CN213398773U - 一种自动比对标准样管的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种自动比对标准样管的测试装置，属于半导体封装测试技术领域。本实用新型包括多个测试板组和测试主机，每个测试板组包括标准样管比对模块和待测产品测试模块，所述标准样管比对模块包括顶板电路板，所述待测产品测试模块包括底板电路板，所述测试主机分别与所述顶板电路板和所述底板电路板电连接；所述底板电路板正面的一侧设置有多个金手指，另一侧设置有牛角座，所述金手指和所述牛角座之间设置有金属支架凹凸槽；所述顶板电路板正面设置有和所述金属支架凹凸槽相匹配的预留插口槽。本实用新型通过测试主机可以做到100％检测每一颗产品生产时的测试装置的测试状态是否正常，能够实时监控产品生产时的测试情况，防止不良品编带。

Description

一种自动比对标准样管的测试装置

技术领域

本实用新型涉及属于半导体封装测试技术领域，更具体地说是一种自动比对标准样管的测试装置。

背景技术

产品在编带包装前，需要对产品进行性能检测。在产品进行正式的性能检测之前，需要通过测试装置检测产品是否合格，一般是人工通过镊子将标准样管置于样管比对的位置进行测试，看标准样管的电性参数测试值与原始的基准值是否满足误差要求。

为确保测试结果准确性，一般需要比对3颗或3颗以上的标准样管，每颗标准样管的每个工位依次测试比对，所有工位比对结束后，更换下一颗标准样管重复进行每个工位依次测试比对，操作难度大且容易引起标准样管丢失或管脚损坏，测试工位越多，需要比对的工作量越大，越耗时。并且无法在产品生产过程中(生产前标准样管比对PASS)实时检测测试主机和测试装置的状态是否正常，会存在不良品编带的风险。

实用新型内容

1.实用新型要解决的技术问题

针对上述人工操作难度大，测试工位多以及会存在不良品编带等问题，本实用新型设计了一种自动比对标准样管的测试装置，通过将标准样管比对模块与待测产品测试模块相连，并通过测试主机对数据进行收集和分析，可以进行实时比对，可以做到100％检测每一颗产品生产时的测试装置的测试状态是否正常，能够实时监控产品生产时的测试情况，防止不良品编带。

2.技术方案

为达到上述目的，本实用新型提供的技术方案为：

一种自动比对标准样管的测试装置，包括多个测试板组和测试主机，每个测试板组包括标准样管比对模块和待测产品测试模块，所述标准样管比对模块包括顶板电路板，所述待测产品测试模块包括底板电路板，所述测试主机分别与所述顶板电路板和所述底板电路板电连接；所述底板电路板正面的一侧设置有多个金手指，另一侧设置有牛角座，所述金手指和所述牛角座之间设置有金属支架凹凸槽；所述顶板电路板正面设置有和所述金属支架凹凸槽相匹配的预留插口槽，所述顶板电路板的正面还设置有焊盘，所述焊盘上焊接有标准样管芯片，所述焊盘与所述标准样管芯片的管脚一一对应焊接，将标准样管芯片焊接在顶板电路板上。将标准样管比对模块与待测产品测试模块相连，测试主机用于获取标准样管以及待测产品的测试数据，并对获取的测试数据进行分析，可以进行实时对比，通过测试主机控制模块可以做到100％检测每一颗产品生产时的测试装置和测试主机测试状态是否正常，能够实时监控产品生产时的测试情况，防止不良品编带。

进一步的技术方案，所述金手指通过底板电路板上的布线与所述金属支架凹凸槽相连接，所述金属支架凹凸槽与牛角座之间设置若干个继电器，所述继电器的数目与产品管脚数相同；所述金手指用于连接分选机，所述金手指的上面放置待测产品；所述牛角座用于连接测试主机；金属支架凹凸槽通过底板电路板上的布线与继电器相连接，继电器通过底板电路板上的布线与牛角座相连接。

进一步的技术方案，所述牛角座两边设立支撑架。

进一步的技术方案，所述预留插口槽的正反面留有金属焊盘，金属焊盘与金属支架凹凸槽焊接，使顶板电路板上的布线和底板电路板上的布线相连接，用于测试生产中切换电路。

进一步的技术方案，所述预留插口槽和所述标准样管芯片之间设置有若干个继电器，所述继电器的数目与产品管脚数相同；预留插口槽通过顶板电路板上的布线与继电器连接，继电器通过顶板电路板上的布线一一对应连接标准样管芯片的管脚。

3.有益效果

采用本实用新型提供的技术方案，与现有技术相比，具有如下有益效果：

(1)本实用新型的一种自动比对标准样管的测试装置，通过将标准样管比对模块与待测产品测试模块相连，可以实时进行对比，取代人工多测试站点比对标准样管，在提高生产效率的同时，保护标准样管寿命，且优化了监控生产中的硬件功能是否正常的能力，更加高效，准确，方便。

(2)本实用新型的一种自动比对标准样管的测试装置，通过将标准样管比对模块与待测产品测试模块相连，同时在控制模块中加入标准样管比对项目，通过测试主机进行标准样管实时比对，如果样管比对超过允许误差范围，则参数显示失效，达到了实时监控样管比对PASS 的情况下生产产品；其中标准样管比对PASS，则测试主机和测试装置状态正常，标准样管比对FAIL，则测试主机和测试装置状态异常。

(3)本实用新型的一种自动比对标准样管的测试装置，通过测试主机控制模块可以做到 100％检测每一颗产品生产时的测试装置和测试主机测试状态是否正常，能够实时监控产品生产时的测试情况，防止不良品编带。

附图说明

图1为本实用新型的底板电路板的结构示意图；

图2为本实用新型的顶板电路板的结构示意图。

图中：1、底板电路板；2、金手指；3、金属支架凹凸槽；4、继电器；5、牛角座；6、支撑架；7、顶板电路板；8、预留插口槽；9、标准样管芯片。

具体实施方式

为进一步了解本实用新型的内容，结合附图对本实用新型作详细描述。

实施例1

本实施例的一种自动比对标准样管的测试装置，如图1-2所示，包括多个测试板组和测试主机，每个测试板组包括标准样管比对模块和待测产品测试模块，所述标准样管比对模块包括顶板电路板7，所述待测产品测试模块包括底板电路板1，所述测试主机与所述顶板电路板7和所述底板电路板1电连接。

底板电路板1包括印刷电路板，所述印刷电路板正面一侧设置有多个金手指2，所述印刷电路板正面的另一侧设置有一牛角座5，所述牛角座5两边设立支撑架6，所述金手指2和牛角座5之间设置有金属支架凹凸槽3，所述金属支架凹凸槽3与牛角座5之间设置若干个继电器4，继电器4的数目等于产品的管脚数，所述金手指2通过印刷电路板上的布线和带金属支架凹凸槽3相连接，所述金属支架凹凸槽3通过印刷电路板上的布线和继电器4相连接，所述继电器4通过印刷电路板上的布线和牛角座5相连接。所述金手指2连接分选机，所述金手指2上面可以设置待测产品，所述牛角座5用于连接测试主机。

需要说明的是：本实施例中的芯片管脚是分开尔文测试的，芯片的每个管脚内部分为 SINCE端和FORCE端，因此，金手指2的数目为产品管脚数的2倍，每个管脚对应相邻的两个金手指2。

顶板电路板7包括印刷电路板，所述印刷电路板正面一侧设置有和底板电路板1上的金属支架凹凸槽3相匹配的预留插口槽8，所述预留插口槽8正反面留有金属焊盘，金属焊盘能实现印刷电路板正反面电性导通，并与底板电路板1上的金属支架凹凸槽3进行焊接，使底板电路板1的印刷电路板上的布线与顶板电路板7的印刷电路板上的布线相连接，用于测试生产中切换电路，所述顶板电路板7的印刷电路板的另外一侧设置有焊盘，所述焊盘上焊接有标准样管芯片9，所述焊盘与标准样管芯片9的管脚一一对应焊接，所述预留插口槽8和标准样管芯片9之间设置有若干个继电器4，所述继电器4的数目等于产品管脚数，所述预留插口槽8通过印刷电路板上的布线和继电器4相连接，所述继电器4通过印刷电路板上的布线和标准样管芯片9相连接，所述继电器4通过印刷电路板上的布线一一对应连接和标准样管芯片9的管脚。

测试主机包括控制模块，所述控制模块与底板电路板1和顶板电路板7电连接，用于获取标准样管以及待测产品的测试数据，并对获取的测试数据分析，借此实时确定设备是否正常，测试主机的程序可以将待测产品的测试数据与标准样管的数据进行比对，以确定待测产品是否合格。

其中，若是标准样管比对的误差满足客户的误差要求，则当前状态下的测试主机和测试装置状态是PASS的，测试主机和测试装置状态正常，产品可以正常生产。若是标准样管比对的误差不满足客户的误差要求，则当前状态下的测试主机和测试装置状态是FAIL的，则测试主机和测试装置异常，需要检查测试主机和测试装置。本实施例的检测装置检测的产品结果准确，不会出现好品、坏品混淆，影响产品出货良率的情况。并且通过本实施例的测试装置可以做到100％检测每一颗产品生产时的测试主机的测试状态是否正常，能够实时监控产品生产时的测试情况，防止不良品编带。

本实施例中的测试装置的具体测试原理为：假设标准样管芯片9需比对测试项目A，此项目客户提供的标准样管芯片9的样管标准值为A1。

首先顶板电路板7上的继电器4开关断开，底板电路板1上的继电器4的开关闭合，正常测试待测产品的项目A得出值A2。

当需要比对样管项目A时：

将底板电路板1上的继电器4的开关断开，顶板电路板7上的继电器4开关闭合，此时测试主机测试的是标准样管芯片9，开始测试比对项目A，得出标准样管芯片A项目测试值A1'。

测试主机的控制模块测试判断(A1'-A1)的绝对值，如果(A1'-A1)的绝对值在客户允许的误差范围内，产品的样管比对PASS，判断测试主机以及测试装置测试状态正常，判定产品A项目测试合格，判断待测产品A2值测试准确。

如果(A1'-A1)的绝对值不在客户允许的误差范围内，产品的样管比对FAIL，判断测试主机以及测试装置测试状态异常，判断待测产品A2值测试不良。此时，相应工作人员立刻停机修复检查测试主机以及测试装置，测试主机以及测试装置修复后，使(A1'-A1)的绝对值达到客户允许的误差范围内，测试主机以及测试装置测试状态正常后，开始测试下一颗产品。

当项目A比对测试结束后，底板电路板1上的继电器4的开关闭合，顶板电路板7上的继电器4开关断开，开始测试其他不需要比对的项目。

A项目以及A项目之外的其他不需要比对的功能项目都对应配套设置前述的测试装置，每个测试装置对应A项目以及A项目之外的其他不需要比对的功能项目的测试工位，都按照此测试原理和方法进行测试，保证每颗产品测试每个功能项目都能自动比对样管，实时监控生产中测试主以及测试装置的测试状态。

本实施例中的测试主机的控制模块可以直接测试出A1'值，同时测试主机的控制模块自动默认样管测试值为A1，并且控制模块可以自动计算出A1'-A1的值，控制模块可以自动判断 A1'-A1的值是否在客户允许的误差范围内，实现多工位自动比对。

以上示意性的对本实用新型及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本实用新型的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。所以，如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本实用新型创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种自动比对标准样管的测试装置，其特征在于：包括多个测试板组和测试主机，每个测试板组包括标准样管比对模块和待测产品测试模块，所述标准样管比对模块包括顶板电路板(7)，所述待测产品测试模块包括底板电路板(1)，所述测试主机分别与所述顶板电路板(7)和所述底板电路板(1)电连接；所述底板电路板(1)正面的一侧设置有多个金手指(2)，另一侧设置有牛角座(5)，所述金手指(2)和所述牛角座(5)之间设置有金属支架凹凸槽(3)；所述顶板电路板(7)正面设置有和所述金属支架凹凸槽(3)相匹配的预留插口槽(8)；所述顶板电路板(7)正面还设置有焊盘，所述焊盘上焊接有标准样管芯片(9)，所述焊盘与所述标准样管芯片(9)的管脚一一对应焊接。

2.根据权利要求1所述的一种自动比对标准样管的测试装置，其特征在于：所述金手指(2)与所述金属支架凹凸槽(3)相连接，所述金属支架凹凸槽(3)与牛角座(5)之间设置若干个继电器(4)，所述继电器(4)的数目与产品管脚数相同；所述金手指(2)用于连接分选机，所述金手指(2)的上面放置待测产品；所述牛角座(5)用于连接测试主机。

3.根据权利要求2所述的一种自动比对标准样管的测试装置，其特征在于：所述牛角座(5)两边设立支撑架(6)。

4.根据权利要求1或2或3所述的一种自动比对标准样管的测试装置，其特征在于：所述预留插口槽(8)的正反面留有金属焊盘，金属焊盘与金属支架凹凸槽(3)焊接。

5.根据权利要求4所述的一种自动比对标准样管的测试装置，其特征在于：所述预留插口槽(8)和所述标准样管芯片(9)之间设置有若干个继电器(4)，所述继电器(4)的数目与产品管脚数相同。

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