검사기(2)에서는 조정하는 공정에 의해서 볼륨등의 조정도 행해진다.

그런데, 상기와 같은 종래의 인쇄회로기판 검사장치는 한 공정에 2개의 서로 다른 검사용 시스템(부품 검사기, 기능 검사기)이 필요하게되고, 아울러 각 시스템용 고정물 지그(Fixture Jig)가 별도로 존재하게 되므로 생산 코스트는 물론 지그(Jig)의 제작 및 관리에도 상당한 어려움이 따르는 제반 문제점이 있었다.

따라서 본 발명은 상기와 같은 종래 인쇄회로기판 테스트시 발생하는 제반 문제점을 해결하기 위해서 제안된 것으로,

본 발명은 인쇄회로기판(PCB) 검사시 부품 검사(In Circuit Tester :ICT)와 기능 검사(Function Tester : FT)를 하나의 통합된 콤비네이션 테스터(Combination Tester)로 검사 토록하여 인쇄회로기판의 검사시 용이성을 제공해주도록 한 인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.

본 발명의 다른 목적은, 하나의 통합된 콤비네이션 테스터로 인쇄회로기판을 검사하고 아울러 고정물 지그(Jig)도 하나만 제작토록 함으로써 지그의 제작 및 관리가 용이해지도록 한 인쇄회로기판 검사 장치 및 그 방법을 제공하는데 있다.

이러한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 기술적인 수단은,

검사할 인쇄회로기판이 안착되며 부품 검사와 기능 검사시 상기 인쇄회로기판의 위치를 알맞게 이동시키기 위한 고정물 지그와 ;

상기 고정물 지그의 각 단자에 접촉되어 상기 부품 검사와 기능 검사시 스위치를 절환시키기 위한 스위치 매트릭스 모듈과 ;

상기 스위치 매트릭스 모듈의 부품 검사 스위치에 접속되어 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트를 검사하는 부품 검사 모듈과 ;

상기 스위치 매트릭스 모듈의 공용 검사 스위치에 접속되어 상기 고정물 지그에 안착되는 PCB에 전원 및 신호를 인가하여 각 부품이 정상적으로 동작하는지를 검사하는 기능 검사 모듈로 이루어진다.

본 발명의 목적을 달성하기 위한 인쇄회로기판 검사 방법은,

검사할 인쇄회로기판이 감지되면 상/하 지그를 업/다운시켜 상기 인쇄회로기판을 정해진 위치로 이동시키는 인쇄회로기판 이동과정과 ;

상기 인쇄회로기판이 부품 검사를 위한 위치에 정상적으로 이동하면 스위치 매트릭스를 부품 검사 단자에 접속시키고 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트 상태를 검사하여 양호/불량을 판정하는 부품 검사과정과 ;

상기 부품 검사에서 양호로 판정되면 스위치 매트릭스를 절환시켜 고정물 지그의 에어용 핀에 스위치 단자를 접속시키고 전원 및 신호를 인가하여 각 부품의 기능을 테스트하는 기능 검사과정과 ;

상기 기능 검사후 인쇄회로기판의 기능이 양호/불량이거나 상기 부품 검사시 불량으로 판단된 경우 인가한 전원을 오프하고 검사한 인쇄회로기판을 반출시키는 인쇄회로기판 반출과정으로 이루어진다.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.

도1은 종래 인쇄회로기판 검사 장치 개략 구성도,

도2는 본 발명에 의한 인쇄회로기판 검사 장치 개략 구성도,

도3은 본 발명에 의한 인쇄회로기판 검사 장치의 상세 구성도,

도4는 도3의 스위치 매트릭스 모듈 및 고정물 지그의 상세 구성도,

도5는 본 발명에 의한 인쇄회로기판 검사 방법을 보인 신호 흐름도.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명

10 : 콤비네이션 테스터, 11 : 고정물 지그, 12 : 스위치 매트릭스 모듈, 13 : 부품 검사 모듈, 14 : 기능 검사 모듈, 15 : 내부 데이터 버스

도2는 본 발명에 의한 하나의 통합된 콤비네이션 테스터를 개략적으로 보여준 도면이다. 상기 본 발명에 의한 통합된 콤비네이션 테스터(인쇄회로기판 검사장치)는 도3에 도시된 바와 같다.

여기서, 참조번호 11은 검사할 인쇄회로기판이 안착되며 부품 검사와 기능 검사시 상기 인쇄회로기판의 위치를 알맞게 이동시키기 위한 고정물 지그이고, 참조번호 12는 상기 고정물 지그(11)의 각 단자에 접촉되어 상기 부품 검사와 기능 검사시 스위치를 절환시키기 위한 스위치 매트릭스 모듈이며, 참조번호 13은 상기 스위치 매트릭스 모듈(12)의 부품 검사 스위치에 접속되어 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트를 검사하는 부품 검사 모듈이다.

그리고, 참조번호 14는 상기 스위치 매트릭스 모듈(12)의 기능 검사 스위치에 겁속되어 상기 고정물 지그에 안착되는 PCB에 전원 및 신호를 인가하여 각 부품이 정상적으로 동작하는지를 검사하는 기능 검사 모듈이고, 참조번호 15는 상기 부품 검사 모듈(13) 및 기능 검사 모듈(14)과 내부 다른 제어부(도면에는 미도시)또는 신호 입력부(도면에는 미도시)간에 데이터 통신을 하기 위한 내부 데이터 버스이다.

상기에서, 고정물 지그(11)의 핀(11a)은 도4에 도시된 바와 같이, 공기 주입 여부에 따라 상기 핀(11a)이 상승되거나 하강하는 구조이며, 상기 스위치 매트릭스 모듈(12)은 도4에 도시된 바와 같이, 부품 테스트시 상기 고정물 지그(11)에 연결된 각 단자(11b)와 상기 부품 검사 모듈(13)간을 연결해주기 위한 부품 검사 스위치 매트릭스(12a)와, 상기 부품 테스트 및 기능 테스트시 상기 고정물 지그(11)에 연결된 각 단자(11b)와 상기 부품 검사 모듈(13)및 기능 검사 모듈(14)간을 상호 연결해주기 위한 공용 검사 스위치 매트릭스(12b)로 구성된다.

또한, 상기 기능 검사 모듈(14)은 아날로그/디지탈 기능을 검사하기 위한 아날로그/ 디지탈 모듈(14a)과, 카운터 모듈(14b)과, 파형 검사를 위한 파형검사 모듈(14c)과, 모터 드라이버 모듈(14d)로 구성 된다.

이와 같이 구성된 본 발명에 의한 인쇄회로기판 검사장치의 작용을 첨부한 도면 도2내지 도5에 의거 상세히 설명하면 다음과 같다.

먼저, 본 발명에 의한 인쇄회로기판 검사장치(10 : 콤비네이션 테스터)는 부품 검사를 위한 부품 검사기와 기능 검사를 위한 기능 검사기로 구성된다.

따라서 센서에 의해 검사할 인쇄회로기판이 검출되면, 기구적 동작에 의해 고정물 지그(11)가 상, 하로 업/다운되어 상기 인쇄회로기판을 검사용 고정물 지그(11)에 안착시킨다.

이후 도4에서와 같이 부품 검사 스위치 매트릭스(12a)가 연결되어 상기 고정물 지그(11)의 단자(11b)와 부품 검사 모듈(13)간에 신호 전송이 이루어지도록 한다.

이와 같은 상태에서 부품 검사 모듈(13)은 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트를 검사하여 그 결과치를 내부 데이터 버스(15)를 통해 출력해주게 되는데, 이때 부품 검사 결과 비정상적인 경우에는 바로 인가된 전원을 오프시키고, 콘덴서에 충전된 전하를 방전시킨 후 불량으로 판정을 하고 인쇄회로기판의 테스트를 종료하게 된다.

한편, 상기 부품 검사 결과 양호로 판정된 경우에는, 기능 검사를 위해 상기 스위치 매트릭스 모듈(12)내의 공용 검사 스위치 매트릭스(12b)를 온시켜 상기 고정물 지그(11)의 단자(11b)와 상기 기능 검사 모듈(14)이 접속되도록 한다. 이때 상기 고정물 지그(11)내의 에어핀(11a)에 공기를 주입하여 도4에 도시된 바와 같이 공압용 핀(11a)이 검사할 인쇄회로기판에 접촉 되도록 한다.

이와 같은 상태에서 인쇄회로기판에 전원(AC 또는 DC)을 인가하고 신호를 인가하여 각 부품의 기능을 테스트한다. 여기서 기능 검사시에는 PCB상에 전원을 인가하여 기능을 측정하기 때문에 ICT에서 필요로 하는 가딩 핀은 철저하게 ICT용 핀으로 오프시켜야 한다.

한편, 상기와 같이 PCB상에 전원 및 신호를 인가한 상태에서 기능 검사 모듈(14)은 시퀀스 프로그램에 의해 기능 검사 및 조정을 수행하게 되는데, 검사 도중에 불량으로 판정이 되면 즉시 전원을 오프하고 캐패시터의 충전된 전하를 방전시킨 다음 테스트를 완료하고 해당 인쇄회로기판을 다음 공정으로 반출시키게 된다.

이상에서 상술한 바와 같이 본 발명은 PCB 검사 공정시 하나의 콤비네이션 테스터로 부품 검사와 기능 검사를 모두 수행할 수 있으므로 2가지 시스템(부품 검사기, 기능 검사기)의 관리가 매우 용이해지는 효과가 있다.

또한, 하나의 콤비네이션 테스터를 이용하여 부품 검사와 기능 검사가 모두 가능하기 때문에 고정물 지그를 하나만 제작하여도 부품 검사와 기능 검사를 모두 수행할 수 있어 지그 제작에 소요되는 비용 및 시간을 절감 시킬 수 있는 효과도 있다.

그리고 하나의 테스터를 이용하여 부품 검사와 기능 검사를 수행하기 때문에 검사 시간을 단축시킬 수 있어 전체적인 제품 생산량도 향상시킬 수 있는 효과가 있다.

Claims

검사할 인쇄회로기판이 안착되며 부품 검사와 기능 검사시 상기 인쇄회로기판의 위치를 알맞게 이동시키기 위한 고정물 지그와;

상기 고정물 지그의 각 단자에 접촉되어 상기 부품 검사와 기능 검사시 스위치를 절환시키기 위한 스위치 매트릭스 모듈과;

상기 스위치 매트릭스 모듈의 부품 검사 스위치에 접속되어 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트를 검사하는 부품 검사 모듈과;

상기 스위치 매트릭스 모듈의 공용 검사 스위치에 접속되어 상기 고정물 지그에 안착되는 PCB에 전원 및 신호를 인가하여 각 부품이 정상적으로 동작하는지를 검사하는 기능 검사 모듈을 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
제1항에 있어서;

상기 부품 검사 모듈 및 기능 검사 모듈과 내부 다른 시스템과의 데이터 통신을 위한 내부 데이터 버스를 더 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
제1항에 있어서;

상기 고정물 지그는 상기 스위치 매트릭스 모듈내의 각 스위치와 전원 및 신호를 연결하기 위한 다수개의 단자와, 상기 검사할 인쇄회로기판의 기능 테스트시 공기에 의해 상기 인쇄회로기판과 상기 기능 검사 모듈을 연결해주기 위한 공압용핀을 구비한 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
제1항에 있어서;

상기 스위치 매트릭스 모듈은 부품 테스트시 상기 고정물 지그에 연결된 각 단자와 상기 부품 검사 모듈간을 연결해주기 위한 부품 검사 스위치 매트릭스와, 상기 부품 테스트 및 기능 테스트시 상기 고정물 지그에 연결된 각 단자와 상기 부품 검사 모듈 및 기능 검사 모듈간을 상호 연결해주기 위한 공용 검사 스위치 매트릭스로 구성된 것을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사장치.
검사할 인쇄회로기판이 감지되면 상/하 지그를 업/다운시켜 상기 인쇄회로기판을 정해진 위치로 이동시키는 인쇄회로기판 이동과정과;

상기 인쇄회로기판이 부품 검사를 위한 위치에 정상적으로 이동하면 스위치 매트릭스를 부품 검사 단자에 접속시키고 부품의 오삽과 누락 및 오픈/쇼트 상태를 검사하여 양호/불량을 판정하는 부품 검사과정과;

상기 부품 검사에서 양호로 판정되면 스위치 매트릭스를 절환시켜 고정물 지그의 에어용 핀에 스위치 단자를 접속시키고 전원 및 신호를 인가하여 각 부품의 기능을 테스트하는 기능 검사과정과;

상기 기능 검사후 인쇄회로기판의 기능이 정상/불량으로 판정되고 상기 부품 검사시 불량으로 판정된 경우 인가한 전원을 오프하고 검사를 종료한후 검사한 인쇄회로기판을 반출시키는 인쇄회로기판 반출과정을 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 인쇄회로기판 검사방법.