JPS6053061A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS6053061A
JPS6053061A JP58160515A JP16051583A JPS6053061A JP S6053061 A JPS6053061 A JP S6053061A JP 58160515 A JP58160515 A JP 58160515A JP 16051583 A JP16051583 A JP 16051583A JP S6053061 A JPS6053061 A JP S6053061A
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substance
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pellet
silicon
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Takayuki Okinaga
隆幸 沖永
Kanji Otsuka
寛治 大塚
Masatoshi Seki
関 正俊
Masayuki Shirai
優之 白井
Yasuyuki Yamazaki
康行 山崎
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [技術分野] 本発明は半導体装置、特に、ペレット、(ンよびワイヤ
をゲル状物質でコーティングする半導体装置に適用して
有効な技術に関する。
[背景技術〕 半導体装置におけるペレットはセラミック等のパッケー
ジまたは樹脂等の中に封止されるが、その耐湿性をより
向上させるためにペレットおよびワイヤをシリコンゲル
等のゲル状物質でコーティングすることが考えられる。
第1図はこのような半導体装置の1つの例を示すもので
ある。この例において、セラミック、樹脂等よりなるパ
ッケージのベースく基#Fj、)1はその底面に対して
直角方向にリード2を形成したピングリッド型の構造で
あり、そのキャビティ内には、シリコン等のペレット3
が接着剤または金−シリコン共晶等で固着される。ペレ
ット3のボンディングパソドはワイヤ4によりベースl
」二の導電層と電気的に接続される。さらに、前記ペレ
ット3およびワイヤ4はシリコンゲル5でコーティング
される。また、キャップ6を接着剤7で−・−ス1上に
固着して封止するが、このキャップ6は、シリコンゲル
5の分解温度が低いので低温封止が必要であることによ
り、樹脂材料で作られている。
しかしながら、この構造の場合、半導体装置の実装時に
は横向きに実装されることがあるので、実装後の高温時
に半導体装置のキャンプ6の接着部からシリコンゲル5
が熔は出してしまい、耐湿性が低下したり、あるいはワ
イヤ断線の原因となってしまうことさえありうることが
本発明者により見い出された。
[発明の目的コ 本発明の目的は、ペレットにコーティングされたゲル状
物質がパンケージ外に流れ出ずことを防止し、高い信頼
性を確保することのできる半導体装置に関する技術を提
供することにある。
本発明の前記ならひにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
[発明の概要] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、次の通りである。
すなわち、ペレットにコーティングされたゲル状物質の
上を、該ゲル状物質よりも粘度の高い物質で覆うことに
より、ゲル状物質がパンケージ外に流れ出すことを防止
することができるものである。
[実施例1] 第2図は本発明による半導体装置の一実施例を示す断面
図である。
この実施例における半導体装置は基本的には第1図に示
す例と類似しており、対応する部分には同一符号を付し
て重複説明を省略する。
本実施例では、ペレット3およびワイート4にコーティ
ングされたシリコンゲル5 (ゲル状物質)の上にゴム
系シリコーン8がボッティング等で供給され、該シリコ
ンゲル5を完全に覆っている。
ゴム系シリコーン8はシリコンゲル5よりも粘度の高い
材料であり、実装時にもパッケージ外にl容は出ずこと
はないものである。
したがって、本実施例においζは、シリコンゲル5がよ
り粘度の高いゴム系シリコーン8で完全に覆われている
ことにより、実装時に半導体装置が横向きあるいは逆さ
に実装されたとしても、シリコンゲル5がキャンプ6の
接着部からパッケージ外に流れ出すことは該ゴム系シリ
コーン8で防止される。
その結果、本実施例によれば、ペレット3およびワイヤ
4を全体的に完全に覆うシリコンゲル5による耐湿性が
確保され、しかもゴム系シリコーン8によって耐湿性は
より向上する。また、ilj・を温度サイクル性もより
向上する。
[実施例2] 第3図は本発明による半導体装置の実施例2を示す断面
図である。
本実施例では、ゴム系シリコーン8がベース■のキャビ
ティ全体に満たされており、キ、1./プ〔jは接着剤
7で接着されている。
この場合にも、シリコンゲル5の流出はゴム系シリコー
ン8によって確実に防止されるので、キャップを使用し
なくても高い耐湿性を確保することができる。
[実施例3] 第4図は本発明による半導体装置の大hL例3を示す断
面図である。
この実施例3では、ペレット3は半田ノ\ンプ9により
フェイスダウンボンディングでベース1上に固着されて
いる。この場合、ペレット3の下側における半田ハンプ
9の周囲にはシリコンゲル5が満たされ、該シリコンゲ
ル5の周囲はゴム系シリコーン8で覆われている。
本発明はこのような型式の半導体装置にも有用である。
[実施例4] 第5図は本発明による半導体装置の実施例4を示す断面
図である。
本実施例においては、ペレット3はタブリート10によ
ってベース1に固着されている。この場合にも、ペレッ
ト3の下側におけるタブリート10の周囲にシリコンゲ
ル5が満たされ、該シリコンゲル5はゴム系シリコーン
8によって覆われている。
本実施例の場合にも、シリコンゲル5がパッケージ外に
流出することはゴム系シリコーン8により防止され、パ
ッケージの耐湿性、信頼性は確実に向上する。
[効果] (1)、ペレットにコーティングされたゲル状物質の上
を、該ゲル状物質よりも粘度のil’fiい物%で覆っ
たことにより、ゲル状物質のパッケージ外への流出を確
実に防止できる。
(2)、前記(1)により、パッケージの耐湿性が確保
され、高い信頼性を得ることができる。
(3)、前記(1)により、耐温度サイクル性が向上し
、高信頼性を確保できる。
(4)、前記(1)により、ペレットの電気的接続部に
ワイヤを用いている場合、ワイヤの切断を防止すること
もできる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
たとえばゲル状物質としては、シリンコルツ外にも、エ
ポキシ樹脂の如き、低温で硬化しにくい各種ゲル状材料
を用いることができる。
また、ゲル状物質を覆う物質としては、ゴム系シリコー
ンの他に、ゲル状物質の流出を防止できるものであれば
、たとえばポリイミド樹脂やエポキシ樹脂等を用いるこ
とができ、しかもボッティング以外にフィルム被覆方式
のよ・)な方式でゲル状物質を覆うこと等も可能である
[利用分野] 以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるピングリット型パ、
ケージを有する半導体装置に適用した場合について説明
したが、それに限定されるものではなく、たとえば、デ
ュアルインライン型あるいはソングルインライン型等の
各種パッケージを有する半導体装置に広く適月トできろ
図面の?1Ilifflな説明 第1図は考えられる半導体装置の一例を示す断面図、 第2図は本発明による半導体装置の実施例1を示す断面
図、 第3図は本発明の実施例2の断面図、 第4図は本発明の実施例3の断面図、 第5図は本発明の実施例4を示す断面図である。
1・・・パッケージのベース、2・・・リード、3・・
・ペレット、4・・・ワイヤ、5・・・シリンコゲル(
ゲル状物質)、6・・・キヤ・2プ、7・・・接着剤、
8・・・ゴム系シリコーン(ゲル状物質よりも粘度の高
い物質)、9・・・半田ハンプ、10・・・ビームリー
ド。
293 第 11?l 第 2 図 第 3 図 第 4 図 第 5 図 ゝ2

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、パッケージ基板上に取り付けられたペレ・y )に
    コーティングされたゲル状物質の上を、該ゲル状物質よ
    りも粘度の高い物質で覆ったことを特徴とする半導体装
    置。 2、前記ゲル状物質が樹脂材料よりなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 3、前記ゲル状物質がシリコンゲルよりなることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載の半導体装置。 4、前記ゲル状物質よりも粘度の高い物質がゴム系シリ
    コーンであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載の半導体装置。
JP58160515A 1983-09-02 1983-09-02 半導体装置 Pending JPS6053061A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58160515A JPS6053061A (ja) 1983-09-02 1983-09-02 半導体装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58160515A JPS6053061A (ja) 1983-09-02 1983-09-02 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0214621A2 (en) * 1985-09-05 1987-03-18 Nec Corporation A package comprising a substrate and at least one electronic component

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0214621A2 (en) * 1985-09-05 1987-03-18 Nec Corporation A package comprising a substrate and at least one electronic component

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