KR0179093B1 - 테스트 어댑터 보드 체크기 - Google Patents

테스트 어댑터 보드 체크기 Download PDF

Info

Publication number
KR0179093B1
KR0179093B1 KR1019950068179A KR19950068179A KR0179093B1 KR 0179093 B1 KR0179093 B1 KR 0179093B1 KR 1019950068179 A KR1019950068179 A KR 1019950068179A KR 19950068179 A KR19950068179 A KR 19950068179A KR 0179093 B1 KR0179093 B1 KR 0179093B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
terminal
relay control
checking
test
board
Prior art date
Application number
KR1019950068179A
Other languages
English (en)
Other versions
KR970048581A (ko
Inventor
조인섭
김종우
Original Assignee
김광호
삼성전자주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019950068179A priority Critical patent/KR0179093B1/ko
Publication of KR970048581A publication Critical patent/KR970048581A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0179093B1 publication Critical patent/KR0179093B1/ko

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31903Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
    • G01R31/31905Interface with the device under test [DUT], e.g. arrangements between the test head and the DUT, mechanical aspects, fixture
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • G01R31/31715Testing of input or output circuits; test of circuitry between the I/C pins and the functional core, e.g. testing of input or output driver, receiver, buffer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 테스트 보드의 에러를 체크하기 위한 체크기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테스터, 케이블 및 어댑터의 이상 유무를 점검할 수 있도록 회로 소자를 이용하여 회로 보드를 제작함으로써 각각의 성능을 테스트하기 위한 옵션보드에 적합하도록 프로그램을 개발하여 테스터 설비를 자동적으로 점검하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기에 관한 것이다.
본 발명은, 테스트 어댑터 보드 체크기에 있어서, (1) 저항 R0와 복수 개의 저항 R이 각각 연결되는 복수 개의 릴레이 콘트롤 단자로서, 상기 릴레이 콘트롤 단자 모두가 동작하지 않을 때는 상기 저항 R0에만 전류가 흐르고, 상기 릴레이 콘트롤 단자가 동작할 때에는 동작을 하는 상기 릴레이 콘트롤 단자에 연결된 상기 저항 R에만 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 릴레이 콘트롤 단자와, (2) 소정의 저항이 연결되는 매트릭스 핀 단자와, (3) 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머에 접속하여 상기 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, (4) 직류 전원을 점검하기 위해서 소정의 저항과 액정 표시판이 연결되는 단자를 구비하며, 상기 (1)의 릴레이 콘트롤 단자와 상기 (2)의 매트릭스 핀 단자와 상기 (3)의 단자와 상기 (4)의 단자는 각각 커넥터에 의해서 외부 장치와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드체크기를 제공한다.
따라서, 상기 전술한 바에 의하면, 테스트 설비에 에러가 발생하였는지의 유무를 체크할 수 있으므로 반도체 칩의 특성을 점검하는데 있어서 정확도를 기할 수 있는 장점이 있고, 불량률을 줄임으로써 생산성이 향상되는 이점(利點)이 있다.

Description

테스트 어댑터 보드 체크기
제1도는 본 발명의 릴레이 콘트롤 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.
제2도는 본 발명의 매트릭스 핀 단자를 점검하기 위한 회로 구성도.
제3도는 본 발명의 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 회로 구성도.
제4도는 본 발명의 직류 전원을 점검하기 위한 회로 구성도.
제5도는 본 발명의 테스트 어댑터 보드 체크기를 나타내는 정면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 액정 표시판 20 : 커넥터
22 : 저항
본 발명은 테스트 보드의 에러를 체크하기 위한 체크기에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 테스터, 케이블 및 어댑터의 이상 유무를 점검할 수 있도록 회로 소자를 이용하여 회로 보드를 제작함으로써 각각의 성능을 테스트하기 위한 옵션보드에 적합하도록 프로그램을 개발하여 테스터 설비를 자동적으로 점검하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기에 관한 것이다.
현재 여러 형태의 패키지 형태는 각각의 필요성에 따라 상황에 맞게 개발되고 발전되어 왔으며, 지금도 계속하여 새로운 형태의 패키지 형태가 개발중에 있다. 따라서, 상기 패키지의 구성 요소로서 가장 중요한 반도체 칩의 특성을 검사하기 위해서는 특성 검사 기능을 갖춘 설비가 필요하게 되는데, 상기 반도체 칩의 특성을 검사하기 위해서는 제품 기능에 맞게 제작한 테스트 보드와 테스터와 어댑터가 필요하고 상기 테스터와 어댑터를 전기적으로 연결하여 주는 케이블이 사용된다.
그리고, 상기와 같은 구성에 의하여 반도체 칩 및 반도체 패키지를 검사하기 위하여 각각의 특성을 검사할 수 있는 테스트 보드가 구비된 테스터와 어댑터를 케이블에 의해 전기적으로 연결시킨 후 테스트 보드를 테스터에 셋업할 때 정상적인 신호가 발생하지 않게 되면 상기 문제점을 찾기 위하여 계측기를 사용하여 수작업을 해야 한다.
그러므로, 상기와 같은 수작업을 하지 않고 테스터의 기능, 어댑터, 케이블의 이상 유무를 점검할 수 있도록 보드를 제작하고 테스트 보드의 회로에 적합한 프로그램을 개발하여 자동적으로 점검이 되도록 한다.
종래의 기술은 테스터 설비에 구성되어 있는 옵션 모듈(예를 들어, 설비의 기능 직류 전원, 오디오, 타이머, 릴레이 제어 단자 보드 등)을 체크할 때 수정 프로그램을 시행하여 테스터 설비 내부의 옵션 보드를 점검하므로 상기 외장 설비 인 케이블, 어댑터 등에 문제가 발생 시에는 이상 유, 무의 점 검 이 안되었으므로 다른 계측기를 사용하여 오픈 쇼트 점검을 하여야 하는 문제점이 있었다.
따라서, 본 발명의 목적은 반도체 칩의 특성을 점검하기 위한 테스트 설비(예를 들어, 케이블, 어댑터, 테스터)등에 이상이 발생하여 반도체 칩의 특성을 정상적으로 체크하지 못할 때 설비를 측정하기 위한 테스트 어댑터 보드 체크기를 제공하는데 있다
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 테스트 어댑터 보드 체크기에 있어서, (1) 저항 R0와 복수 개의 저항 R이 각각 연결되는 복수 개의 릴레이 콘트롤 단자로서, 상기 릴레이 콘트롤 단자 모두가 동작하지 않을 때는 상기 저항 R0에만 전류가 흐르고, 상기 릴레이 콘트롤 단자가 동작할 때에는 동작을 하는 상기 릴레이 콘트롤 단자에 연결된 상기 저항 R에만 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 릴레이 콘트롤 단자와, (2) 소정의 저항이 연결되는 매트릭스 핀 단자와, (3) 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머에 접속하여 상기 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, (4) 직류 전원을 점검하기 위해서 소정의 저항과 액정 표시판이 연결되는 단자를 구비하며, 상기 (1)의 릴레이 콘트롤 단자와 상기 (2)의 매트릭스 핀 단자와 상기 (3)의 단자와 상기 (4)의 단자는 각각 커넥터에 의해서 외부 장치와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드 체크기를 제공한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 테스트 어댑터 보드 체크기의 구성을 보다 상세하게 설명하고자 한다.
제1도는 본 발명의 릴레이 콘트롤 단자를 점검하기 위한 회로 구성도이고, 제2도는 본 발명의 매트릭스 핀 단자를 점검하기 위한 회로 구성도이며, 제3도는 본 발명의 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 회로 구성도이다.
그리고, 제4도는 본 발명의 직류 전원을 점검하기 위한 회로 구성도를 나타낸다.
먼저, 제1도를 참조하면, 전원 단자에 5V의 전압을 인가하여 릴레이 콘트롤 단자가 동작하지 않을 때는 저항(R0)에만 전류가 흐르도록 구성되어 있고, 릴레이 콘트롤 단자가 동작하면 동작을 한 단자의 저항(R)에 전류가 흐르도록 구성되어 있다. 따라서, 이때 흐르는 전류를 미터를 이용하여 저항을 측정함으로써 이상 유무를 점검하게 된다.
또한, 제2도는 매트릭스 핀을 점검하기 위한 구성 회로도로서, 각각의 매트릭스 핀 단자에 전원을 연결하여 전압을 인가한 후 각각의 저항(R)에 흐르는 전류를 측정함으로써 테스트 보드의 이상 유무를 점검한다.
제3도를 참조하여 살펴보면, 오디오 전원 단자에서 주파수와 진폭을 갖는 파형을 인가하여 진폭은 오디오 미터에서 측정하여 이상 유무를 점검하고, 주파수는 타이머로 측정할 수 있도록 구성되어 있다.
계속해서, 제4도를 참조하여 보면, 각각의 전원으로 ±15V, 12V, 5V의 직류 전원 단자에 저항과 액정 표시판을 설치하여 이상 유무를 육안으로 점검할 수 있도록 구성되어 있다.
따라서, 상기 전술한 바에 의하면, 테스트 설비에 에러가 발생하였는지의 유무를 체크할 수 있으므로 반도체 칩의 특성을 점검하는데 있어서 정확도를 기할 수 있는 장점이 있고, 불량률을 줄임으로써 생산성이 향상되는 이점(利點)이 있다.

Claims (1)

  1. 테스트 어댑터 보드 체크기에 있어서, (1) 저항 R0와 복수 개의 저항 R이 각각 연결되는 복수 개의 릴레이 콘트롤 단자로서, 상기 릴레이 콘트롤 단자 모두가 동작하지 않을 때는 상기 저항 R0에만 전류가 흐르고, 상기 릴레이 콘트롤 단자가 동작할 때에는 동작을 하는 상기 릴레이 콘트롤 단자에 연결된 상기 저할 R에만 전류가 흐르는 것을 특징으로 하는 릴레이 콘트롤 단자와, (2) 소정의 저항이 연결되는 매트릭스 핀 단자와, (3) 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머에 접속하여 상기 오디오 전원 단자, 오디오 미터 및 타이머를 점검하기 위한 단자와, (4) 직류 전원을 점검하기 위해서 소정의 저항과 액정 표시판이 연결되는 단자를 구비하며, 상기 (1)의 릴레이 콘트롤 단자와 상기 (2)의 매트릭스 핀 단자와 상기 (3)의 단자와 상기 (4)의 단자는 각각 커넥터에 의해서 외부 장치와 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 테스트 어댑터 보드 체크기.
KR1019950068179A 1995-12-30 1995-12-30 테스트 어댑터 보드 체크기 KR0179093B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) 1995-12-30 1995-12-30 테스트 어댑터 보드 체크기

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) 1995-12-30 1995-12-30 테스트 어댑터 보드 체크기

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR970048581A KR970048581A (ko) 1997-07-29
KR0179093B1 true KR0179093B1 (ko) 1999-04-01

Family

ID=19447963

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950068179A KR0179093B1 (ko) 1995-12-30 1995-12-30 테스트 어댑터 보드 체크기

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0179093B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016224954A1 (de) 2015-12-15 2017-07-13 Hyundai Autron Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zum Optimieren eines Ultraschallsignals

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102016224954A1 (de) 2015-12-15 2017-07-13 Hyundai Autron Co., Ltd. Vorrichtung und Verfahren zum Optimieren eines Ultraschallsignals

Also Published As

Publication number Publication date
KR970048581A (ko) 1997-07-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100187727B1 (ko) 처리기 접촉 불량을 확인할 수 있는 접촉 점검 장치 및 이를 내장한 집적회로 소자 검사 시스템
US11493549B2 (en) System and method for performing loopback test on PCIe interface
KR0179093B1 (ko) 테스트 어댑터 보드 체크기
US4931742A (en) Self-protecting power bus testing system
JP2006189340A (ja) 半導体デバイスの検査システムおよび検査方法
CN113406535B (zh) 一种检测板间电子线的测试板和测试方法
KR100251802B1 (ko) 케이블 검사장치
KR100355716B1 (ko) 인서키트테스터에서의 저저항 측정방법
JPH04315068A (ja) プリント回路板の検査装置
JPH06194410A (ja) バーンイン装置
KR20040080787A (ko) 인쇄회로기판 검사장치
JPS6317015Y2 (ko)
JP2591453B2 (ja) バーンインボード検査装置およびバーンインボード検査方法
JPH10300823A (ja) プローバの点検方法
GB2268277A (en) Testing electronic circuits
JPS629276A (ja) 半導体集積回路検査装置
JPS63256872A (ja) 2点間測定式導通試験器
KR19990034825A (ko) 차량항법장치 메인보드 검사장치
KR20110007433U (ko) Fpcb 및 케이블 검사 장치
JPH0326973A (ja) 集積回路検査装置の検査方法
JPS59145546A (ja) 半導体装置の検査装置
JPH04343246A (ja) 半導体検査装置の検査方法
JPH0249670B2 (ko)
JPH04302453A (ja) 半導体試験装置
JPH0277666A (ja) 配線の試験方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20061030

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee