JPS61102089A - フラツトパツケ−ジicの実装構造 - Google Patents

フラツトパツケ−ジicの実装構造

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Publication number
JPS61102089A
JPS61102089A JP22622484A JP22622484A JPS61102089A JP S61102089 A JPS61102089 A JP S61102089A JP 22622484 A JP22622484 A JP 22622484A JP 22622484 A JP22622484 A JP 22622484A JP S61102089 A JPS61102089 A JP S61102089A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flat package
electric circuit
die
circuit pattern
pattern
Prior art date
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Pending
Application number
JP22622484A
Other languages
English (en)
Inventor
寺前 勝広
茂成 高見
二郎 橋爪
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Works Ltd filed Critical Matsushita Electric Works Ltd
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Pending legal-status Critical Current

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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、高集積電子部品実装に使用される、フラット
パッケージICの実装構造に関するものである。
〔背景技術] 従来、プリント配線した電気回路基板上へのフラットパ
ッケージICの装着は、クリーム半田を予め基板上に乗
せ、その上に部品8ili!き、基板裏面より加熱し、
半田を融解することで行なうものである。
この時、第1図に示すように、フラットパッケージIC
山の少々の電気回路パターン(aからのズレが起こった
と、しても、その修正は、融触した半田の持つ性質であ
る張力により、自動的に行なわれる。
ところが、集積度が増すに従い、フラットパッケージ自
体のピン幅や各ピン間の間隔、ざらに回路パターン間の
間隔が狭(なり、前記のようには自動修正が行なえなく
なり、第2図又は第3図Iこ示すような接続不良、誤配
線などの結果となりかねなくなってきた。
〔発明の目的J 本発明は、高集積電子部品実装に2けるフラットパッケ
ージICの実装構造に関するものであり、回路パターン
に塔載する際のズレlこより起こる絶縁不良などの各棟
不良を減少させ、回路全体の信頼性を扁めるフラットパ
ッケージICの提供にある。
〔発明の開示」 本発明の要旨とするところは、チップのダイ底面が封止
材料の底面中央部tcg出するようにフラットパッケー
ジICを形成し、他方、嘔気回路基板の前記フラットパ
ッケージICの端子を搭載する電気回路パターンの中央
部に前記露出したダイ底面に対応する銅箔からなる固定
パターンを形成し、フラットパッケージICを端子を電
気回路パターンに半田付けすると共6ζダイ底面を固定
パターンに半田付けすることを特徴とするフラットパッ
ケージICの実装構造である。
以下、本発明を第1図乃至果4図に示T実施例に基いて
説明する。
(1)はフラットパッケージICにあり、裏面中央部I
こ2いてチップ(3)を形成するダイのノに面が合成樹
脂等の封止材料(4)により露出された形となっている
(5)は端子であり、端子(5)とチップ(3)はワイ
ヤー(61で結合されている。
電気回路基板(87の電気回路パターン(2)と共に電
気回路パターン(2)と同じ鋼箔からなる固定パターン
(91が形成されている。例えは、図不例の如く、フラ
ットパッケージIC山の端子(5)を受ける電気回路パ
ターンQ)の部分の略中矢部に固定パターン(9)か形
成されている。この固定パターン(9)は一般に鑞気回
路パターンGjと独占して形成される。
そしてこのフラットパッケージ1ctlJは、端子(2
)を電気回路パターン(2)上に半田付けの6でな(、
裏面に露出したダイの部分を固定パターン(9)上に同
時に半田付けして電気回路基板(87に実装されている
而して、半田付けするクリーム半田の融解時に生スる表
面張力はフラットパッケージIC(1)の裏面中央部の
ダイの蕗出部に集中し、搭載時に2け     1゜る
位置ずれは修正された状態となり、フラットパッケージ
IC(1)は一気回路基*(81):)電気回路パター
ン3ノに固定実装されているのである。
尚、チップ(3)の裏面への露出形状は正方形のほか、
第4図の如き方射状に変形したものも採用される。
〔発明の効果」 以上のようにこの発明によnば、゛電気回路基板の回路
パターン上への搭載時に、フラットパッケージICが裏
面中央に露出したダイの底面を接合する溶融半田の表面
張力によって電気回路基板上の所定位置である固定パタ
ーンに引き寄せられるから、qr載されるフラットパッ
ケージICの回路パターン上への搭載は位置ずれなく8
こなえるのである。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第4図はこの発明の一実施例を示す図で、*
1図は斜視図、第2図は?fr面図、第3図は平面図、
第4図は要部の平面図、第5図乃至第7図は従来例を示
す平面図である。 (11・・・フラットパッケージIC1[F])・・・
電気回路パターン、(3)・・・チップ、(41・・・
封止材料、(5)・・・端子、(6)・・・ワイヤー、
(8し・電気回路基板、(9)・・・固定パターン。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)チップのダイ底面が封止材料の底面中央部に露出
    するようにフラットパッケージICを形成し、他方、電
    気回路基板の前記フラットパッケージICの端子を塔載
    する電気回路パターンの中央部に前記露出したダイ底面
    に対応する銅箔からなる固定パターンを形成し、フラッ
    トパッケージICの端子を電気回路パターン半田付けす
    ると共にダイ底面を固定パターンに半田付けすることを
    特徴とするフラットパッケージICの実装構造。
JP22622484A 1984-10-25 1984-10-25 フラツトパツケ−ジicの実装構造 Pending JPS61102089A (ja)

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Cited By (6)

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EP0212977A2 (en) * 1985-08-21 1987-03-04 Sharp Kabushiki Kaisha A buried type semiconductor laser device
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JP2018500752A (ja) * 2014-12-19 2018-01-11 ウォーカー マイロンWALKER, Myron 集積回路パッケージのはんだ付け性及び自己整合性を改良するスポーク付きはんだパッド
USD845368S1 (en) 2014-12-19 2019-04-09 Myron Walker Spoked solder pad

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