JPS62169267A - Administration system for transaction device - Google Patents

Abstract

PURPOSE:To improve efficiency in the maintenance administration of a transaction device, such as an ATM, etc., by writing a bit of failure information inserting a maintenance recording medium to a reader/writer, and generating a signal which represents a failure state comparing the above recorded content with a reference data. CONSTITUTION:By inserting a maintenance recording medium 30 to a card reader/writer 15 in an ATM10, the failure content generated in a transaction operation is written. By inserting the maintenance recording medium 30 to a card reader/writer 42 in an analyzer 40, and comparing the failure content recorded on the medium with the reference data from a reference data memory 41 at a comparator 43, a state signal which represents the failure state is generated.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は銀行などで用いられ、預金および支払などの取
引を行う現金自動取引装置（以下ＡＴＭと略す）に係り
、特にＡＴＭ自身の保守管理に好適な運用システムに関
する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Application of the Invention] The present invention relates to an automatic teller machine (hereinafter abbreviated as ATM) used in banks and the like to perform transactions such as deposits and payments, and is particularly applicable to the maintenance and management of the ATM itself. Regarding preferred operational systems.

〔発明の背景〕[Background of the invention]

従来、特開昭５９−４５４７４号に示されるように現金
自動取引装置のセンタと端末機との間で交信を開始して
から取引を終了するまでの間に発生した故障を記憶する
ことにより係員の復旧対鏝を容易にする技術はあるが、
故障の発生を予想する点については考慮がなされていな
い。Conventionally, as shown in Japanese Unexamined Patent Application Publication No. 59-45474, failures that occur between the start of communication between the center of an automatic teller machine and the terminal and the end of the transaction are stored, and the staff Although there are techniques that make recovery easier,
No consideration is given to predicting the occurrence of failures.

また現状システムでのＡＴＭの障害情報の記録は、明細
票発行機構で明細票に記録するか、ＡＴＭに内蔵したフ
レキシブル機構でフレキシブルディスクに記録すること
が考えられる。（第７図参照） ここで障害とは故障に至る前の状態すなわち、装着とし
ては動作するが故障の傾向を示す状態を言う。Furthermore, in the current system, ATM failure information may be recorded on a statement slip by a statement issuing mechanism, or recorded on a flexible disk by a flexible mechanism built into the ATM. (See FIG. 7) Here, the term "failure" refers to a state before failure occurs, that is, a state in which the device operates when installed but shows a tendency for failure.

明細票に障害情報を記録する方法は、フレキシブルディ
スク１に記録された障害情報２を明細票発行機構３によ
って明細票４に印字してその明細票をメーカもしくは保
守会社の保守員に渡すものと考えられるが、障害清報印
字中はＡＴＭが取扱中止となり、しかも印字する時間が
長くかかる問題がある。The method for recording fault information on the statement slip is to print the trouble information 2 recorded on the flexible disk 1 on the statement slip 4 by the statement issuing mechanism 3, and then hand the statement slip to the manufacturer or the maintenance personnel of the maintenance company. Although this is possible, there is a problem in that the ATM is suspended while the troubleshooting report is being printed, and it takes a long time to print.

また、フレキシブルディスク１に障害情報を記録して、
そのフレキシブルディスク１をメーカもしくは保守会社
に渡す方法は、ユーザ（銀行その他金融機関）の手を借
りたりするためフレキシブルディスクの交換に手間がか
かると考えられる。In addition, failure information is recorded on the flexible disk 1,
The method of handing over the flexible disk 1 to the manufacturer or maintenance company requires the help of a user (bank or other financial institution), which is considered to be time-consuming to replace the flexible disk.

明細票もしくはフレキシブルディスクのいずれにしても
メーカはユーザからＡＴＭの鍵を借りて障害情報を入手
するため、ユーザの許可を得る必要があるとともに係員
の手をわずられせるという問題の生じる恐れがある。Regardless of whether it is a statement slip or a flexible disk, the manufacturer borrows the ATM key from the user to obtain failure information, so it is necessary to obtain the user's permission and there is a risk that the ATM staff will be forced to do so. be.

〔発明の目的〕 本発明は上記の点にかんがみ、ＡＴ〜１等の取引装置の
保守管理の効率を向上させた管理システムを提供するこ
とにある。[Object of the Invention] In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a management system that improves the efficiency of maintenance management of transaction devices such as AT-1.

保持する取引装置に２いて、上記リーダライタに保守用
記録媒体を挿入することによりこの記録媒体に上記障害
内容を薔込む手段を設け、さらに上記保守用記録媒体の
記録内容に基いてこの内容と障害に関する基準データと
を比較して障害状態を示す状態信号を発生する判別器を
設けたことを特徴とする。In the transaction device to be maintained, a means is provided to record the content of the failure in the recording medium by inserting a maintenance recording medium into the reader/writer, and further, to write the content of the failure into the recording medium based on the recorded content of the maintenance recording medium. The present invention is characterized in that it includes a discriminator that generates a status signal indicating a failure state by comparing the failure-related reference data with the failure-related reference data.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、本発明の一実施例を図を用い【詳細に説明する。 Hereinafter, one embodiment of the present invention will be described in detail using the drawings.

第１図、第２図においてこのＡＴＭ（取引装置）１０に
は操作ガイダンス表示器１２．取引選択や金額入力用の
顧客操作と保守員の保守操作のための操作ボタン１４紙
幣を取込んだり支払ったりする紙幣入出金装置１４カー
ドの読取り・書込みを行うカードリーダシイタ１５．取
引明細票を印字発行する明細票発行部１６（図示せず）
１通帳印字部１７とから構成される。In FIGS. 1 and 2, this ATM (transaction device) 10 has an operation guidance display 12. Operation buttons 14 for customer operations for selecting transactions and inputting amounts, and maintenance operations for maintenance personnel 14 Banknote deposit/withdrawal device 14 for accepting and paying banknotes Card reader/writer 15 for reading and writing cards. Statement issuing unit 16 (not shown) that prints and issues transaction statements
1 bankbook printing section 17.

第３図はＡＴＭの内部構成で１２〜１７は第１図会第２
図と同じである。１８は係員操作パネルで、例えばＡＴ
Ｍの裏面に設けられ、このパネルには例えば開局指示や
集計指示といった業務上の操作ボタンがつけられている
。さらにこのパネルには、表示器が付加されていてＡＴ
Ｍの状態表示等が行われる。１９はフレキシブルディａ
２２を通して中央処理装置（図示せず）と交信を行う。Figure 3 shows the internal structure of the ATM, and numbers 12 to 17 are in Figure 1 and Figure 2.
Same as the figure. 18 is an attendant operation panel, for example, AT
This panel is provided on the back side of the M, and this panel is equipped with operational buttons for operations such as opening a station and totaling instructions. Furthermore, this panel has a display added to it.
The status of M is displayed. 19 is flexible day a
It communicates with a central processing unit (not shown) through 22.

２３はマイクロプロセツサを含むＡＴＭｌｏの制御部で
１２〜１９の各部の動作を制御して取引を進める。Reference numeral 23 denotes an ATMlo control section including a microprocessor, which controls the operations of each section 12 to 19 to proceed with the transaction.

第１図は、記録媒体としてＩＣカード（又は母気カード
）３０を用いた場合の管理システムの構成図である。３
０はカード挿入口、　４０は障害分析器、４１は分析器
に内蔵された障害基副データを記憶するメモリである。FIG. 1 is a configuration diagram of a management system when an IC card (or mother air card) 30 is used as a recording medium. 3
0 is a card insertion slot, 40 is a fault analyzer, and 41 is a memory for storing fault basic data built into the analyzer.

障害基単データとは過去の障害来歴や障害に関する統計
データであり、障害発生から故障に致るまでの傾向が障
害種類別に表わされる。Fault-based data is statistical data on past fault history and faults, and shows trends from fault occurrence to failure by fault type.

４２はカードのリーダライタ、４３は基準データとり一
ダライタで読取られたＩＣカード（又は凪気カード）内
の障害データとを比較して障害状態を示す信号Ｓを発生
する比較器、４４は比較器４３からの信号を受ける表示
制御器、４５は制御器４４からの信号を受けて障害の状
態を表示する。42 is a card reader/writer; 43 is a comparator that compares the reference data with fault data in the IC card (or Nagi card) read by the reader/writer and generates a signal S indicating a fault state; 44 is a comparator A display controller 45 receives the signal from the controller 43 and displays the fault status in response to the signal from the controller 44.

４６は分析器４０内の谷部の動き？コントロールする制
御部である。Is 46 the movement of the valley inside the analyzer 40? This is the control section that controls the device.

分析器４０は保守員が持参できる携帯形のものあるいは
、保守会社に設置する据置形のものであっても良い。The analyzer 40 may be a portable type that maintenance personnel can bring with them, or a stationary type installed at a maintenance company.

第４〜５図は上記実施例の運用を説明するフローチャー
トである。4 and 5 are flowcharts for explaining the operation of the above embodiment.

次にＡＴＭの障害情報をカードに読み取る情報読取処理
（第１〜４図参照）について説明する。Next, the information reading process (see FIGS. 1 to 4) for reading ATM failure information onto a card will be described.

まづ保守員がＡＴＭ＋Ｏの取引選択ボタン１５の中の保
守用ボタンを押す（第４図５１）。保守用カード５０（
ＩＣカードもしくは磁気カードの中に保守カードである
旨のデータが書込まれている）をカード挿入口３１から
カードリーダライタ１５へ挿入する（５２）。保守用カ
ード３０のデータを読取（５５）後、暗証番号を入力（
５４）することで保守用のカードであることを確認する
と、制御部２３は中央処理装置に対して回線制御部２１
から成文を送信する（５５）。First, the maintenance worker presses the maintenance button among the transaction selection buttons 15 of the ATM+O (FIG. 4, 51). Maintenance card 50 (
The IC card or magnetic card (in which data indicating that it is a maintenance card is written) is inserted into the card reader/writer 15 from the card insertion slot 31 (52). After reading the data on the maintenance card 30 (55), enter the PIN number (
54) When the controller 23 confirms that the card is for maintenance, the controller 23 sends the line controller 21 to the central processing unit.
(55).

中央処理装置では送信されてきた電文によって保守会社
ファイルの所定部分を更新し、ＡＴＭに対して成文を返
す（５５）。ＡＴＭＩＯはこの電文を受信すると、フレ
キシブルディスク部１９の障害情報を制御部２３を介し
てカードリーダライタ１５へ送信して保守用カード３０
の記録エリアに書込む（５６）澹込み終了後カードを保
守員に返却して（５７）障害情報処理を終了する（５８
）。The central processing unit updates a predetermined part of the maintenance company file according to the transmitted message, and returns the written message to the ATM (55). When the ATMIO receives this message, it transmits the failure information of the flexible disk unit 19 to the card reader/writer 15 via the control unit 23 and sends it to the maintenance card 30.
(56) After the contamination is completed, return the card to the maintenance personnel (57) and end the failure information processing (58)
).

次にカード内に読取られた障害情報を処理する情報分析
処理について説明する（第１〜３・５図参照）。Next, information analysis processing for processing fault information read into the card will be explained (see Figs. 1 to 3 and 5).

ＡＴＭの＠害情報を記録した保守用カード５０を保守会
社に持ち帰り（６１）、障害分析器４００カードリーダ
ライタ４２にカード３０を挿入しく６２）、障害データ
を読取る。障害データは分析器で分析されて（６３）各
種障害要因別に統計処理され、その結果はＣ１（、Ｔ上
に表示する（６４）とともに図示しない印字手段により
用紙に印字される。The maintenance card 50 recording the ATM damage information is taken back to the maintenance company (61), the card 30 is inserted into the card reader/writer 42 of the fault analyzer 400 (62), and the fault data is read. The failure data is analyzed by an analyzer (63) and statistically processed for each failure factor, and the results are displayed on C1 (, T (64) and printed on paper by a printing means (not shown).

具体的にはカードリーダ４２から読取られた障害ｆＷ報
は種類別の一定順序で比較器４３に印加され、一方メモ
リ４１からは基準データが上記種類別の一定順序で比較
器４３に印字される。比較器４６では上記情報とデータ
が種類別に一定＋１１１序で比較されて、その結果とし
て障害の種類毎に、障害の進行の度合を表わす信号Ｓを
発生する。Specifically, the fault fW information read from the card reader 42 is applied to the comparator 43 in a fixed order according to type, while the reference data from the memory 41 is printed to the comparator 43 in a fixed order according to the type. . The comparator 46 compares the above information and data for each type in a constant +111 order, and as a result generates a signal S representing the degree of progress of the failure for each type of failure.

表示制御器４４は信Ｓを受げて、ＣＲＴに各障害の進行
の度合あるいは故障発生の可否と発生時期等を予測して
表示する。In response to the signal S, the display controller 44 predicts and displays on the CRT the degree of progress of each failure or whether or not a failure will occur and when it will occur.

障害データの分析終了後は、カードの記録エリア内のデ
ータを消去しく６５）、その後カードを返却する（６６
）。After analyzing the failure data, erase the data in the card's recording area (65), and then return the card (66).
).

返却されたカードは次の障害情報の収集時に再び使用さ
れる。The returned card is used again when collecting the next fault information.

次に具体的な使用例について説明する。Next, a specific usage example will be explained.

ＡＴＭＩＯのカードリーダライタが通常取引時にだいて
正常に動作している場合は、顧客の磁気カードを磁気ヘ
ッドに１回通すだけで読取りが終了する。しかし、磁気
ヘッドの摩耗が進んでさた場合、１回の読取り動作では
読取れずに数度のＩＪ　）ライ動作で読取り可能となる
ことが多発して（る。ナ１えば障害情報としてこのりト
ライ故を）Ｖキシプルディスク部１９に記録してお（。If the ATMIO card reader/writer operates normally during normal transactions, reading the customer's magnetic card can be completed by simply passing it through the magnetic head once. However, when the magnetic head wears out, it often happens that it cannot be read in one read operation, but becomes readable after several IJ write operations. Record the failure of the try on the V xypul disk section 19.

保守員は定期点検時に保守用カード３０をＡＴＭに挿入
して上ぎピ障害情報を保守用カードに記録する。A maintenance person inserts the maintenance card 30 into the ATM during periodic inspection and records uplink failure information on the maintenance card.

保守員は持参した障害分析５４０に保守用カード３０を
押入して障害データの分析結果を待つ。The maintenance worker inserts the maintenance card 30 into the failure analysis device 540 he brought with him and waits for the analysis results of the failure data.

この場合の分析は、第６図に示す基慈データとしての限
界値・破線で示す障害発生傾向線と保守用カード３０か
ら読取った障害情報とを比較して、現状は基皐データの
中でどこに位置するかを示す形でなされる。従ってＣＢ
、Ｔには第７図に示すような形で障害の進行度合を表示
しても良い。In this case, the analysis is performed by comparing the fault occurrence trend line shown by the broken line and the limit value as basic data shown in FIG. It is done in a form that shows where it is located. Therefore, CB
, T may display the degree of progress of the failure as shown in FIG.

障害分析の結果が異常なしとなった場合、その定期点検
が特に部品交換等の作業をともなうものでなければ定期
点検を行わない。If the result of failure analysis is that there are no abnormalities, periodic inspections will not be performed unless the periodic inspections involve work such as parts replacement.

また障害分析の結果、リトライ数が増加傾向］にあった
場合（第７図）、その程度によって次の２通りの処置を
行ってＡＴＭのｌＲ害を事前に防止する。If the failure analysis results show that the number of retries is increasing (FIG. 7), the following two measures are taken depending on the severity of the problem to prevent ATM IR damage in advance.

■　リトライ数が基準データの限界直に近い場合は、金
融会社の係員に対して部品交換等の処理が必要なことを
仰らせて特別な保守点検日を設定してもらい、その日に
部品交換等を行う。■ If the number of retries is close to the limit of the standard data, ask the staff at the financial company to tell you that parts replacement, etc., is necessary, and have them set a special maintenance inspection date, and replace the parts on that day. I do.

■　次の定期点検までＩＪ　）ライ数が限界値内にある
と判断した場合は、次の点検時に部品交洟等の処置を行
う。■ IJ until the next periodic inspection) If it is determined that the number of lies is within the limit value, take measures such as replacing parts at the next inspection.

次に本発明の他の実施例を説明する。第８図において第
１図と同一部分は同一符号を付して示す。３１はＡＴＭ
から読取られた障害情報を記憶しておくメモリ、３２は
障害に関する基草データ（故障来歴データ）′？：記憶
してお（メモリ。Next, another embodiment of the present invention will be described. In FIG. 8, the same parts as in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. 31 is ATM
32 is a memory for storing failure information read from the failure history data '? : Remember (memory).

３３はＩＣカード３０内のＣＰＵ、３４はＣＰＵ分析の
動作をコントロールする分析プログラムを記憶するメモ
リである。33 is a CPU in the IC card 30, and 34 is a memory that stores an analysis program that controls the operation of the CPU analysis.

この例では、ＡＴＭｌｏが自己の障害に基いて簡単な自
己診断の機能を備えており、上記ＩＣカード３０のメモ
リ３１には単なる障害情報の他に自己診断結果が記憶さ
れる。In this example, ATMlo has a simple self-diagnosis function based on its own failure, and the memory 31 of the IC card 30 stores self-diagnosis results in addition to simple failure information.

保守用ＩＣカード３０をＡ　Ｔ　Ｍｌｏに挿入後、保守
員は暗証番号を人力すると中央処理装置から許可電文が
送信され、送信成文によってＡＴＭｌｏはＡ　’１”　
Ｍ内の障害１ｉＶ報および障害に基づ（自己診断結果を
保守用ＩＣカードにデータ伝送を行う。After inserting the maintenance IC card 30 into ATMlo, the maintenance worker enters the password manually, and a permission message is sent from the central processing unit.
Based on the fault 1iV report and the fault in M (self-diagnosis results are transmitted to the maintenance IC card).

次にＩＣカード３０をＡＴＭのリーダライタ１５に挿入
した状態で、ＡＴＭに設けた保守員専用の分析指圧ボタ
ンを押すことにより分析が開始される。Next, with the IC card 30 inserted into the ATM reader/writer 15, the analysis is started by pressing an analysis acupressure button dedicated to maintenance personnel provided in the ATM.

保守用ＩＣカードに伝送されたＡ、　Ｔ　Ｍ内の情報と
保守用ＩＣカード内の過去の基準データ（故障来歴デー
タ）の比較から、現状の障害部位。The current failure location is determined by comparing the information in A and TM transmitted to the maintenance IC card with past reference data (failure history data) in the maintenance IC card.

これから故障すると思われる部位の推定そして故障時期
をＩＣカード内のＣＰＵ（中央演算処理部）５３で演算
して推定する。A CPU (Central Processing Unit) 53 in the IC card calculates and estimates the part that is likely to fail and the time of failure.

この障害部位、そして故障時期の推定結果よりＡＴＭの
緊急処理が必要になった場合、保守用ＩＣカードからＡ
ＴＭにアクセスしてＡＴＭ内の通常設定レベル（例えば
センナが劣化した場合のセンナの検出レベル）を障害の
程度に応じて設定変更（例えば検出レベルを下げるか、
検出信号の増幅率を上げてセンサーが検出し易（する。If emergency processing of the ATM is required based on the estimated failure location and failure time, A
Access the TM and change the settings (for example, lower the detection level or
Increase the amplification factor of the detection signal to make it easier for the sensor to detect.

）を行い、部品交換までの故障発生率を少なくする応急
処理をＩＣカード上から行う。また保守員による修理が
必要な場合は、ＡＴＭのＣＲＴｔ２（ブラウン管）に障
害個所等を表示して修理部位１部品を表示する。), and perform emergency processing on the IC card to reduce the failure rate until parts are replaced. Further, if repair by maintenance personnel is required, the failure location, etc. is displayed on the CRTt2 (cathode ray tube) of the ATM, and one part to be repaired is displayed.

動作の詳細を第９図、第１０図に従って説明する。ＡＴ
Ｍ内の障害情報、自己診断結果をＩＣカード内のメモリ
３１に取込む（１０１）。このデータをもとにＩＣカー
ド内のＣＰ　Ｕ３３で故障に至る障害発生パターンを計
算（＋０２　）　Ｌ、あらかじめメモリ３２に実験デー
タ等で基準データとして蓄積しである部品障害パターン
および部品寿命パターンと比較（１０５）　ｌ、て障害
部位と寿命を推定する。障害発生パターンが特定部品の
パターンと一致した場合（１０４）は、その特定部品を
障害部品と推定して（１０５）　Ｉ　Ｃカードに登録す
る。と同時に特定部品の寿命パターンと比較して今後の
寿命を推定する（　１０６　）。この推定寿命が基準値
（交換レベル等）以上か判断しく　１０７　）　、基準
値以上ならばメモリ６２内の重要監視項目の中に登録し
て（１０Ｂ　）　、今後の保守管理の重点項目としてフ
ォローする。The details of the operation will be explained according to FIGS. 9 and 10. A.T.
Fault information and self-diagnosis results in M are loaded into the memory 31 in the IC card (101). Based on this data, the CPU 33 in the IC card calculates the failure occurrence pattern that will lead to failure (+02) L, and compares it with the component failure pattern and component life pattern that have been stored in the memory 32 as reference data using experimental data, etc. (105) l, estimate the failure location and lifespan. If the failure occurrence pattern matches the pattern of the specific component (104), the specific component is estimated to be the faulty component (105) and registered in the IC card. At the same time, the future lifespan is estimated by comparing with the lifespan pattern of specific parts (106). Determine whether this estimated lifespan exceeds the standard value (replacement level, etc.) (107), and if it exceeds the standard value, register it as an important monitoring item in the memory 62 (10B) and follow up as a priority item for future maintenance management. .

（１０４）で特定部品パターンと一致しない場合は、Ｉ
Ｃカードのメモリ３２内の障害来歴データを呼び出し、
過去の障害や故障がないかチェックする（　１０９　）
。障害来歴がないときはメモ１Ｊ３２内に新規登録（１
１０）を行い、次回の定期点検時の追加項目とする（　
ＵＳ　）。If it does not match the specific part pattern in (104), I
Recall the failure history data in the memory 32 of the C card,
Check for past failures or malfunctions (109)
. If there is no history of failure, please register a new one (1) in Memo 1J32.
10) and make it an additional item at the next periodic inspection (
US).

障害来歴があった場合は、過去の障害発生サイクルに比
らべて短かいかチェックする（　ＩＮ）。If there is a failure history, check whether the failure cycle is short compared to the past failure occurrence cycle (IN).

過去の発生サイクルより短かげれば、初期障害か寿命障
害が考えられる。障害発生サイクルの長いものは突発的
な故障が少ないため来歴データへの追加だけとする（　
１１２　）。障害発生サイクルが基進値以下ならば重要
監視項目に登録して（１１４）　、今後の保守管理の重
点項目としてフォローする。If it is shorter than the past occurrence cycle, there may be an initial failure or a life-span failure. Items with a long failure cycle are only added to the history data because there are few sudden failures (
112). If the failure occurrence cycle is below the standard value, it is registered as an important monitoring item (114) and followed up as a priority item for future maintenance management.

障害発生サイクルが基準値以上で、しかもそれがＡＴＭ
全体の停止となる可能性があるか判断（１１５）　ｔ、
、ＡＴＭ内のレベルを一時的に変更することで停止する
までの時間を延長可能なときは（Ｕ７　）、ＡＴＭ内の
レベルを監急レベルに変更する（　１２０　）。The failure cycle is above the standard value, and it is an ATM
Determine whether there is a possibility of total suspension (115) t,
If the time until the stoppage can be extended by temporarily changing the level in the ATM (U7), the level in the ATM is changed to the emergency level (120).

例えば、紙幣繰出部において通常２回までのリトライ回
数を５回に増やすこととか、電気的接触抵抗の低下に対
してアンプのゲインを変更すること。For example, increasing the number of retries from the usual two times to five times in the bill dispensing section, or changing the gain of the amplifier in response to a decrease in electrical contact resistance.

このような緊急処理の内容はＩＣカードに追り口しく　
＋２１　）　、データの蓄積をはかり、ＡＴＭＩ台毎の
障害来歴を詳細に残して、メモリ６２の基準データは更
新され機器個有の問題を明確にする。The nature of this type of emergency processing is similar to that of IC cards.
+21) By accumulating data and keeping a detailed history of failures for each ATMI unit, the standard data in the memory 62 is updated to clarify problems unique to each machine.

故障が狛生じてしまって一時的な回復処理が不可能なと
きは、ＡＴＭのＣＲ，Ｔ１２の画面上に（＋ＯＳ　）で
推定した故障部位１部品を表示して保守員の修理を促す
。保守員はＣＲＴの表示をもとにＡ　Ｔ　Ｍを修理する
。If a failure persists and temporary recovery processing is impossible, one part of the fault estimated by (+OS) is displayed on the ATM CR, T12 screen to prompt maintenance personnel to repair it. Maintenance personnel repair the ATM based on the display on the CRT.

ＡＴＭの保守終了後、保守会社に持帰った保守用ＩＣカ
ードの新規データを保守会社のマスターファイルに登碌
し、保守会社の中央処理装置で次回の保守時の点検項目
設定、ＡＴＭ全体の保守管理状態等のデータを処理する
。After the ATM maintenance is completed, the new data on the maintenance IC card brought back to the maintenance company is added to the maintenance company's master file, and the maintenance company's central processing unit sets inspection items for the next maintenance and maintains the entire ATM. Process data such as management status.

次に障害部位と寿命の推定の具体例を説明する。Next, a specific example of estimating the failure part and lifespan will be explained.

多数のセンサの中から次に故障するであろうと思われる
センサの推定の方法を説明する。A method for estimating which sensor is likely to fail next from among a large number of sensors will be explained.

光学式センサ（以下センサと称す）は経年変化等の劣化
によりＬＥＤ　（発光源）の光量不足もしくはホトトラ
ンジスタ（受光部）の感度低下の障害が発生してついに
はセンサ故障となる。BACKGROUND ART Optical sensors (hereinafter referred to as "sensors") deteriorate due to aging and the like, resulting in failures such as insufficient light intensity of LEDs (light emitting sources) or decreased sensitivity of phototransistors (light receiving sections), which eventually leads to sensor failure.

したがって通常の使用戒流値より小さな電流でセンナを
ＯＮ、ＯＦＦさせることでセンサの現状の障害レベルを
調べることが可能となる。Therefore, by turning the sensor ON and OFF with a current smaller than the normally used current value, it is possible to check the current level of failure of the sensor.

つまり小さな電流でＯＮ、０ＦＦｊ、ないセンサはすで
〈劣化などによる光量不足か感度不足を起しているため
、いずれ所定電流値でも作動しな（なることを意味して
いる。In other words, a sensor that does not turn ON or 0FFj with a small current has already suffered from insufficient light intensity or insufficient sensitivity due to deterioration, etc., so it will eventually become inoperable even at a predetermined current value.

上記方法から光センナの障害を知るテストフローチャー
トを説明する（第１ａ図）。A test flowchart for determining the failure of the optical sensor from the above method will be explained (FIG. 1a).

第１０図でＡ〜Ｆは各センサを示し、１”０″はセンサ
からの出力信号を示す。In FIG. 10, A to F indicate each sensor, and 1"0" indicates an output signal from the sensor.

Ａ〜Ｆまでのセンサ全部に光を当て、かつセンサを小さ
なｔ流で作ｅさせたときの出力信号データを今回のデー
タとして取込み、前回の取込信号データと比較する（　
２０１　）。（データの０はセンサが作動しない状態と
する）この８合センサが正常であれば′１″の出力信号
が発生することになる。The output signal data when all sensors A to F are exposed to light and the sensors are made to generate a small current is captured as the current data, and compared with the previously captured signal data (
201). (Data 0 indicates that the sensor is not operating) If this 8-coupled sensor is normal, an output signal of '1' will be generated.

基準データとしての前回データと一致しない場合は、今
回のデータをさらに前々回データと比較する（　２０５
　）。If the data does not match the previous data as reference data, the current data is further compared with the data from the previous time (205
).

ここで過去のテスト時のデータでもセンサが作動しない
障害来歴があった場合、このセンサは劣化が進行してい
ると判断して（２０５）　、センサの名称、アドレス等
をＣＲＴ上に表示する（　２０６　）。If there is a history of failure in which the sensor does not operate based on data from past tests, it is determined that this sensor has progressed to deterioration (205), and the sensor name, address, etc. are displayed on the CRT ( 206).

本方法で、どこまで基準データとしての過去のデータを
参考にするかはセンサの寿命、センサへの紙粉等の付着
程度、パルス点灯間隔等を考５憲して決めなげればなら
ない。ここで点灯間隔とは受光センサと対となる発光素
子の点灯間隔の意味であり、多数の発光素子を時分割的
に点灯している。点灯間隔を長くとれば光ｑ−が減るこ
とになる。In this method, the extent to which past data is used as reference data must be determined by considering the lifespan of the sensor, the degree of adhesion of paper dust, etc. to the sensor, the pulse lighting interval, etc. Here, the lighting interval refers to the lighting interval of the light emitting elements paired with the light receiving sensor, and a large number of light emitting elements are turned on in a time-division manner. If the lighting interval is made longer, the light q- will be reduced.

次に寿命の推定について紙幣の真空分離機構を例に説明
する。Next, estimating the lifespan will be explained using a vacuum separation mechanism for banknotes as an example.

真空分離機構は紙幣を吸着するための真空圧を常に一定
以上に保持しなければならない。この真空圧の低下は、
パツキンの摩耗２紙粉等のつまり、軸の摩耗等が影響し
て発生し、やがて紙幣が連続して分離できなくなり、分
離動作を数回繰返して行う障害（リトライ動作と称す）
が多発する。The vacuum separation mechanism must always maintain the vacuum pressure above a certain level in order to attract banknotes. This decrease in vacuum pressure is
Abrasion of the packing 2. This occurs due to clogging with paper powder, etc., abrasion of the shaft, etc., and eventually the banknotes cannot be separated continuously, and the separation operation is repeated several times (referred to as a retry operation).
occurs frequently.

真空圧低下が進むと最悪時は紙幣分離か不可能となる故
障となるため、リトライ動作がある所定回数を越えた所
で寿命として部品交換しなげればならない。If the vacuum pressure continues to drop, in the worst case, a failure will occur in which it will be impossible to separate the banknotes, so parts must be replaced after reaching the end of their lifespan after a predetermined number of retry operations.

この部品父換時期（寿命）は次のようにして推定する（
第１１図参照）。The replacement period (life) of this part is estimated as follows (
(See Figure 11).

Ａ　Ｔ　Ｖから障害情報として取込んだりトライデータ
（切りトライ数／取引沖数）を基準データとしての過去
のりトライデータ（ｂ）上にプロットした後、基準値以
上か判断する（　！１０２）。After importing the failure information from the ATV and plotting the try data (number of cut attempts/number of transacted attempts) on past past try data (b) as reference data, it is determined whether the reference value is exceeded (!102).

基準値以上のものは平均寿命パターン（ｂ）（基漁デー
タ）の１頃斜と市ね合せる（　５０５　）。Those above the standard value match the average lifespan pattern (b) (basic fishing data) around 1 (505).

平均寿命パターンは、出荷前に工場等において標準的環
境（温湿度、塵埃などの条件）で各部の摩耗等によって
リトライ回数がどのように進行するかあらかじめ調べた
基準データである。The average lifespan pattern is standard data obtained by examining in advance how the number of retries progresses due to wear of each part in a standard environment (temperature, humidity, dust, etc.) in a factory or the like before shipment.

この平均寿命パターンをフィールドの１１　）ライデー
タと重ね合せたとき（Ｃ）、平均寿命パターンをスライ
ドさせた線と寿命基準値め交点がフィールドにおける機
器固有の寿命となる。When this average lifespan pattern is superimposed on the 11) live data in the field (C), the intersection of the line on which the average lifespan pattern is slid and the lifespan reference value becomes the lifespan specific to the equipment in the field.

この寿命から今回のりトライデータ採取までの時間を引
（ことで分離機構の残寿命を推定することがロエ能とな
る。（３０４） 上記実施例は、ＩＣカード内のメモリに基臨データを記
憶すると共に、ＣＰＵによって分析するように構成され
ているので、特別な分析器が不要となる。By subtracting the time from this lifespan to collecting the current glue try data, it becomes easy to estimate the remaining lifespan of the separation mechanism. (304) In the above embodiment, the basic data is stored in the memory in the IC card. In addition, since the analysis is performed by the CPU, no special analyzer is required.

〔発明の効果〕　。〔Effect of the invention〕 .

本発明によれば、ＡＴＭの取引が可能な状態に北いて障
害情報を収集することができるので、金融会社からＡＴ
Ｍの鍵を借用したり、フレキシブルディスクの受は渡し
を行うという手間をはぶげ保守管理の効率を向上させる
ことができる。また、障害情報の記録が短時間で可能で
あるためＡＴＶの取扱中でも実施できる。According to the present invention, since it is possible to collect failure information after the ATM is in a state where transactions are possible, financial companies can
It is possible to improve the efficiency of maintenance management by eliminating the trouble of borrowing the key of M or having to hand over the flexible disk. Furthermore, since fault information can be recorded in a short time, it can be performed even while the ATV is being handled.

記録媒体としてカードを使用すれば障害情報のセキュリ
ティが高いという効果がある。Using a card as a recording medium has the effect of increasing the security of failure information.

さらにＡＴＭ内の自己診断結果と保守用ＩＣカード内の
故障来歴とをつき合せるようにすれは、高い信頼度で故
障部位、故障時期を推定することがＯＴ能となる効果が
ある。Furthermore, by comparing the self-diagnosis results in the ATM with the failure history in the maintenance IC card, it is effective to make it possible for OT to estimate the failure location and failure time with high reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第１図は本発明の一実施例のシステム構成図・第２図は
本発明の一実施例のＡＴＭの外貌図。 ＄３図はＡＴＭの内部構成図、第４図は障害情報読取処
理フａ−図、第５図は情報分析処理フａ−図、第６図は
障害情報を分析した例を示す説明図、第７図は従来例の
システム構成図、第８図は他の実施例を示しＩＣカード
によるＡＴＭの保守管理を示す構成図、第９図はＩＣカ
ード内の処理フロー図、第１０図はセンナの障害な分析
する説明図、第１１図は寿命を分析する説明図である。 １０・・・ＡＴＭ、ｔ５・・・カードリーダライタ。 ６０・・・保守用カード、３０．４０・・・分析器。 代理人弁理士　小　川　勝゛男− 第１Ｉ２］ １丁Ｎ ジ　　叫 第２図 第３　図 第４図　　　　　　　第Ｓ図 一］ｉｑ＊ｓ乞刀１〉ン１ｆ雪己　　　　　　　　　　
　　　　　　　　牛角力Ｊ乏イデ不汀匁１壬１」第６　
区 範７図 区Ｉロ　　　　　　　圏廼罰 第９図 （０Ｌ） 第９　図 第１Ｏ図FIG. 1 is a system configuration diagram of one embodiment of the present invention, and FIG. 2 is an external view of an ATM of one embodiment of the present invention. Figure 3 is an internal configuration diagram of the ATM, Figure 4 is a diagram of the failure information reading process, Figure 5 is a diagram of the information analysis process, and Figure 6 is an explanatory diagram showing an example of analyzing failure information. Fig. 7 is a system configuration diagram of a conventional example, Fig. 8 is a configuration diagram showing another embodiment and shows ATM maintenance management using an IC card, Fig. 9 is a processing flow diagram in the IC card, and Fig. 10 is a SENNA system configuration diagram. FIG. 11 is an explanatory diagram for analyzing the lifespan. 10...ATM, t5...Card reader/writer. 60...Maintenance card, 30.40...Analyzer. Representative Patent Attorney Katsuo Ogawa - No. 1I2] 1.
6
Ward range 7 drawing Ward I ro Area penalty drawing 9 (0L) Fig. 9 Fig. 1O

Claims (1)

【特許請求の範囲】 １、記録媒体のリーダライタを備え、取引動作中に発生
した障害内容を保持する取引装置において、上記リーダ
ライタに保守用記録媒体を挿入することによりこの記録
媒体に上記障害内容を書込む手段を設け、さらに上記保
守用記録媒体の記録内容に基いてこの内容と障害に関す
る基準データとを比較して障害状態を分析する分析器を
設けてなる取引装置の管理システム。 ２、上記故障に関する基準データは取引装置の過去の障
害・故障の来歴を表わすデータからなり、上記分析器は
上記記録媒体の記録内容と上記障害・故障の来歴を比較
するように構成されてなる特許請求の範囲第１項記載の
取引装置の管理システム。 ３、上記分析器は上記記録媒体に内蔵されてなる特許請
求の範囲第１項記載の取引装置の管理システム。[Scope of Claims] 1. In a transaction device that is equipped with a reader/writer for a recording medium and retains details of failures that occur during transaction operations, by inserting a maintenance recording medium into the reader/writer, the failure can be stored in this recording medium. A management system for a transaction device, comprising means for writing contents, and further comprising an analyzer for analyzing failure conditions by comparing the contents with reference data regarding failures based on the recorded contents of the maintenance recording medium. 2. The reference data regarding the failure is comprised of data representing the history of past failures and failures of the transaction device, and the analyzer is configured to compare the recorded contents of the recording medium with the history of the failures and failures. A management system for a transaction device according to claim 1. 3. The transaction device management system according to claim 1, wherein the analyzer is built into the recording medium.