JPH06311433A - 固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置の駆動方法

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JPH06311433A
JPH06311433A JP5114183A JP11418393A JPH06311433A JP H06311433 A JPH06311433 A JP H06311433A JP 5114183 A JP5114183 A JP 5114183A JP 11418393 A JP11418393 A JP 11418393A JP H06311433 A JPH06311433 A JP H06311433A
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JP
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ccd
light receiving
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charge
vertical
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JP5114183A
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English (en)
Inventor
Tetsuya Iizuka
哲也 飯塚
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 FIT型撮像素子の垂直CCDの電荷掃き出
し期間におけるスミア電荷の転送残しをなくして特に大
光量での画質を改善する。 【構成】 複数列に配置した垂直CCDを有する受光部
と、前記各垂直CCDに連続する垂直CCDからなる蓄
積部と、該蓄積部の垂直CCDに接続された水平CCD
とを備え、前記受光部の各列の垂直CCDに複数の受光
素子が接続された固体撮像装置の駆動方法において、信
号読み出し期間と、フレームシフト期間と、ライン
シフト期間と、掃き出し期間とを有し、前記ライン
シフト期間において、受光部の転送速度を蓄積部の転送
速度より速くした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はCCDを用いた固体撮像
装置に関し、特に電荷転送を行うための駆動方法に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】CCDを用いた固体撮像装置としてフレ
ームトランスファ(FT:FrameTransfer
またはFIT:Frame Interline Tr
ansfer)方式の撮像素子(以下FIT型撮像素子
という)が用いられている。このFIT型撮像素子にお
いては、受光部で受光した光をその光量に応じて光電変
換して信号電荷を発生し、この信号電荷を蓄積部に転送
し、さらにこれを読取り部に転送出力する。この場合、
受光部または蓄積部のCCDレジスターに対しそのCC
Dレジスターの取扱い電荷量を越える過剰な電荷量が注
入されると、正常な転送が行われず転送残しが発生す
る。このためFIT型撮像素子で高輝度な被写体を撮像
した場合、転送残しのためにCCDレジスター内に信号
電荷が残留しこれが雑音信号となって後続する本来の信
号電荷に重畳され画像を著しく劣化させる。この点につ
いて、以下にさらに詳しく説明する。
【0003】図9はFIT型撮像素子1の平面構造を示
す。このFIT型撮像素子1は、受光部2および蓄積部
3とを有し、受光部2は複数の列にアレイ状配置した受
光素子4(この例では各列4個)と各受光素子4に対し
読み出しゲート(ROG)5を介して各列ごとに設けた
垂直CCD(V−CCD)6とにより構成される。蓄積
部3は受光部2のV−CCD6に接続された垂直CCD
(V−CCD)7により構成される。蓄積部3のV−C
CD7の受光部側端部とは反対側に水平CCD(H−C
CD)8が設けられる。従って、H−CCD8は、蓄積
部3のV−CCD7を介して受光部2のV−CCD6と
接続される。
【0004】また、H−CCD8に接して、V−CCD
側とは反対側にスミア掃き出し用のスミアゲート(SM
G)9とスミアドレイン10を配置し、H−CCDの出
力側端部には、電荷信号を電圧信号に変換するためのフ
ローティングディフュージョンアンプ11と、リセット
トランジスタ12と、出力バッファ13とが設けられ
る。
【0005】なお、以下の説明においては、説明の簡略
化のため、各V−CCD6,7は後述のパルスIM1〜
4およびST1〜4により動作する4相駆動とし、また
画素数は垂直4画素で読み出し方法はノンインターレー
ス動作としている。
【0006】図10は、図9のX−X’線に沿ったV−
CCD部分の縦断面の構成を示す。また、図11はFI
T型撮像素子の従来の駆動波形を示す。図10および図
11において、IM1〜4は受光部2のV−CCD6を
駆動する4相電極を示し、ST1〜4は蓄積部3のV−
CCD7を駆動する4相電極を示している。図10に示
すように、IM1〜4およびST1〜4の夫々に対応す
る4つのゲート電極が受光部2および蓄積部3の各V−
CCD6,7の構成単位となり、それぞれ図中U1およ
びU2で示される。
【0007】図示したように、共通のシリコン基板15
上にSiO2からなる酸化膜16が形成され、その上に
ポリシリコンからなる電極17が形成される。各電極1
7は前述の駆動パルスを導入する4相電極IM1〜4お
よびST1〜4の各々に順番に接続される。この例にお
いては、シリコン基板15にnチャンネルのCCDが形
成されているものとする。従って、ゲート電位が高レベ
ルのところにポテンシャル井戸が形成される。破線18
はこのポテンシャル井戸を示す。図10の例では、IM
1,2およびST1,2に接続する部分に高レベル電位
が印加され、IM3,4およびST3,4に接続する部
分には低レベルの電位が印加された状態を示している。
【0008】次に、図11を参照してV−CCDを駆動
制御する駆動パルス波形について説明する。V−CCD
の駆動パルスは4つの期間、、、からなり、
はH−CCDの駆動期間を示す。はラインシフト期
間、は掃き出し期間、は読み出し期間、はフレー
ムシフト期間である。読み出し期間を除いて、受光部
2と蓄積部3のV−CCD6,7の駆動波形は同一波形
となっている。ラインシフト期間においては、1水平
走査期間ごとに1周期のV−CCDを駆動する。これは
TVの垂直走査に対応する動作である。このラインシフ
ト期間のH−CCD駆動期間中に受光部2のV−CC
D6に漏れ込んだ光子がV−CCD内で光電変換されて
雑音信号として蓄積されていく。
【0009】この雑音がスミアー信号であり、この雑音
電荷をV−CCDから排除するために、掃き出し期間
において、V−CCDを高速駆動して受光部2のV−C
CD6内のスミアー電荷を蓄積部3に転送する。従って
掃き出し期間が終了した時点では受光部2のV−CCD
6内にスミア電荷がほとんどない状態となる。なおこの
とき、蓄積部3にもともとあつたスミアー電荷は、H−
CCD8とスミアーゲート9を介してスミアードレイン
10に掃き出される。
【0010】このようにしてスミアー雑音成分がー掃さ
れたきれいなV−CCD6に対し読み出しの期間にお
いて受光素子4より信号電荷を読み出して格納する。
【0011】つぎにフレームシフト期間においてV−
CCD6および7を高速駆動して受光部2のV−CCD
6内の信号電荷を蓄積部3へ送ると共に、蓄積部3のV
−CCD7内のスミアー電荷をH−CCD8とスミアー
ゲート9を介してスミアードレイン10に掃き出す。信
号電荷が転送されてきた蓄積部3は遮光されており、光
子の入射がないため、次のラインシフト期間のH−C
CD駆動中において信号電荷への新たなるスミアーの付
加はほとんど起こらない。なお、図11の下側(B)図
はラインシフト期間における駆動パルスの波形を示す
ものであり、受光部2の駆動パルスIM1〜4とこれに
対応する蓄積部3の駆動パルスST1〜4は同じであ
る。
【0012】以上の電荷転送動作を模式的に図12〜図
18に示す。これらの図は1周期の転送動作を形成する
時刻t1〜t7(図11)でのポテンシャル井戸18
(図10)に蓄積された電荷の状態を示している。各図
において、D1は受光部のV−CCDを示し、D2は蓄
積部のV−CCDを示し、D3はH−CCD、D4はス
ミアゲート、D5はスミアドレインを示す。まず図12
に示すように、時刻t1ではフレームシフトが終了し、
受光部2(図9)の各列の4つの受光素子4より読み出
された電荷a〜dは蓄積部3のV−CCD7へと送られ
ている。そしてt1〜t1’の間(H−CCD駆動期間
)はV−CCDは止っており、図13に示すようにこ
の間に受光部のV−CCD(D1)へ光子の漏れ込み
(矢印E)によってスミアー電荷19が蓄積される。
【0013】次にt2になるとV−CCDが1周期の転
送(t1’からt2のラインシフト期間)を行うため
信号およびスミアー電荷がX方向(図9の上方向、図1
0の右方向)に、V−CCDの構成単位U1、U2(図
10)分だけ移動する(矢印F)。このとき1番X方向
よりの蓄積部3のV−CCD7の電荷(a)はH−CC
D(D3)に送られ、この電荷はt2〜t2’の期間
(H−CCD駆動期間)にH−CCDで水平転送され
る。またt1〜t1’間と同様に、t2〜t2’の水平
転送期間のスミアー電荷が重畳されて、スミアー電荷量
が増加する。
【0014】次に、t2’からt3のラインシフト期間
にV−CCDの1構成単位だけ転送され(矢印F)、
図示したt3の状態になる(図14)。
【0015】同様に、図15に示すように、t3からt
3’でもスミア電荷が加わり(矢印E)、これがt3’
からt4までのラインシフト期間に1構成単位だけ転送
される(矢印F)。同様の動作を繰返してt5に至る
(図16)。さらにt5からt5’の水平転送期間で
も同様にスミア電荷が蓄積され(矢印E)図17のt
5’の状態になる。この状態では信号電荷a〜dはすべ
て水平に送られており、受光部および蓄積部のV−CC
Dはスミア電荷だけとなる。
【0016】次に、t5’からt6にかけての掃き出し
期間においてV−CCDを高速で転送させ、矢印Gで
示すように、受光部(D1)のスミア電荷を蓄積部に移
動させるとともに、蓄積部(D2)のV−CCDにあっ
た電荷をH−CCD(D3)へ高速転送しスミアゲート
(D4)を介してスミアドレイン(D5)に掃き出す
(矢印H)。このためt6では受光部のV−CCDにス
ミア電荷がほとんど存在しない状態となる。
【0017】次に、t6〜t7の読み出し期間におい
て、受光素子より信号電荷をV−CCD(D1)に読み
出し、図18のt7の状態とする。さらにt7〜t1の
フレームシフト期間において、V−CCDを高速で転
送させ、受光部の信号電荷を蓄積部へ移動させる(矢印
J)。このとき蓄積部のV−CCD(D2)にあったス
ミアー電荷も同時にH−CCDへ高速転送されスミアー
ゲートを介してスミアードレインに掃き出される。以上
がFIT型撮像素子の電荷転送状況を説明したものであ
る。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のFIT型撮像素子においては、スミアー電荷の転送
不良による雑音画像が発生する場合があった。このよう
なFIT型撮像素子の動作で転送残しが発生しやすいの
は図11の掃き出し期間、即ち図17のt5’〜t6
の掃き出し期間の受光部のV−CCDにおいてである。
なぜならば、高速転送するほどV−CCDの取扱い電荷
量が減少しやすく、高輝度被写体を撮像した場合にスミ
アー電荷発生量がV−CCDの取扱い電荷量を上回る場
合があるからである。なお受光部のV−CCDよりも蓄
積部のV−CCDのほうがチャンネル幅を広くとれるた
め(図9)、蓄積部のほうが取扱い電荷量が大きくで
き、蓄積部では転送残しが発生しにくい。
【0019】図19に転送残しが発生した場合のモニタ
ー画面20を示す。この例は高輝度の円形の被写体を撮
像した場合で、円形被写体により発生したスミアーが掃
出し転送期間に受光部から蓄積部に転送しきれずに画面
上部に取り残されている。21が高輝度被写体の画像で
あり、22がスミア電荷の転送残しによる雑音画像であ
る。
【0020】図20および図21に示したのは、先に説
明した図17および図18のt5’〜t1の間でスミア
ー量が過剰に増加した場合の状況図である。t5’で受
光部に蓄積されたスミアー電荷(矢印E)が過剰にな
り、受光部のV−CCD(D1)の取扱い電荷量を越え
ると、t5’〜t6の間で行われる掃き出し転送期間
(矢印G)に電荷が受光部から蓄積部に転送しきれなく
なる。このため時刻t6で受光部のV−CCD(D1)
にスミアー電荷が残ってしまう。この結果、読み出し期
間が終了した時点(t7)で信号電荷とスミアー電荷の
混合がおこり、ノイズとなる。この残し量は当然蓄積部
に近いV−CCD程多くなるため、画面上部に転送残し
によるノイズが発生する。
【0021】本発明は上記従来技術の欠点に鑑みなされ
たものであって、FIT型撮像素子のV−CCDの電荷
掃き出し期間におけるスミア電荷の転送残しをなくして
特に大光量での画質の改善を目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る固体撮像素子の駆動方法においては、
複数列に配置した垂直CCDを有する受光部と、前記各
垂直CCDに連続する垂直CCDからなる蓄積部と、該
蓄積部の垂直CCDに接続された水平CCDとを備え、
前記受光部の各列の垂直CCDに複数の受光素子が接続
され、各受光素子に対応して前記受光部および蓄積部の
垂直CCDに電荷蓄積用ポテンシャル井戸が形成される
固体撮像装置の駆動方法において、前記受光素子で光電
変換された信号電荷を受光部の垂直CCDの各ポテンシ
ャル井戸に取入れる信号読み出し期間と、この読み出し
た受光部の垂直CCDの信号電荷を蓄積部の垂直CCD
の各ポテンシャル井戸に一度に転送するとともに該蓄積
部の垂直CCDに蓄積されたスミア電荷を前記水平CC
Dを介して排出するフレームシフト期間と、受光部およ
び蓄積部の垂直CCDの各ポテンシャル井戸の電荷を隣
接するポテンシャル井戸に順番に転送するとともに最外
側の蓄積部の垂直CCDのポテンシャル井戸の電荷を前
記水平CCDに転送するラインシフト期間と、このライ
ンシフト期間を繰り返して前記受光部から蓄積部に転送
された信号電荷を全て水平CCDに転送した後に受光部
の垂直CCD内に蓄積されたスミア電荷を一度に蓄積部
に転送する掃き出し期間とを有し、前記各ラインシフト
期間において、受光部の垂直CCDの転送速度を蓄積部
の転送速度より速くしている。
【0023】好ましい実施例においては、前記ラインシ
フト期間内において、受光部の各ポテンシャル井戸間の
電荷転送回数を蓄積部の各ポテンシャル井戸間の電荷転
送回数より多くすることにより受光部の転送速度を蓄積
部の転送速度より速くしている。
【0024】別の好ましい実施例においては、前記蓄積
部の垂直CCDの取扱い電荷量は受光部の垂直CCDの
取扱い電荷量より大きい固体撮像素子を用いている。
【0025】さらに別の好ましい実施例においては、前
記蓄積部は遮光され、前記各ラインシフト期間後の水平
CCD駆動期間に前記受光部にのみ光子が漏れ込みスミ
アー電荷を蓄積する固体撮像素子に適用されている。
【0026】
【作用】掃き出し転送期間直前の受光部V−CCD(垂
直CCD)に蓄積されたスミアー電荷が減少し、掃き出
し時のスミアー電荷の転送残し発生が防止される。
【0027】
【実施例】図1〜図8に各々本発明の実施例に係るFI
T型撮像素子のV−CCD駆動波形例とそのときの駆動
状況を図示した。図1の駆動波形は従来例(図11)と
同じく、ラインシフト期間、掃き出し期間、読み出
し期間、フレームシフト期間により構成され、は
H−CCD(水平CCD)駆動期間を示す。従来例との
差異はt1’〜t2、t2’〜t3、t3’〜t4、t
4’〜t5の期間のV−CCDの駆動波形、即ちライン
シフト期間の駆動波形にある。この駆動波形の拡大図
を従来例では図11(B)に、本発明例では図1(B)
に示した。本発明例では、ST1〜ST4で示す蓄積部
のV−CCD駆動波形の変化が従来例と相似であり、従
来例と同じく1周期だけ垂直転送する。一方、IM1〜
IM4で示す受光部のV−CCD転送波形については、
従来例が1周期であるのに対して、本発明例では2周期
の転送波形となっている。従って、本発明例では、ライ
ンシフト期間中に受光部のV−CCDの転送回数が従来
例の2倍となる。
【0028】次に、図1の駆動波形によるV−CCDの
転送状況を図2〜図8を用いて説明する。図2の時刻t
1ではフレームシフトが終了して、受光部a〜d(図
9)より読み出された信号電荷a〜dは蓄積部のV−C
CD(D2)へと送られている。そしてt1〜t1’の
期間はH−CCDの駆動期間でありこの期間はV−C
CDは止っており、この間に受光部のV−CCDへ光子
の漏れ込み(矢印E)によってスミアー電荷が蓄積され
る(図3)。次にt1”になると、受光部および蓄積部
のV−CCDが1周期の転送を行うため信号電荷および
スミアー電荷がX方向(図9)に、V−CCDの構成単
位(U1,U2)、即ち1つのポテンシャル井戸分だけ
移動する(矢印F)。このとき一番X方向寄り(図3の
右側)の蓄積部のV−CCD(D2)の電荷(a)はH
−CCD(D3)に送られる。さらにt2になると、受
光部のV−CCD(D1)だけがさらに1周期の転送を
行うためスミアー電荷がX方向にV−CCDの構成単位
分だけ移動する。このとき蓄積部は停止しているため、
蓄積部の1番受光部寄りのV−CCDのポテンシャル井
戸20では、そのポテンシャル井戸にもともとあったス
ミアー電荷に対し新たに受光部側より送られてきたスミ
アー電荷が加算される。またt1〜t1’と同様にt2
〜t2’の期間に受光部のV−CCDへの光子の漏れ込
みによって、スミアー電荷がt1〜t1’の期間に発生
していたスミアー電荷に加算され、時刻t2’の状態に
なる(図4)。
【0029】次にt2’からt2”の期間にt1’から
t1”の期間と同様にラインシフト動作(矢印F)が行
われ、受光部および蓄積部のV−CCDの電荷が1構成
単位分づつ転送される。この実施例では、このt2’か
らt2”までの期間は、図1(B)に示すように、ライ
ンシフト全体の期間(t2’からt3までの期間)の半
分である。
【0030】続いて、t2”からt3までの期間におい
て、受光部のV−CCD(D1)のみが1構成単位(1
ポテンシャル井戸分)の転送動作(矢印F)を行う。即
ち、この期間は、図1(B)に示すように、受光部の駆
動パルスIM1〜4のみが駆動され、蓄積部の駆動パル
スST1〜4は駆動されない。これにより受光部のV−
CCDに蓄積されたスミアー電荷が1構成単位づつ図の
右方向にずれ、受光部の1番右側のポテンシャル井戸に
蓄積されていたスミアー電荷は蓄積部の一番左側のポテ
ンシャル井戸に転送されてそこに加算される(図4のt
3の状態)。
【0031】次に、t3からt3’の期間(H−CCD
駆動期間)において、前述のt1からt1’およびt
2からt2’の期間と同様に、受光部のV−CCDに光
子が漏れ込みスミアー電荷が付加される(矢印E)。
【0032】次にt3’からt3”の期間において、受
光部および蓄積部のV−CCDの転送動作(矢印F)が
行われ、続いてt3”からt4の期間に受光部のV−C
CDのみが転送動作を行う。これにより図5のt4で示
す状態になる。
【0033】同様に、t4からt4’のH−CCD駆動
期間および図6に示すt4’からt4”およびt4”
からt5のラインシフト期間を経てt5の状態とな
り、さらにt5からt5’のH−CCD駆動期間を経
て図7のt5’の状態となる。このt5’の状態からt
6までの期間(図1の掃き出し期間)において、スミ
アー電荷の高速掃き出しが行われる(図7)。即ち、受
光部のV−CCDに蓄積されたスミアー電荷を一度に蓄
積部のV−CCDに転送する(矢印G)とともに、蓄積
部のV−CCDにもともとあったスミアー電荷をH−C
CDを介してスミアーゲートを通しスミアードレインに
排出する(矢印H)。
【0034】上記掃き出し期間の直前の状態、即ちt
5’の状態において、従来例のt5’の状態(図17)
に比べ明らかに本発明の方が、受光部のV−CCD(D
1)に蓄積されているスミアー電荷の量が少ない。これ
は本発明ではラインシフト期間にV−CCDのみを従来
例の2倍のスピードで転送動作させているため、残留す
るスミアー電荷量が従来例のほぼ1/2となるためであ
る。また、同様に受光部のV−CCDの転送スピードを
例えばn倍にすれば、受光部のV−CCDに蓄積される
スミアー電荷量が従来例の1/nとなることは明らかで
ある。
【0035】一方、本発明例において、受光部から減少
したスミアー電荷は蓄積部へ移されているため、従来例
に比べて時刻t5’での蓄積部のスミアー電荷が増加す
る。しかしながら、受光部のV−CCDよりも蓄積部の
V−CCDの方がチャンネル幅を広くとれ(図9)、蓄
積部のチャンネル長の長さ制限がないため、蓄積部の方
がV−CCDの面積を大きく設定でき、取扱い電荷量を
大きくできるので、蓄積部でも転送残しが発生しにくい
設計が可能である。
【0036】この後、前述のように、t5’からt6に
かけてV−CCDを高速で転送させ(掃き出し期間
)、受光部のスミアー電荷を蓄積部に移動させ(図7
矢印G)、これとともに蓄積部のV−CCDにもともと
あったスミアー電荷をH−CCDへ高速転送しスミアー
ゲートを介してスミアードレインに掃き出す(矢印
H)。このため、t6では受光部のV−CCDにスミア
ー電荷がほとんど存在しない状態となる。
【0037】次に、t6からt7の読み出し期間で受
光部より信号電荷a,b,c,dをV−CCDに取込
み、さらにt7からt1のフレームシフト期間でV−
CCDを高速で一度に転送させて受光部の信号電荷を蓄
積部へ移動させる(矢印J)。このとき蓄積部のV−C
CDにあったスミアー電荷も同時にH−CCDへ一度に
高速転送されスミアーゲートを介してスミアードレイン
に掃き出される(矢印K)。これによりV−CCDは時
刻t1の状態に戻る。以上が本発明の実施例の動作説明
である。
【0038】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係るFI
T型撮像素子駆動方法においては、受光部および蓄積部
のV−CCDに蓄積された電荷を順番に構成単位づつ転
送するラインシフト期間に、受光部のV−CCDの転送
速度を蓄積部のV−CCDの転送速度より速くしている
ため、構成単位数だけラインシフト動作を繰返して蓄積
部の信号電荷をすべてH−CCDに転送した状態(掃き
出し期間直前の状態)において、受光部に蓄積するスミ
アー電荷量が取扱い電荷量以下に減少し、このため掃き
出し期間において受光部の電荷は転送残しを起こすこと
なくすべて蓄積部に送られる。従って、高輝度被写体の
撮像時においても、光子漏れ込みによるスミアー電荷を
受光部から確実に排出し転送残しによる雑音画像の発生
を防止して高品質の画像を得ることができる。
【0039】即ち、本発明により、スミアー電荷の高速
掃き出しをする直前(t5’)の状態で受光部のV−C
CDに蓄積されるスミアー電荷量が従来例の1/nとで
きるため、過剰なスミアー電荷量による転送残しが発生
しやすい掃き出し期間(t5’〜t6)に受光部のV−
CCDのスミアー電荷量を低減でき、過剰電荷量による
転送残しを抑制できる。また従来例のn倍の光量で、従
来例と同じスミアー電荷量が受光部のV−CCDに蓄積
されることとなるため、本発明によれば従来例のn倍の
光量まで耐えるよう耐光量特性を大幅に改善できる。
【0040】なお、上記説明中のnは整数とは限らな
い。なぜならば、受光部の転送速度を本例では2倍とし
たが、例えば1周期半の転送を行い、n=1.5とする
こともできるからである。また、上記説明では簡略化の
ため、本発明の実施例について、V−CCDは4相駆動
とし、画素数は垂直4画素で、また読み出し方法はノン
インターレース動作としたが、V−CCDを他の方式で
駆動してもよく、画素数は他の任意の数でもよく、また
他の読み出し方式(フィールド読み出しインターレー
ス、フレーム読み出しインターレース等)でも適用でき
ることは明らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例に係るFIT型撮像素子の駆
動方法の説明図である。
【図2】 本発明の実施例におけるフレームシフト期間
終了時のV−CCDの電荷蓄積状態の説明図である。
【図3】 本発明の実施例における第1のラインシフト
期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図で
ある。
【図4】 本発明の実施例における第2のラインシフト
期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図で
ある。
【図5】 本発明の実施例における第3のラインシフト
期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図で
ある。
【図6】 本発明の実施例における第4のラインシフト
期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図で
ある。
【図7】 本発明の実施例における掃き出し期間のV−
CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図である。
【図8】 本発明の実施例におけるフレームシフト期間
のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図であ
る。
【図9】 本発明が適用されるFIT型撮像素子の平面
構成図である。
【図10】 図9のX−X’線に沿った断面構成図であ
る。
【図11】 従来の駆動方法の説明図である。
【図12】 従来の駆動方法を説明するためのフレーム
シフト期間終了時のV−CCDの電荷蓄積状態の説明図
である。
【図13】 従来の駆動方法における第1のラインシフ
ト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図
である。
【図14】 従来の駆動方法における第2のラインシフ
ト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図
である。
【図15】 従来の駆動方法における第3のラインシフ
ト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図
である。
【図16】 従来の駆動方法における第4のラインシフ
ト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図
である。
【図17】 従来の駆動方法を説明するための掃き出し
期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図で
ある。
【図18】 従来の駆動方法を説明するためのフレーム
シフト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説
明図である。
【図19】 スミアー電荷による雑音画像の説明図であ
る。
【図20】 従来技術の問題点を説明するための掃き出
し期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の説明図
である。
【図21】 従来技術の問題点を説明するためのフレー
ムシフト期間のV−CCDの電荷蓄積および転送状態の
説明図である。
【符号の説明】 :ラインシフト期間、 :掃き出し期間、 :読
み出し期間、 :フレームシフト期間、 :H−C
CD駆動期間、 D1:受光部のV−CCD、D2:蓄
積部のV−CCD、 D3:H−CCD、 D4:スミ
アーゲート、D5:スミアードレイン。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数列に配置した垂直CCDを有する受
    光部と、前記各垂直CCDに連続する垂直CCDからな
    る蓄積部と、該蓄積部の垂直CCDに接続された水平C
    CDとを備え、前記受光部の各列の垂直CCDに複数の
    受光素子が接続され、各受光素子に対応して前記受光部
    および蓄積部の垂直CCDに電荷蓄積用ポテンシャル井
    戸が形成される固体撮像装置の駆動方法において、前記
    受光素子で光電変換された信号電荷を受光部の垂直CC
    Dの各ポテンシャル井戸に取入れる信号読み出し期間
    と、この読み出した受光部の垂直CCDの信号電荷を蓄
    積部の垂直CCDの各ポテンシャル井戸に一度に転送す
    るとともに該蓄積部の垂直CCDに蓄積されたスミア電
    荷を前記水平CCDを介して排出するフレームシフト期
    間と、受光部および蓄積部の垂直CCDの各ポテンシャ
    ル井戸の電荷を隣接するポテンシャル井戸に順番に転送
    するとともに最外側の蓄積部の垂直CCDのポテンシャ
    ル井戸の電荷を前記水平CCDに転送するラインシフト
    期間と、このラインシフト期間を繰り返して前記受光部
    から蓄積部に転送された信号電荷を全て水平CCDに転
    送した後に受光部の垂直CCD内に蓄積されたスミア電
    荷を一度に蓄積部に転送する掃き出し期間とを有し、前
    記各ラインシフト期間において、受光部の垂直CCDの
    転送速度を蓄積部の転送速度より速くしたことを特徴と
    する固体撮像素子の駆動方法。
  2. 【請求項2】 前記ラインシフト期間内において、受光
    部の各ポテンシャル井戸間の電荷転送回数を蓄積部の各
    ポテンシャル井戸間の電荷転送回数より多くすることに
    より受光部の転送速度を蓄積部の転送速度より速くした
    ことを特徴とする請求項1に記載の固体撮像素子の駆動
    方法。
  3. 【請求項3】 前記蓄積部の垂直CCDの取扱い電荷量
    は受光部の垂直CCDの取扱い電荷量より大きい固体撮
    像素子を用いたことを特徴とする請求項1に記載の固体
    撮像素子の駆動方法。
  4. 【請求項4】 前記蓄積部は遮光され、前記各ラインシ
    フト期間後の水平CCD駆動期間に前記受光部にのみ光
    子が漏れ込む固体撮像素子に適用されたことを特徴とす
    る請求項1に記載の固体撮像素子の駆動方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008124886A (ja) * 2006-11-14 2008-05-29 Nec Corp スミア低減機能付き撮像装置およびそのスミア低減方法

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