JPWO2005085947A1 - レーザ光源装置、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置 - Google Patents

レーザ光源装置、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置 Download PDF

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Abstract

周波数が基本周波数から(m−1)・a・ΔωずれているM個のレーザ光源及びこのレーザ光を増幅する第1レーザ光源部2及び第1ファイバアンプ部4と、第1ファイバアンプ部4から出射されたレーザ光をほぼ同軸上に重ねて合わせて出射させる第1光多重化装置6と、第1光多重化装置6から出射したレーザ光の周波数をA倍する第1波長変換装置9と、周波数が基本周波数から(m−1)・b・ΔωずれているM個のレーザ光源及びこのレーザ光を増幅する第2レーザ光源部3及び第2ファイバアンプ部5と、第2ファイバアンプ部5から出射されたレーザ光をほぼ同軸上に重ねて出射させる第2光多重化装置7と、第2光多重化装置7から出射したレーザ光の周波数をB倍する第2波長変換装置10と、第1の及び第2波長変換装置9,10から出射したレーザ光を同時に入射させて基本周波数の(A+B)倍の周波数からなるレーザ光に変換させる第3波長変換装置11とからなるレーザ光源装置1が、次式A・a + B・b = 0を満足するように構成される。

Description

本発明は、主に高出力の193nmの波長を有する光を発生させるレーザ光源装置と、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置に関する。
半導体デバイスの高密度化、対象線幅の細線化に伴って、露光装置やマスク検査装置等に用いられる光線も年々短波長化する傾向にあり、193nmの波長の光を光源とした露光装置やマスク検査装置等も実用化の段階に入っている。例えば、この193nmの波長を有する光を発生させる固体レーザ(レーザ光源装置)としては、波長1547nmの半導体レーザの光を基本波として光分岐手段により複数のレーザ光に分岐し、それぞれのレーザ光をファイバアンプで複数並列に増幅してその出射端(ファイバー)をバンドル状に束ねて波長変換光学系に入射させるように構成し、この波長変換光学系により基本波を8倍波に波長変換して高出力の193nm光を得ている(例えば、特開2000−200747号公報(第18頁〜第25頁、第11図参照)。そのため、このようなレーザ光を露光装置やマスク検査装置に用いる場合には、波長変換光学系を含む波長変換における変換効率を向上させることは非常に重要となっている。
しかしながら、上記の方法ではファイバーを空間的にバンドルしていることから、全ての光を波長変換のための波長変換結晶上の一点に集光することや、この波長変換結晶の角度許容幅を満たすことが難しく、高い変換効率を得られないという課題があった。また、マイクロレンズアレイを用いて、バンドルしている各々のファイバー毎に波長変換光学系に結像するように構成することも可能であるが、高い変換効率を得るために必要な加工や調整精度を得ることが難しいという課題があった。
本発明はこのような課題に鑑みなされたものであり、周波数を僅かにずらしたレーザ光を光多重化装置に入射させてほぼ同軸上に重ね合わせることにより、波長変換の効率を向上させ、波長が短く高出力なレーザ光を得ることができるレーザ光源装置を提供すること、及び、このレーザ光源装置を用いた露光装置及びマスク検査装置を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
前記課題を解決するために、第1の本発明に係るレーザ光源装置は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第1基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第2基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、前記第1基本波の周波数のA倍に相当するA倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数のB倍に相当するB倍波を発生する第2波長変換装置、並びに、前記A倍波及び前記B倍波の光を入射して和周波発生によりこれらの和周波を発生する第3波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
A・a + B・b = 0
(a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
を満足するように構成される。
この構成において、前記第1レーザ光源部におけるM個のレーザ光源から発生した各レーザ光を各々光増幅するM個の光増幅器を有する第1光増幅器部と、前記第2レーザ光源部におけるM個のレーザ光源から発生した各レーザ光を各々光増幅するM個の光増幅器を有する第2光増幅器部とを有するのが好ましい。
さらに、上記構成において、前記第1光多重化装置若しくは前記第2光多重化装置が、前記第1レーザ光源部若しくは前記第2レーザ光源部から出射される前記レーザ光の前記基本周波数からのずれ量に応じて設定された入射角で入射させて、回折若しくは屈折した前記レーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて出射させる回折格子若しくは分散プリズムを有して構成されるのが好ましい。
また、第2の本発明に係るレーザ光源装置は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第1基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第2基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、前記第1基本波及び前記第2基本波から和周波発生によりこれらの和周波を発生する波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
+ b = 0
(a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
を満足するように構成される。
さらに、第3の本発明に係るレーザ光源装置は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、前記基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、前記第1基本波の周波数の3倍に相当する3倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の4倍に相当する4倍波を発生する第2波長変換装置、前記3倍波及び前記4倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の7倍波を発生する第3波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
3・a + 4・b=0
(a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
を満足するように構成される。
さらに前記基本周波数のレーザ光を出射する第3レーザ光源部と、前記7倍波及び前記第3光源から出射された前記レーザ光を入射して和周波発生により前記基本波周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置とを有するのが好ましい。
第4の本発明に係るレーザ光源装置は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、前記第1基本波の周波数の3倍に相当する3倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の4倍に相当する4倍波を発生する第2波長変換装置、前記3倍波及び前記4倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の周波数からb・Δω(m=1,2,・・・,M)ずれている光からなる7倍波を発生する第3波長変換装置、並びに、前記第2基本波の一部と前記7倍波とを入射して和周波発生により前記基本周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
3・a + 5・b = 0
(a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
を満足するように構成される。
第5の本発明に係るレーザ光源装置は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、前記基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、前記第1基本波の周波数の2倍に相当する2倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の5倍に相当する5倍波を発生する第2波長変換装置、前記2倍波及び前記5倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の7倍波を発生する第3波長変換装置、並びに、前記7倍波及び前記第1波長変換装置、第3波長変換装置を透過した前記第1基本波を入射して和周波発生により前記基本周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
3・a + 5・b = 0
(a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
を満足するように構成される。
第6の本発明に係るレーザ光源装置は、互いに周波数のずれた複数のレーザ光を同軸上に重ね合わせて一つのレーザ光束を出射させる光学装置を複数個と、前記複数の光学装置からそれぞれ出射される前記レーザ光束を1回以上の和周波発生により前記互いの周波数ずれを相殺するとともに、前記レーザ光束の波長変換を行う波長変換装置と、を備えて構成される。
この光学装置は、前記複数のレーザ光をそれぞれ光増幅する複数の光増幅装置を有するのが好ましい。
また、前複数のレーザ光を同軸上に重ね合わせて一つのレーザ光束を出射させる手段が、回折格子又は分散プリズムであるのが好ましい。
本発明に係る露光装置は、上述の第6の本発明に係るレーザ光源装置と、前記レーザ光源装置から放射されるレーザ光をレチクル上に照射する照明光学系と、前記レチクルを透過した前記レーザ光を半導体ウエハ上に集光して前記レチクルの像を結像する投影光学系とから構成される。
また、本発明に係るマスク検査装置は、上述の第6の本発明に係るレーザ光源装置と、前記レーザ光源装置から放射された前記レーザ光の位相を変換する位相変換装置と、前記位相変換装置で位相変換された前記レーザ光を集光してマスクに照射する照明光学系と、前記マスクを透過した前記レーザ光を集光する結像光学系と、前記結像光学系で結像された前記レーザ光を検出するセンサとから構成される。
発明の効果
本発明に係るレーザ光源装置を以上のように構成すると、レーザ光源から放射されたレーザ光が、効率良く波長変換されるため、波長が短く高出力の光を得ることができる。また、本発明に係る波長変換光学系を用いて露光装置及びマスク検査装置を構成することにより、集積度の高い半導体デバイスを得ることができる。
図1は、本発明に係るレーザ光源装置の基本構成を示すブロック図である。
図2は、光多重化装置の第1構成例を示す説明図である。
図3は、多重化装置の第2構成例を示す説明図である。
図4は、多重化装置の第3構成例を示す説明図である。
図5は、光多重化装置の第4構成例を示す説明図である。
図6は、光多重化装置の第5構成例を示す説明図である。
図7は、本発明に係るレーザ光源装置の第1実施例を示すブロック図である。
図8は、本発明に係るレーザ光源装置の第2実施例を示すブロック図である。
図9は、本発明に係るレーザ光源装置の第2実施例を示すブロック図である。
図10は、本発明に係る露光装置を示す説明図である。
図11は、本発明に係るマスク検査装置を示す説明図である。
以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照して説明する。まず、図1を用いて、レーザ光源装置の基本構成について説明する。レーザ光源装置1は、第1レーザ光源部2及び第2レーザ光源部3と、第1ファイバアンプ部4及び第2ファイバアンプ部5と、第1光多重化装置6及び第2光多重化装置7と、波長変換光学系8とから構成される。
第1レーザ光源部2は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数から(m−1)・a・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)。また、第2レーザ光源部3は、M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数から(m−1)・b・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)。第1レーザ光源部2及び第2レーザ光源部3からそれぞれ出射されるレーザ光の周波数ω1m及びω2mは、以下に示す式(1)、(2)で表される。
ω1m=ω+(m−1)・a・Δω (1)
ω2m=ω+(m−1)・b・Δω (2)
但し、m=1,2,・・・,M
第1ファイバアンプ部4は、前述した複数のレーザ光を各レーザ光毎に各々光増幅して出射するM個のファイバアンプから構成されている。ここで、光増幅を行うファイバアンプとは、ポンプ光のエネルギーを光ファイバ内を流れるレーザ光のエネルギーに変換し、レーザ光のエネルギーを増幅させるものである。なお、ファイバアンプに換えて導波路アンプを用いても良い。
第1光多重化装置6は、第1ファイバアンプ部4から出射された複数のレーザ光P11,P12,・・・,P1mをほぼ同軸上に重ね合わせてパルス列である第1基本波101を出射する。第2光多重化装置7は、第2ファイバアンプ部5から出射された複数のレーザ光P21,P22,・・・,P2mをほぼ同軸上に重ね合わせてパルス列である第2基本波102を出射する。第1光多重化装置6及び第2光多重化装置7の機構の詳細は、後述する。
波長変換光学系8は、第1基本波101の周波数のA倍に相当するA倍波を発生する第1波長変換装置9と、第2基本波の周波数のB倍に相当するB倍波を発生する第2波長変換装置10と、A倍波及びB倍波を同期させてに入射させて和周波発生により(A+B)倍の高調波を得る第3波長変換装置11とから構成されている。第1基本波101及び第2基本波102のうちm番目の周波数を有するレーザ光が第1及び第2波長変換装置4,5を透過した後の周波数ω1m′,ω2m′は次に示す式(3)、(4)のように表される。
ω1m′=[ω+(m−1)・a・Δω]・A (3)
ω2m′=[ω+(m−1)・b・Δω]・B (4)
但し、m=1,2,・・・,M
なお、図1にも示すとおり、第1レーザ光源部2及び第2レーザ光源部3を構成する各々のレーザ光源から出射されるレーザ光は、パルス光となっている。この各々のレーザ光源から出射されるレーザ光を連続光(CW光)とすることも可能であるが、レーザ光源装置1の波長変換装置9〜11における変換効率が低下してしまう虞がある。また、第1及び第2レーザ光源部2,3から出射されるm番目の周波数を有するレーザ光(パルス光)同士は、第3波長変換装置11(例えば、後述する波長変換結晶35)において同じ時間に同期して入射するように構成されている。
ここで、第1若しくは第2光多重化装置6,7(以下、「光多重化装置6,7」と略する)について図2を用いて説明する。なお、ここで説明する光多重化装置6,7は、回折光学素子若しくは分散プリズムを用いてレーザ光を同軸上に重ね合わせている。
回折格子71は、その回折光学面Gfに入射して回折するレーザ光が出射するときの出射角が、回折光学面Gfの回折角(回折格子のピッチ)と入射するレーザ光の周波数(波長)及び入射角により決定される性質を有している。上述のように、第1若しくは第2レーザ光源部2,3を構成する各々のレーザ光源から出射されるレーザ光の周波数は、式(1),(2)に示すように所定の差異量((m−1)・a・Δω若しくは(m−1)・b・Δω)を有して異なっている。そのため、第1若しくは第2ファイバアンプ部4,5から出射されるレーザ光の周波数及び回折格子71への入射角と回折光学面Gfの回折角とを整合させれば、回折光学面Gfで回折したレーザ光の出射角を全て同じにして同軸上に重ね合わせて出射させることができる。
そのため、図2に示すように、光多重化装置6,7は、第1若しくは第2ファイバアンプ部4,5を構成するファイバアンプの射出部61の回折格子71に対する出射角度をその周波数及び回折光学面Gfの回折角に応じて設定し、それぞれのファイバアンプの射出部61から出射されたレーザ光をそれぞれに応じて配設されたコリメータレンズ62で平行光に変換して回折格子71(回折光学面Gf)の同一部分に入射させる。回折光学面Gfに入射したレーザ光は、上述のように入射角と周波数に応じて回折して所定の出射角で同軸上に重ね合わされて第1若しくは第2基本波101,102として出射する。
この光多重化装置6,7を構成する回折格子71は、ある1つの回折次数だけを使用するため、ブレーズド回折格子のようなある特定の回折光だけで高い回折効率が得られる物が好ましい。また、使用する回折格子71は何次を使用しても問題ないが、一般的に低い次数ほど回折効率を高くでき、高い次数ほどファイバアンプの射出部61の回折光学面Gfに対する角度を大きくすることができ、コリメータレンズの間隔を広くできる。また、コリメータレンズ62は、射出部61からの光が平行光に変換される位置に配設されることが望ましいが、完全に平行光に変換されていない場合でも、第1若しくは第2ファイバアンプ部4,5を構成する全ての射出部61からのレーザ光が、回折光学面Gfの光軸上の点において同じビーム径及び広がり角になっていれば問題ない。
なお、光多重化装置6,7は以上の構成に限定されることはなく、その他の構成例について図3〜図6を用いて説明する(なお、説明の便宜上、上述の光多重化装置6,7を第1の構成例と呼ぶ)。図3は、光多重化装置6,7の第2の構成例である。この第2の構成例では、第1若しくは第2ファイバアンプ部4,5からの射出部61を略平行に並べ、コリメータレンズ62を光軸に垂直に、且つ、入射面内の方向に平行シフトすることで回折格子71の回折光学面Gf上の一点にレーザ光を集光するように構成している。この第2の構成例では、ファイバアンプの射出部61が略平行に並ぶため、この射出部61の位置調整にV溝等を使用できるため、容易に構成することができる。
図4に光多重化装置6,7の第3の構成例を示す。上述の第1及び第2の構成例では、ファイバアンプの射出部61の各々に対してコリメータレンズ62を配設していたが、この第3の構成例では、1枚のレンズで構成したコリメータレンズ63を配設し、各射出部61から出射したレーザ光を回折格子71の回折光学面Gf上の一点に集光するように構成している。このコリメータレンズ63は、ファイバアンプの射出部61からレンズの焦点距離だけ離れた場所に配設されることが望ましい。
図5に光多重化装置6,7の第4の構成例を示す。この第4の構成例では、第3の構成例のコリメータレンズ63に続いて、2枚のレンズ64,65を配設し、コリメータレンズ63及び2枚のレンズ64,65で射出部61から出射したレーザ光を回折格子71の回折光学面Gf上の一点に集光するように構成している。この2枚のレンズ64,65により、レンズ63〜64の焦点距離を変えることができ、回折格子71に入射するレーザ光の出力端(射出部61)の相対的な角度を変えることにより、回折格子71の設計に応じて回折光学面Gfに入射するレーザ光の入射角度を調整することができる。
図6に光多重化装置6,7の第5の構成例を示す。以上に説明した第1〜第4の構成例では、回折格子71を用いているが、この第5の構成例では分散プリズム72を用いている。すなわち、ファイバアンプの射出部61は分散プリズム72に対して所定の入射角を有するように設定され、この射出部61から出射したレーザ光を各々の射出部61に対応して配設されたコリメータレンズ62を用いて平行光に変換した後、分散プリズム72の一点に入射するように構成されている。そして、この分散プリズム72を透過したレーザ光はほぼ同軸上に重ね合わされて第1若しくは第2基本波101,102として出射する。
以上のように周波数が僅かに異なる複数のレーザ光(ファイバアンプからの出力)を回折格子71若しくは分散プリズム72を用いた簡単な構成の光多重化装置6,7により効率良く、ほぼ同軸上に重ね合わせて出射することができる。なお、以上で説明した光多重化装置6,7の第1〜第5の構成例では、回折格子71若しくは分散プリズム72を用いた場合について述べたが、干渉フィルターや導波路等を用いることも可能である。
第1及び第2光多重化装置6,7でほぼ同軸上に重ね合わされたパルス列である第1及び第2基本波101,102は、第1及び第2波長変換装置9,10でA倍及びB倍され、図1には図示しないダイクロイックミラーやフィルター等でほぼ同軸上に重ね合わされて第3波長変換装置11に入射する。
第3の波長変換装置11は、同時に入射した2つのレーザ光から、それらのレーザ光の和の周波数を有するレーザ光を発生するものであり、非線形光学効果に基づく現象である和周波発生を用いている。よって、第3の波長変換装置11を透過したレーザ光は、基本周波数ωの(A+B)倍の周波数を有しており、その関係は次式(5)を満足する。
ω1m′+ω2m′=(A+B)・ω (5)
但し、m=1,2,・・・,M
以上より、第1及び第2レーザ光源部2,3を構成する複数のレーザ光源のうち、m番目の周波数を有するレーザ光を出射するレーザ光源から出射されたレーザ光が、基本周波数ωからのずれが解消されて、第3波長変換装置11で基本周波数ωの(A+B)倍の周波数を有するレーザ光に変換されるためには、式(3)〜(5)の関係より、次式(6)を満足するように構成される必要がある。
A・a+B・b=0 (6)
なお、上述のように、第1及び第2レーザ光源部2,3のそれぞれを構成する複数のレーザ光源のうち、m番目の周波数を有するレーザ光を出射するレーザ光源からの出力(パルス光)は互いに同期して出力されて、同時に第3波長変換光学装置11に入射するように構成される必要があるが、第1若しくは第2レーザ光源部2,3のそれぞれを構成するレーザ光源(1,2,・・・,m番目のレーザ光源)の出力同士は、同時であっても時間的にずれていても良い(図1の場合は、全ての出力が時間的にずれている場合を示している)。この第1及び第2レーザ光源部2,3を構成するm番目のレーザ光源同士からのレーザ光(パルス光)が同期を取られて出射されるように構成されることは、以降に説明する実施例においても同様である。また、本実施例では、各々のレーザ光源から出射するM個の光波長間隔を一定間隔にしたが、m番目の光同士が条件式(6)の関係を満たしていれば良く、必ずしも一定にする必要はない。
さらに、本実施例では、第1及び第2基本波を第1及び第2波長変換装置9,10でA倍およびB倍した後、第3の波長変換装置11による和周波発生により(A+B)倍波を発生させているが、第1及び第2基本波をA倍及びB倍せずに和周波発生により第1及び第2基本波の相の周波数を有するレーザ光を発生させても良い。
それでは、以上の基本構成を踏まえて、波長1547nmの半導体レーザから放射されたレーザ光を8倍波に変換して193nmのレーザ光を放射するレーザ光源装置1(21,41)について以下に2つの実施例を説明する。
なお、基本周波数ω0とは最終出力光の周波数の正の整数分の1倍(1/N倍、但しNは正の整数)に相当するものである。
図7は、8倍波を出射するレーザ光源装置の第1実施例を示している。このレーザ光源装置21は、第1レーザ光源部22、第2レーザ光源部23、第3レーザ光源部28、第1ファイバアンプ部24、第2ファイバアンプ部25、第3ファイバアンプ部29、第1光多重化装置26、第2光多重化装置27及び第1〜第6波長変換結晶31〜36から構成されている。
第1レーザ光源部22は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω+(m−1)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第1ファイバアンプ部24はm個のファイバーアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第1ファイバアンプ部24から出射したm個のレーザ光は、第1光多重化装置26に入射し、上述したようにほぼ同軸上に重ね合わされて第1基本波(パルス列)111として出射される。この第1基本波111は、下の式(7)に示すm個の周波数成分を有している。
[ω,ω+Δω,・・・,ω+(m−1)・Δω] (7)
そして、第1光多重化装置26を出射した第1基本波111は、第1波長変換結晶31に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。このような目的の第1波長変換結晶31としては、PPLN(Periodically Poled LiNbO),PPLT(Periodically Poled LiTaO),PPKTP(Periodically Poled KTiOPO),LBO(LiB),BBO(β−BaB)等を使用することができる。この第1波長変換結晶31から出射したレーザ光の2倍波は、次式(8)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω+Δω),・・・,2(ω+(m−1)・Δω)]
(8)
さらに、第1波長変換結晶31から出射した2倍波と透過した基本波は、第2波長変換結晶32に入射し、その一部が3倍波に波長変換される。この第2波長変換結晶32としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等が使用できる。この第2波長変換結晶32から出射した第1基本波111の3倍波は、次式(9)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[3ω,3(ω+Δω),・・・,3(ω+(m−1)・Δω)]
(9)
一方、第2レーザ光源部23は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω−(3/4)・(m−1)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第2ファイバアンプ部25はm個のファイバアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第2ファイバアンプ部25から出射したm個のレーザ光は、第2光多重化装置27に入射し、上述したようにほぼ同軸上に重ね合わされて第2基本波(パルス列)112として出射される。この第2基本波112は、下の式(10)に示すm個の周波数成分を有している。
[ω,ω−(3/4)・Δω,・・・,ω−(m−1)・(3/4)・Δω]
(10)
そして、第2光多重化装置27を出射した第2基本波112は、第3波長変換結晶33に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。この第3波長変換結晶33としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等を使用することができる。この第3波長変換結晶33から出射した第2基本波112の2倍波は、次式(11)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω−(3/4)・Δω),・・・,2(ω−(m−1)・(3/4)・Δω)] (11)
さらに、第3波長変換結晶33から出射した2倍波は、第4波長変換結晶34に入射し、その一部が4倍波に波長変換される。この第4波長変換結晶34としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等が使用できる。この第4波長変換結晶34から出射した第2基本波112の4倍波は、次式(12)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[4ω,4(ω−(3/4)・Δω),・・・,4(ω−(m−1)・(3/4)・Δω)] (12)
さて、このようにして、第2波長変換結晶32から出射した第1基本波111の3倍波と、第4波長変換結晶34から出射した第2基本波112の4倍波とが、図示しないダイクロイックミラーやフィルター等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第5波長変換結晶35に入射し、上述のように和周波発生により3倍波と4倍波の一部が7倍波に波長変換される。ここで、第5波長変換結晶35としては、BBO,KBBF(KBeBO)等が使用できる。この第5波長変換結晶35から出射したレーザ光の7倍波は、第1レーザ光源部22及び第2レーザ光源部23を構成するm番目のレーザ光源からの光は、それぞれが3倍波と4倍波で波長変換されたのちに第5波長変換結晶35に同時に入射するように構成され、かつ、条件式(6)の関係を満たしているため、次式(13)に示されるように、いずれの周波数成分も基本周波数ωの7倍の周波数を有するパルス列となる。
[7ω,7ω,・・・,7ω] (13)
そして、この第5波長変換結晶35から出射した7倍波のレーザ光(パルス列)と、第3レーザ光源部28から出射される基本周波数ωのパルス列である第3基本波113(第1若しくは第2レーザ光源部22,23を構成するm個のレーザ光源から出射されるパルス光に同期させたパルス列となっている)を第3ファイバアンプ部29で光増幅したレーザ光が、図示しないダイクロイックミラーやフィルター等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第6波長変換結晶36に同時に入射し、和周波発生により7倍波と基本波の一部が8倍波に波長変換される。第6波長変換結晶36としては、BBO,LBO,CLBO,KBBF等が使用できる。この8倍波のパルス列も次式(14)に示されるように、基本周波週ωの8倍の周波数から構成されている。この8倍波が第1実施例に係るレーザ光源装置21から出射される。
[8ω,8ω,・・・,8ω] (14)
以上のように、本第1実施例に係るレーザ光源装置21によれば、第1及び第2レーザ光源部22,23を構成するそれぞれのレーザ光源から出射されるレーザ光の周波数を僅かに異なるように設定することで、そのレーザ光の入射角度と第1若しくは第2光多重化装置26,27の有する回折格子61等により効率よくほぼ同軸上に重ね合わせてパルス列(第1若しくは第2基本波111,112)とすることができる。さらに、3倍波を得るための第1レーザ光源部22と、4倍波を得るための第2レーザ光源部23から出射されるレーザ光の周波数を、条件式(6)を満たすように設定することにより、7倍波を得ることができ、さらに、その7倍波を用いて所望の8倍波を得ることができる。この第1実施例では、第1及び第2光多重化装置26,27により、複数のファイバアンプで増幅されて出射したレーザ光を効率良く同軸上に重ね合わせているため、全体として変換効率が高くなっており、基本周波数の半導体レーザ(1547nm)から、波長の短いレーザ光(193nm)を高出力で得ることができる。
なお、この第1実施例では、3つのレーザ光源部(第1〜第3レーザ光源部22,23,28)とそれらに対応する3つのファイバアンプ部(第1〜第3ファイバアンプ部26,27,29)が必要であるが、光学系は簡単に構成することができる。
本実施例では、各々のレーザ光源から出射するM個の光波長間隔を一定間隔にしたが、m番目の光同士が次式(15)の関係を満たしていればよく必ずしも一定にする必要はない。
3・x + 4・(3/4)・y =0 (15)
(x、x・・・x、y、y・・・yは式を満たす任意の数)
また、本実施例では、第1レーザ光源部及び第2レーザ光源部の1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数を基本周波数ωに設定したが、(15)の関係を満たしていれば、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数も基本周波数から所定量ずれた周波数を設定してもよい。
次に、図8を用いて、基本周波数の8倍波を出射するレーザ光源装置の第2実施例について説明する。このレーザ光源装置41は、第1レーザ光源部42、第2レーザ光源部43、第1ファイバアンプ部44、第2ファイバアンプ部45、第1光多重化装置46、第2光多重化装置47及び第1〜第6の波長変換結晶51〜56から構成されている。
第1レーザ光源部42は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω+(m−1)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第1ファイバアンプ部44はm個のファイバアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第1ファイバアンプ44から出射したm個のレーザ光は、第1光多重化装置46に入射し、ほぼ同軸上に重ね合わされて第1基本波(パルス列)121として出射される。この第1基本波121は、次式(16)に示されるm個の周波数成分を有している。
[ω,ω+Δω,・・・,ω+(m−1)・Δω]
(16)
そして、第1光多重化装置46を出射した第1基本波121は、第1波長変換結晶51に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。このような目的の第1波長変換結晶51としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等を使用することができる。この第1波長変換結晶51から出射した第1基本波121の2倍波は、次式(17)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω+Δω),・・・,2(ω+(m−1)・Δω)]
(17)
さらに、第1波長変換結晶51から出射した2倍波と透過した基本波は、第2波長変換結晶52に入射し、その一部が3倍波に波長変換される。この第2波長変換結晶52としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等が使用できる。この第2波長変換結晶52から出射した第1基本波121の3倍波は、次式(18)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[3ω,3(ω+Δω),・・・,3(ω+(m−1)・Δω)]
(18)
一方、第2レーザ光源部43は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω−(m−1)・(3/5)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第2ファイバアンプ部45はm個のファイバアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第2ファイバアンプ部45から出射したm個のレーザ光は、第2光多重化装置47に入射し、ほぼ同軸上に重ね合わされて第2基本波(パルス列)122として出射される。この第2基本波122は、次式(19)に示すm個の周波数成分を有している。
[ω,ω−(3/5)Δω,・・・,ω−(m−1)・(3/5)・Δω]
(19)
そして、第2光多重化装置47を出射した第2基本波122は、第3波長変換結晶53に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。この第3波長変換結晶53としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等を使用することができる。この第3波長変換結晶53から出射した第2基本波122の2倍波は、次式(20)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω−(3/5)・Δω),・・・,2(ω−(m−1)・(3/5)・Δω)] (20)
この第3波長変換結晶53から出射するレーザ光は、波長変換された2倍波と、透過した基本波であるが、図示しないダイクロイックミラー等で2倍波だけが第4波長変換結晶54に入射する。そして、その2倍波の一部がこの第4波長変換結晶54で4倍波に波長変換される。この第4波長変換結晶54としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等が使用できる。この第4波長変換結晶54から出射した第2基本波122の4倍波は、次式(21)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[4ω,4(ω−(3/5)・Δω),・・・,4(ω−(m−1)・(3/5)・Δω)] (21)
さて、このようにして、第2波長変換結晶52から出射した第1基本波121の3倍波と、第4波長変換結晶54から出射した第2基本波122の4倍波とが、図示しないダイクロイックミラーやフィルター等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第5波長変換結晶55に入射し、上述のように和周波発生により3倍波と4倍波の一部が7倍波に変換される。この第2実施例においても、第1レーザ光源部42と第2レーザ光源部43を構成するm番目のレーザ光源からの光は、それぞれが3倍波と4倍波で波長変換されたのちに第5波長変換結晶55に同時入射するように構成され、かつ、条件式(6)の関係を満たしている。第5波長変換結晶55としては、BBO,KBBF等が使用できる。この第5波長変換結晶55から出射したレーザ光の7倍波は、次式(22)に示すm個の周波数成分を有するパルス列となる。
[7ω,7ω+(3/5)・Δω,・・・,7ω+(m−1)・(3/5)・Δω] (22)
そして、この第5波長変換結晶55bから出射した7倍波のレーザ光(パルス列)と、第3波長変換結晶53を透過して図示しないダイクロイックミラー等で分離された基本波とが、図示しないダイクロイックミラー等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第6波長変換結晶56に入射し、和周波発生により7倍波と基本波の一部が8倍波に波長変換される。この第6波長変換結晶56に対しても、7倍波と基本波のm番目のパルス光は同時に入射する。第6波長変換結晶56としては、BBO,LBO,CLBO,KBBF等が使用できる。この8倍波のパルス列は、次式(23)に示されるように、基本周波数ωの8倍の周波数から構成されている。この8倍波が第2実施例に係るレーザ光源装置41から出射される。
[8ω,8ω,・・・,8ω] (23)
以上のように、本第2実施例に係るレーザ光源装置41によっても、第1実施例と同様にレーザ光の波長変換効率が高く、波長(193nm)の短いレーザ光を高出力で得ることができる。なお、この第2実施例に係るレーザ光源装置41の場合、第1実施例における第3レーザ光源部28及び第3ファイバアンプ部29に相当する装置が必要ないため装置構成は簡単になるが、第3波長変換結晶53を透過した基本波を分離して、そのレーザ光を用いて8倍波を発生させなければならないため、光学系は複雑になってしまう。
本実施例では、各々のレーザ光源から出射するM個の光波長間隔を一定間隔にしたが、m番目の光同士が次式(24)の関係を満たしていればよく必ずしも一定にする必要はない。
3・x + 4・(3/5)・y + 3/5・y=0 (24)
(x、x・・・x、y、y・・・yは式を満たす任意の数)
また、本実施例では、第1レーザ光源部及び第2レーザ光源部の1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数を基本周波数ωに設定したが、(24)の関係を満たしていれば、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数も基本周波数から所定量ずれた周波数を設定してもよい。
図9を用いて、基本周波数の8倍波を出射するレーザ光源装置の第3実施例について説明する。このレーザ光源装置61は、第1レーザ光源部62、第2レーザ光源部63、第1ファイバアンプ部64、第2ファイバアンプ部65、第1光多重化装置66、第2光多重化装置67及び第1〜第6の波長変換結晶71〜76から構成されている。
第1レーザ光源部62は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω+(m−1)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第1ファイバアンプ部64はm個のファイバアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第1ファイバアンプ64から出射したm個のレーザ光は、第1光多重化装置66に入射し、ほぼ同軸上に重ね合わされて第1基本波(パルス列)131として出射される。この第1基本波131は、次式(25)に示されるm個の周波数成分を有している。
[ω,ω+Δω,・・・,ω+(m−1)・Δω] (25)
そして、第1光多重化装置66を出射した第1基本波131は、第1波長変換結晶71に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。このような目的の第1波長変換結晶71としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO,CBO、CLBO等を使用することができる。この第1波長変換結晶71から出射した第1基本波131の2倍波は、次式(26)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω+Δω),・・・,2(ω+(m−1)・Δω)]
(26)
一方、第2レーザ光源部63は、m個のレーザ光源で構成されており、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数をωとしたとき、m番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数はω−(m−1)・(3/5)・Δωだけ周波数が異なるように設定されている。また、第2ファイバアンプ部65はm個のファイバアンプで構成されており、m個のレーザ光源から出射する各レーザ光を各々光増幅する。この第2ファイバアンプ部65から出射したm個のレーザ光は、第2光多重化装置67に入射し、ほぼ同軸上に重ね合わされて第2基本波(パルス列)132として出射される。この第2基本波132は、次式(27)に示すm個の周波数成分を有している。
[ω,ω−(3/5)Δω,・・・,ω−(m−1)・(3/5)・Δω]
(27)
そして、第2光多重化装置67を出射した第2基本波132は、第2波長変換結晶72に入射し、一部のレーザ光が2倍波に波長変換される。この第2波長変換結晶72としては、PPLN,PPLT,PPKTP,LBO,BBO等を使用することができる。この第2波長変換結晶72から出射した第2基本波132の2倍波は、次式(28)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[2ω,2(ω−(3/5)・Δω),・・・,2(ω−(m−1)・(3/5)・Δω)] (28)
また、第2波長変換結晶72から出射した2倍波と透過した基本波は、第3波長変換結晶73に入射し、その一部が3倍波に波長変換される。この第3波長変換結晶73としては、LBO,BBO等が使用できる。この第3波長変換結晶73から出射した第2基本波132の3倍波は、次式(29)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[3ω,3(ω−(3/5)・Δω),・・・,3(ω−(m−1)・(3/5)・Δω)] (29)
さらに、第3波長変換結晶73から出射した3倍波と透過した2倍波は、第4波長変換結晶74に入射し、その一部が5倍波に波長変換される。この第4波長変換結晶74としては、BBO,CBO等が使用できる。この第4波長変換結晶74から出射した第2基本波132の5倍波は、次式(30)に示すm個の周波数成分を有するパルス列である。
[5ω,5(ω−(3/5)・Δω),・・・,5(ω−(m−1)・(3/5)・Δω)] (30)
さて、このようにして、第1波長変換結晶71から出射した第1基本波131の2倍波と、第4波長変換結晶74から出射した第2基本波132の5倍波とが、図示しないダイクロイックミラーやフィルター等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第5波長変換結晶75に入射し、上述のように和周波発生により2倍波と5倍波の一部が7倍波に変換される。この第3実施例においても、第1レーザ光源部62と第2レーザ光源部63を構成するm番目のレーザ光源からの光は、それぞれが2倍波と5倍波で波長変換されたのちに第5波長変換結晶75に同時入射するように構成されている。第5波長変換結晶75としては、CLBO等が使用できる。この第5波長変換結晶55から出射したレーザ光の7倍波は、次式(31)に示すm個の周波数成分を有するパルス列となる。
[7ω,7ω−Δω,・・・,7ω−(m−1)Δω] (31)
そして、この第5波長変換結晶75から出射した7倍波(パルス列)と、第1波長変換結晶71を透過して図示しないダイクロイックミラー等によりほぼ同軸上に重ね合わされた後、第5波長変換結晶75を透過した基本波は、第6波長変換結晶76に入射し、その一部が8倍波に波長変換される。この第6波長変換結晶76に対しても、7倍波と基本波のm番目のパルス光は同時に入射する。第6波長変換結晶76としては、BBO,LBO,CLBO,KBBF等が使用できる。この8倍波のパルス列は、次式(32)に示されるように、基本周波数ω0の8倍の周波数から構成されている。この8倍波が第3実施例に係るレーザ光源装置61から出射される。
[8ω,8ω,・・・,8ω] (32)
本実施例では、各々のレーザ光源から出射するM個の光波長間隔を一定間隔にしたが、m番目の光同士が次式(33)の関係を満たしていればよく必ずしも一定にする必要はない。
2・x+5・(3/5)・y+1・x=0 (33)
(x、x・・・x、y、y・・・yは式を満たす任意の数)
また、本実施例では、第1レーザ光源部及び第2レーザ光源部の1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数を基本周波数ωに設定したが、(33)の関係を満たしていれば、1番目のレーザ光源から出射するレーザ光の周波数も基本周波数から所定量ずれた周波数を設定してもよい。
さらに、本実施例では、第1レーザ光源部の基本周波数と第2レーザ光源部の基本周波数を同じに設定したが、(33)の関係を満たしていれば、異なる基本周波数に設定してもよい。
以上のように、本第3実施例に係るレーザ光源装置61によっても、第1実施例と同様にレーザ光の波長変換効率が高く、波長(193nm)の短いレーザ光を高出力で得ることができる。なお、この第3実施例に係るレーザ光源装置61の場合、第1実施例における第3レーザ光源部28及び第3ファイバアンプ部29に相当する装置が必要ないため装置構成は簡単になる。
本実施例1〜3では、第1レーザ光源部の基本周波数と第2レーザ光源部の基本周波数を同じに設定したが、異なる基本周波数に設定してもよい。
次に、第4実施例として、上述のレーザ光源装置1(21,41,61)を用いて波長の短いレーザ光(例えば、193nmのレーザ光)を発生させて利用する露光装置200及びマスク検査装置300について説明する。
まず、図10を用いて露光措置200について説明する。光リソグラフィ工程で用いられる露光装置200は、原理的には写真製版と同じであり、フォトマスク(レチクル)上に精密に描かれたデバイスパターンを、フォトレジストを塗布した半導体ウエハやガラス基板等の上に光学的に投影して転写する。上述のレーザ光源装置(第1実施例21、第2実施例41もしくは第3実施例61)201は、照明光学系202、投影光学系205等を含む露光装置全体として一体に設けられている。このとき、照明光学系202を指示する架台にレーザ光源装置201を固定しても良いし、あるいはレーザ光源装置201を単独で架台に固定しても良い。但し、レーザ光源装置201に接続される電源等は別置きにしておくことが好ましい。
そして、レーザ光源装置201から出射したレーザ光は、照明光学系202により必要な投影面上での照度分布が均一となるように拡大投影され、集積回路の回路パターンが精密に描かれた石英マスク(石英レチクル)203上に走者される。レチクル203の回路パターンは、投影光学系205により所定の縮小倍率で縮小されフォトレジストの塗布された半導体ウエハ(例えば、シリコンウエハ)206に投影され、上述の回路パターンがウエハ206上に結像・転写される。
照明光学系202は、レチクル203のパターン面とほぼ共役な面内に配置され、かつレチクル203上での照明領域を規定する視野絞り、照明光学系202内でレチクル203のパターン面とほぼフーリエ変換の関係となる所定面上でのレーザ光の光量分布を規定する開口絞り、及び、開口絞りを出射するレーザ光をレチクル203に照射するコンデンサレンズ等を含む。このとき、所定面上でのレーザ光を、その光量分布を変更するために、互いに形状と大きさとの少なくとも一方が異なる複数の開口絞りをターレットに設け、レチクル203のパターンに応じて選択される複数の開口絞りの一つを照明光学系202の光路内に配置するようにしても良い。
また、レーザ光源装置201の波長変換光学系と視野絞りとの間にオプティカルインテグレータ(ホモジナイザ)を配置しても良く、フライアイレンズを用いるときはその出射側焦点面がレチクル203のパターン面とほぼフーリエ変換の関係となるように配置し、ロッドインテグレータを用いるときはその出射面がレチクル203のパターン面とほぼ共役となるように配置すれば良い。
なお、露光装置200の露光開始シャッタとしては、電気光学変調素子や音響光学変調素子を用いることができる。電気光学変調素子あるいは音響光学変調素子をオフの状態、すなわち、パルスを発生しない(内部損失が大の)状態からオンの状態、すなわち、パルスを発生する(パルス状に内部損失が小となる)状態に切り替えて露光を開始する。
半導体ウエハ206は、駆動機構208を具備するステージ207上に載置され、一回の露光が完了する度にステージ207を移動することにより、半導体ウエハ206上の異なる位置に回路パターンが転写される。このようなステージの駆動、露光方式をステップ・アンド・リピート方式という。ステージ207の駆動、露光方式にはこの他に、レチクル203を支持する支持部材204にも駆動機構を設け、レチクル203と半導体ウエハ206とを同期移動して走査露光を行うステップ・アンド・スキャン方式があるが、この方式についても、この露光装置200に適用することができる。
次に、図11を用いてマスク検査装置300について説明する。半導体デバイスの微細化が進む中、上述のように193nmのレーザ光が用いられるようになってきているが、これに伴い、位相シフトマスクの欠陥検査も重要となってきている。位相シフトマスクはガラスと遮光部の透過位置を180°ずらし、光の干渉効果を利用して微細パターンを解像するマスク(例えば、上述のレチクル203)である。この位相シフトマスクにおいて、遮光部を半透明膜にしたハーフトーンマスクが多く利用されているが、このハーフトーンマスクは、従来のクロムマスクと異なり、露光波長で高いコントラストが得られるように膜の透過率と位相が決められている。このため、マスク上の微小ピンホール欠陥の信号を検出するには、検査光源の波長を露光波長と同一にすることが有効であり、この検査光源に上述のレーザ光源装置21,41を用いることができる。
それでは、このマスク検査装置300の構成について説明する。マスク検査装置300は、上述のレーザ光源装置21,41,61が用いられレーザ光を放射する検査光源(レーザ光源装置)301、レーザ光源装置301から放射されたレーザ光をマスク303に照射する照明光学系302、マスク303を透過したレーザ光を集光して結像する結像光学系304及びこの結像光学系304で結像された像を検出するTDI(Time Delay and Integration)センサ305から構成される。
照明光学系302は、レーザ光源装置301側から順に、エキスパンダレンズ306、フライアイレンズ307、回転位相板308及びコンデンサレンズ309が並んで配設されている。レーザ光源装置301から放射されたレーザ光はエキスパンダレンズ306で拡大された後、フライアイレンズ307でN×N(N:自然数)に分割されて回転位相板308に照射される。この回転位相板308は、ガラスを円板状に加工したもので、マスク検査装置300の光軸に直交してこの光軸を遮るように配設されており、円板の中心を軸に回転するように構成されている。この円板の表面全体には、深さの異なる小さなピットが多数彫られている。このピットは透過する光の位相を90°、180°、270°ずらすようにガラスに彫り込まれている。そのため、フライアイレンズ307で分割されたレーザ光の位相を、回転位相板308を回転させてピットを透過させることによりランダムに変化させることができる。この回転位相板308を透過したレーザ光はコンデンサレンズ309で集光されてマスク303に照明光として照射される。
マスク303を透過した照明光はマスク303側から順に並んだ対物レンズ310及び結像レンズ311からなる結像光学系304でTDIセンサ305の撮像面に結像される。なお、上述のように、回転位相板308を回転させてマスク303に照射される照明光の位相をランダムにずらしているため、蓄積型のTDIセンサ305で平均化することにより、干渉による照明強度むらを低減させて、鮮明なマスク303の画像を得ることができ、マスク303上にできた微小ピンホール欠陥も撮像することができる。
以上のように、本実施例で述べたレーザ光源装置1(21,41,61)を用いることにより、波長の短く、且つ、高出力のレーザ光を得ることができるため、半導体デバイスの高集積化のための露光装置200やマスク検査装置300を実現することができる。

Claims (13)

  1. M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第1基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、
    M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第2基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、
    前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、
    前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、
    前記第1基本波の周波数のA倍に相当するA倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数のB倍に相当するB倍波を発生する第2波長変換装置、並びに、前記A倍波及び前記B倍波の光を入射して和周波発生によりこれらの和周波を発生する第3波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
    A・a + B・b = 0
    (a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
    を満足することを特徴とするレーザ光源装置。
  2. 前記第1レーザ光源部におけるM個のレーザ光源から発生した各レーザ光を各々光増幅するM個の光増幅器を有する第1光増幅器部と、
    前記第2レーザ光源部におけるM個のレーザ光源から発生した各レーザ光を各々光増幅するM個の光増幅器を有する第2光増幅器部とを有する請求項1の記載のレーザ光源装置。
  3. 前記第1光多重化装置若しくは前記第2光多重化装置が、前記第1レーザ光源部若しくは前記第2レーザ光源部から出射される前記レーザ光の前記基本周波数からのずれ量に応じて設定された入射角で入射させて、回折若しくは屈折した前記レーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて出射させる回折格子若しくは分散プリズムを有して構成されることを特徴とする請求項1記載のレーザ光源装置。
  4. M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第1基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、
    M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、第2基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、
    前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、
    前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、
    前記第1基本波及び前記第2基本波から和周波発生によりこれらの和周波を発生する波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
    + b = 0
    (a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
    を満足することを特徴とするレーザ光源装置。
  5. M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、
    M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、前記基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、
    前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、
    前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、
    前記第1基本波の周波数の3倍に相当する3倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の4倍に相当する4倍波を発生する第2波長変換装置、前記3倍波及び前記4倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の7倍波を発生する第3波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
    3・a + 4・b=0
    (a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
    を満足することを特徴とするレーザ光源装置。
  6. さらに前記基本周波数のレーザ光を出射する第3レーザ光源部と、
    前記7倍波及び前記第3光源から出射された前記レーザ光を入射して和周波発生により前記基本波周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置とを有することを特徴とする請求項5記載のレーザ光源装置。
  7. M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、
    M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、
    前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、
    前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、
    前記第1基本波の周波数の3倍に相当する3倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の4倍に相当する4倍波を発生する第2波長変換装置、前記3倍波及び前記4倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の周波数からb・Δω(m=1,2,・・・,M)ずれている光からなる7倍波を発生する第3波長変換装置、並びに、前記第2基本波の一部と前記7倍波とを入射して和周波発生により前記基本周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
    3・a + 5・b = 0
    (a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
    を満足することを特徴とするレーザ光源装置。
  8. M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、基本周波数からa・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第1レーザ光源部と、
    M個のレーザ光源を有し、m番目のレーザ光源は、前記基本周波数からb・Δωずれた周波数のレーザ光を出射する(m=1,2,・・・,M)第2レーザ光源部と、
    前記第1レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第1基本波を出射させる第1光多重化装置と、
    前記第2レーザ光源部から出射するM個のレーザ光をほぼ同軸上に重ね合わせて第2基本波を出射させる第2光多重化装置と、
    前記第1基本波の周波数の2倍に相当する2倍波を発生する第1波長変換装置、前記第2基本波の周波数の5倍に相当する5倍波を発生する第2波長変換装置、前記2倍波及び前記5倍波を入射して和周波発生により前記基本周波数の7倍の7倍波を発生する第3波長変換装置、並びに、前記7倍波及び前記第1波長変換装置、第3波長変換装置を透過した前記第1基本波を入射して和周波発生により前記基本周波数の8倍の周波数を有する8倍波を発生する第4波長変換装置を備えた波長変換光学系とを有し、次式
    3・a + 5・b = 0
    (a、a・・・a及びb、b・・・bは式を満たす任意の数)
    を満足することを特徴とするレーザ光源装置。
  9. 互いに周波数のずれた複数のレーザ光を同軸上に重ね合わせて一つのレーザ光束を出射させる光学装置を複数個と、
    前記複数の光学装置からそれぞれ出射される前記レーザ光束を1回以上の和周波発生により前記互いの周波数ずれを相殺するとともに、前記レーザ光束の波長変換を行う波長変換装置と、
    を備えたことを特徴とするレーザ光源装置。
  10. 前記光学装置は、前記複数のレーザ光をそれぞれ光増幅する複数の光増幅装置を有することを特徴とする請求項9記載のレーザ光源装置。
  11. 前複数のレーザ光を同軸上に重ね合わせて一つのレーザ光束を出射させる手段が、回折格子又は分散プリズムであることを特徴とする請求項9記載のレーザ光源装置。
  12. 請求項9に記載のレーザ光源装置と、
    前記レーザ光源装置から放射されるレーザ光をレチクル上に照射する照明光学系と、
    前記レチクルを透過した前記レーザ光を半導体ウエハ上に集光して前記レチクルの像を結像する投影光学系とから構成されることを特徴とする露光装置。
  13. 請求項9に記載のレーザ光源装置と、
    前記レーザ光源装置から放射された前記レーザ光の位相を変換する位相変換装置と、
    前記位相変換装置で位相変換された前記レーザ光を集光してマスクに照射する照明光学系と、
    前記マスクを透過した前記レーザ光を集光する結像光学系と、
    前記結像光学系で結像された前記レーザ光を検出するセンサとから構成されることを特徴とするマスク検査装置。
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