JPS6369267A - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置の駆動方法

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JPS6369267A
JPS6369267A JP61212557A JP21255786A JPS6369267A JP S6369267 A JPS6369267 A JP S6369267A JP 61212557 A JP61212557 A JP 61212557A JP 21255786 A JP21255786 A JP 21255786A JP S6369267 A JPS6369267 A JP S6369267A
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    • HELECTRICITY
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    • H04N25/621Detection or reduction of noise due to excess charges produced by the exposure, e.g. smear, blooming, ghost image, crosstalk or leakage between pixels for the control of blooming
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は固体撮像装置に係り、特に固体撮像素子チップ
に光導電体膜を積層した構造とした場合に、過大入力光
により生じた過剰信号電荷を除去して高ダイナミツクレ
ンジを得る固体撮像装置に関する。
(従来の技術) ccom像素子チップに光導電体膜を積層し、光導電体
膜で光電変換を行なう積層型の固体撮像装置が知られて
いる。この固体撮像装置は、開口率を大きくとることが
できるため入射光の利用率が高くなり、高い光電感度を
持つ。また入射光の多くは光導電体膜内で吸収されるた
め、チップ基板内での電荷発生が少なく、固体撮像素子
固有のスミアが少なくなる特徴を有する。更に光導電体
膜の種類を選ぶことにより、分光感度を自由に選ぶこと
ができる。これらの理由で最近、a−3i躾やZnCd
Te膜等を積層した積層型固体lll1!装置の開発が
進んでいる。
ところでインターライン転送型CODを用いた積層型固
体撮像装置において、光電変換部の容量(入射光により
発生した信号電荷を蓄え得る量)が垂直信号電荷読出し
部即ち垂直CODの容量(転送し得る信号電荷量)より
大きくなることが多い。このため、強い光が入射すると
、これによって生じた信号電荷のうち転送部で転送し得
る最大電荷量以上の電荷は過剰電荷として転送部で溢れ
出したり、蓄積部に読み残されたりする。これは、ブル
ーミングや残像の原因となり、再生画像では著しく画質
劣化をもたらす。
従来この問題を解決する技術として、電荷転送部の転送
容量を超える過剰信号電荷を、垂直ブランキング期間に
高速パルスを印加して水平信号電荷読出し部即ち水平C
ODを経て出力部へ掃出す方式が提案されている(特開
昭56−140773号公報)。しかしこの方式では、
垂直ブラキング期間に高速パルスを印加して垂直COD
を駆動するので、転送し得る電荷量に制限がある。従っ
て充分な過剰電荷掃出しができない。また、過剰電荷を
光電変換部から垂直CODへ転送した後、一度垂直CO
Dの全電極下の電位を同一レベルにして過剰電荷を垂直
転送方向に平均化した後、出力部へ掃出す方式も提案さ
れている(特願昭59−90416号)。この方式は前
述の方式に比べると効果が大きいが、過剰電荷の量は実
際には垂直CODで転送し得る電荷量の5〜10倍にも
達するので、未だ充分な効果は得られない。
(発明が解決しようとする問題点) 以上のように従来の積層型固体撮像装置では、過大入力
光により生じる過剰電荷の除去が不十分であり、ブルー
ミングや残像が大きいという問題があった。
本発明はこの様な問題を解決した高ダイナミツクレンジ
の積層型固体撮像装置を提供することを目的とする。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は積層型固体撮像装置において、垂直信号電荷読
出し部の水平信号電荷読出し部と反対側の端部に過剰電
荷掃出し部を設けて、垂直ブランキング期間に垂直信号
電荷読出し部の最大転送電荷量を超える過剰電荷を、通
常の転送方向とは逆方向に掃出すようにしたことを特徴
とする。具体的な過剰電荷掃出しの動作は例えば、二つ
の動作モードに分ける。第1の動作モード期間では、垂
直信号電荷読出し部の複数の転送電極を制御してその下
のチャネル電位を一定レベルに設定して、クロックパル
スで掃出し得る電荷量以上の電荷を連続的に掃出し部か
ら掃出す。第2の動作モード期間では、クロックパルス
を用いてやはり通常の信号電荷読み出し方向とは逆方向
に残りの過剰電荷を掃出す。
(作用) 本発明によれば、蓄積部で発生した過剰電荷を通常の信
号電荷転送方向と反対方向に掃出すことにより、掃出し
電荷量の増大が図られる。特に掃出し動作を二つのモー
ドに分け、チャネル電位を一定にして連続掃出しを行な
うモードとクロックパルスによる転送モードを組合わせ
た方式を採用すると、第1の動作モード期間で六層の過
剰電荷を掃出すことが可能である。そして第2の動作モ
ード期間では、りOツクパルスにより通常とは反対方向
に残りの過剰電荷転送を行なうことで、確実に過剰電荷
の除去が行なえる。本発明では、通常の信号電荷転送方
向に高速のクロックパルス印加により過剰電荷掃出しを
行なう従来の方式と異なり、掃出す電荷量に制約が殆ど
なく、大きい過剰電荷掃出し能力が得られる。従ってブ
ルーミングや残像を改善し、^いダイナミックレンジを
有する固体Wi像装置を得ることができる。
(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
第1図は、第1の実施例のインターライン転送型COD
を用いた積層型CCD撮像装置の要部断面図である。図
において、1はp型Si基板であり、その表面には垂直
CODのチャネルである第1の00型層121と、信号
電荷蓄積部であるダイオードを構成する第2のn0型層
122が形成されている。n+1型層14はn+型層1
22と金属電極のオーミック接触をとるためのものであ
り、p+型層13はチャネルストッパ層である。
この基板のCODチャネル上にはゲート絶縁膜を介して
例えば二層多結晶シリコン膜により形成された転送電極
15a、15bがある。この転送電極が形成された基板
上に第1の絶縁11S16aが堆積され、これに開けら
れたコンタクト孔を介してn+4型層14にコンタクト
する第1の金属電極17aが各画素毎に形成され、更に
この上に第2の絶縁B116bを介して各画素毎に第1
の金属電極17aに接続される第2の金属電極17bが
形成されている。そしてこの上にa−3i11からなる
光導電体膜18とITOなどの透明電極19が形成され
ている。
ここで、信号電荷蓄積ダイオードであるn+型層122
.n”型層14.第1の金属電極17aおよび第2の金
属電極17bは、各画素毎に独立に二次元的に配列形成
される。即ち第2の金属電極17bが撮像画素領域を定
義するものとなり、光導電体膜18による撮像の結果第
2の金属電極17bに得られる電位変化が第一1の金属
電極17aを介してn“型1122に伝達され、ここに
信号電荷として蓄積される。垂直COD転送電極15a
の一部はn0型層122の信号電荷をCODチャネルに
転送するための転送電極を兼ねており、図ではこの転送
部20の断面を示している。また図では示していないが
、垂直CODは、マトリクス配列された蓄積ダイオード
の一方向に沿って複数個配列され、それらの一方の端部
に水平CODが配置される。
この様な積層型CCDl1像素子では信号電荷蓄積部の
容量が信号電荷転送部のそれより大きくなる。信号電荷
蓄積部の言渋は、n十型層122の容l、光導電体g1
18の容量、金属電極178゜17bと転送電極15a
、15bとの間の容量の合計で決まるからである。
第2図は、この実施例のCCDl1i像装置の制御回路
部を含む全体構成を示す。撮像素子20は、図示のよう
にマトリクス配列された蓄積ダイオード22、複数本の
垂直C0D23、これら垂直C0D23の一方の端部に
設けられた水平CCD24を基本構成要素とする。垂直
C0D23と水平C0D24の間には、信号電荷通過を
制御するボトムゲート(BG)電極25が設けられてい
る。
一方垂直C0D23の水平C0D24と反対側の端部に
は、過剰電荷掃出しのためのスィーブアウト・ゲート<
SG)電極26とスィーブアウト・ドレイン(SD)拡
散層27が形成されている。
この実施例では垂直C0D23は、転送電極φV1.ψ
V2.φV3.φ■4で構成した4層駆動であり、水平
C0D24は転送電極φHs。
φH2で構成した2層駆動である。蓄積ダイオード22
の信号電荷は垂直CCD23から水平CCD25を経て
出力アンプ28を通して出力端子O8から電気信号とし
て取出される。出力信号はプリアンプ29でノイズ除去
等が行われ、その後プロセスアンプ30でガンマ補正、
ブランキング処理、白クリップ、直流分再生等が行われ
て、通常の画像信号とされる。
一方、タイミングパルス発生回路31は、垂直クロック
パルス、水平クロックパルス等ccom像素子21の駆
動に必要なタイミングパルスを発生する。垂直のクロッ
クパルスについては、レベル制御回路32によって後に
第3図で説明するような振幅になるように調整し、クロ
ックトライバ33では振幅制御されたパルスを大容量の
負荷(垂直C0D23は31m常2000〜3000p
F)を駆動するために電流増幅した後、転送りロック信
号φV1.φV2.φV3.φV4、ボトムゲートυJ
ailパルスBG、スィーブアウト・ゲート制御パルス
SGなどを発生する。スイープアウト・ドレイン27に
は充分に深い直流電圧Vsoを印加する。
次にこのCOD撮像装置の具体的な動作を、第3図およ
び第4図を参照して説明する。第3図は第2図に示した
各電極に印加するパルスの具体的な一例であり、第4図
は第2図の一つの垂直000部分のx−x’断面での各
期間の電位分布と電荷移動の様子を示す図である。この
実施例では、垂直ブランキング期間に第3図に示すよう
なパルス駆動による垂直C0D23の過剰電荷の掃出し
を行なうことが特徴である。過剰電荷掃出しは、スイー
プアウト・ゲート電wjA26に正パルス電圧VIIG
Hを印加して垂直C0D23を通常の動作とは逆方向に
電荷を転送して、スィーブアウト・ドレイン27にこれ
を逃がすものであり、この間、ボトム・ゲート電極25
には第3図に示すように負のパルスVBOLを印加して
、垂直C0D23と水平C0D24の間の信号電荷の通
過を止めておく。
過剰電荷掃出しの動作は具体的には、二つの動作モード
からなり、第3図に示すように第1期間(A〜Cの期間
)と第2の期間<om門)に分けられる。先ず、A期間
では垂直C0D23の全転送電極φ■1〜φ■4に充分
高い正電圧VFIを印加しそのチャネル領域に一様に深
い電位φF1を形成する。これにより各蓄積ダイオード
PDの過剰電荷Q1は余裕をもって垂直CCD23のチ
ャネル領域に転送される。ここでスィーブアウト・ゲー
トSGは開いているので一部の過剰電荷はスィーブアウ
ト・ドレインSDに1てられる。次のB期間には転送電
極φVl〜φ■斗に一定の電圧例えばVMを印加し、こ
の4電極下に形成される電位を一様にしたままA期間の
動作より浅い電位φVMとする。これにより過剰電荷Q
1はA期間より多くドレインSDに捨てられる。C期間
では更に電極φ■1〜φ■4により低い電圧Vpuが印
加されてその電極下の電位はφPυと低くなり、過剰電
荷はドレインSDに捨てられる。ここで、電位φPtJ
に設定された時に残る過剰電荷Q2は、この後のD期間
でクロック転送を行なう際の最大転送電荷量以下になる
ように、制御電圧■?υが設定される。
このようにして、期間A−Cで垂直CODのチャネル領
域を一様電位に設定して過剰電荷の掃出しを行なった後
、期間りでは垂直C0D23の転送電極φ1〜φ■4に
、電荷をドレインSD側に転送するような4相のクロッ
クパルスを印加する。
クロックパルス周波数は例えば1MHIとする。これに
より、クロックパルス電圧VM、VLにより決められる
電位φvM、φVLが第4図のように交互に形成され、
残りの過剰電荷Q2は順次ドレインSDに捨てられる。
通常の信号電荷Q4は、以上の過剰電荷掃出し動作の終
了後、EW4間でフィールドシフトパルスVF2を印加
して蓄積ダイオード22から垂直CCD23に読出す。
そしてF期間に二つの蓄積ダイオードの信号電荷を加算
して信号電荷Qsとした後、ボトムゲートBGを開き、
通常の垂直COD転送転送周波数15.7七 Qs@読み出す。CCD撮像素子の読出しモードをフィ
ールド蓄積モードとした場合、蓄積ダイオードから読出
した信号電荷を二つ加算するのは、奇、偶フィールドで
加算の組合わせを一つずつずらすことによって解像度向
上を図るためである。
以上のようにこの実施例によれば、過剰電荷は充分な余
裕をもって掃出すことが可能になる。この結果、光導電
体膜を光電変換部に用いた積層型ccomtm装置での
過大入力光による過剰電荷に起因するブルーミングや残
像現象を効果的に防止することができ、光導電体膜を用
いた場合の利点である高感度、低スミアの特性を活かし
て高ダイナミツクレンジの再生画像が得られる。また水
平CCD側に過剰電荷を掃出す従来の方式では、垂直ブ
ランキング期間の過大信号が出力信号に含まれるために
、信号処理回路のダイナミックレンジを大きく必要とし
たが、この実施例ではこの様な問題も解決される。
次に本発明の第2の実施例を説明する。先の第1の実施
例で説明した期間A−DにおいてもCCD撮像素子に入
射光があり、これが強い場合この期間に発生した信号電
荷が垂直CODで運べる信号電荷量以上になり、ブルー
ミングや残像が発生する。従って第1の実施例をより効
果的にするためには期mA−S−Dの時間ができるだけ
短い方がよい。期間AS−Dのうち最も時間が必要な0
11間はDである。例えば掃出し周波数を5001とし
た場合、垂直CODの転送段数は250であるから、期
111Dの時filtoは、下式により求められる。
io −2(μ5)x250−500 (μS)この期
間りの時間io −500μsを短くできれば、更にブ
ルーミング、残像を抑圧できる。そこで第2の実施例で
は、期間りの掃出し動作を単相駆動とする。
第5図は第2の実施例での駆動パルス発生回路の構成で
ある。タイミングパルス発生回路50は、期間り以外の
垂直CODクロックパルスPi〜P4と期間りの単相パ
ルスの原パルスPa1およびm間りを指定するパルスP
bを発生する。パルスPs〜P4はレベル変換回路51
により垂直CC[)を駆動するに必要なレベルに変換さ
れて、パルスPs =P8となる。パルスPa 、Pb
は単相パルス発生回路52に入り、正のパルスpcと負
のパルスPdの単相パルスを期間りに限って発生させる
。そしてオフセット回路53によってパルスpcは電源
■aによりオフセット調整されてパルスPeとなり、パ
ルスPdは電源vbによりオフセット調整されてパルス
Pfとされる。そして切換回路54により、パルスpe
は期RD1パルスPfは期間A、8.C,E、Fとなる
ようにする。同様に切換回路55により、パルスPfと
パルスP7を切換える。また期間りが直流でよい電極は
電圧VcとパルスP5を切換回路56で切換え、同様に
切換回路57では電圧VdとパルスPIlを切換える。
これら切換回路54〜57の出力はクロックトライバ5
8〜61を介して垂直CODの各転送電極φ■1〜φV
4に印加される。
第6図はこの実施例の期間りの掃出しパルスを第1の実
施例と比較して示す図である。即ち第6図の上段が第1
の実施例での4相駆動掃出し動作のクロックパルスであ
り、下段が第2の実施例での単相駆動波形である。第1
の実施例では、クロックパルスの周期T1でそれぞれ9
0’の位相ずれであるT2のずれがあり、この場合クロ
ックパルスの応答特性劣化による鈍りはT2までであっ
て、これは周期T1に対して1/4である。このため高
速化のためには強いクロックトライバが要求される。こ
れに対し第2の実施例での単相駆動掃出しでは、例えば
図示のようにクロックパルスφVs 、φv2には同相
パルスを用い、クロックパルスφV3.φ■4には値の
異なった直流電圧を用いる。第6図中破線で示す電圧V
xは、垂直CODのチャネル電位より求められるピンニ
ング付近の電位を得るための印加電圧であり、この図の
電圧はこれを基準として表示している。パルスφV1で
はオフセット電圧vaによってパルスの高レベルVan
、低レベル■a2を決め、パルスφ■2ではオフセット
電圧vbによってパルスの高レベルvb1.低レベルy
b2を決める。
第7図は、第2の実施例での過剰電荷掃出しの動作を説
明するための垂直CCDC筒内分布を、第4図に対応さ
せて示したものである。期間A〜Cまでの動作は第1の
実施例と同じであるので、詳細な説明は省く。この後の
単相駆動掃出しでは先ず、期間Dtの間クロックパルス
の電圧va2゜Vb2で決まるチャネル電位φVa2.
φ■b2と直流電圧Vc 、Vdで決まるチャネル電位
φVc、φVdによって形成される電位分布で深い電位
の井戸に過剰電荷Q3が溜まる。次の期間D2では、ク
ロックパルスの電圧Val、Vb1で決まるチャネル電
位φVal、φVbtと直流電圧Vc 、Vdで決まる
チャネル電位φVC。
φVdによって形成される電位分布で電位の深い方へ過
剰電荷Q3が移動する。この移動方向が第7図の矢印に
であり、この移動により過剰電荷Q3はドレインSDに
捨てられる。なお期間Cでチャネル電位φPυにより残
される過剰電荷は、次の期間りでの最大転送電荷1以下
に設定されることは先の第1の実施例と同じである。
以上のようにしてこの実施例によっても、過剰電荷の効
果的な掃出しが可能である。この実施例の場合、単相の
クロックパルスφVl、φ■2は第6図に示すように、
周期T3に対して例えばデユーティは1:1でよいので
、クロックパルスの応答特性劣化による鈍りはT3の1
/2であるT4でよい。このため第1の実施例に比べて
低速のクロックトライバを用い得る。またこの実施例で
はパルスが単相であるので、第1の実施例に対して1/
4の原発振パルスで必要なりロックパルスを形成するこ
とができ、従ってより高速の棉出しパルスが得られる。
これにより、一層効果的にブルーミングや残像を抑圧す
ることができる。
本発明は上記実施例に限られるものではない。
例えば実施例では4相駆動および単相駆動による過剰電
荷掃出しを行なったが、3相駆動、2相駆動を利用する
こともできる。また実施例では垂直CCDと水平CCD
の間に信号電荷の通過をオン。
オフするボトムゲート電極を設けたが、このゲート電極
としては垂直CODの最終段転送電極を用いることがで
きる。同様にスィーブアウト・ドレイン側のゲート電極
としても垂直CODの最終段転送電極を利用することが
可能である。上記実施例ではNTSC標準TV方式に合
せて駆動する場合を説明したが、本発明はPAL方式の
場合にも適用することができ、更に高精細画像が得られ
るハイビジョンTVカメラにおける固体m像装置に、 
も適用することができる。ハイビジョンTVカメラの場
合は垂直CODの転送段数が約500段になるので、掃
出しクロックパルスの回数もそれに合せることが必要で
ある。
また実施例では一個のCCD撮像素子を用いた白黒カメ
ラの場合を説明したが、本発明はこれに制限されない。
即ち素子を3個用いた3板カラーカメラや1個用いた単
板カラーカメラに適用することにより、高いダイナミッ
クレンジで残像が少なく、かつ積層構造の特徴である高
感度、低スミアの高画質カラー再生像を得ることができ
る。
その飽水発明はその趣旨を逸脱しない範囲で種々変形し
て実施することができる。
[発明の効果コ 以上述べたように本発明によれば、積層型固体搬像装置
において過大入力光による過剰電荷に起因して発生する
ブルーミングや残像を大幅に抑圧することができる。ま
た本発明では積層型固体搬像装置の持つ高感度、低スミ
アの特徴が活かされて、かつ高ダイナミツクレンジが得
られ、非常に明るいスポットが画面内にある場合におい
ても再現性よく再生像を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例に用いたCCD撮像素子の断面
図、第2図は第1の実施例撮像装置全体構成を示す図、
第3図はその過剰電荷掃出し動作を説明するための信号
波形図、第4図は同じく垂直CODでの電位分布変化を
示す図、第5図は第2の実施例における駆動回路を示す
図、第6図はその掃出し動作のクロックパルス波形を第
1の実施例の場合と比較して示す図、第7図は同じく垂
直CODの電位分布変化を示す図である。 i−p型3i基板、12t−n+型相(垂直CODチャ
ネル)、122・・・nゝ型相(蓄積ダイオード)、1
3・・・p4″型相、14・・・n4″“型相、15a
、15b・・・転送ゲート電極、16a。 16b・・・絶縁膜、17a、17b・・・金属電極、
18・・・a−3i膜、19・・・透明電橋、21・・
・CCD1il像素子、2・・・蓄積ダイオード、23
・・・垂直COD、24・・・水平CCD、25・・・
ボトムゲート電極、26・・・スィーブアウト・ゲート
電極、27・・・スィーブアウト・ドレイン、28・・
・出力アンプ、29・・・プリアンプ、30・・・プロ
セスアンプ、出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)半導体基板上に複数の信号電荷蓄積部と垂直信号
    電荷読出し部が配列形成され、垂直信号電荷読出し部の
    一方の端部に隣接して水平信号電荷読出し部が形成され
    た固体撮像素子チップと、この固体撮像素子チップ上に
    積層され前記信号電荷蓄積部と電気的に接続された光導
    電体膜からなる光電変換部とを有する固体撮像装置にお
    いて、前記垂直信号電荷読出し部の前記水平信号電荷読
    出し部と反対側の端部に過剰電荷掃出し部を設け、かつ
    垂直ブランキング期間にこの過剰電荷掃出し部により前
    記垂直信号電荷読出し部の最大信号電荷量以上の過剰電
    荷の掃出しを行なう制御回路を設けたことを特徴とする
    固体撮像装置。
  2. (2)前記過剰電荷掃出し部は、ゲート電極とドレイン
    拡散層とからなる特許請求の範囲第1項記載の固体撮像
    装置。
  3. (3)前記垂直信号電荷読出し部と水平信号電荷読出し
    部の間に信号電荷通過の制御を行なうゲート電極を有す
    る特許請求の範囲第1項記載の固体撮像装置。
  4. (4)前記制御回路による過剰電荷掃出し動作は、第1
    の期間に前記垂直信号電荷読出し部の複数の転送ゲート
    電極の電圧を制御してこれら電極下のチャネル電位を同
    一レベルに設定して前記過剰電荷掃出し部から垂直信号
    電荷読出し部の過剰電荷量の一部を連続的に掃出し、第
    2の期間に前記垂直信号読出し部の複数の転送ゲートに
    クロックパルスを印加して過剰電荷量の残りを順次前記
    過剰電荷掃出し部から掃出すようにした特許請求の範囲
    第1項記載の固体撮像装置。
  5. (5)前記垂直信号電荷読出し部は、第1〜第4の4電
    極で1画素信号電荷の転送を行なうものであり、この垂
    直信号電荷読出し部の信号電荷を前記水平信号電荷読出
    し部へ転送する際は前記4電極に順次90°ずつ位相の
    ずれた4相のクロックパルスが印加され、過剰電荷を掃
    出す期間は、第1および第2の電極に同相のクロックパ
    ルスが印加され、第3および第4の電極に直流電圧が印
    加されて、前記第1と第2および第3と第4の電極下に
    形成される電位が前記過剰電荷掃出し部側に電荷が流れ
    る関係になるようにオフセット電圧が印加される特許請
    求の範囲第1項記載の固体撮像装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02164185A (ja) * 1988-12-16 1990-06-25 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置の駆動方法
JPH0358581A (ja) * 1989-07-26 1991-03-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置の駆動方法

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4963980A (en) * 1987-02-06 1990-10-16 Canon Kabushiki Kaisha Image sensing device
US5031048A (en) * 1988-08-09 1991-07-09 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Electric shutter control device for use in a still video camera, for example, and a method of controlling same
FR2638309B1 (fr) * 1988-10-25 1996-05-24 Trefimetaux Plaquette de pretraitement des courants de sortie de diodes de detection soumises a un rayonnement thermique
JPH0831990B2 (ja) * 1989-03-29 1996-03-27 株式会社東芝 X線診断装置
US5172163A (en) * 1989-05-10 1992-12-15 Sanyo Electric Co., Ltd. Photovoltaic photo-receptor and electrophotographing apparatus
KR100276971B1 (ko) * 1989-06-20 2001-01-15 다카노 야스아키 고체촬상소자의 구동방법
US4985773A (en) * 1989-06-28 1991-01-15 Sperry Marine Inc. Apparatus and method for inhibiting blooming in television cameras
JP2808315B2 (ja) * 1989-08-08 1998-10-08 旭光学工業株式会社 撮像素子駆動装置
US5047862A (en) * 1989-10-12 1991-09-10 Eastman Kodak Company Solid-state imager
EP0563846A1 (en) * 1992-03-30 1993-10-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Dynamic peaking aperture correction for use with a CCD camera
EP0621726B1 (en) * 1993-04-20 1999-06-16 Sony Corporation Method of and apparatus for solid state imaging device
JPH08139303A (ja) * 1994-09-14 1996-05-31 Toshiba Corp 固体撮像装置の駆動方法
JP3213529B2 (ja) * 1995-11-30 2001-10-02 三洋電機株式会社 撮像装置
JP3561596B2 (ja) * 1996-11-27 2004-09-02 三洋電機株式会社 撮像装置
JPH11331484A (ja) * 1998-05-12 1999-11-30 Sony Corp 固体撮像装置
TW425563B (en) * 1998-06-03 2001-03-11 Nippon Electric Co Solid state image pickup device and driving method therefore
JP4433528B2 (ja) * 1998-12-08 2010-03-17 ソニー株式会社 固体撮像素子及びその製造方法
JP4419264B2 (ja) * 2000-03-31 2010-02-24 ソニー株式会社 固体撮像装置
JP4350924B2 (ja) * 2001-09-07 2009-10-28 富士フイルム株式会社 固体撮像装置およびその駆動方法
US20070210342A1 (en) * 2003-02-26 2007-09-13 Dialog Imaging Systems Gmbh Vertical charge transfer active pixel sensor
US20040164321A1 (en) * 2003-02-26 2004-08-26 Dialog Semiconductor Vertical charge transfer active pixel sensor

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58139463A (ja) * 1982-02-13 1983-08-18 Sony Corp 固体撮像装置
JPS60233986A (ja) * 1984-05-07 1985-11-20 Toshiba Corp 固体撮像装置の駆動方法

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56140773A (en) * 1980-04-02 1981-11-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd Driving method of solid state pickup element
JPS5831672A (ja) * 1981-08-19 1983-02-24 Toshiba Corp 電子カメラ
JPS60165183A (ja) * 1984-02-06 1985-08-28 Canon Inc 撮像素子又は撮像装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58139463A (ja) * 1982-02-13 1983-08-18 Sony Corp 固体撮像装置
JPS60233986A (ja) * 1984-05-07 1985-11-20 Toshiba Corp 固体撮像装置の駆動方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02164185A (ja) * 1988-12-16 1990-06-25 Matsushita Electron Corp 固体撮像装置の駆動方法
JPH0358581A (ja) * 1989-07-26 1991-03-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置の駆動方法

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