JPWO2019160062A1 - 多数個取り素子収納用パッケージおよび多数個取り光半導体装置 - Google Patents

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Abstract

本開示の多数個取り素子収納用パッケージは、複数の第1素子収納用パッケージ領域、複数の第2素子収納用パッケージ領域およびダミー領域を含み、第1面および第2面を有する母基板と、第1面のダミー領域に配設される第1幹電極と、第2面に配設される第2幹電極とを備える。各第1素子収納用パッケージ領域および各第2素子収納用パッケージ領域は、第1面に配設される枠体と、第1面に配設される、一端が枠体の内側に位置し、他端が第1幹電極に接続される第1配線導体と、一端が第1面における枠体の内側に位置し、他端が第2幹電極に接続される第2配線導体とを含む。

Description

本開示は、多数個取り素子収納用パッケージおよび多数個取り光半導体装置に関する。
半導体レーザ素子(Laser Diode)は、発光ダイオード素子(Light Emitting Diode)と比較して、波長および位相が揃った光を出射できる。そのため、半導体レーザ素子は、例えば、高輝度表示装置、走査型表示装置等の画像表示装置の分野において、発光ダイオード素子に対する優位性を有するとされている。
近年、半導体レーザ素子の小型化が進められている。これに伴って、多数の半導体レーザ素子、それぞれが半導体レーザ素子を含む多数の半導体レーザ装置等に対するエージングを効率よく行うことが求められている。例えば、特許文献1は、大口径サブマウントに多数の半導体レーザ素子を取り付けた状態において、素子特性の評価、エージング等を行うことを記載している。
従来の技術では、半導体素子を含む半導体レーザ装置に対するエージングを行うためには、半導体レーザ素子をTO−CAN型パッケージ等の素子収納用パッケージに実装して半導体レーザ装置を作製した後、半導体レーザ装置をエージング装置に電気的に接続する必要があった。そのため、多数の半導体レーザ装置に対するエージングを行う場合、多数の半導体レーザ装置の電極とエージング装置の端子との接続作業に伴う時間ロスが発生し、生産性が低下することがある。
特開平6−77317号公報
本開示の実施形態の多数個取り素子収納用パッケージは、母基板と、第1幹電極と、少なくとも1つの第2幹電極と、を備える。前記母基板は、第1方向に沿って配列される複数の第1素子収納用パッケージ領域と、前記第1方向に直交する第2方向に前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と間隔を空けて、前記第1方向に沿って配列される複数の第2素子収納用パッケージ領域と、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と前記複数の第2素子収納用パッケージ領域との間に位置するダミー領域とを含み、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する。前記第1幹電極は、前記第1面の前記ダミー領域に配設され、前記第1方向に延びる。前記少なくとも1つの幹電極は、前記第2面に配設される。前記複数の第1素子収納用パッケージ領域および前記複数の第2素子収納用パッケージ領域の各々は、前記第1面に配設される枠体と、前記第1面に配設される、一端が前記枠体の内側に位置し、他端が前記第1幹電極に接続される第1配線導体と、一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第2幹電極に接続される第2配線導体と、を含む。
また、本開示の実施形態の多数個取り素子収納用パッケージは、母基板と、格子状の枠体と、第1電極パターンと、第2電極パターンと、を備える。前記母基板は、複数の素子収納用パッケージ領域が縦横に配列され、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する。前記格子状の枠体は、前記第1面に前記複数の素子収納用パッケージ領域の境界に沿って配設された壁部を有する。前記第1電極パターンは、前記枠体の、前記母基板側とは反対側の面に配設される。前記第2電極パターンは、前記第2面に配設される。前記複数の素子収納用パッケージ領域の各々は、一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第1電極パターンに接続される第1配線導体と、一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記第2電極パターンに接続される第2配線導体と、を含む。
また、本開示の実施形態の多数個取り素子収納用パッケージは、母基板と、少なくとも1つの第1幹電極と、少なくとも1つの第2幹電極と、を備える。前記母基板は、複数の素子収納用パッケージ領域が縦横に配列され、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する。前記少なくとも1つの第1幹電極は、前記第2面に配設される。前記少なくとも1つの第2幹電極は、前記第2面に配設される。前記複数の素子収納用パッケージ領域の各々は、前記第1面に配設される枠体と、一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第1幹電極に接続される第1配線導体と、一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第2幹電極に接続される第2配線導体と、を含む。
本開示の実施形態の多数個取り光半導体装置は、上記の多数個取り素子収納用パッケージと、前記多数個取り素子収納用パッケージに搭載された複数の光半導体素子と、を備える。
本発明の目的、特色、および利点は、下記の詳細な説明と図面とからより明確になるであろう。
本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の一例を示す平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の一例を示す、図1Aとは反対側から視た平面図である。 図1Aの切断面線A−Aで切断した断面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。 多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図3Aとは反対側から視た平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図4Aとは反対側から視た平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図5Aとは反対側から視た平面図である。 図5Aの切断面線B−Bで切断した断面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。 本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図7Aとは反対側から視た平面図である。 図7Aの切断面線C−Cで切断した断面図である。 本開示の多数個取り光半導体装置の実施形態の一例を示す平面図である。
以下に、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の一例について、添付の図面を参照しつつ説明する。
図1Aは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の一例を示す平面図である。図1Bは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の一例を示す、図1Aとは反対側から視た平面図である。図2は、図1Aの切断面線A−Aで切断した断面図である。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1は、母基板10と、第1幹電極14と、第2幹電極15とを備える。
母基板10は、電気絶縁材料から成る絶縁基板である。母基板10は、第1面10a、および第1面10aとは反対側の第2面10bを有している。母基板10は、第1方向(図1A,1Bにおける上下方向)に沿って配列された複数の第1素子収納用パッケージ領域11を有している。また、母基板10は、第1方向に直交する第2方向(図1A,1Bにおける左右方向)に第1素子収納用パッケージ領域11と間隔を空けて、第1方向に沿って配列された複数の第2素子収納用パッケージ領域12を有している。各第1素子収納用パッケージ領域11と各第2素子収納用パッケージ領域12とは、同じ外形寸法を有している。また、同数の第1素子収納用パッケージ領域11および第2素子収納用パッケージ領域12が配列されている。母基板10は、第1素子収納用パッケージ領域11と第2素子収納用パッケージ領域12との間に位置するダミー領域13をさらに有している。ダミー領域13は、複数の第1素子収納用パッケージ領域11と複数の第2素子収納用パッケージ領域12を接続する領域である。
第1幹電極14は、導電性材料から成る。第1幹電極14は、第1面10aのダミー領域13に配設されており、第1方向に延びている。第1方向において、第1幹電極14は、複数の第1素子収納用パッケージ領域11および複数の第2素子収納用パッケージ領域12と同等またはそれ以上の長さを有している。また、第1方向における第1幹電極14の一端部に、電極パッドが配設されていてもよい。この電極パッドは、エージングの際に、エージング装置のプローブピンを当接させるための電極パッドとして使用されてもよい。
第2幹電極15は、導電性材料から成る。第2幹電極15は、第2面10bのダミー領域13に配設されており、第1方向に延びている。第1方向において、第2幹電極15は、複数の第1素子収納用パッケージ領域11および複数の第2素子収納用パッケージ領域12と同等またはそれ以上の長さを有している。また、図1Bに示すように、第1方向における第2幹電極15の一端部には、電極パッド19が設けられている。電極パッド19は、エージングを行う際に、プローブピンを当接させるための電極パッドとして使用することができる。
各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域12は、枠体16と、第1配線導体17と、第2配線導体18とを有している。
枠体16は、電気絶縁性材料から成る。枠体16は、母基板10の第1面10aに配設されている。第1面10aにおける枠体16によって取り囲まれた領域が、素子の実装領域となる。枠体16は、第1素子収納用パッケージ領域11および第2素子収納用パッケージ領域12の、第2方向における外方側に位置する一部の領域を取り囲んでいる。枠体16は、平面視における外形形状が、例えば、矩形状、正方形状、円形状等であってもよく、その他の形状であってもよい。本実施形態では、図1Aに示すように、枠体16は、平面視において略矩形状の外形形状を有している。枠体16は、略矩形状の外形形状の一辺を構成する側壁に、枠体16の内外を貫通する貫通孔16aが設けられている。貫通孔16aは、光半導体装置の光取り出し口として使用することができる。貫通孔16aは、透光性のガラス材料から成る窓部材によって封止されていてもよい。また、第1方向に隣接する2つの枠体16は、一体化されていてもよく、別体であってもよい。本実施形態では、図1Aに示すように、第1方向に隣接する2つの枠体16が一体化されている。
第1配線導体17は、導電性材料から成る。第1配線導体17は、第1面10aに配設されている。第1配線導体17は、一端が枠体16の内側に位置し、他端が第1幹電極14に接続されている。第1配線導体17は、概略、第2方向に延びている。第1配線導体17は、一定の幅を有する構成であってもよい。例えば図1Aに示すように、枠体16の外側に位置する部分が、枠体16の内側に位置する部分よりも大きい幅を有する構成であってもよい。
第2配線導体18は、導電性材料から成る。第2配線導体18は、第1面10aから第2面10bにかけて配設されている。第2配線導体18は、第1平面導体部18aと、貫通部18bと、第2平面導体部18cとを有している。第1平面導体部18aは、第1面10aに配設され、第2方向に延びている。第1平面導体部18aは、一端が枠体16の内側に位置し、他端が枠体16の外側に位置している。貫通部18bは、母基板10を厚み方向に貫通しており、第1面10a側の一端が、第1平面導体部18aに接続されている。第2平面導体部18cは、第2面10bに配設され、第2方向に延びている。第2平面導体部18cは、一端が貫通部18bに接続され、他端が第2幹電極15に接続されている。
各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域12は、第2面10bに、第2平面導体部18cから離間して設けられる導体層42を有していてもよい。導体層42は、平面視において、枠体16によって取り囲まれた、光半導体素子の実装領域に重なるように設けられていてもよい。導体層42を設けることにより、多数個取り素子収納用パッケージ1から作製される光半導体装置を、外部基板に強固に接合することが可能になる。導体層42は、接地電位に接続されてもよい。これにより、素子の駆動信号にノイズが混入することを抑制できる。また、導体層42を設けることにより、素子を駆動した際に発生する熱を効率良く外部に放熱することが可能になる。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1は、図1A,1Bに示すように、複数の第1素子収納用パッケージ領域11と複数の第2素子収納用パッケージ領域12とは、ダミー領域13を通り第1方向に延びる仮想線Lに対して線対称となっている。これにより、枠体16、第1配線導体17および第2配線導体18を容易に形成することができる。
母基板10および枠体16は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)、アルミナ(Al)等のセラミックスまたはガラス−セラミックス等のセラミック材料である絶縁材料から成る。母基板10および枠体16は、絶縁材料を用いて一体的に作製されたものであってもよい。母基板10および枠体16は、絶縁材料から成る絶縁層を複数積層して作製されたものであってもよい。母基板10と枠体16とを一体的に作製する場合には、例えば、熱可塑性のセラミックシートおよび型部材を用いたモールド工法によって作製することができる。第1幹電極14、第2幹電極15、第1配線導体17および第2配線導体18は、例えばタングステン、モリブデン、銅、銀または銀パラジウム等の金属粉末の焼結体等から構成されている。
多数個取り素子収納用パッケージ1は、各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域12に光半導体素子40を実装することによって、多数個取り光半導体装置とすることができる。光半導体素子40としては、例えば、端面発光型の半導体レーザ素子を使用することができる。光半導体素子40は、光半導体素子40の光出射面が枠体16に形成された貫通孔16aに対向するように実装される。光半導体素子40は、例えば、一方の電極を、はんだ等の導電性接合材を介して、第1配線導体17に接続し、他方の電極を、ボンディングワイヤ41を介して、第2配線導体18に接続するようにしてもよい。これにより、光半導体素子40は、各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域に実装させることができる。また、多数個取り光半導体装置は、枠体16の、母基板10側とは反対側の面に、例えば金属材料等から成る、蓋体が取り付けられていてもよい。蓋体は、エージングを行う前に取り付けられてもよく、エージングを行った後に取り付けられてもよい。
上記構成の多数個取り光半導体装置は、多数の光半導体装置が並列に接続されてなる光半導体装置アレイと等価である。したがって、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことができる。例えば、エージングは次のようにして行うことができる。先ず、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域から発せられる光を受光可能な多数のフォトダイオードと、第1幹電極14に当接可能なプローブピンと、第2幹電極15に接続されている電極パッド19に当接可能なプローブピンと、を備えたエージング装置を準備する。次に、このエージング装置を、各フォトダイオードが、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域からの光を受光可能な状態で、多数個取り光半導体装置に接続する。その後、プローブピンを第1幹電極14および電極パッド19に当接させて、多数個取り光半導体装置に通電する。これにより、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことが可能になる。したがって、多数個取り素子収納用パッケージ1を備える多数個取り光半導体装置によれば、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。上記のエージングは、ドライエア雰囲気中で行ってもよい。また、上記のエージングは、各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域12を封止する前に行ってもよい。
また、多数個取り素子収納用パッケージ1を備える多数個取り光半導体装置は、エージングを行った後、図1A,1Bに示す分割予定線(一点鎖線)に沿って個片化することによって、多数の光半導体装置を作製することができる。多数個取り光半導体装置の個片化は、例えば、レーザ光を用いたダイシング加工によって行うことができる。多数個取り素子収納用パッケージ1を備える多数個取り光半導体装置では、個片化する際に、ダミー領域13と、ダミー領域13に配設された第1幹電極14および第2幹電極15とを一括して除去することができる。また、第1配線導体17、および第2配線導体18の第2平面導体部18cにおける枠体16の外側に位置している部分は、光半導体装置を駆動するための電極パッドとして使用することができる。このように、多数個取り素子収納用パッケージ1を備える多数個取り光半導体装置は、個片化した後に、不要な電極の除去、光半導体装置を駆動するために必要な電極パッドの形成等の加工を行う必要がなく、生産性を向上させることができる。また、多数個取り素子収納用パッケージ1を備える多数個取り光半導体装置は、エージング装置のプローブピンが第1配線導体17および第2配線導体18に当接しないので、エージングによる不良の発生を抑制し、生産性を向上させることができる。
上記のように、本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1によれば、エージングにおける時間ロスを低減することができ、生産性を向上させることができる。
図3Aは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。図3Bは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図3Aとは反対側から視た平面図である。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Aは、多数個取り素子収納用パッケージ1と比較して、第1配線導体および第2配線導体の構成が異なり、その他については同様の構成である。このため、同様の構成については、多数個取り素子収納用パッケージ1と同じ参照符号を付して詳細な説明は省略する。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Aは、図3A,3Bに示すように、平面視した際に、複数の第1素子収納用パッケージ領域11と複数の第2素子収納用パッケージ領域12とが、複数の第1素子収納用パッケージ領域11、複数の第2素子収納用パッケージ領域12、およびダミー領域13からなる領域の図心Cに対して点対称に構成されている。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Aは、多数個取り素子収納用パッケージ1と同様に、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。また、本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Aによれば、同一構成の多数の光半導体装置を作製することができる。
図4Aは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。図4Bは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図4Aとは反対側から視た平面図である。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Bは、多数個取り素子収納用パッケージ1Aと比較して、第2幹電極の構成が異なり、その他の構成については同様であるので、同様の構成については、多数個取り素子収納用パッケージ1Aと同じ参照符号を付して詳細な説明は省略する。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Bは、母基板10の第2面10bに配設される複数の第2幹電極15を有している。第2幹電極15は、図4Bに示すように、第1素子収納用パッケージ領域11の境界に沿って第2方向(図4Bにおける左右方向)に延びている。また、第2幹電極15は、第2素子収納用パッケージ領域12の境界に沿って第2方向に延びている。第2幹電極15は、ダミー領域13に配設されていてもよく、ダミー領域13に配設されていなくてもよい。本実施形態では、図4Bに示すように、第2幹電極15は、ダミー領域13に配設されており、ダミー領域を跨いで直線状に延びている。第2幹電極15は、多数個取り素子収納用パッケージ1Bを第2方向に沿ってダイシングする際のマーカーとして利用できる。
複数の第2幹電極15は、第2面10bにおける、第1素子収納用パッケージ領域11および第2素子収納用パッケージ領域12以外の領域に配設される配線導体によって、互いに接続されていてもよい。該配線導体には、エージング装置のプローブピンを当接させる電極パッドが設けられていてもよい。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Bは、多数個取り素子収納用パッケージ1Aと同様に、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができるとともに、同一構成の多数の光半導体装置を作製することが可能になる。また、本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Bは、第2幹電極15がダイシング加工の際のマーカーとして利用できる。このため、精度良く個片化することができ、ダイシング加工による不良の発生を抑制し、生産性を向上させることができる。
図5Aは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施の形態の他の一例を示す平面図である。図5Bは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図5Aとは反対側から視た平面図である。図6は、図5Aの切断面線B−Bで切断した断面図である。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Cは、母基板20と、枠体26と、第1電極パターン22と、第2電極パターン24とを備える。
母基板20は、第1面20a、および第1面20aとは反対側の第2面20bを有している。母基板20は、縦横に配列された複数の素子収納用パッケージ領域21を有している。複数の素子収納用パッケージ領域21は、平面視において、第1方向(図5A,5Bにおける上下方向)および第1方向に直交する第2方向(図5A,5Bにおける左右方向)にマトリクス状に配列されている。
枠体26は、電気絶縁性材料から成る。枠体26は、母基板20の第1面20aに配設されている。枠体26は、格子状であり、複数の素子収納用パッケージ領域21の境界に沿って配設された壁部26aを有している。
枠体26は、複数の切り欠き部26bを有している。切り欠き部26bは、壁部26aの複数箇所を、高さ方向(図5Aにおける紙面に垂直な方向)における一部または全部を切り欠いて設けられている。本実施形態では、図5Aに示すように、切り欠き部26bは、列状に設けられている壁部26aの1列おきに、第2方向に隣接する2つの素子収納用パッケージ領域21に跨って形成されている。また、本実施形態では、切り欠き部26bは、壁部26aの、母基板20側の面から母基板20側とは反対側の面までを切り欠いて形成されている。切り欠き部26bは、光半導体装置の光取り出し口として使用することができる。切り欠き部26bは、透光性のガラス材料から成る窓部材によって封止されていてもよい。
第1電極パターン22は、導電性材料から成る。第1電極パターン22は、枠体26の、母基板20側とは反対側の面に配設されている。本実施形態では、第1電極パターン22は、枠体26の、母基板20側とは反対側の面の全面に形成されている。また、第1電極パターン22は、第1面20aにおける枠体26の外側に配設される第1電極パッド23に電気的に接続されている。第1電極パターン22と第1電極パッド23とは、例えば、枠体26の外壁面に配設され、外壁面の高さ方向に延びる配線導体によって接続されていてもよい。第1電極パターン22と第1電極パッド23とは、ボンディングワイヤによって接続されていてもよい。第1電極パッド23は、エージング装置のプローブピンを当接させるための電極パッドである。
第2電極パターン24は、導電性材料から成る。第2電極パターン24は、母基板20の第2面20bに複数の素子収納用パッケージ領域21を覆うように設けられている。また、母基板20の第2面における素子収納用パッケージ領域21以外の領域に、第2電極パターン24と電気的に接続される第2電極パッド25が配設されている。第2電極パッド25は、エージング装置のプローブピンを当接させるための電極パッドである。
各素子収納用パッケージ領域21は、第1配線導体27と、第2配線導体28とを備える。
第1配線導体27は、一端が第2面20bにおける枠体26の内側に位置し、他端が第1電極パターン22に接続されている。第1配線導体27は、壁面導体部27aと、平面導体部27bとを有している。壁面導体部27aは、枠体26の内壁面に配設され、高さ方向に延びている。壁面導体部27aは、第1電極パターン22に接続されている。平面導体部27bは、第1面20aに配設されており、壁面導体部27aに接続されている。
第2配線導体28は、第1面20aから第2面20bにかけて配設されている。第2配線導体28は、平面導体部28aと、貫通導体部28bとを有している。平面導体部28aは、第1面20aに配設されている。貫通導体部28bは、母基板20を厚み方向に貫通しており、一端が平面導体部28aに接続され、他端が第2電極パターン24に接続されている。
母基板20および枠体26は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)、アルミナ(Al)等のセラミックスまたはガラス−セラミックス等のセラミック材料である絶縁材料から成る。母基板20および枠体26は、絶縁材料を用いて一体的に作製されたものであってもよい。母基板20および枠体26は、絶縁材料から成る絶縁層を複数積層して作製されたものであってもよい。母基板20と枠体26とを一体的に作製する場合には、例えば、熱可塑性のセラミックシートおよび型部材を用いたモールド工法によって作製することができる。第1電極パターン22、第2電極パターン24、第1配線導体27および第2配線導体28は、例えばタングステン、モリブデン、銅、銀または銀パラジウム等の金属粉末の焼結体等から構成されている。
多数個取り素子収納用パッケージ1Cは、各素子収納用パッケージ領域21に光半導体素子40を実装することによって、多数個取り光半導体装置とすることができる。光半導体素子40としては、例えば、端面発光型の半導体レーザ素子を使用することができる。光半導体素子40は、光半導体素子40の光出射面が枠体26に形成された切り欠き部26bに対向するように実装される。光半導体素子40は、例えば、一方の電極を、はんだ等の導電性接合材を介して、第1配線導体27に電気的に接続し、他方の電極を、ボンディングワイヤ41を介して、第2配線導体28に電気的に接続する。これにより、光半導体素子40は、各素子収納用パッケージ領域21に実装されてもよい。また、多数個取り光半導体装置は、枠体26の、母基板20側とは反対側の面に、例えば金属材料等から成る、蓋体が取り付けられていてもよい。蓋体は、エージングを行う前に取り付けられてもよく、エージングを行った後に取り付けられてもよい。
上記構成の多数個取り光半導体装置は、多数の光半導体装置が並列に接続されてなる光半導体装置アレイと等価であるので、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことができる。例えば、エージングは次のようにして行うことができる。先ず、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域から発せられる光を受光可能な多数のフォトダイオードと、第1電極パッド23に当接可能なプローブピンと、第2電極パッド25に当接可能なプローブピンと、を備えたエージング装置を準備する。次に、このエージング装置を、各フォトダイオードが、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域からの光を受光可能な状態で、多数個取り光半導体装置に接続する。その後、プローブピンを第1電極パッド23および第2電極パッド25に当接させ、多数個取り光半導体装置に通電する。これにより、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことが可能になる。したがって、多数個取り素子収納用パッケージ1Cを備える多数個取り光半導体装置によれば、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。上記のエージングは、ドライエア雰囲気中で行ってもよい。また、上記のエージングは、各素子収納用パッケージ領域21を封止する前に行ってもよい。
また、多数個取り素子収納用パッケージ1Cを備える多数個取り光半導体装置は、エージングを行った後、図5A,5B,6に示す分割予定線(一点鎖線)に沿って個片化することによって、多数の光半導体装置を作製することができる。多数個取り光半導体装置の個片化は、例えば、レーザ光を用いたダイシング加工によって行うことができる。多数個取り素子収納用パッケージ1Cを備える多数個取り光半導体装置では、第1電極パターン22および第2電極パターン24は、多数個取り光半導体装置を個片化して得られる光半導体装置を駆動するための電極パッドとして使用することができる。このように、多数個取り素子収納用パッケージ1Cを備える多数個取り光半導体装置は、個片化した後に、不要な電極の除去、光半導体装置を駆動するために必要な電極パッドの形成等の加工を行う必要がなく、生産性を向上させることができる。また、多数個取り素子収納用パッケージ1Cを備える多数個取り光半導体装置は、エージング装置のプローブピンが第1電極パターン22および第2電極パターン24に当接しないので、エージングによる不良の発生を抑制し、生産性を向上させることができる。
上記のように、本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Cによれば、エージングにおける時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。また、多数個取り素子収納用パッケージ1Cは、ダミー領域を有していない。このため、素子収納用パッケージ領域21を高密度に配設することができ、生産性を向上させることができる。
図7Aは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す平面図である。図7Bは、本開示の多数個取り素子収納用パッケージの実施形態の他の一例を示す、図7Aとは反対側から視た平面図である。図8は、図7Aの切断面線C−Cで切断した断面図である。
本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Dは、母基板30と、第1幹電極34と、第2幹電極35とを備えている。
母基板30は、第1面30a、および第1面30aとは反対側の第2面30bを有している。母基板30は、縦横に配列された複数の素子収納用パッケージ領域31を有している。複数の素子収納用パッケージ領域31は、平面視において、第1方向(図7A,7Bにおける上下方向)および第1方向に直交する第2方向(図7A,7Bにおける左右方向)にマトリクス状に配列されている。
第1幹電極34および第2幹電極35は、母基板30の第2面30bに配設されている。第1幹電極34および第2幹電極35は、素子収納用パッケージ領域31の境界に沿って配設されている。図7Bでは、第1幹電極34および第2幹電極35の両方が第1方向に延びる例を示したが、第1幹電極34および第2幹電極35の両方が第2方向に延びていてもよく、第1幹電極34と第2幹電極35とが互いに異なる方向に延びていてもよい。また、複数の第1幹電極34または複数の第2幹電極35が設けられる場合には、複数の第1幹電極34同士または複数の第2幹電極35同士を接続するための電極が第2面30bに配設されていてもよい。
本実施形態では、第1方向における第1幹電極34の一端部に第1電極パッド34aが設けられ、第1方向における第2幹電極35の一端部に第2電極パッド35aが設けられている。第1電極パッド34aおよび第2電極パッド35aは、第2面30bにおける素子収納用パッケージ領域31以外の領域に配設されている。第1電極パッド34aおよび第2電極パッド35aは、エージング装置のプローブピンを当接させるための電極パッドである。
各素子収納用パッケージ領域31は、枠体36と、第1配線導体37と、第2配線導体38とを備える。
枠体36は、第1面30aに配設されており、第1面30aにおける枠体36によって取り囲まれた領域が、光半導体素子の実装領域となる。枠体36は、平面視における外形形状が、例えば、矩形状、正方形状、円形状等であってもよく、その他の形状であってもよい。本実施形態では、図7Aに示すように、枠体36は、略矩形状の外形形状を有している。図7Aでは、隣接する2つの枠体36が互いに離間している例を示したが、隣接する2つの枠体36は互いに一体化されていてもよい。
枠体36は、枠体36の一部を切り欠いて設けられる切り欠き部36aを有している。切り欠き部36aは、枠体36の一部を、高さ方向(図7Aにおける紙面に垂直な方向)における一部または全部を切り欠いて設けられる。本実施形態では、切り欠き部36aは、枠体36の、母基板30側の面から母基板30側とは反対側の面までを切り欠いて形成されている。切り欠き部36aは、光半導体装置の光取り出し口として使用することができる。切り欠き部36aは、透光性のガラス材料から成る窓部材によって封止されていてもよい。
第1配線導体37は、第1面30aから第2面30bにかけて配設されている。第1配線導体37は、一端が第1面30aにおける枠体36の内側に位置し、他端が第2面30bに導出され、第1幹電極34に接続されている。本実施形態では、図7A,7Bに示すように、第1配線導体37は、第1平面導体部37aと、第1貫通導体部37bと、第2平面導体部37cとを有している。第1平面導体部37aは、第1面30aにおける枠体36の内側に位置している。第1貫通導体部37bは、母基板30を厚み方向に貫通しており、一端が第1平面導体部37aに接続されている。第2平面導体部37cは、第2面30bに配設されており、一端が第1貫通導体部37bに接続され、他端が第1幹電極34に接続されている。
第2配線導体38は、第1面30aから第2面30bにかけて配設されている。第1配線導体は、一端が第1面30aにおける枠体36の内側に位置し、他端が第2面30bに導出され、第2幹電極35に接続されている。本実施形態では、図7A,7Bに示すように、第2配線導体38は、第3平面導体部38aと、第2貫通導体部38bと、第4平面導体部38cとを有している。第3平面導体部38aは、第1面30aにおける枠体36の内側に位置している。第2貫通導体部38bは、母基板30を厚み方向に貫通しており、一端が第3平面導体部38aに接続されている。第4平面導体部38cは、第2面30bに配設されており、一端が第2貫通導体部38bに接続され、他端が第2幹電極35に接続されている。
母基板30および枠体36は、例えば、窒化アルミニウム(AlN)、アルミナ(Al)等のセラミックスまたはガラス−セラミックス等のセラミック材料である絶縁材料から成る。母基板30および枠体36は、絶縁材料を用いて一体的に作製されたものであってもよい。母基板30および枠体36は、絶縁材料から成る絶縁層を複数積層して作製されたものであってもよい。母基板30と枠体36とを一体的に作製する場合には、例えば、熱可塑性のセラミックシートおよび型部材を用いたモールド工法によって作製することができる。第1幹電極34、第2幹電極35、第1配線導体37および第2配線導体38は、例えばタングステン、モリブデン、銅、銀または銀パラジウム等の金属粉末の焼結体等から構成されている。
多数個取り素子収納用パッケージ1Dは、各素子収納用パッケージ領域31に光半導体素子40を実装することによって、多数個取り光半導体装置とすることができる。光半導体素子40としては、例えば、端面発光型の半導体レーザ素子を使用することができる。光半導体素子40は、光半導体素子40の光出射面が枠体36に形成された切り欠き部36aに対向するように実装される。光半導体素子40は、例えば、一方の電極を、はんだ等の導電性接合材を介して、第1配線導体37の第1平面導体部37aに電気的に接続し、他方の電極を、ボンディングワイヤ41を介して、第2配線導体38の第3平面導体部38aに電気的に接続する。これにより、光半導体素子40は、各素子収納用パッケージ領域21に実装されてもよい。また、多数個取り光半導体装置は、枠体36の、母基板30側とは反対側の面に、例えば金属材料等から成る、蓋体が取り付けられていてもよい。蓋体は、エージングを行う前に取り付けられてもよく、エージングを行った後に取り付けられてもよい。
上記構成の多数個取り光半導体装置は、多数の光半導体装置が並列に接続されてなる光半導体装置アレイと等価である。したがって、多数個取り光半導体装置を個片化する前に、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことができる。例えば、エージングは次のようにして行うことができる。先ず、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域から発せられる光を受光可能な多数のフォトダイオードと、第1電極パッド34aに当接可能なプローブピンと、第2電極パッド35aに当接可能なプローブピンと、を備えたエージング装置を準備する。次に、このエージング装置を、各フォトダイオードが、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域からの光を受光可能な状態で、多数個取り光半導体装置に接続する。その後、プローブピンを第1電極パッド34aおよび第2電極パッド35aに当接させ、多数個取り光半導体装置に通電することによって、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことが可能になる。したがって、多数個取り素子収納用パッケージ1Dを備える多数個取り光半導体装置によれば、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。上記のエージングは、ドライエア雰囲気中で行ってもよい。また、上記のエージングは、各素子収納用パッケージ領域31を封止する前に行ってもよい。
また、多数個取り素子収納用パッケージ1Dを備える多数個取り光半導体装置は、エージングを行った後、図7A,7B,8に示す分割予定線(一点鎖線)に沿って個片化することによって、多数の光半導体装置を作製することができる。多数個取り光半導体装置の個片化は、例えば、レーザ光を用いたダイシング加工によって行うことができる。多数個取り素子収納用パッケージ1Dを備える多数個取り光半導体装置では、第1配線導体37の第2平面導体部37cおよび第2配線導体38の第4平面導体部38cは、多数個取り光半導体装置を個片化して得られる光半導体装置を駆動するための電極パッドとして使用することができる。このように、多数個取り素子収納用パッケージ1Dを備える多数個取り光半導体装置は、個片化した後に、不要な電極の除去、光半導体装置を駆動するために必要な電極パッドの形成等の加工を行う必要がなく、生産性を向上させることができる。また、多数個取り素子収納用パッケージ1Dを備える多数個取り光半導体装置は、エージング装置のプローブピンが第1配線導体37および第2配線導体38に当接しないので、エージングによる不良の発生を抑制し、生産性を向上させることができる。
上記のように、本実施形態の多数個取り素子収納用パッケージ1Dによれば、エージングにおける時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。また、多数個取り素子収納用パッケージ1Dは、ダミー領域を有していない。このため、素子収納用パッケージ領域31を高密度に配設することができ、生産性を向上させることができる。さらに、多数個取り素子収納用パッケージ1Dは、枠体36の、母基板30側とは反対側の面を平面にすることができる。これにより、この反対側の面を蓋体等によって確実に封止することができる。
次に、本開示の多数個取り光半導体装置の実施形態について、添付の図面を参照しつつ説明する。
図9は、本開示の多数個取り光半導体装置の実施形態の一例を示す平面図である。
本実施形態の多数個取り光半導体装置2は、多数個取り素子収納用パッケージ1と、複数の光半導体素子40とを備える。複数の光半導体素子40は、複数の第1素子収納用パッケージ領域11および複数の第2素子収納用パッケージ領域12にそれぞれ実装されている。光半導体素子40としては、端面発光型の半導体レーザ素子を使用することができる。光半導体素子40は、光半導体素子40の光出射面が枠体16に形成された貫通孔16aに対向するように実装される。光半導体素子40は、一方の電極を、はんだ等の導電性接合材を介して、第1配線導体に接続し、他方の電極を、ボンディングワイヤ41を介して、第2配線導体の平面導体部に電気的に接続する。これにより、光半導体素子40は、複数の第1素子収納用パッケージ領域11および複数の第2素子収納用パッケージ領域12の各々に実装されている。
多数個取り光半導体装置2は、枠体16の、母基板10側とは反対側の面に配設される蓋体を有していてもよい。蓋体は、例えば、Fe−Ni−Co合金またはFe−Ni合金等の金属製の板体から成る。
多数個取り光半導体装置2は、多数の光半導体装置が並列に接続されてなる光半導体装置アレイと等価である。そこで、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域から発せられる光を受光可能な多数のフォトダイオードと、第1幹電極14に当接可能なプローブピンと、第2幹電極15に接続されている電極パッド19に当接可能なプローブピンと、を備えたエージング装置を準備する。そして、そのエージング装置を多数個取り光半導体装置2に接続し、プローブピンを介して多数個取り光半導体装置2に通電する。これにより、それぞれが個片の光半導体装置となる多数の領域に対するエージングを一括して行うことが可能になる。したがって、多数個取り光半導体装置2によれば、多数の光半導体装置をエージング装置に個別に接続することに伴う時間ロスを低減し、生産性を向上させることができる。上記のエージングは、ドライエア雰囲気中で行ってもよい。また、上記のエージングは、各第1素子収納用パッケージ領域11および各第2素子収納用パッケージ領域12を封止する前に行ってもよい。
また、多数個取り光半導体装置2は、エージングを行った後、図9に示す分割予定線(一点鎖線)に沿って個片化することによって、多数の光半導体装置を作製することができる。多数個取り光半導体装置2の個片化は、例えば、レーザ光を用いたダイシング加工によって行うことができる。多数個取り光半導体装置2は、個片化する際に、ダミー領域13と、ダミー領域13に配設された第1幹電極14および第2幹電極15とを一括して除去することができる。また、第1配線導体17、および第2配線導体18の第2平面導体部18cにおける枠体16の外側に位置している部分は、光半導体装置を駆動するための電極パッドとして使用することができる。このように、多数個取り光半導体装置2は、個片化した後に、光半導体装置にとって不要な電極の除去、光半導体装置を駆動するために必要な電極パッドの形成等の加工を行う必要がなく、生産性を向上させることができる。また、多数個取り光半導体装置2は、エージング装置のプローブピンが第1配線導体17および第2配線導体18に当接しないので、エージングによる不良の発生を抑制し、生産性を向上させることができる。
多数個取り光半導体装置は、多数個取り素子収納用パッケージ1に代えて、前述した多数個取り素子収納用パッケージ1A,1B,1C,1Dのいずれかの多数個取り素子収納用パッケージを備える構成であってもよい。このような構成としても、多数個取り光半導体装置2と同様の効果を得ることができる。
本発明は以上の実施の形態の例に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内で種々の変更を加えることは何ら差し支えない。
1,1A,1B,1C,1D 多数個取り素子収納用パッケージ
2 多数個取り光半導体装置
10 母基板
10a 第1面
10b 第2面
11 第1素子収納用パッケージ領域
12 第2素子収納用パッケージ領域
13 ダミー領域
14 第1幹電極
15 第2幹電極
16 枠体
16a 貫通孔
17 第1配線導体
18 第2配線導体
18a 第1平面導体部
18b 貫通部
18c 第2平面導体部
19 電極パッド
20 母基板
20a 第1面
20b 第2面
21 素子収納用パッケージ領域
22 第1電極パターン
23 第1電極パッド
24 第2電極パターン
25 第2電極パッド
26 枠体
26a 壁部
26b 切り欠き部
27 第1配線導体
28 第2配線導体
28a 平面導体部
28b 貫通導体部
30 母基板
30a 第1面
30b 第2面
31 素子収納用パッケージ領域
34 第1幹電極
34a 第1電極パッド
35 第2幹電極
35a 第2電極パッド
36 枠体
36a 切り欠き部
37 第1配線導体
37a 第1平面導体部
37b 第1貫通導体部
37c 第2平面導体部
38 第2配線導体
38a 第3平面導体部
38b 第2貫通導体部
38c 第4平面導体部
40 光半導体素子
41 ボンディングワイヤ
42 導体層

Claims (10)

  1. 第1方向に沿って配列される複数の第1素子収納用パッケージ領域と、前記第1方向に直交する第2方向に前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と間隔を空けて、前記第1方向に沿って配列される複数の第2素子収納用パッケージ領域と、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と前記複数の第2素子収納用パッケージ領域との間に位置するダミー領域とを含み、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する母基板と、
    前記第1面の前記ダミー領域に配設され、前記第1方向に延びる第1幹電極と、
    前記第2面に配設される少なくとも1つの第2幹電極と、を備え、
    前記複数の第1素子収納用パッケージ領域および前記複数の第2素子収納用パッケージ領域の各々は、
    前記第1面に配設される枠体と、
    前記第1面に配設される、一端が前記枠体の内側に位置し、他端が前記第1幹電極に接続される第1配線導体と、
    一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第2幹電極に接続される第2配線導体と、を含む多数個取り素子収納用パッケージ。
  2. 前記少なくとも1つの第2幹電極は、前記ダミー領域に配設され前記第1方向に延びる第2幹電極を含む、請求項1に記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  3. 前記少なくとも1つの第2幹電極は、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域の境界および前記複数の第2素子収納用パッケージ領域の境界に沿って配設され前記第2方向に延びる第2幹電極を含む、請求項1または2に記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  4. 平面視において、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と前記複数の第2素子収納用パッケージ領域とは、前記ダミー領域を通り前記第1方向に延びる仮想線に対して線対称である、請求項1〜3のいずれかに記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  5. 平面視において、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域と前記複数の第2素子収納用パッケージ領域とは、前記複数の第1素子収納用パッケージ領域、前記第2素子収納用パッケージ領域、および前記ダミー領域からなる領域の図心に対して点対称である、請求項1〜3のいずれかに記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  6. 複数の素子収納用パッケージ領域が縦横に配列され、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する母基板と、
    前記第1面に前記複数の素子収納用パッケージ領域の境界に沿って配設された壁部を有する格子状の枠体と、
    前記枠体の、前記母基板側とは反対側の面に配設される第1電極パターンと、
    前記第2面に配設される第2電極パターンと、を備え、
    前記複数の素子収納用パッケージ領域の各々は、
    一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第1電極パターンに接続される第1配線導体と、
    一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記第2電極パターンに接続される第2配線導体と、を含む多数個取り素子収納用パッケージ。
  7. 前記第1配線導体は、前記枠体の内壁面に配設され、前記第1電極パターンに接続される壁面導体部と、前記第1面に配設され、前記壁面導体部に接続される平面導体部とを有する、請求項6に記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  8. 複数の素子収納用パッケージ領域が縦横に配列され、第1面および前記第1面とは反対側の第2面を有する母基板と、
    前記第2面に配設される少なくとも1つの第1幹電極と、
    前記第2面に配設される少なくとも1つの第2幹電極と、を備え、
    前記複数の素子収納用パッケージ領域の各々は、
    前記第1面に配設される枠体と、
    一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第1幹電極に接続される第1配線導体と、
    一端が前記第1面における前記枠体の内側に位置し、他端が前記第2面に導出され、前記少なくとも1つの第2幹電極に接続される第2配線導体と、を含む多数個取り素子収納用パッケージ。
  9. 前記少なくとも1つの第1幹電極および前記少なくとも1つの第2幹電極は、前記複数の素子収納用パッケージ領域の境界に沿って配設されている、請求項8に記載の多数個取り素子収納用パッケージ。
  10. 請求項1〜9のいずれかに記載の多数個取り素子収納用パッケージと、
    前記多数個取り素子収納用パッケージに搭載された複数の光半導体素子と、を備える多数個取り光半導体装置。
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021210464A1 (ja) * 2020-04-16 2021-10-21 ヌヴォトンテクノロジージャパン株式会社 アレー型半導体レーザ装置

Citations (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59181384A (ja) * 1983-03-31 1984-10-15 株式会社東芝 発光表示装置
JPS624157U (ja) * 1985-06-21 1987-01-12
JPH01283883A (ja) * 1988-05-10 1989-11-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発光ダイオードおよびその電極の形成方法
JPH02229477A (ja) * 1988-11-08 1990-09-12 Aichi Electric Co Ltd 固体発光表示装置
JPH0669306A (ja) * 1992-08-18 1994-03-11 Sumitomo Kinzoku Ceramics:Kk シート状セラミックパッケージ
JPH09148629A (ja) * 1995-11-17 1997-06-06 Stanley Electric Co Ltd Ledドットマトリクス表示器
JPH1174420A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Citizen Electron Co Ltd 表面実装型チップ部品及びその製造方法
JP2001168400A (ja) * 1999-12-09 2001-06-22 Rohm Co Ltd ケース付チップ型発光装置およびその製造方法
JP2002094122A (ja) * 2000-07-13 2002-03-29 Matsushita Electric Works Ltd 光源装置及びその製造方法
US6531328B1 (en) * 2001-10-11 2003-03-11 Solidlite Corporation Packaging of light-emitting diode
JP2003078170A (ja) * 2001-09-05 2003-03-14 Sony Corp 回路素子の検査方法及びその検査構造、回路素子内蔵基板及びその製造方法、並びに電気回路装置及びその製造方法
JP2006156643A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Citizen Electronics Co Ltd 表面実装型発光ダイオード
WO2011077900A1 (ja) * 2009-12-22 2011-06-30 シャープ株式会社 発光ダイオード素子、光源装置、面光源照明装置、及び液晶表示装置
US20120244651A1 (en) * 2011-03-21 2012-09-27 Advanced Optoelectronic Technology, Inc. Method for manufacturing light emitting diode
JP2015501086A (ja) * 2011-12-20 2015-01-08 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH オプトエレクトロニクス半導体部品の製造方法、リードフレームユニットおよびオプトエレクトロニクス半導体部品
JP2015520515A (ja) * 2012-06-05 2015-07-16 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH 複数のオプトエレクトロニクス半導体素子の製造方法、リードフレーム複合体およびオプトエレクトロニクス半導体素子
JP2015144234A (ja) * 2013-12-27 2015-08-06 日亜化学工業株式会社 集合基板、発光装置及び発光素子の検査方法
JP2016004946A (ja) * 2014-06-18 2016-01-12 ローム株式会社 光学装置、光学装置の実装構造、光学装置の製造方法
WO2017009183A1 (de) * 2015-07-16 2017-01-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronische anordnung sowie verfahren zur herstellung einer optoelektronischen anordnung

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0677317A (ja) 1992-08-26 1994-03-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置の組立方法
JP2001033516A (ja) * 1999-07-23 2001-02-09 Sony Corp エージング用ソケット、カセット及びそのエージング装置
WO2002084750A1 (en) 2001-04-12 2002-10-24 Matsushita Electric Works, Ltd. Light source device using led, and method of producing same
JP4859811B2 (ja) * 2006-10-24 2012-01-25 京セラ株式会社 電子部品収納用パッケージ
EP2519085B1 (en) * 2009-12-24 2019-02-27 Kyocera Corporation Multi-piece wiring substrate, wiring substrate, and electronic device
US8866067B2 (en) * 2009-12-24 2014-10-21 Kyocera Corporation Imaging device with an imaging element and an electronic component
WO2011145750A1 (ja) * 2010-05-20 2011-11-24 日立化成工業株式会社 感光性樹脂組成物、感光性フィルム、リブパターンの形成方法、中空構造とその形成方法及び電子部品
JP6096812B2 (ja) * 2013-01-22 2017-03-15 京セラ株式会社 電子素子搭載用パッケージ、電子装置および撮像モジュール
WO2014119729A1 (ja) * 2013-01-31 2014-08-07 京セラ株式会社 電子素子搭載用基板、電子装置および撮像モジュール
JP2015097226A (ja) * 2013-11-15 2015-05-21 イビデン株式会社 複合配線板
JP6738588B2 (ja) * 2014-09-02 2020-08-12 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器、および移動体
JP2017152448A (ja) * 2016-02-22 2017-08-31 京セラ株式会社 多数個取り配線基板

Patent Citations (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59181384A (ja) * 1983-03-31 1984-10-15 株式会社東芝 発光表示装置
JPS624157U (ja) * 1985-06-21 1987-01-12
JPH01283883A (ja) * 1988-05-10 1989-11-15 Matsushita Electric Ind Co Ltd 発光ダイオードおよびその電極の形成方法
JPH02229477A (ja) * 1988-11-08 1990-09-12 Aichi Electric Co Ltd 固体発光表示装置
JPH0669306A (ja) * 1992-08-18 1994-03-11 Sumitomo Kinzoku Ceramics:Kk シート状セラミックパッケージ
JPH09148629A (ja) * 1995-11-17 1997-06-06 Stanley Electric Co Ltd Ledドットマトリクス表示器
JPH1174420A (ja) * 1997-08-28 1999-03-16 Citizen Electron Co Ltd 表面実装型チップ部品及びその製造方法
JP2001168400A (ja) * 1999-12-09 2001-06-22 Rohm Co Ltd ケース付チップ型発光装置およびその製造方法
JP2002094122A (ja) * 2000-07-13 2002-03-29 Matsushita Electric Works Ltd 光源装置及びその製造方法
JP2003078170A (ja) * 2001-09-05 2003-03-14 Sony Corp 回路素子の検査方法及びその検査構造、回路素子内蔵基板及びその製造方法、並びに電気回路装置及びその製造方法
US6531328B1 (en) * 2001-10-11 2003-03-11 Solidlite Corporation Packaging of light-emitting diode
JP2006156643A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Citizen Electronics Co Ltd 表面実装型発光ダイオード
WO2011077900A1 (ja) * 2009-12-22 2011-06-30 シャープ株式会社 発光ダイオード素子、光源装置、面光源照明装置、及び液晶表示装置
US20120244651A1 (en) * 2011-03-21 2012-09-27 Advanced Optoelectronic Technology, Inc. Method for manufacturing light emitting diode
JP2015501086A (ja) * 2011-12-20 2015-01-08 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH オプトエレクトロニクス半導体部品の製造方法、リードフレームユニットおよびオプトエレクトロニクス半導体部品
JP2015520515A (ja) * 2012-06-05 2015-07-16 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングOsram Opto Semiconductors GmbH 複数のオプトエレクトロニクス半導体素子の製造方法、リードフレーム複合体およびオプトエレクトロニクス半導体素子
JP2015144234A (ja) * 2013-12-27 2015-08-06 日亜化学工業株式会社 集合基板、発光装置及び発光素子の検査方法
JP2016004946A (ja) * 2014-06-18 2016-01-12 ローム株式会社 光学装置、光学装置の実装構造、光学装置の製造方法
WO2017009183A1 (de) * 2015-07-16 2017-01-19 Osram Opto Semiconductors Gmbh Optoelektronische anordnung sowie verfahren zur herstellung einer optoelektronischen anordnung

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